KR101004889B1 - Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록 - Google Patents

Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록 Download PDF

Info

Publication number
KR101004889B1
KR101004889B1 KR1020080091408A KR20080091408A KR101004889B1 KR 101004889 B1 KR101004889 B1 KR 101004889B1 KR 1020080091408 A KR1020080091408 A KR 1020080091408A KR 20080091408 A KR20080091408 A KR 20080091408A KR 101004889 B1 KR101004889 B1 KR 101004889B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
probe
block
data channel
pad
signal applying
Prior art date
Application number
KR1020080091408A
Other languages
English (en)
Other versions
KR20100032498A (ko
Inventor
김정도
김오범
김학선
Original Assignee
주식회사 디이엔티
호서대학교 산학협력단
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 디이엔티, 호서대학교 산학협력단 filed Critical 주식회사 디이엔티
Priority to KR1020080091408A priority Critical patent/KR101004889B1/ko
Publication of KR20100032498A publication Critical patent/KR20100032498A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101004889B1 publication Critical patent/KR101004889B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/06—Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067—Measuring probes
    • G01R1/073—Multiple probes
    • G01R1/07307—Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02—General constructional details
    • G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R3/00—Apparatus or processes specially adapted for the manufacture or maintenance of measuring instruments, e.g. of probe tips

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

본 발명은 TCP 블록과 전기적으로 연결되는 FPC를 구비하여, 매니퓰레이터에 체결되는 메인 블록; 상기 메인 블록에 체결되는 픽싱 블록; 상기 메인 블록과 픽싱 블록의 양 측면을 커버하는 사이드 커버; 상기 사이드 커버에 지지되는 세라믹바; 상기 세라믹바에 끼워져 적층되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 데이터채널부 신호인가군; 상기 사이드 커버에 지지되어 상기 데이터채널부 신호인가군과 픽싱 블록 사이에 개재되는 슬릿 부재; 상기 세라믹바에 끼워지되, 상기 슬릿 부재의 슬릿에 삽입되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 소스부 신호인가군; 및 상기 사이드 커버에 지지되어 상기 탐침블레이드들의 전방을 커버하는 세라믹 플레이트를 포함하는 LCD 검사용 프로브 블록을 제공한다.
LCD, 검사, 프로브, 블록, 유닛

Description

ＬＣＤ 검사용 프로브 블록{PROBE BLOCK FOR TESTING LIQUID CRYSTAL DISPLAY}
본 발명은 LCD 검사용 프로브 블록에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 TFT(Thin Film Transistor), TN(Twisted Nematic), STN(Super Twisted Nematic), CSTN(Color Super Twisted Nematic), DSTN(Double Super Twisted Nematic) 타입 등의 LCD 패널이 픽셀에러(Pixel error) 없이 정상작동하는지를 검사하는데 사용되는 LCD 검사용 프로브 블록에 관한 것이다.
LCD(Liquid Crystal Display) 생산공정은 크게 LCD 패널을 제작하는 셀(Cell)공정과, 드라이버(Driver), 백라이트(Back Light), 도광판, 편광판을 셀공정에서 생산된 LCD 패널과 조립하여 완제품을 만드는 모듈(Module)조립공정으로 대별된다.
여기서 상기 셀공정을 거쳐 생산된 LCD 패널은 제조 공정상 발생할 수 있는 결함, 예를 들어 점결함, 선결함, 얼룩결함 등의 유무를 검사하는 출하검사과정을 거치게 되는데, 이때 사용되는 것이 LCD 검사용 프로브 유닛이다.
상기 LCD 검사용 프로브 유닛은 보통 LCD 패널의 가장자리에 위치한 다수개의 전극 또는 패드에 테스트 신호를 인가하는 프로브의 집합체인 프로브 블록; 상기 프로브 블록에 소정의 전기 신호를 전달하는 TCP(Taped Carrier Package) 블록; LCD 패널의 테스트를 위한 소정의 신호를 생성하여 FPC(Flexible Printed Circuit)를 매개로 상기 TCP 블록에 전달하는 Source/Gate PCB부; 상기 프로브 블록과 TCP 블록을 결합하고, 상기 프로브 블록의 프로브가 적당한 물리적 압력으로 LCD 패널의 전극과 접촉하도록 상기 프로브 블록과 TCP 블록을 상하로 이동 및 고정시키는 매니퓰레이터(Manipulator)를 포함하여 구성된다.
이때, 신뢰성 있는 테스트를 위해서는 LCD 패널의 전극 또는 패드와 상기 프로브 블록의 프로브 간의 적절한 물리적 압력을 통해 적절한 접촉저항을 얻을 수 있어야 하며, 최근 LCD가 고화질화 되어감에 따라 화소의 밀도가 지속적으로 증가하고 있어 고밀도의 프로브 블록의 필요성이 날로 증가하고 있다.
현재까지 개발된 프로브로는 텅스텐 또는 레늄 텅스텐 와이어를 모재로 제작된 니들형(Needle Type)과, 니켈 또는 베릴륨동을 모재로 제작된 탐침블레이드로 구성된 블레이드형(Blade Type)과, 폴리마이드 필름(Polymide Film)에 동판 또는 기타 도전체를 올려 에칭가공하여 제작한 필름형(Film Type)과, 필름형에 반도체 공정기술을 이용하여 도전성 매체를 주입한 하이브리드형(Hybride Type)과, 스프링의 장력을 이용한 포고핀을 소재로 제작한 포고형(Pogo Type)과, 반도체 Mems 공정기술을 이용한 Mems형(Mems Type) 등이 있다.
이 중, 현재 가장 널리 사용되고 있는 유형은 전술한 블레이드형인데, 종래 의 블레이드형 프로브 블록은 전,후단 간극부에 세라믹 소재를 사용하여 절연을 실현하는데, 세라믹 가공의 기술적 한계로 인하여 절연 세라믹에 복수개의 탐침블레이드 각각이 삽입되는 슬릿을 형성하는 것이 용이하지 않고, 상기 절연 세라믹을 가공하는 다이아문드 휠의 마모로 인하여 한 번에 가공할 수 있는 슬릿의 수에 제한이 있는 문제점이 있었다.
또한, 종래 기술에 따른 검사 방식에 있어서는 데이터 채널부에 6가지(R1,G1,B1,R2,G2,B2) 신호를 인가하고, 소스부에 4가지(G1,G2,G3,G4) 신호를 인가하여 점등 검사하는 방식이기 때문에, 신뢰성 있는 테스트를 실현하기 위해서는 서로 다른 신호를 정확하게 인가하여야 하고, 이를 위해서는 LCD 패널의 전극 또는 패드와 대응되는 각 탐침블레이드가 정확하게 접촉되어야 한다. 그러나 종래의 블레이드형 프로브 블록의 경우, 전술한 세라믹 가공의 기술적 한계 및 개별 탐침블레이드의 조립/분리가 용이하도록 하기 위해 개별 탐침블레이드 마다 위치 공차를 가지도록 할 수밖에 없어(예를 들면, 탐침블레이드의 두께를 25㎛로 하는 경우, 절연 세라믹의 슬릿을 30㎛로 가공해야함), LCD 패널의 전극 또는 패드에 접촉하는 경우, 각 탐침블레이드의 유동으로 인하여 접촉불량, 즉 핀미스가 발생하게 됨으로써 신뢰성 있는 테스트를 실현하기 어려운 문제점이 있었다.
본 발명은 상기와 같은 종래 기술의 단점을 극복하기 위해 안출된 것으로서, 구조 개선을 통해 제조 비용을 절감하고, 개별 탐침블레이드의 조립/분리가 용이하며, LCD 패널의 전극 또는 패드에 접촉하는 각 탐침블레이드의 접촉불량, 즉 핀미스를 해소할 수 있는 LCD 검사용 프로브 블록의 제공을 기술적 과제로 삼고 있다.
상기와 같은 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록은 TCP 블록과 전기적으로 연결되는 FPC를 구비하여, 매니퓰레이터에 체결되는 메인 블록; 상기 메인 블록에 체결되는 픽싱 블록; 상기 메인 블록과 픽싱 블록의 양 측면을 커버하는 사이드 커버; 상기 사이드 커버에 지지되는 세라믹바; 상기 세라믹바에 끼워져 적층되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 데이터채널부 신호인가군; 상기 사이드 커버에 지지되어 상기 데이터채널부 신호인가군과 픽싱 블록 사이에 개재되는 슬릿 부재; 상기 세라믹바에 끼워지되, 상기 슬릿 부재의 슬릿에 삽입되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 소스부 신호인가군; 및 상기 사이드 커버에 지지되어 상기 탐침블레이드들의 전방을 커버하는 세라믹 플레이트를 포함한다.
상기 데이터채널부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단은 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단은 상기 FPC의 패드에 접촉되어 상기 TCP 블록을 통해 전달되는 단일의 전기적 테스트신호를 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가한다.
상기 슬릿 부재에는 상기 데이터채널부 신호인가군을 수용하는 수용부가 구 비된다.
상기 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단은 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단은 상기 FPC의 패드에 접촉되어 상기 TCP 블록을 통해 전달되는 전기적 신호를 상기 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 인가한다.
상기 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되는 상기 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단에는 상기 세라믹 플레이트의 외부로 돌출되는 위치정렬돌기가 더 구비된다.
상기 데이터채널부 신호인가군 및 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드는 도전성 재질의 탄성체로 형성된다.
상기 슬릿 부재는 세라믹 소재로 형성된다.
전술한 바와 같은 구성을 갖는 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록에 의하면, 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드(162)가 종래 기술에서와 같이, 절연 부재에 일정 간격으로 형성된 슬릿에 각각이 삽입되는 구조가 아니라, 단순히 상기 세라믹바(150)에 끼워져 적층되는 구조를 갖되, 슬릿 부재(170)에 형성된 수용부(171) 내에 수용되어 좌우이동이 차단되는 구조를 갖는 한편, 각 탐침블레이드(162)는 상호 독립적으로 움직이는 구조를 가지기 때문에 그 구조의 단순화를 통해 제조 비용을 절감할 수 있고, 각 탐침블레이드(162)의 조립/ 분리가 용이한 이점이 있다.
또한, 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 각 탐침블레이드(162)가 단일의 전기적 테스트신호를 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가하기 때문에 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드와의 컨택을 위한 프로브 블록(100)의 위치정렬이 다소 틀어지더라도, 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드 각각에 상기 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드(162) 중 적어도 하나 이상이 접촉되어 테스트 신호를 인가할 수 있어, 종래 기술에서와 같은 접촉불량으로 야기되던 핀미스의 문제를 예방할 수 있는 이점이 있다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록의 바람직한 실시예에 대해 상세히 설명한다. 도 1은 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록이 적용된 LCD 검사용 프로브 유닛의 사시도이고, 도 2는 도 1에 도시된 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록의 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록의 분해 사시도이고, 도 4는 도 3의 A부 확대도이다.
본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록(100)의 구체적 설명에 앞서, 도 1을 참조하여, 상기 LCD 검사용 프로브 블록(100)을 포함하는 LCD 검사용 프로브 유 닛(300)에 대해 간략히 설명한다.
상기 LCD 검사용 프로브 유닛(300)은 크게 프로브 블록(100), TCP(Taped Carrier Package) 블록(230), Source/Gate PCB부(210), 매니퓰레이터(Manipulator: 240)을 포함하여 구성된다.
상기 프로브 블록(100)은 LCD 패널의 가장자리에 위치한 다수개의 전극 또는 패드에 테스트 신호를 인가하는 프로브의 집합체이다. 상기 Source/Gate PCB부(210)는 LCD 패널의 테스트를 위한 소정의 신호를 생성하여 FPC(Flexible Printed Circuit: 220)를 매개로 상기 TCP 블록(230)에 전달하는 역할을 수행한다. 상기 TCP 블록(230)은 전달된 LCD 패널의 테스트를 위한 소정의 신호를 상기 프로브 블록(100)의 각 탐침블레이드들(162,182, 도 2 참조)의 입력단에 전달하는 역할을 수행한다. 상기 매니퓰레이터(240)는 상기 프로브 블록(100)과 TCP 블록(230)을 결합하고, 상기 프로브 블록(100)의 각 탐침블레이드들(162,182)이 적당한 물리적 압력으로 LCD 패널의 전극 또는 패드와 접촉하도록 상기 프로브 블록(100)과 TCP 블록(230)을 상하로 이동 및 고정시키는 역할을 수행한다.
다음으로, 도 2 내지 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록(100)은 메인 블록(110), 픽싱(fixing) 블록(130), 사이드 커버(140), 세라믹바(150), 데이터채널부 신호인가군(160), 슬릿 부재(170), 소스부 신호인가군(180), 세라믹 플레이트(190)을 포함하여 구성된다.
상기 메인 블록(110)은 프로브 블록(100)의 하우징 본체로서, 전술한 TCP 블록(230)과 전기적으로 연결되는 FPC(120)를 구비하여, 매니퓰레이터(240)에 체결고 정된다. 상기 픽싱 블록(130)은 상기 메인 블록(110)에 체결되며, 후술할 슬릿 부재(170)를 접촉지지한다. 상기 메인 블록(110)과 픽싱 블록(130)의 양 측면은 사이드 커버(140)에 의해 커버된다. 미설명부호 141은 상기 메인 블록(110)과 사이드 커버(140)를 체결하기 위한 체결부재를 나타내고, 미설명부호 143은 상기 픽싱 블록(130)과 사이드 커버(140)를 체결하기 위한 체결부재를 나타낸다.
상기 사이드 커버(140)는 후술할 세라믹바(150), 슬릿 부재(170) 및 세라믹 플레이트(190) 등을 지지하면서 상기 메인 블록(110)과 픽싱 블록(130)의 양 측면을 커버하는 역할을 수행한다.
상기 세라믹바(150)는 양단이 상기 사이드 커버(140)에 끼워져 지지되며, 후술할 데이터채널부 신호인가군(160) 및 소스부 신호인가군(180)을 각각 구성하는 복수개의 탐침블레이드들(162,182)이 끼워지게 되며, 끼워진 상기 탐침블레이드들(162,182)을 지지하는 역할을 수행한다.
상기 데이터채널부 신호인가군(160)은 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록(100)의 주요 특징부로서, 상기 세라믹바(150)에 끼워져 적층되는 복수개의 탐침블레이드들(162)로 구성되며, 후술할 슬릿 부재(170)에 형성된 수용부(171) 내에 수용된다. 보다 구체적으로 설명하면, 상기 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드들(162)은 종래 기술에서와 같이, 소정 부재에 일정 간격으로 형성된 슬릿에 각각이 삽입되는 구조가 아니라, 상기 세라믹바(150)에 끼워져 적층되는 구조를 갖되, 후술할 슬릿 부재(170)에 형성된 수용부(171) 내에 수용됨으로써 좌우이동이 차단되는 구조를 갖는 한편, 각 탐침블레이드(162)는 상호 독 립적으로 움직이는 구조를 갖는다.
상기 데이터채널부 신호인가군(160)은 종래 기술에서와 같이, 각 탐침블레이드가 서로 다른 신호, 예를 들어 데이터 채널부에 6가지(R1,G1,B1,R2,G2,B2) 신호를 인가하고, 소스부에 4가지(G1,G2,G3,G4) 신호를 인가하는 것이 아니라, 각 탐침블레이드(162)가 단일의 전기적 테스트신호를 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가하도록 하기 때문에 단순히 상기 세라믹바(150)에 끼워져 적층되는 구조를 갖더라도 무방하다. 따라서 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드와의 컨택을 위한 프로브 블록(100)의 위치정렬이 다소 틀어지더라도, 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드 각각에 상기 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드들(162) 중 적어도 하나 이상이 접촉되어 테스트 신호를 인가할 수 있어, 종래 기술에서와 같은 접촉불량으로 야기되던 핀미스의 문제를 예방할 수 있다.
상기 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 각 탐침블레이드(162)의 일단(162a)은 전술한 매니퓰레이터(240)의 작용에 의해 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단(162b)은 상기 메인 블록(110)에 마련된 FPC(120)의 패드(122)에 접촉되어 상기 TCP 블록(230)을 통해 전달되는 단일의 전기적 테스트신호를 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가한다. 상기 데이터채널부 신호인가군(160) 및 후술할 소스부 신호인가군(180)을 구성하는 각 탐침블레이드(162,182)는 도전성 재질의 탄성체로 형성된다.
상기 세라믹바(150)에는 또한, 복수개의 탐침블레이드들(182)로 구성되는 소 스부 신호인가군(180)이 끼워진다. 상기 소스부 신호인가군(180)을 구성하는 각 탐침블레이드(182)는 상기 사이드 커버(140)에 지지되어 상기 데이터채널부 신호인가군(160)과 픽싱 블록(130) 사이에 개재되는 슬릿 부재(170)에 형성된 각 슬릿(172)에 삽입된다. 여기서, 상기 슬릿 부재(170)는 세라믹 소재로 형성된다.
상기 소스부 신호인가군(180)을 구성하는 각 탐침블레이드(182)의 일단(182a)은 전술한 매니퓰레이터(240)의 작용에 의해 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단(182b)은 상기 메인 블록(110)에 마련된 FPC(120)의 패드(124)에 접촉되어 상기 TCP 블록(230)을 통해 전달되는 전기적 신호를 상기 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 인가한다. 여기서, 상기 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되는 상기 소스부 신호인가군(180)을 구성하는 각 탐침블레이드(182)의 일단(182a)에는 후술할 세라믹 플레이트(190)의 외부로 돌출되는 위치정렬돌기(184)가 구비된다. 상기 위치정렬돌기(184)는 상기 세라믹 플레이트(190)의 외부로 돌출되기 때문에 사용자가 육안으로 확인하여 LCD 패널의 전극 또는 패드와 컨택되는 탐침블레이드(182)의 위치를 용이하게 정렬시킬 수 있도록 한다.
마지막으로, 상기 세라믹 플레이트(190)는 상기 사이드 커버(140)에 지지되어 상기 탐침블레이드들(162,182)의 전방을 커버하는 역할을 수행한다.
전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록(100)의 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드들(162)은 종래 기술에서 와 같이, 소정 부재에 일정 간격으로 형성된 슬릿에 각각이 삽입되는 구조가 아니라, 단순히 상기 세라믹바(150)에 끼워져 적층되는 구조를 갖되, 슬릿 부재(170)에 형성된 수용부(171) 내에 수용되어 좌우이동이 차단되는 구조를 갖는 한편, 각 탐침블레이드(162)는 상호 독립적으로 움직이는 구조를 가지기 때문에 그 구조의 단순화를 통해 제조 비용을 절감할 수 있고, 각 탐침블레이드(162)의 조립/분리가 용이한 특징이 있다. 또한, 각 탐침블레이드(162)가 단일의 전기적 테스트신호를 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가하도록 하기 때문에 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드와의 컨택을 위한 프로브 블록(100)의 위치정렬이 다소 틀어지더라도, 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드 각각에 상기 데이터채널부 신호인가군(160)을 구성하는 복수개의 탐침블레이드들(162) 중 적어도 하나 이상이 접촉되어 테스트 신호를 인가할 수 있어, 종래 기술에서와 같은 접촉불량으로 야기되던 핀미스의 문제를 예방할 수 있다.
이상 설명한 바와 같이 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 따라서 본 발명의 권리 범위는 설명된 실시예에 국한되어 정해져서는 안되며, 후술하는 특허청구범위 뿐만 아니라, 이 특허청구범위와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.
도 1은 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록이 적용된 LCD 검사용 프로브 유닛의 사시도,
도 2는 도 1에 도시된 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록의 사시도,
도 3은 도 2에 도시된 본 발명에 따른 LCD 검사용 프로브 블록의 분해 사시도,
도 4는 도 3의 A부 확대도이다.
**도면 중 주요 부분에 대한 부호의 설명**
110 : 메인 블록 120 : FPC(Flexible Printed Circuit)
130 : 픽싱 블록 140 : 사이트 커버
150 : 세라믹바 160 : 데이터채널부 신호인가군
162 : 탐침블레이드 170 : 슬릿 부재
180 : 소스부 신호인가군 184 : 위치정렬돌기
190 : 세라믹 플레이트

Claims (7)

  1. TCP 블록과 전기적으로 연결되는 FPC를 구비하여, 매니퓰레이터에 체결되는 메인 블록;
    상기 메인 블록에 체결되는 픽싱 블록;
    상기 메인 블록과 픽싱 블록의 양 측면을 커버하는 사이드 커버;
    상기 사이드 커버에 지지되는 세라믹바;
    상기 세라믹바에 끼워져 적층되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 데이터채널부 신호인가군;
    상기 사이드 커버에 지지되어 상기 데이터채널부 신호인가군과 픽싱 블록 사이에 개재되는 슬릿 부재;
    상기 세라믹바에 끼워지되, 상기 슬릿 부재의 슬릿에 삽입되는 복수개의 탐침블레이드로 구성되는 소스부 신호인가군; 및
    상기 사이드 커버에 지지되어 상기 탐침블레이드들의 전방을 커버하는 세라믹 플레이트를 포함하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터채널부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단은 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단은 상기 FPC의 패드에 접촉되어 상기 TCP 블록을 통해 전달되는 단일의 전기적 테스트신호를 상기 LCD 패널의 데이터채널부 전극 또는 패드에 인가하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 슬릿 부재에는 상기 데이터채널부 신호인가군을 수용하는 수용부가 구비되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단은 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 그 타단은 상기 FPC의 패드에 접촉되어 상기 TCP 블록을 통해 전달되는 전기적 신호를 상기 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 인가하는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드의 일단은 LCD 패널의 소스부 전극 또는 패드에 선택적으로 접촉되고, 상기 각 탐침블레이드의 일단에는 상기 세라믹 플레이트의 외부로 돌출되는 위치정렬돌기가 더 구비되는 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 데이터채널부 신호인가군 및 소스부 신호인가군을 구성하는 각 탐침블레이드는 도전성 재질의 탄성체로 형성된 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 슬릿 부재는 세라믹 소재로 형성된 것을 특징으로 하는 LCD 검사용 프로브 블록.
KR1020080091408A 2008-09-18 2008-09-18 Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록 KR101004889B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080091408A KR101004889B1 (ko) 2008-09-18 2008-09-18 Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020080091408A KR101004889B1 (ko) 2008-09-18 2008-09-18 Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20100032498A KR20100032498A (ko) 2010-03-26
KR101004889B1 true KR101004889B1 (ko) 2010-12-28

Family

ID=42181667

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020080091408A KR101004889B1 (ko) 2008-09-18 2008-09-18 Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101004889B1 (ko)

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110174535B (zh) * 2019-06-14 2022-04-12 苏州精濑光电有限公司 一种压头
KR102294168B1 (ko) * 2021-06-18 2021-08-25 이시훈 블레이드형 프로브 블록

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100314586B1 (ko) 1999-05-17 2001-11-15 이석행 액정디스플레이 검사용 프로브장치
KR100781379B1 (ko) 2007-01-30 2007-11-30 안재일 프로브장치

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100314586B1 (ko) 1999-05-17 2001-11-15 이석행 액정디스플레이 검사용 프로브장치
KR100781379B1 (ko) 2007-01-30 2007-11-30 안재일 프로브장치

Also Published As

Publication number Publication date
KR20100032498A (ko) 2010-03-26

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4972418B2 (ja) 試験装置およびプローブカード
KR101655262B1 (ko) 니들 타입 핀 보드
KR101255094B1 (ko) 분리형 필름타입 프로브 블록
KR102042923B1 (ko) 비젼 정렬을 위한 디스플레이 모듈 검사용 프로브 블록
KR20070087420A (ko) 프로브 블록 및 그것을 갖는 프로브 어셈블리
JP2008309786A (ja) プローブ及びプローブ組立体、並びにこれを有するプローブカード
KR100314586B1 (ko) 액정디스플레이 검사용 프로브장치
KR101672826B1 (ko) 니들 타입 핀 보드
KR19980086946A (ko) 액정 표시 패널 및 액정 표시 패널의 검사 방법
KR101311441B1 (ko) 프로브블록
KR101249467B1 (ko) Lcd 검사용 필름 타입 프로브 블록
KR101175067B1 (ko) 필름 타입 핀 보드
KR101004889B1 (ko) Ｌｃｄ 검사용 프로브 블록
KR200473504Y1 (ko) 니들 타입 핀 보드 및 이를 위한 오버 드라이브 감지 장치
JP2005055343A (ja) フラットパネルディスプレイ検査用プローブ装置
KR101255095B1 (ko) 필름 타입 핀 보드
KR101235076B1 (ko) 필름타입 프로브유닛
KR200471838Y1 (ko) 소형액정패널을 검사하기 위한 니들 타입 핀 보드
KR101714486B1 (ko) 패널 테스트용 프로브 블록
KR100839587B1 (ko) 액정디스플레이 검사용 프로브 블록
KR101241804B1 (ko) 프로브블록
KR20180130687A (ko) 전자 소자 검사용 프로브
KR200368230Y1 (ko) 액정디스플레이 검사용 프로브 유닛
KR200457028Y1 (ko) 프로브 장치
KR101739349B1 (ko) 패널 테스트용 프로브 블록

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
FPAY Annual fee payment

Payment date: 20131202

Year of fee payment: 4

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20141216

Year of fee payment: 5

FPAY Annual fee payment

Payment date: 20151221

Year of fee payment: 6

LAPS Lapse due to unpaid annual fee