CN110824744A - 一种液晶基板盒内不良的检测装置及其检测方法 - Google Patents
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Abstract
一种液晶基板盒内不良的检测装置及其检测方法，属于液晶基板质量检测技术领域，该检测装置，包括检查台、光源组件、第一偏光组件、待测基板和第二偏光组件，第一偏光组件包括白玻璃和贴在其上的第一偏光片，第二偏光组件包括白玻璃和贴在其上的第二偏光片，第一偏光片与第二偏光片的偏振方向垂直，待测基板的两面均与白玻璃接触，第二偏光组件的上方设置有目镜，本发明的有益效果是，该检测装置通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板的光线进行过滤，然后通过目镜观察显示的画面状态来确定待测基板上是否有坏点，无需对液晶基板进行切割和通电，可实现较大尺寸液晶基板盒内不良的监控，检测方法简单，检测的准确率高，检测效率高。
Description
技术领域
本发明涉及液晶基板质量检测技术领域，尤其涉及一种液晶基板盒内不良的检测装置及其检测方法。
背景技术
液晶基板盒在灌入液晶后，液晶盒密封形成液晶基板，成盒后的液晶基板需要进行盒内不良检测，液晶基板盒内不良产生原因有很多，如结构设计、制造工艺、面板显示模式等。薄化企业在液晶基板的薄化过程中，基板因受力、挤压或弯曲等，容易产生碎亮点和mura等盒内不良。随着TFT液晶基板显示效果的不断提高，液晶基板向轻、薄、美的方向发展，盒内不良监控的要求也越来越严格。
目前，业界公知的检测液晶显示面板良率的方法为逐一驱动独立的液晶显示面板，然而该方法需要先将对应于多个液晶显示面板的大尺寸的TFT阵列基板与彩色滤光片基板进行组立，形成包括多个液晶显示面板的液晶显示母板，再经过一次切割、薄化、二次切割，以及偏贴工艺后才能得到独立的具有特定尺寸的液晶显示面板，工序较多、耗时较长、检测效率较低，而且这种方法无法满足薄化生产中整张产品的实时监控。因此，发展一种无需通电检测，也可实现生产中整张基板盒内不良监控的方法迫在眉睫。
发明内容
为了解决上述技术问题，本发明提供了一种液晶基板盒内不良的检测装置，主要解决了液晶基板盒内不良监控的传统方法需要对切割的独立的液晶基板进行通电才能完成，检测工序多且效率低的问题，目的在于，通过设计一种检测装置，可以对通过待测基板的光线进行过滤来发现液晶基板盒内的不良，无需对液晶基板进行切割和通电，可实现较大尺寸液晶基板盒内不良的监控，检测方法简单，检测效率高。
为实现上述目的，本发明解决其技术问题所采用的技术方案是：所述液晶基板盒内不良的检测装置，包括检查台以及检查台由下而上依次设置的光源组件、第一偏光组件、待测基板和第二偏光组件，所述第一偏光组件包括白玻璃和贴在其上的第一偏光片，所述第二偏光组件包括白玻璃和贴在其上的第二偏光片，所述第一偏光片与第二偏光片的偏振方向垂直，所述待测基板的两面均与白玻璃接触，所述第二偏光组件的上方设置有观测盒内不良的可调节焦距的目镜。
进一步地，所述检查台上设置有安装凹槽，所述安装凹槽内设置所述光源组件，所述光源组件的上表面不超过所述安装凹槽的开口端。
进一步地，所述光源组件设置为插件灯式背光源或贴片灯式背光源，所述光源组件包括背光板和背光板底部设置的定位支脚，所述安装凹槽内设置有与所述定位支脚插接配合的定位孔。
进一步地，所述白玻璃的厚度设置为4cm～6cm。
进一步地，所述检查台沿其长度方向和宽度方向分别设置有刻度标识条，所述刻度标识条中相邻刻度之间的距离小于所述目镜的直径。
一种液晶基板盒内不良的检测方法，运用所述的液晶基板盒内不良的检测装置，依次包括以下步骤：
1)将光源组件放置在安装凹槽内并定位固定；
2)将贴有第一偏光片的白玻璃放在光源组件上，使白玻璃的一面朝上，然后在第一偏光组件上放置待测基板，在待测基板上放置贴有第二偏光片的白玻璃，使白玻璃的一面朝下；
3)调整待测基板和第二偏光组件，使第一偏光组件、待测基板和第二偏光组件呈现出黑色画面状态；
4)手持调节好焦距的低倍目镜放置在第二偏光组件上，使低倍目镜按照检查台上的刻度标识条上的刻度移动，沿着待测基板的长度方向来回观察，观察的画面异常时，采用高倍目镜进行确认。
本发明的有益效果是：
上述检测装置通过白玻璃对两个偏光片进行平整支撑，通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板的光线进行过滤，然后通过目镜在偏光片上方观察画面显示的状态来确定待测基板上是否有坏点，无需对液晶基板进行切割和通电，可实现较大尺寸液晶基板盒内不良的监控，检测方法简单，检测的准确率高，检测效率高。
附图说明
下面对本发明说明书各幅附图表达的内容及图中的标记作简要说明：
图1为本发明的检测装置的结构示意图；
图2为本发明中光源组件的结构示意图；
上述图中的标记均为：1.检查台，11.安装凹槽，12.定位孔，13.刻度标识条，2.光源组件，21.背光板，22.定位支脚，3.第一偏光组件，31.白玻璃，32.第一偏光片，4.待测基板，5.第二偏光组件，51.第二偏光片，6.目镜。
具体实施方式
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，以下实施例用于说明本发明，但不用来限制本发明的范围。
在本发明的描述中，需要说明的是，术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
本发明具体的实施方案为：如图1所示，一种液晶基板盒内不良的检测装置，包括检查台1以及检查台1由下而上依次设置的光源组件2、第一偏光组件3、待测基板4和第二偏光组件5，第一偏光组件3包括白玻璃31和贴在其上的第一偏光片32，第二偏光组件5包括白玻璃31和贴在其上的第二偏光片51，通过白玻璃31将第一偏光片32和第二偏光片51进行平整支撑，使第一偏光片32和第二偏光片51过滤光线的效果更好，当第一偏光片32与第二偏光片51的偏振方向垂直时，使第一偏光组件3、待测基板4和第二偏光组件5呈现出黑色画面状态，当出现盒内不良时，可以看到彩色的亮点显示，而且为了使第一偏光片32和第二偏光片51过滤光线的范围更大，待测基板4的两面均与白玻璃31接触，使待测基板4与第一偏光片32和第二偏光片51相隔一段距离，其中白玻璃31的厚度可设置为4cm～6cm，经过观察，白玻璃31的厚度设置为5cm时，使光线偏振方向上的过滤更好，可实现完全过滤。第二偏光组件5的上方设置有观测盒内不良的可调节焦距的目镜6，通过目镜6观测更方便，无需对待测基板4进行切割和通电，可实现较大尺寸液晶基板盒内不良的监控，检测方法简单，检测效率高，降低了检测成本。
具体地，检查台1上设置有安装凹槽11，安装凹槽11内设置光源组件2，该光源组件2设置为插件灯式背光源或贴片灯式背光源，如图2所示，光源组件2包括背光板21和背光板21底部设置的定位支脚22，安装凹槽11内设置有与定位支脚22插接配合的定位孔12，通过定位孔12实现光源组件2的定位，通过安装凹槽11容纳该光源组件2，而且为了使第一偏光组件3、待测基板4和第二偏光组件5层叠放置更稳定，光源组件2的上表面不超过安装凹槽11的开口端。
优化地，检查台1沿其长度方向和宽度方向分别设置有刻度标识条13，刻度标识条13中相邻刻度之间的距离小于目镜6的直径，使目镜6可沿着刻度标识条13上的刻度进行来回移动检测，可完全观测到待测基板4表面的各个位置，防止了观测时的位置遗漏，提高了检测的准确性。
运用上述检测装置对液晶基板盒内不良进行检测的方法，依次包括以下步骤：
1)将光源组件2放置在安装凹槽11内并定位固定，具体地，将光源组件2的定位支脚22插接在定位孔12内，并向下按动背光板21，使背光板21完全嵌入安装凹槽11内。
2)将贴有第一偏光片32的白玻璃31放在光源组件2上，使白玻璃31的一面朝上，然后在第一偏光组件3上放置待测基板4，在待测基板4上放置贴有第二偏光片51的白玻璃31，使白玻璃31的一面朝下；
3)调整待测基板4和第二偏光组件5，使第一偏光组件3、待测基板4和第二偏光组件5呈现出黑色画面状态；
4)手持调节好焦距的低倍目镜6放置在第二偏光组件5上，使低倍目镜6按照检查台1上的刻度标识条13上的刻度移动，沿着待测基板4的长度方向来回观察，观察的画面异常时，采用高倍目镜6进行确认。
该检测装置通过白玻璃对两个偏光片进行平整支撑，通过偏振方向相互垂直的两个偏光片对透过待测基板的光线进行过滤，然后通过目镜在偏光片上方观察画面显示的状态来确定待测基板上是否有坏点，无需对液晶基板进行切割和通电，可实现较大尺寸液晶基板盒内不良的监控，检测方法简单，检测的准确率高，检测效率高。
以上所述，只是用图解说明本发明的一些原理，本说明书并非是要将本发明局限在所示所述的具体结构和适用范围内，故凡是所有可能被利用的相应修改以及等同物，均属于本发明所申请的专利范围。
Claims (6)
1.一种液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于，包括检查台(1)以及检查台(1)由下而上依次设置的光源组件(2)、第一偏光组件(3)、待测基板(4)和第二偏光组件(5)，所述第一偏光组件(3)包括白玻璃(31)和贴在其上的第一偏光片(32)，所述第二偏光组件(5)包括白玻璃(31)和贴在其上的第二偏光片(51)，所述第一偏光片(32)与第二偏光片(51)的偏振方向垂直，所述待测基板(4)的两面均与白玻璃(31)接触，所述第二偏光组件(5)的上方设置有观测盒内不良的可调节焦距的目镜(6)。
2.根据权利要求1所述的液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于：所述检查台(1)上设置有安装凹槽(11)，所述安装凹槽(11)内设置所述光源组件(2)，所述光源组件(2)的上表面不超过所述安装凹槽(11)的开口端。
3.根据权利要求2所述的液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于：所述光源组件(2)设置为插件灯式背光源或贴片灯式背光源，所述光源组件(2)包括背光板(21)和背光板(21)底部设置的定位支脚(22)，所述安装凹槽(11)内设置有与所述定位支脚(22)插接配合的定位孔(12)。
4.根据权利要求1所述的液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于：所述白玻璃(31)的厚度设置为4cm～6cm。
5.根据权利要求1～4任意一项所述的液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于：所述检查台(1)沿其长度方向和宽度方向分别设置有刻度标识条(13)，所述刻度标识条(13)中相邻刻度之间的距离小于所述目镜(6)的直径。
6.一种液晶基板盒内不良的检测方法，运用如权利要求1～5任意一项所述的液晶基板盒内不良的检测装置，其特征在于，依次包括以下步骤：
1)将光源组件(2)放置在安装凹槽(11)内并定位固定；
2)将贴有第一偏光片(32)的白玻璃(31)放在光源组件(2)上，使白玻璃(31)的一面朝上，然后在第一偏光组件(3)上放置待测基板(4)，在待测基板(4)上放置贴有第二偏光片(51)的白玻璃(31)，使白玻璃(31)的一面朝下；
3)调整待测基板(4)和第二偏光组件(5)，使第一偏光组件(3)、待测基板(4)和第二偏光组件(5)呈现出黑色画面状态；
4)手持调节好焦距的低倍目镜(6)放置在第二偏光组件(5)上，使低倍目镜(6)按照检查台(1)上的刻度标识条(13)上的刻度移动，沿着待测基板(4)的长度方向来回观察，观察的画面异常时，采用高倍目镜(6)进行确认。
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| CN201911326891.9A CN110824744A (zh) | 2019-12-20 | 2019-12-20 | 一种液晶基板盒内不良的检测装置及其检测方法 |
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| CN201911326891.9A Pending CN110824744A (zh) | 2019-12-20 | 2019-12-20 | 一种液晶基板盒内不良的检测装置及其检测方法 |
Country Status (1)
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| CN (1) | CN110824744A (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN112129244A (zh) * | 2020-09-21 | 2020-12-25 | 北京石晶光电科技股份有限公司 | 一种晶片倒角检测方法 |
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2019
- 2019-12-20 CN CN201911326891.9A patent/CN110824744A/zh active Pending
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