CN203365845U - 液晶盒检测工具及液晶盒检测装置 - Google Patents

Abstract

本实用新型提供一种液晶盒检测工具及液晶盒检测装置，所述液晶盒检测工具包括：分别设置于液晶盒的两侧的至少两个偏光片；用于将至少两个偏光片分别固定于液晶盒的两侧的固定架，至少两个偏光片设置于所述固定架上；以及，用于提供检测光线的光源部件，所述光源部件设置于所述固定架上，且所述光源部件射出的光线能够经过至少两个偏光片中的一个偏光片形成偏振光入射至待检测的液晶盒。上述方案，通过固定架可以在未贴覆偏光片的液晶盒两侧分别设置偏光片，并设置一光源部件为液晶盒提供光源，从而可以与放大镜配合对未贴覆偏光片的液晶盒进行内部不良检测，且可以灵活携带直接带入生产线上进行及时测试，测试方便。

Description

液晶盒检测工具及液晶盒检测装置

技术领域

本实用新型涉及显示技术领域，尤其涉及一种应用于液晶面板制造工艺中，对显示面板进行内部不良检测时所采用的液晶盒检测工具及液晶盒检测装置。

背景技术

液晶显示器是目前常用的平板显示器，其中TFT-LCD(Thin Film-TransistorLiquid Crystal Display，薄膜晶体管液晶显示器)是液晶显示器中的主流产品。

液晶显示器的生产流程通常包括前段的阵列（Array）流程、中段的成盒（Cell）流程以及后段的模组（Module）流程。其中，中段的成盒（Cell）流程是以前段的阵列（Array）流程中制作的TFT阵列基板与彩膜基板（彩色滤光片）通过成盒工艺组装到一起，两片基板之间含有液晶分子，四周采用密封材料封住，从而形成一液晶盒（液晶屏）。在后段的模组（Module）流程中，该液晶盒与其他组件如偏光片、背光源、电路板、外框架、行列驱动器等组装成一体而获得一液晶面板。由于液晶盒本身不发光，因此需要利用背光源作为其光源，而从背光模组出射的光线进入液晶盒时必须为偏振光，因而通常需要在液晶盒的两侧分别贴上一偏光片（Polarizer）。偏光片贴覆通常可以作为模组流程中的第一道工序。

在TFT-LCD制造过程中，需要对液晶显示器的显示面板内部不良进行检测。现有的显示面板内部不良检测装置主要包括放大镜和光源部件，图1所示为现有的显示面板内部不良检测装置对显示面板内部不良进行检测的示意图。其是在液晶显示器生产线的后段的模组流程，将对盒后的液晶盒10两侧贴覆好偏光片20，并将获得的贴好偏光片的模组状态的产品送至实验室，由实验室内提供的光源部件为该模组状态的产品提供光源30，再通过放大镜40观察该模组状态的产品内部，实现对显示面板内部不良的检测。

采用上述显示面板内部不良检测装置主要存在以下几点问题：需要生产线在液晶盒进入后段的模组流程贴覆好偏光片之后才能检测，无法及时发现显示面板内部不良；检测需要光源由实验室的光源设备单独提供，检测地点限制在实验室内，无法将检测装置灵活携带直接进入生产线进行及时检测；此外，现有的显示面板内部不良检测装置在对大尺寸的显示面板进行检测时，操作不便。

实用新型内容

本实用新型的目的就在于提供一种液晶盒检测工具及液晶盒检测装置，能够实现对未贴覆偏光片的液晶盒的内部不良进行检测，且能够直接带入生产线进行及时检测，从而及时发现显示面板内部不良。

本实用新型所提供的技术方案如下：

一种液晶盒检测工具，所述液晶盒检测工具包括：

分别设置于液晶盒的两侧的至少两个偏光片；

用于将至少两个偏光片分别固定于液晶盒的两侧的固定架，至少两个偏光片设置于所述固定架上；以及，

用于提供检测光线的光源部件，所述光源部件设置于所述固定架上，且所述光源部件射出的光线经过至少两个偏光中的一个偏光片形成偏振光入射至待检测的液晶盒。

至少两个偏光片至少两个偏光片进一步的，所述固定架包括：设置于液晶盒的第一侧的第一固定架以及设置于液晶盒的与所述第一侧相对的第二侧的第二固定架；

至少两个偏光片包括：设置于所述第一固定架上的第一偏光片以及设置于所述第二固定架上的且能够与所述第一偏光片相对设置的第二偏光片；

其中，所述光源部件设置于所述第二固定架上，且所述光源部件位于所述第二偏光片的远离所述第一偏光片的一侧。

进一步的，所述第一固定架包括具有中空腔的第一圈状框架结构，所述第一偏光片以能够移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第一圈状框架结构上；

所述第二固定架包括具有中空腔的第二圈状框架结构，所述第一圈状框架结构的中空腔位置与所述第二圈状框架结构的中空腔位置相对应，所述第二偏光片以能够移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第二圈状框架结构上。

进一步的，所述第一圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第一偏光片，其中每一所述第一偏光片的一端活动连接在所述第一圈状框架结构上，且能够绕其与所述第一圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔；

所述第二圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第二偏光片，每一所述第二偏光片的一端活动连接在所述第二圈状框架结构上，且能够绕其与所述第二圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔。

进一步的，所述光源部件包括：设置于所述第二圈状框架结构的中空腔位置处的光扩散组件，所述光扩散组件位于所述第二偏光片的远离所述第一偏光片的一侧；

以及，设置于所述光扩散组件的远离所述第二偏光片的一侧的光源。

进一步的，所述固定架还包括：用于固定所述第一固定架和所述第二固定架的支杆，所述第一固定架和所述第二固定架间隔设置于所述支杆上，且所述第一固定架和/或所述第二固定架能够沿所述支杆移动。

进一步的，所述第一固定架和/或所述第二固定架以可拆卸地方式连接于所述支杆上。

进一步的，所述固定架还包括：用于固定放大镜的第三固定架，所述第三固定架设置于所述支杆上，并位于所述第一固定架的远离所述第二固定架的一侧。

进一步的，所述第一固定架和第二固定架均为具有磁性的固定架，且所述第一固定架的磁极与所述第二固定架的磁极相反。

一种液晶盒检测装置，包括：放大镜；以及，如上所述的液晶盒检测工具。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型所提供的液晶盒检测工具通过固定架可以在未贴覆偏光片的液晶盒两侧分别设置偏光片，并设置一光源部件为液晶盒提供光源，从而可以与放大镜配合在液晶显示面板制造生产线上对未贴覆偏光片的液晶盒直接进行内部不良检测，且可以灵活携带，直接带入生产线上进行及时测试，测试方便。

附图说明

图1表示现有技术中采用液晶盒检测装置进行显示面板不良检测时的示意图；

图2表示本实用新型所提供的液晶盒检测工具第一种实施例的结构示意图；

图3表示本实用新型所提供的液晶盒检测工具第二种实施例的结构示意图；

图4表示第一固定架与第一偏光片连接结构示意图；

图5表示第二固定架与第二偏光片连接结构示意图。

具体实施方式

现有技术中对于液晶显示装置制造过程中的显示面板内部不良检测需要在液晶盒贴覆好偏光片后进行，且需要在实验室内提供光源才能进行，不能及时在线检测而发现不良。为了解决上述问题，本实用新型提供了一种液晶盒检测工具，能够对未贴覆偏光片的液晶盒直接进行检测，以实现显示面板内部不良检测，且无需由实验室提供光源，可以在生产线上直接对液晶盒及时进行检测，以及时发现不良。

以下结合附图对本实用新型的原理和特征进行描述，所举实例只用于解释本实用新型，并非用于限定本实用新型的范围。

本实用新型所提供的液晶盒检测工具可以用于与放大镜配合，来对未贴覆偏光片的液晶盒进行检测。如图2和图3所示，该液晶盒检测工具包括：

分别设置于液晶盒10的两侧的至少两个偏光片；

用于将至少两个偏光片固定于液晶盒10的两侧的固定架，至少两个偏光片设置于所述固定架上；以及，

用于提供检测光线的光源部件100，所述光源部件100设置于所述固定架上，且所述光源部件100射出的光线能够经过至少两个偏光中的一个偏光片形成偏振光入射至待检测的液晶盒10。

采用上述方案，本实用新型的液晶盒检测工具在进行显示面板内部不良检测时，固定架可以在液晶盒10的两侧分别设置偏光片，而设置于固定架上的光源部件100可以直接为液晶盒10提供光源，由此，可以直接对未贴覆偏光片的液晶盒10进行检测，以及时发现不良；并且该液晶盒检测工具可以直接为液晶盒10提供光源，而无需在实验室内进行，可以直接在生产线上检测液晶盒10。

本实施例中，优选的，如图2和图3所示，所述固定架包括：用于设置于液晶盒10的第一侧的第一固定架201；以及，用于设置于液晶盒10的与所述第一侧相对的第二侧的第二固定架202；

至少两个偏光片包括：设置于所述第一固定架201上的第一偏光片301，设置于所述第二固定架202上的且能够与所述第一偏光片301相对设置的第二偏光片302；

其中，所述光源部件100设置于所述第二固定架202上，且所述光源部件100位于所述第二偏光片302的远离所述第一偏光片301的一侧。

采用上述方案，在进行显示面板内部不良检测时，第一偏光片301和第二偏光片302可以分别通过第一固定架201和第二固定架202这两个固定架设置于液晶盒10的两侧，而光源部件100通过第二固定架202设置于第二偏光片302的远离第一偏光片301的一侧，从而光源部件100发出的光线可以入射至第二偏光片302，并形成偏振光进而入射至液晶盒10。

需要说明的是，在实际应用中，固定架还可以采用其他结构，比如：固定架可以是一整个固定架，该固定架可以同时固定第一偏光片301和第二偏光片302；在此不再一一列举。

此外，如图2至图5所示，本实施例中，优选的，第一固定架201采用一具有中空腔的第一圈状框架结构，所述第二固定架202采用一具有中空腔的第二圈状框架结构，且所述第一圈状框架结构的中空腔位置与所述第二圈状框架结构的中空腔位置相对应，而第一偏光片301和第二偏光片302可以分别设置于第一圈状框架结构和第二圈状框架结构的中空腔处。

采用上述方案进行显示面板内部不良检测时，可以将第一圈状框架结构和第二圈状框架结构分别设置于液晶盒10两侧，且第一圈状框架结构和第二圈状框架结构的中空腔对应设置，以使得第一偏光片301和第二偏光片302相对应设置，光源部件100发出的光线可以经由第二偏光片302入射至液晶盒10，从而第一圈状框架结构和第二圈状框架结构的中空腔所对应的区域即形成一用于检测的区域，将放大镜40放置于该用于检测的区域，即可实现对液晶盒10内部不良的观察。

当然可以理解的是，在实际应用中，第一固定架201和第二固定架202的结构也可以采用其他结构，比如，第一固定架201和第二固定架202均为能够夹持偏光片的夹持架结构，在此不再一一列举。

此外，针对不同模式如ADS模式、TN模式的液晶面板，偏光片的型号也会不同，ADS模式液晶面板采用ADS偏光片，而TN模式液晶面板则采用TN偏光片，因此，为了使得本实用新型的液晶盒检测工具可以适用于各种模式的液晶面板的检测，本实施例中，优选的，第一偏光片301以能够移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第一圈状框架结构上；第二偏光片302以能够移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第二圈状框架结构上。

采用上述方案，第一偏光片301可以移出或移入第一圈状框架结构的中空腔，第二偏光片302可以移出或移入第一圈状框架结构的中空腔，从而可以根据所需要检测的液晶面板的模式更换或选择不同型号的第一偏光片301和第二偏光片302。具体地，本实施例中，如图4和图5所示，优选的，所述第一圈状框架结构上设置有两个不同型号的第一偏光片301，其中每一所述第一偏光片301的一端活动连接在所述第一圈状框架结构上，且能够绕其与所述第一圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔；

所述第二圈状框架结构上设置有两个不同型号的第二偏光片302，每一所述第二偏光片302的一端活动连接在所述第二圈状框架结构上，且能够绕其与所述第二圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔。

本实施例中，如图4和图5所示，两个第一偏光片301通过第一旋转轴303活动连接于第一圈状框架结构上，两个第二偏光片302通过第二旋转轴304活动连接于第二圈状框架结构上。

采用上述方案，可以根据需要检测的液晶面板模式来选择相应型号的第一偏光片301和第二偏光片302，从而使得该液晶盒检测工具适用于多种模式液晶面板的检测，比如：

当需要检测ADS模式的液晶面板时，可以将两个第一偏光片301中适用于ADS模式液晶面板的偏光片旋转移动至第一圈状框架结构的中空腔，将两个第一偏光片301中适用于其他模式（如TN模式）液晶面板的偏光片旋转移动至第一圈状框架结构的中空腔外，相应地，将两个第二偏光片302中适用于ADS模式液晶面板的偏光片旋转移动至第二圈状框架结构的中空腔，将两个第二偏光片302中适用于其他模式（如TN模式）液晶面板的偏光片旋转移动至第二圈状框架结构的中空腔外，从而可以实现对ADS模式液晶面板的检测；

同样地，当需要检测TN模式的液晶面板时，可以将两个第一偏光片301中适用于TN模式液晶面板的偏光片旋转移动至第一圈状框架结构的中空腔，将两个第一偏光片301中适用于其他模式（如ADS模式）液晶面板的偏光片旋转移动至第一圈状框架结构的中空腔外，相应地，将两个第二偏光片302中适用于TN模式液晶面板的偏光片旋转移动至第二圈状框架结构的中空腔，将两个第二偏光片302中适用于其他模式（如ADS模式）液晶面板的偏光片旋转移动至第二圈状框架结构的中空腔外，从而可以实现对TN模式液晶面板的检测。

需要说明的是，在实际应用中，也可以采用其他方式实现将第一偏光片301以能够移入或移出第一圈状框架结构的中空腔的方式设置于第一圈状框架结构上，比如：

可以将第一偏光片301以可拆卸地方式设置于第一圈状框架结构的中空腔处，可以根据所要检测的液晶面板的模式，来更换上相应型号的第一偏光片301；

或者，还可以将多个第一偏光片301通过移动地方式设置于第一圈状框架结构上，当需要ADS偏光片时，推动ADS偏光片移动至第一圈状框架结构的中空腔处，而需要TN偏光片时，推动ADS偏光片移出第一圈状框架结构的中空腔，而将TN偏光片移动至第一圈状框架结构的中空腔处即可；

相应地，也可以采用其他方式实现将第二偏光片302以能够移入或移出第二圈状框架结构的中空腔，在此不再赘述。

此外，还需说明的是，本实施例中，第一偏光片301数量有两个，且两个第一偏光片301分别为不同型号的偏光片（如ADS偏光片和TN偏光片），在实际应用中，第一偏光片301的数量也可以为多个，且多个第一偏光片301可以分别为不同型号的偏光片；

同样地，本实施例中，第二偏光片302数量有两个，且两个第二偏光片302分别为不同型号的偏光片（如ADS偏光片和TN偏光片），在实际应用中，第二偏光片302的数量也可以为多个，且多个第二偏光片302分别为不同型号的偏光片。

此外，如图2和图3所示，本实施例中，优选的，所述光源部件100包括：设置于所述第二圈状框架结构的中空腔位置处的光扩散组件101，所述光扩散组件101位于所述第二偏光片302的远离所述第一偏光片301的一侧；以及，设置于所述光扩散组件101的远离所述第二偏光片302的一侧的光源102。

采用上述方案，光扩散组件101可以将光源102发出的光线先进行扩散，以使得光线均匀入射至第二偏光片302。

此外，如图2所示，本实施例中，优选的，所述固定架还包括：用于固定所述第一固定架201和所述第二固定架202的支杆203，所述第一固定架201和所述第二固定架202间隔设置于所述支杆203上，且所述第一固定架201和所述第二固定架202均能够沿所述支杆203移动。

采用上述方案，可以通过支杆203将第一固定架201和第二固定架202分别固定在液晶盒10的两侧，且第一固定架201和第二固定架202能够沿支杆203移动，从而可以针对不同厚度的液晶盒10来调整第一固定架201和第二固定架202的距离，以使得该液晶盒检测工具可以针对各种厚度的液晶盒10进行检测。

需要说明的是，本实施例中第一固定架201和第二固定架202均可以沿支杆203移动，在实际应用中，也可以仅使得第一固定架201和第二固定架202中的一个沿支杆203移动即可。

此外，本实施例中，优选的，如图2所示，所述固定架还包括：用于固定放大镜40的第三固定架204，所述第三固定架204设置于所述支杆203上，并位于所述第一固定架201的远离所述第二固定架202的一侧。采用上述方案，可以通过第三固定架204来固定放大镜40，从而便于操作。

此外，本实施例中，优选的，所述第一固定架201和所述第二固定架202以可拆卸地方式连接于所述支杆203上。由此，第一固定架201和第二固定架202可以从支杆203上拆卸下，而分别设置于液晶盒10两侧即可，以适用于大尺寸的液晶盒10。

此外，在本实用新型的其他实施例中，所述第一固定架201和第二固定架202均为具有磁性的固定架，且所述第一固定架201的磁极与所述第二固定架202的磁极相反。由此，如图3所示，可以利用异性相吸的原理将第一固定架201和第二固定架202分别贴覆在液晶盒10的两侧，无需支杆固定第一固定架和第二固定架，固定更加牢固，且适用不同产品尺寸的液晶盒10，可以对液晶盒10的各个位置进行观察，移动方便。

本实施例中，优选的，第一固定架201和第二固定架202采用具有磁性的磁石制成。当然可以理解的是，在实际应用中，第一固定架201和第二固定架202上也可以是设置有具有磁性的磁石来实现磁性吸引的目的。

本实用新型的另一个目的是提供一种液晶盒检测装置，其包括：放大镜40；以及，本实用新型所提供的液晶盒检测工具。显然，本实用新型所提供的液晶盒检测装置也具有上述液晶盒检测工具所带来的有益效果。

以上是本实用新型的优选实施方式，应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本实用新型原理的前提下，还可以作出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本实用新型的保护范围。

Claims (10)

1.一种液晶盒检测工具，其特征在于，所述液晶盒检测工具包括：

分别设置于液晶盒的两侧的至少两个偏光片；

用于将至少两个偏光片分别固定于液晶盒的两侧的固定架，至少两个偏光片设置于所述固定架上；以及，

用于提供检测光线的光源部件，所述光源部件设置于所述固定架上，且所述光源部件射出的光线经过至少两个偏光片中的一个偏光片形成偏振光入射至待检测的液晶盒。

2.根据权利要求1所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述固定架包括：设置于液晶盒的第一侧的第一固定架以及设置于液晶盒的与所述第一侧相对的第二侧的第二固定架；

至少两个偏光片包括：设置于所述第一固定架上的第一偏光片以及设置于所述第二固定架上的且能够与所述第一偏光片相对设置的第二偏光片；

其中，所述光源部件设置于所述第二固定架上，且所述光源部件位于所述第二偏光片的远离所述第一偏光片的一侧。

3.根据权利要求2所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述第一固定架包括具有中空腔的第一圈状框架结构，所述第一偏光片以能够移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第一圈状框架结构上；

所述第二固定架包括具有中空腔的第二圈状框架结构，所述第一圈状框架结构的中空腔位置与所述第二圈状框架结构的中空腔位置相对应，所述第二偏光片以能够移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔的方式设置于所述第二圈状框架结构上。

4.根据权利要求3所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述第一圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第一偏光片，其中每一所述第一偏光片的一端活动连接在所述第一圈状框架结构上，且能够绕其与所述第一圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第一圈状框架结构的中空腔；

所述第二圈状框架结构上设置有至少两个不同型号的第二偏光片，每一所述第二偏光片的一端活动连接在所述第二圈状框架结构上，且能够绕其与所述第二圈状框架结构的活动连接处旋转，以移出或移入所述第二圈状框架结构的中空腔。

5.根据权利要求3所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述光源部件包括：设置于所述第二圈状框架结构的中空腔位置处的光扩散组件，所述光扩散组件位于所述第二偏光片的远离所述第一偏光片的一侧；

以及，设置于所述光扩散组件的远离所述第二偏光片的一侧的光源。

6.根据权利要求3所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述固定架还包括：用于固定所述第一固定架和所述第二固定架的支杆，所述第一固定架和所述第二固定架间隔设置于所述支杆上，且所述第一固定架和/或所述第二固定架能够沿所述支杆移动。

7.根据权利要求6所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述第一固定架和/或所述第二固定架以可拆卸地方式连接于所述支杆上。

8.根据权利要求6所述的液晶盒检测工具，其特征在于，所述固定架还包括：用于固定放大镜的第三固定架，所述第三固定架设置于所述支杆上，并位于所述第一固定架的远离所述第二固定架的一侧。

9.根据权利要求3所述的液晶盒检测工具，其特征在于，

所述第一固定架和第二固定架均为具有磁性的固定架，且所述第一固定架的磁极与所述第二固定架的磁极相反。

10.一种液晶盒检测装置，其特征在于，包括：

放大镜；以及，如权利要求1至9任一项所述的液晶盒检测工具。

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