CN104360509B - 点灯测试方法及装置 - Google Patents

点灯测试方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN104360509B
CN104360509B CN201410677680.0A CN201410677680A CN104360509B CN 104360509 B CN104360509 B CN 104360509B CN 201410677680 A CN201410677680 A CN 201410677680A CN 104360509 B CN104360509 B CN 104360509B
Authority
CN
China
Prior art keywords
alignment mark
measured
flexible pcb
driving chip
trial product
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
CN201410677680.0A
Other languages
English (en)
Other versions
CN104360509A (zh
Inventor
肖均洋
杨志辉
楚正勇
朴世赫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
BOE Technology Group Co Ltd
Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by BOE Technology Group Co Ltd, Chengdu BOE Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical BOE Technology Group Co Ltd
Priority to CN201410677680.0A priority Critical patent/CN104360509B/zh
Publication of CN104360509A publication Critical patent/CN104360509A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN104360509B publication Critical patent/CN104360509B/zh
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G02—OPTICS
    • G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306—Details
    • G02F1/1309—Repairing; Testing
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays

Abstract

本发明公开了一种点灯测试方法及装置，涉及显示领域，解决现有点灯测试方法无法选择输入信号，使得信号给入的选择上以及点灯画面受到限制的问题，可以发挥驱动芯片针对每个象素进行控制的优势，优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。本发明的点灯测试方法包括：将驱动芯片集成在转接板上；然后通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接；进行点灯测试。

Description

点灯测试方法及装置
技术领域
本发明涉及显示领域，尤其涉及一种点灯测试方法及装置。
背景技术
液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)功耗很低，并且具有高画质、体积小、重量轻的特点，因此倍受大家青睐，成为显示器的主流。
液晶显示器，为平面超薄的显示设备，它由一定数量的彩色或黑白像素组成。目前液晶显示器是以薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)液晶显示器为主，其制作过程可大致分为三部分：薄膜晶体管阵列(TFT Array)制备过程以及彩色滤光板制备工程、液晶显示单元组装(LC Cell Assembly)制备过程、液晶显示模块(Liquid Crystal Module，LCM)制备过程。液晶面板在制作的过程中，需要进行多个检验程序，其中一个很重要检验程序就是对切割完成的液晶盒进行测试(Cell Test)，以确认液晶盒是否存在缺陷。Cell Test简称ET，为液晶面板未贴附驱动芯片以及输入显示信号用的柔性电路板之前进行。该测试过程先是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷检测装置逐一观察各个像素是否良好，此过程称为点灯测试(Light-on Test)。
如图1所示，目前工厂在大批量生产时，为了节省成本，多采用短路条10(ShortingBar)的点灯测试方式。参照图1所示，每个像素单元中的R、G、B像素分别通过短路条10上的R接口、G接口、B接口接收相应的R、G、B信号，测试用的驱动芯片(IC)21通过一个开关模块(SW)22来给R接口、G接口、B接口输入信号，以R接口为例，当开关模块22打开时，短路条10上的R接口会给产品提供所有的R信号。点灯测试后，后续工序会给液晶面板贴附上驱动芯片，当通过贴附的驱动芯片来给信号时，开关模块22如果异常打开(开关模块22只在点灯测试中使用，之后产品正常显示情况下开关模块22应保持关闭状态)，则会导致相关信号通过短路条10时导致短路；同样如果开关模块22出现其他异常例如短路，则会导致短路条10信号无法给入到产品内部电路，导致相关不良，而这些开关模块22导致的不良会被误判为液晶面板不良。
另外，该点灯检测中每个像素单元中的R像素均通过短路条10上的R接口接收信号，不能发挥驱动芯片针对每个R象素进行控制的优势(G、B像素也存在类似问题)，这样便使得信号给入的选择上以及点灯画面得到了限制。
发明内容
本发明的实施例提供一种点灯测试方法及装置，解决现有点灯测试方法无法选择输入信号，使得信号给入的选择上以及点灯画面受到限制的问题，可以发挥驱动芯片针对每个象素进行控制的优势，优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。
为达到上述目的，本发明的实施例采用如下技术方案：
一种点灯测试方法，包括：将测试用的驱动芯片集成在转接板上；然后通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接；进行点灯测试。
可选地，所述通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接，包括：将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
优选地，所述将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口，具体包括：在待测试产品的显示信号输入端口附近形成对位标记，在所述柔性电路板上形成与所述对位标记相对位的准对位标记，或者，只在所述柔性电路板上形成准对位标记，所述准对位标记与所述待测试产品的显示信号输入端口已有的对位标记相对位；
将所述对位标记与所述准对位标记进行对位后，再进行压接，使所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
可选地，所述对位标记、所述准对位标记为十字形。
进一步地，所述柔性电路板上与待测试产品的所述显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点。
本发明还提供一种点灯测试装置，包括：集成有测试用的驱动芯片的转接板，所述驱动芯片用于产生测试用的驱动信号；柔性电路板，用于将所述测试用的驱动信号输入待测试产品的显示信号输入端口，所述柔性电路板一端与所述驱动芯片的信号输出端相连，另一端与待测试产品的显示信号输入端口相连。
可选地，所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
优选地，所述柔性电路板上形成有准对位标记，所述准对位标记与待测试产品的显示信号输入端口附近的对位标记相对位。
可选地，所述对位标记、所述准对位标记为十字形。
进一步地，所述柔性电路板上与待测试产品的显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点。
可选地，所述驱动芯片与点灯测试之后的制造工序中安装到待测试产品上的驱动芯片相同。
本发明的实施例提供一种点灯测试方法及装置，将驱动芯片集成在转接板上，然后通过柔性电路板将驱动芯片输出的信号输入到待测试产品的显示信号输入端口进行测试，这种测试方法更接近COG的点灯方式(Chip On Glass，简称COG，指将驱动芯片安装至液晶面板后，通过驱动芯片给面板提供驱动信号，来实现产品的画面显示的方式)，可以通过刷图片的方式来实现点灯检测画面，这样可以更加优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。与现有技术相比，可以避免现有点灯测试方法无法选择输入信号，使得信号给入的选择上以及点灯画面受到限制的问题，也不会将开关模块异常误判为液晶面板不良。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图。
图1为现有技术中采用短路条进行点灯测试的线路结构示意图；
图2本发明实施例提供的点灯测试方法的流程图；
图3为本发明实施例中的液晶面板引线区的平面结构示意图；
图4为本发明实施例提供的点灯测试方法的连接线路示意图；
图5为本发明实施例提供的点灯测试方法中使用的柔性电路板的面结构示意图。
附图标记
10-短路条，11-显示信号输入端口，12-FPC绑定端口，
21-测试用的驱动芯片，14-准对位标记，13-COG测试用的驱动芯片，
22-开关模块，30-转接板，31-测试用的驱动芯片，40-柔性电路板，
41-柔性电路板信号输出的一端，42-对位标记。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。
本发明实施例提供一种点灯测试方法，如图2所示，该测试方法包括：
S101、将测试用的驱动芯片集成在转接板上；本实施例的测试用的驱动芯片可以针对每一像素进行控制，可以是为进行点灯测试而专门设计的驱动芯片(一般具有通用性，可测试多种产品)，也可以直接选用点灯测试之后的制造工序中安装到待测试产品上的驱动芯片。
S102、然后通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接；
S102、进行点灯测试。
本发明的实施例提供的点灯测试方法，将驱动芯片集成在转接板上，然后通过柔性电路板将驱动芯片输出的信号输入到待测试产品的显示信号输入端口进行点灯测试，这种测试方法更接近COG的点灯方式，可以通过刷图片的方式来实现点灯检测画面，这样可以更加优化ET的点灯检测程序，优化ET检出，直接将到后端测试才能检出的不良进行提前拦截，节省驱动芯片等的物料成本。
与现有技术相比，这种测试方法可以针对单个像素进行控制，可以避免现有测试方法因为短路条R接口(G接口或者B接口)给产品的所有R像素(G像素或者B像素)提供信号，使得信号给入的选择上以及点灯画面得到限制的问题，也不会将开关模块异常误判为液晶面板不良。
为了本领域技术人员更好的理解本发明实施例提供的点灯测试方法，下面以液晶显示产品为例，对本发明提供的点灯测试方法进行详细说明。
为便于理解，先对待测试的液晶面板进行简单介绍。如图3所示，液晶面板的一侧边缘设置有各种引线区，主要包括：位于两侧区域的短路条10，位于中间区域的显示信号输入端口11以及FPC绑定端口12。在目前现有点灯测试方式多通过短路条10给入液晶盒信号，信号给入的选择和点灯画面受到限制；后段安装上COG测试用的驱动芯片13和COG测试用的FPC(Flexible Printed Circuit board，柔性电路板，该FPC用于COG测试时输入信号，与本文中点灯测试用的柔性电路板40不是同一个)后，COG测试用的驱动芯片13利用该COG测试用的FPC连接FPC绑定端口12，在FOG(FPC绑定后)/模组状态实现点翻转检测，进一步检出不良。后段安装的COG测试用的驱动芯片13同样可以实现对单个像素进行控制，但这是后段工序才安装到液晶面板上的芯片，点灯测试用驱动芯片31可以与COG测试用的驱动芯片13相同，也可以是专门设计通用于各种产品的点灯测试的驱动芯片。需要注意的是，在点灯测试阶段，COG测试用的驱动芯片13暂未安装，只有在后期芯片组装阶段显示信号输入端口11才与COG测试用的驱动芯片13相连。
为克服通过短路条10进行点灯测试存在的缺陷，使得ET点灯测试能够更加接近于目前的COG点灯方式，使得点灯测试能够实现更多的画面，增强点灯测试的检出能力，本实施例提供一种新的点灯测试方法，如图4所示，将测试用的驱动芯片31集成在转接板30上，然后通过柔性电路板40将驱动芯片31输出的信号输入到液晶产品的显示信号输入端口11进行点灯测试。
本实施例提供的点灯测试方法，需要搭载测试用的驱动芯片31的转接板30以及连接转接板30和液晶面板的柔性电路板40，信号发生器(亦可集成在转接板30上)给驱动芯片31信号，通过驱动芯片31的处理输出用于测试的信号，该测试用的信号通过柔性电路板40传送到液晶面板，来实现点灯。
本实施例提供的点灯测试方法，需要保证柔性电路板40能与测试用的驱动芯片31、待测试液晶面板的显示信号输入端口11均可靠性连接，以保证信号给入的正常。将驱动芯片31集成在转接板30上并设置信号输出端口，柔性电路板40接受信号的一端直接插接在该信号输出端口(当然也可以是压接或其他连接方式)，实现可靠性连接。但对液晶面板而言，其引线区域的线路间距很小，为实现柔性电路板40与液晶面板的可靠性连接，本实施例将柔性电路板40信号输出的一端压接在液晶面板的显示信号输入端口11。
具体而言，为保证压接精度本实施例采用如下方式：如图4和图5所示，在液晶面板的显示信号输入端口11附近形成对位标记14，在柔性电路板40上形成与对位标记42相对位的准对位标记42。如果液晶面板的显示信号输入端口11附近已存在对位标记14，则只需在柔性电路板40上形成准对位标记42，准对位标记42要能与液晶面板的显示信号输入端口11附近已有的对位标记14相对位。然后，将柔性电路板40上的对位标记42与液晶面板上的准对位标记4进行对位后，再进行压接，使柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口，实现二者端口的可靠性连接。
其中，上述的对位标记与准对位标记泛指广泛意义上用于对位的标记，上述的对位标记与准对位标记用于在压接前相互配合使用，实现对位，以保证压接精度。可以理解的是，上述的对位标记与准对位标记可以是本领域技术人员所熟知的任何形状及任何图形，只要能相互配合使用实现对位即可。例如，所述对位标记与准对位标记可以是十字形，具体见图4中14和图5中的42。
进一步地，为保证柔性电路板40与液晶面板的引线区显示信号输入端口11压接好，在柔性电路板40上与液晶面板的显示信号输入端口11相压接的地方设置凸点，压接点设计凸点，能够保证压接时形成可靠性电连接，保证信号给入的正常。
本发明的实施例提供的点灯测试方法，可以通过刷图片的方式来实现点灯检测画面，这样可以更加优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。
需要注意的是，本实施例中虽然以液晶面板作为待测试产品进行叙述，但实际上本发明提供的点灯测试方法实际上还可用于其他显示产品的测试，例如有机发光显示面板等。
实施例二
本发明实施例还提供一种点灯测试装置，参照图4所示，该装置包括：集成有驱动芯片31的转接板30，所述驱动芯片31用于产生测试用的驱动信号；柔性电路板40，用于将测试用的驱动信号输入待测试产品的显示信号输入端口11，柔性电路板40一端与驱动芯片31的信号输出端相连，另一端与待测试产品的显示信号输入端口11相连。
本发明实施例提供的点灯测试装置，通过驱动芯片给入检测信号，可以发挥驱动芯片的驱动优势，可以通过刷图片的方式来实现点灯检测画面，这样可以更加优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。与现有技术相比，在信号给入的选择上以及点灯画面不受限制，也不会将开关模块异常误判为液晶面板不良。
可选地，柔性电路板40信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口11。为保证压接精度，所述柔性电路板40上形成有准对位标记42，且该准对位标记42与待测试产品的显示信号输入端口11附近的对位标记14相对位。可选地，对位标记42、准对位标记14包括但不限于图4和图5所示的十字形。
进一步地，柔性电路板上与待测试产品的显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点，以能够保证压接时形成可靠性电连接。
进一步地,如实施例一中所述，点灯测试用驱动芯片31可以与COG测试用的驱动芯片13相同，也可以是专门设计通用于各种产品的点灯测试的驱动芯片。
本发明的实施例提供的点灯测试装置，包括集成有驱动芯片的转接板，将驱动芯片与待测试产品的显示信号输入端口连接的柔性电路板，可以通过柔性电路板直接将驱动芯片输出的信号输入到待测试产品进行测试，这种测试方法更接近COG的点灯方式，可以通过刷图片的方式来实现点灯检测画面，这样可以更加优化ET的点灯检测程序，优化ET检出。与现有技术相比，可以避免信号给入的选择上以及点灯画面得到了限制的缺陷，也不会将开关模块异常误判为液晶面板不良。
本实施例提供的点灯测试方法及装置，可用于液晶面板、电子纸、OLED面板、手机、平板电脑、电视机、显示器、笔记本电脑、数码相框、导航仪等任何具有显示功能的产品或部件的制造过程。
本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于设备实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
以上所述，仅为本发明的具体实施方式，但本发明的保护范围并不局限于此，任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内，可轻易想到的变化或替换，都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此，本发明的保护范围应该以权利要求的保护范围为准。

Claims (11)

1.一种点灯测试方法，用于测试尚未安装驱动芯片的COG液晶面板，其特征在于，包括：
将测试用的驱动芯片集成在转接板上；
然后通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端口与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接，其中，所述柔性电路板和所述待测试产品上形成有相互连接时用来对位的对位标记；
进行点灯测试。
2.根据权利要求1所述的点灯测试方法，其特征在于，所述通过柔性电路板，将所述驱动芯片的信号输出端与待测试产品的显示信号输入端口进行对应连接，包括：将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
3.根据权利要求2所述的点灯测试方法，其特征在于，所述将所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口，具体包括：在待测试产品的显示信号输入端口附近形成对位标记，在所述柔性电路板上形成与所述对位标记相对位的准对位标记，或者，只在所述柔性电路板上形成准对位标记，所述准对位标记与所述待测试产品的显示信号输入端口已有的对位标记相对位；将所述对位标记与所述准对位标记进行对位后，再进行压接，使所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
4.根据权利要求3所述的点灯测试方法，其特征在于，
所述对位标记、所述准对位标记为十字形。
5.根据权利要求2-4任一项所述的点灯测试方法，其特征在于，
所述柔性电路板上与待测试产品的所述显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点。
6.一种点灯测试装置，用于测试尚未安装驱动芯片的COG液晶面板，其特征在于，包括：
集成有测试用的驱动芯片的转接板，所述驱动芯片用于产生测试用的驱动信号；
柔性电路板，用于将所述测试用的驱动信号输入待测试产品的显示信号输入端口，所述柔性电路板一端与所述驱动芯片的信号输出端相连，另一端与待测试产品的显示信号输入端口相连；其中，所述柔性电路板和所述待测试产品上形成有相互连接时用来对位的对位标记。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述柔性电路板信号输出的一端压接在待测试产品的显示信号输入端口。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述柔性电路板上形成有准对位标记，所述准对位标记与待测试产品的显示信号输入端口附近的对位标记相对位。
9.根据权利要求8所述的装置，其特征在于，
所述对位标记、所述准对位标记为十字形。
10.根据权利要求6-9任一项所述的装置，其特征在于，所述柔性电路板上与待测试产品的显示信号输入端口相压接的地方设置有凸点。
11.根据权利要求6-9任一项所述的装置，其特征在于，所述驱动芯片与点灯测试之后的制造工序中安装到待测试产品上的驱动芯片相同。
CN201410677680.0A 2014-11-21 2014-11-21 点灯测试方法及装置 Expired - Fee Related CN104360509B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410677680.0A CN104360509B (zh) 2014-11-21 2014-11-21 点灯测试方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201410677680.0A CN104360509B (zh) 2014-11-21 2014-11-21 点灯测试方法及装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN104360509A CN104360509A (zh) 2015-02-18
CN104360509B true CN104360509B (zh) 2018-02-13

Family

ID=52527786

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201410677680.0A Expired - Fee Related CN104360509B (zh) 2014-11-21 2014-11-21 点灯测试方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN104360509B (zh)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN105445979B (zh) * 2016-01-29 2018-09-11 京东方科技集团股份有限公司 一种点灯治具及点灯方法
CN105609028B (zh) * 2016-03-23 2018-03-27 武汉华星光电技术有限公司 假压测试方法与装置
CN105807456B (zh) * 2016-05-10 2019-02-22 昆山龙腾光电有限公司 点灯测试方法及装置
CN106444109B (zh) * 2016-11-18 2019-06-28 京东方科技集团股份有限公司 用于点灯测试中的连接装置和点灯测试设备
CN106910444B (zh) * 2017-02-28 2020-11-27 京东方科技集团股份有限公司 点灯装置和点灯测试方法
CN107942547B (zh) * 2017-11-21 2020-06-30 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 点灯回点治具及其检测面板的方法
CN108806565B (zh) * 2018-06-01 2020-08-04 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示屏点灯测试装置及方法
CN109342933A (zh) * 2018-12-18 2019-02-15 北京兆易创新科技股份有限公司 一种测试治具
CN109729641B (zh) * 2019-02-27 2020-05-19 广州国显科技有限公司 柔性线路板、点灯检测方法
CN109872666B (zh) * 2019-02-28 2022-05-17 昆山龙腾光电股份有限公司 显示装置的点灯测试装置、点灯测试系统及点灯测试方法
CN110018368B (zh) * 2019-03-01 2020-09-25 云谷（固安）科技有限公司 测试系统及其信号传输电路板
CN109801575A (zh) * 2019-03-27 2019-05-24 霸州市云谷电子科技有限公司 Oled显示屏的分选方法及oled模组的制备方法
CN110426568B (zh) * 2019-07-08 2020-11-24 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板
CN111148343B (zh) * 2020-01-20 2021-04-20 京东方科技集团股份有限公司 一种柔性电路板、点灯测试系统以及测试方法
CN111754904A (zh) * 2020-06-19 2020-10-09 北京瑞荣达电子技术有限公司 一种液晶面板防干扰检测装置
CN112908231B (zh) * 2021-03-08 2024-01-16 福州京东方光电科技有限公司 一种测试信号接入板和点灯治具
CN113176524B (zh) * 2021-05-13 2022-11-08 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板检测装置
CN113270055B (zh) * 2021-05-27 2022-11-01 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 显示面板及测试装置

Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004095872A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Seiko Epson Corp 電子部品の実装基板、電気光学装置、電子部品の実装基板の製造方法、電気光学装置の製造方法及び電子機器
KR20050003519A (ko) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법
KR20070031042A (ko) * 2005-09-14 2007-03-19 삼성전자주식회사 검사 패드를 구비한 액정 표시 장치
CN201548776U (zh) * 2009-09-29 2010-08-11 深圳市国显科技有限公司 Fog液晶屏测试治具
KR20110049093A (ko) * 2009-11-04 2011-05-12 (주)이노웍스 디스플레이 패널의 점등 검사용으로 사용되는 프로브 장치
CN202206485U (zh) * 2011-08-21 2012-04-25 深圳市同兴达科技有限公司 带有fpc接插件测试接口液晶显示模组
CN203101768U (zh) * 2013-02-04 2013-07-31 深圳市中深光电有限公司 液晶模组多功能测试转接板
CN203616553U (zh) * 2013-12-19 2014-05-28 Tcl显示科技（惠州）有限公司 软性印刷电路板、触控板、液晶面板以及液晶显示屏

Patent Citations (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004095872A (ja) * 2002-08-30 2004-03-25 Seiko Epson Corp 電子部品の実装基板、電気光学装置、電子部品の実装基板の製造方法、電気光学装置の製造方法及び電子機器
KR20050003519A (ko) * 2003-06-27 2005-01-12 엘지.필립스 엘시디 주식회사 액정표시장치 검사용 프루브 장치 및 그 제조방법
KR20070031042A (ko) * 2005-09-14 2007-03-19 삼성전자주식회사 검사 패드를 구비한 액정 표시 장치
CN201548776U (zh) * 2009-09-29 2010-08-11 深圳市国显科技有限公司 Fog液晶屏测试治具
KR20110049093A (ko) * 2009-11-04 2011-05-12 (주)이노웍스 디스플레이 패널의 점등 검사용으로 사용되는 프로브 장치
CN202206485U (zh) * 2011-08-21 2012-04-25 深圳市同兴达科技有限公司 带有fpc接插件测试接口液晶显示模组
CN203101768U (zh) * 2013-02-04 2013-07-31 深圳市中深光电有限公司 液晶模组多功能测试转接板
CN203616553U (zh) * 2013-12-19 2014-05-28 Tcl显示科技（惠州）有限公司 软性印刷电路板、触控板、液晶面板以及液晶显示屏

Also Published As

Publication number Publication date
CN104360509A (zh) 2015-02-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN104360509B (zh) 点灯测试方法及装置
US7605904B2 (en) Liquid crystal display panel having a cell test structure and method for making the same
CN100541282C (zh) 阵列基板及具有所述阵列基板的主基板和液晶显示装置
US20170219856A1 (en) Display Panel Inspection System And Inspection Method For The Same
US9536459B2 (en) Testing device and testing method for display panels
CN107942547B (zh) 点灯回点治具及其检测面板的方法
CN103106858B (zh) 显示面板及其检测方法
WO2013159504A1 (zh) 液晶显示装置的母板和液晶显示装置检测方法
KR20130114997A (ko) 표시 장치 및 그것의 테스트 방법
KR20070028645A (ko) 박막트랜지스터 어레이 기판
US9983450B2 (en) GOA circuit module, method for testing the same, display panel and display apparatus
KR102174624B1 (ko) 디스플레이 장치 및 그 순색 화면 검사 방법
CN103454794B (zh) 点灯测试治具以及液晶面板测试方法
CN103676243B (zh) 一种阵列基板组件及其测量方法和显示装置
US20170146582A1 (en) Test device and method for display panel
CN101344650A (zh) 显示器件的测试装置、测试方法以及具有测试装置的基板
CN100414420C (zh) 电光装置及其检查方法以及电子设备
US20180090041A1 (en) Panel testing unit, array substrate and liquid crystal display device
JP2012173598A (ja) 液晶表示装置
CN206224086U (zh) 一种液晶面板测试装置
KR101746860B1 (ko) 액정표시장치 및 그의 검사방법
KR20070120385A (ko) 어레이 기판, 이를 이용한 액정표시장치 및 어레이 기판의제조방법
CN104375296A (zh) 一种玻璃基板、外围电路板和显示面板
US9159259B2 (en) Testing circuits of liquid crystal display and the testing method thereof
KR102037053B1 (ko) 표시패널

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee
CF01 Termination of patent right due to non-payment of annual fee

Granted publication date: 20180213

Termination date: 20211121