CN107390393B - 一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，包括如下步骤：根据预先定义的液晶层的物理位置，调节相机的聚焦点以获取液晶层的最佳成像物理位置，定义最佳成像物理位置为原点位置；通过相机检测缺陷是否存在于液晶层；根据预先获得的上偏光片距液晶层的距离及下偏光片距液晶层的距离，调节相机的聚焦点至上偏光片或下偏光片，以检测缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片；根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；根据上表面到液晶层的物理距离，调节相机的聚焦点至上表面，检测上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。本发明可以解决现有技术中自动检测设备中无法实现的缺陷分层问题，判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。
Description
技术领域
本发明涉及液晶模组技术领域，特别是涉及一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法。
背景技术
LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏典型组成由上至下依次为TP(TouchPanel，触摸屏)玻璃、上偏光片、彩色滤光片、液晶层、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板、下偏光片以及背光源。随着LCD技术的发展，它以分辨率高、体积小、重量轻、无辐射、平板化和功耗低等特点，迅速成为显示市场的主角，从手机到便携式游戏机、从工业设备的人工操作平台到银行自助设备ATM(Automatic Teller Machine)等诸多领域，LCD无所不在。因此，对于LCD液晶屏的质量检测变得尤为重要。
LCD液晶屏的工艺流程及质量检测主要包括：面板切割、贴片、COG(chinponglass，将IC搭载在玻璃面板上)/FOG(film on glass，将FPC搭载在玻璃面板上)、点胶、组背光。其中主要的质量检测包括面板切割后、贴片后和组背光后的点灯检查和外观检查。
目前，现有技术中已经可以实现对各阶段自动点灯的质量检测，但是，现有技术中的自动检测装置无法实现检测后的缺陷的真实物理层以及是否为检测时未滤除的表面灰尘。尤其是在后工序贴片和背光组装中，由于工艺的组装过程中引入缺陷，针对各层都需要检测，且不同层的检测标准不一致，但不同缺陷在检测过程中的状态难以确定，因此对缺陷的精确层级定义在LCD检测设备中一直处于空白状态。
发明内容
本发明的目的是克服现有技术中的不足之处，提供一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，以解决目前技术中自动检测设备中缺陷无法分层以及判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。
本发明的目的是通过以下技术方案来实现的：
一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，通过相机对液晶模组进行分层检测，所述液晶模组包括依序排列的上偏光片、液晶层、下偏光片，并设定所述上偏光片远离所述液晶层的一面为上表面，包括如下步骤：
根据预先定义的所述液晶层的物理位置，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置，定义所述最佳成像物理位置为原点位置，从所述原点位置往所述上偏光片一侧为正方向，从所述原点位置往所述下偏光片一侧为负方向；
通过所述相机对所述液晶层进行检测，以检测缺陷是否存在于所述液晶层；
根据预先获得的所述上偏光片距所述液晶层的物理距离及所述下偏光片距所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上偏光片或所述下偏光片，以检测缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；
根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；
根据所述上表面到所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上表面，检测所述上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。
在其中一个实施例中，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置包括：
点亮所述液晶模组，切换到检测画面，从预先定义的所述液晶层的物理位置的正方向位置开始，负方向位置结束，按照运动采图设置采集图像，获取N幅检测画面图像；
在N幅检测画面图像中获取所述液晶层的最佳成像图像，并获取所述最佳成像图像的实际位置，定义所述最佳成像图像的实际位置为原点位置。
在其中一个实施例中，在调节所述相机的聚焦点至所述上表面之前，关闭检测画面，点亮同轴光源。
根据上述的液晶模组缺陷检测后的复判分层方法可知，本方案在自动检出液晶模组的缺陷的同时，可以根据上偏光片及下偏光片到液晶层的实际物理距离，对上偏光片及下偏光片进行精确最佳成像，从而实现液晶自动检测设备中的缺陷分层功能，因此，本发明可以解决现有技术中自动检测设备中无法实现的缺陷分层问题，判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。
附图说明
图1为通过相机对液晶模组进行分层检测的结构示意图；
图2为本发明一实施例的液晶模组缺陷检测后的复判分层方法的流程图。
具体实施方式
为了便于理解本发明，下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中给出了本发明的较佳实施方式。但是，本发明可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施方式。相反地，提供这些实施方式的目的是使对本发明的公开内容理解的更加透彻全面。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的，并不表示是唯一的实施方式。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
如图2所示，一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，通过相机10对液晶模组20进行分层检测(如图1所示)，液晶模组20包括依序排列的上偏光片100、液晶层200、下偏光片300，并设定上偏光片100远离液晶层200的一面为上表面110。液晶模组缺陷检测后的复判分层方法包括如下步骤：
根据预先定义的液晶层200的物理位置，调节相机10的聚焦点以获取液晶层200的最佳成像物理位置，定义最佳成像物理位置为原点位置，从原点位置往上偏光片100一侧为正方向，从原点位置往下偏光片300一侧为负方向；
通过相机10对液晶层200进行检测，以检测缺陷是否存在于液晶层200；
根据预先获得的上偏光片100距液晶层200的物理距离及下偏光片300距液晶层200的物理距离，调节相机10的聚焦点至上偏光片100或下偏光片300，以检测缺陷是否存在于上偏光片100或下偏光片300；
根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级，即该缺陷是存在于上偏光片100中还是下偏光片300中；
根据上表面110到液晶层200的物理距离，调节相机10的聚焦点至上表面110，检测上表面110是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判。
进一步的，调节相机的聚焦点以获取液晶层的最佳成像物理位置包括：
点亮液晶模组20，切换到检测画面，从预先定义的液晶层200的物理位置的正方向位置开始，负方向位置结束，按照运动采图设置采集图像，获取N幅检测画面图像；
在N幅检测画面图像中获取液晶层200的最佳成像图像，并获取最佳成像图像的实际位置，定义最佳成像图像的实际位置为原点位置。
进一步的，在调节相机10的聚焦点至上表面110之前，关闭检测画面，点亮同轴光源。
进一步的，调节相机10的聚焦点至上偏光片100或下偏光片300，以检测缺陷是否存在于上偏光片100或下偏光片300，若该缺陷存在，还判断该缺陷的锐度。
根据上述的液晶模组缺陷检测后的复判分层方法可知，本方案在自动检出液晶模组20的缺陷的同时，可以根据上偏光片100及下偏光片300到液晶层200的实际物理距离，对上偏光片100及下偏光片300进行精确最佳成像，从而实现液晶自动检测设备中的缺陷分层功能，因此，本发明可以解决现有技术中自动检测设备中无法实现的缺陷分层问题，判断是否为检测时未滤除的表面灰尘的问题。
以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本发明的保护范围。因此，本发明专利的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (1)
1.一种液晶模组缺陷检测后的复判分层方法，通过相机对液晶模组进行分层检测，所述液晶模组包括依序排列的上偏光片、液晶层、下偏光片，并设定所述上偏光片远离所述液晶层的一面为上表面，其特征在于，包括如下步骤：
根据预先定义的所述液晶层的物理位置，调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置，定义所述最佳成像物理位置为原点位置，从所述原点位置往所述上偏光片一侧为正方向，从所述原点位置往所述下偏光片一侧为负方向；
通过所述相机对所述液晶层进行检测，以检测缺陷是否存在于所述液晶层；
根据预先获得的所述上偏光片距所述液晶层的物理距离及所述下偏光片距所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上偏光片或所述下偏光片，以检测缺陷是否存在于所述上偏光片或所述下偏光片；
根据缺陷是否存在，从而确定该缺陷的真实物理层级；
根据所述上表面到所述液晶层的物理距离，调节所述相机的聚焦点至所述上表面，检测所述上表面是否有灰尘，从而判断是否为灰尘误判；
调节所述相机的聚焦点以获取所述液晶层的最佳成像物理位置包括：
点亮所述液晶模组，切换到检测画面，从预先定义的所述液晶层的物理位置的正方向位置开始，负方向位置结束，按照运动采图设置采集图像，获取N幅检测画面图像；
在N幅检测画面图像中获取所述液晶层的最佳成像图像，并获取所述最佳成像图像的实际位置，定义所述最佳成像图像的实际位置为原点位置；
在调节所述相机的聚焦点至所述上表面之前，关闭检测画面，点亮同轴光源；
调节所述相机的聚焦点至上偏光片或下偏光片，以检测缺陷是否存在于上偏光片或下偏光片，若该缺陷存在，还判断该缺陷的锐度。
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