CN105300308B - 一种基于浅景深成像的深度测量方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种基于浅景深成像的深度测量方法及对应的系统，所述基于浅景深成像的深度测量方法包括以下步骤：获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。本发明分别获取液晶层最佳对焦图像和缺陷最佳对焦图像的物理位置，并以液晶层最佳对焦图像作为参考平面，通过计算两者的差值来判定缺陷所在的物理层，在自动检出缺陷的同时，可以根据液晶层最佳对焦图像的物理位置自动定位缺陷所在的物理层，从而实现自动检测装置的深度测量功能，可以解决现有技术中自动检测装置无法实现深度测量功能的问题。

Description

一种基于浅景深成像的深度测量方法及系统

技术领域

本发明涉及一种检测方法及系统，尤其涉及一种基于浅景深成像的深度测量方法及系统。

背景技术

LCD(Liquid Crystal Display)液晶屏典型组成由上至下依次为TP(TouchPanel，触摸屏)玻璃、上偏光片、彩色滤光片、液晶层、TFT(Thin Film Transistor，薄膜晶体管)基板、下偏光片以及背光源。LCD液晶屏的显示基本原理为通过电压来改变液晶材料内部分子的排列状况，以达到遮光和透光的目的来显示深浅不一，错落有致的图象，而且只要在两块平板间再加上三元色的滤光层，就可实现显示彩色图象。目前，LCD液晶屏由于其节能、无辐射以及画面柔和等优点，已经成为国内外市场的主流产品，因此，对于LCD液晶屏的质量检测变得尤为重要。

LCD液晶屏的工艺流程及质量检测主要包括Panel(玻璃)工程、MD1和MD2三个阶段，其中Panel工程阶段包括大板切割、Panel点灯和Panel外观三个步骤，MD1阶段包括偏光贴服、M1点灯、FOG/COG、FOG/COG检查和M2点灯等步骤，MD2阶段包括背光组装、M3点灯、TP贴服、M4点灯和M4外观等步骤。

目前，现有技术中已经可以实现对各阶段自动点灯的质量检测，但是，现有技术中的自动检测装置无法实现深度测量功能，即无法自动定位缺陷所在的物理层。尤其是在后工序MD1和MD2中，因涉及到不同层的缺陷检测(例如M1段，除检测偏光片本身缺陷、偏贴过程引入缺陷外，还需检测Panel缺陷)，且不同层缺陷检测基准一般不统一，加大了深度测量的难度，导致了深度测量在LCD自动检测装置行业一直处于空白状态。

发明内容

本发明提供一种基于浅景深成像的深度测量方法及系统，以解决现有技术中自动检测装置无法实现深度测量功能的问题。

本发明提供一种基于浅景深成像的深度测量方法，所述基于浅景深成像的深度测量方法包括以下步骤：获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。

优选的，所述获取液晶层最佳对焦图像的物理位置包括：从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

优选的，所述在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像包括：分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

优选的，所述获取缺陷最佳对焦图像的物理位置包括：判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；若所述缺陷类型为亮场缺陷，则在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；若所述缺陷类型为暗场缺陷，则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

优选的，所述在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像包括：通过目标分割，提取缺陷区域；根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

优选的，所述基于浅景深成像的深度测量方法还包括判断亮场缺陷是否在液晶单元层，包括：在液晶单元虚焦面对应图像提取亮场缺陷区域；若所述缺陷区域对应的液晶单元整体与Gap灰度一致，则亮场缺陷在液晶单元层；若所述缺陷区域对应的液晶单元保留液晶信息，则亮场缺陷不在液晶单元层。

本发明还提供一种基于浅景深成像的深度测量系统，所述基于浅景深成像的深度测量系统包括：液晶层物理位置获取模块，用于获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；缺陷物理位置获取模块，用于获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；缺陷判定模块，用于根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。

优选的，所述液晶层物理位置获取模块包括：亮场图像获取子模块，用于从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；液晶层最佳对焦图像获取子模块，用于在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；液晶层物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

优选的，所述液晶层最佳对焦图像获取子模块包括：通道分离子模块，用于分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；能量梯度值获取子模块，用于获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

优选的，所述缺陷物理位置获取模块包括：缺陷类型判断子模块，用于判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；亮场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；亮场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；暗场图像获取子模块，用于则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；暗场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

优选的，所述暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块包括：暗场缺陷区域提取子模块，用于通过目标分割，提取暗场缺陷区域；对焦面计算区域设定子模块，用于根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；能量梯度值获取子模块，用于获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

优选的，所述缺陷物理位置获取模块还包括亮场缺陷判断子模块，用于判断亮场缺陷是否在液晶单元层。

本发明的实施例提供的技术方案可以包括以下有益效果：

本发明提供一种基于浅景深成像的深度测量方法及系统，所述基于浅景深成像的深度测量方法包括以下步骤：获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。本发明还提供一种基于浅景深成像的深度测量系统，所述基于浅景深成像的深度测量系统包括：液晶层物理位置获取模块，用于获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；缺陷物理位置获取模块，用于获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；缺陷判定模块，用于根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。本发明提供的基于浅景深成像的深度测量方法及系统，分别获取液晶层最佳对焦图像和缺陷最佳对焦图像的物理位置，并以液晶层最佳对焦图像作为参考平面，通过计算两者的差值来判定缺陷所在的物理层。由以上方法步骤可知，本方案在自动检出缺陷的同时，可以根据液晶层最佳对焦图像的物理位置自动定位缺陷所在的物理层，从而实现自动检测装置的深度测量功能，因此，本发明可以解决现有技术中自动检测装置无法实现深度测量功能的问题。

应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本发明。

附图说明

图1是本发明实施例中提供的一种基于浅景深成像的深度测量方法的方法流程图；

图2是本发明实施例中提供的步骤S01的方法流程图；

图3是本发明实施例中提供的步骤S102的方法流程图；

图4是本发明实施例中提供的步骤S02的方法流程图；

图5是本发明实施例中提供的步骤S205的方法流程图；

图6是本发明实施例中提供的判断亮场缺陷是否在液晶单元层的方法流程图；

图7是本发明实施例中提供的一种基于浅景深成像的深度测量系统的结构示意图；

图8是本发明实施例中提供的模块01的结构示意图；

图9是本发明实施例中提供的子模块102的结构示意图；

图10是本发明实施例中提供的模块02的结构示意图；

图11是本发明实施例中提供的子模块205的结构示意图。

具体实施方式

这里将详细地对示例性实施例进行说明，其示例表示在附图中。下面的描述涉及附图时，除非另有表示，不同附图中的相同数字表示相同或相似的要素。以下示例性实施例中所描述的实施方式并不代表与本发明相一致的所有实施方式。相反，它们仅是与如所附权利要求书中所详述的、本发明的一些方面相一致的装置的例子。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。

请参看图1，所示为本发明实施例中提供的一种基于浅景深成像的深度测量方法的方法流程图。

由图1可知，本发明提供一种基于浅景深成像的深度测量方法，所述基于浅景深成像的深度测量方法包括以下步骤：获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。本发明提供的基于浅景深成像的深度测量方法，分别获取液晶层最佳对焦图像和缺陷最佳对焦图像的物理位置，并以液晶层最佳对焦图像作为参考平面，通过计算两者的差值来判定缺陷所在的物理层。由以上方法步骤可知，本方案在自动检出缺陷的同时，可以根据液晶层最佳对焦图像的物理位置自动定位缺陷所在的物理层，从而实现自动检测装置的深度测量功能，因此，本发明可以解决现有技术中自动检测装置无法实现深度测量功能的问题。

例如，对于M1段(panel+上下偏光片)来说，panel本身厚度约0.2mm，则液晶单元距离panel上表面物理距离约0.1mm，此时若缺陷最佳对焦面处于液晶单元最佳对焦面之上0.1mm位置，则判定缺陷为上偏与玻璃之间缺陷。

请参看图2，所示为本发明实施例中提供的步骤S01的方法流程图。

由图2可知，所述获取液晶层最佳对焦图像的物理位置包括：从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

本实施例中所述的物理原点为LCD液晶屏的左上角，物理原点处于整个成像系统的中心位置。本实施例中的按照运动采图设置包括运动采图的方向以及采集图像之间的间距等。本实施例中运动采图的方向为通过相机由物理原点开始，由上至下采集N幅亮场图像，因此，根据运动采图的方向、图像之间的间距以及液晶层最佳对焦图像的序号即可获得液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

请参看图3，所示为本发明实施例中提供的步骤S102的方法流程图。

由图3可知，所述在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像包括：分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

在虚焦状态下，RGB液晶单元成像连接在一起，易出现虚假对焦峰值，因此，本实施例中在获取液晶层最佳对焦图像时，首先将N幅亮场图像的R通道或G通道或B通道中的一个分离出来，以避免出现虚假对焦峰值的现象。再通过能量梯度值的大小来确定液晶层最佳对焦图像。

请参看图4，所示为本发明实施例中提供的步骤S02的方法流程图。

由图4可知，所述获取缺陷最佳对焦图像的物理位置包括：判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；若所述缺陷类型为亮场缺陷，则在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；若所述缺陷类型为暗场缺陷，则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

由于在步骤S01：获取液晶层最佳对焦图像的物理位置时，已经按照运动采图设置采集图像，获取了N幅亮场图像，因此，若缺陷类型为亮场缺陷，则直接在获取的N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像即可，进而获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置，无需再次采集亮场图像。若缺陷类型为暗场缺陷，则首先需要采集获取N幅暗场图像并在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，进而获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

请参看图5，所示为本发明实施例中提供的步骤S205的方法流程图。

由图5可知，所述在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像包括：通过目标分割，提取缺陷区域；根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

由于暗场缺陷在整幅图像中所占比例极小，因此，若直接计算整幅图像的能量梯度值，则对缺陷最佳对焦面的计算基本无参考价值。本发明中，首先在N幅暗场图像中，通过目标分割，提取缺陷区域，在缺陷区域内设定对焦面计算区域，并计算对焦面计算区域的能量梯度值，进而获取暗场缺陷最佳对焦图像。本实施例中的目标分割，提取缺陷区域方法采用通用方法，这里不再详述。

请参看图6，所示为本发明实施例中提供的判断亮场缺陷是否在液晶单元层的方法流程图。

由图6可知，所述获取缺陷最佳对焦图像的物理位置还包括判断亮场缺陷是否在液晶单元层，包括：在液晶单元虚焦面对应图像提取亮场缺陷区域；若所述缺陷区域对应的液晶单元整体与Gap灰度基本一致，则亮场缺陷在液晶单元层；若所述缺陷区域对应的液晶单元保留液晶信息，则亮场缺陷不在液晶单元层。

由于亮场缺陷受液晶单元成像干扰十分严重，因此，需要单独判断亮场缺陷是否在液晶单元层。判断亮场缺陷是否在液晶单元层主要依据液晶单元整体与Gap之间的灰度关系来判定。

请参看图7，所示为本发明实施例中提供的一种基于浅景深成像的深度测量系统的结构示意图。

由图7可知，所述基于浅景深成像的深度测量系统包括：液晶层物理位置获取模块，用于获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；缺陷物理位置获取模块，用于获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；缺陷判定模块，用于根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。

请参看图8，所示为本发明实施例中提供的模块01的结构示意图。

由图8可知，所述液晶层物理位置获取模块包括：亮场图像获取子模块，用于从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；液晶层最佳对焦图像获取子模块，用于在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；液晶层物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

请参看图9，所示为本发明实施例中提供的子模块102的结构示意图。

由图9可知，所述液晶层最佳对焦图像获取子模块包括：通道分离子模块，用于分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；能量梯度值获取子模块，用于获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

请参看图10，所示为本发明实施例中提供的模块02的结构示意图。

由图10可知，所述缺陷物理位置获取模块包括：缺陷类型判断子模块，用于判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；亮场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；亮场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；暗场图像获取子模块，用于则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；暗场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

所述缺陷物理位置获取模块还包括亮场缺陷判断子模块，用于判断亮场缺陷是否在液晶单元层。

请参看图11，所示为本发明实施例中提供的子模块205的结构示意图。

由图11可知，所述暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块包括：暗场缺陷区域提取子模块，用于通过目标分割，提取暗场缺陷区域；对焦面计算区域设定子模块，用于根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；能量梯度值获取子模块，用于获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

以上所述的本发明实施方式，并不构成对本发明保护范围的限定。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其它实施例的不同之处。

为了描述的方便，描述以上装置时以功能分为各种单元分别描述。当然，在实施本发明时可以把各单元的功能在同一个或多个软件和/或硬件中实现。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处。尤其，对于装置或系统实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述得比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。以上所描述的装置及系统实施例仅仅是示意性的，其中所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部模块来实现本实施例方案的目的。本领域普通技术人员在不付出创造性劳动的情况下，即可以理解并实施。

以上所述仅是本发明的具体实施方式，使本领域技术人员能够理解或实现本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的技术人员来说将是显而易见的，本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下，在其它实施例中实现。因此，本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例，而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (12)

1.一种基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，所述基于浅景深成像的深度测量方法包括以下步骤：

获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；

获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；

根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。

2.根据权利要求1所述的基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，所述获取液晶层最佳对焦图像的物理位置包括：

从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；

在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；

根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

3.根据权利要求2所述的基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，所述在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像包括：

分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；

获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

4.根据权利要求2所述的基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，所述获取缺陷最佳对焦图像的物理位置包括：

判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；

若所述缺陷类型为亮场缺陷，则在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；

根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；

若所述缺陷类型为暗场缺陷，则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；

在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；

根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

5.根据权利要求4所述的基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，所述在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像包括：

通过目标分割，提取缺陷区域；

根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；

获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

6.根据权利要求4所述的基于浅景深成像的深度测量方法，其特征在于，判断缺陷类型后，还包括判断亮场缺陷是否在液晶单元层，包括：

在液晶单元虚焦面对应图像提取亮场缺陷区域；

若所述缺陷区域对应的液晶单元整体与Gap灰度一致，则亮场缺陷在液晶单元层；

若所述缺陷区域对应的液晶单元保留液晶信息，则亮场缺陷不在液晶单元层，则在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号，根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

7.一种基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，所述基于浅景深成像的深度测量系统包括：

液晶层物理位置获取模块，用于获取液晶层最佳对焦图像的物理位置；

缺陷物理位置获取模块，用于获取缺陷最佳对焦图像的物理位置；

缺陷判定模块，用于根据所述液晶层最佳对焦图像的物理位置和所述缺陷最佳对焦图像的物理位置的差值判定缺陷所在的物理层。

8.根据权利要求7所述的基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，所述液晶层物理位置获取模块包括：

亮场图像获取子模块，用于从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅亮场图像；

液晶层最佳对焦图像获取子模块，用于在N幅亮场图像中获取液晶层最佳对焦图像，并记录所述液晶层最佳对焦图像的序号；

液晶层物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述液晶层最佳对焦图像的序号，获取液晶层最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

9.根据权利要求8所述的基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，所述液晶层最佳对焦图像获取子模块包括：

通道分离子模块，用于分离所述N幅亮场图像中的R通道或G通道或B通道；

能量梯度值获取子模块，用于获取每幅亮场图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为液晶层最佳对焦图像。

10.根据权利要求8所述的基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，所述缺陷物理位置获取模块包括：

缺陷类型判断子模块，用于判断缺陷类型，所述缺陷类型包括亮场缺陷和暗场缺陷；

亮场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅亮场图像中获取亮场缺陷最佳对焦图像，并记录所述亮场缺陷最佳对焦图像的序号；

亮场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述缺陷最佳对焦图像的序号，获取亮场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置；

暗场图像获取子模块，用于则从物理原点位置开始，按照运动采图设置采集图像，获取N幅暗场图像；

暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块，用于在所述N幅暗场图像中获取暗场缺陷最佳对焦图像，并记录所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号；

暗场缺陷物理位置获取子模块，用于根据所述运动采图设置以及所述暗场缺陷最佳对焦图像的序号，获取暗场缺陷最佳对焦图像相对物理原点的物理位置。

11.根据权利要求10所述的基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，所述暗场缺陷最佳对焦图像获取子模块包括：

暗场缺陷区域提取子模块，用于通过目标分割，提取暗场缺陷区域；

对焦面计算区域设定子模块，用于根据所述缺陷区域，设定对焦面计算区域；

能量梯度值获取子模块，用于获取对焦面计算区域内图像的能量梯度值，其中，最大能量梯度值对应的图像即为暗场缺陷最佳对焦图像。

12.根据权利要求10所述的基于浅景深成像的深度测量系统，其特征在于，还包括亮场缺陷判断子模块，用于判断亮场缺陷是否在液晶单元层。