KR101949257B1 - 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 디스플레이 모듈을 지지하기 위한 모듈지지부; 복수 개의 카메라로 구성되고, 이들 카메라 각각에 대응하는 영상획득영역들로 이루어진 디스플레이 모듈에 대응되게 배치되는 영상획득부; 및 상기 영상획득부에 의해 동시에 촬영되는 상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들의 영상데이터들을 기준 데이터와 비교하여 결함데이터를 검출하고 보상하는 제어부를 포함하는 것으로, 본 발명에 따르면 디스플레이 패널에 대한 불량 여부를 자동으로 검출하기 위한 영상을 획득할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널에 대한 검사공정을 자동 검사 방식으로 구현할 수 있다.

Description

디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법{Apparatus for Testing Display device module and Method for Testing the same}
본 발명은 디스플레이 패널 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 일정 영역 촬영용 복수 개의 카메라로 디스플레이 모듈을 한번에 촬영하여 디스플레이 모듈의 불량 여부를 검사하기 위한 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법에 관한 것이다.
액정표시장치(Liquid Crystal Display, LCD), 유기전계발광표시장치(Organic Light Emitting Diodes, OLED), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel, PDP), 전기영동표시장치(Electrophoretic Display, EPD) 등의 디스플레이 장치는 여러 가지 공정을 거쳐 제조된다.
이러한 제조공정에는 디스플레이 장치에 사용되는 디스플레이 패널이 정상적으로 작동하는지 여부를 검사하는 검사공정이 포함된다.
기존의 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 육안 검사로 이루어졌다. 즉, 기존에는 작업자가 검사신호에 의해 구동되는 디스플레이 패널을 육안으로 보면서 정상적으로 작동되지 않는 부분을 판단하는 방식에 의해 디스플레이 패널에 대한 검사공정이 이루어졌다.
따라서, 이러한 기존의 디스플레이 패널 검사공정에 따르면 다음과 같은 문제점들이 있다.
첫째, 기존의 디스플레이 패널 검사공정은 작업자의 숙련도, 경험, 집중도 등이 디스플레이 패널에 대한 검사 결과에 영향을 미치게 되므로, 검사 결과에 대한 신뢰성이 저하되는 문제가 있다.
둘째, 기존의 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 수동 검사 방식이기 때문에, 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는데 오랜 시간이 걸리고, 디스플레이 패널 제조 공정에 대한 수율을 저하시키는 문제가 있다.
셋째, 최근의 디스플레이 분야에서는 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 요구하고 있으나, 이러한 기존의 디스플레이 패널 검사공정은 작업자에 의한 육안 검사 방식이기 때문에, 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 패널을 제조하기 위한 검사공정을 구현하는데 한계가 있다.
넷째, 기존의 디스플레이 패널 검사공정 이후에 결함을 보상하기 위한 공정을 추가로 진행하여야 하므로 인해, 추가적인 비용이 발생하게 됨은 물론, 작업자가 불량을 선택하고, 리페어(repair) 값을 입력하여 보상을 진행해야 하기 때문에, 작업자 간 유의 차가 있게 된다.
본 발명은 상기 종래기술의 문제점들을 해결하기 위한 것으로, 본 발명의 목적은 디스플레이 모듈 검사공정을 자동 검사 방식으로 구현할 수 있는 디스플레이 모듈 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 디스플레이 모듈에 대한 검사를 수행하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있고, 이에 따라 디스플레이 모듈 제조 공정에 대한 수율을 향상시킬 수 있는 디스플레이 모듈 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 또 다른 목적은 고해상도, 고성능을 갖는 디스플레이 모듈을 제조하기 위한 검사공정을 구현할 수 있는 디스플레이 모듈 검사장치 및 그 검사방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위한 디스플레이 모듈 검사장치는, 디스플레이 모듈을 지지하기 위한 모듈지지부; 복수 개의 카메라로 구성되고, 이들 카메라 각각에 대응하는 영상획득영역들로 이루어진 디스플레이 모듈에 대응되게 배치되는 영상획득부; 및 상기 영상획득부에 의해 동시에 촬영되는 상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들의 영상데이터들을 기준 데이터와 비교하여 결함데이터를 검출하고 보상하는 제어부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
상기 목적을 달성하기 위한 디스플레이 모듈 검사방법은, 디스플레이 모듈을 모듈지지부로 로딩하는 단계; 복수 개의 카메라를, 이들 카메라 각각에 대응하는 영상획득영역들로 이루어진 디스플레이 모듈에 대응되게 배치하는 단계; 상기 영상획득부에 의해 동시에 촬영되는 상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들의 영상데이터들을 수신하는 단계; 상기 영상획득영역들의 영상데이터들을 기준 데이터와 비교하는 단계; 상기 영상데치터와 기준 데이터와 비교하여 결함데이터를 검출하고, 이 검출된 결함데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표를 검색하는 단계; 및 결함데이터의 데이터 값을 보상하여 주는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법에 따르면 다음과 같은 효과들이 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법에 따르면 불량 검출 적정 해상도를 선택할 수 있어 영역별 촬영용 카메라 적용에 대한 물리적 간섭을 해결할 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법에 따르면 다스플레이 모듈을 고정한 상태에서 패널 영역별 촬영용 다수의 카메라를 이용하여 동시에 패널 영역들을 촬영하는 방식을 적용함으로써, 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는데 걸리는 시간을 단축시킬 수 있으며, 복수의 스테이지가 불필요하기 때문에 장비 구성에 소요되는 비용을 절감할 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치 및 검사방법에 따르면 얼룩 결함 검출과 함께 정량화된 데이터를 근거로 보상이 가능하기 때문에 품질 보증이 가능하며 비용 절감 효과가 있다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 단면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치를 구성하는 카메라부와 디스플레이 모듈의 개략적인 배치도이다.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 배치 단면도이다.
도 4는 본 발명에 따른 모듈 지지부 상에 안착된 디스플레이 모듈의 개략적인 배치 단면도이다.
도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치가 획득하는 영상의 해상도를 설명하기 위한 개념도이다.
도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 영상획득부와 조절부의 개략적인 블록도이다.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 단면도로서, 영상획득부와 영상생성부 및 제어부의 개략적인 구성도이다.
도 8은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 검사방법을 도시한 순서도이다.
이하에서는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 바람직한 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 단면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치를 구성하는 카메라부와 디스플레이 모듈의 개략적인 배치도이다.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 배치 단면도이다.
도 1을 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈에 대한 검사 공정을 수행하는 것이다.
디스플레이 모듈(10)은 액정표시장치(Liquid Crystal Display Device; LCD라 약칭함), 유기전계발광장치(Organic Light Emitting Diodes; OLED라 약칭함), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel; PDP라 약칭함), 전기영동표시장치 (Electrophoretic Display Device; EPD라 약칭함), LTPS 등을 포함한다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)을 검사하기 위한 영상(Image)을 획득한다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)에 대한 불량 여부를 검출하고 보상하는 제어부(140)과 연결된다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)가 상기 획득된 영상을 상기 제어부(140)에 제공하면, 상기 제어부(140)는 상기 획득된 영상을 이용하여 디스플레이 모듈(100)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 예컨대, 상기 제어부(140)는 정상적으로 작동되는 디스플레이 모듈에 대한 기준 영상을 상기 획득된 영상과 비교함으로써, 상기 디스플레이 모듈(100)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다.
상기 제어부(140)는 상기 획득된 영상을 디스플레이 패널의 각 영역별로 기준 영상과 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 디스플레이 모듈에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 한편, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 상기 제어부와 별개의 장비로 구현될 수도 있고, 상기 제어부의 기능을 갖는 구성을 포함하여 구현될 수도 있다.
도 1 및 2를 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)에는 디스플레이 모듈(100)을 지지하기 위한 모듈지지부(110)가 마련되어 있으며, 상기 디스플레이 모듈(100)의 디스플레이 패널 전체 부분(部分)에 대한 영상을 획득하기 위한 영상획득부(120)가 구비되어 있으며, 상기 영상획득부(120)로부터의 영상 데이터를 수신하는 영상생성부(130)가 마련되어 있으며; 상기 영상데이터를 기준 영상 데이터와 비교하여 결함 데이터를 검출하여 이를 보상하는 제어부(140)가 구비되어 있다.
도 2를 참조하면, 상기 영상획득부(120)는 복수 개의 카메라(120a, 120b, 120c, 120d, 120e, 120f, 120g, 120h, 120i)로 구성되어 있으며, 이들 카메라(120a, 120b, 120c, 120d, 120e, 120f, 120g, 120h, 120i) 각각은 상기 디스플레이 모듈(100)의 소정의 영상획득영역(100a, 100b, 100c, 100d, 100e, 100f, 100g, 100h, 100i) 각각에 대응한다. 예를 들어, 카메라(120a)는 상기 영상획득영역(100a)을 촬영하도록 구성되어 있으며, 카메라(120b)는 상기 영상획득영역(100b)을 촬영하도록 구성되어 있다. 이외에도 나머지 카메라(120c, ---, 120i) 각각은 나머지 상기 영상획득영역(100c, ---, 100i)을 촬영하도록 구성되어 있다.
이때, 상기 복수 개의 카메라(120a, 120b, 120c, 120d, 120e, 120f, 120g, 120h, 120i) 각각은 동일한 것이며, 상기 디스플레이 모듈(100)의 소정의 영상획득영역(100a, 100b, 100c, 100d, 100e, 100f, 100g, 100h, 100i) 각각은 동일한 크기를 갖는다.
본 발명에서는 상기 영상획득영역들을 영상획득영역들(100a)으로 가정하고, 상기 복수 개의 카메라들은 카메라들(120a)로 가정하여 설명하기로 한다.
상기 디스플레이 모듈(100)의 디스플레이 패널 영역은 상기 복수의 영상획득영역(100a)으로 구성된다. 즉, 상기 카메라(120a)에 의해 촬영되는 부분은 상기 디스플레이 패널(100)의 일부에 대응되는 영상획득영역(100a)을 갖는다.
이에 따라, 상기 영상획득부(120)는 다수의 카메라부(120a)에 대응하는 상기 디스플레이 패널(100)의 전체 영역에 대한 다수의 영상획득영역(100a)의 영상을 획득할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 패널(100)에 대한 검사공정을 자동 방식으로 구현 가능한 해상도를 갖는 영상들을 획득할 수 있다.
도 2 및 3에 도시된 바와 같이, 상기 영상획득부(120)가 상기 디스플레이 패널(100) 전체 크기에 상응되는 영상획득영역(120a)을 갖는 경우, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 패널(100)에 대한 불량 여부를 자동으로 검출하기 어려운 영상를 획득하게 된다.
예컨대, 상기 영상획득부(120)가 상기 디스플레이 패널(100)이 갖는 하나의 서브픽셀(Sub Pixel)(미도시)을 기준으로 1/3 이상의 해상도를 갖는 영상를 획득하도록 구현된 경우, 아래 그림 1과 같은 해상도를 갖는 영상를 획득하게 된다.
[그림 1]
Figure 112012044987818-pat00001
그림 1로부터 알 수 있듯이, 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(100)이 갖는 하나의 서브 픽셀을 기준으로 1/3 이상의 해상도를 갖는 영상을 획득하면, 디스플레이 패널(100)에 대한 불량 여부를 자동으로 검출하기 어려운 해상도를 갖는 영상이 획득됨을 알 수 있다.
도 1에 도시된 바와 같이 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 상기 영상획득부(120)가 상기 디스플레이 패널(100)의 부분에 대응되는 영상획득영역(2a)을 갖는다.
이에 따라, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 디스플레이 패널(100)에 대한 불량 여부를 자동으로 검출 가능한 영상을 획득할 수 있다. 예컨대, 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(100)이 갖는 하나의 서브 픽셀을 기준으로 1/12 이하의 해상도를 갖는 영상을 획득하도록 구현된 경우, 아래 그림 2와 같은 해상도를 갖는 영상을 획득하게 된다.
[그림 2]
Figure 112012044987818-pat00002
그림 2로부터 알 수 있듯이, 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(100)이 갖는 하나의 서브 픽셀을 기준으로 1/12 이하의 해상도를 갖는 영상을 획득하면, 디스플레이 패널(100)에 대한 불량 여부를 자동으로 검출 가능한 해상도를 갖는 영상이 획득됨을 알 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)에 대한 검사공정을 자동 방식으로 구현 가능한 해상도를 갖는 영상들을 획득할 수 있다.
도 2 및 3을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 다수의 카메라(120a)로 구성된 영상획득부(120)에 의해 디스플레이 패널(100)에 대한 부분별 영상들을 획득할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 다수의 카메라(120a)에 의한 한 번의 촬영으로 디스플레이 모듈(100)의 전체 영상 영역을 획득할 수 있어 제조 비용을 줄일 수 있으면서도, 디스플레이 패널(100)에 대한 검사 공정을 자동 방식으로 구현 가능한 해상도를 갖는 영상들을 획득할 수 있다.
도 4는 본 발명에 따른 모듈 지지부 상에 안착된 디스플레이 모듈의 개략적인 배치 단면도이다.
도 4를 참조하면, 모듈지지부(110)는 디스플레이 패널(101)에 광(光)을 제공하는 조명유닛(103), 예를 들어 백라이트유닛이 내부에 장착된 디스플레이 모듈(100)을 지지하게 된다.
여기서, 상기 조명유닛(103)은 디스플레이 패널(101) 쪽으로 광을 방출할 수 있다. 상기 조명유닛(110)은 디스플레이 패널(101)에 광을 제공함으로써 상기 이미지획득부(120)가 디스플레이 패널(101)로부터 더 선명한 이미지를 획득하도록 할 수 있다.
상기 디스플레이 패널(101)이 액정표시장치(LCD) 등과 같이 자기발광성이 없는 디스플레이 장치에 사용되는 것인 경우, 상기 조명유닛(103)은 상기 디스플레이 패널(101)에 광을 제공함으로써 상기 이미지획득부(120)가 상기 디스플레이 패널(101)로부터 이미지를 획득하도록 할 수 있다. 상기 조명유닛(103)은 광을 방출하는 광원(미도시)을 포함할 수 있다. 이때, 상기 광원으로는 형광램프, 엘이디(Light Emitting Diode, LED) 등이 사용될 수 있다.
상기 조명유닛(103)은 디스플레이 패널(101)에 배면 광(Back Light)을 제공하기 위한 백라이트유닛을 포함할 수 있다. 상기 조명유닛(103)은 디스플레이 패널(101)이 갖는 배면(미도시) 아래에 위치되고, 디스플레이 패널(101)이 갖는 배면 쪽으로 광을 방출할 수 있다.
상기 조명유닛(103)은 수평방향으로 위치한 디스플레이 패널(101)에 대해 디스플레이 패널(101)에 수직방향으로 광을 제공한다. 이에 따라, 상기 조명유닛(103)은 디스플레이 패널(101)에 배면 광을 제공할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 상기 조명유닛(103)을 이용함으로써, 상기 디스플레이 패널(101)에 배면 광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출하기 위한 이미지를 획득할 수 있다.
도면에는 도시하지 않았지만, 상기 조명유닛(103)은 디스플레이 패널(101)에 수직 광을 제공하는 백라이트유닛 대신에, 측광(Side Light)을 제공하기 위한 백라이트유닛(미도시)을 사용할 수도 있다.
상기 조명유닛(103)이 수직방향(화살표 방향, 도 4에 도시됨)으로 디스플레이 패널(101)에 광을 제공하는 것에 비교할 때, 상기 측면 광을 이용하는 조명유닛(미도시)은 수평 방향으로 광을 진행시킨 후 도광판이나 기타 다른 광 변경 부재를 이용하여 광의 진행방향을 변경시켜 디스플레이 패널(101)에 광을 제공할 수 있다.
이에 따라, 상기 조명유닛(미도시)은 측광을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)에 광을 제공할 수도 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 측광을 이용한 조명 유닛을 이용함으로써, 디스플레이 패널(101)에 측광이 제공되었을 때 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출하기 위한 이미지를 획득할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100) 내부에 장착되고, 수직 광 또는 측광을 이용하는 조명유닛(110)을 이용함으로써, 디스플레이 패널(101)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다. 예컨대, 상기 조명유닛(103)으로부터 제공된 배면 광을 이용하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 디스플레이 패널(101)에 먼지 등의 이물질이 부착된 부분이 다른 부분에 비해 어둡게 표시된 이미지를 획득하게 된다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 상기 조명유닛(103)을 이용함으로써, 디스플레이 패널(101)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
이렇게 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 상기 조명유닛(103)을 작동시킨 상태로, 영상획득부(120)를 구동하여 상기 디스플레이 패널(101)에 대한 이미지를 획득하게 된다.
이하에서는 상기 영상획득부(120)에 관해 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다.
도 5는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치가 획득하는 영상의 해상도를 설명하기 위한 개념도이다.
도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 영상획득부와 조절부의 개략적인 블록도이다.
도 5을 참고하면, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브 픽셀(Sub-Pixel; 이하 SP라 함)을 기준으로 1/N (N은 12보다 큰 정수)의 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)에 대한 검사공정을 자동 방식으로 구현 가능한 해상도를 갖는 이미지들을 획득할 수 있다.
이를 위해, 상기 영상획득부(120)는 영상을 획득하기 위한 이미지 센서(121)를 구비한 복수 개의 카메라(120a)를 구비하고 있는데, 상기 이미지센서(121)는 각각 소정의 촬영영역(FOV)을 갖는다.
상기 이미지센서(121)들은 각각 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브픽셀(SP)을 N개로 나누어 촬영할 수 있는 촬영영역(FOV)을 가질 수 있다.
이에 따라, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브픽셀(SP)을 기준으로 1/N의 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있다. 예컨대, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브 픽셀(SP)을 기준으로 1/12 이상 1/108 이하의 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있으며, 상기 영상획득부(120)는 적어도 N개 이상의 이미지센서(121)를 포함하는 카메라(120a)를 구비할 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 디스플레이 패널(101)은 사양에 따라 다양한 크기를 갖는 서브 픽셀(SP)을 포함할 수 있다. 상기 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브 픽셀(SP)의 크기가 변경되더라도 상기 영상획득부(120)가 설정된 해상도를 갖는 영상을 획득할 수 있도록, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 조절부(160)를 포함할 수 있다.
상기 조절부(160)는 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브 픽셀(SP)의 크기에 따라 상기 영상획득부(120)가 설정된 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있도록 상기 영상획득부(120)를 이동시킬 수 있다.
상기 조절부(1600가 상기 영상획득부(120)를 이동시킴에 따라, 상기 영상획득부(120)와 상기 디스플레이 패널(100) 간의 거리가 조절될 수 있다. 상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브픽셀(SP)을 기준으로 1/N의 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있도록 상기 영상획득부(120)를 이동시킬 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브픽셀(SP)의 크기가 변경되더라도, 자동 검사가 가능한 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있다.
예컨대, 디스플레이 모듈을 구성하는 디스플레이 패널(101)이 기존에 비해 큰 크기의 서브픽셀(SP)을 갖는 것인 경우, 상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)로부터 멀어지게 상기 영상획득부(120)를 이동시킬 수 있다.
상기 디스플레이 패널(101)이 기존에 비해 작은 크기의 서브픽셀(SP)을 갖는 것인 경우, 상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)가 상기 디스플레이 패널(101)에 가까워지게 상기 영상획득부(120)를 이동시킬 수 있다.
상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)를 승강시킴으로써, 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)로부터 멀어지거나 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)에 가까워지게 이동시킬 수 있다. 상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)를 이동시키기 위한 제1 조절유닛(161)을 포함할 수 있다. 상기 제1조절유닛(161)은 상기 영상획득부(120)에 결합될 수 있다.
상기 제1조절유닛(161)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 영상획득부(120)를 이동시킬 수 있다.
도 5 및 도 6을 참고하면, 상기 조절부(160)는 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브픽셀(SP)의 크기에 따라 상기 영상획득부(120)가 설정된 해상도를 갖는 영상을 획득할 수 있도록 상기 영상획득부(120)가 갖는 렌즈(123)를 이동시킬 수 있다.
상기 조절부(160)는 상기 렌즈(123)와 상기 이미지센서(121) 간의 거리를 조절하기 위해 상기 렌즈(123)를 이동시킬 수 있다. 즉, 상기 조절부(160)는 상기 렌즈(123)가 상기 이미지센서(121)에 가까워지거나 상기 렌즈(123)가 상기 이미지센서(121)로부터 멀어지도록 상기 렌즈(123)를 이동시킬 수 있다. 상기 조절부(160)는 상기 렌즈(123)와 상기 이미지센서(121) 간의 거리를 조절함으로써 상기 렌즈(123)의 배율을 조절할 수 있다. 상기 조절부(160)는 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)이 갖는 하나의 서브픽셀(SP)을 기준으로 1/N의 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있도록 상기 렌즈(123)를 이동시킬 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈을 구성하는 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브픽셀(SP)의 크기가 변경되더라도, 자동 검사가 가능한 해상도를 갖는 이미지를 획득할 수 있다.
상기 조절부(160)는 상기 렌즈(123)를 이동시키기 위한 제2조절유닛(163)을 포함할 수 있다. 상기 제2조절유닛(163)은 상기 렌즈(123)에 결합될 수 있다. 상기 제2조절유닛(163)은 유압실린더 또는 공압실린더를 이용한 실린더방식, 모터와 볼스크류 등을 이용한 볼스크류방식, 모터와 랙기어와 피니언기어 등을 이용한 기어방식, 모터와 풀리와 벨트 등을 이용한 벨트방식, 리니어모터 방식 등을 이용하여 상기 렌즈(123)를 이동시킬 수 있다. 상기 제2조절유닛(163)은 상기 렌즈(123)를 승강시킬 수도 있다.
상기 조절부(160)는 상기 렌즈(123)와 상기 이미지센서(121) 간의 거리 또는 상기 렌즈(123)들 간의 거리 중에서 어느 하나를 조절함으로써, 상기 영상획득부(120)가 디스플레이 패널(101)이 갖는 서브픽셀(SP)의 크기에 따라 설정된 해상도를 갖는 이미지를 획득하도록 조절할 수 있다.
도 6을 참고하면, 상기 영상획득부(120)는 상기 이미지센서(121)에 도달하는 광량을 조절하기 위한 광량조절유닛(125)을 포함할 수 있다. 상기 광량조절유닛(125)은 빛이 상기 이미지센서(121)에 도달하기 위해 통과하는 통로(미도시)를 포함한다.
상기 광량조절유닛(125)은 상기 통로의 크기를 조절함으로써, 상기 이미지센서(121)에 도달하는 광량을 조절할 수 있다. 예컨대, 디스플레이 패널(101)이 낮은 조도(照度)를 갖는 패턴으로 구동되는 경우, 상기 광량조절유닛(125)은 상기 이미지센서(121)에 도달하는 광량이 증가되도록 상기 통로의 크기를 증가시킬 수 있다.
따라서, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 패널(101)이 낮은 조도를 갖는 패턴으로 구동되는 경우에도, 자동 검사가 가능한 밝은 이미지를 획득할 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)이 다양한 구동조건에서 정상적으로 작동하는지 여부를 검사할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 모듈(100)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
상기 광량조절유닛(125)이 상기 통로를 최대 크기로 개방시켰을 때 상기 통로의 직경과, 상기 렌즈(123)의 초점거리의 비율은 5.6 이하일 수 있다. 상기 광량조절유닛(125)이 상기 통로를 최대 크기로 개방시켰을 때 상기 통로의 직경과, 상기 렌즈(123)의 초점거리의 비율은 1 이상일 수 있다. 상기 렌즈(123)는 광학왜곡(Optical Distortion)이 0.1% 이하일 수 있다.
따라서, 상기 영상획득부(120)는 영상 왜곡 발생이 적은 영상을 획득할 수 있다.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 개략적인 단면도로서, 영상획득부와 영상생성부 및 제어부의 개략적인 구성도이다.
도 7을 참고하면, 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치(10)는 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)의 전체 영역과 대응하도록 배치되어 각 패널 영역을 동시에 촬영하는 복수 개의 카메라(120a)들로 구성된 영상획득부(120)와; 상기 영상획득부(120)로부터 촬영된 영상 데이터들을 수신하는 영상생성부(130)와; 상기 영상생성부(130)로부터 영상 데이터들을 수신받아 이들을 각 서브 픽셀 별 기준 데이터들과 비교하여 결함 데이터들을 검출하여 검출된 결함에 대해 좌표를 추출하거나 또는 결함데이터를 보상해 주는 제어부(140)를 포함하여 구성된다.
여기서, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)의 전체 영역과 대응하도록 배치되어 각 패널 영역을 동시에 촬영하는 복수 개의 카메라(120a)들로 구성되어 있는데, 상기 복수 개의 카메라(120a)들은 디스플레이 패널(101)의 전체 영역에 대응하여 배치된다. 즉, 상기 카메라(120a) 각각은 상기 디스플레이 패널(101)의 전체 영역의 각 영역과 대응하여 배치되어, 이 영역들의 영상을 촬영한다.
이렇게 복수 개의 카메라(120a)들은 디스플레이 모듈(100)의 조명유닛(103)의 작동에 따라 한번, 즉 동시에 상기 디스플레이 패널(101)의 전체 영역들을 촬영하게 된다.
상기 영상획득부(120)는 상기 디스플레이 모듈(100)의 서브픽셀들의 결함을 검출하기 위해 디스플레이 패널(101)의 전체 영역을 복수 개의 카메라(120a)들을 통해 한번에 촬영하여 영상 데이터를 생성한다.
이때, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 통해 한번에 촬영하여 영상 데이터를 생성하게 되는데, 상기 촬영시에 상기 디스플레이 패널(101)의 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 서브픽셀들 각각을 선택적으로 구동시킨 상태에서 촬영하게 된다. 즉, 제1 촬영시에는 적색(R) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제1 영상 데이터를 생성하게 된다.
또한, 제2 촬영시에는 녹색(G) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제2 영상 데이터를 생성하게 된다.
그리고, 제3 촬영시에는 청색(B) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제3 영상 데이터를 생성하게 된다.
이와 같이, 디스플레이 패널(101)의 단위 화소를 이루는 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 서브 픽셀들 각각을 구동시킨 상태에서 이들 각각에 대한 영상 데이터들을 생성하게 되지만, 이에 한정하는 것은 아니며, 다양한 패턴들에 대한 영상 데이터들을 생성하여 검사할 수도 있다.
도 7을 참조하면, 상기 영상획득부(120)의 카메라(120a) 각각은 상기 디스플레이 패널(101)에 대해 A1, A2, … , A(n-1), An 영역에 해당하는 부분별 영상을 촬영하여, 이들 부분별 영상 데이터들을 동시에 획득함으로써, 디스플레이 패널(101) 전체에 대한 영역별 영상들을 획득할 수 있다. 이때, A1 ~ An 영역은 각각 상기 카메라(120a)가 갖는 촬영영역(FOV, 도 5에 도시됨)에 대응되는 크기를 갖는다.
도 7을 참고하면, 상기 영상생성부(130)는 상기 영상획득부(120)로부터 획득한 영상들, 예를 들어 제1 영상 데이터, 제2 영상 데이터, 및 제3 영상 데이터들에 대한 검사 영상들을 분류한다.
상기 영상생성부(130)는 생성한 패턴별 검사 영상들로부터 디스플레이 패널 전체에 대한 검사 영상을 획득할 수 있다.
또한, 상기 영상생성부(130)는 생성한 각 패턴별 검사 영상을 상기 제어부(140)에 전송하게 된다.
상기 제어부(140)는 상기 영상생성부(130)로부터 제공된 검사 영상들을 비교하여 상기 디스플레이 패널(101)에 대한 결함데이터를 검출하여 검출된 결함에 대한 좌표를 추출하거나 또는 결함 데이터를 보상한다.
도 7을 참조하면, 상기 제어부(140)는 상기 영상생성부(130)로부터 제공된 검사 영상들을 각 서브 픽셀 별 기준 데이터와 비교하는 비교부(141)와; 이 비교부(141)로부터 기준 데이터와 검사 영상들 간의 비교를 통해 나타나는 결함 데이터를 검출하고, 이 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표를 검색하는 검출부(143) 및; 이 검출부(143)로부터 검색된 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표에 리페어(repair) 처리를 하거나 그레이 레벨(gray level)를 조정해 주는 보상부(145)를 포함한다.
상기 비교부(141)에서는 상기 영상생성부(130)로부터 제공된 검사 영상들, 예를 들어 적색(G) 서브픽셀에 대한 제1 영상 데이터, 녹색(G) 서브픽셀에 대한 제2 영상 데이터, 청색(B) 서브픽셀에 대한 제3 영상 데이터들을 각 적색, 녹색, 청색 서브 픽셀별 기준 데이터와 동일한 값, 예를 들어 그레이 값(gray level)을 갖는지를 비교하는 역할을 하게 된다.
또한, 상기 검출부(143)에서는 상기 비교부(141)로부터 기준 데이터와 검사 영상들 간의 동일 값, 예를 들어 그레이 값 비교를 통해 나타나는 결함 데이터를 검출하고, 이 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표가 어디인지를 검색하게 된다.
상기 검출부(143)는 상기 디스플레이 패널(101)에 대해 획득된 영상들로부터 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 특히, 상기 검출부(143)는 상기 획득된 영상들을 복수의 부분으로 구분하고, 구분된 부분들 간에 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 상기 검출부(143)는 디스플레이 패널(101)에 대한 픽셀 불량, 라인 불량, 포인트 불량, 얼룩 불량, 외관 불량, 편광판 불량 등을 검출할 수 있다. 상기 검출부(143)는 디스플레이 패널(101)에 대한 부분별 영상들을 병렬 처리하여 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 이에 따라, 상기 검출부(143)는 복수 개의 영상들을 동시에 처리할 수 있으므로, 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다.
그 다음, 보상부(145)에서 상기 검출부(143)로부터 검색된 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표를 추출하거나 또는 기준 데이터와 동일하게 리페어(repair) 처리를 하거나 동일한 그레이 레벨(gray level)을 갖도록 조정하여 결함 데이터를 보상한다 (S7 참조). 예를 들어, 얼룩 결함을 검출되는 경우에, 이를 정량화한 후 정량화된 데이터를 기준으로 하여 얼룩 보상을 수행한다.
이러한 기능을 수행하는 구성 요소들로 이루어지는 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사방법에 대해 도 8을 참조하여 설명하면 다음과 같다.
도 8은 본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치의 검사방법을 도시한 순서도이다.
도 7을 참고하면, 먼저 디스플레이 모듈(10)을 영상획득부(120)와 대응되는 위치에 오도록 로딩한다. (S1 참조)
그 다음, 디스플레이 패널의 전체 영역을 촬영하기 위해 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)과 조명유닛(103)을 구동시킨다. (S2 참조)
이어서, 영상획득부(120)에 마련된 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여, 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)의 전체 영역을 촬영하여 영상 데이터를 생성한다. (S3 참조)
이때, 상기 영상획득부(120)는 디스플레이 모듈(100)을 구성하는 디스플레이 패널(101)의 전체 영역과 대응하도록 배치되어 각 패널 영역을 동시에 촬영하는 복수 개의 카메라(120a)들로 구성되어 있는데, 상기 복수 개의 카메라(120a)들은 디스플레이 패널(101)의 전체 영역에 대응하여 배치된다. 즉, 상기 카메라(120a) 각각은 상기 디스플레이 패널(101)의 전체 영역의 각 영역과 대응하여 배치되어, 이 영역들의 영상을 촬영한다. 이렇게 복수 개의 카메라(120a)들은 디스플레이 모듈(100)의 조명유닛(103)의 작동에 따라 한번, 즉 동시에 상기 디스플레이 패널(101)의 전체 영역들을 촬영한다.
예를 들어, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 통해 한번에 촬영하여 영상 데이터를 생성하게 되는데, 상기 촬영시에 상기 디스플레이 패널(101)의 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 서브픽셀들 각각을 선택적으로 구동시킨 상태에서 촬영하게 된다. 즉, 제1 촬영시에는 적색(R) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제1 영상 데이터를 생성한다.
또한, 제2 촬영시에는 녹색(G) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제2 영상 데이터를 생성한다.
그리고, 제3 촬영시에는 청색(B) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서, 상기 복수 개의 카메라(120a)들을 이용하여 상기 디스플레이 패널(101)을 촬영하여 제3 영상 데이터를 생성한다.
이때, 상기 디스플레이 패널(101)의 단위 화소를 이루는 적색(R), 녹색(G), 청색(B) 서브 픽셀들 각각을 구동시킨 상태에서 이들 각각에 대한 영상 데이터들을 생성하게 되지만, 이에 한정하는 것은 아니며, 다양한 패턴들에 대한 영상 데이터들을 생성하여 검사할 수도 있다.
이어서, 상기 영상획득부(120)로부터 획득한 영상들, 예를 들어 제1 영상 데이터, 제2 영상 데이터, 및 제3 영상 데이터들에 대한 검사 영상들을 제어부(140)로 전송한다. (S4 참조)
그 다음, 제어부(140) 내의 비교부(141)에서 상기 영상생성부(130)로부터 제공된 검사 영상들, 예를 들어 적색(G) 서브픽셀에 대한 제1 영상 데이터, 녹색(G) 서브픽셀에 대한 제2 영상 데이터, 청색(B) 서브픽셀에 대한 제3 영상 데이터들을 각 적색, 녹색, 청색 서브 픽셀별 기준 데이터와 동일한 값, 예를 들어 그레이 값(gray level)을 갖는지를 비교한다. (S5 참조)
이어서, 상기 검출부(143)에서 상기 비교부(141)로부터 기준 데이터와 검사 영상들 간의 동일 값, 예를 들어 그레이 값 비교를 통해 나타나는 결함 데이터를 검출하고, 이 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표가 어디인지를 검색한다. (S6 참조)
이때, 상기 검출부(143)는 상기 디스플레이 패널(101)에 대해 획득된 영상들로부터 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수 있다. 특히, 상기 검출부(143)는 상기 획득된 영상들을 복수의 부분으로 구분하고, 구분된 부분들 간에 서로 비교하여 밝기 등에 차이가 있는 부분을 검출함으로써, 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 상기 검출부(143)는 디스플레이 패널(101)에 대한 픽셀 불량, 라인 불량, 포인트 불량, 얼룩 불량, 외관 불량, 편광판 불량 등을 검출할 수 있다. 상기 검출부(143)는 디스플레이 패널(101)에 대한 부분별 영상들을 병렬 처리하여 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출할 수도 있다. 이에 따라, 상기 검출부(143)는 복수 개의 영상들을 동시에 처리할 수 있으므로, 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 검출하는데 걸리는 시간을 줄일 수 있다.
그 다음, 보상부(145)에서 상기 검출부(143)로부터 검색된 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표에 기준 데이터와 동일하게 리페어(repair) 처리를 하거나 동일한 그레이 레벨(gray level)을 갖도록 조정하여 결함 데이터를 보상한다. 예를 들어, 얼룩 결함을 검출되는 경우에, 이를 정량화한 후 정량화된 데이터를 기준으로 하여 얼룩 보상을 수행한다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 디스플레이 패널(101)에 대한 불량 여부를 정확하게 검출할 수 있는 검사이미지를 획득할 수 있음으로써, 디스플레이 패널(10)에 대한 검사 결과의 정확성과 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
또한, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 영상획득부를 통해 한번에 디스플레이 모듈(100)의 디스플레이 패널 전 영역의 영상 데이터를 촬영하기 때문에, 디스플레이 패널(101) 전체에 대한 검사 영상을 획득하는데 걸리는 시간이 줄일 수 있다.
따라서, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사장치(10)는 디스플레이 패널(101)에 대한 검사공정에 걸리는 시간을 단축할 수 있고, 이에 따라 디스플레이 패널(10)에 대한 제조 수율을 향상시킬 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치에 따르면 불량 검출 적정 해상도를 선택할 수 있어 영역별 촬영용 카메라 적용에 대한 물리적 간섭을 해결할 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치에 따르면 다스플레이 모듈을 고정한 상태에서 패널 영역별 촬영용 다수의 카메라를 이용하여 동시에 패널 영역들을 촬영하는 방식을 적용함으로써, 디스플레이 패널에 대한 검사를 수행하는데 걸리는 시간을 단축시킬 수 있으며, 복수의 스테이지가 불필요하기 때문에 장비 구성에 소요되는 비용을 절감할 수 있다.
본 발명에 따른 디스플레이 모듈 검사장치에 따르면 얼룩 결함 검출과 함께 정량화된 데이터를 근거로 보상이 가능하기 때문에 품질 보증이 가능하며 비용 절감 효과가 있다.
이상에서 설명한 본 발명은 전술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위 내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
10 : 디스플레이 모듈 검사장치 100: 디스플레이 모듈
100a: 영상획득영역 101: 디스플레이 패널
103: 조명유닛 110: 모듈지지부
120: 영상획득부 120a: 카메라
121: 이미지 센서 123: 렌즈
125: 광량조절부 130: 영상생성부
140: 제어부 141: 비교부
143: 검출부 145: 보상부

Claims (16)

  1. 디스플레이 모듈을 지지하기 위한 모듈지지부;
    복수 개의 카메라로 구성되고, 이들 카메라 각각에 대응하는 영상획득영역들로 이루어진 디스플레이 모듈에 대응되게 배치되는 영상획득부; 및
    상기 영상획득부에 의해 제1 촬영시에는 적색(R) 서브픽셀들만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제1 영상 데이터를 생성하고,
    제2 촬영시에는 녹색(G) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제2 영상 데이터를 생성하고,
    제3 촬영시에는 청색(B) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제3 영상 데이터를 생성하며,
    상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들의 상기 제1 영상 데이터를 적색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하고, 상기 제2 영상 데이터를 녹색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하고, 상기 제3영상데이터들을 청색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하여 결함데이터를 검출하여 검출된 결함에 대해 좌표 추출 또는 결함 데이터를 보상하는 제어부를 포함하며,
    상기 제어부는 상기 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표에 리페어 처리를 하거나 그레이 레벨를 조정해 주는 보상부를 더 포함하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  2. 제1항에 있어서, 상기 영상획득부의 복수 개의 카메라들은 상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들을 한번에 촬영하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  3. 삭제
  4. 제1항에 있어서,
    상기 영상획득부는 디스플레이 패널이 갖는 하나의 서브 픽셀(Sub Pixel)을 기준으로 1/N (N은 12보다 큰 정수)의 해상도를 갖는 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  5. 제1항에 있어서,
    제1항에 있어서, 상기 디스플레이 모듈은 액정표시장치, 유기전계발광장치 (OLED), 태양전지(Solar Cell) 및 LTPS 중에서 어느 하나인 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  6. 제1항에 있어서, 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 영상획득부와 디스플레이 패널 간의 거리가 조절되도록 상기 영상획득부를 이동시키는 조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  7. 제6항에 있어서,
    상기 조절부는 상기 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 영상획득부가 설정된 해상도를 갖는 이미지를 획득하도록 상기 영상획득부를 조절하며;
    상기 영상획득부는 이미지를 획득하기 위한 이미지센서 및 상기 이미지센서와 디스플레이 패널 사이에 위치하는 복수 개의 렌즈를 포함하며;
    상기 조절부는 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 렌즈들 중 적어도 하나를 이동시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 영상획득부는 영상을 획득하기 위한 이미지센서, 이미지센서에 도달하는 광량을 조절하기 위한 광량조절부, 및 상기 이미지센서와 디스플레이 패널 사이에 위치하는 렌즈를 포함하고; 상기 광량조절부는 빛이 이미지센서에 도달하기 위해 통과하는 통로를 포함하며; 상기 렌즈의 초점거리 및 상기 통로에 대한 최대 개방 직경의 비율은 5.6 이하인 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사장치.
  9. 디스플레이 모듈을 모듈지지부로 로딩하는 단계;
    복수 개의 카메라로 구성되고, 이들 카메라 각각에 대응하는 영상획득영역들로 이루어진 디스플레이 모듈에 대응되게 영상획득부를 배치하는 단계;
    상기 영상획득부에 의해 제1 촬영시에는 적색(R) 서브픽셀들만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제1 영상 데이터를 생성하고,
    제2 촬영시에는 녹색(G) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제2 영상 데이터를 생성하고,
    제3 촬영시에는 청색(B) 서브픽셀들 만을 구동시킨 상태에서 상기 복수 개의 카메라들을 이용하여 상기 디스플레이 패널을 촬영하여 제3 영상 데이터를 생성하는 단계;
    상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들의 영상데이터들을 수신하는 단계;
    상기 영상획득영역들의 상기 제1 영상 데이터를 적색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하고, 상기 제2 영상 데이터를 녹색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하고, 상기 제3 영상데이터들을 청색 서브픽셀별 기준 데이터와 동일한 그레이 값을 갖는지 비교하는 단계;
    상기 영상데이터와 기준 데이터와 비교하여 결함데이터를 검출하는 단계; 및
    상기 검출된 결함 데이터에 대해 좌표 추출 또는 결함 데이터를 보상하는 단계;를 포함하며,
    상기 보상하는 단계는 상기 결함 데이터에 해당하는 서브 픽셀의 좌표에 리페어 처리를 하거나 그레이 레벨를 조정해 주는 단계를 더 포함하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 복수 개의 카메라들은 상기 디스플레이 모듈의 영상획득영역들을 한번에 촬영하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  11. 삭제
  12. 제9항에 있어서,
    상기 복수 개의 카메라들은 디스플레이 패널이 갖는 하나의 서브 픽셀(Sub Pixel)을 기준으로 1/N (N은 12보다 큰 정수)의 해상도를 갖는 영상을 획득하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  13. 제9항에 있어서,
    상기 디스플레이 모듈은 액정표시장치, 유기전계발광장치 (OLED), 태양전지(Solar Cell) 및 LTPS 중에서 어느 하나인 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  14. 제9항에 있어서, 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 영상획득부와 디스플레이 패널 간의 거리가 조절되도록 상기 복수 개의 카메라들을 이동시키는 조절부를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  15. 제14항에 있어서,
    상기 조절부는 상기 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 복수 개의 카메라들로 구성되는 영상획득부가 설정된 해상도를 갖는 이미지를 획득하도록 상기 영상획득부를 조절하며; 상기 영상획득부는 이미지를 획득하기 위한 이미지센서 및 상기 이미지센서와 디스플레이 패널 사이에 위치하는 복수 개의 렌즈를 포함하며; 상기 조절부는 디스플레이 패널이 갖는 서브 픽셀의 크기에 따라 상기 렌즈들 중 적어도 하나를 이동시키는 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
  16. 제9항에 있어서,
    상기 복수 개의 카메라 각각은 영상을 획득하기 위한 이미지센서, 이미지센서에 도달하는 광량을 조절하기 위한 광량조절부, 및 상기 이미지센서와 디스플레이 패널 사이에 위치하는 렌즈를 포함하고; 상기 광량조절부는 빛이 이미지센서에 도달하기 위해 통과하는 통로를 포함하며; 상기 렌즈의 초점거리 및 상기 통로에 대한 최대 개방 직경의 비율은 5.6 이하인 것을 특징으로 하는 디스플레이 모듈 검사방법.
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