KR100803043B1 - 디스플레이 장치의 결함검사 장치 및 방법 - Google Patents
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Abstract
Description
Claims (11)
- 디스플레이 장치가 장착되며, 소정의 스캔방향으로 왕복이동하는 스테이지;상기 스캔방향과 수직하는 선형의 촬영영역을 가지며 상기 스테이지로부터 소정 거리 이격되고, 상기 스캔방향을 따라 서로 이격되어 배치되는 복수의 라인 스캔 카메라;상기 라인 스캔 카메라의 개수에 대응하는 복수의 검사영상 각각을 상기 라인 스캔 카메라 사이의 이격거리를 기준으로 분할한 후 분할된 각각의 검사영상으로 이루어진 검사영상행렬로부터 대각방향에 위치한 부분영상들을 순차적으로 결합하여 복수의 복합검사영상을 생성하고, 상기 스테이지의 이동량에 따라 순차적으로 상기 복합검사영상 각각을 상기 디스플레이 장치에 출력하는 검사패턴생성부; 및상기 각각의 라인 스캔 카메라가 상기 디스플레이 장치에 출력된 복수의 복합검사영상으로부터 취득한 각각의 검사영상을 기초로 상기 디스플레이 장치의 결함을 검출하는 영상처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 장치.
- 디스플레이 장치가 장착되는 스테이지;상기 스테이지로부터 소정 거리 이격되어 소정의 스캔방향으로 왕복이동하며, 상기 스캔방향과 수직하는 선형의 촬영영역을 가지고, 상기 스캔방향을 따라 서로 이격되어 배치되는 복수의 라인 스캔 카메라;상기 라인 스캔 카메라의 개수에 대응하는 복수의 검사영상 각각을 상기 라인 스캔 카메라 사이의 이격거리를 기준으로 분할한 후 분할된 각각의 검사영상으로 이루어진 검사영상행렬로부터 대각방향에 위치한 부분영상들을 순차적으로 결합하여 복수의 복합검사영상을 생성하고, 상기 라인 스캔 카메라의 이동량에 따라 순차적으로 상기 복합검사영상 각각을 상기 디스플레이 장치에 출력하는 검사패턴생성부; 및상기 각각의 라인 스캔 카메라가 상기 디스플레이 장치에 출력된 복수의 복합검사영상으로부터 취득한 각각의 검사영상을 기초로 상기 디스플레이 장치의 결함을 검출하는 영상처리부;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 장치.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 검사패턴생성부는 상기 분할영역이 일정한 중첩영역을 갖도록 상기 복수의 검사영상 각각을 분할하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 장치.
- 제 4항에 있어서,상기 검사패턴생성부는 상기 스테이지와 상기 라인 스캔 카메라의 상대적인 이동에 의해 디스플레이 장치에 출력된 상기 복합검사영상을 구성하는 부분영상의 중첩영역이 상기 라인 스캔 카메라의 촬영영역에 존재하는 시점에 상기 디스플레이 장치에 출력된 복합검사영상을 다른 복합검사영상으로 변경하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 장치.
- 제 1항 또는 제 2항에 있어서,상기 검사패턴생성부는 상기 스테이지와 상기 라인 스캔 카메라의 상대적인 이동에 의해 상기 디스플레이 장치가 상기 라인 스캔 카메라의 이격거리에 해당하는 거리만큼 이동할 때마다 순차적으로 상기 복합검사영상 각각을 상기 디스플레이 장치에 출력하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 장치.
- 디스플레이 장치가 장착되는 스테이지로부터 소정 거리 이격되어 배치되고 선형의 촬영영역과 수직한 방향으로 서로 이격되어 배치되는 복수의 라인 스캔 카메라의 개수에 대응하는 복수의 검사영상 각각을 상기 라인 스캔 카메라 사이의 이격거리를 기준으로 분할하는 단계;상기 분할된 각각의 검사영상으로 이루어진 검사영상행렬로부터 대각방향에 위치한 부분영상들을 순차적으로 결합하여 복수의 복합검사영상을 생성하는 단계;상기 스테이지 또는 상기 복수의 라인 스캔 카메라 중에서 하나를 상기 라인 스캔 카메라의 촬영영역과 수직한 스캔방향으로 이동시키면서 순차적으로 상기 복합검사영상 각각을 상기 디스플레이 장치에 출력하는 단계; 및상기 각각의 라인 스캔 카메라가 상기 디스플레이 장치에 출력된 복수의 복합검사영상으로부터 취득한 각각의 검사영상을 기초로 상기 디스플레이 장치의 결함을 검출하는 단계;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 방법.
- 제 7항 또는 제 8항에 있어서,상기 검사영상 분할단계에서, 상기 분할영역이 일정한 중첩영역을 갖도록 상기 복수의 검사영상 각각을 분할하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 방법.
- 제 9항에 있어서,상기 복합검사영상 출력단계에서, 상기 스테이지 또는 상기 라인 스캔 카메라의 구동에 의해 디스플레이 장치에 출력된 상기 복합검사영상을 구성하는 부분영상의 중첩영역이 상기 라인 스캔 카메라의 촬영영역에 존재하는 시점에 상기 디스플레이 장치에 출력된 복합검사영상을 다른 복합검사영상으로 변경하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 방법.
- 제 7항 또는 제 8항에 있어서,상기 복합검사영상 출력단계에서, 상기 스테이지 또는 상기 라인 스캔 카메라가 상기 라인 스캔 카메라의 이격거리에 해당하는 거리만큼 이동할 때마다 순차적으로 상기 복합검사영상 각각을 상기 디스플레이 장치에 출력하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 장치의 결함검사 방법.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060098391A KR100803043B1 (ko) | 2006-10-10 | 2006-10-10 | 디스플레이 장치의 결함검사 장치 및 방법 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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KR1020060098391A KR100803043B1 (ko) | 2006-10-10 | 2006-10-10 | 디스플레이 장치의 결함검사 장치 및 방법 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
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KR100803043B1 true KR100803043B1 (ko) | 2008-02-18 |
Family
ID=39382124
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020060098391A KR100803043B1 (ko) | 2006-10-10 | 2006-10-10 | 디스플레이 장치의 결함검사 장치 및 방법 |
Country Status (1)
Country | Link |
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KR (1) | KR100803043B1 (ko) |
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