CN111430256B - El制程中面板的混色检测方法及装置 - Google Patents

El制程中面板的混色检测方法及装置 Download PDF

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CN111430256B CN202010251083.7A CN202010251083A CN111430256B CN 111430256 B CN111430256 B CN 111430256B CN 202010251083 A CN202010251083 A CN 202010251083A CN 111430256 B CN111430256 B CN 111430256B
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Abstract

本申请公开了一种EL制程中面板的混色检测方法及装置。该混色检测方法包括：检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标，其中，第一区域位于面板的发光面的中心，第二区域位于发光面且与第一区域互不重叠；计算第二区域的CIE坐标与第一区域的CIE坐标之间的差值坐标；比对差值坐标与预设的若干混色阈值坐标；以及根据比对结果判断第二区域是否存在混色。本申请基于CIE坐标进行混色判断，具备一定的科学理论基础，能够保证检测过程的客观性，从而提高了检测准确度；另外，将存在混色的概率极小的第一区域的CIE坐标作为基准坐标，保证了基准坐标的可靠性，减少了后续比对流程中的误差，提高了检测准确度。

Description

EL制程中面板的混色检测方法及装置
技术领域
本申请涉及显示技术领域，尤其涉及一种EL制程中面板的混色检测方法及装置。
背景技术
近年来，随着显示水平的不断提高，显示屏的制造技术不断革新，有机发光二极管(Organic Light-Emitting Diode，OLED)显示面板逐渐成为了最炙手可热的新兴显示产品。
在OLED显示面板的有机电致发光(Organic Electroluminescence，EL)制程中，需要在薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)阵列基板上进行有机物的蒸镀。在现有的蒸镀过程中，将金属掩膜版覆盖在TFT阵列基板的表面，再将机物蒸镀至TFT阵列基板上的特定位置。然而，由于TFT阵列基板和金属掩膜版之间存在一定的空隙，而蒸镀区周围一般没有设置用于限制蒸镀范围的阻挡物，所以根据蒸镀沿直线的特性，蒸镀区的范围会扩大，从而引起蒸镀区的阴影效应，进而可能导致OLED显示面板混色现象的产生。
现阶段，OLED显示面板在EL制程中的混色检测通常依靠人力目检方式来完成，即，首先通过面板点灯机台对OLED显示面板进行点亮，当OLED显示面板点亮后，再通过面板点灯机台对OLED显示面板进行拍照，最后由工作人员查看照片以判断OLED显示面板是否存在混色。但该种混色检测方式过于主观，容易产生误判，导致检测准确度低。
发明内容
本申请实施例提供一种能够提高检测准确度的EL制程中面板的混色检测方法及装置。
本申请实施例提供一种EL制程中面板的混色检测方法，包括以下步骤：
检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标，其中，所述第一区域位于所述面板的发光面的中心，所述第二区域位于所述发光面且与所述第一区域互不重叠；
计算所述第二区域的CIE坐标与所述第一区域的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数；
比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数；以及
根据比对结果判断所述第二区域是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域存在混色，反之则判定所述第二区域不存在混色。
在一些实施例中，所述混色检测方法还包括以下步骤：
选取不同的所述第二区域重复上述的所有步骤；
若任意一个所述第二区域存在混色，则判定所述面板存在混色。
在一些实施例中，所述步骤“检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标”之前还包括：
将所述发光面均匀划分为M×N个子区域；
将所述发光面的正中心的m×n个所述子区域作为所述第一区域，将除所述第一区域之外的任意一个所述子区域或多个连通的所述子区域的组合作为所述第二区域；
其中，M、N、m、n均为正整数，M大于m，N大于n。
在一些实施例中，所述步骤“检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标”包括：
检测所述第一区域中的每个所述子区域的CIE坐标；
将所述第一区域中所有的所述子区域的CIE坐标的平均值坐标作为所述第一区域的CIE坐标。
在一些实施例中，所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”之前还包括：
为每个所述混色阈值坐标设置对应的优先级；
所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”包括：
按照所述优先级从高到低的顺序，依次比对所述差值坐标和对应的所述混色阈值坐标。
在一些实施例中，所述混色检测方法还包括以下步骤：
获取所述面板在CT制程中的混色检测结果；
若判定所述面板在所述EL制程中存在混色，且判定所述面板在所述CT制程中不存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调大；
若判定所述面板在所述EL制程中不存在混色，且判定所述面板在所述CT制程中存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调小。
在一些实施例中，所述步骤“检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标”包括：
使用面板点灯机台中的点灯装置对所述面板进行点亮；
当所述面板点亮后，使用所述面板点灯机台中的相机对所述面板进行拍照，得到所述面板点亮后的照片；
将所述照片输入至CIE坐标计算软件，计算所述第一区域的CIE坐标和所述第二区域的CIE坐标。
在一些实施例中，所述混色检测方法还包括以下步骤：
当所述面板点亮后，调整所述相机的白平衡参数。
本申请实施例还提供一种EL制程中面板的混色检测装置，包括以下模块：
检测模块，用于检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标，其中，所述第一区域位于所述面板的发光面的中心，所述第二区域位于所述发光面且与所述第一区域互不重叠；
计算模块，用于计算所述第二区域的CIE坐标与所述第一区域的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数；
比对模块，用于比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数；以及
第一判定模块，用于根据比对结果判断所述第二区域是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域存在混色，反之则判定所述第二区域不存在混色。
在一些实施例中，所述混色检测装置还包括以下模块：
第二判定模块，用于选取不同的所述第二区域使上述的所有模块执行对应的动作以判定不同的所述第二区域是否存在混色，若任意一个所述第二区域存在混色，则判定所述面板存在混色。
本申请实施例提供的EL制程中面板的混色检测方法及装置，通过将位于面板的发光面中心的第一区域的CIE坐标作为基准坐标，将位于发光面与第一区域互不重叠的第二区域的CIE坐标与基准坐标的差值坐标与预设的若干混色阈值坐标进行比对，从而判断第二区域是否存在混色。一方面，本方法及装置基于CIE坐标进行混色判断，相较于人力目检的方式，具备科学理论基础，能够保证检测过程的客观性，从而提高了检测准确度；另一方面，本方法及装置将混色概率极小的第一区域的CIE坐标作为基准坐标，保证了基准坐标的可靠性，减少了后续比对过程中的误差，提高了检测准确度。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本申请实施例提供的一种EL制程中面板的混色检测方法流程图；
图2为本申请实施例提供的一种面板的结构示意图；
图3为本申请实施例提供的一种EL制程中面板的混色检测装置的结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
结合图1和图2对本申请实施例进行说明，图1为本申请实施例提供的一种EL制程中面板的混色检测方法流程图，图2为本申请实施例提供的一种面板的结构示意图。如图1和图2所示，该混色检测方法包括以下步骤：
步骤101，检测面板1的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标，其中，所述第一区域11位于所述面板1的发光面10的中心，所述第二区域12位于所述发光面10且与所述第一区域11互不重叠。
具体的，面板1具有多个面，将面板1能够发光的一面称为发光面10。第一区域11位于发光面10的中心，例如，若将发光面10均匀划分为64×48个矩形子区域，则可以将位于发光面10正中心的2×2个子区域作为第一区域11。
第二区域12位于发光面10且与第一区域11互不重叠，发光面10内除去第一区域11之外的任意一个区域均可作为第二区域12。需要说明的是，第二区域12可以是所述64×48个矩形子区域中除去所述2×2个子区域之外的任意一个子区域或多个连通的子区域的组合，多个连通的子区域中的任意一个子区域均与剩余的至少一个子区域相邻，多个连通的子区域的组合能够形成一个完整的区域。
检测第一区域11的光学坐标(CIE坐标)和第二区域12的CIE坐标，由于发光面10的中心存在混色的概率极小，因此可以认为第一区域11不存在混色，并将第一区域11的CIE坐标作为基准坐标。
步骤102，计算所述第二区域12的CIE坐标与所述第一区域11的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数。
具体的，第一区域11的CIE坐标(也即基准坐标)可以表示为(x0，y0)，其中，x0为第一基准参数，y0为第二基准参数。第二区域12的CIE坐标可以表示为(x，y)，其中，x为第一CIE参数，y为第二CIE参数。
差值坐标可以表示为(a，b)，其中，a为第一差值参数，b为第二差值参数，第一差值参数a为第一CIE参数x与第一基准参数x0之差的绝对值，第二差值参数b为第二CIE参数y与第二基准参数y0之差的绝对值，即，即第一差值参数a＝|x–x0|，第二差值参数b＝|y–y0|。
步骤103，比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数。
步骤104，根据比对结果判断所述第二区域12是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域12存在混色，反之则判定所述第二区域12不存在混色。
具体的，由于第二区域12存在混色的概率远高于第一区域11存在混色的概率，因此需要判断第二区域12是否存在混色。
每个混色阈值坐标可以表示为(X，Y)，其中，X为第一阈值参数，Y为第二阈值参数，第一阈值参数X与第一差值参数a对应，第二阈值参数Y与第二差值参数b对应。在若干混色阈值坐标中，若存在至少一个混色阈值坐标满足：第一差值参数a大于该混色阈值坐标中的第一阈值参数X和/或第二差值参数b大于该混色阈值坐标中的第二阈值参数Y，则判定第二区域12存在混色，反之判定第二区域12不存在混色。
需要说明的是，若干混色阈值坐标根据经验设定，不同的混色阈值坐标对应不同混色类别，本申请实施例对其取值不作具体说明。
本申请实施例提供的混色检测方法，通过将位于面板1的发光面10中心的第一区域11的CIE坐标作为基准坐标，将位于发光面10与第一区域11互不重叠的第二区域12的CIE坐标与基准坐标的差值坐标与预设的若干混色阈值坐标进行比对，从而判断第二区域12是否存在混色。一方面，本方法基于CIE坐标进行混色判断，相较于人力目检的方式，具备科学理论基础，能够保证检测过程的客观性，从而提高了检测准确度；另一方面，本方法将混色概率极小的第一区域11的CIE坐标作为基准坐标，保证了基准坐标的可靠性，减少了后续比对过程中的误差，提高了检测准确度。
在一些实施例中，混色检测方法还包括以下步骤：
选取不同的所述第二区域12重复步骤101～104；若任意一个所述第二区域12存在混色，则判定所述面板1存在混色。
需要说明的是，由于第二区域12为发光面10内除去第一区域11之外的任意一个区域，因此该步骤可以理解为，若发光面10内除去第一区域11之外的任意一个区域存在混色，则判定面板1存在混色。
在一些实施例中，所述步骤“检测面板的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标”之前还包括：
将所述发光面10均匀划分为M×N个子区域；将所述发光面10的正中心的m×n个所述子区域作为所述第一区域11，将除所述第一区域11之外的任意一个所述子区域或多个连通的所述子区域的组合作为所述第二区域12；其中，M、N、m、n均为正整数，M大于m，N大于n。
举个例子，将发光面10均匀划分为64×48个矩形子区域，则可以将位于发光面10正中心的2×2个子区域作为第一区域11，并将所述64×48个矩形子区域中除去所述2×2个子区域之外的任意一个子区域或多个连通的子区域的组合作为第二区域12。其中，多个连通的子区域中的任意一个子区域均与剩余的至少一个子区域相邻，多个连通的子区域的组合能够形成一个完整的区域。
在一些实施例中，所述步骤“检测面板1的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标”包括：
检测所述第一区域11中的每个所述子区域的CIE坐标；将所述第一区域11中所有的所述子区域的CIE坐标的平均值坐标作为所述第一区域11的CIE坐标。
举个例子，将发光面10均匀划分为64×48个矩形子区域，则可以将位于发光面10正中心的2×2个子区域作为第一区域11，此时，分别检测第一区域11中4个小区域的CIE坐标，并分别计算4个小区域的CIE坐标中的4个第一基准参数x0的平均值x0’，以及4个第二基准参数y0的平均值y0’，将(x0’，y0’)作为第一区域11的CIE坐标。
在一些实施例中，所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”之前还包括：为每个所述混色阈值坐标设置对应的优先级。所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”包括：按照所述优先级从高到低的顺序，依次比对所述差值坐标和对应的所述混色阈值坐标。
具体的，在将差值坐标与预设的若干混色阈值坐标进行比对之前，为每个混色阈值坐标设置优先级，不同混色阈值坐标具有不同优先级。例如，一共有5个混色阈值坐标，将混色阈值坐标4设为第一优先级，将混色阈值坐标1设为第二优先级，将混色阈值坐标2设为第三优先级，将混色阈值坐标5设为第四优先级，将混色阈值坐标3设为第五优先级。
在比对差值坐标与预设的若干混色阈值坐标进行时，根据优先级从高到低的顺序，首先将差值坐标与混色阈值坐标4进行比对，然后将差值坐标与混色阈值坐标1进行比对，随后将差值坐标与混色阈值坐标2进行比对，然后将差值坐标与混色阈值坐标5进行比对，最后将差值坐标与混色阈值坐标3进行比对。
在一些实施例中，混色检测方法还包括以下步骤：获取面板1在单片玻璃检测(CT)制程中的混色检测结果；若判定所述面板1在所述EL制程中存在混色，且判定所述面板1在所述CT制程中不存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调大；若判定所述面板1在所述EL制程中不存在混色，且判定所述面板1在所述CT制程中存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调小。
具体的，CT制程为EL制程的后续制程，获取面板1在CT制程中的混色检测结果通常依靠人工肉眼检测方式来完成。由于面板1最终供人观看，因此将CT制程中的混色检测结果作为基准，根据该基准调整EL制程中的混色检测过程，从而使得EL制程的混色检测结果与CT制程的混色检测结果一致性更高。
其中，根据CT制程中的混色检测结果调整EL制程中的混色检测过程的方法具体如下：
若面板1在EL制程中存在混色，但在CT制程中不存在混色，则将每个混色阈值坐标中的第一阈值参数X和第二阈值参数Y调大；若面板1在EL制程中不存在混色，但在CT制程中存在混色，则将每个混色阈值坐标中的第一阈值参数X和第二阈值参数Y调小；若面板1在EL制程中存在混色，且在CT制程中存在混色，则不调整每个混色阈值坐标中的第一阈值参数X和第二阈值参数Y；若面板1在EL制程中不存在混色，且在CT制程中不存在混色，则不调整每个混色阈值坐标中的第一阈值参数X和第二阈值参数Y。
在一些实施例中，“检测面板1的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标”之前还包括：使用面板点灯机台中的点灯装置对面板1进行点亮；当面板1点亮后，使用面板点灯机台中的相机对面板1进行拍照，得到面板1点亮后的照片；将照片输入至CIE坐标计算软件，计算第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标。
具体的，面板点灯机台具有点灯装置和相机，其中，点灯装置用于将面板1进行点亮，相机用于对点亮后的面板1进行拍照，得到照片后，将照片输入至CIE坐标计算软件中，从而通过该软件计算出第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标。
需要说明的是，CIE坐标计算软件可以集成在面板点灯机台中，也可位于上位机中，本申请实施例对此不作具体限定。
在一些实施例中，混色检测方法还包括以下步骤：当面板1点亮后，调整相机的白平衡参数。
具体的，首先通过面板点灯机台中的点灯装置将面板1点亮，使得面板1显示白色画面；然后通过面板点灯机台中的相机对面板1进行拍照；最后将拍照得到的照片与面板1实际显示的白色画面进行比对，根据比对结果调整该相机的白平衡参数，从而使得相机拍照得到的照片更加接近面板1实际显示的白色画面，进而使得相机拍照得到照片更加真实。
可以理解的是，若相机拍照得到照片更加真实，则在面板1的混色检测过程中，CIE坐标计算软件输出的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标更接近真实值，由此也提高了混色检测的准确性。
图3为本申请实施例提供的一种EL制程中面板的混色检测装置的结构示意图，如图3所示，该混色检测装置包括以下模块：
检测模块301，用于检测面板1的第一区域11的CIE坐标和第二区域12的CIE坐标，其中，所述第一区域11位于所述面板1的发光面10的中心，所述第二区域12位于所述发光面10且与所述第一区域11互不重叠；计算模块302，用于计算所述第二区域12的CIE坐标与所述第一区域11的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数；比对模块303，用于比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数；第一判定模块304，用于根据比对结果判断所述第二区域12是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域12存在混色，反之则判定所述第二区域12不存在混色。
需要说明的是，本申请实施例提供的混色检测装置中的检测模块301用于执行上文中的步骤101，计算模块302用于执行上文中的步骤102，比对模块303用于执行上文中的步骤103，第一判定模块304用于执行上文中的步骤104。
本申请实施例提供的混色检测装置，通过将位于面板1的发光面10中心的第一区域11的CIE坐标作为基准坐标，将位于发光面10与第一区域11互不重叠的第二区域12的CIE坐标与基准坐标的差值坐标与预设的若干混色阈值坐标进行比对，从而判断第二区域12是否存在混色。一方面，本装置基于CIE坐标进行混色判断，相较于人力目检的方式，具备科学理论基础，能够保证检测过程的客观性，从而提高了检测准确度；另一方面，本装置将混色概率极小的第一区域11的CIE坐标作为基准坐标，保证了基准坐标的可靠性，减少了后续比对过程中的误差，提高了检测准确度。
在一些实施例中，混色检测装置还包括以下模块：
第二判定模块，用于选取不同的所述第二区域12使上述的所有模块执行对应的动作以判定不同的所述第二区域12是否存在混色，若任意一个所述第二区域12存在混色，则判定所述面板1存在混色。
需要说明的是，由于第二区域12为发光面10内除去第一区域11之外的任意一个区域，因此该步骤可以理解为，若发光面10内除去第一区域11之外的任意一个区域存在混色，则判定面板1存在混色。
在上述实施例中，对各个实施例的描述都各有侧重，某个实施例中没有详述的部分，可以参见其他实施例的相关描述。
以上对本申请实施例进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的技术方案及其核心思想；本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本申请各实施例的技术方案的范围。

Claims (8)

1.一种EL制程中面板的混色检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
将面板的发光面均匀划分为M×N个子区域；
将所述发光面的正中心的m×n个所述子区域作为第一区域，将除所述第一区域之外的任意一个所述子区域或多个连通的所述子区域的组合作为第二区域；其中，M、N、m、n均为正整数，M大于m，N大于n；
检测所述第一区域中的每个所述子区域的CIE坐标和所述第二区域的CIE坐标，将所述第一区域中所有的所述子区域的CIE坐标的平均值坐标作为所述第一区域的CIE坐标，并将所述第一区域的CIE坐标设为基准坐标；其中，所述第二区域位于所述发光面且与所述第一区域互不重叠；
计算所述第二区域的CIE坐标与所述第一区域的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数；
比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数；以及
根据比对结果判断所述第二区域是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域存在混色，反之则判定所述第二区域不存在混色。
2.如权利要求1所述的混色检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：
选取不同的所述第二区域重复权利要求1中的所有步骤；
若任意一个所述第二区域存在混色，则判定所述面板存在混色。
3.如权利要求1所述的混色检测方法，其特征在于，所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”之前还包括：
为每个所述混色阈值坐标设置对应的优先级；
所述步骤“比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标”包括：
按照所述优先级从高到低的顺序，依次比对所述差值坐标和对应的所述混色阈值坐标。
4.如权利要求2所述的混色检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：
获取所述面板在CT制程中的混色检测结果；
若判定所述面板在所述EL制程中存在混色，且判定所述面板在所述CT制程中不存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调大；
若判定所述面板在所述EL制程中不存在混色，且判定所述面板在所述CT制程中存在混色，则将每个所述混色阈值坐标中的若干所述混色阈值参数调小。
5.如权利要求1所述的混色检测方法，其特征在于，所述步骤“检测面板的第一区域的CIE坐标和第二区域的CIE坐标”包括：
使用面板点灯机台中的点灯装置对所述面板进行点亮；
当所述面板点亮后，使用所述面板点灯机台中的相机对所述面板进行拍照，得到所述面板点亮后的照片；
将所述照片输入至CIE坐标计算软件，计算所述第一区域的CIE坐标和所述第二区域的CIE坐标。
6.如权利要求5所述的混色检测方法，其特征在于，还包括以下步骤：
当所述面板点亮后，调整所述相机的白平衡参数。
7.一种EL制程中面板的混色检测装置，其特征在于，包括以下模块：
检测模块，用于将面板的发光面均匀划分为M×N个子区域；将所述发光面的正中心的m×n个所述子区域作为第一区域，将除所述第一区域之外的任意一个所述子区域或多个连通的所述子区域的组合作为第二区域；其中，M、N、m、n均为正整数，M大于m，N大于n；检测所述第一区域中的每个所述子区域的CIE坐标和所述第二区域的CIE坐标，将所述第一区域中所有的所述子区域的CIE坐标的平均值坐标作为所述第一区域的CIE坐标，并将所述第一区域的CIE坐标设为基准坐标，其中，所述第二区域位于所述发光面且与所述第一区域互不重叠；
计算模块，用于计算所述第二区域的CIE坐标与所述第一区域的CIE坐标之间的差值坐标，其中，所述差值坐标包括若干差值参数；
比对模块，用于比对所述差值坐标与预设的若干混色阈值坐标，其中，每个所述混色阈值坐标包括与若干所述差值参数一一对应的若干混色阈值参数；以及
第一判定模块，用于根据比对结果判断所述第二区域是否存在混色，其中，若所述比对结果为任一所述差值参数大于任一所述混色阈值坐标中对应的所述混色阈值参数，则判定所述第二区域存在混色，反之则判定所述第二区域不存在混色。
8.如权利要求7所述的混色检测装置，其特征在于，还包括以下模块：
第二判定模块，用于选取不同的所述第二区域使权利要求7中的所有模块执行对应的动作以判定不同的所述第二区域是否存在混色，若任意一个所述第二区域存在混色，则判定所述面板存在混色。
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