JP2020528157A - 表示パネルを検出するための方法、装置及びシステム - Google Patents
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Abstract
Description
前記複数組の画素を逐次的に第1階調で表示させ、且つ、第i組の画素が前記第1階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第i組の画素以外の他組の画素を第2階調で表示させるように制御するステップと、
第i組の画素が前記第1階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第1電流値を検出するステップと、
前記第1電流値が第1電流範囲内でない場合、前記第i組の画素の表示に異常があると特定するステップと、
を含み、
前記第i組の画素は前記複数組の画素の何れか1組の画素であり、前記第1階調と前記第2階調は異なっており、iは正の整数である。
前記複数組の画素を逐次的に第1階調で表示させ、且つ、第i組の画素が前記第1階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第i組の画素以外の他組の画素を第2階調で表示させるように制御する制御回路と、
第i組の画素が前記第1階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第1電流値を検出する検出回路と、
前記第1電流値が第1電流範囲内でない場合、前記第i組の画素の表示に異常が生じたと特定する第1特定回路と、を含み、
前記第i組の画素は前記複数組の画素の何れか1組の画素であり、前記第1階調と前記第2階調は異なっており、iは正の整数である。
(1)本開示の実施例の図面中、本開示の実施例に関する構造だけが示され、ほかの構造については通常の設計を参照すればよい。
(2)説明の便宜上、本開示の実施例を説明する図面中、層または構造の厚さ及び寸法は拡大される。例えば、層、膜、領域または基板のような素子は別の素子の「上」または「下」に位置すると表現する際、該素子は、別の素子の「上」または「下」に「直接」位置してもよく、または中間素子が介してもよい、ことを理解すべきである。
(3)矛盾がない限り、本開示の同一実施例及び異なる実施例における特徴を互いに組み合わせることができる。
本特許出願は、2017年7月26日に提出した中国特許出願第201710619827.4号の優先権を主張し、ここで、上記中国特許出願に開示されている全内容を本開示の例示の一部として引用する。
b 高精度電流計
c 設定回路
d データ比較回路
e カメラ
f メモリ
g 再検査回路
h 補償回路
i 表示パネル
Claims (20)
- 複数組の画素を含む表示パネルを検出する方法であって、
前記複数組の画素を逐次的に第1階調で表示させ、且つ、第i組の画素が前記第1階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第i組の画素以外の他組の画素を第2階調で表示させるように制御するステップと、
第i組の画素が前記第1階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第1電流値を検出するステップと、
前記第1電流値が第1電流範囲内でない場合、前記第i組の画素の表示に異常が生じたと特定するステップと、を含み、
前記第i組の画素は前記複数組の画素の何れか1組の画素であり、前記第1階調と前記第2階調は異なっており、iは正の整数である、方法。 - 前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計するステップと、
前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定するステップと、
をさらに含む、請求項1に記載の方法。 - 前記表示パネルから出力される第1電流値が検出された後に、
前記第1電流値が第2電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップをさらに含み、そのうち、前記第1電流範囲が前記第2電流範囲内にある、請求項1に記載の方法。 - 前記第1電流値が第2電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定するステップは、
前記第1電流値が第2電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集するステップと、
前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定するステップと、を含む、請求項3に記載の方法。 - 前記複数組の画素での各組の画素を逐次的に第1階調で表示させるように制御する前に、
前記表示パネルでの複数組の画素を前記第2階調で表示させるように制御するステップと、
前記表示パネルから出力される第2電流値を検出するステップと、
をさらに含む、請求項1〜4のいずれか一項に記載の方法。 - 前記表示パネルでの複数組の画素を第1階調で表示させるように制御するステップと、
前記表示パネルから出力される第3電流値を検出するステップと、
をさらに含む、請求項5に記載の方法。 - 前記第2電流値と前記第3電流値に基づいて、前記第1電流範囲を特定するステップをさらに含む、請求項5に記載の方法。
- 前記第2電流値と前記第3電流値に基づいて、前記第1電流範囲を特定するステップは、
前記第2電流値I2と前記第3電流値I3に基づいて、電流式によって所定電流基準値Iを特定して、前記所定電流基準値によって前記第1電流範囲を特定するステップを含み、
前記電流式は、I=(I3−I2)/nであり、
そのうち、前記nは、前記表示パネルでの画素組の総組数である、
請求項7に記載の方法。 - 前記第1電流値範囲は、その上限値がI×k1+I2であり、その下限値がI×k2+I2であり、そのうち、k1とk2は所定の電流係数であり、且つk1はk2より大きく、k2は0より大きい、
請求項7に記載の方法。 - 複数組の画素を含む表示パネルを検出するための装置であって、前記複数組の画素を逐次的に第1階調で表示させ、且つ、第i組の画素が前記第1階調で表示する際に、前記複数組の画素のうち、前記第i組の画素以外の他組の画素を第2階調で表示させるように制御する制御回路と、第i組の画素が前記第1階調で表示する過程において、前記表示パネルから出力される第1電流値を検出する検出回路と、
前記第1電流値が第1電流範囲内でない場合、前記第i組の画素の表示に異常が生じたと特定する第1特定回路と、を含み、
前記第i組の画素は前記複数組の画素の何れか1組の画素であり、前記第1階調と前記第2階調は異なっており、iは正の整数である、表示パネルを検出するための装置。 - 前記表示パネルにおいて表示に異常が生じた画素組の総組数を集計する集計回路と、
前記総組数が所定組数値より大きい場合、前記表示パネルに表示異常が生じたと特定する第2特定回路と、
をさらに含む、請求項10に記載の装置。 - 前記第1電流値が第2電流範囲内でない場合、前記表示パネルに表示欠陥が生じたと特定する第3特定回路をさらに含み、
そのうち、前記第1電流範囲が前記第2電流範囲内にある、請求項10に記載の装置。 - 前記第3特定回路は、
前記第1電流値が第2電流範囲内でない場合、前記表示パネルの表示画像を採集し、
及び、前記表示画像において表示暗線または表示輝線が生じた場合、前記表示パネルに前記表示欠陥が生じたと特定する、請求項12に記載の装置。 - 前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を前記第2階調で表示させるように制御し、
前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第2電流値を検出する、請求項10〜13のいずれか一項に記載の装置。 - 前記制御回路は、さらに、前記表示パネルでの複数組の画素を第1階調で表示させるように制御し、
前記検出回路は、さらに、前記表示パネルから出力される第3電流値を検出する、請求項14に記載の装置。 - 前記第2電流値と前記第3電流値に基づいて、前記第1電流範囲を特定する第4特定回路をさらに含む、請求項15に記載の装置。
- 前記第4特定回路は、前記第2電流値I2と前記第3電流値I3に基づいて、電流式によって所定電流基準値を特定して、前記所定電流基準値によって前記第1電流範囲を特定し、
そのうち、前記電流式は、I=(I3−I2)/nであり、
そのうち、前記nは、前記表示パネルでの画素組の総組数である、
請求項16に記載の装置。 - 前記第1電流値範囲は、その上限値がI×k1+I2であり、その下限値がI×k2+I2であり、k1とk2は所定の電流係数であり、且つk1はk2より大きく、k2は0より大きい、
請求項17に記載の装置。 - 請求項10〜18のいずれか一項に記載の表示パネルを検出するための装置を含む表示パネルを検出するためのシステム。
- 信号発生部と、電流検出計と、設定回路と、データ比較回路と、画像採集装置と、メモリと、再検査回路と、補償回路と、
をさらに含む、請求項19に記載のシステム。
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