CN118053368B - 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法 - Google Patents
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 23
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 70
- 230000002950 deficient Effects 0.000 claims abstract description 52
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims abstract description 16
- 230000007547 defect Effects 0.000 claims abstract description 8
- 238000005192 partition Methods 0.000 claims description 8
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 claims description 6
- 238000004891 communication Methods 0.000 claims description 3
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 claims 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 18
- 230000006870 function Effects 0.000 description 13
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 11
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 9
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 5
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 4
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000003491 array Methods 0.000 description 2
- 238000011161 development Methods 0.000 description 2
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 2
- 230000000873 masking effect Effects 0.000 description 2
- 230000001902 propagating effect Effects 0.000 description 2
- 230000002829 reductive effect Effects 0.000 description 2
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000008033 biological extinction Effects 0.000 description 1
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 1
- 238000005265 energy consumption Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000000670 limiting effect Effects 0.000 description 1
- 238000004020 luminiscence type Methods 0.000 description 1
- 238000001208 nuclear magnetic resonance pulse sequence Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 230000002441 reversible effect Effects 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
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- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/20—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters
- G09G3/22—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources
- G09G3/30—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels
- G09G3/32—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes for presentation of an assembly of a number of characters, e.g. a page, by composing the assembly by combination of individual elements arranged in a matrix no fixed position being assigned to or needed to be assigned to the individual characters or partial characters using controlled light sources using electroluminescent panels semiconductive, e.g. using light-emitting diodes [LED]
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Abstract
本发明涉及集成电路技术领域，其公开了一种微显示屏的像素检测方法、检测电路及像素屏蔽方法，包括：测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元；测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；计数单元，用于统计及存储缺陷像素数量。本发明构建于微显示芯片内部，通过检测流过公共电极的电流的方式判断像素点是否为缺陷点，并能够自动实施像素屏蔽，相较于现有技术，能够更为简单高效的完成像素检测及屏蔽工作。
Description
技术领域
本发明涉及集成电路技术领域，尤其涉及一种微显示屏的像素检测方法、像素检测电路及像素屏蔽方法。
背景技术
随着科技的发展，显示面板越来越多的应用在人们的生产和生活中。特别是随着Micro-LED显示技术的发展，微显示屏的应用场景越加广泛。Micro-LED显示技术是指以自发光的微米量级的LED为发光像素单元，将其组装到驱动面板上形成高密度LED阵列的显示技术。由于Micro-LED芯片尺寸小、集成度高和自发光等特点，在显示方面与LCD、OLED相比在亮度、分辨率、对比度、能耗、使用寿命、响应速度和热稳定性等方面具有更大的优势。基于上述优势，基于微显示芯片的显示装置可以制造成微型且可便携的产品，这使得基于微显示芯片的显示装置可以应用于AV或VR显示装置中。
在微显示屏面板制造完毕后，通常需要对显示面板进行故障检测，以确定显示面板的像素是否包括亮点和暗点。其中，亮点和暗点均为故障的像素，且亮点发出光的亮度远大于周围像素的亮度，暗点发出的光的亮度远小于周围像素的亮度。由于微显示屏的小尺寸特点，使用人眼对显示屏进行像素检测已经无法实施。
目前，现有技术中通过故障检测系统对显示面板进行故障检测。该故障检测系统包括：故障检测装置、驱动模组和图像采集模组。示例地，在对显示面板进行故障检测时，故障检测装置需要首先通过驱动模组驱动显示面板发光，并通过图像采集模组采集显示面板的有效显示区域的亮态图像(该亮态图像能够体现显示面板中每个像素的亮度)。之后，就可以根据该亮态图像，确定显示面板中每个子像素的亮度，并基于确定出的亮度判定所述显示面板的像素是否包括亮点和暗点。
这种检测方式系统复杂，实施成本高，且效率低。因此现有技术中需要一种能够使微显示芯片自身集成像素检测逻辑的像素检测方法。并同时能够根据像素检测方法实施像素屏蔽的显示驱动方法。
发明内容
本发明所要实现的技术目的在于提供一种微显示屏的像素检测及屏蔽方法，从而实现在微显示芯片内部自身集成像素检测方法及像素屏蔽方法，使像素检测过程更为简便高效。
基于上述技术目的，本发明提供一种微显示屏的像素检测方法，所述方法包括：
使所述微显示面板显示第一测试图像，并采集存储微显示面板的第一公共电流值I1；所述第一测试图像为全亮图像；
使所述微显示面板显示第二测试图像，所述第二测试图像为在全亮图像下依次只熄灭一个像素；并采集存储微显示面板在熄灭每一个像素时的第二公共电流值I2；
对比第一公共电流值I1和第二公共电流值I2，若I1＜I2则判定该像素属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加一个；
使所述微显示面板显示第三测试图像，并采集存储微显示面板的第三公共电流值I3；所述第三测试图像为全暗图像；
使所述微显示面板显示第四测试图像，所述第四测试图像为在全暗图像下依次只点亮一个像素；并采集存储微显示面板在点亮每一个像素时的第四公共电流值I4；
对比第三公共电流值I3和第四公共电流值I4，若I4=I3则判定该像素属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加一个；
当计数单元的计数值达到第一阈值时退出像素检测。
在一个实施例中，每一次切换测试图形后，等待预定时长后，再采集并存储公共电流值。
在一个实施例中，将整个微显示面板划分为M×N个测试分区，随后对每一个测试分区分别执行像素检测。
在一个实施例中，所述第一阈值为计数单元的存储上限。
在一个实施例中，所述第一阈值为255。
本发明还提供一种用于执行所述像素检测方法的像素检测电路，所述电路包括：测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元；所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，所述电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；所述计数单元；用于统计及存储缺陷像素数量。
在一个实施例中，所述像素检测电路位于微显示芯片的内部，且所述像素检测电路由单独的IO接口进行控制，并可以通过屏蔽该IO接口关闭像素检测功能。
在一个实施例中，所述像素检测电路内部的通讯基于I2C总线协议实现。
本发明还提供一种基于本发明的像素检测方法的像素屏蔽方法，所述像素屏蔽方法包括：
令所述微显示面板的实际物理像素相对其显示画面的最高分辨率而言，在行列方向上设置有多行及多列冗余像素；
在执行像素检测时，统计缺陷像素点数量时同步记录缺陷像素点位置；
根据缺陷像素点位置统计每行及每列中所述缺陷像素点的数量，并根据所述数据对所述缺陷像素点进行分组；
对不同分组下的所述缺陷像素点进行像素屏蔽，所述像素屏蔽是指在进行实际画面显示时，原本应在所述缺陷像素点的行或列进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一行或下一列进行显示。
在一个实施例中，当实施像素屏蔽的像素行的数量达到冗余像素行数时，则停止行像素屏蔽；当实施像素屏蔽的像素列的数量达到冗余像素列数时，则停止列像素屏蔽。
与现有技术相比，本发明的一个或多个实施例可以具有如下优点：
本发明通过在微显示芯片内部构建像素检测单元，通过检测流过公共电极的电流的方式判断像素点是否为缺陷点，并能够自动实施像素屏蔽。从而相较于现有技术，能够更为简单高效的完成像素检测及屏蔽工作。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例共同用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。在附图中：
图1是本发明的微显示屏的像素检测电路结构示意图；
图2是本发明的微显示屏的像素检测方法流程示意图；
图3是本发明的微显示屏的像素检测及屏蔽电路结构示意图；
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，以下结合附图对本发明作进一步地详细说明。
应当明白，当元件或层被称为“在……上”、“与……相邻”、“连接到”或“耦合到”其它元件或层时，其可以直接地在其它元件或层上、与之相邻、连接或耦合到其它元件或层，或者可以存在居间的元件或层。相反，当元件被称为“直接在……上”、“与……直接相邻”、“直接连接到”或“直接耦合到”其它元件或层时，则不存在居间的元件或层。应当明白，尽管可使用术语第一、第二、第三等描述各种元件、部件、区、层和/或部分，这些元件、部件、区、层和/或部分不应当被这些术语限制。这些术语仅仅用来区分一个元件、部件、区、层或部分与另一个元件、部件、区、层或部分。因此，在不脱离本发明教导之下，下面讨论的第一元件、部件、区、层或部分可表示为第二元件、部件、区、层或部分。而当讨论的第二元件、部件、区、层或部分时，并不表明本发明必然存在第一元件、部件、区、层或部分。
空间关系术语例如“在……下”、“在……下面”、“下面的”、“在……之下”、“在……之上”、“上面的”等，在这里可为了方便描述而被使用从而描述图中所示的一个元件或特征与其它元件或特征的关系。应当明白，除了图中所示的取向以外，空间关系术语意图还包括使用和操作中的器件的不同取向。例如，如果附图中的器件翻转，然后，描述为“在其它元件下面”或“在其之下”或“在其下”元件或特征将取向为在其它元件或特征“上”。因此，示例性术语“在……下面”和“在……下”可包括上和下两个取向。器件可以另外地取向(旋转90度或其它取向)并且在此使用的空间描述语相应地被解释。
在此使用的术语的目的仅在于描述具体实施例并且不作为本发明的限制。在此使用时，单数形式的“一”、“一个”和“所述/该”也意图包括复数形式，除非上下文清楚指出另外的方式。还应明白术语“组成”和/或“包括”，当在该说明书中使用时，确定所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或部件的存在，但不排除一个或更多其它的特征、整数、步骤、操作、元件、部件和/或组的存在或添加。在此使用时，术语“和/或”包括相关所列项目的任何及所有组合。
实施例1
如图1所示的，本发明的微显示面板组件包括像素检测电路和微显示像素阵列，本发明的微显示屏的像素检测电路包括测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元。其中所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号通过I2C总线输入至电流值比较单元，所述电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素。所述计数单元为I2C寄存器，其用于统计及存储缺陷像素数量。
如图2所示的，本发明的微显示屏的像素检测方法，所述方法包括：
由测试图形生成单元产生第一测试图像，并输送至微显示面板进行显示，所述第一测试图像为全亮图像，即微显示面板的所有像素均以最大亮度显示。在此状态下由ADC转换模块采集并存储微显示面板的第一公共电流值I1。所述第一公共电流值I1为流过共阴极（COM电极）的电流。
由测试图形生成单元产生第二测试图像，并输送至微显示面板进行显示，所述第二测试图像为在全亮图像下依次只熄灭一个像素，即微显示面板的所有像素在第二测试图像的驱动下依次进行熄灭。在此状态下由ADC转换模块采集并存储微显示面板在每一个像素熄灭下的第二公共电流值I2。
将第一公共电流值I1和第二公共电流值I2输入电流值比较单元，若I1＞I2则说明该像素正常，并继续监测下一个像素的第二公共电流值I2，否则，则说明该像素没有被正确关闭，即该像素为像素亮点，属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加1个。
当完成对所有像素的第二公共电流值I2检测后，检测计数单元的计数值是否达到第一阈值T1，若达到第一阈值T1则说明计数单元已经存储满，并退出像素检测。
若计数单元未达到第一阈值，则由测试图形生成单元产生第三测试图像，并输送至微显示面板进行显示，所述第三测试图像为全暗图像，即微显示面板的所有像素均以最低亮度显示。在此状态下由ADC转换模块采集并存储微显示面板的第三公共电流值I3。
随后，由测试图形生成单元产生第四测试图像，并输送至微显示面板进行显示，所述第四测试图像为从全暗图像依次只点亮每一个像素，即微显示面板的所有像素在第四测试图像的驱动下依次从最暗点亮至最亮状态。在此状态下由ADC转换模块采集并存储微显示面板在每一个像素点亮状态下的第四公共电流值I4。
随后，将第三公共电流值I3和第四公共电流值I4输入电流值比较单元，若I4＞I3则说明该像素正常，并继续监测下一个像素的第四公共电流值I4，否则，则说明该像素没有被正确点亮，即该像素为像素暗点，属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加1个。并检测计数单元的计数值是否达到第一阈值，若达到第一阈值则说明计数单元已经存储满，并退出像素检测。否则完成对所有像素的第四公共电流值I4的检测。
本实施例中，每一次切换测试图形，都会等待一段时间，其目的在于等待公共电流稳定，即ADC转换模块输出稳定后以确定准确的公共电流值。
本实施例中，所述像素检测电路位于微显示芯片的内部，且所述像素检测电路由单独的IO接口进行控制，在微显示芯片进行出厂检测时，该IO接口上电，像素检测电路自动开启，将缺陷像素点的数量更新到像素检测电路的寄存器。通过读取缺陷像素点的数量即可快速判断该微显示面板是否满足出厂条件。
本实施例中，当微显示面板的检测结果符合出厂条件时，该IO接口被设置为接地，即像素检测功能被关闭。因此，该微显示面板不会再显示测试图形。
本实施例中，所述像素检测电路内部的通讯基于I2C总线协议进行，同时所述第一阈值T1可以设置为I2C寄存器的存储容量上限即255。
实施例2
在上述实施例1的基础上，本实施例对本发明的像素检测方法进行改进，在针对分辨率较高的微显示面板实施如实施例1所示的像素检测方法时，由于像素数量较高，因此在执行显示第二测试图形或第四测试图形时，为了能够明确地区分第一公共电流值I1和第二公共电流值I2、以及第三公共电流值I3和第四公共电流值I4，因此对所述ADC转换模块的电流采集精度提出了更高的要求。
因此为了降低对ADC转换模块的电流采集精度的要求，本实施例中，首先将整个微显示面板划分为M×N个测试分区，随后对每一个测试分区执行一次上述实施例1中所述的像素检测方法，随后统计全部测试分区的缺陷像素点数量。
本实施例中，由于每一个测试分区的像素数量相对于整个微显示面板的像素数量已经大幅降低，因此对所述ADC转换模块的电流采集精度的要求大大降低，从而提高了第一公共电流值I1和第二公共电流值I2、以及第三公共电流值I3和第四公共电流值I4的对比准确率。
实施例3
本实施例在前述实施例1或2的像素检测方法上，进一步提出了根据该像素检测结果在微显示面板实际画面显示时实施对缺陷像素的屏蔽。
如图3所示，本发明的像素屏蔽方法包括：
所述微显示面板的实际物理像素相对其显示画面的最高分辨率而言，在行列方向上设置有m行冗余像素及n列冗余像素；例如，对显示最高分辨率为640×480的微显示面板，其实际物理像素为656×496，即所述微显示面板在列方向上设置有n=16列冗余像素，在行方向上设置有m=16行冗余像素。
在执行像素检测时，统计缺陷像素点数量时同步记录缺陷像素点位置。对缺陷像素点位置的记录可以根据第二测试图像或第四测试图像在进行逐个像素点亮或熄灭时对应的垂直同步信号VS，行同步信号HS及数据选通信号DE来确定。即通过对垂直同步信号VS，行同步信号HS及数据选通信号DE的脉冲顺序位置来定位缺陷像素点的位置。
将记录的缺陷像素点位置进行分类，将缺陷点分为多个组的缺陷像素点。本实施例中，所述多个组中的第一组缺陷像素点为位于同一行或同一列上具有最多数量像素点的组，即像素点的数量达到第二阈值T2数量的缺陷像素点，例如，第二阈值T2为3个缺陷像素点。
随后，针对第一组的缺陷像素点进行像素屏蔽，所述针对第一组的缺陷像素点进行像素屏蔽具体包括：
S100，统计所有第一组缺陷像素点所在的屏蔽行和屏蔽列的数量；
S101，当所述屏蔽行的数量m’小于屏蔽行上限的第三阈值T3时，所述第三阈值T3小于等于m，即所述第三阈值T3小于行冗余像素的行数。进行实际画面显示时，原本应在该所述屏蔽行进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一行进行显示；
S102，当所述屏蔽行的数量m’大于等于第三阈值T3时，则只对所述屏蔽行的前T3行像素进行屏蔽；
S103，当所述屏蔽列的数量n’小于屏蔽列上限的第四阈值T4时，所述第四阈值T4小于等于n，即所述第四阈值T4小于列冗余像素的列数。进行实际画面显示时，原本应在该所述屏蔽列进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一列进行显示；
S104，当所述屏蔽列的数量n’大于等于第四阈值T4时，则只对所述屏蔽列的前T4列像素进行屏蔽；
进一步的，本实施例中，对第一组缺陷像素点以外的其余缺陷像素点再次进行分类，为位于同一行或同一列上的达到第五阈值T5数量的缺陷像素点被定义为第二组缺陷像素点。第五阈值T5小于第二阈值T2。
当所述屏蔽行的数量m’小于第三阈值T3时或当所述屏蔽列的数量n’小于第四阈值T4时，针对所述第二组缺陷像素点实施像素屏蔽。所述像素屏蔽包括：
S200，统计所有第二组缺陷像素点所在的屏蔽行和屏蔽列的数量；
S201，当所述屏蔽行的数量m”小于T3-m’时，即第二组缺陷像素点的屏蔽行的数量没有超过屏蔽行上限时。进行实际画面显示时，原本应在该所述屏蔽行进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一行进行显示；
S202，当所述屏蔽行的数量m’大于T3-m’时，则只对所述屏蔽行的前T3-m’行像素进行屏蔽；
S203，当所述屏蔽列的数量n’小于第四阈值T4-n”时，即第二组缺陷像素点的屏蔽列的数量没有超过屏蔽列上限时。进行实际画面显示时，原本应在该所述屏蔽列进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一列进行显示；
S204，当所述屏蔽列的数量n’大于等于第四阈值T4-n”时，则只对所述屏蔽列的前T4-n”列像素进行屏蔽；
随后对，第一组及第二组的缺陷像素点以外的缺陷像素点再次进行分类，将剩余的缺陷像素点钟同一行或同一列中缺陷像素点最多的像素点设定为下一个进行像素屏蔽的组。
依次类推，直至全部缺陷像素点被屏蔽，或者所述屏蔽行和屏蔽列达到预定的上限值时，结束像素屏蔽操作。
本发明可以是任何可能的集成技术细节级的系统，方法和或计算机程序产品。 计算机程序产品可以包括其上具有计算机可读程序指令的计算机可读存储介质（或多个介质），用于使处理器执行本发明的各方面。
计算机可读存储介质可以是有形设备，其可以保留和存储由指令执行设备使用的指令。 所述计算机可读存储介质可以是，例如，但不限于，电子存储设备，磁存储设备，光存储设备，电磁存储设备，半导体存储设备，或前述设备的任何适当组合。 计算机可读存储介质的更具体例子的非穷举列表包括以下内容： 一种便携式计算机软盘， 硬盘， 随机存取存储器(RAM)， 只读存储器(ROM)， 一种可擦除可编程只读存储器（EPROM或闪存）， 静态随机存取存储器(SRAM)， 一种便携式光盘只读存储器（CD-ROM），数字通用盘(DVD)，存储棒，软盘，机械编码设备，例如在其上记录有指令的凹槽中的打孔卡或凸起结构，以及上述的任何适当组合。 一种计算机可读存储介质， 如本文所用， 不应被解释为是瞬时信号本身，例如无线电波或其它自由传播的电磁波，通过波导或其它传输介质传播的电磁波（例如，通过光纤电缆的光脉冲），或通过导线传输的电信号。
这里描述的计算机可读程序指令可以从计算机可读存储介质下载到相应的计算/处理设备，或者经由网络，例如因特网，局域网，广域网和/或无线网络下载到外部计算机或外部存储设备。 该网络可以包括铜传输电缆，光传输光纤，无线传输，路由器，防火墙，交换机，网关计算机和/或边缘服务器。 每个计算/处理设备中的网络适配器卡或网络接口从网络接收计算机可读程序指令，并转发计算机可读程序指令以存储在相应计算/处理设备内的计算机可读存储介质中。
用于执行本发明操作的计算机可读程序指令可以是汇编器指令， 指令集体系结构(ISA)指令， 机器指令， 机器相关指令， 微码， 固件指令， 状态设定数据， 用于集成电路的配置数据，或者用一种或多种编程语言和过程编程语言的任意组合来编写的源代码或目标代码。 计算机可读程序指令可以完全在用户的计算机上，部分在用户的计算机上，作为独立的软件包，部分在用户的计算机上，部分在远程计算机上或全部在远程计算机或服务器上执行。 在后一种情况下， 远程计算机可以通过包括局域网(LAN)或广域网(WAN)的任何类型的网络连接到用户的计算机，或者可以进行到外部计算机的连接（例如，通过使用互联网服务提供商的互联网）。 在一些实施例中， 包括例如可编程逻辑电路，现场可编程门阵列(FPGA)或可编程逻辑阵列(PLA)的电子电路可以通过利用计算机可读程序指令的状态信息来执行计算机可读程序指令，以使电子电路个性化，从而执行本发明的各方面。
本文参考根据本发明实施例的方法，装置（系统）和计算机程序产品的流程图和/或框图来描述本发明的各方面。 可以理解，流程图说明和/或框图的每个块，以及流程图说明和/或框图中的块的组合，可以通过计算机可读程序指令来实现。
这些计算机可读程序指令可以被提供给计算机的处理器， 或其它可编程数据处理设备，以产生机器，使得经由计算机或其它可编程数据处理设备的处理器执行的指令创建用于实现流程图和/或框图一个或多个方框中指定的功能/动作的装置。 这些计算机可读程序指令也可以被存储在能够引导计算机的计算机可读存储介质中， 一种可编程数据处理设备和/或以特定方式运行的其它设备，使得其中存储有指令的计算机可读存储介质包括制造产品，该制造产品包括实现流程图和/或框图方框中指定的功能/动作的方面的指令。
计算机可读程序指令也可以加载到计算机上， 其它可编程数据处理装置， 或其它装置，使一系列操作步骤在计算机上执行， 用于产生计算机实现的过程的其它可编程设备或其它装置，使得在计算机，其它可编程设备或其它装置上执行的指令实现流程图和/或框图方框中指定的功能/动作。
附图中的流程图和框图示出了根据本发明的各种实施例的系统，方法和计算机程序产品的可能实现的体系结构，功能和操作。 在这点上，流程图或框图中的每个块可以表示指令的模块，段或部分，其包括用于实现指定的逻辑功能的一个或多个可执行指令。 在一些可供选择的实现方式中，在块中指出的功能可能发生在图中指出的顺序之外。 例如，实际上，连续示出的两个块可以作为一个步骤来完成，根据所涉及的功能，以部分或全部时间上重叠的方式并发地，基本上并发地执行，或者有时可以以相反的顺序执行这些块。 还将注意到，框图和/或流程图说明的每个块，以及框图和/或流程图说明中的块的组合，可以由执行指定功能或动作或者执行专用硬件和计算机指令的组合的基于专用硬件的系统来实现。
本申请实施例是参照根据本申请实施例的方法、装置(设备)和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
Claims (10)
1.一种微显示屏的像素检测方法，其特征在于，所述方法包括：
使微显示面板显示第一测试图像，并采集存储微显示面板的第一公共电流值I1；所述第一测试图像为全亮图像；
使所述微显示面板显示第二测试图像，所述第二测试图像为在全亮图像下依次只熄灭一个像素；并采集存储微显示面板在熄灭每一个像素时的第二公共电流值I2；
将第一公共电流值I1和第二公共电流值I2输入电流值比较单元，若I1＞I2则说明该像素正常，并继续监测下一个像素的第二公共电流值I2，否则，则说明该像素没有被正确关闭，即该像素为像素亮点，属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加1个；
当完成对所有像素的第二公共电流值I2检测后，检测计数单元的计数值是否达到第一阈值，若达到第一阈值则说明计数单元已经存储满，并退出像素检测；
若计数单元未达到第一阈值，则使所述微显示面板显示第三测试图像，并采集存储微显示面板的第三公共电流值I3；所述第三测试图像为全暗图像；
使所述微显示面板显示第四测试图像，所述第四测试图像为在全暗图像下依次只点亮一个像素；并采集存储微显示面板在点亮每一个像素时的第四公共电流值I4；
将第三公共电流值I3和第四公共电流值I4输入电流值比较单元，若I4＞I3则说明该像素正常，并继续监测下一个像素的第四公共电流值I4，否则，则说明该像素没有被正确点亮，即该像素为像素暗点，属于像素缺陷点，并使计数单元的计数值增加1个；
当计数单元的计数值达到第一阈值时退出像素检测。
2.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，每一次切换测试图形后，等待预定时长后，再采集并存储公共电流值。
3.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，将整个微显示面板划分为M×N个测试分区，随后对每一个测试分区分别执行像素检测。
4.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，所述第一阈值为计数单元的存储上限。
5.根据权利要求1所述的像素检测方法，其特征在于，所述第一阈值为255。
6.一种用于执行权利要求1-5之一的像素检测方法的像素检测电路，其特征在于，所述电路包括：测试图形生成单元、ADC转换模块、电流值比较单元及计数单元；所述测试图形生成单元用于生成第一至第四测试图像，并传输至微显示面板进行显示；所述ADC转换模块用于采集微显示面板的公共电流，并将公共电流转换为数字信号输入至电流值比较单元，所述电流值比较单元对不同测试图像下的公共电流值进行比较以检测出缺陷像素；所述计数单元；用于统计及存储缺陷像素数量。
7.根据权利要求6所述的像素检测电路，其特征在于，所述像素检测电路位于微显示芯片的内部，且所述像素检测电路由单独的IO接口进行控制，并可以通过屏蔽该IO接口关闭像素检测功能。
8.根据权利要求6所述的像素检测电路，其特征在于，所述像素检测电路内部的通讯基于I2C总线协议实现。
9.一种基于权利要求1-5之一的像素检测方法的像素屏蔽方法，所述像素屏蔽方法包括：
令所述微显示面板的实际物理像素相对其显示画面的最高分辨率而言，在行列方向上设置有多行及多列冗余像素；
在执行像素检测时，统计缺陷像素点数量时同步记录缺陷像素点位置；
根据缺陷像素点位置统计每行及每列中所述缺陷像素点的数量，并根据统计数据对所述缺陷像素点进行分组；
对不同分组下的所述缺陷像素点进行像素屏蔽，所述像素屏蔽是指在进行实际画面显示时，原本应在所述缺陷像素点的行或列进行显示的图像数据被延迟到相邻的下一行或下一列进行显示。
10.根据权利要求9所述的像素屏蔽方法，其特征在于，当实施像素屏蔽的像素行的数量达到冗余像素行数时，则停止行像素屏蔽；当实施像素屏蔽的像素列的数量达到冗余像素列数时，则停止列像素屏蔽。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202410438757.2A CN118053368B (zh) | 2024-04-12 | 2024-04-12 | 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202410438757.2A CN118053368B (zh) | 2024-04-12 | 2024-04-12 | 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN118053368A CN118053368A (zh) | 2024-05-17 |
| CN118053368B true CN118053368B (zh) | 2024-06-25 |
Family
ID=91046725
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202410438757.2A Active CN118053368B (zh) | 2024-04-12 | 2024-04-12 | 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN118053368B (zh) |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN118053368A (zh) | 2024-05-17 |
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