CN102290017A - 一种显示装置错点侦测方法及其系统 - Google Patents

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周伟贤
陈金超
伍清华
王崇军
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Abstract

本发明涉及显示装置检测的技术领域,特别是一种显示装置错点侦测方法及其系统。一种显示装置错点侦测方法,所述方法包括:(11)在显示装置上显示第一色彩,并记录第一色彩的第一电流值;(12)在显示装置上显示第二色彩,并记录第二色彩的第二电流值;(13)如果第二电流值与第一电流值之间的差值小于第一门限值,则判断存在错点,否则判断没有存在错点。本发明智能化地对所有电流信息的汇总和分析,生成报表。本发明提供的错点侦测设备设计简单,成本低廉,既可用于生产过程中的质量检测,也可以用于对现有LED屏幕系统的升级改造,也可作为系统维护检修的工具,具有广泛的适用性。

Description

一种显示装置错点侦测方法及其系统
技术领域
本发明涉及显示装置检测的技术领域,特别是一种显示装置错点侦测方法及其系统。
背景技术
发光二极管(Light-Emitting Diode,LED)屏幕错点或者坏点是指屏幕上不受控制的发光二极管,表现为恒亮或者恒暗,错点的出现,表明LED屏幕出现局部故障,如不及时进行维护将可能导致故障扩散,影响整个LED屏幕系统的工作;生产厂家也应该在生产的过程中检测屏幕错点,提高产品的品质。早期的错点检测主要依靠人工检查,人工检查存在很大的不确定行,成本也很高,不能适应激烈的市场竞争,所以智能化的错点侦测成为一个发展趋势。目前智能化的错点侦测设备大多依托专用的驱动芯片,由驱动芯片提供错点侦测信息,LED屏幕控制系统负责完成错点信息的收集、传输、存储、输出等环节。使用专用驱动芯片实现的智能化错点侦测功能在一定程度上提高了LED屏幕的品质,方便系统维护,但其代价是更高的制造成本和大量的设计更改,此类解决方案依赖芯片的特有功能,无法形成标准,不利整个行业的整体发展。
发明内容
本发明的第一个发明目的,在于提供一种显示装置错点侦测方法,以解决现有技术检测显示装置的屏幕错点成本高设计复杂的技术问题。
为了实现本发明的第一个发明目的,采用的技术方案如下:
一种显示装置错点侦测方法,所述方法包括:
    (11)在显示装置上显示第一色彩,并记录第一色彩的第一电流值;
    (12)在显示装置上显示第二色,并记录第二色彩的第二电流值;
(13)如果第二电流值与第一电流值之间的差值小于第一门限值,则判断存在错点,否则判断没有存在错点。
第一色彩与第二色彩是不同的颜色,则其两者产生的第一电流值与第二电流值应该存在差异,如果第一电流值与第二电流值接近,则显示装置存在异常的点,因此可以以此作为错点的判断依据。
优选地,第一门限值可以为10%~20%。
作为进一步的优选方案,所述第一电流值为显示装置显示第一色彩时的输出电流/显示装置总的像素个数,所述第二电流值为显示装置显示第二色彩时的输出电流/显示装置总的像素个数。
    作为再进一步的优选方案,步骤(13)中当判断存在错点时,执行如下步骤:
    (31)关闭显示装置;
    (32)以第二色彩显示显示装置的一个像素点,并记录显示装置的输出电流为第三电流值;
    (33)比较第三电流值和第一电流值,如果第三电流值与第二电流值之间的误差小于第二门限值,则判断当前显示的像素点为错点;
(34)重复执行步骤(31)-(33)直到遍历显示装置的所有像素点。
作为再进一步的优选方案,所述第一色彩与第二色彩互为反色。
一般来说,只要第一色彩与第二色彩颜色不一致即可,可以通过调整第一门限值来控制错点检测。但如果两种颜色互为反色,则更加容易检测出错点。
作为再进一步的优选方案,所述第一色彩为白色,第二色彩为黑色。
作为一种优选方案,所述第一电流值为显示装置显示第一色彩时的输出电流,述第二电流值为显示装置显示第二色彩时的输出电流。
优选地,本发明第一个发明目的所述的显示装置为LED屏幕。
本发明的第二个发明目的,在于提供一种显示装置错点侦测系统,以解决实现本发明的第一个发明目的所提供的错点侦测方法。
为了实现本发明的第二个发明目的,采用的技术方案如下:
一种显示装置错点侦测系统,所述系统包括依次连接的电源、错点侦测装置和显示装置,所述系统还包括与错点侦测装置连接的中央处理模块。
作为一种优选方案,所述错点侦测装置包括相互连接的电流检测模块和通信模块,所述电流检测模块与电源及显示装置分别连接,用于检测显示装置的错点并通过通信模块向中央处理模块输出错点信息。
作为进一步的优选方案,所述电流检测模块包括依次连接的控制模块、显示模块、电流模块和比较模块:
显示模块用于向显示装置显示色彩;
电流模块用于检测显示装置的输出电流值;
检测模块用于比较电流模块输出的电流值,根据电流值判断是否存在错点及错点的位置;
控制模块控制显示模块多次向显示装置显示不同的色彩,电流模块检测不同的色彩下显示装置输出的电流值,检测模块记录每次的电流值并进行比较,如果不同色彩下显示装置输出的电流值相等,则判断为存在错点,在控制模块的控制下逐个点亮显示装置的像素点以检测错点的位置。
本发明智能化地对所有电流信息的汇总和分析,生成报表。本发明提供的错点侦测设备设计简单,成本低廉,既可用于生产过程中的质量检测,也可以用于对现有LED屏幕系统的升级改造,也可作为系统维护检修的工具,具有广泛的适用性。
附图说明
    图1 本发明实施例错点侦测装置的结构框图;
图2 本发明实施例LED屏幕错点侦测系统的结构框图;
图3本发明实施例LED屏幕错点侦测系统的侦测过程流程图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步详细的说明。
参见图2,本发明LED屏幕错点侦测系统,包括主要由依次连接的LED屏幕面板2、LED驱动控制卡3和主控电脑4组成的LED控制系统,还包括连接在LED屏幕面板2和LED驱动控制卡(3)之间的错点侦测设备1,错点侦测设备1连接在电源5的输出端用于检测电源5的电流值。
参见图1,错点侦测设备1包括宽动态范围、高精度的电流检测模块11和通信模块12,其中电流检测模块11检测出的电流值通过通信模块12输出相应的信号。
电流检测模块11包括依次连接的控制模块、显示模块、电流模块和比较模块:
显示模块用于向显示装置显示色彩;
电流模块用于检测显示装置的输出电流值;
检测模块用于比较电流模块输出的电流值,根据电流值判断是否存在错点及错点的位置;
控制模块控制显示模块多次向显示装置显示不同的色彩,电流模块检测不同的色彩下显示装置输出的电流值,检测模块记录每次的电流值并进行比较,如果不同色彩下显示装置输出的电流值相等,则判断为存在错点,在控制模块的控制下逐个点亮显示装置的像素点以检测错点的位置。
参见图3,本发明LED屏幕错点侦测系统的侦测方法,包括下列步骤:
进行错点侦测时,LED驱动控制卡控制LED屏幕面板输出各种特定的测试色彩,侦测设备检测输出各测试色彩时对应的电源工作电流电流;
如果检测到的电流值与标准值误差超出门限值,则可判断错点的存在,根据电流值偏离标准值的方向判别错点的类型,由相应的测试色彩就能得到错点的位置信息;
再通过主控电脑的软件汇集各个LED屏箱体的电流信息,给出完整的错点侦测报告。
具体例子如下:
先以一张全白的图片输出到LED屏幕,测得此输出情况下的电流I1。再以一张全黑的图片输出到LED屏幕,测得此输出情况下的电流I2。I1实际上由两个部分组成:LED光电转换消耗的电流和和电路板上其他芯片消耗的电流。I2是在理论上全部LED没有发光的情况下测得的电流,那么I2就是电路板上其他芯片消耗的电流的近似测量值,理论上要比一个LED发光消耗得电流小的多。由(I1-I2)/N得到每个LED发光消耗电流的近似值。如果I2接近或者大于(I1-I2)/N,即如果I2和 (I1-I2)/N的差值在10%~20%之内,就表明存在常亮的点。点亮一个像素,测得I3,如果这个电流和I2的差值很小,如果I3与I2的差值在10%~20%之内,则确定为错点位置。
最后对所有电流信息的汇总和分析,生成报表,这也是系统智能化的体现。
以上所述仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示装置错点侦测方法,其特征在于,所述方法包括:
    (11)在显示装置上显示第一色彩,并记录第一色彩的第一电流值;
    (12)在显示装置上显示第二色彩,并记录第二色彩的第二电流值;
    (13)如果第二电流值与第一电流值之间的差值小于第一门限值,则判断存在错点,否则判断没有存在错点。
2.根据权利要求1所述的错点侦测方法,其特征在于,所述第一电流值为显示装置显示第一色彩时的输出电流/显示装置总的像素个数,所述第二电流值为显示装置显示第二色彩时的输出电流/显示装置总的像素个数。
3.根据权利2所述的错点侦测方法,其特征在于,步骤(13)中当判断存在错点时,执行如下步骤:
    (31)关闭显示装置;
    (32)以第二色彩显示显示装置的一个像素点,并记录显示装置的输出电流为第三电流值;
    (33)比较第三电流值和第一电流值,如果第三电流值与第二电流值之间的误差小于第二门限值,则判断当前显示的像素点为错点;
(34)重复执行步骤(31)-(33)直到遍历显示装置的所有像素点。
4.根据权利要求1~3任一项所述的错点侦测方法,其特征在于,所述第一色彩与第二色彩互为反色。
5.根据权利要求1~3任一项所述的错点侦测方法,其特征在于,所述第一色彩为白色,第二色彩为黑色。
6.根据权利要求1所述的错点侦测方法,其特征在于,所述第一电流值为显示装置显示第一色彩时的输出电流,所述第二电流值为显示装置显示第二色彩时的输出电流。
7.一种显示装置错点侦测系统,其特征在于,所述系统包括依次连接的电源、错点侦测装置和显示装置,所述系统还包括与错点侦测装置连接的中央处理模块。
8.根据权利要求7所述的错点侦测系统,其特征在于,所述错点侦测装置包括相互连接的电流检测模块和通信模块,所述电流检测模块与电源及显示装置分别连接,用于检测显示装置的错点并通过通信模块向中央处理模块输出错点信息。
9.根据权利要求8所述的错点侦测系统,其特征在于,所述电流检测模块包括依次连接的控制模块、显示模块、电流模块和比较模块:
显示模块用于向显示装置显示色彩;
电流模块用于检测显示装置的输出电流值;
检测模块用于比较电流模块输出的电流值,根据电流值判断是否存在错点及错点的位置;
控制模块控制显示模块多次向显示装置显示不同的色彩,电流模块检测不同的色彩下显示装置输出的电流值,检测模块记录每次的电流值并进行比较,如果不同色彩下显示装置输出的电流值相等,则判断为存在错点,在控制模块的控制下逐个点亮显示装置的像素点以检测错点的位置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107967891A (zh) * 2017-11-29 2018-04-27 苏州诺纳可电子科技有限公司 一种led数码管
CN110473148A (zh) * 2019-01-17 2019-11-19 张红梅 计算机质量判断系统
CN115019704A (zh) * 2022-05-26 2022-09-06 深圳市艾比森光电股份有限公司 Led显示屏坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质
CN118053368A (zh) * 2024-04-12 2024-05-17 北京数字光芯集成电路设计有限公司 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法

Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20030117290A1 (en) * 2001-12-21 2003-06-26 Tung-Liang Li Digital meter for use of current and voltage
JP2006030588A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Sharp Corp 画像表示装置
US7068055B2 (en) * 2000-06-05 2006-06-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Device for inspecting element substrates and method of inspecting element substrates using electromagnetic waves
CN1897643A (zh) * 2005-07-12 2007-01-17 凌阳科技股份有限公司 彩色影像的坏点校正方法及系统
CN101523604A (zh) * 2006-10-10 2009-09-02 伊斯曼柯达公司 具有经过调整的滤色器阵列的oled显示器件
CN101673529A (zh) * 2009-11-02 2010-03-17 友达光电股份有限公司 发光校正方法与显示器

Patent Citations (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7068055B2 (en) * 2000-06-05 2006-06-27 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Device for inspecting element substrates and method of inspecting element substrates using electromagnetic waves
US20030117290A1 (en) * 2001-12-21 2003-06-26 Tung-Liang Li Digital meter for use of current and voltage
JP2006030588A (ja) * 2004-07-16 2006-02-02 Sharp Corp 画像表示装置
CN1897643A (zh) * 2005-07-12 2007-01-17 凌阳科技股份有限公司 彩色影像的坏点校正方法及系统
CN101523604A (zh) * 2006-10-10 2009-09-02 伊斯曼柯达公司 具有经过调整的滤色器阵列的oled显示器件
CN101673529A (zh) * 2009-11-02 2010-03-17 友达光电股份有限公司 发光校正方法与显示器

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN107967891A (zh) * 2017-11-29 2018-04-27 苏州诺纳可电子科技有限公司 一种led数码管
CN110473148A (zh) * 2019-01-17 2019-11-19 张红梅 计算机质量判断系统
CN115019704A (zh) * 2022-05-26 2022-09-06 深圳市艾比森光电股份有限公司 Led显示屏坏点检测方法、装置、电子设备和存储介质
CN118053368A (zh) * 2024-04-12 2024-05-17 北京数字光芯集成电路设计有限公司 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法
CN118053368B (zh) * 2024-04-12 2024-06-25 北京数字光芯集成电路设计有限公司 微显示屏的像素检测方法、检测电路及屏蔽方法

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