CN103165077A - 显示单元和电子装置 - Google Patents

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Abstract

一种显示单元，包含：显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。

Description

显示单元和电子装置
技术领域
本公开涉及包括不发光斑点（坏点）校正能力的显示单元和电子装置。 
背景技术
近年来，在进行图像显示的显示单元的领域中，已经开发出了将诸如有机EL（电致发光）器件的、其发光随流过电流的值而改变的电流驱动型光学器件用作像素发光器件的显示单元，并且其商业化已经取得进展（例如，参见日本待审专利申请公开No.2007-41574）。与液晶器件等不同，有机EL器件是自发光器件。因此，使用有机EL器件的显示单元（有机EL显示单元）消除了提供光源（背光）的必要性，与牵涉到光源的液晶显示单元相比，实现了更高的图像可见度、更低的功耗和更高的器件响应速度。 
与液晶显示单元一样，有机EL显示单元拥有简单（无源）矩阵方法和有源矩阵方法作为它的驱动方法。前者尽管结构简单，但不利之处于于难以实现大尺寸和高清晰度的显示单元。因此，当前，采用有源矩阵方法的有机EL显示单元已得到积极地开发。这种方法使用配备在为每个发光器件准备的驱动电路中的有源器件（通常，TFT（薄膜晶体管））控制流过为每个像素安排的发光器件的电流。 
同时，有机EL器件具有将包括发光层的有机薄膜保持在阳极与阴极之间的结构。在将具有这样结构的有机EL器件用作像素发光器件的有机EL显示单元中，在形成有机EL器件的过程中引入任何外来物质都会引起像素亮度缺陷。具体地说，在制造过程中引入的任何外来物质都可能引起在有机EL器件的阳极与阴极之间的电极间短路。在有机EL器件上的这样电极间短路的情况下，有机EL器件不能进行任何发光操作，这引起了称为所谓不发光斑点（下文叫做坏点）的亮度缺陷，其中包括这样有机EL器件的子像素可看作不发光像素。 
作为对付由引入任何外来物质引起的这样亮度缺陷的措施，过去提出了在单个子像素内提供包括有机EL器件的多组像素配置器件的技术（例如， 参见日本待审专利申请公开No.2007-41574）。即使在由于电极间短路等而在包括在任何组中的有机EL器件中有缺陷的情况下，使用这种技术也可以防止在子像素中出现坏点，因为包括在任何其他组中的像素配置器件正常地工作。 
发明内容
但是，上述措施使像素电路变复杂。于是，可推测提高坏点周围的子像素的亮度，而不是修改像素电路。例如，当在RGB条状排列的显示面板中一个发红色光的子像素变得不发光时，如果进行白色显示，则观看者在与不发光子像素相对应的位置看到翠绿坏点。此时，尽管提高了围绕坏点的多个子像素的亮度，但有可能只提高了坏点周围的白色亮度，坏点可能适得其反地更加明显。因此，只简单地提高围绕坏点的子像素的亮度不能成为对付坏点的措施。 
希望提供允许不会使像素电路变复杂地进行坏点校正的显示单元和电子装置。 
根据本公开实施例的显示单元包括：显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 
根据本公开实施例的电子装置配备有显示单元。该显示单元包括：显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 
在根据本公开的上述各个实施例的显示单元和电子装置中，为每个像素提供了发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素。一旦存在坏点的子像素，就将校正坏点的补偿脉冲施加到与该子像素相邻或相近的多个子像素，允许坏点较不可见。也就是说，本公开的上述各个实施例消除了修改像素电路的需要，并且避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。 
在根据本公开的上述各个实施例的显示单元和电子装置中，为每个像素 提供发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素，并且将校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的多个子像素。因此，可以进行坏点校正而不使像素电路变复杂。 
应该明白，前面的总体描述和后面的详细描述两者都是示例性的，旨在提供要求保护的技术的进一步说明。 
附图说明
包括附图以提供对本公开的进一步理解，并且附图并入本说明书中并构成本说明书的一部分。附图例示了实施例，并与说明书一起用于说明本技术的原理。 
图1是根据本公开第一实施例的显示单元的示意性框图。 
图2是在图1中例示的子像素的电路图。 
图3是示出在图1中例示的显示区域的布局的示例的图。 
图4是在图1中例示的校正信号生成电路的示意性框图。 
图5是示出如何在包括坏点的区域中进行白色显示的示意图。 
图6A是示出当在包括坏点的区域中进行单色显示时将看到的坏点的示例的图，以及图6B是示出通过根据本公开实施例的坏点校正使坏点看不见的状态的示意图。 
图7是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行白色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图8是示出在图7中例示的坏点校正的第一修改示例的图。 
图9是示出在图7中例示的坏点校正的第二修改示例的图。 
图10是示出在图7中例示的坏点校正的第三修改示例的图。 
图11是示出在图7中例示的坏点校正的第四修改示例的图。 
图12是示出在图7中例示的坏点校正的第五修改示例的图。 
图13是示出在图7中例示的坏点校正的第六修改示例的图。 
图14是示出如何在包括坏点的区域中进行红色显示的示意图。 
图15是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行红色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图16是示出如何在包括坏点的区域中进行绿色显示的示意图。 
图17是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行绿色显示时如何进行 坏点校正的示意图。 
图18是示出如何在包括坏点的区域中进行蓝色显示的示意图。 
图19是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行蓝色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图20是根据本公开第二实施例的显示单元的示意性框图。 
图21是在图20中例示的子像素的电路图。 
图22是示出在图20中例示的子像素的布局的示例的图。 
图23是示出如何在包括坏点的区域中进行白色显示的示意图。 
图24是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行白色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图25是示出如何在包括坏点的区域中进行红色显示的示意图。 
图26是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行红色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图27是示出如何在包括坏点的区域中进行绿色显示的示意图。 
图28是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行绿色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图29是示出在图1中例示的子像素的布局的一个修改示例的图。 
图30是示出如何在包括坏点的区域中进行白色显示的示意图。 
图31是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行白色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图32是作为另一个示例示出当在包括坏点的区域中进行白色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图33是示出如何在包括坏点的区域中进行红色显示的示意图。 
图34是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行红色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图35是示出如何在包括坏点的区域中进行绿色显示的示意图。 
图36是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行绿色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图37是示出如何在包括坏点的区域中进行蓝色显示的示意图。 
图38是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行蓝色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图39是示出在图20中例示的子像素的布局的修改示例的图。 
图40是示出如何在包括坏点的区域中进行白色显示的示意图。 
图41是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行白色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图42是示出如何在包括坏点的区域中进行红色显示的示意图。 
图43是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行红色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图44是示出如何在包括坏点的区域中进行绿色显示的示意图。 
图45是作为示例示出当在包括坏点的区域中进行绿色显示时如何进行坏点校正的示意图。 
图46是示出在图1中例示的子像素的布局的另一个修改示例的图。 
图47是示出在图19中例示的子像素的布局的另一个修改示例的图。 
图48是总结根据各个实施例和修改的上述坏点校正的图。 
图49是示出包括根据本公开的上述实施例的任何一个的显示单元的模块的示意性结构的顶视图。 
图50是示出根据本公开的上述实施例的任何一个的显示单元的应用示例1的外观的透视图。 
图51A是示出从前侧观看的应用示例2的外观的透视图，而图51B是示出从后侧观看的外观的透视图。 
图52是示出应用示例3的外观的透视图。 
图53是示出应用示例4的外观的透视图。 
图54A是处于打开状态的应用示例5的前视图，图54B是其侧视图，图54C是在闭合状态下的前视图，图54D是左侧视图，图54E是右侧视图，图54F是顶视图，和图54G是底视图。 
 
具体实施方式
在下文中，将参考附图详细描述本公开的一些实施例。要注意的是，这些描述按下面给出的次序进行。 
1.第一实施例 
排列在平铺阵列中的每个像素由RGBW子像素组成的示例。 
1.第二实施例 
排列在平铺阵列中的每个像素由RGBY子像素组成的示例。 
3.修改示例 
像素阵列是条状排列或三角形排列的示例。 
4.模块和应用示例 
（1.第一实施例） 
[配置] 
图1示出了根据本公开第一实施例的显示单元1的总体配置的示例。显示单元1包括显示面板10和驱动显示面板10的驱动电路20。 
（显示面板10） 
显示面板10具有多个显示像素14沿着行方向和列方向二维排列的显示区域10A。显示面板10通过每个显示像素14的有源矩阵驱动根据外部输入的图像信号20A显示图像。每个显示像素14由发光颜色相互不同的四种类型的子像素组成。作为四种类型的子像素，每个显示像素14具有分别发出三原色光的三个子像素13R，13G和13B（第一子像素），以及发出通过加色混合（additive color mixing）获得的色光的子像素13W（第二子像素）。子像素13R是发出三原色光之一的红光的子像素，子像素13G是发出三原色光之一的绿光的子像素，而子像素13B是发出三原色光之一的蓝光的子像素。子像素W是发出通过加色混合每种三原色光获得的白光的子像素。要注意的是，下文将子像素13R，13G，13B和13W统称为子像素13。 
图2示出了子像素13的电路配置的示例。子像素13具有有机EL器件11和驱动有机EL器件11的像素电路12。子像素13R具有作为有机EL器件11的发出红光的有机EL器件11R。子像素13G具有作为有机EL器件11的发出绿光的有机EL器件11G。子像素13B具有作为有机EL器件11的发出蓝光的有机EL器件11B。子像素13W具有作为有机EL器件11的发出白光的有机EL器件11W。像素电路12包括，例如，写晶体管Tws、驱动晶体管Tdr、和保持电容器Cs，采用了2Tr 1C的电路配置。要注意的是，像素电路12不限于2Tr 1C的电路配置，而是可以具有使用除了上述的那些之外的晶体管和电容器的电路配置。 
写晶体管Tws是将与图像信号20A相对应的电压写入保持电容器Cs中的晶体管。驱动晶体管Tdr是根据保持电容器Cs上由写晶体管Tws写入的电压驱动有机EL器件11的晶体管。晶体管Tws和Tdr的每一个由，例如，n 沟道MOS型薄膜晶体管（TFT）组成。可替代的是，晶体管Tws和Tdr的每一个可以由p沟道MOS型TFT组成。 
显示面板10还具有沿着行方向延伸的多条栅极线WSL、沿着行方向延伸的多条漏极线DSL、沿着列方向延伸的多条数据线DTL和阴极线CTL。每条栅极线WSL与写晶体管Tws上的栅极连接。每条漏极线DSL与驱动晶体管Tdr上的漏极连接。每条数据线DTL与写晶体管Tws上的漏极连接。写晶体管Tws上的源极与驱动晶体管Tdr上的栅极和保持电容器Cs上的第一端连接。驱动晶体管Tdr上的源极和保持电容器Cs上的第二端与有机EL器件11上的阳极连接。有机EL器件11上的阴极与阴极线CTL连接。 
图3示出了显示区域10A的布局的示例。在显示区域10A中，二维排列多个显示像素14，并且在每个显示像素14中，也二维排列多个子像素13（13R，13G，13B和13W）。换句话说，多个子像素13以平铺形式排列。并且，在显示区域10A中，将多个子像素13排列为防止相同类型的子像素13被放置为彼此相邻。例如，关注一个子像素13R，在子像素13R周围的外围区域中，不存在相同类型的子像素，而是排列了其他类型的子像素13G，13B和13W。 
在每个显示像素14中，优选的是子像素13的布局是相互共通的。例如，子像素13R排列在显示像素14内的左上部，子像素13G排列在显示像素14内的左下部，子像素13B排列在显示像素14内的右下部，以及子像素13W排列在显示像素14内的右上部。要注意的是，每个显示像素14内的布局不局限于上述布局。只要以2×2矩阵模式（也就是说，以平铺形式）排列多个子像素13，子像素13G，13B和13W每一个的位置关系是可选的。 
（驱动电路20） 
驱动电路20具有定时产生电路21、图像信号处理电路22、数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24、漏极线驱动电路25、和坏点检测电路26。数据线驱动电路23的输出与数据线DTL连接，而栅极线驱动电路24的输出与栅极线WSL连接。此外，漏极线驱动电路25的输出与漏极线DSL连接，而坏点检测电路26的输出与阴极线CTL连接。 
定时产生电路21，例如，控制数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24、漏极线驱动电路25、和坏点检测电路26相互联合地工作。例如，定时产生电路21取决于外部输入的同步信号20B（与其同步）地向这些电路输出控制信号21A。 
图像信号处理电路22，例如，对外部输入的数字图像信号20A进行预定校正，将通过这样的校正得出的结果图像信号22A输出到数据线驱动电路23。预定校正的示例包括伽马校正、过驱动（overdrive）校正等。此外，例如，当从坏点检测电路26给出校正指令时，图像信号处理电路22使用从坏点检测电路26输入的校正信号26A校正图像信号20A。图像信号处理电路22，例如，使用校正信号26A对图像信号20A进行校正以改变亮度。要注意的是，下文将详细描述使用校正信号26A对图像信号20A的校正。 
数据线驱动电路23，例如，取决于控制信号21A的输入（与其同步）地经由每条数据线DTL将与从图像信号处理电路22输入的图像信号22A相对应的模拟信号电压23A（基于图像信号的脉冲）施加于（写入）要选择的子像素13。例如，数据线驱动电路23能够输出信号电压23A和与图像信号无关的恒定电压。 
栅极线驱动电路24，例如，取决于控制信号21A的输入（与其同步地）将选择脉冲顺序施加于多条栅极线WSL，由此以每条栅极线WSL为单位顺序选择多个显示像素14。例如，栅极线驱动电路24能够输出导通写晶体管Tws时要施加的电压、和使写晶体管Tws截止时要施加的电压。 
漏极线驱动电路25，例如，取决于控制信号21A的输入（与其同步地）经由每条漏极线DSL将预定电压输出到每个像素电路12上的驱动晶体管Tdr的漏极。例如，漏极线驱动电路25能够输出使有机EL器件11发光时要施加的电压、和使有机EL器件11不发光时要施加的电压。 
坏点检测电路26，例如，从流经阴极线CTL的电流计算有机EL器件11的亮度，并将计算所得的亮度（或与亮度相对应的特征值）与从由图像信号处理电路22输入的图像信号22A得出的亮度（或与亮度相对应的特征值）相比较，生成与比较结果相对应的校正信号26A。图4示出了坏点检测电路26的功能块的示例。坏点检测电路26由，例如，发光电流检测部分26-1、电流计算部分26-2、和坏点检测部分26-3组成。 
发光电流检测部分26-1检测流经阴极线CTL的电流。发光电流检测部分26-1，例如，检测每条阴极线CTL的电流，它被构造成包括对每条阴极线CTL逐一配备的多个电流测量电路。例如，发光电流检测部分26-1将所检测的电流（检测电流）的值输出到坏点检测部分26-3。此时，发光电流检测部分26-1，例如，输出每条阴极线CTL的检测电流的值。要注意的是，发光电 流检测部分26-1，例如，可以将与流经阴极线CTL的电流相对应的特征信号（例如，电压）输出到坏点检测部分26-3。此时，发光电流检测部分26-1，例如，可以输出每条阴极线CTL的特征信号（例如，电压）。 
电流计算部分26-2从图像信号22A预测流经阴极线CTL的电流。电流计算部分26-2，例如，从图像信号22A预测每条阴极线CTL的电流。当发光电流检测部分26-1被配置成输出检测电流的值时，电流计算部分26-2输出从图像信号22A得出的预测电流的值。此时，电流计算部分26-2，例如，输出每个像素行的从图像信号22A得出的预测电流的值。要注意的是，当发光电流检测部分26-1被配置成输出上述特征信号时，电流计算部分26-3可以输出与从图像信号22A得出的预测电流相对应的预测信号（例如，电压）。此时，电流计算部分26-2，例如，可以输出每个像素行的预测信号（例如，电压）。 
坏点检测部分26-3通过将来自发光电流检测部分26-1的输入信号与来自电流计算部分26-2的输入信号相比较来检测坏点的存在与否，并且如果存在，则得出坏点的位置。坏点检测部分26-3，例如，针对每个子像素13将从发光电流检测部分26-1输入的检测电流的值与从电流计算部分26-2输入的预测电流的值相比较，当比较结果满足预定关系时，将该子像素13的位置信息输出到图像信号处理电路22作为校正信号26A。 
要注意的是，当在形成有机EL器件11的过程中由于由引入任何外来物质引起的电极间短路而出现坏点时，坏点检测部分26-3，例如，针对每个子像素13将从发光电流检测部分26-1输入的检测电流的值与从电流计算部分26-2输入的预测电流的值相比较，并且如果检测电流的值明显大于预测电流的值，则可以将该子像素13的位置信息输出到图像信号处理电路22作为校正信号26A。 
要注意的是，当在由于电极间短路而出现坏点的情况下的电流值可事先预测时，坏点检测部分26-3可以不使用来自电流计算部分26-2的输出，而是可以针对每个子像素13将从发光电流检测部分26-1输入的检测电流的值与事先准备的阈值电流相比较，并且如果检测电流的值大于阈值电流的值，则可以将该子像素13的位置信息输出到图像信号处理电路22作为校正信号26A。在这种情况下，可以省略电流计算部分26-2。 
（校正坏点的方法） 
接着，对使用校正信号26A校正坏点的方法提供描述。一旦从坏点检测 电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A（也就是说，当存在坏点的子像素13时），图像信号处理电路22就对与同坏点的子像素13相邻（adjacent）或相近（close）的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。例如，一旦在某个区域使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与同坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。数据线驱动电路23将与从图像信号处理电路22输入并为了校正坏点而补偿的图像信号22A相对应的模拟信号电压23A（脉冲）施加到与坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13。 
更具体地说，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。例如，一旦在某个区域上使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于和校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。在此，优选的是“校正坏点的大小”是与假设坏点的子像素13能够发光时这个子像素13所达到的亮度相同或几乎相同的大小。 
图5示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域中子像素13W的每一个都发光，并且显示区域变成白色显示区域的状态。图5中上面有叉号的子像素13等同于坏点的子像素13。并且，图5中用粗线框指示的子像素13意味着基于从数据线驱动电路23施加的信号电压23A发光。另外，图5中用虚线框指示的子像素13意味着不基于从数据线驱动电路23施加的信号电压23A发光。要注意的是，在从图6开始往后的图中，叉号也意味着坏点，粗线框也意味着发光，以及虚线框也意味着不发光。 
当出现如图5所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，例如，如图7到图13所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应 的图像信号20A进行坏点校正：包括在包含与位置信息相对应的子像素（坏点子像素13m）的显示像素14（坏点像素14m）中的子像素13；以及包括在与坏点子像素13m相邻的显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13。如图6B所示，对于坏点的校正使观看者看不见黑点。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指的坏点位置时，如图7中的示例所示，图像信号处理电路22对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的八个子像素13以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指的坏点位置时，如图7中的示例所示，图像信号处理电路22对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的八个子像素13的总亮度达到校正坏点的大小。 
同时，围绕坏点子像素13m的八个子像素13由分别发出包括在三原色光中的色光（红、绿和蓝）的子像素13R，13G和13B组成，更具体地说，由两个子像素13R、四个子像素13G和两个子像素13B组成。因此，从坏点子像素13m的周围区域生成如上所述通过加色混合从八个子像素13发出的光得出的色光（即，白光）。其结果是，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正了坏点。 
要注意的是，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，图像信号处理电路22可能只对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13的一些相对应的图像信号20A进行校正。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图8中的示例所示，图像信号处理电路22可以对与包括在坏点像素14m中的除了坏点之外的其他三个子像素13（13R，13G和13B）相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的三个子像素13以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图8中的示例所示，图像信号处理电路22可以对与包括在坏点像素14m中的除了坏点之外的其他三个子像素13（13R，13G和13B）相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的三个子像素13的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，要校正的三个子像素13（13R，13G和13B）是分别发出包括在三原色光中的色光（红、绿和蓝）的子像素。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位 置时，例如，如图9到13所示，图像信号处理电路22可以对与布置在坏点子像素13m周围的一组RGB子像素（13R，13G和13B）或两组RGB子像素（13R，13G和13B）相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的一组RGB子像素或两组RGB子像素以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，如图9到13所示，图像信号处理电路22可以对与布置在坏点子像素13m周围的一组RGB子像素（13R，13G和13B）或两组RGB子像素（13R，13G和13B）相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的一组RGB子像素或两组RGB子像素的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，要校正的一组RGB子像素（13R，13G和13B）和两组RGB子像素（13R，13G和13B）是分别发出包括在三原色光中的色光（红、绿和蓝）的子像素。 
图14示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13R的每一个都发光，并且显示区域变成红色显示区域的状态。当出现如图14所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图15中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及包括在与坏点子像素13m相邻的三个显示像素14（相邻像素14n）中并与坏点子像素13m相邻的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图15中的示例所示，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是加色混合三原色的每种色光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正坏点。 
图16示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13G的每一个都发光，并且显示区域变成绿色显示区域的状态。当出现如图16所 示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图17中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及每一个包括在与坏点子像素13m相邻的三个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的四个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图17中的示例所示，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的四个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的四个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的四个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的四个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是加色混合三原色的每种色光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正坏点。 
图18示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13B的每一个都发光，并且显示区域变成蓝色显示区域的状态。当出现如图18所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图19中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及与坏点子像素13m相邻的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与蓝色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图19中的示例所示，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与蓝色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13W相对应的图像信号20A进 行校正，以保证这样的两个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是从加色混合三原色的每种色光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周期区域发出的白光校正坏点。 
[操作] 
下面，对根据本公开的这个实施例的显示单元1的操作的示例提供描述。 
在显示单元1上，通过数据线驱动电路23将与图像信号20A相对应的信号电压23A施加于每条数据线DTL，以及通过栅极线驱动电路24和漏极线驱动电路25将依照控制信号21A的选择脉冲顺序施加于多条栅极线WSL和漏极线DSL。这在每个子像素13中进行了像素电路12的接通/断开控制，以便将驱动电流诸如每个子像素13中的有机EL器件11中。因此，空穴和电子重新结合产生发光，并将得到的光引到外部。其结果是，在显示面板10上的显示区域10A显示图像。 
[有利效果] 
接着，对根据本公开的这个实施例的显示单元1的有利效果提供描述。在本公开的这个实施例中，为每个显示像素14配备了发光颜色相互不同的四种类型的子像素13（13R，13G，13B和13W）。当存在坏点的子像素13时，允许通过将校正坏点的补偿脉冲施加于与该子像素13相邻或相近的多个子像素13使坏点较不可见。也就是说，在本公开的这个实施例中，消除了从现有配置修改像素电路12的需要，并且也避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。这使得可以进行坏点的校正而不会使像素电路12变复杂。 
（2.第二实施例） 
[配置] 
图20示出了根据本公开第二实施例的显示单元2的总体配置的示例。图21示出了显示单元2上的子像素13的电路配置的示例。图22示出了显示单元2上的显示区域10A的布局的示例。在显示单元2上，作为四种类型的子像素，每个显示像素14具有分别发出三原色光的三个子像素13R，13G和13B（第一子像素），以及发出通过加色混合获得的色光的子像素13Y（第二子像素）。换句话说，对于显示单元2，用子像素13Y取代显示单元1上的子像素13W。要注意的是，下文主要描述与第一实施例的差异，并适当省略对与第一实施例共同之处的描述。 
子像素13Y是发出加色混合三原色光当中的红光和绿光得到的黄光的子像素。在本公开的这个实施例中，下文将子像素13R，13G，13B和13Y统称为子像素13。子像素13Y具有作为有机EL器件11的发出黄光的有机EL器件11Y。 
（校正坏点的方法） 
接着，对使用校正信号26A校正坏点的方法提供描述。一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与同坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。例如，一旦在某个区域使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与同坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。数据线驱动电路23将与从图像信号处理电路22输入并为了校正坏点而补偿的图像信号22A相对应的模拟信号电压23A（脉冲）施加到与坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13。 
更具体地说，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。例如，一旦在某个区域上使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于和校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。在此，优选的是“校正坏点的大小”是与假设坏点的子像素13能够发光时这个子像素13所达到的亮度相同或几乎相同的大小。 
图23示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域中子像素13B和子像素Y的每一个都发光，并且显示区域变成白色显示区域的状态。当出现如图23所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图24中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信 号20A进行坏点校正：包括在包含与位置信息相对应的子像素（坏点子像素13m）的显示像素14（坏点像素14m）中的子像素13；以及包括在与坏点子像素13m相邻的显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13。如图6B所示，对于坏点的校正使观看者看不见黑点。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指的坏点位置时，如图24中的示例所示，图像信号处理电路22对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的八个子像素13以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指的坏点位置时，如图24中的示例所示，图像信号处理电路22对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的八个子像素13的总亮度达到校正坏点的大小。 
同时，围绕坏点子像素13m的八个子像素13由分别发出包括在三原色光中的色光（红、绿和蓝）的子像素13R，13G和13B组成，更具体地说，由两个子像素13R、四个子像素13G和两个子像素13B组成。因此，从坏点子像素13m的周围区域生成如上所述通过加色混合从八个子像素13发出的光得出的色光（即，白光）。其结果是，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正了坏点。 
要注意的是，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，图像信号处理电路22可以以与在图8到13中例示的每个示例相似的方式，只对与围绕坏点子像素13m的八个子像素13的一些相对应的图像信号20A进行校正。 
图25示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13R的每一个都发光，并且显示区域变成红色显示区域的状态。当出现如图25所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图26中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13Y；以及包括在相邻像素14n中并与坏点子像素13m相邻的子像素13Y。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13Y是发出从加色混合得出的色光（黄光）的子像素。 
当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位 置时，如图26中的示例所示，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13Y以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13Y的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，黄光是加色混合三原色光中的红光和绿光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正坏点。 
图27示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13G的每一个都发光，并且显示区域变成绿色显示区域的状态。当出现如图27所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图28中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13Y；以及每一个包括在与坏点子像素13m相邻的三个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13Y。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的四个子像素13Y是发出从加色混合得出的色光（黄光）的子像素。 
当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图28中的示例所示，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的四个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的四个子像素13Y以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与同坏点子像素13m相邻的四个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的四个子像素13Y的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，黄光是加色混合三原色光中的红光和绿光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的黄光校正坏点。 
[有利效果] 
接着，对根据本公开的这个实施例的显示单元2的有利效果提供描述。在本公开的这个实施例中，为每个显示像素14配备了发光颜色相互不同的四种类型的子像素13（13R，13G，13B和13Y）。当存在坏点的子像素13时，允许通过将校正坏点的补偿脉冲施加于与该子像素13相邻或相近的多个子 像素13使坏点较不可见。也就是说，在本公开的这个实施例中，消除了从现有配置修改像素电路12的需要，并且也避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。这使得可以进行坏点的校正而不会使像素电路12变复杂。 
（3.修改示例） 
[第一修改示例] 
在本公开的第一实施例中，包括在显示面板10中的多个显示像素14以平铺方式排列，但也可以以任何其他形式排列。例如，如图29所示，多个显示像素14可以沿着行方向和列方向二维排列，并且在每个显示像素14中多个子像素13可以沿着行方向排列。换句话说，包括在显示面板10中的多个子像素13可以以条状排列部署。 
（校正坏点的方法） 
接着，对使用校正信号26A校正坏点的方法提供描述。一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A（也就是说，当存在坏点的子像素13时），图像信号处理电路22就对与沿行方向将坏点的子像素13置于其间的多个子像素13相对应的图像信号20A进行补偿坏点的校正。例如，一旦在某个区域使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与沿行方向和坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。数据线驱动电路23将与从图像信号处理电路22输入并为了校正坏点而补偿的图像信号22A相对应的模拟信号电压23A（脉冲）施加到沿着行方向与坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13。 
更具体地说，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证沿行方向与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。例如，一旦在某个区域上使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证沿行方向与坏点的子像素13相邻或相近并被 施加了用于和校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。在此，优选的是“校正坏点的大小”是与假设坏点的子像素13能够发光时这个子像素13所达到的亮度相同或几乎相同的大小。 
图30示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域中子像素13W的每一个都发光，并且显示区域变成白色显示区域的状态。当出现如图30所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，例如，如图31和图32中所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在包含与位置信息相对应的子像素（坏点子像素13m）的显示像素14（坏点像素14m）中的子像素13；以及沿行方向与坏点子像素13m相邻或相近的显示像素14（相邻像素14n）中包括的子像素13。如图6B所示，对于坏点的校正使观看者看不见黑点。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，如图31和图32所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的三个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的三个子像素13以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，如图31和图32所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的三个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样三个子像素13的总亮度达到校正坏点的大小。 
同时，要校正的三个子像素13由分别发出包括在三原色光中的色光（红、绿和蓝）的子像素13R，13G和13B组成，更具体地说，由一个子像素13R、一个子像素13G和一个子像素13B组成。因此，从坏点子像素13m的周围区域生成如上所述通过加色混合从三个子像素13发出的光得出的色光（即，白光）。其结果是，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正了坏点。 
图33示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13R的每一个都发光，并且显示区域变成红色显示区域的状态。当出现如图33所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图34中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏 点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及包括在沿行方向与坏点子像素13m相邻的一个显示像素14（相邻像素14n）中并与坏点子像素13m相邻的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图34中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是加色混合三原色的每种色光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正坏点。 
图35示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13G的每一个都发光，并且显示区域变成绿色显示区域的状态。当出现如图35所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图36中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及包括在沿行方向与坏点子像素13m相邻的一个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图36中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是加色混合三原色的每种色光 得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的白光校正坏点。 
图37示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13B的每一个都发光，并且显示区域变成蓝色显示区域的状态。当出现如图37所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图38中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13W；以及包括在沿行方向与坏点子像素13m相邻的一个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13W。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13W是发出从加色混合得出的色光（白光）的子像素。 
当在与蓝色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图38中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与蓝色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13W相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13W的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，白光是从加色混合三原色的每种色光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周期区域发出的白光校正坏点。 
[有利效果] 
接着，对根据该修改示例的显示单元2的有利效果提供描述。在本修改示例中，为每个显示像素14配备了发光颜色相互不同的四种类型的子像素13（13R，13G，13B和13W）。当存在坏点的子像素13时，允许通过将校正坏点的补偿脉冲施加于沿行方向与该坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13使坏点较不可见。也就是说，在本修改示例中，消除了从现有配置修改像素电路12的需要，并且也避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。这使得可以进行坏点的校正而不会使像素电路12变复杂。 
[第二修改示例] 
在本公开的第二实施例中，包括在显示面板10中的多个显示像素14以 平铺方式排列，但也可以以任何其他形式排列。如图39中的示例所示，多个显示像素14可以沿着行方向和列方向二维排列，并且在每个显示像素14中多个子像素13可以沿着行方向排列。换句话说，包括在显示面板10中的多个子像素13可以以条状排列部署。 
（校正坏点的方法） 
接着，对使用校正信号26A校正坏点的方法提供描述。一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A（也就是说，当存在坏点的子像素13时），图像信号处理电路22就对与沿行方向将坏点的子像素13置于其间的多个子像素13相对应的图像信号20A进行补偿坏点的校正。例如，一旦在某个区域使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与沿行方向和坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13相对应的图像信号20A进行校正以补偿坏点。数据线驱动电路23将与从图像信号处理电路22输入并为了校正坏点而补偿的图像信号22A相对应的模拟信号电压23A（脉冲）施加到沿着行方向与坏点的子像素13相邻或相近的多个子像素13。 
更具体地说，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证沿行方向与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。例如，一旦在某个区域上使用多个子像素13进行单色显示时从坏点检测电路26接收到指示在单色显示区域内存在坏点的校正信号26A，图像信号处理电路22就对与正在校正的子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证沿行方向与坏点的子像素13相邻或相近并被施加了用于和校正坏点的补偿脉冲的多个子像素13（正在校正的子像素13）的总亮度达到校正坏点的大小。在此，优选的是“校正坏点的大小”是与假设坏点的子像素13能够发光时这个子像素13所达到的亮度相同或几乎相同的大小。 
图40示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域中子像素13B和子像素13Y的每一个都发光，并且显示区域变成白色显示区域的状态。当出现如图40所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时， 一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图41中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在包含与位置信息相对应的子像素（坏点子像素13m）的显示像素14（坏点像素14m）中的子像素13；以及沿行方向与坏点子像素13m相邻或相近的显示像素14（相邻像素14n）中包括的子像素13。如图6B所示，对于坏点的校正使观看者看不见黑点。 
当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图41中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与白色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图41中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样两个子像素13的总亮度达到校正坏点的大小。 
同时，要校正的两个子像素13由分别发出包括在三原色光中的色光（红和绿）的子像素13R和13G组成，更具体地说，由一个子像素13R和一个子像素13G组成。因此，从坏点子像素13m的周围区域生成如上所述通过加色混合从两个子像素13发出的光得出的色光（即，黄光）。其结果是，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的黄光校正了坏点。 
图42示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13R的每一个都发光，并且显示区域变成红色显示区域的状态。当出现如图42所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图43中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13Y；以及包括在沿行方向与坏点子像素13m相邻的一个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13Y。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13Y是发出从加色混合得出的色光（黄光）的子像素。 
当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图43中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以 保证这样的两个子像素13W以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与红色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13Y的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，黄光是加色混合三原色光中的红光和绿光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的黄光校正坏点。 
图44示意性地示出了当存在坏点时在包括坏点的显示区域子像素13G的每一个都发光，并且显示区域变成绿色显示区域的状态。当出现如图44所示的坏点时，观看者看到如图6A所示作为坏点的黑点。此时，一旦从坏点检测电路26接收到指示坏点的位置信息的校正信号26A，如图45中的示例所示，图像信号处理电路22就对与如下子像素相对应的图像信号20A进行坏点校正：包括在坏点像素14m中的子像素13Y；以及包括在沿行方向与坏点子像素13m相邻的一个显示像素14（相邻像素14n）中的子像素13Y。如图6B所示，坏点的校正使观看者看不见黑点。要注意的是，要校正的两个子像素13Y是发出从加色混合得出的色光（黄光）的子像素。 
当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，如图45中的示例所示，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13Y以校正坏点的亮度发光。具体地说，当在与绿色显示区域相对应的区域内存在校正信号26A所指示的坏点位置时，例如，图像信号处理电路22对与沿行方向将坏点子像素13m置于其间的两个子像素13Y相对应的图像信号20A进行校正，以保证这样的两个子像素13Y的总亮度达到校正坏点的大小。要注意的是，黄光是加色混合三原色光中的红光和绿光得出的色光，因此，使用从坏点子像素13m的周围区域发出的黄光校正坏点。 
[有利效果] 
接着，对根据该修改示例的显示单元2的有利效果提供描述。在本修改示例中，为每个显示像素14配备了发光颜色相互不同的四种类型的子像素13（13R，13G，13B和13Y）。当存在坏点的子像素13时，允许通过将校正坏点的补偿脉冲施加于沿行方向与该坏点的子像素13相邻或相近的多个子 像素13使坏点较不可见。也就是说，在本修改示例中，消除了从现有配置修改像素电路12的需要，并且也避免了只调整坏点周围的亮度使坏点适得其反地更加明显的缺点。这使得可以进行坏点的校正而不会使像素电路12变复杂。 
[第三修改示例] 
在第一修改和第二修改中，包括在显示面板10中的多个显示像素14以条状排列部署，但也可以以如图46和47所示的三角形（delta）排列部署。 
图48总结了如上所述的各种实施例和修改示例。 
（4.模块和应用示例） 
在下文中，将对在本公开的上述实施例及其修改示例中描述的显示单元1和2的应用示例提供描述。显示单元1和2可应用于显示外部输入图像信号或内部生成图像信号作为图像或视频画面的每个领域中的电子装置上的显示单元，所述电子装置例如但不限于电视接收机、数字照相机、笔记本个人电脑、包括蜂窝电话的移动终端、以及摄像机。 
[模块] 
可以将显示单元1和2作为，例如，在图49中示出的模块内置到下文将要描述的应用示例1到5中的各种电子装置中。例如，这个模块具有在基板的一侧从用于密封显示面板10的密封基板暴露出来的区域210，将定时产生电路21、图像信号处理电路22、数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24和漏极线驱动电路25的连线延伸以便在这个暴露的区域210形成外部连接端（未在图中示出）。可以为外部连接端子提供用于信号输入/输出的FPC（柔性印刷电路板）220。 
[应用示例1] 
图50示出了可应用显示单元1和2的电视接收机的外部视图。该电视接收机具有，例如，包括前面板310和过滤玻璃320的图像显示屏部分300，并且图像显示屏部分300由显示单元1和2的任一个组成。 
[应用示例2] 
图51A和51B每一个示出了可应用显示单元1和2的数码相机的外部视图。该数码相机具有，例如，用于闪光的发光部分410、显示部分420、菜单开关430、和快门按钮440，并且显示部分420由显示单元1和2的任一个组成。 
[应用示例3] 
图52示出了可应用显示单元1和2的笔记本个人电脑的外部视图。该笔记本个人电脑具有，例如，主体510、用于操作输入字符等的键盘520、和用于图像显示的显示部分530，并且显示部分530由显示单元1和2的任一个组成。 
[应用示例4] 
图53示出了可应用显示单元1和2的摄像机的外部视图。该摄像机具有，例如，主体部分610、配备在主体部分610的前侧的用于拍摄被摄物的图像的镜头620、用于开始或停止拍摄被摄物的图像的开始/停止开关630和显示部分640，并且显示部分640由显示单元1和2的任一个组成。 
[应用示例5] 
图54A和54B每一个示出了可应用显示单元1和2的蜂窝电话的外部视图。例如，该利用耦合部分（铰链部分）730将上机壳710与下机壳720联接在一起的蜂窝电话具有显示器740、子显示器750、画面灯760、和照相机770。显示器740或子显示器750由显示单元1和2的任一个组成。 
尽管针对实施例、修改示例、和应用示例（下文称为“本公开的实施例等”）对本技术进行了描述，但本技术不局限于本公开的上述实施例等，可获得不同的变化。 
例如，在本公开的上述实施例等中，描述了显示单元是有源矩阵型的情况，但有源矩阵驱动的像素电路12的配置不局限于在本公开的上述实施例等中的公开，因此，可以适当地将电容器件和晶体管加入像素电路12中。在这种情况下，除了上述的定时产生电路21、图像信号处理电路22、数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24、漏极线驱动电路25、和坏点检测电路26之外，可以根据像素电路12的变化加入其他必要的驱动电路。 
并且，在本公开的上述实施例等中，描述了驱动电路20进行显示面板10的模拟驱动的情况，但可替代地，驱动电路20可以进行显示面板10的数字驱动。在这种情况下，可以使用PWM执行灰度级显示。为此，优选的是图像信号处理电路22对图像信号20A进行预定校正，同时对校正的图像信号进行PWM以便将如此获得的信号数据（位脉冲）输出到数据线驱动电路23。此外，优选的是，当选择单条对应扫描线时，取决于提供给对应数据线的信号数据（位脉冲）的写入，使每个显示像素11处于发光状态或不发光状 态下，此后，即使取消对扫描线的选择，也取决于写入来继续发光状态或不发光状态。例如，优选的是每个显示像素11是包括有机EL器件的带有内置存储器的像素。 
另外，在本公开的上述实施例等中，定时产生电路21和图像信号处理电路22控制数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24、漏极线驱动电路25、和坏点检测电路26的驱动，但可替代地，其他电路可以进行这样的驱动控制。此外，数据线驱动电路23、栅极线驱动电路24、漏极线驱动电路25、和坏点检测电路26的驱动可以以硬件（电路）或软件（程序）执行。 
此外，在本公开的上述实施例等中，假设写晶体管Tws上的源极和漏极以及驱动晶体管Tdr上的源极和漏极是固定的而提供描述，但不言而喻，取决于电流流向，源极与漏极之间的面对关系可能往往与上述的相反。 
此外，在本公开的上述实施例等中，假设写晶体管Tws和驱动晶体管Tdr由n沟道MOS型TFT形成而提供描述，但写晶体管Tws或驱动晶体管Tdr或两者可以由p沟道MOS型TFT形成。要注意的是，当驱动晶体管Tdr由p沟道MOS型TFT形成时，在本公开的上述实施例等中，有机EL器件11的阳极35A变成阴极，有机EL器件11的阴极35B变成阳极。此外，在本公开的上述实施例等中，写晶体管Tws和驱动晶体管Tdr在任何时候都不必是非晶硅型TFT或微晶硅型TFT，而是可替代地，可以是例如低温多晶硅型TFT。 
此外，在本公开的上述实施例等中，描述了每个显示像素14具有四种类型的子像素13的情况，但每个显示像素14可以具有四种或更多种类型的子像素13。 
因此，可以从本公开的上述示例实施例、修改示例、应用示例等至少实现如下配置。 
（1）一种显示单元，包括： 
显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及 
驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 
（2）按照（1）所述的显示单元，其中补偿脉冲被配置成允许与坏点的子像素相邻或相近并且被施加了补偿脉冲的子像素的总亮度具有校正坏点的 大小。 
（3）按照（2）所述的显示单元，其中补偿脉冲被配置成允许总亮度与预想当坏点的子像素发光时通过该坏点的子像素获得的亮度相同或几乎相同。 
（4）按照（1）到（3）的任何一项所述的显示单元，其中作为四种或更多种类型的子像素，每个像素包括三个第一子像素和一个或多个第二子像素，所述三个第一子像素发出相应三原色的光，并且所述一个或多个第二子像素发出通过加色混合得出的色光。 
（5）按照（4）所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用第一子像素进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的第二子像素。 
（6）按照（4）所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用一个或多个第二子像素进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的第一子像素。 
（7）按照（4）所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用第一子像素之一和第二子像素或第二子像素之一进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近并且在单色显示中未使用的第一子像素。 
（8）按照（1）到（7）的任何一项所述的显示单元，其中包括在显示面板中的像素是二维排列的，并且在每个像素中子像素是二维排列的。 
（9）按照（8）所述的显示单元，其中将子像素排列成防止四种或更多种类型当中的相同类型的子像素被放置成彼此相邻。 
（10）按照（1）到（7）的任何一项所述的显示单元，其中 
包括在显示面板中的像素沿行方向和列方向二维排列，并且在每个像素中子像素沿行方向排列，以及 
当子像素包括坏点的子像素时，驱动电路将补偿脉冲施加到沿行方向将坏点的子像素置于其间的子像素。 
（11）一种具有显示单元的电子装置，该显示单元包括： 
显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及 
驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包 括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。 
要注意，针对显示单元的（2）到（10）的任何组合可应用于针对电子装置的（11），除非出现任何矛盾。这样的组合也被认为是根据本技术的实施例的优选实施例。 
本公开包含与在2011年12月8日向日本专利局提交的日本优先权专利申请JP 2011-268685中公开的主题有关的主题，其全部内容通过引用并入于此。 
本领域的技术人员应该明白，取决于设计要求和其它因素，可以产生各种各样的修改、组合、子组合和变更，只要它们在所附权利要求或其等效物的范围内。 

Claims (11)

1.一种显示单元，包括：
显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及
驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。
2.按照权利要求1所述的显示单元，其中补偿脉冲被配置成允许与坏点的子像素相邻或相近并且被施加了补偿脉冲的子像素的总亮度具有校正坏点的大小。
3.按照权利要求2所述的显示单元，其中补偿脉冲被配置成允许总亮度与预想当坏点的子像素发光时通过该坏点的子像素获得的亮度相同或几乎相同。
4.按照权利要求2所述的显示单元，其中作为四种或更多种类型的子像素，每个像素包括三个第一子像素和一个或多个第二子像素，所述三个第一子像素发出相应三原色的光，并且所述一个或多个第二子像素发出通过加色混合得出的色光。
5.按照权利要求4所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用第一子像素进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的第二子像素。
6.按照权利要求4所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用一个或多个第二子像素进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的第一子像素。
7.按照权利要求4所述的显示单元，其中当在包括坏点的区域中使用第一子像素之一和第二子像素或第二子像素之一进行单色显示时，驱动电路将补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近并且在单色显示中未使用的第一子像素。
8.按照权利要求1所述的显示单元，其中包括在显示面板中的像素是二维排列的，并且在每个像素中子像素是二维排列的。
9.按照权利要求8所述的显示单元，其中将子像素排列成防止四种或更多种类型当中的相同类型的子像素被放置成彼此相邻。
10.按照权利要求1所述的显示单元，其中
包括在显示面板中的像素沿行方向和列方向二维排列，并且在每个像素中子像素沿行方向排列，以及
当子像素包括坏点的子像素时，驱动电路将补偿脉冲施加到沿行方向将坏点的子像素置于其间的子像素。
11.一种具有显示单元的电子装置，该显示单元包括：
显示面板，对于每个像素包括发光颜色相互不同的四种或更多种类型的子像素；以及
驱动电路，将基于图像信号的脉冲施加到每个子像素，并且当子像素包括坏点的子像素时，将配置用来校正坏点的补偿脉冲施加到与坏点的子像素相邻或相近的子像素。
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Effective date of registration: 20150708

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Applicant after: The special display of the organic thunder of Japan of Co., Ltd.

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Applicant before: Sony Corp

C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

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