CN111883033A - 显示面板的检测方法、系统及显示面板 - Google Patents
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Abstract
本发明实施例涉及图像显示技术领域，公开了一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，所述显示面板的检测方法包括：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。本发明提供的显示面板的检测方法、系统及显示面板能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。
Description
技术领域
本发明实施例涉及图像显示技术领域，特别涉及一种显示面板的检测方法、系统及显示面板。
背景技术
OLED(Organic Light-Emitting Diode)称为有机电致发光二极管。OLED显示技术具有全固态、主动发光、高对比度、超薄、低功耗、效应速度快、工作范围宽、易于实现柔性显示和3D显示等诸多优点，使它在目前在众多显示设备上得到应用，例如应用于电视机和移动设备上。目前OLED显示器件在亮度方面还存在显示非均匀性的问题，亮度显示的非均匀性主要是由于背板中薄膜晶体管(Thin Film Transistor，TFT)的电学性能不均匀和在实现图像驱动时产生的电源电压降(IR Drop)引起的。
现有技术中判断OLED显示器件显示亮度是否均匀的方法有待提高，因此，有必要提供一种新的显示面板的检测方法来解决上述问题。
发明内容
本发明实施方式的目的在于提供一种显示面板的检测方法、系统及显示面板，其能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。
为解决上述技术问题，本发明的实施方式提供了一种显示面板的检测方法，包括：
获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。
另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。
另外，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。
另外，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。
另外，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。
另外，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。
另外，所述电性特征物理量为电流量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：获取每个像素在M个时间点的M个电流量，其中，M为大于1的整数，每个时间点对应一个电流量；将所述M个电流量的平均值作为所述像素的电流量。
另外，所述预设阈值范围为大于或等于n1且小于或等于n2，其中，所述n1为所述像素正常显示时的最小电性特征物理量，所述n2为所述像素正常显示时的最大电性特征物理量；所述获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，包括：获取所述多个像素中电性特征物理量小于所述n1的缺陷像素的数量并记为第一子数量、所述多个像素中电性特征物理量大于所述n2的缺陷像素的数量并记为第二子数量；所述判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，包括：判断所述第一子数量是否大于或等于第一预设阈值，或判断所述第二子数量是否大于或等于第一预设阈值。
相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板的检测系统，包括：计算装置、判断装置和处理装置；所述计算装置用于计算显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；所述判断装置用于获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围，并判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值；所述处理装置用于在所述判断装置判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。
不难发现，本实施例为与上述方法实施例相对应的装置实施例，本实施例可与方法实施例互相配合实施。方法实施例中提到的相关技术细节在本实施方式中依然有效，为了减少重复，这里不再赘述。相应地，本实施例中提到的相关技术细节也可应用在方法实施例中。
相应的，本发明实施例还提供了一种显示面板，包括：屏体、设置在屏体内的至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的显示面板的检测方法。
与现有技术相比，本发明实施例提供的技术方案具有以下优点：
由于引起显示面板显示不均匀的主要因素为像素的TFT特性和电容值，当像素的TFT特性和电容值异常时，像素的电性特征物理量也会偏高或偏低，因此通过获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，以便于根据电性特征物理量的大小判断像素的TFT特性和电容值是否异常；由于数量较少的像素存在缺陷时并不会导致显示面板的亮度不均匀，通过获取多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，并在第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域，从而能够提高判断显示面板亮度是否均匀的准确性，且整个检测过程均无需人工参与，减少了人力成本。
附图说明
一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。
图1是根据本发明第一实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；
图2是根据本发明第一实施方式提供的检测电路图；
图3是根据本发明第一实施方式提供的像素的电流-时间曲线图；
图4是根据本发明第二实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；
图5是根据本发明第三实施方式提供的显示面板的检测方法的流程图；
图6是根据本发明第三实施方式提供的显示面板的像素数量-电荷量的曲线图；
图7是根据本发明第四实施方式提供的显示面板的检测系统的结构示意图；
图8是根据本发明第五实施方式提供的显示面板的结构示意图。
具体实施方式
目前在OLED显示行业，Array电学检测判断电性mura的方法都是通过人员查看灰阶图进行判断；设备将测试的每个像素的电压或电流值转换为灰阶map图，然后人员人工查看灰阶图进行判断显示面板是否存在mura。由于mura判断需要人工查看灰阶图，因此存在人员成本浪费、人员判断存在主观因素较强、判断失误较高等缺点。
为此，本发明实施例提供一种显示面板的检测方法，先获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，在多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量大于或等于第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域。本发明能够在准确判断显示面板亮度是否均匀的同时，减少人力成本。
为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明的各实施方式进行详细的阐述。然而，本领域的普通技术人员可以理解，在本发明各实施方式中，为了使读者更好地理解本发明而提出了许多技术细节。但是，即使没有这些技术细节和基于以下各实施方式的种种变化和修改，也可以实现本发明所要求保护的技术方案。
本发明的第一实施方式涉及一种显示面板的检测方法，具体流程如图1所示，包括：
S101：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量。
具体的说，本实施方式中的电性特征物理量可以为像素的电荷量或电流量等，可以理解的是，本实施方式并不对电性特征物理量的种类作具体限定。
以电性特征物理量为电荷量为例，获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。为了便于理解，下面对本实施例如何获取像素的电荷量进行具体的说明：
显示面板中的每个像素均与一条扫描线S1和一条扫描线S2对应，如图2所示，在测量像素的电荷量时，首先S1打开，S2关闭，VREF向电容C1充负电，直至充满；然后S2打开，S1关闭，此时电容C1放电，如图3所示，VDATA处的电流由最大值不断减小直至达到最小值。具体的说，在测试过程中，VDATA处接有测量仪器以测量VDATA处的电流，由于每个像素电容的充放电过程的时间是一致的(以5毫秒为例)，通过多次测量每个像素5ms内的电流(以测量20次为例)，并记录每次测量时的时间点，即可得到20组像素的电流-时间数据，从而根据20组电流-时间数据得到像素的电流-时间曲线，再根据Q＝I*T(其中，Q为电荷量，I为电流，T为时间)即可得到像素的电荷量。
以电性特征物理量为电流量为例，获取每个像素在M个时间点的M个电流量，其中，M为大于1的整数，每个时间点对应一个电流量；将所述M个电流量的平均值作为所述像素的电流量。为了便于理解，下面对本实施例如何获取像素的电流量进行具体的说明：
请继续参见图2，在测量像素的电流量时，首先S1打开，S2关闭，VREF向电容C1充负电，直至充满；然后S2打开，S1关闭，此时电容C1放电，VDATA处的电流由最大值不断减小直至达到最小值。由于每个像素电容的充放电过程的时间是一致的(以8毫秒为例)，通过多次测量每个像素8ms内的电流(以测量30次为例)，即可得到30组像素的电流量数据，再计算出上述30组电流量的平均值，即可得到像素的电流量。可以理解的是，本实施方式在得到多组像素的电流量数据后，除了计算多组电流量的平均值作为所述像素的电流量外，还可以通过加权平均、取多组电流量的中间值等方式得到像素的电流量，也就是说，本实施方式并不对像素的电流量的获取方式作具体限定。
S102：获取多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量。
具体的说，缺陷像素为电性特征物理量超出预设阈值范围的像素。本实施方式中的预设阈值范围为大于或等于n1且小于或等于n2，其中，所述n1为所述像素正常显示时的最小电性特征物理量(即下限阈值)，所述n2为所述像素正常显示时的最大电性特征物理量(即上限阈值)；所述获取所述多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，可以为：获取所述多个像素中电性特征物理量小于所述n1的缺陷像素的第一子数量、所述多个像素中电性特征物理量大于所述n2的缺陷像素的第二子数量。
可理解的是，本实施方式中的n1和n2均为经验值，即可根据大量的实验数据收集确定，以确保种显示面板的检测方法的准确性。
S103：在判定第一数量大于或等于第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。
具体的说，本实施方式不对第一预设阈值的大小做具体限定，可以根据实际需求设置。在判定第一数量大于或等于第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域，具体为：在判定第一子数量大于或等于第一预设阈值，或判定第二子数量大于或等于第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。值得一提的是，由上述分析可知，显示面板的像素中存在电性特征物理量小于n1的缺陷像素和电性特征物理量大于n2的缺陷像素，因此本实施方式还可以根据是第一子数量大于或等于第一预设阈值还是第二子数量大于或等于第一预设阈值得知亮度不均区域的类型，如第一子数量大于或等于第一预设阈值时，表明亮度不均区域由电性特征物理量小于n1的缺陷像素形成，此时可将该亮度不均区域标记为L-mura；第二子数量大于或等于第一预设阈值时，表明亮度不均区域由电性特征物理量大于n2的缺陷像素形成，此时可将该亮度不均区域标记为H-mura。
可以理解的是，在判定显示面板存在亮度不均区域后，本实施方式可以调节亮度不均区域内的像素的电荷量，以将部分甚至全部的亮度不均区域内的缺陷像素转变为正常像素。具体的说，由于缺陷像素的产生是像素的电荷量不在预设阈值范围内导致的，因此可以通过调节电荷量使部分缺陷像素转变为正常像素(亮度不均区域内存在难以转变为正常像素的缺陷像素)，如缺陷像素的电荷量大于上限阈值n2时，可以通过减小时间T来降低缺陷像素的电荷量，以使该像素的电荷量在预设阈值范围内，从而由缺陷像素转变为正常像素；缺陷像素的电荷量小于下限阈值n1时，可以通过增大S1和S2的电压来增大缺陷像素的电荷量，以使该像素的电荷量在预设阈值范围内，从而由缺陷像素转变为正常像素。可以理解的是，上述调节缺陷像素电荷量的方式仅为一种可行的方法的举例，本实施方式并不对如何调节亮度不均区域内的像素的电荷量的方法作具体限定，可以根据实际需求采用其他方法调节，此处不再赘述。此外，需要说明的是，上述将部分缺陷像素转变为正常像素的过程并不会消除显示面板存在的亮度不均区域(即mura区域)，而是为了确认哪些区域在后期可以通过Demura(光学补偿)的方式消除mura。具体的说，能够通过调节时间T或者调节S1和S2的电压的方式转变为正常像素的缺陷像素，在后期该缺陷像素所在的区域即可通过Demura的方式消除mura。
本发明的实施方式相对于现有技术而言，由于引起显示面板显示不均匀的主要因素为像素的TFT特性和电容值，当像素的TFT特性和电容值异常时，像素的电性特征物理量也会偏高或偏低，因此通过获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，以便于根据电性特征物理量的大小判断像素的TFT特性和电容值是否异常；由于数量较少的像素存在缺陷时并不会导致显示面板的亮度不均匀，通过获取多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，并在第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域，从而能够提高判断显示面板亮度是否均匀的准确性，且整个检测过程均无需人工参与，减少了人力成本。
本发明的第二实施方式涉及一种显示面板的检测方法，第二实施方式是在第一实施方式的基础上做了进一步的改进，具体改进之处在于：在第二实施方式中，还会判断在超过第一预设阈值的缺陷像素中，是否存在大于或等于第二预设阈值的缺陷像素在预设区域面积的判断区域内，在判定存在时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域。通过此种方式，能够进一步提高对显示面板亮度非均匀性检测的准确性。
本实施方式的具体流程如图4所示，包括：
S201：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量。
S202：获取多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量。
本实施方式的步骤S201至步骤S202与第一实施方式的步骤S101至步骤S102类似，为了避免重复，此处不再赘述。
S203：在判定第一数量大于或等于第一预设阈值时，分别以每个缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域。
S204：获取判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，在判定存在第二数量大于或等于第二预设阈值的判断区域时，将第二数量大于或等于第二预设阈值的判断区域作为亮度不均区域。
关于步骤S203至步骤S204，具体的说，假设显示面板共有100个缺陷像素(分别为缺陷像素1至缺陷像素100)，分别以缺陷像素1至缺陷像素100为中心，划分100个判断区域(判断区域1至判断区域100)，每个判断区域的面积均为预设区域面积(假设为2平方毫米)，再获取判断区域1至判断区域100内的缺陷像素的第二数量(判断区域1内的缺陷像素的第二数量为A1、判断区域2内的缺陷像素的第二数量为A2...判断区域100内的缺陷像素的第二数量为A100)，若A1至A100中存在大于第二预设阈值的数值时(假设A40、A80大于第二预设阈值)，将A40对应的判断区域40、A80对应的判断区域80作为亮度不均区域。
值得一提的是，由于判断区域内的缺陷像素较少时，该区域的亮度与其他正常区域的亮度相似，并不会影响显示面板的显示效果，因此通过上述方式，只有当判断区域内的缺陷像素超过第二预设阈值时才会判定该判断区域为亮度不均区域，进一步提高了显示面板的检测方法的准确性。可以理解的是，本实施方式并不对预设区域面积的大小作具体限定，可以根据实际需求设置。
S205：建立直角坐标系，获取缺陷像素在直角坐标系中的坐标。
具体的说，本实施方式可以以显示面板的短侧边为X轴，长侧边为Y轴建立直角坐标系，由于显示面板具有多条横向的Gate扫描线(假设有100条Gate扫描线)和多条竖向的Data扫描线(假设有100条Data扫描线)，在对显示面板进行检测时，首先第一条Gate扫描线和第一条Data扫描线工作，其他扫描线均不工作，此时测试第一个像素的电性特征物理量，预设时间(如5毫秒)后，第二条Gate扫描线和第一条Data扫描线工作，其他扫描线均不工作，此时测试第二个像素的电性特征物理量...以此类推，直至最后一条Gate扫描线和最后一条Data扫描线工作，测试最后一个像素的电性特征物理量。由于Gate扫描线和Data扫描线的交点位置即可当做像素所在的位置，因此通过上述方式，即可得知缺陷像素在直角坐标系中的坐标。
S206：根据第二数量大于或等于第二预设阈值的判断区域中缺陷像素的坐标、预设区域面积，获取亮度不均区域在显示面板中的位置。
具体的说，本实施方式并不对第二预设阈值的大小作具体限定，可以根据实际需求设置。由于直角坐标系是根据显示面板的短侧边为X轴，长侧边为Y轴建立，因此通过缺陷像素的坐标和预设区域面积，即可得知亮度不均区域在显示面板中的具体位置。
本发明的实施方式相对于现有技术而言，由于引起显示面板显示不均匀的主要因素为像素的TFT特性和电容值，当像素的TFT特性和电容值异常时，像素的电性特征物理量也会偏高或偏低，因此通过获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，以便于根据电性特征物理量的大小判断像素的TFT特性和电容值是否异常；由于数量较少的像素存在缺陷时并不会导致显示面板的亮度不均匀，通过获取多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，并在第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域，从而能够提高判断显示面板亮度是否均匀的准确性，且整个检测过程均无需人工参与，减少了人力成本。
本发明的第三实施方式涉及一种显示面板的检测方法，第三实施方式是在第一实施方式的基础上做了进一步的改进，具体改进之处在于：在第三实施方式中，还会判断在超过第一预设阈值的缺陷像素中，是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，再判定所述显示面板存在亮度不均区域。通过此种方式，能够进一步提高对显示面板亮度非均匀性检测的准确性。
本实施方式的具体流程如图5所示，包括：
S301：获取显示面板中多个像素的电性特征物理量。
S302：获取多个像素中的缺陷像素的数量，记为第一数量。
S303：在判定第一数量大于或等于第一预设阈值时，建立直角坐标系，获取缺陷像素在直角坐标系中的坐标。
本实施方式中的步骤S301至步骤S303与第二实施方式的步骤S201至步骤S203类似，为了避免重复，此处不再赘述。
S304：在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，判定显示面板存在亮度不均区域。
具体的说，N为大于或等于第三预设阈值的整数，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。可以理解的是，本实施方式并不对第三预设阈值的大小作具体限定，第三预设阈值可以与第二预设阈值相等，也可以根据实际需求设置；本实施方式也不对预设距离的大小做具体限定，可以根据实际需求设置。
S305：根据N个缺陷像素的N个坐标，获取亮度不均区域在显示面板中的位置。
为了便于理解，下面以电性特征物理量为电荷量为例，结合图6对本实施方式显示面板的检测方法进行具体的说明：
假设显示面板具有1万个像素，则可获得1万个电荷量，每个像素的电荷量可能相同，也可能不同，如图6所示，横坐标为电荷量，纵坐标为像素个数，显示面板的电荷量-像素个数图呈正态分布，μ为电荷量的均值，σ为标准差。在(μ-3σ，μ+3σ)之间的电荷量没有超出预设阈值范围(即电荷量在(μ-3σ，μ+3σ)之间的像素为正常像素)，在(μ-3σ，μ+3σ)之外的电荷量超出预设阈值范围(即电荷量在(μ-3σ，μ+3σ)之外的像素为缺陷像素)。判断超出阈值的像素数量是否大于第一预设阈值，在超出阈值的像素数量大于第一预设阈值后，再判断超出阈值的像素是否为连续相邻的，如果存在连续相邻的像素数量大于第三预设阈值，则存在亮度不均区域(即存在mura)。
值得一提的是，本实施方式在获得1万个像素的1万个电荷量后，会先对这1万个电荷量进行点缺陷和线缺陷的判断，然后再进行mura的判断。具体的说，通过判断电荷量是否过小(如等于0)或电荷量是否过大(如远大于像素的正常电荷量)判断是否存在具有点缺陷的像素；通过判断是否存在连续相邻的电荷量过小或过大的像素判断是否存在线缺陷的像素。在去除1万个像素中具有点缺陷或线缺陷的像素后，再根据剩余的像素以及电荷量形成正太分布图，也就是说，存在点缺陷或者线缺陷的像素不会计入正太分布图的像素个数中。
本发明的实施方式相对于现有技术而言，由于引起显示面板显示不均匀的主要因素为像素的TFT特性和电容值，当像素的TFT特性和电容值异常时，像素的电性特征物理量也会偏高或偏低，因此通过获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，以便于根据电性特征物理量的大小判断像素的TFT特性和电容值是否异常；由于数量较少的像素存在缺陷时并不会导致显示面板的亮度不均匀，通过获取多个像素中电性特征物理量超出预设阈值范围的缺陷像素的第一数量，并在第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，再判定所述显示面板存在亮度不均区域，从而能够提高判断显示面板亮度是否均匀的准确性，且整个检测过程均无需人工参与，减少了人力成本。
本发明的第四实施方式涉及一种显示面板的检测系统100，如图7所示，包括：计算装置1、判断装置2和处理装置3；计算装置1用于计算显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；判断装置2用于获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，并判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值；处理装置3用于在判断装置2判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。
本发明第五实施方式涉及一种显示面板200，如图8所示，包括：屏体11、设置在屏体11内的至少一个处理器12；以及与至少一个处理器12通信连接的存储器13；存储器11存储有可被至少一个处理器12执行的指令，指令被至少一个处理器12执行，以使至少一个处理器12能够执行上述显示面板的检测方法。
其中，存储器11和处理器12采用总线方式连接，总线可以包括任意数量的互联的总线和桥，总线将一个或多个处理器12和存储器11的各种电路连接在一起。总线还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路连接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。总线接口在总线和收发机之间提供接口。收发机可以是一个元件，也可以是多个元件，比如多个接收器和发送器，提供用于在传输介质上与各种其他装置通信的单元。经处理器12处理的数据通过天线在无线介质上进行传输，进一步，天线还接收数据并将数据传送给处理器12。
处理器12负责管理总线和通常的处理，还可以提供各种功能，包括定时，外围接口，电压调节、电源管理以及其他控制功能。而存储器11可以被用于存储处理器12在执行操作时所使用的数据。
本领域的普通技术人员可以理解，上述各实施方式是实现本发明的具体实施例，而在实际应用中，可以在形式上和细节上对其作各种改变，而不偏离本发明的精神和范围。
Claims (10)
1.一种显示面板的检测方法，其特征在于，包括：
获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；
获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围；
判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定所述显示面板存在亮度不均区域。
2.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：
分别以每个所述缺陷像素为中心，划分多个具有预设区域面积的判断区域；
获取每个判断区域内的缺陷像素的数量，记为第二数量，判断是否存在所述第二数量大于或等于第二预设阈值的所述判断区域，若存在，则将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域。
3.根据权利要求2所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在将所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域作为所述亮度不均区域后，还包括：
建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；
根据所述第二数量大于或等于所述第二预设阈值的所述判断区域中所述缺陷像素的坐标、所述预设区域面积，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。
4.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值后，还包括：
建立直角坐标系，获取所述缺陷像素在所述直角坐标系中的坐标；
判断是否存在连续相邻的N个缺陷像素，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，则判定所述显示面板存在亮度不均区域，其中，所述N为大于或等于第三预设阈值的整数，其中，相邻的两个缺陷像素之间的距离小于预设距离，则判定两个缺陷像素连续。
5.根据权利要求4所述的显示面板的检测方法，其特征在于，在判定存在连续相邻的N个缺陷像素后，还包括：
根据所述N个缺陷像素的N个坐标，获取所述亮度不均区域在所述显示面板中的位置。
6.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述电性特征物理量为电荷量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：
获取每个像素在预设时长内的M个电流量，其中，M为大于1的整数，所述预设时长内具有M个时间点，每个时间点对应一个电流量；
根据所述M个电流量和所述预设时长计算所述电荷量。
7.根据权利要求1所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述电性特征物理量为电流量，所述获取显示面板中多个像素的电性特征物理量，包括：
获取每个像素在M个时间点的M个电流量，其中，M为大于1的整数，每个时间点对应一个电流量；
将所述M个电流量的平均值作为所述像素的电流量。
8.根据权利要求1至7任一项所述的显示面板的检测方法，其特征在于，所述预设阈值范围为大于或等于n1且小于或等于n2，其中，所述n1为所述像素正常显示时的最小电性特征物理量，所述n2为所述像素正常显示时的最大电性特征物理量；所述获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，包括：
获取所述多个像素中电性特征物理量小于所述n1的缺陷像素的数量并记为第一子数量、所述多个像素中电性特征物理量大于所述n2的缺陷像素的数量并记为第二子数量；
所述判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值，包括：
判断所述第一子数量是否大于或等于第一预设阈值，或判断所述第二子数量是否大于或等于第一预设阈值。
9.一种显示面板的检测系统，其特征在于，包括：计算装置、判断装置和处理装置；
所述计算装置用于计算显示面板中多个像素的电性特征物理量，其中，每个像素均与一个电性特征物理量对应；
所述判断装置用于获取所述多个像素中缺陷像素的数量，记为第一数量，所述缺陷像素的电性特征物理量超出预设阈值范围，并判断所述第一数量是否大于或等于第一预设阈值；
所述处理装置用于在所述判断装置判定所述第一数量大于或等于所述第一预设阈值时，判定显示面板存在亮度不均区域。
10.一种显示面板，其特征在于，包括：屏体、设置在屏体内的至少一个处理器；以及与至少一个处理器通信连接的存储器；
其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行如权利要求1至8中任一项所述的显示面板的检测方法。
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