CN107064773A - Ate电压测试系统及ate电压测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明提供一种ATE电压测试系统及ATE电压测试方法。该ATE电压测试系统通过电脑(3)测量输出板(2)的输出电压值，将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；在所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板(1)发出控制信号；所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2)，从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内，能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。

Description

ATE电压测试系统及ATE电压测试方法
技术领域
本发明涉及显示器件测试领域，尤其涉及一种ATE电压测试系统及ATE电压测试方法。
背景技术
在显示技术领域，液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)与有机发光二极管显示器(Organic Light Emitting Diode，OLED)等平板显示装置已经逐步取代阴极射线管(Cathode Ray Tube，CRT)显示器。
现有市场上的液晶显示器大部分为背光型液晶显示器，其包括液晶显示面板及背光模组(backlight module)。液晶显示面板包括相对设置的薄膜晶体管阵列基板(ThinFilm Transistor Array Substrate，TFT Array Substrate)与彩色滤光片基板(ColorFilter，CF)及填充在两者之间的液晶层。液晶显示器包括阵列排布的多个像素，每个像素电性连接一个薄膜晶体管(TFT)，薄膜晶体管的栅极(Gate)连接至水平扫描线，源极(Source)连接至垂直方向的数据线，漏极(Drain)则连接至像素电极。液晶显示器的控制元件，如时序控制器(TCON)、脉宽调制集成电路(PWM IC)、可编程伽马校正集成电路(P-GammaIC)等通常制作于印刷电路板(Printed Circuit Board Assembly，PCBA)上，通过时序控制器(TCON)产生信号来对水平扫描线上施加足够的电压，会使得电性连接至该条水平扫描线上的所有TFT打开，从而数据线上的信号电压能够写入像素，控制不同液晶的透光度进而达到控制色彩与亮度的效果。
在TFT液晶显示面板驱动中，时序控制器所需要的电压范围越来越精细，伽马(Gamma)电压所需要的范围也是越来越窄，以能够更好的符合Gamma 2.2校正曲线。现有的PWM IC以及P-Gamma IC多是使用集成电路总线(Inter-Integrated Circuit，I2C)控制的数字(Digital)控制型集成电路，通过填写内部寄存器(Register)即可控制输出电压的大小。
在对PCBA进行测试时，采用现有的集成电路自动测试机(Automatic TestEquipment，ATE)只是进行简单的输出电压测试，然后判断测得的输出电压，如PWM IC的输出电压、P-Gamma IC的输出电压等是否在目标电压范围，若测得的输出电压处于目标电压范围内则判定被测的PCBA合格，处于目标范围外则判定不合格。实际上，PCBA中的PWM IC以及P-Gamma IC的电压输出都有一定的误差，甚至其误差范围可能会超出目标电压的范围，所以在很多时候PCBA的ATE测试会出现各种电压超出范围的问题，不良率会很高，导致PCBA报废或相应的IC报废，解决的方法是将PCBA或者IC重新拿去维修、更改IC等，费时费力，并造成成本上升。
发明内容
本发明的目的在于提供一种ATE电压测试系统，能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
本发明的目的还在于提供一种ATE电压测试方法，能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
为实现上述目的，本发明提供一种ATE电压测试系统，包括：测试治具板、与所述测试治具板电性连接的输出板、以及与所述测试治具板和输出板分别电性连接的电脑；所述测试治具板上放置有待测试的PCBA；其中，
所述测试治具板内设有I2C连线，用于与待测试的PCBA进行通信；
所述电脑，用于测量所述输出板的输出电压值，并将所述输出板的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；及用于在所述测试结果为测得的输出板的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板发出控制信号；
所述测试治具板根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板，从而调节输出板的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
所述测试治具板通过连接线电性连接输出板，所述连接线内设有I2C控制的引脚；所述电脑通过测试探针电性连接输出板及测量输出板的输出电压值，并通过信号走线电性连接测试治具板及传输控制信号。
所述PCBA内设有PWM IC、及P-Gamma IC，所述输出板的输出电压值包括PWM IC输出电压值、及P-Gamma IC输出电压值。
所述测试治具板根据电脑发出的控制信号通过I2C连线烧录PWM IC与P-Gamma IC的内部编码并调节寄存器来调整PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值，并将调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线传送至输出板，从而调节输出板的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
所述控制信号包括SPI控制信号、及I2C控制信号。
本发明还提供一种ATE电压测试方法，应用上述的ATE电压测试系统，并包括如下步骤：
步骤S1、所述电脑测量输出板的输出电压值，并将所述输出板的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；若所述测试结果为测得的输出板的输出电压值不在合格电压值范围内时，进行步骤S2；
步骤S2、所述电脑向测试治具板发出控制信号，所述测试治具板根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，再将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板，从而调节输出板的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
本发明的有益效果：本发明提供的一种ATE电压测试系统，通过电脑测量输出板的输出电压值，并将所述输出板的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；在所述测试结果为测得的输出板的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板发出控制信号；所述测试治具板根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板，从而调节输出板的输出电压值至预设定的合格电压值范围内，能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。本发明提供的一种ATE电压测试方法，应用本发明的ATE电压测试系统，能够有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
附图说明
为了能更进一步了解本发明的特征以及技术内容，请参阅以下有关本发明的详细说明与附图，然而附图仅提供参考与说明用，并非用来对本发明加以限制。
附图中，
图1为本发明的ATE电压测试系统的结构框图；
图2为本发明的ATE电压测试方法的流程图。
具体实施方式
为更进一步阐述本发明所采取的技术手段及其效果，以下结合本发明的优选实施例及其附图进行详细描述。
请参阅图1，本发明提供一种ATE电压测试系统，包括：测试治具板1、与所述测试治具板1电性连接的输出板2、以及与所述测试治具板1和输出板2分别电性连接的电脑3；所述测试治具板1上放置有待测试的PCBA。其中：
所述测试治具板1内设有I2C连线(未图示)，用于与待测试的PCBA进行通信；
所述电脑3，用于测量所述输出板2的输出电压值，并将所述输出板2的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；及用于在所述测试结果为测得的输出板2的输出电压值在合格电压值范围内，显示PCBA通过测试，可直接将PCBA归为良品；在所述测试结果为测得的输出板2的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板1发出控制信号。
所述测试治具板1根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板2，从而调节输出板2的输出电压值至合格电压值范围内，可将原本被现有ATE电压测试系统视为不合格品的PCBA调整成良品，从而能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率。
具体地，所述测试治具板1通过连接线6电性连接输出板2，所述连接线6内设有I2C控制的引脚；所述电脑3通过测试探针5电性连接输出板2及测量输出板2的输出电压值，并通过信号走线7电性连接测试治具板1及传输控制信号。
具体地，所述PCBA内设有PWM IC、及P-Gamma IC，所述输出板2的输出电压值包括PWM IC输出电压值、及P-Gamma IC输出电压值。
具体地，所述测试治具板1根据电脑3发出的控制信号通过I2C连线烧录PWM IC与P-Gamma IC的内部编码并调节寄存器来调整PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值，并将调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而调节输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
具体地，所述控制信号包括串行外设接口(Serial Peripheral Interface，SPI)控制信号、及I2C控制信号。
需要说明的是，目前的PWM IC与P-Gamma IC使用的是数字控制型IC，即可以通过调节PWM IC与P-Gamma IC内部存储器中的内部编码来调节相应的输出电压值的大小并保存，同时，PWM IC与P-Gamma IC内部设定的寄存器读取内部编码对应输出一个输出电压值，通过调节寄存器的设定就可以调节输出电压值，在ATE电压测试中，由于精准度的问题，寄存器上的每一个设定对应的输出电压值与预设定的输出电压值范围存在一定的误差值，当误差值不符合规格，即寄存器对应的输出电压值不在预设定的输出电压值范围内时，可通过调节PWM IC与P-Gamma IC的内部编码和寄存器，使输出电压值在预设定的输出电压值范围内，而不需要将PWM IC与P-Gamma IC重新拿去维修或者更换，节约了测试时间，避免了多余的人力资源浪费，降低了生产成本，有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
进一步地，若所述电脑3得到的测试结果为测得的输出板2的输出电压值高于合格电压值范围的上限，则电脑3向测试治具板1发出一控制信号，所述测试治具板1根据该控制信号通过I2C连线改写PWM IC与P-Gamma IC的内部编码，并将相应的寄存器作小一阶设置，将PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值调低至进入于合格电压值范围，调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值被调节至预设定的合格电压值范围内；若所述电脑3得到的测试结果为测得的输出板2的输出电压值低于合格电压值范围的下限，则电脑3向测试治具板1发出另一控制信号，所述测试治具板1根据所述另一控制信号通过I2C连线改写PWM IC与P-Gamma IC的内部编码，并将相应的寄存器作大一阶设置，将PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值调高至进入于合格电压值范围，调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值被调节至预设定的合格电压值范围内。
请参阅图2，结合图1，本发明还提供一种ATE电压测试方法，应用上述如图1所示的ATE电压测试系统，并包括如下步骤：
步骤S1、所述电脑3测量输出板2的输出电压值，并将所述输出板2的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；若电脑3测得的输出板2的输出电压值在合格电压值范围内，则电脑3显示PCBA通过测试，可直接将PCBA归为良品；若电脑3测得的输出板2的输出电压值不在合格电压值范围内，则进行步骤S2；
步骤S2、所述电脑3向测试治具板1发出控制信号，所述测试治具板1根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，再将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板2，从而调节输出板2的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
具体地，所述测试治具板1通过连接线6电性连接输出板2，所述连接线6内设有I2C控制的引脚；所述电脑3通过测试探针5电性连接输出板2及测量输出板2的输出电压值，并通过信号走线7电性连接测试治具板1及传输控制信号。
具体地，所述PCBA内设有PWM IC、及P-Gamma IC，所述输出板2的输出电压值包括PWM IC输出电压值、及P-Gamma IC输出电压值。
具体地，所述测试治具板1根据电脑3发出的控制信号通过I2C连线烧录PWM IC与P-Gamma IC的内部编码并调节寄存器来调整PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值，并将调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而调节输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
具体地，所述控制信号包括SPI控制信号、及I2C控制信号。
需要说明的是，目前的PWM IC与P-Gamma IC使用的是数字控制型IC，即可以通过调节PWM IC与P-Gamma IC内部存储器中的内部编码来调节相应的输出电压值的大小并保存，同时，PWM IC与P-Gamma IC内部设定的寄存器读取内部编码对应输出一个输出电压值，通过调节寄存器的设定就可以调节输出电压值，在ATE电压测试中，由于精准度的问题，寄存器上的每一个设定对应的输出电压值与预设定的输出电压值范围存在一定的误差值，当误差值不符合规格，即寄存器对应的输出电压值不在预设定的输出电压值范围内时，可通过调节PWM IC与P-Gamma IC的内部编码和寄存器，使输出电压值在预设定的输出电压值范围内，而不需要将PWM IC与P-Gamma IC重新拿去维修或者更换，节约了测试时间，避免了多余的人力资源浪费，降低了生产成本，有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
进一步地，若所述电脑3测得的输出板2的输出电压值高于合格电压值范围的上限，则电脑3向测试治具板1发出一控制信号，所述测试治具板1根据该控制信号通过I2C连线改写PWM IC与P-Gamma IC的内部编码，并将相应的寄存器作小一阶设置，将PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值调低至进入于合格电压值范围，调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值被调节至预设定的合格电压值范围内；若所述电脑3测得的输出板2的输出电压值低于合格电压值范围的下限，则电脑3向测试治具板1发出另一控制信号，所述测试治具板1根据所述另一控制信号通过I2C连线改写PWM IC与P-Gamma IC的内部编码，并将相应的寄存器作大一阶设置，将PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值调高至进入于合格电压值范围，调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线6传送至输出板2，从而输出板2的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值被调节至预设定的合格电压值范围内。
综上所述，本发明的ATE电压测试系统，通过电脑测量输出板的输出电压值，并将所述输出板的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；在所述测试结果为测得的输出板的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板发出控制信号；所述测试治具板根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板，从而调节输出板的输出电压值至预设定的合格电压值范围内，能有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。本发明提供的一种ATE电压测试方法，应用本发明的ATE电压测试系统，能够有效地提升ATE电压测试的合格率，提高PCBA的良品率，减少报废率，同时也能够用来管控更精细的伽马电压值，保证PCBA在后续搭配面板得到更好的显示效果。
以上所述，对于本领域的普通技术人员来说，可以根据本发明的技术方案和技术构思作出其他各种相应的改变和变形，而所有这些改变和变形都应属于本发明后附的权利要求的保护范围。

Claims (6)

1.一种ATE电压测试系统，其特征在于，包括：测试治具板(1)、与所述测试治具板(1)电性连接的输出板(2)、以及与所述测试治具板(1)和输出板(2)分别电性连接的电脑(3)；所述测试治具板(1)上放置有待测试的PCBA；其中：
所述测试治具板(1)内设有I2C连线，用于与待测试的PCBA进行通信；
所述电脑(3)，用于测量所述输出板(2)的输出电压值，并将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；及用于在所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时，向测试治具板(1)发出控制信号；
所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，并将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2)，从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
2.如权利要求1所述的ATE电压测试系统，其特征在于，所述测试治具板(1)通过连接线(6)电性连接输出板(2)，所述连接线(6)内设有I2C控制的引脚；所述电脑(3)通过测试探针(5)电性连接输出板(2)及测量输出板(2)的输出电压值，并通过信号走线(7)电性连接测试治具板(1)及传输控制信号。
3.如权利要求2所述的ATE电压测试系统，其特征在于，所述PCBA内设有PWM IC、及P-Gamma IC，所述输出板(2)的输出电压值包括PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值。
4.如权利要求3所述的ATE电压测试系统，其特征在于，所述测试治具板(1)根据电脑(3)发出的控制信号通过I2C连线烧录PWM IC与P-Gamma IC的内部编码并调节寄存器来调整PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值，并将调整后的PWM IC的输出电压值及P-Gamma IC输出电压值经所述连接线(6)传送至输出板(2)，从而调节输出板(2)的PWM IC输出电压值及P-Gamma IC输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
5.如权利要求1所述的ATE电压测试系统，其特征在于，所述控制信号包括SPI控制信号、及I2C控制信号。
6.一种ATE电压测试方法，其特征在于，应用上述权利要求1-5任一项所述的ATE电压测试系统，并包括如下步骤：
步骤S1、所述电脑(3)测量输出板(2)的输出电压值，并将所述输出板(2)的输出电压值与预设定的合格电压值范围进行比较，得到测试结果；若所述测试结果为测得的输出板(2)的输出电压值不在合格电压值范围内时，进行步骤S2；
步骤S2、所述电脑(3)向测试治具板(1)发出控制信号，所述测试治具板(1)根据控制信号通过I2C连线调整待测试的PCBA的输出电压，再将调整后的PCBA的输出电压传送至输出板(2)，从而调节输出板(2)的输出电压值至预设定的合格电压值范围内。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109389920A (zh) * 2018-10-23 2019-02-26 惠科股份有限公司 伽马电压值的检测方法、伽马芯片及计算机可读存储介质
RU2725613C1 (ru) * 2019-12-09 2020-07-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения граничной частоты электролюминесценции локальных областей светоизлучающей гетероструктуры

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20060279310A1 (en) * 2004-12-21 2006-12-14 Teradyne, Inc. Method and system for monitoring test signals for semiconductor devices
CN1979198A (zh) * 2005-12-06 2007-06-13 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 输入/输出板的测试系统及方法
CN101124486A (zh) * 2004-12-17 2008-02-13 泰拉丁公司 使用参数测量单元检测被测器件的电压
CN102426825A (zh) * 2011-10-12 2012-04-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种pwm电压调节电路及其调节方法、液晶显示装置
CN103594065A (zh) * 2013-11-08 2014-02-19 深圳市华星光电技术有限公司 珈玛电压调整装置的调整方法
US20140088910A1 (en) * 2009-08-03 2014-03-27 Sof-Tek Integrators, Inc. Dba Op-Test System and method of testing high brightness led (hbled)
US20150032403A1 (en) * 2013-07-29 2015-01-29 Analog Test Engines, Inc. Systems and methods mitigating temperature dependence of circuitry in electronic devices
CN104660935A (zh) * 2015-02-12 2015-05-27 深圳创维－Rgb电子有限公司 一种t-con电压调整装置、系统及方法
CN105823938A (zh) * 2015-01-04 2016-08-03 上海恩艾仪器有限公司 一种检测输出板卡状态的方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101124486A (zh) * 2004-12-17 2008-02-13 泰拉丁公司 使用参数测量单元检测被测器件的电压
US20060279310A1 (en) * 2004-12-21 2006-12-14 Teradyne, Inc. Method and system for monitoring test signals for semiconductor devices
CN1979198A (zh) * 2005-12-06 2007-06-13 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 输入/输出板的测试系统及方法
US20140088910A1 (en) * 2009-08-03 2014-03-27 Sof-Tek Integrators, Inc. Dba Op-Test System and method of testing high brightness led (hbled)
CN102426825A (zh) * 2011-10-12 2012-04-25 深圳市华星光电技术有限公司 一种pwm电压调节电路及其调节方法、液晶显示装置
US20150032403A1 (en) * 2013-07-29 2015-01-29 Analog Test Engines, Inc. Systems and methods mitigating temperature dependence of circuitry in electronic devices
CN103594065A (zh) * 2013-11-08 2014-02-19 深圳市华星光电技术有限公司 珈玛电压调整装置的调整方法
CN105823938A (zh) * 2015-01-04 2016-08-03 上海恩艾仪器有限公司 一种检测输出板卡状态的方法
CN104660935A (zh) * 2015-02-12 2015-05-27 深圳创维－Rgb电子有限公司 一种t-con电压调整装置、系统及方法

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109389920A (zh) * 2018-10-23 2019-02-26 惠科股份有限公司 伽马电压值的检测方法、伽马芯片及计算机可读存储介质
WO2020082549A1 (zh) * 2018-10-23 2020-04-30 惠科股份有限公司 伽马电压值的检测方法、伽马芯片及计算机可读存储介质
US11120716B2 (en) 2018-10-23 2021-09-14 HKC Corporation Limited Method for detecting gamma voltage value, gamma chip, and computer-readable storage medium
RU2725613C1 (ru) * 2019-12-09 2020-07-03 Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова Российской академии наук Способ измерения граничной частоты электролюминесценции локальных областей светоизлучающей гетероструктуры

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