JP5624743B2

JP5624743B2 - スイッチ制御ユニット、液晶セル組立後検査装置と方法

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Publication number: JP5624743B2
Application number: JP2009232422A
Authority: JP
Inventors: 志龍彭; 祥飛何; 春培樸; 威王
Original assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Current assignee: Beijing BOE Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date: 2008-10-09
Filing date: 2009-10-06
Publication date: 2014-11-12
Anticipated expiration: 2029-10-06
Also published as: KR20100040266A; US20130307575A1; US20100090719A1; US8525540B2; JP2010092052A; CN101719352B; CN101719352A; KR101226532B1; KR20120024902A; US9389245B2

Description

この発明は液晶ディスプレーの製造分野に関し、特に液晶セルの組立後の検査に関する。

現在、TFT-LCD（薄膜トランジスター液晶ディスプレー）の液晶セルの組立後の検査は、データ信号を変更することによって異なる検査画面を実現するのは殆どである。その目的は、各種の液晶表示パネルの不良を、ともに特定の検査画面において、操作員により目で検出して、不良の位置を確定することである。しかし、このようなデータ信号を変更することによって異なる検査画面を実現する検査方式は、ゲート走査信号の検査での重要意義を十分重視しないため、たくさん液晶表示パネルの欠陥、例えば、データラインとゲート走査ラインの短絡不良などは、検査画面において十分に表示されることができない。そこで、このような検査方法は、不良現象を全面的に反映することができなく、同時に、操作員が不良位置の正確な座標情報を獲得し難い、維持、分析と改善について大きな困難をもたらす。

ゲート走査ラインがゲート走査信号を載せる。同一画面で、ある行のゲート走査ラインは、約10〜30μsのTFTターンオン電圧を一回だけ出力し、ターンオン電圧の電圧値が一般的には15〜30ボルトであり、他の期間において、ゲート走査ラインは共にゲート走査信号の出力がターンオフされる状態となり、一般的には-3〜-10ボルトである。データラインに載せる信号電圧は表示しようとする画面情報を示し、一般的には0〜15ボルトである。ノーマリーホワイトモード（Normally White mode）で、公共電極電圧に対する絶対値の最も大きい信号電圧は、黒色の画面情報を示す。

デートラインとゲート走査ラインの短絡不良は、電気短絡によりデートラインとゲート走査ラインが互いに交渉する問題であり、DGS（Data Gate Short Circuit）不良と呼ぶ。DGS不良のあるデータラインは、大部分の時間でゲート走査ラインターンオフ信号（負電圧信号）に制御されるため、データライン方向に沿うって電圧傾斜度を形成し、電圧が短絡交差点で最小となる。

図1に示すように、現在の液晶セル組立後検査装置は、検査信号発生器200と、直流モジュール300と、前述検査信号発生器200に接続されるシーケンス制御器400と、前述直流モジュール300とシーケンス制御器400に接続されるゲート駆動器500と、及び前述シーケンス制御器400に接続されるソース駆動器600とを備える。検査する時、検査信号発生器200が検査信号を生成してシーケンス制御器400に入力し、直流モジュール300がハイレベル信号とローレベル信号を生成し、ゲート駆動器500はシーケンス制御器400が生成するフレームオン制御信号によって、ハイレベル信号とローレベル信号を変調してゲート走査信号を出力し、同時に、シーケンス制御器400は階調画面信号を出力し、ソース駆動器600により画素ユニットを駆動して、スクリーンで検査結果の画面を表示可能である。

図2に示すように、組立後の検査において、例えば従来のL0検査画面で、DGS不良のあるデータライン方向に電圧傾斜度を形成するため、短絡したデータラインが存在する所、輝度が次第に変化する線を現し、しかし、位置が不明瞭である。DGS不良のあるゲート走査ラインは、オン信号が出力される時、データラインでの階調画面信号の影響を受けて電圧が下げ、当該行の全てのTFT充電電流が下げることをもたらし、即ち、充電不足となり、オフ信号が出力される時、データラインでの階調画面信号の影響を受けて電圧が上げ、当該行の全てのTFTオフ電流が上げることをもたらし、即ち、維持することができない。しかし、当該行の各画素電極電圧がゲート走査ラインとデータラインと間の短絡の影響を受けるが、正常の順次走査過程中、このような影響は、隣接行に比べると、はっきり現わして操作員に識別されることができない。そこで、問題のあるゲート走査ラインとデータラインの交差点を確定することができない、即ち、DGS不良の位置が不明瞭である。

本発明の目的は、液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御することができるスイッチ制御ユニットを提供することにある。
上記の目的を達成するために、本発明の一つの実施例は、以下の技術方案を採用する。
液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられるスイッチ制御ユニットであって、
制御信号発生器と、
前述制御信号発生器に接続されるスイッチモジュールとを備え、
前述制御信号発生器は、周期的な制御信号を生成するために用いられ、
前述スイッチモジュールは、前述制御信号に基づいて液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられる
ことを特徴とするスイッチ制御ユニット。
本発明に係るスイッチ制御ユニットは、制御信号発生器とスイッチモジュールを設置することにより、制御信号発生器が生成する周期的な制御信号を用いて液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御する目的を実現する。

本発明は、液晶表示パネルの不良位置を検出することができる液晶セル組立後検査装置を更に提供する。
上記の目的を達成するために、本発明の一つの実施例は、以下の技術方案を採用する。
液晶セル組立後検査装置であって、
検査信号発生器と、
直流モジュールと、
前述検査信号発生器に接続されるシーケンス制御器と、
前述直流モジュールとシーケンス制御器に接続されるゲート駆動器と、
前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器と、
前述ゲート駆動器に接続されるスイッチ制御ユニットと、を備える。
その中、前述検査信号発生器は、検査信号を生成するために用いられ、
前述直流モジュールは、ハイレベル信号とローレベル信号を生成するために用いられ、
前述シーケンス制御器は、前述検査信号に基づいてフレームオン制御信号と階調画面信号を生成するために用いられ、
前述ゲート駆動器は、前述フレームオン制御信号、ハイレベル信号とローレベル信号の制御で、ゲート走査信号を生成するために用いられ、
前述ソース駆動器は、前述階調画面信号を用いて液晶セル内の画素ユニットを駆動するために用いられ、
前述スイッチ制御ユニットは、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、前述ゲート走査信号のオン/オフを制御する。

本発明は、検査信号発生器、直流モジュール、前述検査信号発生器に接続されるシーケンス制御器、前述直流モジュールとシーケンス制御器に接続されるゲート駆動器、及び前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器を設置し、前述ゲート駆動器に接続され、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート駆動器から出力する前述ゲート走査信号のオン/オフを制御するスイッチ制御ユニットを更に設置することにより、スクリーンで液晶表示パネルの不良位置を検出することができる。

本発明は、更に液晶表示パネルの不良位置を検出することができる液晶セル組立後検査方法を提供する。
上記の目的を達成するために、本発明の一つの実施例は、以下の技術方案を採用する。
検査信号を入力するステップと、
ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御してスクリーンでの不良位置を確定するステップとを備えることを特徴とする液晶セル組立後検査方法。
本発明が提供する液晶セル組立後検査方法は、検査信号を入力し、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフをさらに制御してゲート走査信号のオン/オフを制御することにより、スクリーンで液晶表示パネルの不良位置を検出することができる。

従来技術に係る液晶セル組立後検査装置の模式図である。従来技術に係る液晶セル組立後でLO階調画面においてDGS不良を検査する時に表示する画面である。本発明に係るスイッチ制御ユニットの模式図である。本発明に係るスイッチ制御ユニットの実施例1の模式図である。本発明に係るスイッチ制御ユニットの実施例2の模式図である。本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例1の模式図である。本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例1の信号模式図である。本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例1のL0階調画面においてDGS不良を検査する時表示する画面である。本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例1のL127階調画面において“碁盤ムラ”不良を検査する時表示する画面である。は本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例2の模式図である。は本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例2の直流モジュールの模式図である。本発明に係る液晶セル組立後検査装置の実施例2の信号模式図である。本発明に係る液晶セル組立後検査方法のフローチャートである。本発明に係る液晶セル組立後検査方法の実施例1のフローチャートである。本発明に係る液晶セル組立後検査方法の実施例2のフローチャートである。

以下、図面を参照して、本発明に係る液晶セル組立後検査装置と方法について詳細に説明する。

本発明は、液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御することができるスイッチ制御ユニットを提供する。
図3に示すように、本発明のスイッチ制御ユニットは、液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられる。前述スイッチ制御ユニットは、制御信号発生器110、制御信号発生器110に接続されるスイッチモジュール120を備える。
前述制御信号発生器110は、周期的な制御信号を生成するために用いられる。
前述スイッチモジュール120は、前述制御信号に基づいて液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられる。
本発明のスイッチ制御ユニットは、制御信号発生器とスイッチモジュールを設置することによって、制御信号発生器が生成する周期的な制御信号を利用して、液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御することを実現する。

スイッチ制御ユニットの実施例1
本実施例に係るスイッチ制御ユニットは、ゲート駆動器信号の出力制御に適用され、ゲート駆動器に入力されるフレームオン信号のオン/オフを制御することによって、ゲート駆動器が出力するゲート走査信号のオン/オフを制御する。

図4に示すように、本実施例に係るスイッチ制御ユニットは、制御信号発生器110及び制御信号発生器110に接続される光スイッチ130を備え、前記制御信号発生器110と光スイッチ130との間に一つの保護抵抗Rを設置している。光スイッチ130のもう一つの端子がアースに接続される。使用時には、光スイッチ130の端子Cがシーケンス制御器に接続されるため、端子Cから光スイッチに入力される信号がフレームオン制御信号であり、図7に示すようなV2となる。

図7に示すように、制御信号発生器110は方形波信号V1を生成するために用いられる。光スイッチ130はV1に基づいて前述フレームオン制御信号V2のオン/オフを制御する。方形波信号V1がハイレベルである時、フレームオン制御信号V2が端子Dから出力されるように制御され、方形波信号V1がローレベルである時、フレームオン制御信号V2がオフされるように制御されるため、端子Dから出力しない。図7に示すV2’は制御された後ゲート駆動器に入力される信号であり、Vsはゲート駆動器から各行のゲート走査ラインに出力するゲート走査信号であるため、ゲート駆動器が出力するゲート走査信号のオン/オフを制御することができる。

本実施例におけるスイッチ制御ユニットは、ソース駆動器信号の出力制御にも適用でき、ソース駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することによって、ソース駆動器から出力する信号のオン/オフを制御する。

スイッチ制御ユニットの実施例2
本実施例に係るスイッチ制御ユニットは、ゲート駆動器信号の出力制御に適用される。直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号、及びフレームオン制御信号はゲート駆動器に入力されて、ゲート走査信号を生成することができる。本実施例に係るスイッチ制御ユニットは、直流モジュールが生成する、ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御することによって、ゲート駆動器から出力されるゲート走査信号のオン/オフを制御する。

図5に示すように、本実施例に係るスイッチ制御ユニットは、制御信号発生器110、及び制御信号発生器110に接続されるスイッチモジュール120を備える。具体的には、スイッチモジュール120が第1スイッチモジュール121と第2スイッチモジュール122を備える。

図12に示すように、制御信号発生器110は方形波信号V1を生成する。第1スイッチモジュール121のE端子が直流モジュールのハイレベル出力端子に接続され、第2スイッチモジュール122のF端子が直流モジュールのローレベル出力端子に接続される。直流モジュールが出力するハイレベル信号とローレベル信号は、それぞれ図12に示すV3とV4である。方形波V1がハイレベルとなる時、第1スイッチモジュール121はV3が端子Gから出力されるように制御し、第2スイッチモジュール122はV4が端子Hから出力されるように制御する。方形波V1がローレベルとなる時、第1スイッチモジュール121と第2スイッチモジュール122は、端子G、Hから信号を出力しないようにそれぞれ制御する。図12に示すV3’とV4’は、スイッチモジュール120により制御された後それぞれ端子G、Hから出力する信号であり、Vsはゲート駆動器から各行のゲート走査ラインに出力するゲート走査信号であるため、ゲート駆動器が出力するゲート走査信号のオン/オフを制御する。

シーケンス制御器からソース駆動器に入力する信号が多いため、本実施例に提供するスイッチ制御ユニットを利用し、目的を持って二つの信号を選択するように制御して、ソース駆動器信号の出力を制御することができる。

本発明に係るスイッチ制御ユニットは、方形波を生成するための制御信号発生器と、前述方形波に基づいて液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するためのスイッチモジュールを備える。本装置は液晶セルのゲート駆動器に接続される時、ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号或いは直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御することができ、そこでゲート走査信号のオン/オフを制御することができる。本装置は液晶セルのソース駆動器に接続される時、ソース駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することができ、そこでソース駆動器から出力する信号オン/オフを制御することができる。本発明は、液晶セルの組立後の検査に適用し、ゲート駆動器或いはソース駆動器の信号出力を制御することによって、液晶表示パネルの不良位置あるいは不良タイプを検出することができる。

本発明は、検査信号発生器と、直流モジュールと、前述検査信号発生器に接続されるシーケンス制御器と、前述直流モジュールとシーケンス制御器に接続されるゲート駆動器と、前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器と、前述ゲート駆動器に接続されるスイッチ制御ユニットと、を備える液晶セル組立後検査装置を提供する。

その中、前述検査信号発生器は、検査信号を生成するために用いる。
前述直流モジュールは、ハイレベル信号とローレベル信号を生成するために用いる。
前述シーケンス制御器は、前述検査信号に基づいてフレームオン制御信号と階調画面信号を生成するために用いる。
前述ゲート駆動器は、前述フレームオン制御信号、ハイレベル信号とローレベル信号の制御で、ゲート走査信号を生成するために用いる。
前述ソース駆動器は、前述階調画面信号を用いて液晶セル内の画素ユニットを駆動する。
前述スイッチ制御ユニットは、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、前述ゲート走査信号のオン/オフを制御する。

本発明は、検査信号発生器と、直流モジュールと、前述検査信号発生器に接続されるシーケンス制御器と、前述直流モジュールとシーケンス制御器に接続されるゲート駆動器と、前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器とを設置し、更に前述ゲート駆動器に接続され、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、前述ゲート走査信号のオン/オフを制御するスイッチ制御ユニットを設置することにより、スクリーンで液晶表示パネルの不良位置を検出することができる。

検査装置の実施例１
図6に示すように、本発明の実施例１の液晶セル組立後検査装置は、検査信号発生器200、直流モジュール300、前述検査信号発生器200に接続されるシーケンス制御器400、前述直流モジュール300とシーケンス制御器400に接続されるゲート駆動器500、シーケンス制御器400に接続されるソース駆動器600、及び前述シーケンス制御器400とゲート駆動器500との間に接続されるスイッチ制御ユニット100、を備える。また、ゲート駆動器の出力端が液晶セルAのゲート走査ラインに接続され、ソース駆動器600の出力端が液晶セルAのデータラインに接続される。

その中、前述検査信号発生器200は、検査信号を生成するために用いる。
前述直流モジュール300は、ハイレベル信号とローレベル信号を生成するために用いる。
前述シーケンス制御器400は、前述検査信号に基づいてフレームオン制御信号と階調画面信号を生成するために用いる。
前述ゲート駆動器500は、ハイレベル信号、ローレベル信号と前述フレームオン制御信号の制御で、ゲート走査信号を生成するために用いる。
前述ソース駆動器600は、前述階調画面信号を用いて液晶セル内の画素ユニットを駆動する。
前述スイッチ制御ユニット100は、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、前述ゲート走査信号のオン/オフを制御する。

図4に示すように、本実施例において、前述スイッチ制御ユニット100は、制御信号発生器110と光スイッチ130を備える。
制御信号発生器110は周期的な方形波信号を生成する。前述周期的な方形波信号の周期が前述フレームオン制御信号の周期より大きい。図7に示すように、V1が方形波信号であり、V2がフレームオン制御信号であり、V1の周期がV2の周期より大きい。
光スイッチ130のC端子がシーケンス制御器400に接続され、D端子がゲート駆動器500に接続される。光スイッチ130は、保護抵抗Rを介して制御信号発生器110に接続され、光スイッチ130のもう一つの端子がアースに接続される。
光スイッチ130は、方形波信号V1がハイレベルである時、フレームオン制御信号V2が端子Dから前述ゲート駆動器500に入力されるように制御され、方形波信号V1がローレベルである時、フレームオン制御信号V2がオフされるように制御される。図5に示すように、V2’はスイッチ制御ユニット100を通過した後ゲート駆動器500に入力される信号であり、Vsはゲート駆動器500から各行のゲート走査ラインに出力するゲート走査信号である。

以下、本実施例の動作原理を紹介する。液晶セル中の液晶表示パネルにおいてDGS不良があれば、L0階調画面信号を用いて検査した結果、検査過程中、図8における左側図に示す画面が現す。当該左側図における輝度が次第に変化する線はDGS不良のあるデータラインの位置を示す。スイッチ制御ユニットによりゲート駆動器を制御してゲート走査信号を外に出力できない場合、各画素のTFTがオフ状態となり、画素電極が充放電できないため、維持状態となるが、DGS不良のあるゲート走査ラインは、データライン信号が短絡することの影響を受けて電圧が上げて、当該行のTFT部分がオンされ、漏れ電流が隣接行の画素ユニットより大きくなり、そして、図8における右側図に示すような白色或いはグレーの線或いは次第に変化する線を生成する。制御ユニットが周期的な制御を行うこと及び目の残留効果によって、スクリーンにおいて縦方向の明るい線と横方向の白い線が同時に現すことが見える。この時、操作員は縦方向の明るい線の横座標と横方向の白い線の縦座標を確定して、或いは他の位置決め装置を使って、DGS不良の位置を見つけることができる。

尚、画面ムラ問題も液晶表示パネルの品質の主な問題の一つであり、組立工程によるセル厚さの不均一が引き起こす画面ムラ、アレイ基板集積回路工程において各画素TFT特性の差別による画面ムラ、及び各画素容量の差別による画面ムラなどがある。これらの液晶表示パネルの品質問題は、従来の液晶セル組立後検査方法を用いて簡単に区別できなくて、これらの不良を強化してこそ、初めて人の目で識別することができる。例えば、液晶表示パネルの“碁盤ムラ”不良についても、本発明に係る検査装置の実施例１を利用して検査することができる。例えば、L127階調画面信号を採用して検査を行う場合、検査信号が入力された後、スクリーンにおいて表示する結果が図9における左側図の様に示される。スイッチ制御ユニットによりゲート走査信号をターンオフするように制御する時、スクリーンにおいて表示する検査結果が図9における右側図の様に示される。ゲート走査信号をオフするように周期的に制御することによって、左側図と右側図の画面の切り換えること、及び目の残留効果によって、“碁盤ムラ”不良の位置をはっきり確定することができる。異なるタイプの液晶表示パネルの不良はスクリーンにおいて表示する画面が異なるため、本実施例に係る液晶セル組立後検査装置が異なるタイプの液晶表示パネルの不良を区別することができる。

検査装置の実施例2
本実施例の構造図が図10に示す。本実施例と検査装置実施例1との区別は、スイッチ制御ユニット100は、直流モジュール300とゲート駆動器500との間に接続され、直流モジュール300が生成するハイレベル信号とローレベル信号を、前述ゲート駆動器500に入力させ或いはオフさせるように周期的に制御する。

図11に示すように、前述直流モジュール300は第1直流モジュール310と第2直流モジュール320を備え、前述第1直流モジュール310がハイレベル信号を生成するために用い、前述第2直流モジュール320がローレベル信号を生成するために用いる。

図5に示すように、スイッチ制御ユニット100は制御信号発生器110とスイッチモジュール120を備える。スイッチモジュール120は、直流モジュール300とゲート駆動器500との間に接続される。スイッチモジュール120は、第1スイッチモジュール121と第2スイッチモジュール122を備え、第1スイッチモジュール121がE端子により第1直流モジュール310に接続され、第2スイッチモジュール122がF端子により第2直流モジュール320に接続される。

図12に示すように、V1は制御信号発生器110が生成する方形波信号であり、V3、V4はゲート駆動器500に入力されるハイレベル信号とローレベル信号である。第1スイッチモジュール121は方形波信号V1に基づいて前述ハイレベル信号V3のオン/オフを制御し、第2スイッチモジュール122は方形波信号V1に基づいて前述ローレベル信号V4のオン/オフを制御する。V3’、V4’はスイッチ制御ユニット100を通過した後G、H端子からゲート駆動器500に入力される信号である。Vsは、ゲート駆動器500から各行のゲート走査ラインに出力されるゲート走査信号である。

本実施例は、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することにより、ゲート走査信号のオン/オフを制御して、検査装置の実施例1におけるDGS不良の検査を実現することができる。

本発明の実施例は、検査信号発生器、直流モジュール、シーケンス制御器、前述直流モジュールとシーケンス制御器に接続されるゲート駆動器、前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器、及び前述シーケンス制御器と前述ゲート駆動器との間に接続され或いは前述直流モジュールと前述ゲート駆動器との間に接続されるスイッチ制御ユニットを設置し、かつその中、スイッチ制御ユニットが、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して前述ゲート走査信号のオン/オフを制御することにより、検査画面に不良の位置を表示することができる。尚、本発明の実施例は、前述スイッチ制御ユニットを前述シーケンス制御器とゲート駆動器との間に接続されることを好適に選択する時、液晶表示パネルの不良タイプの検査を実現することができる。異なる不良タイプはスクリーンで異なる画面を表示するため、本発明は他のタイプの液晶表示パネル不良を検査することができる。

本発明は、液晶表示パネルの不良位置を検査することができる液晶セル組立後検査方法も提供する。
図13に示すように、本実施例の液晶セル組立後検査方法は、
S1301、検査信号を入力し、
S1302、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することによって、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルでの不良位置を確定するステップを備える。

本発明は、検査信号を入力し、更に、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することによって、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルでの不良位置を検出することができる。

方法実施例1
図14に示すように、本実施例において、液晶セル組立後検査方法は、以下のステップを備える：
S1401、特定な検査信号をシーケンス制御器に入力する。
S1402、ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを周期的に制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御する。
具体的には、方形波信号によりゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを制御し、前述方形波信号がハイレベルである時、前述フレームオン制御信号を前述ゲート駆動器に入力するように制御され、方形波信号がローレベルである時、前述フレームオン制御信号がオフされるように制御される。前述方形波信号が図7に示すV1であり、フレームオン制御信号が図7に示すV2であり、かつV1の周期はV2の周期より大きい。V2’はV1に制御された後ゲート駆動器に入力される信号であり、Vsはゲート駆動器から各行のゲート走査ラインに出力するゲート走査信号である。
これから分かるように、V1がハイレベルである時、ゲート駆動器はゲート走査信号を生成してゲート走査ラインに出力することができ、V1がローレベルである時、ゲート駆動器はゲート走査信号を出力できない。
本実施例において、ゲート走査信号のオン/オフを周期的に制御すると共に、前述検査信号をシーケンス制御器により変調した後ソース駆動器にL0階調画面信号を出力し、そしてソース駆動器がL0階調画面信号を利用して液晶表示パネルでの画素ユニットを駆動する。
S1403、スクリーンで表示する画面に基づいて、液晶表示パネルにおける不良の位置を確定する。

もし液晶セル中の液晶表示パネルにおいてDGS不良があれば、検査過程中、図8における左側図に示す画面が現す。当該図における輝度が次第に変化する線はDGS不良のあるデータラインの位置を示す。フレームオン制御信号をオフするように制御することにより、ゲート駆動器にゲート走査信号を外に出力させることができない場合、各画素のTFTがオフ状態となり、画素電極が充放電できないため、維持状態となるが、DGS不良のあるゲート走査ラインは、短絡によるデータラインの階調画面信号の影響を受けて電圧が上げて、当該行のTFTが部分的にオンされ、漏れ電流が隣接行の画素ユニットより大きくなり、そして、図8における右側図に示すような白色或いはグレーの線或いは次第に変化する線を生成する。ゲート走査信号の出力に対して周期的な制御を行うこと及び目の残留効果によって、スクリーンにおいて縦方向の明るい線と横方向の白い線が同時に現すことが見える。この時、操作員は縦方向の明るい線の横座標と横方向の白い線の縦座標を確定して、或いは他の位置決め装置を使って、DGS不良の位置を見つけることができる。

具体的には、それぞれ異なる液晶表示パネルの不良を検査するためには異なる検査信号を採用すべきだ。例えば、液晶表示パネルの“碁盤ムラ”不良について、本発明に係る方法の実施例１を利用して検査することができる。例えば、L127階調画面信号を採用してソース駆動器に入力して検査を行う場合、スクリーンで表示する検査結果が図9における左側図の様に示される。スイッチ制御ユニットによりゲート走査信号をターンオフするように制御する時、スクリーンで表示する結果が図9における右側図の様に示される。ゲート走査信号のオン/オフを周期的に制御することによって、左側図と右側図の画面の切り換えること、及び目の残留効果によって、“碁盤ムラ”不良の位置をはっきり確定することができる。そこで、不良位置の他、液晶表示パネルの不良タイプも検査することができる。異なる不良タイプはスクリーンで異なる画面を表示するため、本発明は液晶表示パネルのほかの不良を検出することができる。

方法実施例2
図15に示すように、本実施例において、液晶セル組立後検査方法は、以下のステップを備える：
S1501、特定な検査信号をシーケンス制御器に入力する。
S1502、直流モジュールが生成する、ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを周期的に制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御する。具体的には、方形波信号によりゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御し、前述方形波信号がハイレベルである時、前述直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号を前述ゲート駆動器に入力するように制御され、前述方形波信号がローレベルである時、直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号がオフされるように制御される。図12に示すのは、方形波信号V1、前述ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号V3とローレベル信号V4の模式図である。これから分かるように、V1がハイレベルである期間、V3とV4がゲート駆動器に入力されるため、ゲート駆動器の出力端がゲート走査ラインにゲート走査信号を出力することができる。V1がローレベルである期間、V3とV4がターンオフされるため、ゲート駆動器の出力端が外にゲート走査信号を出力することができない。V3’とV4’は、V1により制御された後ゲート駆動器に入力される信号であり、Vsはゲート駆動器から各行のゲート走査ラインに出力するゲート走査信号である。
ゲート走査信号のオン/オフを周期的に制御すると共に、前述検査信号をシーケンス制御器により変調した後ソース駆動器にL0階調画面信号を出力し、そしてソース駆動器がL0階調画面信号を利用して液晶表示パネルでの画素ユニットを駆動する。
S1503、スクリーンで表示する画面に基づいて、前述スクリーンでの不良位置を確定する。もし液晶表示パネルにおいてDGS不良があれば、ソース駆動器に入力されるのはL0階調画面信号であるため、スクリーンで図8における左側図と右側図が切り替えて現す画像を示し、目の残留効果によって、縦方向の明るい線の横座標と横方向の白い線の縦座標を確定することによって、或いは他の位置決め装置を使って、DGS不良の具体的な位置を確定することができる。

本発明が提供する液晶セル組立後検査方法は、検査信号を入力して、さらにゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御してゲート走査信号のオン/オフを制御し、検査画面において不良位置を表示することができる。本発明の方法の実施例1は、ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを制御して、さらに液晶表示パネルの他の不良タイプ、例えば、各種の画面ムラ問題を引き起こる液晶表示パネルの不良を検出することができる。

以上に説明するのは、本発明の具体的な実施方式だけであり、本発明の保護範囲がこれに限られなく、本技術領域を熟知する技術者が本発明の開示する技術範囲において容易に思い当る変化或いは入り替えは、本発明の保護範囲に含められる。本発明の保護範囲は請求の範囲の保護範囲を基準とする。

100 スイッチ制御ユニット
110 制御信号発生器
120 スイッチモジュール
121 第1スイッチモジュール
122 第2スイッチモジュール
130 光スイッチ（LAS（Light Activated Switch））
200 検査信号発生器
300 直流モジュール
310 第1直流モジュール
320 第2直流モジュール
400 シーケンス制御器
500 ゲート駆動器
600 ソース駆動器
A 液晶セル

Claims

液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられるスイッチ制御ユニットであって、
制御信号発生器と、
前述制御信号発生器に接続されるスイッチモジュールとを備え、
前述制御信号発生器は、周期的な制御信号を生成するために用いられ、
前述スイッチモジュールは、前述制御信号に基づいて液晶ディスプレー駆動器に入力される信号を制御して液晶ディスプレー駆動器信号の出力を制御するために用いられ、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御することを特徴とするスイッチ制御ユニット。
前述制御信号が方形波信号であることを特徴とする請求項1に記載のスイッチ制御ユニット。
前述スイッチモジュールは光スイッチであって、
前述光スイッチは前述方形波信号に基づいて前述液晶ディスプレー駆動器に入力される信号のオン/オフを制御することを特徴とする請求項2に記載のスイッチ制御ユニット。
前述制御信号発生器と光スイッチとの間に接続される保護抵抗を更に備えることを特徴とする請求項3に記載のスイッチ制御ユニット。
前述スイッチモジュールは、前述制御信号発生器に接続される第1スイッチモジュールと第2スイッチモジュールとを備え、
前述第1スイッチモジュールは前述方形波信号に基づいて前述液晶ディスプレー駆動器に入力される第1信号のオン/オフを制御し、
前述第2スイッチモジュールは前述方形波信号に基づいて前述液晶ディスプレー駆動器に入力される第2信号のオン/オフを制御することを特徴とする請求項2に記載のスイッチ制御ユニット。
前述第1信号はゲート駆動器に入力されるハイレベルの信号であって、
前述第2信号はゲート駆動器に入力されるローレベルの信号であることを特徴とする請求項5に記載のスイッチ制御ユニット。
前述液晶ディスプレー駆動器がゲート駆動器或いはソース駆動器であることを特徴とする請求項1乃至請求項5のいずれの一つに記載のスイッチ制御ユニット。
検査信号発生器と、
直流モジュールと、
前述検査信号発生器に接続されるシーケンス制御器と、
前述直流モジュールとシーケンス制御器とに接続されるゲート駆動器と、
前述シーケンス制御器に接続されるソース駆動器と、を備え、
前述検査信号発生器は、検査信号を生成するために用いられ、
前述直流モジュールは、ハイレベル信号とローレベル信号を生成するために用いられ、
前述シーケンス制御器は、前述検査信号に基づいてフレームオン制御信号と階調画面信号を生成するために用いられ、
前述ゲート駆動器は、前述フレームオン制御信号、ハイレベル信号とローレベル信号の制御で、ゲート走査信号を生成するために用いられ、
前述ソース駆動器は、前述階調画面信号を用いて液晶セル内の画素ユニットを駆動するために用いられる液晶セル組立後検査装置において、
前述ゲート駆動器に接続され、ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、前述ゲート走査信号のオン/オフを制御するスイッチ制御ユニットをさらに備えることを特徴とする液晶セル組立後検査装置。
前述スイッチ制御ユニットが前述シーケンス制御器と前述ゲート駆動器との間に接続されることを特徴とする請求項8に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述スイッチ制御ユニットは、
周期的な制御信号であり、かつその周期が前述フレームオン制御信号の周期より大きい制御信号を生成する制御信号発生器と、
前述ゲート駆動器と前述シーケンス制御器との間に接続され、かつ制御信号発生器に接続され、前述制御信号に基づいて前述ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを制御する光スイッチとを備えることを特徴とする請求項9に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述スイッチ制御ユニットは、前述制御信号発生器と光スイッチとの間に接続される保護抵抗を更に備えることを特徴とする請求項10に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述スイッチ制御ユニットは前述直流モジュールと前述ゲート駆動器との間に接続されることを特徴とする請求項8に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述スイッチ制御ユニットは、
周期的な制御信号を生成する制御信号発生器と、
前述直流モジュールと前述ゲート駆動器との間に接続され、かつ前述制御信号発生器に接続され、前述制御信号に基づいて前述ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御するスイッチモジュールとを備えることを特徴とする請求項12に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述直流モジュールは、
ハイレベル信号を生成するための第1直流モジュールと、
ローレベル信号を生成するための第2直流モジュールと、を備え、
前述スイッチモジュールは、
前述制御信号に基づいて前述ハイレベル信号のオン/オフを制御する第1スイッチと、
前述制御信号に基づいて前述ローレベル信号のオン/オフを制御する第2スイッチとを備えることを特徴とする請求項13に記載の液晶セル組立後検査装置。
前述制御信号が方形波であることを特徴とする請求項10、11、13、14のいずれか一つに記載の液晶セル組立後検査装置。
液晶セル組立後検査方法であって、
検査信号を入力するステップと、
ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルの不良位置を確定するステップとを備えることを特徴とする液晶セル組立後検査方法。
ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルの不良位置を確定するステップは、
ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを周期的に制御してゲート走査信号のオン/オフを制御するステップと、
スクリーンで表示する画面に基づいて、液晶表示パネルでの不良位置を確定するステップとを備えることを特徴とする請求項16に記載の液晶セル組立後検査方法。
ゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを周期的に制御してゲート走査信号のオン/オフを制御するステップは、
方形波信号によりゲート駆動器に入力されるフレームオン制御信号のオン/オフを制御し、前述方形波信号がハイレベルである時、前述フレームオン制御信号を前述ゲート駆動器に入力するように制御され、方形波信号がローレベルである時、前述フレームオン制御信号がオフされるように制御されるステップを備えることを特徴とする請求項17に記載の液晶セル組立後検査方法。
前述方形波信号の周期が前述フレームオン制御信号の周期より大きいことを特徴とする請求項18に記載の液晶セル組立後検査方法。
ゲート駆動器に入力される信号のオン/オフを制御して、ゲート走査信号のオン/オフを制御して液晶表示パネルの不良位置を確定するステップは、
直流モジュールが生成する、ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御するステップと、
スクリーンで表示する画面に基づいて、液晶表示パネルでの不良位置を確定するステップとを備えることを特徴とする請求項16に記載の液晶セル組立後検査方法。
前述直流モジュールが生成する、ゲート駆動器に入力されるハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御するステップは、
方形波信号により前述直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号のオン/オフを制御するステップと、
前述方形波信号がハイレベルである時、前述直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号を前述ゲート駆動器に入力するように制御するステップと、
前述方形波信号がローレベルである時、直流モジュールが生成するハイレベル信号とローレベル信号がオフされるように制御するステップとを備えることを特徴とする請求項20に記載の液晶セル組立後検査方法。