KR102549004B1 - 점등 검사 장치, 점등 검사 방법 및 점등 검사 시스템 - Google Patents

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Abstract

표시 패널을 검사하기 위한 점등 검사 장치는, 일단에 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들이 형성되고, 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들을 통해 상기 표시 패널과 접속되는 연결부, 및 상기 제1 접속 테스트 패드로 접속 테스트 신호를 출력하고, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 검사 회로를 포함한다.

Description

점등 검사 장치, 점등 검사 방법 및 점등 검사 시스템{LIGHTING TEST DEVICE, LIGHTING TEST METHOD AND LIGHTING TEST SYSTEM}
본 발명은 표시 패널이 정상적으로 점등되는 지의 여부를 검사하는 점등 검사 장치 및 방법에 관한 것이다.
유기 발광 표시 장치는 자발광 소자인 유기 발광 다이오드를 이용하여 영상을 표시하는 것으로, 휘도 및 색순도가 뛰어나 차세대 표시 장치로 주목받고 있다. 이와 같은 유기 발광 표시 장치는 적색 화소들, 녹색 화소들 및 청색 화소들을 이용하여 표시 패널을 구성하며, 이를 통해 다양한 컬러 영상을 표시한다.
유기 발광 표시 장치를 제조하는 과정에서 표시 패널과 구동 회로들을 접속하기 전에 표시 패널에 구비된 적색 화소들, 녹색 화소들 및 청색 화소들의 점등 상태를 테스트하기 위한 점등 검사 장치가 필요하다.
본 발명의 목적은 표시 패널의 점등 상태를 테스트하기 위한 점등 검사 장치 및 검사 방법을 제공하는데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 일 특징에 의하면, 점등 검사 장치는: 일단에 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들이 형성되고, 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들을 통해 표시 패널과 접속되는 연결부 및 상기 제1 접속 테스트 패드로 접속 테스트 신호를 출력하고, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 검사 회로를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 접속 테스트 신호를 생성해서 상기 제1 접속 테스트 패드로 제공하는 테스트 신호 생성 회로, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 상기 피드백 신호를 수신하고, 상기 피드백 신호의 전압 레벨을 감지하여 감지 전압 신호를 출력하는 전압 감지 회로 및 상기 접속 테스트 신호 및 상기 감지 전압 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 보상 회로를 포함한다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 저항은 가변 저항이며, 상기 전압 감지 회로는 상기 가변 저항의 저항값을 변경하기 위한 저항 가변 신호를 상기 가변 저항으로 제공할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 연결부는 상기 표시 패널과 접속되는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 더 출력하고, 상기 제4 접속 테스트 패드를 통해 제2 피드백 신호를 더 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 연결부는, 상기 연결부 상에 배열되고, 상기 제3 접속 테스트 패드 및 상기 제4 접속 테스트 패드를 전기적으로 연결하기 위한 신호 배선을 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호의 전압 차 및 상기 제2 접속 테스트 신호와 상기 제2 피드백 신호의 전압 차가 기준값보다 클 때 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시킬 수 있다.
이 실시예에서, 상기 연결부는 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board)으로 구성될 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들을 포함하는 점등 검사 장치의 점등 검사 방법은: 상기 제1 접속 테스트 패드로 접속 테스트 신호를 출력하는 단계, 상기 제2 접속 테스트 패드로부터 피드백 신호를 수신하는 단계, 및 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 단계를 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 점등 검사 장치는 상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 저항은 가변 저항으로 구성되며, 상기 가변 저항의 저항값을 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 점등 검사 장치는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함하며, 상기 점등 검사 방법은 상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 출력하는 단계, 상기 제4 접속 테스트 패드로부터 제2 피드백 신호를 수신하는 단계, 및 상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 전압 레벨 정정 단계는, 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호의 전압 차 및 상기 제2 접속 테스트 신호와 상기 제2 피드백 신호의 전압 차가 기준값보다 클 때 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시킬 수 있다.
본 발명의 다른 특징에 따른 점등 검사 시스템은: 복수의 화소들이 배열된 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 표시 패널 및 상기 표시 패널의 상기 복수의 화소들의 점등 상태를 검사하기 위한 점등 검사 장치를 포함한다. 상기 점등 검사 장치는, 일단에 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들이 형성되고, 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들을 통해 상기 표시 패널과 접속되는 연결부 및 상기 제1 접속 테스트 패드로 접속 테스트 신호를 출력하고, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 검사 회로를 포함한다. 상기 표시 패널은, 상기 비표시 영역의 일단에 구비된 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들과 접속되는 제1 접속 패드, 제2 접속 패드 및 복수의 패드들 및 상기 비표시 영역에 배열되고, 상기 제1 접속 패드와 상기 제2 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트 신호 배선을 포함한다.
이 실시예에서, 상기 테스트 신호 배선은, 상기 표시 영역의 외측에서 상기 표시 영역을 둘러싸도록 형성될 수 있다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 접속 테스트 신호를 생성해서 상기 제1 접속 테스트 패드로 제공하는 테스트 신호 생성 회로, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 상기 피드백 신호를 수신하고, 상기 피드백 신호의 전압 레벨을 감지하여 감지 전압 신호를 출력하는 전압 감지 회로. 및 상기 접속 테스트 신호 및 상기 감지 전압 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 보상 회로를 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 검사 회로는, 상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 저항은 가변 저항이며, 상기 전압 감지 회로는 상기 가변 저항의 저항값을 변경하기 위한 저항 가변 신호를 상기 가변 저항으로 제공할 수 있다.
상기 연결부는 상기 표시 패널과 접속되는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함하며, 상기 검사 회로는, 상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 더 출력하고, 상기 제4 접속 테스트 패드를 통해 제2 피드백 신호를 더 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다.
이 실시예에서, 상기 연결부는, 상기 연결부 상에 배열되고, 상기 제3 접속 테스트 패드 및 상기 제4 접속 테스트 패드를 전기적으로 연결하기 위한 신호 배선을 더 포함할 수 있다.
이와 같은 구성을 갖는 점등 검사 장치는 표시 패널의 패드들과 점등 검사 장치의 테스트 패드들 간의 접속 상태에 따라 테스트 신호의 전압 레벨을 정정할 수 있다. 따라서 표시 패널의 패드들과 점등 검사 장치의 테스트 패드들 간의 접속 상태에 따른 테스트 결과의 왜곡을 최소화 할 수 있다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널을 보여주는 도면이다.
도 2 내지 도 4는 점등 검사 장치와 표시 패널이 접속된 상태를 예시적으로 보여주는 도면들이다.
도 5는 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치 내 검사 회로의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널의 접속 상태를 보여주는 도면이다.
도 7은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널의 접속 상태를 보여주는 도면이다.
도 8은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 표시 패널의 회로 구성을 보여주는 도면이다.
도 9는 도 8에 도시된 표시 영역, 제1 검사 회로부 및 제2 검사 회로부를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 10은 도 8에 도시된 표시 영역, 제1 검사 회로부 및 제2 검사 회로부를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 11은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치의 동작 방법을 보여주는 플로우차트이다.
이하 본 발명의 실시예를 첨부된 도면들을 참조하여 상세히 설명한다. 그러나, 본 발명은 다양한 형태들로 구체화될 수 있으며, 여기에 도시된 실시예들에만 한정되는 것으로 해석되어서는 안된다. 오히려, 이들 실시예들은 본 개시가 철저하고 완전하게 이루어 지도록 당업자에게 본 발명의 양상 및 특징을 충분히 전달할 수 있도록 예로서 제공된다.
구성 요소가 다른 구성 요소에 "연결된" 또는 "접속된" 것으로 언급될 때, 이는 다른 구성 요소에 직접적으로 연결되거나, 접속될 수 있거나, 또는 하나 이상의 개재된 구성 요소들이 존재할 수 있다. 본 명세서에서 "그리고/또는"은 관련되어 열거된 아이템들의 하나 이상의 임의의 그리고 모든 조합들을 포함한다.
비록 제1, 제2, 제3 등의 용어가 본 명세서에서 다양한 구성 요소들을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이들 구성 요소들이 이러한 용어들에 의해 제한되지 않아야 한다. 이러한 용어들은 하나의 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하는 데에만 사용된다. 따라서, 이하에 설명되는 제1 구성 요소는 본 개시된 내용의 교시들을 벗어나지 않고 제2 구성 요소로 지칭될 수 있다.
달리 정의되지 않는 한, 본 명세서에서 사용되는 모든 용어들(기술 용어들 및 과학 용어들 포함)은 본 발명이 속하는 기술 분야의 당업자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 갖는다. 또한, 일반적으로 사용되는 사전에서 정의된 용어들과 같은 용어들은 관련 기술 및/또는 본 명세서와 관련하여 그 의미와 일치하는 의미를 갖는 것으로 해석되어야 하며, 이상적이거나 지나치게 형식적인 의미로 해석되지 않아야 한다.
도 1은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널을 보여주는 도면이다.
도 1을 참조하면, 점등 검사 장치(100)는 표시 패널(200)의 점등 상태를 검사하기 위한 장치이다. 점등 검사 장치(100)는 연결부(110) 및 검사 회로(130)를 포함한다.
연결부(110)는 복수의 신호 배선들(112)이 배열된 연성 회로 기판(Flexible Printed Circuit Board, FPCB)으로 구현될 수 있으며, 연결부(110)는 일단에 패드부(111)를 구비한다. 패드부(111)에는 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)이 배열된다. 도 1에 도시된 실시예에서, 테스트 패드들(TP1-TPk)은 패드부(111)의 중심부에 배열되며, 제1 접속 테스트 패드(TCP1) 및 제2 접속 테스트 패드(TCP2)는 테스트 패드들(TP1-TPk)를 사이에 두고 패드부(111)의 양쪽 측면들에 각각 배열된다.
연결부(110)는 패드부(111)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)을 통해 표시 패널(200)과 연결될 수 있다.
검사 회로(130)는 연결부(110)를 통해 제1 접속 테스트 패드(TCP1)로 접속 테스트 신호를 출력하고, 제2 접속 테스트 패드(TCP2)로부터 연결부(110)를 통해 피드백 신호를 수신하며, 접속 테스트 신호 피드백 신호에 근거해서 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다. 검사 회로(130)의 구체적인 회로 구성 및 동작은 추후 상세히 설명된다.
표시 패널(200)은 표시 영역(210) 및 비표시 영역(220)을 포함한다. 도면에 도시되지 않았으나, 표시 영역(210)에는 복수의 화소들이 배열된다. 복수의 화소들 각각은 예를 들면, 유기 발광 다이오드(organic light emitting diode, OLED)를 포함할 수 있다. 비표시 영역(220)의 일단에는 연결부(110)의 패드부(111)와 접속되는 표시 패널 패드부(230)가 형성된다. 표시 패널 패드부(230)는 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)을 포함한다. 제1 접속 패드(CP1)와 제2 접속 패드(CP2)는 테스트 신호 배선(221)를 통해 전기적으로 연결된다. 테스트 신호 배선(221)은 비표시 영역(220) 상에 배열되며, 표시 영역(210)의 외측에서 표시 영역(210)을 둘러싸도록 형성된다.
도 2 내지 도 4는 점등 검사 장치와 표시 패널이 접속된 상태를 예시적으로 보여주는 도면들이다.
도 2를 참조하면, 점등 검사 장치(100)의 연결부(110) 저면에 배열된 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)은 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)과 접속된다.
도 2에는 점등 검사 장치(100)의 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)과 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)이 직접 접속된 상태만을 도시하나, 점등 검사 장치(100)는 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)과 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)이 접속된 상태를 유지하도록 고정하는 고정 장치를 더 포함할 수 있다.
도 2에 도시된 예에서, 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)과 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)은 적절한 위치에서 거의 완전하게 접속되었다. 연결부(110)의 테스트 패드들(TP1-TPk)과 표시 패널(200)의 패드들(P1-Pk)이 충분히 완전하게 접속되는 경우, 검사 회로(130)로부터 제공되는 테스트 신호들은 왜곡 없이 표시 패널(200)로 전달될 수 있다.
도 3 및 도 4에 도시된 예들에서, 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)과 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)는 소정 거리만큼 어긋난 불완전 접속되어 있다.
연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제 접속 테스트 패드(TCP2) 및 테스트 패드들(TP1-TPk)이 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)과 불완전 접속되었을 때, 패드들(P1-Pk)의 불완전 접속 상태에 따라서 검사 회로(130)로부터 표시 패널(200)로 제공되는 테스트 신호들이 왜곡될 수 있다. 예를 들어, 테스트 패드들(TP1-TPk)과 패드들(P1-Pk)의 불완전 접속에 의해서 접속 저항이 변화하는 경우, 검사 회로(130)로부터 제공된 테스트 신호들과 표시 패널(200)에서 수신하는 테스트 신호들 사이에 편차가 생길 수 있다. 이와 같은 편차는 표시 패널(200)에 대한 검사 결과를 왜곡시킨다.
예를 들어, 점등 검사 장치(100)의 검사 회로(130)에서는 적절한 전압 레벨의 전원 전압 및 데이터 신호들을 제공하나, 테스트 패드들(TP1-TPk)과 패드들(P1-Pk)의 접속 편차으로 인해 전원 전압 및 데이터 신호들의 전압 레벨이 낮아지는 경우, 표시 패널(200)에 구비된 화소들이 점등되지 않을 수 있다. 이러한 점등 오류는 테스트 패드들(TP1-TPk)과 패드들(P1-Pk)의 접속 상태에 기인한 것이나 표시 패널(200)에 구비된 화소들의 불량으로 판정될 수 있다.
도 5는 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치 내 검사 회로의 구성을 보여주는 블록도이다.
도 5를 참조하면, 검사 회로(130)는 인터페이스 회로(310), 테스트 신호 생성 회로(320), 보상 회로(330), 전압 감지 회로(340) 및 저항(VR)을 포함한다.
인터페이스 회로(310)는 테스트 신호 생성 회로(320) 및 보상 회로(330)로부터 출력되는 접속 테스트 신호(TS1) 및 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)을 패드부(110)로 전달하고, 패드부(110)로부터의 피드백 신호(FS1)를 전압 감지 회로(340)로 전달한다. 인터페이스 회로(310)는 패드부(110)와 검사 회로(130)를 연결하기 위한 커넥터를 포함할 수 있다.
테스트 신호 생성 회로(320)는 접속 테스트 신호(TS1)를 출력한다. 접속 테스트 신호(TS1)는 인터페이스 회로(310)를 통해 패드부(111)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1)로 전달된다.
전압 감지 회로(340)는 패드부(111)의 제2 접속 테스트 패드(TCP2)로부터 인터페이스 회로(310)를 통해 수신되는 피드백 신호(FS1)의 전압 레벨을 감지하고, 감지된 전압 레벨에 대응하는 감지 전압 신호(DV)를 보상 회로(330)로 제공한다.
보상 회로(330)는 접속 테스트 신호(TS1) 및 감지 전압 신호(DV)에 근거해서 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공될 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 정정한다.
도 2 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 예시적인 실시예에서, 테스트 신호 생성 회로(320)에서 발생된 접속 테스트 신호(TS1)는 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 테스트 신호 배선(221), 표시 패널(200)의 제2 접속 패드(CP2) 및 연결부(110)의 제2 접속 테스트 패드(TCP2)를 통해 피드백 신호(FS1)로서 전압 감지 회로(340)로 피드백된다.
보상 회로(330)는 정상 접속 상태에서의 제1 접속 테스트 패드(TCP1)와 제1 접속 패드(CP1) 사이의 접속 저항, 테스트 신호 배선(221)의 저항 그리고 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 제2 접속 패드(CP2) 사이의 접속 저항을 고려하여 접속 테스트 신호(TS1)에 근거한 목표 전압 레벨을 계산할 수 있다. 보상 회로(330)는 목표 전압 레벨과 감지 전압 신호(DV)의 차에 따라서 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 정정할 수 있다. 예를 들어, 목표 전압 레벨과 감지 전압 신호(DV)의 차가 기준값보다 크면 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시킬 수 있다.
도 2에 도시된 예와 같이, 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1) 및 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1) 및 제2 접속 패드(CP2)가 거의 완전하게 접속된 경우, 감지 전압 신호(DV)의 전압 레벨은 목표 전압 레벨에 근접한다. 이 경우, 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 정정할 필요가 없다.
도 3 및 도 4에 도시된 예들과 같이, 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1) 및 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1) 및 제2 접속 패드(CP2)가 불완전하게 접속된 경우, 감지 전압 신호(DV)의 전압 레벨은 목표 전압 레벨보다 낮을 수 있다. 이 경우, 검사 회로(130)는 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., TEST ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시킨다. 따라서 테스트 패드들(TP1-TPk)과 패드들(P1-Pk) 간의 불완전한 접속에 의한 테스트 신호들의 왜곡을 보상할 수 있다.
다시 도 5를 참조하면, 저항(VR)은 피드백 신호(FS1)가 수신되는 전압 감지 회로(340)의 입력 단자와 접지 전압 사이 연결된다. 저항(VR)은 가변 저항일 수 있다. 전압 감지 회로(340)는 저항(VR)의 저항값을 변경하기 위한 저항 가변 신호(VRC)를 출력한다.
제1 접속 테스트 패드(TCP1)와 제1 접속 패드(CP1) 사이의 접속 저항, 테스트 신호 배선(221)의 저항 그리고 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 제2 접속 패드(CP2) 사이의 접속 저항을 감지 또는 예측하기 힘든 경우, 전압 감지 회로(340)는 저항(VR)의 저항값을 소정 레벨로 설정한 후 피드백 신호(FS1)의 전압 레벨에 따라서 저항(VR)의 저항값을 변경할 수 있다. 따라서, 제1 접속 테스트 패드(TCP1)와 제1 접속 패드(CP1)의 접속 오차 및 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 제2 접속 패드(CP2) 접속 오차에 따른 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 정확한 보상이 가능하다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널의 접속 상태를 보여주는 도면이다.
도 6을 참조하면, 예시적인 실시예에서, 연결부(410)는 복수의 신호 배선들(412)이 배치된 FPCB로 구현될 수 있으며, 연결부(410)는 일측에 패드부를 포함할 수 있다. 점등 검사 장치(400)의 연결부(410)의 저면에는 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 제2 접속 테스트 패드(TCP2) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)뿐만 아니라 제3 접속 테스트 패드(TCP3) 및 제4 접속 테스트 패드(TCP4)가 더 배열된다. 점등 검사 장치(400)의 연결부(410)는 제3 접속 테스트 패드(TCP3) 및 제4 접속 테스트 패드(TCP4)를 전기적으로 연결하는 제2 테스트 신호 배선(413)을 포함한다.
표시 패널(500)은 표시 영역(510) 및 비표시 영역(520)을 포함한다. 표시 패널(500)은 비표시 영역(520)에 배치된 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)뿐만 아니라 제3 접속 패드(CP3) 및 제4 접속 패드(CP4)를 더 포함한다.
연결부(410)의 제1 내지 제4 접속 테스트 패드들(TCP1-TCP4)은 표시 패널(500)의 제1 내지 제4 접속 패드들(CP1-CP4)에 각각 접속된다. 또한 연결부(410)의 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)은 표시 패널(500)의 복수의 패드들(P1-Pk)에 각각 접속된다.
검사 회로(430)는 제1 접속 패드(CP1) 및 제3 접속 패드(CP3)로 접속 테스트 신호들을 전송하고, 제2 접속 패드(CP2) 및 제4 접속 패드(CP4)로부터 피드백 신호들을 수신한다. 검사 회로(430)는 접속 테스트 신호들과 피드백 신호들의 전압 레벨을 비교하여 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공될 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 제1 테스트 신호 배선(521)은 표시 패널(500)의 비표시 영역(520) 상에 배열되고, 제2 테스트 신호 배선(413)은 연결부(410) 상에 배열된다. 테스트 신호 배선(521)은 제1 접속 패드(CP1) 및 제2 접속 패드(CP2)를 전기적으로 연결한다.
예를 들어, 제1 접속 패드(CP1) 및 제3 접속 패드(CP3)로 동일한 전압 레벨의 접속 테스트 신호들을 전송하더라도 제2 접속 패드(CP2) 및 제4 접속 패드(CP4)로부터 수신되는 피드백 신호들의 전압 레벨 차가 클 수 있다. 이 경우, 연결부(410)의 패드들과 표시 패널(500)의 패드들 간의 접속 오차뿐만 아니라 연결부(410) 및 표시 패널(500) 중 적어도 하나가 손상된 것으로 예측하고 손상 여부에 대한 분석이 필요하다.
도 7은 본 발명의 또다른 실시예에 따른 점등 검사 장치 및 표시 패널의 접속 상태를 보여주는 도면이다.
도 7을 참조하면, 예시적인 실시예에서, 연결부(610)는 복수의 신호 배선들(612)이 배열된 FPCB로 구현될 수 있으며, 연결부(610)의 일측은 패드부를 포함할 수 있다. 점등 검사 장치(600)의 연결부(610)의 저면에는 제1 내지 제6 접속 테스트 패드들(TCP1-TCP6) 및 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)이 배열된다. 점등 검사 장치(600)의 연결부(610)는 제5 접속 테스트 패드(TCP5) 및 제6 접속 테스트 패드(TCP6)를 전기적으로 연결하는 제3 테스트 신호 배선(613)을 포함한다.
표시 패널(700)은 표시 영역(710) 및 비표시 영역(720)을 포함한다. 표시 패널(700)은 제1 내지 제6 접속 패드들(CP1-CP6) 및 복수의 패드들(P1-Pk)을 포함한다.연결부(610)의 제1 내지 제6 접속 테스트 패드들(TCP1-TCP6)은 표시 패널(700)의 비표시 영역(720)에서 제1 내지 제6 접속 패드들(CP1-CP6)에 각각 접속된다. 또한 연결부(610)의 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)은 표시 패널(700)의 복수의 패드들(P1-Pk)에 각각 접속된다.
검사 회로(630)는 제1, 제3 및 제5 접속 패드들(CP1, CP3, CP5)로 접속 테스트 신호들을 전송하고, 제2, 제4 및 제6 접속 패드들(CP2, CP4, CP6)로부터 피드백 신호들을 수신한다. 검사 회로(630)는 접속 테스트 신호들과 피드백 신호들의 전압 레벨을 비교하여 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공될 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다.
예시적인 실시예에서, 테스트 신호 배선들(721, 722)은 표시 패널(700)의 비표시 영역(720) 상에 배열된다. 테스트 신호 배선(721)은 제1 접속 패드(CP1) 및 제2 접속 패드(CP2)를 전기적으로 연결한다. 테스트 신호 배선(722)은 제3 접속 패드(CP3) 및 제4 접속 패드(CP4)를 전기적으로 연결한다. 제3 테스트 신호 배선(613)은 연결부(610)의 저면에 배열된다.
예를 들어, 제1, 제3 및 제5 접속 패드들(CP1, CP3, CP5)로 동일한 전압 레벨의 접속 테스트 신호들을 전송하더라도 제2, 제4 및 제6 접속 패드들(CP2, CP4, CP6)로부터 수신되는 피드백 신호들의 전압 레벨 차가 크면, 연결부(610)의 패드들과 표시 패널(700)의 패드들 간의 접속 오차뿐만 아니라 연결부(610) 및 표시 패널(700) 중 적어도 하나가 손상된 것으로 예측하고 손상 여부에 대한 분석이 필요하다.
아울러, 제2, 제4 및 제6 접속 패드들(CP2, CP4, CP6)로부터 수신되는 피드백 신호들의 경향성에 따라서 복수의 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공될 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정할 수 있다.
예를 들어, 제2, 제4 및 제6 접속 패드들(CP2, CP4, CP6)로부터 수신되는 피드백 신호들의 전압 레벨과 기준값의 차가 크고, 그 차이 값이 서로 동일하다면, 연결부(610) 및 표시 패널(700) 자체의 결함이 아니라 연결부(610)의 패드들과 표시 패널(700)의 패드들 간의 접속 오차가 생긴 것으로 간주할 수 있다.
도 2에 도시된 바와 같이, 연결부(110)의 하나의 제1 접속 테스트 패드(TCP1)로 접속 테스트 신호(TS1)를 전송하고, 제2 접속 테스트 패드(TCP2)로부터 수신되는 하나의 피드백 신호(FS1)에 근거해서 테스트 신호들을 보상하는 것에 비해 정확한 접속 오차 검출 및 정확한 오차 보상이 가능하다.
도 8은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 표시 패널의 회로 구성을 보여주는 블록도이다.
도 8을 참조하면, 표시 패널(200)은 표시 영역(210) 및 비표시 영역(220)을 포함한다. 표시 패널(200)은 비표시 영역(220)에 배열된 표시 패널 패드부(230), 제1 검사 회로부(240) 및 제2 검사 회로부(250)를 포함한다. 비표시 영역(220)의 일단에는 도 1에 도시된 연결부(110)의 패드부(111)와 접속되는 표시 패널 패드부(230)가 형성된다. 표시 패널 패드부(230)는 제1 접속 패드(CP1), 제2 접속 패드(CP2) 및 복수의 패드들(P1-Pk)을 포함한다.
제1 검사 회로부(240)는 패드들(P4-Pk-2)을 통해 수신되는 테스트 신호들에 응답해서 표시 영역(210)에 배열된 화소들로 점등 검사 신호들을 제공한다.
제2 검사 회로부(250)는 패드들(P1-P3)을 통해 수신되는 테스트 신호들에 응답해서 표시 영역(210)에 배열된 화소들로 점등 검사 신호들을 제공한다. 패드들(Pk-1, Pk)로부터 수신되는 전원 전압들(ELVDD, ELVSS)은 표시 영역(210 내 화소들로 제공된다.
도 9는 도 8에 도시된 표시 영역, 제1 검사 회로부 및 제2 검사 회로부를 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 9를 참조하면, 표시 영역(210)에는 레드 색상에 대응하는 레드 화소(R), 블루 색상에 대응하는 블루 화소(B) 및 그린 색상에 대응하는 그린 화소(G)가 배열된다. 이 실시예에서, 표시 영역(210)에는 레드 화소(R), 블루 화소(B) 및 그린 화소(G)가 펜타일(pentile) 방식으로 배열되어 있다. 즉, 레드 화소(R) 및 블루 화소(B)가 하나의 화소열로 배열되고, 그린 화소(G)가 하나의 화소열로 배열된다.
제1 검사 회로부(240)는 복수의 트랜지스터들을 포함한다. 이 실시예에서, 제1 검사 회로부(240) 내 복수의 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구성되나, NMOS 트랜지스터들로 구성될 수 있다. 제1 검사 회로부(240) 내 트랜지스터들은 제1 테스트 신호들(TEST_GATE_G, TEST_GATE_B, TEST_GATE_R)에 응답해서 제1 테스트 데이터 신호들(DC_G, DC_B, DC_R)을 표시 영역(210) 내 대응하는 화소열들로 제공한다.
제2 검사 회로부(250)는 복수의 트랜지스터들을 포함한다. 이 실시예에서, 제2 검사 회로부(250) 내 복수의 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구성되나, NMOS 트랜지스터들로 구성될 수 있다. 제2 검사 회로부(250) 내 트랜지스터들은 제2 테스트 신호(TEST_GATE_OS)에 응답해서 제2 테스트 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)을 표시 영역(210) 내 대응하는 화소열로 제공한다.
예를 들어, 도 1에 도시된 점등 검사 장치(100)의 검사 회로(130)로부터 제공되는 제1 테스트 데이터 신호들(DC_G, DC_B, DC_R) 각각의 전압 레벨은 0V이고, 제2 테스트 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2) 각각의 전압 레벨은 6V이다. 다른 예에서, 제1 테스트 데이터 신호들(DC_G, DC_B, DC_R) 각각의 전압 레벨은 3V이고, 제2 테스트 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2) 각각의 전압 레벨은 6V일 수 있다. 다른 실시예에서, 제2 테스트 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2) 각각의 전압 레벨은 서로 다를 수 있다.
도 1에 도시된 점등 검사 장치(100)에 의해서 표시 패널(200)에 대한 점등 검사가 완료되면, 제1 테스트 신호들(TEST_GATE_G, TEST_GATE_B, TEST_GATE_R)에 의해서 제1 검사 회로부(240) 내 복수의 트랜지스터들 오프 상태로 유지된다. 마찬가지로 점등 검사가 완료되면, 제2 테스트 신호(TEST_GATE_OS)에 의해서 제2 검사 회로부(250) 내 트랜지스터들은 오프 상태로 유지된다.
도 10은 도 8에 도시된 표시 영역, 제1 검사 회로부 및 제2 검사 회로부의 다른 실시예에 따른 구성을 예시적으로 보여주는 도면이다.
도 10을 참조하면, 표시 영역(215)에는 레드 색상에 대응하는 레드 화소(R), 블루 색상에 대응하는 블루 화소(B) 및 그린 색상에 대응하는 그린 화소(G)가 배열된다. 이 실시예에서, 표시 영역(215)에는 레드 화소(R), 블루 화소(B) 및 그린 화소(G)가 스트라이프(stripe) 방식으로 배열되어 있다. 즉, 레드 화소(R), 그린 화소(G) 및 블루 화소(B)가 각각 하나의 화소열로 배열된다.
제1 검사 회로부(245)는 복수의 트랜지스터들을 포함한다. 이 실시예에서, 제1 검사 회로부(245) 내 복수의 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구성되나, NMOS 트랜지스터들로 구성될 수 있다. 제1 검사 회로부(245) 내 트랜지스터들은 제1 테스트 신호(TEST_GATE)에 응답해서 제1 테스트 데이터 신호들(DC_B, DC_G, DC_R)을 표시 영역(210) 내 대응하는 화소열로 제공한다.
제2 검사 회로부(255)는 복수의 트랜지스터들을 포함한다. 이 실시예에서, 제2 검사 회로부(255) 내 복수의 트랜지스터들은 PMOS 트랜지스터들로 구성되나, NMOS 트랜지스터들로 구성될 수 있다. 제2 검사 회로부(255) 내 트랜지스터들은 제1 테스트 신호들(TEST_GATE_OS, CLA, CLB, CLC)에 응답해서 제1 테스트 데이터 신호들(TEST_DATA1, TEST_DATA2)을 표시 영역(210) 내 대응하는 화소열로 제공한다.
도 1에 도시된 점등 검사 장치(100)에 의해서 표시 패널(215)에 대한 점등 검사가 완료되면, 제1 테스트 신호(TEST_GATE)에 의해서 제1 검사 회로부(245) 내 복수의 트랜지스터들 오프 상태로 유지된다. 마찬가지로 점등 검사가 완료되면, 제2 테스트 신호들(TEST_GATE_OS, CLA, CLB, CLC)에 의해서 제2 검사 회로부(255) 내 트랜지스터들은 오프 상태로 유지된다.
도 11은 본 발명의 예시적인 실시예에 따른 점등 검사 장치의 동작 방법을 보여주는 플로우차트이다. 설명의 편의를 위하여 도 2에 도시된 점등 검사 장치(100)를 참조하여 점등 검사 장치의 동작 방법이 이하 설명된다.
도 2 및 도 11을 참조하면, 점등 검사 장치(100)의 검사 회로(130)는 제1 접속 테스트 패드(TCP1)로 접속 테스트 신호를 출력한다(S800). 접속 테스트 신호는 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1), 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1), 테스트 신호 배선(221), 제2 접속 패드(CP2)를 경유하여 제2 접속 테스트 패드(TCP2)로 전달된다.
점등 검사 장치(100)는 제2 접속 테스트 패드(TCP2)로부터의 피드백 신호 수신한다(S810).
점등 검사 장치(100)는 접속 테스트 신호와 피드백 신호에 근거해서 테스트 패드들(TP1-TPk)로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정한다(S820).
예를 들어, 도 3 및 도 4에 도시된 바와 같이, 연결부(110)의 제1 접속 테스트 패드(TCP1) 및 제2 접속 테스트 패드(TCP2)와 표시 패널(200)의 제1 접속 패드(CP1) 및 제2 접속 패드(CP2)가 불완전하게 접속된 경우, 감지 전압 신호(DV)의 전압 레벨은 목표 전압 레벨보다 낮을 수 있다. 이 경우, 검사 회로(130)는 테스트 신호들(예를 들면, DC_B, DC_R, ..., ELVDD, ELVSS)의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시킨다. 따라서 테스트 패드들(TP1-TPk)과 패드들(P1-Pk) 간의 불완전한 접속에 의한 테스트 신호들의 왜곡을 보상할 수 있다.
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100, 400, 600: 점등 검사 장치
110, 410, 610: 연결부
130, 430, 630: 검사 회로
200, 500, 700: 표시 패널

Claims (20)

  1. 표시 패널의 화소들의 점등 상태를 테스트하기 위한 점등 검사 장치에 있어서:
    일단에 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들이 형성되고, 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들을 통해 상기 표시 패널과 접속되는 연결부; 및
    상기 제1 접속 테스트 패드를 통해 상기 표시 패널에 배치된 테스트 신호 배선으로 접속 테스트 신호를 출력하고, 상기 테스트 신호 배선으로부터 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 검사 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사 회로는,
    상기 접속 테스트 신호를 생성해서 상기 제1 접속 테스트 패드로 제공하는 테스트 신호 생성 회로;
    상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 상기 피드백 신호를 수신하고, 상기 피드백 신호의 전압 레벨을 감지하여 감지 전압 신호를 출력하는 전압 감지 회로; 및
    상기 접속 테스트 신호 및 상기 감지 전압 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 보상 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 검사 회로는,
    상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 저항은 가변 저항이며,
    상기 전압 감지 회로는 상기 가변 저항의 저항값을 변경하기 위한 저항 가변 신호를 상기 가변 저항으로 제공하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 연결부는 상기 표시 패널과 접속되는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함하며,
    상기 검사 회로는,
    상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 더 출력하고, 상기 제4 접속 테스트 패드를 통해 제2 피드백 신호를 더 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 연결부는,
    상기 연결부 상에 배열되고, 상기 제3 접속 테스트 패드 및 상기 제4 접속 테스트 패드를 전기적으로 연결하기 위한 신호 배선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  7. 제 5 항에 있어서,
    상기 검사 회로는,
    상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호의 전압 차 및 상기 제2 접속 테스트 신호와 상기 제2 피드백 신호의 전압 차가 기준값보다 클 때 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시키는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 연결부는 연성회로기판(Flexible Printed Circuit Board)으로 구성되는 것을 특징으로 하는 점등 검사 장치.
  9. 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들을 포함하여 표시 패널의 화소들의 점등 상태를 테스트하기 위한 점등 검사 장치의 점등 검사 방법에 있어서:
    상기 제1 접속 테스트 패드를 통해 상기 표시 패널에 배치된 테스트 신호 배선으로 접속 테스트 신호를 출력하는 단계;
    상기 테스트 신호 배선으로부터 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하는 단계; 및
    상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  10. 제 9 항에 있어서,
    상기 점등 검사 장치는 상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 저항은 가변 저항으로 구성되며,
    상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 단계는 상기 가변 저항의 저항값을 변경하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  12. 제 9 항에 있어서,
    상기 점등 검사 장치는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함하며,
    상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 출력하는 단계;
    상기 제4 접속 테스트 패드로부터 제2 피드백 신호를 수신하는 단계; 및
    상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 테스트 신호들의 전압 레벨 정정하는 단계는,
    상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호의 전압 차 및 상기 제2 접속 테스트 신호와 상기 제2 피드백 신호의 전압 차가 기준값보다 클 때 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 소정 비율만큼 상승시키는 것을 특징으로 하는 점등 검사 방법.
  14. 복수의 화소들이 배열된 표시 영역 및 비표시 영역을 포함하는 표시 패널; 및
    상기 표시 패널의 상기 복수의 화소들의 점등 상태를 검사하기 위한 점등 검사 장치를 포함하되,
    상기 점등 검사 장치는,
    일단에 제1 접속 테스트 패드, 제2 접속 테스트 패드 및 복수의 테스트 패드들이 형성되고, 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들을 통해 상기 표시 패널과 접속되는 연결부; 및
    상기 제1 접속 테스트 패드로 접속 테스트 신호를 출력하고, 상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 피드백 신호를 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호와 상기 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 검사 회로를 포함하며,
    상기 표시 패널은,
    상기 비표시 영역의 일단에 구비된 상기 제1 접속 테스트 패드, 상기 제2 접속 테스트 패드 및 상기 복수의 테스트 패드들과 접속되는 제1 접속 패드, 제2 접속 패드 및 복수의 패드들; 및
    상기 비표시 영역에 배열되고, 상기 제1 접속 패드와 상기 제2 접속 패드를 전기적으로 연결하기 위한 테스트 신호 배선을 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 테스트 신호 배선은,
    상기 표시 영역의 외측에서 상기 표시 영역을 둘러싸도록 형성되는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  16. 제 14 항에 있어서,
    상기 검사 회로는,
    상기 접속 테스트 신호를 생성해서 상기 제1 접속 테스트 패드로 제공하는 테스트 신호 생성 회로;
    상기 제2 접속 테스트 패드를 통해 상기 피드백 신호를 수신하고, 상기 피드백 신호의 전압 레벨을 감지하여 감지 전압 신호를 출력하는 전압 감지 회로; 및
    상기 접속 테스트 신호 및 상기 감지 전압 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 상기 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 보상 회로를 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  17. 제 16 항에 있어서,
    상기 검사 회로는,
    상기 피드백 신호가 수신되는 신호 배선과 접지 전압 사이에 연결된 저항을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 저항은 가변 저항이며,
    상기 전압 감지 회로는 상기 가변 저항의 저항값을 변경하기 위한 저항 가변 신호를 상기 가변 저항으로 제공하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  19. 제 14 항에 있어서,
    상기 연결부는 상기 표시 패널과 접속되는 제3 접속 테스트 패드 및 제4 접속 테스트 패드를 더 포함하며,
    상기 검사 회로는,
    상기 제3 접속 테스트 패드로 제2 접속 테스트 신호를 더 출력하고, 상기 제4 접속 테스트 패드를 통해 제2 피드백 신호를 더 수신하며, 그리고 상기 접속 테스트 신호, 제2 접속 테스트 신호, 상기 피드백 신호 및 상기 제2 피드백 신호에 근거해서 상기 복수의 테스트 패드들로 제공되는 테스트 신호들의 전압 레벨을 정정하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 연결부는,
    상기 연결부 상에 배열되고, 상기 제3 접속 테스트 패드 및 상기 제4 접속 테스트 패드를 전기적으로 연결하기 위한 신호 배선을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 점등 검사 시스템.
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