KR20220058686A - 표시 장치 및 그의 구동 방법 - Google Patents

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편기현
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Abstract

표시 장치는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 가요성 인쇄 회로 기판, 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 인쇄 회로 기판, 상기 복수의 화소에 데이터 전압을 인가하고, 상기 복수의 화소에 흐르는 전압을 수신하여 이동도 센싱 정보를 생성하는 데이터 구동부, 및 상기 이동도 센싱 정보를 기반으로 상기 제1 인쇄 회로 기판과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제1 정렬 불량, 상기 표시 패널과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제2 정렬 불량을 검출하는 타이밍 컨트롤러를 포함한다.

Description

표시 장치 및 그의 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD THEREOF}
본 발명은 표시 장치 및 그의 구동 방법에 관한 것으로, 보다 상세하게는 제조 불량을 검출할 수 있는 표시 장치 및 그 구동 방법에 관한 것이다.
현재, 액정 표시 장치, 발광 표시 장치가 대표적인 표시 장치로서 사용되고 있다. 액정 표시 장치는 백라이트 유닛을 포함하며, 백라이트 유닛에서 방출되는 빛을 차단하거나 투과시켜 영상을 표시한다. 발광 표시 장치는 자체 발광 특성을 가지며, 별도의 광원을 필요로 하지 않는다.
발광 표시 장치에 포함된 복수의 화소 각각은 발광 다이오드 및 이에 연결된 구동 트랜지스터를 포함한다. 구동 트랜지스터는 인가된 데이터 전압에 따라 발광 다이오드로 전류를 흘려서 발광 다이오드가 데이터 전압에 대응하는 휘도로 발광하도록 한다.
표시 장치의 제조 과정에서 표시 패널에 데이터 구동부를 포함하는 연성 인쇄 회로 기판(FPCB)을 부착하고, 연성 인쇄 회로 기판(FPCB)에 소스-PBA(Printed Board Assembly)(S-PBA)라 불리는 인쇄 회로 기판(PCB)을 부착하는 공정이 수행된다. 이러한 과정에서 정렬 불량(miss align)이 발생하는 경우 데이터 구동부와 표시 패널이 과전류에 의해 번트(burnt)될 수 있다.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 표시 패널, 연성 인쇄 회로 기판(FPCB), 인쇄 회로 기판(PCB)의 부착 공정에서 정렬 불량을 검출할 수 있는 표시 장치 및 그 구동 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 가요성 인쇄 회로 기판, 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 인쇄 회로 기판, 상기 복수의 화소에 데이터 전압을 인가하고, 상기 복수의 화소에 흐르는 전압을 수신하여 이동도 센싱 정보를 생성하는 데이터 구동부, 및 상기 이동도 센싱 정보를 기반으로 상기 제1 인쇄 회로 기판과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제1 정렬 불량, 상기 표시 패널과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제2 정렬 불량을 검출하는 타이밍 컨트롤러를 포함한다.
상기 타이밍 컨트롤러는 상기 제1 정렬 불량 및 상기 제2 정렬 불량 중 어느 하나가 검출되면 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호를 출력하고, 상기 에러 검출 신호에 따라 상기 복수의 화소에 인가되는 스캔 신호의 출력을 중지할 수 있다.
상기 표시 장치에 전원을 공급하는 전원 공급 장치를 더 포함하고, 상기 전원 공급 장치는 상기 에러 검출 신호에 대응하여 상기 전원을 오프할 수 있다.
상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 데이터 구동부에 대응하여 상기 표시 패널은 구분하는 블록별 이동도 센싱 정보를 저장하는 프레임 메모리, 상기 블록별 이동도 센싱 정보 각각에서 블록별 이동도 산포를 분석하는 센싱 분석부, 및 상기 데이터 구동부에 연결되는 데이터 라인에 대한 라인별 이동도 산포를 분석하는 불량 라인 분석부를 포함할 수 있다.
상기 센싱 분석부는 상기 블록별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우 해당 블록에 대응하여 상기 제1 정렬 불량이 발생한 것으로 판정할 수 있다.
상기 불량 라인 분석부는 상기 라인별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우가 특정 라인에만 발생하면 상기 제2 정렬 불량이 발생한 것으로 판정할 수 있다.
상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 특정 라인에 대한 이동도 측정을 재수행하는 역할을 하는 라인 재검사부를 더 포함할 수 있다.
상기 타이밍 컨트롤러는, 상기 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 출력하는 모니터링부를 더 포함할 수 있다.
상기 모니터링부는 상기 제2 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 라인의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 출력할 수 있다.
본 발명의 다른 실시예에 따른 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 가요성 인쇄 회로 기판, 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 인쇄 회로 기판, 및 상기 복수의 화소에 데이터 전압을 인가하고 상기 복수의 화소에 흐르는 전압을 수신하는 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 구동 방법은, 상기 데이터 구동부에 대응하여 상기 표시 패널을 구분하는 블록별 이동도 산포를 분석하는 단계, 상기 블록별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우, 상기 제1 인쇄 회로 기판과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제1 정렬 불량을 판정하는 단계, 및 상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 데이터 라인에 연결되는 데이터 라인에 대한 라인별 이동도 산포를 분석하고, 상기 표시 패널과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제2 정렬 불량을 판정하는 단계를 포함한다.
상기 블록별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값 이하인 경우, 해당 블록에 대응하여 정렬 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하고, 영상을 표시하는 정상 구동을 하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 정렬 불량을 판정하면 해당 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 블록 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 라인별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값보다 큰 경우가 해당 블록 내의 전체 데이터 라인에서 발생하면 상기 제1 정렬 불량을 판정할 수 있다.
상기 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 외부로 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 라인별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값보다 큰 경우가 특정 데이터 라인에만 발생하면 상기 제2 정렬 불량을 추정하고 제1 라인 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제2 정렬 불량이 추정되는 데이터 라인에 연결된 화소에 대한 이동도를 재검사하여 제2 라인 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 제1 라인 불량 정보와 상기 제2 라인 불량 정보를 비교하여 서로 동일하면 상기 제1 라인 불량 정보를 확정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 확정된 제1 라인 불량 정보에 따라 상기 제2 정렬 불량을 판정할 수 있다.
상기 제1 정렬 불량 및 상기 제2 정렬 불량 중 어느 하나가 검출되면 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호를 출력하고, 상기 에러 검출 신호에 따라 상기 복수의 화소에 인가되는 스캔 신호의 출력을 중지하는 단계를 더 포함할 수 있다.
상기 에러 검출 신호에 대응하여 상기 표시 장치에 공급되는 전원을 오프하는 단계를 더 포함할 수 있다.
표시 패널, 연성 인쇄 회로 기판(FPCB), 인쇄 회로 기판(PCB)의 부착 공정에서 정렬 불량을 검출하여 데이터 구동부와 표시 패널의 과전류에 의해 번트를 방지할 수 있다. 또한, 표시 장치의 제조 과정에서 정렬 불량을 검출함으로써 표시 장치의 재작업(rework) 효율을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 나타낸다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타내는 회로도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 구동부를 나타내는 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 타이밍 컨트롤러를 나타내는 블록도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다.
도 6은 인쇄 회로 기판과 데이터 구동부 간의 연결 불량을 설명하기 위한 예시도이다.
도 7은 표시 패널과 데이터 구동부 간의 연결 불량을 설명하기 위한 예시도이다.
이하, 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예들에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상세히 설명한다. 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예들에 한정되지 않는다.
또한, 여러 실시예들에 있어서, 동일한 구성을 가지는 구성요소에 대해서는 동일한 부호를 사용하여 대표적으로 제1 실시예에서 설명하고, 그 외의 실시예에서는 제1 실시예와 다른 구성에 대해서만 설명하기로 한다.
본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였으며, 명세서 전체를 통하여 동일 또는 유사한 구성요소에 대해서는 동일한 참조 부호를 붙이도록 한다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치를 개략적으로 나타낸다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치는 표시 패널(100), 가요성 인쇄 회로 기판(110, 130, 150), 인쇄 회로 기판(120, 140), 데이터 구동부(115) 및 타이밍 컨트롤러(1000)를 포함할 수 있다. 그리고 표시 장치는 표시 장치의 전반적인 기능을 제어하는 MCU(micro controller unit)(210)을 포함하는 메인 보드(200), 표시 장치에 전원을 공급하는 전원 공급 장치(300)를 포함할 수 있다. 전원 공급 장치(300)는 교류 전압을 각종 기기에 맞도록 변환하는 모듈형의 SMPS(Switching Mode Power Supply)일 수 있다.
표시 패널(100)은 복수의 화소(PX)를 포함한다. 표시 패널(100)은 액정을 포함하는 액정 표시 패널이거나 발광 소자를 포함하는 발광 표시 패널일 수 있다. 또한, 도 1에 예시된 표시 패널(100)은 중대형 표시 패널일 수 있다.
표시 패널(100)에 포함되어 있는 복수의 화소(PX)는 스캔 신호, 데이터 전압을 포함하는 다양한 제어 신호에 따라서 제어되며, 또한 일정한 전압을 가지는 전원 전압도 인가 받을 수 있다.
이하에서, 표시 패널(100)이 발광 표시 패널인 것을 예로 들어 설명한다. 발광 표시 패널에서는 복수의 화소(PX)가 데이터 전압과 적어도 하나의 스캔 신호를 인가 받으며, 전원 전압인 구동 전압 및 구동 저전압도 인가 받을 수 있다. 발광 표시 패널은 데이터 전압에 기초하여 구동 트랜지스터의 출력 전류가 정해지며, 출력 전류가 발광 다이오드를 흐르면서 빛을 방출한다. 발광 다이오드를 흐르는 전류의 크기에 따라서 발광 다이오드가 방출하는 빛의 휘도가 결정된다.
도 1에서는 도시하고 있지 않으나, 표시 패널(100)은 스캔 신호를 생성하는 스캔 구동부를 포함한다. 스캔 구동부는 표시 패널(100)의 일부 영역에 실장되어 표시 패널(100)에 포함되어 도 1에서는 별도로 도시하지 않았다. 또한, 스캔 구동부는 복수의 화소(PX)를 형성하는 공정을 통하여 함께 형성될 수 있다.
본 실시예에서, 데이터 전압을 인가하는 데이터 구동부(115)는 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110)상에 형성되어 있으며, 타이밍 컨트롤러(1000)는 제2 인쇄 회로 기판(140) 상에 형성되어 있다. 제2 인쇄 회로 기판(140)을 제어-PBA라 칭할 수 있다. 타이밍 컨트롤러(1000)는 외부로부터 입력되는 영상 신호에 기초하여 영상 데이터 신호 및 제어 신호를 생성하며, 데이터 구동부(115)는 타이밍 컨트롤러(1000)로부터 영상 데이터 신호를 인가 받아 복수의 화소(PX)에 인가할 데이터 전압으로 변환한다.
타이밍 컨트롤러(1000)에서 출력되는 제어 신호 중 데이터 구동부용 제어 신호(데이터 제어 신호)와 영상 데이터 신호는 제2 인쇄 회로 기판(140), 제2 가요성 인쇄 회로 기판(130), 제1 인쇄 회로 기판(120)을 지나서 제1 가요성 회로 인쇄 기판(110) 상의 데이터 구동부(115)로 전달된다.
또한, 타이밍 컨트롤러(1000)에서 출력되는 제어 신호 중 스캔 구동부용 제어 신호(스캔 제어 신호)(SC)는 제2 인쇄 회로 기판(140), 제2 가요성 인쇄 회로 기판(130), 제1 인쇄 회로 기판(120) 및 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110)을 지나서 표시 패널(100) 상의 스캔 구동부로 전달된다.
한편, 도 1의 실시예에서 제1 인쇄 회로 기판(120)이 4개이고, 두 개씩 쌍을 이루여 위치한다. 쌍을 이루는 2개의 제1 인쇄 회로 기판(120)은 제3 가요성 인쇄 회로 기판(150)에 의하여 전기적으로 연결되어 있다. 그 결과, 타이밍 컨트롤러(1000)에서 출력되는 신호가 제2 인쇄 회로 기판(140), 제2 가요성 인쇄 회로 기판(130)을 지나서 첫 번째 제1 인쇄 회로 기판(120)에 인가되면, 제3 가요성 인쇄 회로 기판(150)을 통하여 두 번째 제1 인쇄 회로 기판(120)으로 전달되는 구조를 가진다.
도 1의 실시예에서는 표시 장치가 총 16개의 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110)과 총 16개의 데이터 구동부(115)를 포함한다. 16개의 데이터 구동부(115)는 16개의 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 상에 IC 칩의 형태로 실장되어 있을 수 있으며, IC 칩 형태의 데이터 구동부(115)를 D-IC라 한다. 또한, 타이밍 컨트롤러(1000)는 제2 인쇄 회로 기판(140)상에 IC 칩의 형태로 실장되어 있을 수 있다.
표시 패널(100), 가요성 인쇄 회로 기판(110, 130, 150) 및 인쇄 회로 기판(120, 140)은 이방성 도전 필름(ACF)에 의하여 서로 부착되어 전기적으로 연결될 수 있다.
실시예에 따라서는 표시 장치는 가요성 인쇄 회로 기판 및 인쇄 회로 기판을 각각 하나씩만 포함할 수 있다. 이 경우, 타이밍 컨트롤러(1000)는 인쇄 회로 기판 상에 형성되고, 데이터 구동부(115)는 가요성 인쇄 회로 기판 상 또는 표시 패널(100)의 일측 영역에 부착되어 형성될 수 있다.
도 1에 의하면, 표시 패널(100)은 복수의 블록으로 나뉘어 있다. 이는 물리적으로 블록이 나뉘어 있는 것이 아니며, 데이터 구동부(115) 및 타이밍 컨트롤러(1000)가 복수의 화소(PX)를 구동함에 있어서 개념적으로 구분하여 구동하는 것을 나타낸 것이다. 하나의 블록은 하나의 데이터 구동부(115)에 대응되며, 표시 패널(100)은 행 방향으로 총 16개의 블록을 가진다. 도 1의 실시예에서, 블록의 수는 데이터 구동부(115)의 수 및 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110)의 수와 동일하다. 구분되는 블록의 개수는 다양하게 구분할 수 있지만, 이하에서는 16개의 블록으로 구분된 실시예를 기준으로 설명한다.
복수의 화소(PX) 각각은 발광 다이오드 및 이에 연결된 구동 트랜지스터를 포함하며, 타이밍 컨트롤러(1000)는 구동 트랜지스터들의 열화와 구동 트랜지스터들 간의 문턱 전압 편차를 보상하기 위하여 각 화소(PX)에 포함된 구동 트랜지스터의 이동도를 측정할 수 있다. 측정된 이동도를 기반으로 데이터 전압을 보상함으로써 구동 트랜지스터들의 열화와 구동 트랜지스터들 간의 문턱 전압의 편차에 의한 화질 저하가 발생되지 않도록 할 수 있다. 이러한 방식을 외부 보상이라 한다.
타이밍 컨트롤러(1000)는 외부 보상과 동일한 방식으로 표시 장치의 전원이 온된 직후부터 영상이 출력될 때까지 복수의 화소(PX)의 이동도를 측정할 수 있다. 이를 온 센싱(On-sensing)이라 한다. 온 센싱에서, 각각의 데이터 구동부(115)는 대응하는 블록에 포함되는 화소(PX)에 미리 정해진 전압을 인가하고, 시간에 따라 화소(PX)에 흐르는 전압을 수신한다. 데이터 구동부(115)는 시간에 따라 화소(PX)에 흐르는 전압의 변화를 디지털 신호로 변환하여 이동도 센싱 정보(SI)를 생성할 수 있다. 이동도 센싱 정보(SI)는 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110), 제1 인쇄 회로 기판(120), 제2 가요성 인쇄 회로 기판(130)을 지나서 제2 인쇄 회로 기판(140) 상의 타이밍 컨트롤러(1000)에 전달된다. 즉, 각 블록별로 이동도 센싱 정보(SI)가 타이밍 컨트롤러(1000)에 전달될 수 있다.
타이밍 컨트롤러(1000)는 측정된 이동도 센싱 정보(SI)를 기반으로 표시 패널(100)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량, 제1 인쇄 회로 기판(120)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량을 검출할 수 있다.
이하, 제1 인쇄 회로 기판(120)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량을 제1 정렬 불량이라 하고, 표시 패널(100)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량을 제2 정렬 불량이라 한다.
제1 정렬 불량 및 제2 정렬 불량 중 어느 하나가 검출되면, 타이밍 컨트롤러(1000)는 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호(ED)를 출력한다. 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호(ED)에 따라 타이밍 컨트롤러(1000)는 스캔 신호(SC)의 출력을 중지하여 영상이 표시되지 않도록 한다. 타이밍 컨트롤러(1000)는 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호(ED)를 메인 보드(200)의 MCU(210)로 출력하고, MCU(210)는 에러 검출 신호(ED)에 따라 전원 오프를 지시하는 전원 신호(PE)를 전원 공급 장치(300)에 출력한다. 전원 공급 장치(300)는 전원 오프를 지시하는 전원 신호(PE)에 따라 표시 장치에 제공되는 전원을 오프한다.
이와 같이, 제1 정렬 불량 또는 제2 정렬 불량이 발생하면, 스캔 신호(SC)의 출력을 중지하고 표시 장치의 전원을 오프한다.
제1 정렬 불량 또는 제2 정렬 불량이 발생한 상태에서 표시 장치가 영상을 표시하는 구동을 하게 되면 데이터 구동부(115)와 표시 패널(100)이 과전류에 의해 번트(burnt)되어 고장날 수 있다.
하지만, 본 실시예에서는 온 센싱에서 정렬 불량을 검출하여 우선적으로 스캔 신호(SC)의 출력을 중지하여 영상이 표시되지 않도록 함으로써 1차적으로 번트 고장을 방지할 수 있다. 다음으로 전원의 방전에 시간이 소요되는 표시 장치의 전원 오프를 진행하여 2차적으로 번트 고장을 방지할 수 있다.
이하, 도 2 및 3을 참조하여 온 센싱을 수행할 수 있는 화소(PX)의 일 예에 대하여 설명하고, 온 센싱을 수행하는 데이터 구동부(115)에 대하여 설명한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 화소를 나타내는 회로도이다. 도 1의 표시 장치에 포함되는 복수의 화소(PX) 중에서 n번째 화소행과 m번째 화소열에 위치하는 화소(PX)를 예로 들어 설명한다.
도 2를 참조하면, 화소(PX)는 발광 다이오드(LED) 및 화소 회로(10)를 포함한다.
화소 회로(10)는 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 발광 다이오드(LED)로 흐르는 전류를 제어하도록 구성된다. 화소 회로(10)는 구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2), 센싱 트랜지스터(TR3) 및 유지 커패시터(Cst)를 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(TR1)는 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제1 전원 전압(ELVDD)이 인가되는 제1 전극 및 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 구동 트랜지스터(TR1)는 제1 전원 전압(ELVDD)과 발광 다이오드(LED) 사이에 연결되고, 제1 노드(N1)의 전압에 대응하여 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 발광 다이오드(LED)로 흐르는 전류량을 제어한다.
스위칭 트랜지스터(TR2)는 스캔 라인(SCLn)에 연결되어 있는 게이트 전극, 데이터 라인(DLm)에 연결되어 있는 제1 전극 및 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 스위칭 트랜지스터(TR2)는 데이터 라인(DLm)과 구동 트랜지스터(TR1) 사이에 연결되고, 스캔 라인(SCLn)에 인가되는 게이트 온 전압의 스캔 신호에 의해 턴 온되어 데이터 라인(DLm)에 인가되는 데이터 전압(Vdat)을 제1 노드(N1)에 전달한다.
센싱 트랜지스터(TR3)는 센싱 라인(SSLn)에 연결되어 있는 게이트 전극, 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제1 전극 및 수신 라인(RLm)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 센싱 트랜지스터(TR3)는 구동 트랜지스터(TR1)의 제2 전극과 수신 라인(RLm) 사이에 연결되고, 센싱 라인(SSLn)에 인가되는 게이트 온 전압의 센싱 신호에 의해 턴 온되어 구동 트랜지스터(TR1)를 통해 발광 다이오드(LED)로 흐르는 전류를 수신 라인(RLm)에 전달한다. 한편, 수신 라인(RLm)은 초기화 전압을 제2 노드(N2)에 전달하는 배선으로 사용될 수 있다. 수신 라인(RLm)을 통해 초기화 전압이 제2 노드(N2)에 인가됨에 따라 발광 다이오드(LED)의 애노드 전압을 초기화시킬 수 있다.
구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2) 및 센싱 트랜지스터(TR3)는 n-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. n-채널 전계 효과 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 하이 레벨 전압이고, 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 로우 레벨 전압이다. 실시예에 따라, 구동 트랜지스터(TR1), 스위칭 트랜지스터(TR2) 및 센싱 트랜지스터(TR3) 중 적어도 하나는 p-채널 전계 효과 트랜지스터일 수 있다. p-채널 전계 효과 트랜지스터를 턴 온시키는 게이트 온 전압은 로우 레벨 전압이고, 턴 오프시키는 게이트 오프 전압은 하이 레벨 전압이다.
유지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)에 연결되어 있는 제1 전극 및 제2 노드(N2)에 연결되어 있는 제2 전극을 포함한다. 제1 노드(N1)에는 데이터 전압(Vdat)이 전달되고, 유지 커패시터(Cst)는 제1 노드(N1)의 전압을 유지하는 역할을 한다.
발광 다이오드(LED)는 제2 노드(N2)에 연결된 애노드 전극 및 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 캐소드 전극을 포함한다. 발광 다이오드(LED)는 화소 회로(10)로부터 공급되는 전류에 대응하는 휘도로 발광할 수 있다. 발광 다이오드(LED)는 기본색(primary color) 중 하나의 빛 또는 백색의 빛을 낼 수 있다. 기본색의 예로는 적색, 녹색, 청색의 삼원색을 들 수 있다. 기본색의 다른 예로 황색(yellow), 청록색(cyan), 자홍색(magenta) 등을 들 수 있다. 발광 다이오드(LED)는 유기 화합물의 발광층을 포함하는 유기 발광 다이오드일 수 있다. 또는 발광 다이오드(LED)는 무기 화합물의 발광층을 포함하는 무기 발광 다이오드일 수 있다.
온 센싱시에 게이트 온 전압의 스캔 신호가 스캔 라인(SCLn)에 인가되고, 미리 정해진 레벨의 데이터 전압(Vdat)(하이 레벨 전압)이 데이터 라인(DLm)에 인가된다. 미리 정해진 레벨의 데이터 전압(Vdat)이 구동 트랜지스터(TR1)의 게이트 전극에 인가되고, 구동 트랜지스터(TR1)를 통해 제1 전원 전압(ELVDD)으로부터 발광 다이오드(LED)로 전류가 흐른다. 이때, 게이트 온 전압의 센싱 신호가 센싱 라인(SSLn)에 인가되어 발광 다이오드(LED)로 흐르는 전압이 센싱 트랜지스터(TR3)를 통해 데이터 구동부(115)로 전달된다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 데이터 구동부를 나타내는 블록도이다. 도 1의 표시 장치에 포함되는 i번째 데이터 구동부(115)를 예로 들어 설명한다.
도 3을 참조하면, 데이터 구동부(115)는 데이터 전압 생성부(15) 및 센싱부(17)를 포함한다.
데이터 전압 생성부(15)는 데이터 구동부(115)에 대응하는 블록에 포함되는 복수의 화소(PX)에 연결되는 복수의 데이터 라인(DLi 내지 DL(i+k))에 연결되어 있다. 데이터 전압 생성부(15)는 디지털-아날로그 컨버터(이하, DAC)(16)를 포함하고, 타이밍 컨트롤러(1000)로부터 영상 데이터 신호(DAT)를 수신하고, DAC(16)를 이용하여 영상 데이터 신호(DAT)를 아날로그 신호인 데이터 전압(Vdat)으로 변환하여 복수의 데이터 라인(DLi 내지 DL(i+k))에 인가한다.
센싱부(17)는 데이터 구동부(115)에 대응하는 블록에 포함되는 복수의 화소(PX)에 연결되는 복수의 수신 라인(RLi 내지 RL(i+k))에 연결되어 있다. 센싱부(17)는 아날로그-디지털 컨버터(이하, ADC)(18)를 포함하고, 복수의 수신 라인(RLi 내지 RL(i+k))을 통해 복수의 화소(PX)에 흐르는 전압을 수신하고, ADC(18)를 이용하여 화소(PX)의 전압을 디지털 신호로 변환하여 이동도 센싱 정보(SI)를 생성할 수 있다. 이동도 센싱 정보(SI)는 데이터 구동부(115)에 대응하는 블록에 포함되는 복수의 화소(PX) 각각의 이동도 정보를 포함할 수 있다. 센싱부(17)는 이동도 센싱 정보(SI)를 타이밍 컨트롤러(1000)에 전달한다.
이와 같이, 각각의 데이터 구동부(115)가 이동도 센싱 정보(SI)를 생성하므로, 타이밍 컨트롤러(1000)는 데이터 구동부(115)별로 또는 각 블록별로 이동도 센싱 정보(SI)를 판정할 수 있다. 또한, 이동도 센싱 정보(SI)는 각 블록에 포함된 복수의 화소(PX) 각각의 이동도 정보를 포함하므로, 타이밍 컨트롤러(1000)는 복수의 화소(PX) 각각의 이동도를 확인하고, 복수의 수신 라인(RLi 내지 RL(i+k))별로 이동도의 산포를 분석할 수 있다.
이하, 도 4를 참조하여 이동도 센싱 정보(SI)를 기반으로 제1 정렬 불량 및 제2 정렬 불량을 검출하는 타이밍 컨트롤러(1000)의 구조에 대하여 설명한다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 타이밍 컨트롤러를 나타내는 블록도이다.
도 4를 참조하면, 일 실시예에 따른 타이밍 컨트롤러(1000)는 프레임 메모리(1100), 센싱 분석부(1200), 불량 라인 분석부(1300), 모니터링부(1400) 및 라인 재검사부(1500)를 포함한다.
프레임 메모리(1100)는 한 프레임의 이동도 센싱 정보(SI)를 저장하며, 블록별 프레임 메모리(1101)를 포함한다. 블록별 프레임 메모리(1101)는 복수의 데이터 구동부(115)에 대응하는 개수로 마련되고, 각각의 블록별 프레임 메모리(1101)는 복수의 데이터 구동부(115) 각각으로부터 이동도 센싱 정보(SI)를 수신하여 저장한다. 블록별 프레임 메모리(1101)는 저장된 블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16)를 센싱 분석부(1200)에 전달한다.
센싱 분석부(1200)는 블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16) 각각에서 블록별 이동도 산포를 분석하고, 각각의 블록별 이동도 산포와 센싱 허용값(SLV)을 비교한다. 블록별 이동도 산포는 블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16)에서 이동도의 최대값과 최소값의 차이이다. 센싱 허용값(SLV)은 작업자 또는 사용자에 의해 미리 정해지는 값이다.
센싱 분석부(1200)는 블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV) 이하인 경우 해당 블록에 대응하여 정렬 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하고, 정상 상태를 지시하는 제1 에러 검출 신호(ED(OK))를 출력할 수 있다. 제1 에러 검출 신호(ES(OK))에 따라 타이밍 컨트롤러(1000)는 정상적으로 영상이 표시되도록 표시 장치를 구동한다.
센싱 분석부(1200)는 블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우 해당 블록에 대응하여 제1 정렬 불량이 발생한 발생한 것으로 판정하고, 해당 블록에 대한 블록 불량 정보(NGB)를 생성한다. 블록 불량 정보(NGB)는 해당 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부(115)의 위치 정보를 포함할 수 있다.
불량 라인 분석부(1300)는 센싱 분석부(1200)로부터 블록 불량 정보(NGB)가 수신되면, 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 라인별 이동도 산포와 센싱 허용값(SLV)을 비교한다. 라인별 이동도 산포는 데이터 라인 또는 수신 라인별로 이동도의 최대값과 최소값의 차이이다. 불량 라인 분석부(1300)는 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우가 특정 라인에만 발생하는지 또는 블록 내의 전체 라인에 발생하지는 분석한다. 불량 라인 분석부(1300)는 블록 내의 전체 라인에서 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우에는 제1 정렬 불량으로 판정한다. 불량 라인 분석부(1300)는 블록 내에서 특정 라인에만 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우에는 제2 정렬 불량임을 판정한다.
불량 라인 분석부(1300)는 판정 결과에 따라 제1 정렬 불량 또는 제2 정렬 불량을 지시하는 라인 불량 정보(NGL)를 생성한다. 라인 불량 정보(NGL)는 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 특정 라인의 위치 정보를 포함할 수 있다. 라인 불량 정보(NGL)는 모니터링부(1400) 및 라인 재검사부(1500)에 전달된다.
모니터링부(1400)는 I2C(Inter-Integrated Circuit)과 같은 인터페이스(I2C I/F)를 통해 외부의 검사 PC(2000)와 연결되고, 센싱 분석부(1200)로부터 블록 불량 정보(NGB)를 수신하고, 불량 라인 분석부(1300)로부터 라인 불량 정보(NGL)를 수신하고, 정렬 불량 정보(NGI)를 생성하여 검사 PC(2000)로 출력한다. 정렬 불량 정보(NGI)는 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부(115)의 위치 정보를 포함할 수 있다. 또는, 정렬 불량 정보(NGI)는 제2 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 라인 또는 수신 라인의 위치 정보를 포함할 수 있다.
모니터링부(1400)는 정렬 불량 정보(NGI)에 대응하여 정렬 불량을 지시하는 제2 에러 검출 신호(ED(NG))를 출력할 수 있다. 제2 에러 검출 신호(EN(NG))는 에러 발생을 지시하는 신호로서, 제2 에러 검출 신호(EN(NG))에 따라 스캔 신호(SC)의 출력이 중지되고, MCU(210)에서 전원 오프를 지시하는 전원 신호(PE)가 전원 공급 장치(300)로 출력되어 표시 장치의 전원이 오프될 수 있다.
라인 재검사부(1500)는 불량 라인 분석부(1300)로부터 라인 불량 정보(NGL)가 수신되면 정렬 불량이 발생한 데이터 라인 또는 수신 라인에 연결된 화소(PX)에 대한 이동도 측정을 재수행하는 역할을 한다. 라인 재검사부(1500)는 라인 불량 정보(NGL)에 따라 정렬 불량이 발생한 데이터 라인 또는 수신 라인의 위치 정보를 센싱 분석부(1200)에 전달하고, 센싱 분석부(1200)는 해당 라인에 대한 이동도 산포를 분석하여 재검사된 라인 불량 정보(NGL')를 불량 라인 분석부(1300)에 제공한다. 불량 라인 분석부(1300)는 재검사된 라인 불량 정보(NGL')와 앞서 생성된 라인 불량 정보(NGL)와 비교하여 서로 동일한 경우 라인 불량 정보(NGL)를 최종 확정할 수 있다. 최종 확정된 라인 불량 정보(NGL)가 모니터링부(1400)에 전달된다.
만일, 재검사된 라인 불량 정보(NGL')와 앞서 생성된 라인 불량 정보(NGL)가 서로 다른 경우, 제2 정렬 불량이 아니라 제1 정렬 불량으로 판정된다. 즉, 라인의 정렬 불량이 측정할 때마다 불규칙하게 서로 다른 라인에 대해 라인 불량이 발생하는 경우는 표시 패널(100)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량 때문에 발생할 수 있기 때문이다.
이하, 도 5 내지 7을 참조하여 정렬 불량을 검출하는 방법에 대하여 설명한다. 상술한 타이밍 컨트롤러(1000)를 이용하여 도 5 내지 7의 정렬 불량 검출 방법을 수행할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 표시 장치의 구동 방법을 나타내는 흐름도이다. 도 6은 인쇄 회로 기판과 데이터 구동부 간의 연결 불량을 설명하기 위한 예시도이다. 도 7은 표시 패널과 데이터 구동부 간의 연결 불량을 설명하기 위한 예시도이다.
도 5 내지 7을 참조하면, 표시 장치의 전원이 온 되면(S110), 영상이 표시되기 전까지 온 센싱이 수행된다. 온 센싱에 의해 한 프레임의 이동도 센싱 정보(SI)를 획득할 수 있다. 이동도 센싱 정보(SI)는 블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16)를 포함할 수 있다.
블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16) 각각에서 블록별 이동도 산포를 분석하고, 각각의 블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰지 여부를 판단한다(S120). 블록별 이동도 산포는 블록별 이동도 센싱 정보(SI-1, SI-2, SI-3, …, SI-14, SI-15, SI-16)에서 이동도의 최대값과 최소값의 차이이다.
블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV) 이하인 경우, 해당 블록에 대응하여 정렬 불량이 발생하지 않은 것으로 판정한다. 모든 블록에 대응하여 정렬 불량이 발생하지 않은 것으로 판정되면 정상 상태를 지시하는 제1 에러 검출 신호(ED(OK))가 출력된다(S122).
제1 에러 검출 신호(ES(OK))에 따라 표시 장치는 영상을 표시하는 정상 구동한다(S124).
블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우, 해당 블록에 대응하여 제1 정렬 불량이 발생한 발생한 것으로 판정되고, 해당 블록에 대한 블록 불량 정보(NGB)를 생성한다(S130). 즉, 제1 인쇄 회로 기판(120)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 사이 영역(NG1)에서 제1 정렬 불량이 발생한 것으로 판정된다. 블록 불량 정보(NGB)는 해당 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부(115)의 위치 정보를 포함할 수 있다. 도 6에 예시한 바와 같이, 4번째, 7번째, 12번째 블록이 블록별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 크게 발생하는 불량 블록(NG Block)으로 판정되는 경우, 블록 불량 정보(NGB)는 4번째, 7번째, 12번째 블록 또는 4번째, 7번째, 12번째 데이터 구동부(115)의 위치 정보를 포함하게 된다.
제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우가 특정 라인에만 발생하는지 또는 해당 블록 내의 전체 라인에서 발생하지는 분석한다(S140). 라인별 이동도 산포는 데이터 라인 또는 수신 라인별로 이동도의 최대값과 최소값의 차이이다.
블록 내의 전체 라인에서 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우에는 제1 인쇄 회로 기판(120)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량(제1 정렬 불량)으로 판정한다(S142). 제1 정렬 불량이 판정되면, 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 제1 정렬 불량이 발생한 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부(115)의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보(NGI)를 외부의 검사 PC(2000)로 출력할 수 있다.
블록 내에서 특정 라인에만 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 큰 경우에는 표시 패널(100)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량(제2 정렬 불량)임을 추정하고, 제1 라인 불량 정보(NGL)를 생성한다.
제2 정렬 불량이 추정되는 데이터 라인 또는 수신 라인에 연결된 화소(PX)에 대한 이동도를 재검사한다(S144). 해당 라인에 대한 이동도 산포를 분석하여 재검사된 제2 라인 불량 정보(NGL')를 생성하고, 앞서 생성된 제1 라인 불량 정보(NGL)와 재검사된 제2 라인 불량 정보(NGL')를 비교하여 서로 동일한 경우 제1 라인 불량 정보(NGL)를 최종 확정한다(S146). 즉, 표시 패널(100)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 사이의 영역(NG2)에서 제2 정렬 불량이 발생한 것으로 확정된다. 도 7에 예시한 바와 같이, 4번째, 7번째, 12번째 블록에서 특정 라인에서 라인별 이동도 산포가 센싱 허용값(SLV)보다 크게 발생하는 불량 라인(NG Line)으로 판정되는 경우, 라인 불량 정보(NGL)는 4번째, 7번째, 12번째 블록 또는 4번째, 7번째, 12번째 데이터 구동부(115)에서 해당 라인의 위치 정보를 포함하게 된다.
확정된 라인 불량 정보(NGL)에 따라 제1 인쇄 회로 기판(120)과 제1 가요성 인쇄 회로 기판(110) 간의 정렬 불량(제2 정렬 불량)으로 판정한다(S148). 제2 정렬 불량이 판정되면, 제2 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 라인 또는 수신 라인의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보(NGI)를 외부의 검사 PC(2000)로 출력할 수 있다.
제1 정렬 불량 또는 제2 정렬 불량이 판정되면, 정렬 불량을 지시하는 제2 에러 검출 신호(ED(NG))를 출력한다(S150).
제2 에러 검출 신호(EN(NG))는 에러 발생을 지시하는 신호로서, 제2 에러 검출 신호(EN(NG))에 따라 스캔 신호(SC)의 출력이 중지된다(S160).
그리고 MCU(210)에서 전원 오프를 지시하는 전원 신호(PE)가 전원 공급 장치(300)로 출력되어 표시 장치에 공급되는 전원이 오프된다(S170).
지금까지 참조한 도면과 기재된 발명의 상세한 설명은 단지 본 발명의 예시적인 것으로서, 이는 단지 본 발명을 설명하기 위한 목적에서 사용된 것이지 의미 한정이나 특허청구범위에 기재된 본 발명의 범위를 제한하기 위하여 사용된 것은 아니다. 그러므로 본 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시 예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의해 정해져야 할 것이다.
100: 표시 패널
110, 130, 150: 가요성 인쇄 회로 기판
120, 140: 인쇄 회로 기판
115: 데이터 구동부
200: 메인 보드
210: MCU
300: 전원 공급 장치
10000: 타이밍 컨트롤러
1100: 프레임 메모리
1200: 센싱 분석부
1300: 불량 라인 분석부
1400: 모니터링부
1500: 라인 재검사부
2000: 검사 PC

Claims (20)

  1. 복수의 화소를 포함하는 표시 패널;
    상기 표시 패널에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 가요성 인쇄 회로 기판;
    상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 인쇄 회로 기판;
    상기 복수의 화소에 데이터 전압을 인가하고, 상기 복수의 화소에 흐르는 전압을 수신하여 이동도 센싱 정보를 생성하는 데이터 구동부; 및
    상기 이동도 센싱 정보를 기반으로 상기 제1 인쇄 회로 기판과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제1 정렬 불량, 상기 표시 패널과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제2 정렬 불량을 검출하는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 표시 장치.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는 상기 제1 정렬 불량 및 상기 제2 정렬 불량 중 어느 하나가 검출되면 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호를 출력하고, 상기 에러 검출 신호에 따라 상기 복수의 화소에 인가되는 스캔 신호의 출력을 중지하는 표시 장치.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 표시 장치에 전원을 공급하는 전원 공급 장치를 더 포함하고,
    상기 전원 공급 장치는 상기 에러 검출 신호에 대응하여 상기 전원을 오프하는 표시 장치.
  4. 제1 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는,
    상기 데이터 구동부에 대응하여 상기 표시 패널은 구분하는 블록별 이동도 센싱 정보를 저장하는 프레임 메모리;
    상기 블록별 이동도 센싱 정보 각각에서 블록별 이동도 산포를 분석하는 센싱 분석부; 및
    상기 데이터 구동부에 연결되는 데이터 라인에 대한 라인별 이동도 산포를 분석하는 불량 라인 분석부를 포함하는 표시 장치.
  5. 제4 항에 있어서,
    상기 센싱 분석부는 상기 블록별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우 해당 블록에 대응하여 상기 제1 정렬 불량이 발생한 것으로 판정하는 표시 장치.
  6. 제4 항에 있어서,
    상기 불량 라인 분석부는 상기 라인별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우가 특정 라인에만 발생하면 상기 제2 정렬 불량이 발생한 것으로 판정하는 표시 장치.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는,
    상기 특정 라인에 대한 이동도 측정을 재수행하는 역할을 하는 라인 재검사부를 더 포함하는 표시 장치.
  8. 제4 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는,
    상기 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 출력하는 모니터링부를 더 포함하는 표시 장치.
  9. 제8 항에 있어서,
    상기 모니터링부는 상기 제2 정렬 불량에 대한 정보와 함께 정렬 불량이 발생한 데이터 라인의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 출력하는 표시 장치.
  10. 복수의 화소를 포함하는 표시 패널, 상기 표시 패널에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 가요성 인쇄 회로 기판, 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판에 부착되어 전기적으로 연결되는 제1 인쇄 회로 기판, 및 상기 복수의 화소에 데이터 전압을 인가하고 상기 복수의 화소에 흐르는 전압을 수신하는 데이터 구동부를 포함하는 표시 장치의 구동 방법에 있어서,
    상기 데이터 구동부에 대응하여 상기 표시 패널을 구분하는 블록별 이동도 산포를 분석하는 단계;
    상기 블록별 이동도 산포가 미리 정해진 센싱 허용값보다 큰 경우, 상기 제1 인쇄 회로 기판과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제1 정렬 불량을 판정하는 단계; 및
    상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 데이터 라인에 연결되는 데이터 라인에 대한 라인별 이동도 산포를 분석하고, 상기 표시 패널과 상기 제1 가요성 인쇄 회로 기판 간의 제2 정렬 불량을 판정하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  11. 제10 항에 있어서,
    상기 블록별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값 이하인 경우, 해당 블록에 대응하여 정렬 불량이 발생하지 않은 것으로 판정하고, 영상을 표시하는 정상 구동을 하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  12. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 불량을 판정하면 해당 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 블록 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  13. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 라인별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값보다 큰 경우가 해당 블록 내의 전체 데이터 라인에서 발생하면 상기 제1 정렬 불량을 판정하는 표시 장치의 구동 방법.
  14. 제13 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 불량에 대한 정보와 함께 상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록의 위치 정보 또는 해당 블록에 대응하는 데이터 구동부의 위치 정보를 포함하는 정렬 불량 정보를 외부로 출력하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  15. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 불량이 발생한 블록 내에서 상기 라인별 이동도 산포가 상기 센싱 허용값보다 큰 경우가 특정 데이터 라인에만 발생하면 상기 제2 정렬 불량을 추정하고 제1 라인 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  16. 제15 항에 있어서,
    상기 제2 정렬 불량이 추정되는 데이터 라인에 연결된 화소에 대한 이동도를 재검사하여 제2 라인 불량 정보를 생성하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  17. 제16 항에 있어서,
    상기 제1 라인 불량 정보와 상기 제2 라인 불량 정보를 비교하여 서로 동일하면 상기 제1 라인 불량 정보를 확정하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  18. 제17 항에 있어서,
    상기 확정된 제1 라인 불량 정보에 따라 상기 제2 정렬 불량을 판정하는 표시 장치의 구동 방법.
  19. 제10 항에 있어서,
    상기 제1 정렬 불량 및 상기 제2 정렬 불량 중 어느 하나가 검출되면 에러 발생을 지시하는 에러 검출 신호를 출력하고, 상기 에러 검출 신호에 따라 상기 복수의 화소에 인가되는 스캔 신호의 출력을 중지하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  20. 제19 항에 있어서,
    상기 에러 검출 신호에 대응하여 상기 표시 장치에 공급되는 전원을 오프하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
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