CN110634429A - 照明测试设备、照明测试方法和照明测试系统 - Google Patents

照明测试设备、照明测试方法和照明测试系统 Download PDF

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CN110634429A CN201910428322.9A CN201910428322A CN110634429A CN 110634429 A CN110634429 A CN 110634429A CN 201910428322 A CN201910428322 A CN 201910428322A CN 110634429 A CN110634429 A CN 110634429A
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Abstract

本申请涉及照明测试设备、照明测试方法以及照明测试系统。用于显示面板的照明测试设备包括：连接部，包括布置在连接部的一端处的第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，其中连接部能够通过第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和测试焊盘连接至显示面板；以及测试电路，向第一连接测试焊盘输出连接测试信号，通过第二连接测试焊盘接收反馈信号，并且基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。

Description

照明测试设备、照明测试方法和照明测试系统
相关申请的交叉引用
本申请要求于2018年6月22日提交的第10-2018-0072297号韩国专利申请的优先权以及来自该韩国专利申请的全部权益，所述韩国专利申请的内容通过引用以其整体并入本文。
技术领域
本公开涉及照明测试设备、检查显示面板是否正常发光的照明测试方法以及包括照明测试设备的照明测试系统。
背景技术
有机发光显示设备通常利用自发射式的有机发光二极管显示图像，并且已经由于其优质的亮度和颜色纯度而作为下一代设备受到瞩目。有机发光显示设备的显示面板可包括红色像素、绿色像素和蓝色像素，并且可通过红色像素、绿色像素和蓝色像素显示各种颜色的图像。
在有机发光显示设备的制造过程中，在将显示面板连接至驱动电路之前，需要利用照明测试设备进行照明测试来测试布置在显示面板中的红色像素、绿色像素和蓝色像素的照明状态。
发明内容
本公开提供了用于测试显示面板的照明状态的照明测试设备。
本公开提供了用于显示面板的照明测试方法。
本公开提供了用于显示面板的照明测试系统。
根据本发明的实施方式，照明测试设备包括连接部和测试电路，其中，连接部包括布置在连接部的一端处的第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，其中连接部能够通过第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和测试焊盘连接至显示面板；测试电路向第一连接测试焊盘输出连接测试信号，通过第二连接测试焊盘接收反馈信号，并且基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，测试电路可包括测试信号生成电路、电压感测电路和补偿电路，其中，测试信号生成电路生成连接测试信号；电压感测电路通过第二连接测试焊盘接收反馈信号，感测反馈信号的电压电平并且基于反馈信号的电压电平输出感测电压信号；补偿电路基于连接测试信号和感测电压信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，测试电路还可包括连接在地电压与接收反馈信号的信号线之间的电阻器。
在实施方式中，电阻器可以是可变电阻器，且电压感测电路可向可变电阻器施加电阻可变信号以改变可变电阻器的电阻值。
在实施方式中，连接部还可包括待连接至显示面板的第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘。
在实施方式中，测试电路还可向第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号，还通过第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，并且基于连接测试信号、另一连接测试信号、反馈信号和另一反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，连接部还可包括在连接部上布置成将第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘电连接的信号线。
在实施方式中，当连接测试信号与反馈信号之间的电压差以及另一连接测试信号与另一反馈信号之间的电压差大于参考值时，测试电路可将待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平增大预定比例。
在实施方式中，连接部可包括柔性印刷电路板。
根据本发明的另一实施方式，用于具有第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘的照明测试设备的照明测试方法包括：向第一连接测试焊盘输出连接测试信号；从第二连接测试焊盘接收反馈信号；以及基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，照明测试设备还可包括连接在地电压与接收反馈信号的信号线之间的电阻器。
在实施方式中，该方法还可包括：改变电阻器的电阻值，其中电阻器是可变电阻器。
在实施方式中，照明测试设备还可包括第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘，且该方法还可包括：向第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号，从第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，其中调整待施加至所述测试焊盘的测试信号的电压电平可包括基于连接测试信号、另一连接测试信号、反馈信号和另一反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，调整待施加至所述测试焊盘的测试信号的电压电平可包括：当连接测试信号与反馈信号之间的电压差以及另一连接测试信号与另一反馈信号之间的电压差大于参考值时，将待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平增大预定比例。
根据本发明的另一实施方式，照明测试系统包括显示面板和照明测试设备，其中，显示面板包括显示区域和非显示区域，在显示区域中布置有多个像素；照明测试设备测试显示面板的像素的照明状态。在该实施方式中，照明测试设备包括连接部和测试电路，其中，连接部包括布置在连接部的一端处的第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，其中连接部能够通过第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和测试焊盘连接至显示面板；测试电路向第一连接测试焊盘输出连接测试信号，通过第二连接测试焊盘接收反馈信号，并且基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。在该实施方式中，显示面板包括：布置在非显示区域的一端处且分别连接至第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和测试焊盘的第一连接焊盘、第二连接焊盘和多个焊盘；以及在非显示区域中布置成将第一连接焊盘和第二连接焊盘电连接的测试信号线。
在实施方式中，测试信号线可设置成在显示区域外部环绕显示区域。
在实施方式中，测试电路包括测试信号生成电路、电压感测电路和补偿电路，其中，测试信号生成电路生成连接测试信号；电压感测电路通过第二连接测试焊盘接收反馈信号，感测反馈信号的电压电平，并且基于反馈信号的电压电平输出感测电压信号；补偿电路基于连接测试信号和感测电压信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，测试电路还可包括连接在地电压与接收反馈信号的信号线之间的电阻器。
在实施方式中，电阻器可以是可变电阻器，且电压感测电路可向可变电阻器施加电阻可变信号以改变可变电阻器的电阻值。
在实施方式中，连接部还可包括连接至显示面板的第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘；且测试电路可向第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号，通过第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，并且基于连接测试信号、另一连接测试信号、反馈信号和另一反馈信号调整待施加至测试焊盘的测试信号的电压电平。
在实施方式中，连接部还可包括在连接部上布置成将第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘电连接的信号线。
根据本文中阐述的实施方式，照明测试设备可根据显示面板的焊盘与照明测试设备的测试焊盘之间的连接状态调整测试信号的电压电平。因此，在这样的实施方式中，可基本减少或有效地防止由于显示面板的焊盘与照明测试设备的测试焊盘之间的连接状态而导致的测试结果的失真。
附图说明
当结合附图考虑时，通过参考以下详细描述，本公开的以上特征和其他特征将容易变得明显，在附图中：
图1是示出根据本公开的示例性实施方式的照明测试设备和显示面板的视图；
图2至图4是示出处于连接状态中的照明测试设备和显示面板的示例性实施方式的视图；
图5是示出根据本公开的示例性实施方式的照明测试设备中的测试电路的配置的框图；
图6是示出根据本公开的替代示例性实施方式的处于连接状态中的照明测试设备和显示面板的视图；
图7是示出根据本公开的另一替代示例性实施方式的处于连接状态中的照明测试设备和显示面板的视图；
图8是示出根据本公开的示例性实施方式的显示面板的视图；
图9是示出图8中所示的显示区域、第一测试电路部分和第二测试电路部分的示例性实施方式的视图；
图10是示出图8中所示的显示区域、第一测试电路部分和第二测试电路部分的替代示例性实施方式的视图；以及
图11是示出根据本公开的示例性实施方式的照明测试设备的操作的流程图。
具体实施方式
现在，将在下文中参考示出各实施方式的附图更全面地描述本发明。然而，本发明可以以诸多不同的形式来实现，而不应解释为局限于本文阐述的实施方式。更确切地说，提供这些实施方式以使得本公开将是透彻和完整的，并且将向本领域技术人员充分传达本发明的范围。相同的附图标记通篇表示相同的元件。
应理解，当元件或层被称为在另一元件或层“上”、“连接至”或“联接至”另一元件或层时，它可直接地在所述另一元件或层上、连接或联接至所述另一元件或层，或者可存在介于中间的元件或层。如本文所使用的那样，术语“和/或”包括相关所列项目中的一个或多个的任何和全部组合。
应理解，虽然术语第一、第二等可在本文中用于描述各种元件、组件、区域、层和/或截面，但是这些元件、组件、区域、层和/或截面不应受这些术语限制。这些术语仅用于将一个元件、组件、区域、层或截面与另一元件、组件、区域、层或截面区分开。因此，在没有脱离本发明的教导的情况下，下面讨论的第一元件、第一组件、第一区域、第一层或第一截面可被称为第二元件、第二组件、第二区域、第二层或第二截面。
本文使用的术语仅是出于描述具体实施方式的目的，而并非旨在进行限制。如本文所使用的那样，除非上下文清楚地另行指出，否则单数形式“一”、“一个”和“所述”旨在包括复数形式，包括“至少一个”。“至少A和B”表示“A或B”。“或”表示“和/或”。如本文所使用的那样，术语“和/或”包括相关所列项目中的一个或多个的任何和全部组合。还应理解，术语“包括(comprises)”和/或“包括(comprising)”或者“包括(includes)”和/或“包括(including)”当在该说明书中使用时指出存在所阐述的特征、区域、整体、步骤、操作、元件和/或组件，但是不排除存在或添加一个或多个其他的特征、区域、整体、步骤、操作、元件、组件和/或其组合。
为了便于描述，诸如“下面”、“下方”、“下部”、“上方”、“上部”等空间相对术语可在本文中用于描述如附图中所示的一个元件或特征与另一元件(多个元件)或特征(多个特征)的关系。应理解，除了附图中所描绘的定向之外，空间相对术语还旨在涵盖设备在使用或操作中的不同定向。例如，如果附图中的设备翻转，则描述为在其他元件或特征“下方”或“下面”的元件于是将定向成在所述其他元件或特征“上方”。因此，示例性术语“下方”可涵盖上方和下方两个定向。设备可另行定向(旋转90度或处于其他定向)，且本文使用的空间相对描述语应相应地进行解释。
除非另行限定，否则本文使用的全部术语(包括技术术语和科学术语)具有与本发明所属领域的普通技术人员通常所理解的含义相同的含义。还应理解，术语，诸如常用词典中所定义的那些，应解释为具有与其在相关领域的上下文中的含义相一致的含义，并且将不在理想化或过于形式化的意义上进行解释，除非本文明确地限定成这样。
在下文中，将参考附图详细描述本发明的示例性实施方式。
图1是示出根据本公开的示例性实施方式的照明(lighting)测试设备100和显示面板200的视图。
参考图1，根据示例性实施方式的照明测试设备100用于测试显示面板200的照明状态。在该实施方式中，照明测试设备100包括连接部110和测试电路130。
连接部110可通过其上布置有多条信号线112的柔性印刷电路板(FPCB)来实现，且连接部110可在其一端处包括焊盘部111。焊盘部111中布置有第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和多个测试焊盘TP1至TPk。在示例性实施方式中，如图1中所示，测试焊盘TP1至TPk布置在焊盘部111的中央部分中，且第一连接测试焊盘TCP1和第二连接测试焊盘TCP2分别布置在焊盘部111的两端处，使得测试焊盘TP1至TPk布置在第一连接测试焊盘TCP1和第二连接测试焊盘TCP2之间。
连接部110可通过焊盘部111的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk连接至显示面板200。
测试电路130通过连接部110向第一连接测试焊盘TCP1输出连接测试信号，通过连接部110从第二连接测试焊盘TCP2接收反馈信号，并且基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号的电压电平。稍后将更详细地描述测试电路130的电路配置和操作。
显示面板200包括显示区域210和非显示区域220。虽然附图中未示出，但是在显示区域210中布置有多个像素。像素中的每一个包括例如有机发光二极管(OLED)。在非显示区域220的一端中限定有连接至连接部110的焊盘部111的显示面板焊盘部230。显示面板焊盘部230包括第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和多个焊盘P1至Pk。第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2通过测试信号线221彼此电连接。测试信号线221布置成在非显示区域220中在显示区域210外部环绕显示区域210。
图2至图4是示出处于连接状态的照明测试设备100和显示面板200的示例性实施方式的视图。
参考图2，布置在照明测试设备100的连接部110的下部分上的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk分别连接至第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk。
图2示出了照明测试设备100和显示面板200处于其中照明测试设备100的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk分别直接连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk的状态中的示例性实施方式。在该实施方式中，照明测试设备100还可包括固定设备(未示出)以维持第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk与第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk之间的连接状态。
在示例性实施方式中，如图2中所示，连接部110的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk在预定位置中完全地连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk。在该实施方式中，连接部110的测试焊盘TP1至TPk可基本完全地连接至显示面板200的焊盘P1至Pk，使得从测试电路130提供的测试信号可在不失真的情况下施加至显示面板200。
在该实施方式中，如图3和图4中所示，连接部110的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk可与显示面板200的第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk错位预定距离，并且不完全地连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk。
在该实施方式中，当连接部110的第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和测试焊盘TP1至TPk与第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk错位时，从测试电路130施加至显示面板200的测试信号可能由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的不完全连接状态而失真。在一个示例性实施方式中，例如，当连接电阻由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的不完全连接状态而改变时，从测试电路130提供的测试信号与在显示面板200处接收的测试信号之间可能出现差异，使得对显示面板200的测试结果可能由于所述差异而失真。
当电源电压的电压电平和数据信号的电压电平由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的连接差异而降低时，即使照明测试设备100的测试电路130以适当的电压电平提供电源电压和数据信号，布置在显示面板200中的像素也可能不会被点亮。像素中的照明误差是由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的连接状态造成，然而，由于像素中的照明误差，布置在显示面板200中的像素可能被确定为有缺陷的。
图5是示出根据本公开的示例性实施方式的照明测试设备100中的测试电路130的配置的框图。
参考图5，根据示例性实施方式的测试电路130包括接口电路310、测试信号生成电路320、补偿电路330、电压感测电路340和电阻器VR。
接口电路310向焊盘部111传输从测试信号生成电路320和补偿电路330输出的连接测试信号TS1和测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)，并且向电压感测电路340传输来自焊盘部111的反馈信号FS1。接口电路310可包括连接器以将焊盘部111和测试电路130连接。
测试信号生成电路320输出连接测试信号TS1。连接测试信号TS1通过接口电路310施加至焊盘部111的第一连接测试焊盘TCP1。
电压感测电路340感测通过接口电路310从焊盘部111的第二连接测试焊盘TCP2提供至其的反馈信号FS1的电压电平，并且向补偿电路330传输与所感测的电压电平对应的感测电压信号DV。
补偿电路330基于连接测试信号TS1和感测电压信号DV调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平。
参考图2和图5，由测试信号生成电路320生成的连接测试信号TS1通过连接部110的第一连接测试焊盘TCP1、显示面板200的第一连接焊盘CP1、测试信号线221、显示面板200的第二连接焊盘CP2和连接部110的第二连接测试焊盘TCP2作为反馈信号FS1反馈回到电压感测电路340。
补偿电路330可基于连接测试信号TS1、第一连接测试焊盘TCP1与第一连接焊盘CP1之间的连接电阻、测试信号线221的电阻以及第二连接测试焊盘TCP2与第二连接焊盘CP2之间的连接电阻来计算目标电压电平。补偿电路330可根据目标电压电平与感测电压信号DV之间的差异调整测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平。在示例性实施方式中，当目标电压电平与感测电压信号DV之间的差异大于参考值时，测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平可增大预定比例。
如图2中所示，在连接部110的第一连接测试焊盘TCP1和第二连接测试焊盘TCP2基本完全地连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2的情况中，感测电压信号DV的电压电平接近目标电压电平。在该情况中，可以不调整测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平。
如图3和图4中所示，在连接部110的第一连接测试焊盘TCP1和第二连接测试焊盘TCP2不完全地连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2的情况中，感测电压信号DV的电压电平可低于目标电压电平。在该情况中，测试电路130将测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平增大预定比例。因此，可有效地补偿由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的不完全连接而导致的测试信号的失真。
返回参考图5，电阻器VR连接在地电压与接收反馈信号FS1的电压感测电路340的输入端子之间。在示例性实施方式中，电阻器VR可为但不限于可变电阻器。电压感测电路340输出电阻可变信号VRC以控制或改变电阻器VR的电阻值。
在难以检测或预测第一连接测试焊盘TCP1与第一连接焊盘CP1之间的连接电阻、测试信号线221的电阻以及第二连接测试焊盘TCP2与第二连接焊盘CP2之间的连接电阻的情况中，电压感测电路340可在将电阻器VR的电阻值设定为预定级别之后，根据反馈信号FS1的电压电平改变电阻器VR的电阻值。因此，可考虑第一连接测试焊盘TCP1与第一连接焊盘CP1之间的连接误差以及第二连接测试焊盘TCP2与第二连接焊盘CP2之间的连接误差，精确地补偿测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)。
图6是示出根据本公开的替代示例性实施方式的处于连接状态中的照明测试设备400和显示面板500的视图。
参考图6，在示例性实施方式中，连接部410可通过其上布置有多条信号线412的FPCB来实现，且连接部410可在其一端处包括焊盘部。在该实施方式中，除了第一连接测试焊盘TCP1、第二连接测试焊盘TCP2和多个测试焊盘TP1至TPk之外，在照明测试设备400的连接部410的下部分中还布置有第三连接测试焊盘TCP3和第四连接测试焊盘TCP4。照明测试设备400的连接部410包括电连接第三连接测试焊盘TCP3和第四连接测试焊盘TCP4的第二测试信号线413。
显示面板500包括显示区域510和非显示区域520。在非显示区域520中，除了第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和多个焊盘P1至Pk之外，显示面板500还包括第三连接焊盘CP3和第四连接焊盘CP4。
连接部410的第一连接测试焊盘TCP1至第四连接测试焊盘TCP4分别连接至显示面板500的第一连接焊盘CP1至第四连接焊盘CP4。在该实施方式中，连接部410的测试焊盘TP1至TPk分别连接至显示面板500的焊盘P1至Pk。
测试电路430向第一连接焊盘CP1和第三连接焊盘CP3传输连接测试信号，并且从第二连接焊盘CP2和第四连接焊盘CP4接收反馈信号。测试电路430将连接测试信号的电压电平与反馈信号的电压电平进行比较，以调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号的电压电平。
在示例性实施方式中，在显示面板500的非显示区域520中布置有第一测试信号线521，且在连接部410上布置有第二测试信号线413。第一测试信号线521将第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2电连接。
在该实施方式中，当具有相同的电压电平的连接测试信号传输至第一连接焊盘CP1和第三连接焊盘CP3时，来自第二连接焊盘CP2和第四连接焊盘CP4的反馈信号之间的电压电平差可为相当大的。在该情况中，估计连接部410的焊盘与显示面板500的焊盘之间出现连接误差，且估计出连接部410和显示面板500中的至少一个被损坏，从而可得到对损坏的分析。
图7是示出根据本公开的另一替代示例性实施方式的处于连接状态中的照明测试设备600和显示面板700的视图。
参考图7，在示例性实施方式中，连接部610可通过其上布置有多条信号线612的FPCB来实现，且连接部610可在其一端处包括焊盘部。在该实施方式中，在照明测试设备600的连接部610的下部分中布置有第一连接测试焊盘TCP1至第六连接测试焊盘TCP6以及多个测试焊盘TP1至TPk。照明测试设备600的连接部610包括电连接第五连接测试焊盘TCP5和第六连接测试焊盘TCP6的第三测试信号线613。
显示面板700包括显示区域710和非显示区域720。显示面板700包括位于非显示区域720中的第一连接焊盘CP1至第六连接焊盘CP6以及多个焊盘P1至Pk。
连接部610的第一连接测试焊盘TCP1至第六连接测试焊盘TCP6分别连接至显示面板700的第一连接焊盘CP1至第六连接焊盘CP6。在该实施方式中，连接部610的测试焊盘TP1至TPk分别连接至显示面板700的焊盘P1至Pk。
测试电路630向第一连接焊盘CP1、第三连接焊盘CP3和第五连接焊盘CP5传输连接测试信号，并且从第二连接焊盘CP2、第四连接焊盘CP4和第六连接焊盘CP6接收反馈信号。测试电路630将连接测试信号的电压电平与反馈信号的电压电平进行比较，以调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号的电压电平。
在示例性实施方式中，在显示面板700的非显示区域720中布置有测试信号线721和722。测试信号线721将第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2电连接。测试信号线722将第三连接焊盘CP3和第四连接焊盘CP4电连接。第三测试信号线613布置在连接部610的下部分中。
在该实施方式中，当具有相同的电压电平的连接测试信号传输至第一连接焊盘CP1、第三连接焊盘CP3和第五连接焊盘CP5时，来自第二连接焊盘CP2、第四连接焊盘CP4和第六连接焊盘CP6的反馈信号之间的电压电平差可为相当大的。在该情况中，估计连接部610的焊盘与显示面板700的焊盘之间出现连接误差，且估计出连接部610和显示面板700中的至少一个损坏，从而可得到对损坏的分析。
在该实施方式中，可根据从第二连接焊盘CP2、第四连接焊盘CP4和第六连接焊盘CP6提供的反馈信号的趋势来调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号的电压电平。
在示例性实施方式中，当从第二连接焊盘CP2、第四连接焊盘CP4和第六连接焊盘CP6提供的反馈信号的电压电平与参考值之间的差异值大且差异值彼此相同时，可确定出在连接部610的焊盘与显示面板700的焊盘之间发生连接误差，而不是连接部610和显示面板700本身的缺陷。
因此，在该实施方式中，可精确地检测连接误差并且可精确地补偿误差。
图8是示出根据本公开的示例性实施方式的显示面板200的视图。
参考图8，根据示例性实施方式的显示面板200包括显示区域210和非显示区域220。显示面板200包括布置在非显示区域220中的显示面板焊盘部230、第一测试电路部分240和第二测试电路部分250。连接至图1中所示的连接部110的焊盘部111的显示面板焊盘部230设置在非显示区域220的一端处。显示面板焊盘部230包括第一连接焊盘CP1、第二连接焊盘CP2和焊盘P1至Pk。
第一测试电路部分240响应于通过焊盘P4至Pk-2施加至其的测试信号，向布置在显示区域210中的像素施加照明测试信号。
第二测试电路部分250响应于通过焊盘P1至P3施加至其的测试信号，向布置在显示区域210中的像素施加照明测试信号。从焊盘Pk-1和Pk提供的电源电压ELVDD和ELVSS施加至显示区域210中的像素。
图9是示出图8中所示的显示区域210、第一测试电路部分240和第二测试电路部分250的示例性实施方式的视图。
参考图9，在示例性实施方式中，对应于红色的红色像素R、对应于蓝色的蓝色像素B以及对应于绿色的绿色像素G布置在显示区域210中。在示例性实施方式中，红色像素R、蓝色像素B和绿色像素G以像素排列(pentile)方式布置在显示区域210中。在该实施方式中，红色像素R和蓝色像素B布置在一个像素列中，且绿色像素G布置在另一像素列中。
第一测试电路部分240包括多个晶体管。在示例性实施方式中，第一测试电路部分240的晶体管是p型金属-氧化物-半导体(PMOS)晶体管，但是不限于此。在替代的示例性实施方式中，第一测试电路部分240的晶体管可为n型金属-氧化物-半导体(NMOS)晶体管。第一测试电路部分240的晶体管响应于第一测试信号TEST_GATE_G、TEST_GATE_B和TEST_GATE_R，向显示区域210中的相应像素列施加第一测试数据信号DC_G、DC_B和DC_R。
第二测试电路部分250包括多个晶体管。在示例性实施方式中，第二测试电路部分250的晶体管是PMOS晶体管，但是不限于此。在替代的示例性实施方式中，第二测试电路部分250的晶体管可为NMOS晶体管。第二测试电路部分250的晶体管响应于第二测试信号TEST_GATE_OS向显示区域210中的相应像素列施加第二测试数据信号TEST_DATA1和TEST_DATA2。
在一个示例性实施方式中，例如，从图1中所示的照明测试设备100的测试电路130提供的第一测试数据信号DC_G、DC_B和DC_R中的每一个的电压电平是约零(0)伏，且第二测试数据信号TEST_DATA1和TEST_DATA2中的每一个的电压电平是约6伏。在一个示例性实施方式中，例如，第一测试数据信号DC_G、DC_B和DC_R中的每一个的电压电平可为约3伏，且第二测试数据信号TEST_DATA1和TEST_DATA2中的每一个的电压电平是约6伏。在替代的示例性实施方式中，第二测试数据信号TEST_DATA1和TEST_DATA2的电压电平可彼此不同。
在示例性实施方式中，当通过图1中所示的照明测试设备100完成针对显示面板200的照明测试时，第一测试电路部分240的晶体管通过第一测试信号TEST_GATE_G、TEST_GATE_B和TEST_GATE_R保持在关断状态中。在该实施方式中，当完成照明测试时，第二测试电路部分250的晶体管通过第二测试信号TEST_GATE_OS保持在关断状态中。
图10是示出图8中所示的显示区域、第一测试电路部分和第二测试电路部分的替代示例性实施方式的视图。
参考图10，在示例性实施方式中，对应于红色的红色像素R、对应于蓝色的蓝色像素B以及对应于绿色的绿色像素G布置在显示区域215中。在示例性实施方式中，红色像素R、蓝色像素B和绿色像素G以条纹方式布置在显示区域215中。在该实施方式中，红色像素R、绿色像素G和蓝色像素B中的每一个布置在相应的像素列上。
第一测试电路部分245包括多个晶体管。在示例性实施方式中，第一测试电路部分245的晶体管是PMOS晶体管，但是不限于此。在替代的示例性实施方式中，第一测试电路部分245的晶体管可为NMOS晶体管。第一测试电路部分245的晶体管响应于第一测试信号TEST_GATE向显示区域215中的相应像素列施加第一测试数据信号DC_B、DC_G和DC_R。
第二测试电路部分255包括多个晶体管。在示例性实施方式中，第二测试电路部分255的晶体管是PMOS晶体管，但是不限于此。在替代的示例性实施方式中，第二测试电路部分255的晶体管可为NMOS晶体管。第二测试电路部分255的晶体管响应于第二测试信号TEST_GATE_OS、CLA、CLB和CLC向显示区域215中的相应像素列施加第二测试数据信号TEST_DATA1和TEST_DATA2。
在示例性实施方式中，当通过图1中所示的照明测试设备100完成针对显示面板205的照明测试时，第一测试电路部分245的晶体管通过第一测试信号TEST_GATE保持在关断状态中。在该实施方式中，当完成照明测试时，第二测试电路部分255的晶体管通过第二测试信号TEST_GATE_OS、CLA、CLB和CLC保持在关断状态中。
图11是示出根据本公开的示例性实施方式的照明测试设备的操作的流程图。为了方便描述，将参考图2中所示的照明测试设备100描述照明测试设备的操作。
参考图2和图11，照明测试设备100的测试电路130向第一连接测试焊盘TCP1输出连接测试信号(S800)。连接测试信号通过连接部110的第一连接测试焊盘TCP1、显示面板200的第一连接焊盘CP1、测试信号线221和第二连接焊盘CP2施加至第二连接测试焊盘TCP2。
照明测试设备100从第二连接测试焊盘TCP2接收反馈信号(S810)。
照明测试设备100基于连接测试信号和反馈信号调整待施加至测试焊盘TP1至TPk的测试信号的电压电平(S820)。
在示例性实施方式中，如图3和图4中所示，在连接部110的第一连接测试焊盘TCP1和第二连接测试焊盘TCP2不完全地连接至显示面板200的第一连接焊盘CP1和第二连接焊盘CP2的情况中，感测电压信号DV的电压电平可低于目标电压电平。在该情况中，测试电路130将测试信号(例如，DC_B、DC_R、…、ELVDD和ELVSS)的电压电平增大预定比例。因此，在该实施方式中，可有效地补偿由于测试焊盘TP1至TPk与焊盘P1至Pk之间的不完全连接而导致的测试信号的失真。
虽然已经描述了本发明的示例性实施方式，但是要理解，本发明不应局限于这些示例性实施方式，而是可在如所附权利要求保护的本发明的精神和范围内由本领域普通技术人员做出各种改变和修改。

Claims (20)

1.照明测试设备，包括：
连接部，包括布置在所述连接部的一端处的第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，其中所述连接部能够通过所述第一连接测试焊盘、所述第二连接测试焊盘和所述测试焊盘连接至显示面板；以及
测试电路，向所述第一连接测试焊盘输出连接测试信号，通过所述第二连接测试焊盘接收反馈信号，并且基于所述连接测试信号和所述反馈信号调整待施加至所述测试焊盘的测试信号的电压电平。
2.如权利要求1所述的照明测试设备，其中，所述测试电路包括：
测试信号生成电路，生成所述连接测试信号；
电压感测电路，通过所述第二连接测试焊盘接收所述反馈信号，感测所述反馈信号的电压电平，并且基于所述反馈信号的所述电压电平输出感测电压信号；以及
补偿电路，基于所述连接测试信号和所述感测电压信号调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平。
3.如权利要求2所述的照明测试设备，其中，所述测试电路还包括：
电阻器，连接在地电压与接收所述反馈信号的信号线之间。
4.如权利要求3所述的照明测试设备，其中，
所述电阻器是可变电阻器，以及
所述电压感测电路向所述可变电阻器施加电阻可变信号以改变所述可变电阻器的电阻值。
5.如权利要求1所述的照明测试设备，其中，
所述连接部还包括待连接至所述显示面板的第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘，以及
所述测试电路还向所述第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号，并且还通过所述第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，其中所述测试电路基于所述连接测试信号、所述另一连接测试信号、所述反馈信号和所述另一反馈信号调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平。
6.如权利要求5所述的照明测试设备，其中，所述连接部还包括：
信号线，在所述连接部上布置成将所述第三连接测试焊盘和所述第四连接测试焊盘彼此电连接。
7.如权利要求5所述的照明测试设备，其中，当所述连接测试信号与所述反馈信号之间的电压差以及所述另一连接测试信号与所述另一反馈信号之间的电压差大于参考值时，所述测试电路将待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平增大预定比例。
8.如权利要求1所述的照明测试设备，其中，所述连接部包括柔性印刷电路板。
9.用于照明测试设备的照明测试方法，所述照明测试设备包括第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，所述照明测试方法包括：
向所述第一连接测试焊盘输出连接测试信号；
从所述第二连接测试焊盘接收反馈信号；以及
基于所述连接测试信号和所述反馈信号，调整待施加至所述测试焊盘的测试信号的电压电平。
10.如权利要求9所述的方法，其中，所述照明测试设备还包括：
电阻器，连接在地电压与接收所述反馈信号的信号线之间。
11.如权利要求10所述的方法，还包括：
改变所述电阻器的电阻值，其中所述电阻器是可变电阻器。
12.如权利要求9所述的方法，其中，
所述照明测试设备还包括第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘，以及
所述方法还包括：
向所述第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号；以及
从所述第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，
其中，调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平包括：基于所述连接测试信号、所述另一连接测试信号、所述反馈信号和所述另一反馈信号，调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平。
13.如权利要求12所述的方法，其中，调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平包括：当所述连接测试信号与所述反馈信号之间的电压差以及所述另一连接测试信号与所述另一反馈信号之间的电压差大于参考值时，将待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平增大预定比例。
14.照明测试系统，包括：
显示面板，包括显示区域和非显示区域，所述显示区域中布置有多个像素；以及
照明测试设备，测试所述显示面板的所述像素的照明状态，
其中，所述照明测试设备包括：
连接部，包括布置在所述连接部的一端处的第一连接测试焊盘、第二连接测试焊盘和多个测试焊盘，其中所述连接部能够通过所述第一连接测试焊盘、所述第二连接测试焊盘和所述测试焊盘连接至所述显示面板；以及
测试电路，向所述第一连接测试焊盘输出连接测试信号，通过所述第二连接测试焊盘接收反馈信号，并且基于所述连接测试信号和所述反馈信号调整待施加至所述测试焊盘的测试信号的电压电平，
其中，所述显示面板包括：
第一连接焊盘、第二连接焊盘和多个焊盘，布置在所述非显示区域的一端处并且分别连接至所述第一连接测试焊盘、所述第二连接测试焊盘和所述测试焊盘；以及
测试信号线，在所述非显示区域中布置成将所述第一连接焊盘和所述第二连接焊盘电连接。
15.如权利要求14所述的照明测试系统，其中，所述测试信号线设置成在所述显示区域外部环绕所述显示区域。
16.如权利要求14所述的照明测试系统，其中，所述测试电路包括：
测试信号生成电路，生成所述连接测试信号；
电压感测电路，通过所述第二连接测试焊盘接收所述反馈信号，感测所述反馈信号的电压电平，并且基于所述反馈信号的所述电压电平输出感测电压信号；以及
补偿电路，基于所述连接测试信号和所述感测电压信号调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平。
17.如权利要求16所述的照明测试系统，其中，所述测试电路还包括：
电阻器，连接在地电压与接收所述反馈信号的信号线之间。
18.如权利要求17所述的照明测试系统，其中，
所述电阻器是可变电阻器，以及
所述电压感测电路向所述可变电阻器施加电阻可变信号以改变所述可变电阻器的电阻值。
19.如权利要求14所述的照明测试系统，其中，
所述连接部还包括待连接至所述显示面板的第三连接测试焊盘和第四连接测试焊盘，以及
所述测试电路向所述第三连接测试焊盘输出另一连接测试信号，并且通过所述第四连接测试焊盘接收另一反馈信号，
其中，所述测试电路基于所述连接测试信号、所述另一连接测试信号、所述反馈信号和所述另一反馈信号调整待施加至所述测试焊盘的所述测试信号的所述电压电平。
20.如权利要求19所述的照明测试系统，其中，所述连接部还包括：
信号线，在所述连接部上布置成将所述第三连接测试焊盘和所述第四连接测试焊盘电连接。
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