KR102474753B1 - 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법 - Google Patents

유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법 Download PDF

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Abstract

본 실시예들은, 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 각 서브픽셀의 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터를 턴오프시키고, 구동 트랜지스터와 기준전압 라인을 인가하여 기준전압 라인을 초기화시킨 후, 구동 트랜지스터와 스위칭 트랜지스터를 턴온시키고, 다시 스위칭 트랜지스터를 턴오프 하고, 센싱 트랜지스터를 턴온시킨 후 일정 시간이 경과하면, 기준전압 라인의 전압을 측정하여, 전압 측정값을 토대로 유기발광다이오드의 단락 여부를 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것이다.

Description

유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법{ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY PANEL, ORGANIC LIGHT EMITTING DISPLAY DEVICE AND DRIVING METHOD}
본 실시예들은 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법에 관한 것이다.
최근, 표시장치로서 각광받고 있는 유기발광표시장치는 스스로 발광하는 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)를 이용함으로써 응답속도가 빠르고, 발광효율, 휘도 및 시야각 등이 크다는 장점이 있다.
이러한 유기발광표시장치는 유기발광다이오드가 포함된 서브픽셀을 매트릭스 형태로 배열하고 스캔 신호에 의해 선택된 서브픽셀들의 밝기를 데이터의 계조에 따라 제어한다.
이러한 유기발광표시장치에서, 유기발광다이오드를 구성하는 제1 전극과 제2 전극 사이에는 제품 출하 전 공정 과정에서 또는 제품 출하 후에 이물 또는 수분 등이 발생할 가능성이 있다.
이러한 경우, 유기발광다이오드는 제1 전극과 제2 전극이 전기적으로 단락(Short) 되어 다이오드 역할을 하지 못하게 되어, 유기발광다이오드(OLED)로 과전류가 흐르거나 비정상적인 전류가 흐를 수 있으며, 해당 서브픽셀이 정상적으로 동작하지 못한다. 이에 따라, 유기발광표시장치의 화상 품질이 크게 떨어질 수 있다.
본 실시예들의 목적은, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 다른 목적은, 다른 회로 소자의 단락 여부와 관계 없이, 유기발광다이오드 단락 여부를 정확하게 구별하여 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공하는 데 있다.
본 실시예들의 또 다른 목적은, 유기발광다이오드의 단락이 발생한 서브픽셀 정보(예: 서브픽셀 식별 정보 또는 서브픽셀 위치 정보)를 저장해두고 업데이트 함으로써, 유기발광표시패널에서 리페어 처리(수리 처리)를 수행할 위치를 정확하게 알아낼 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공하는 데 있다.
일 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치에서, 각 서브픽셀에는, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하며 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터와, 센싱 트랜지스터와 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 지연회로부가 배치될 수 있다.
이러한 유기발광표시장치는, 기준전압 라인의 전압을 측정하는 센싱부와, 기준전압 라인과 센싱부 사이에 전기적으로 연결된 샘플링 스위치를 더 포함할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치에서, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안, 스위칭 트랜지스터는 오프 상태이고, 구동 트랜지스터 및 센싱 트랜지스터가 오프된 상태에서, 기준전압 라인에 기준 전압을 인가하여 기준전압 라인을 초기화시키고, 기준전압 라인을 초기화시킨 이후, 구동 트랜지스터 및 센싱 트랜지스터를 턴온 시켜 일정 시간이 경과하면, 샘플링 스위치를 턴온 시켜 센싱부와 기준전압 라인을 전기적으로 연결시키고, 센싱부는 기준전압 라인의 전압을 측정할 수 있다.
다른 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널을 제공할 수 있다.
이러한 유기발광표시패널에는, 각 서브픽셀에는, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하며 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터와, 센싱 트랜지스터와 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 지연회로부가 배치될 수 있다.
이러한 유기발광표시패널에서, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안, 스위칭 트랜지스터는 오프 상태이고, 구동 트랜지스터 및 센싱 트랜지스터가 오프된 상태에서, 기준전압 라인에 기준 전압이 인가되어 기준전압 라인이 초기화되고, 기준전압 라인이 초기화된 이후, 구동 트랜지스터 및 센싱 트랜지스터가 턴온될 수 있다.
또 다른 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법을 제공할 수 있다.
이러한 구동 방법은, 각 서브픽셀의 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터를 턴오프시키고, 구동 트랜지스터와 기준전압 라인을 인가하여 기준전압 라인을 초기화시키는 단계; 기준전압 라인을 초기화시킨 후, 구동 트랜지스터와 스위칭 트랜지스터를 턴온시키는 단계; 스위칭 트랜지스터를 턴오프 하고, 센싱 트랜지스터를 턴온시키는 단계; 센싱 트랜지스터가 턴온된 이후 일정 시간이 경과하면, 기준전압 라인의 전압을 측정하는 단계를 포함할 수 있다.
또 다른 측면에서, 본 실시예들은, 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버와, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버를 포함하는 유기발광표시장치를 제공할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치에서 각 서브픽셀은, 유기발광다이오드와, 유기발광다이오드를 구동하며, 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터와, 센싱 트랜지스터와 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 지연회로부가 배치될 수 있다.
이러한 유기발광표시장치에서 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 구동 전압은 디스플레이 구간 동안의 구동 전압 값을 가질 수 있다.
유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 기저 전압은 디스플레이 구간 동안의 제1 기저 전압 값보다 낮은 제2 기저 전압 값을 가질 수 있다.
유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 데이터 전압은 디스플레이 구간 동안의 데이터 전압을 가질 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 실시예들에 의하면, 다른 회로 소자의 단락 여부와 관계 없이, 유기발광다이오드 단락 여부를 정확하게 구별하여 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 실시예들에 의하면, 유기발광다이오드의 단락이 발생한 서브픽셀 정보(예: 서브픽셀 식별 정보 또는 서브픽셀 위치 정보)를 저장해두고 업데이트 함으로써, 유기발광표시패널에서 리페어 처리(수리 처리)를 수행할 위치를 정확하게 알아낼 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치 및 구동방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 회로 및 유기발광다이오드 쇼트 감지회로를 나타낸 도면이다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 한 쌍의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 회로를 나타낸 도면이다.
도 4는 도 3의 지연회로부를 구체화한 일 실시예를 나타낸 서브픽셀 회로도이다.
도 5는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 유기발광다이오드 단락 검출 구간에서 동작 타이밍도이다.
이하, 본 발명의 실시예들은 도면을 참고하여 상세하게 설명한다. 다음에 소개되는 실시예들은 당업자에게 본 발명의 사상이 충분히 전달될 수 있도록 하기 위해 예로서 제공되는 것이다. 따라서, 본 발명은 이하 설명되는 실시예들에 한정되지 않고 다른 형상으로 구체화될 수도 있다. 그리고 도면들에 있어서, 장치의 크기 및 두께 등은 편의를 위하여 과장되어 표현될 수도 있다. 명세서 전체에 걸쳐서 동일한 참조번호들은 동일한 구성요소들을 나타낸다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예들을 참조하면 명확해질 것이다. 그러나, 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예들에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형상으로 구현될 것이며, 단지 본 실시예들은 본 발명의 개시가 완전하도록 하며, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성요소를 지칭한다. 도면에서 층 및 영역들의 크기 및 상대적인 크기는 설명의 명료성을 위해 과장될 수 있다.
소자(element) 또는 층이 다른 소자 또는 "위(on)" 또는 "상(on)"으로 지칭되는 것은 다른 소자 또는 층의 바로 위뿐만 아니라 중간에 다른 층 또는 다른 소자를 개재한 경우를 모두 포함한다. 반면, 소자가 "직접 위(directly on)" 또는 "바로 위"로 지칭되는 것은 중간에 다른 소자 또는 층을 개재하지 않는 것을 나타낸다.
공간적으로 상대적인 용어인 "아래(below, beneath)", "하부 (lower)", "위(above)", "상부(upper)" 등은 도면에 도시되어 있는 바와 같이 하나의 소자 또는 구성 요소들과 다른 소자 또는 구성 요소들과의 상관관계를 용이하게 기술하기 위해 사용될 수 있다. 공간적으로 상대적인 용어는 도면에 도시되어 있는 방향에 더하여 사용시 또는 동작 시 소자의 서로 다른 방향을 포함하는 용어로 이해 되어야 한다. 예를 들면, 도면에 도시되어 있는 소자를 뒤집을 경우, 다른 소자의 "아래(below)" 또는 "아래(beneath)"로 기술된 소자는 다른 소자의 "위(above)"에 놓여질 수 있다. 따라서, 예시적인 용어인 "아래"는 아래와 위의 방향을 모두 포함 할 수 있다.
또한, 본 발명의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제 1, 제 2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
도 1은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)의 개략적인 시스템 구성도이다.
도 1을 참조하면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 다수의 데이터라인(DL1~DLm) 및 다수의 게이트라인(GL1~GLn)이 배치되고, 다수의 서브픽셀(SP: Sub Pixel)이 배치된 표시패널(110)과, 표시패널(110)의 상단 또는 하단에 연결되고 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동하는 데이터 드라이버(120)와, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 구동하는 게이트 드라이버(130)와, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하는 타이밍 콘트롤러(140) 등을 포함한다.
도 1을 참조하면, 표시패널(110)에는 다수의 서브픽셀(SP)이 매트릭스 타입으로 배치된다.
데이터 드라이버(120)는, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)으로 데이터전압을 공급함으로써, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동한다. 여기서, 데이터 드라이버(120)는 소스 드라이버라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)으로 스캔 신호를 순차적으로 공급함으로써, 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 순차적으로 구동한다. 여기서, 게이트 드라이버(130)는 스캔 드라이버라고도 한다.
게이트 드라이버(130)는, 타이밍 콘트롤러(140)의 제어에 따라, 온(On) 전압 또는 오프(Off) 전압의 스캔 신호를 다수의 게이트라인(GL1~GLn)으로 순차적으로 공급하여 다수의 게이트라인(GL1~GLn)을 순차적으로 구동한다.
게이트 드라이버(130)는, 구동 방식이나 패널 설계 방식 등에 따라서, 도 1에서와 같이, 표시패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고, 경우에 따라서는, 양측에 위치할 수도 있다. 또한, 게이트 드라이버(130)는, 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로(GDIC: Gate Driver Integrated Circuit)를 포함할 수 있다.
데이터 드라이버(120)는, 특정 게이트라인이 열리면, 타이밍 콘트롤러(140)로부터 수신한 영상 데이터(Data)를 아날로그 형태의 데이터전압(Vdata)으로 변환하여 다수의 데이터라인(DL1~DLm)으로 공급함으로써, 다수의 데이터라인(DL1~DLm)을 구동한다.
데이터 드라이버(120)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로(SDIC: Source Driver Integrated Circuit)를 포함하여 다수의 데이터라인을 구동할 수 있다.
각 전술한 게이트 드라이버 집적회로 또는 소스 드라이버 집적회로는, 테이프 오토메티드 본딩(TAB: Tape Automated Bonding) 방식 또는 칩 온 글래스(COG) 방식으로 표시패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나, 표시패널(110)에 직접 배치될 수도 있으며, 경우에 따라서, 표시패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다.
각 소스 드라이버 집적회로는, 쉬프트 레지스터, 래치 회로 등을 포함하는 로직부와, 디지털 아날로그 컨버터(DAC: Digital Analog Converter)와, 출력 버퍼 등을 포함할 수 있다.
또한, 각 소스 드라이버 집적회로는, 칩 온 필름(COF: Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있다. 이 경우, 각 소스 드라이버 집적회로의 일 단은 적어도 하나의 소스 인쇄회로기판(Source Printed Circuit Board)에 본딩되고, 타 단은 표시패널(110)에 본딩된다.
타이밍 콘트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 각종 제어신호를 공급하여, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어한다.
타이밍 콘트롤러(140)는, 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 스캔을 시작하고, 외부에서 입력되는 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(Data)를 출력하고, 스캔에 맞춰 적당한 시간에 데이터 구동을 통제한다.
한편, 타이밍 콘트롤러(140)는, 입력 영상 데이터와 함께, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 데이터 인에이블(DE: Data Enable) 신호, 클럭 신호(CLK) 등을 포함하는 각종 타이밍 신호들을 외부(예: 호스트 시스템)로부터 수신한다.
타이밍 콘트롤러(140)는, 외부로부터 입력된 입력 영상 데이터를 데이터 드라이버(120)에서 사용하는 데이터 신호 형식에 맞게 전환하여 전환된 영상 데이터(Data)를 출력하는 것 이외에, 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 입력 DE 신호, 클럭 신호 등의 타이밍 신호를 입력받아, 각종 제어 신호들을 생성하여 데이터 드라이버(120) 및 게이트 드라이버(130)로 출력한다.
예를 들어, 타이밍 콘트롤러(140)는, 게이트 드라이버(130)를 제어하기 위하여, 게이트 스타트 펄스(GSP: Gate Start Pulse), 게이트 쉬프트 클럭(GSC: Gate Shift Clock), 게이트 출력 인에이블 신호(GOE: Gate Output Enable) 등을 포함하는 각종 게이트 제어 신호(GCS: Gate Control Signal)를 출력한다.
여기서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 드라이버(130)를 구성하는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 동작 스타트 타이밍을 제어한다. 게이트 쉬프트 클럭(GSC)은 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호(게이트 펄스)의 쉬프트 타이밍을 제어한다. 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 드라이버 집적회로의 타이밍 정보를 지정하고 있다.
또한, 타이밍 콘트롤러(140)는, 데이터 드라이버(120)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(SSP: Source Start Pulse), 소스 샘플링 클럭(SSC: Source Sampling Clock), 소스 출력 인에이블 신호(SOE: Souce Output Enable) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호(DCS: Data Control Signal)를 출력한다.
여기서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 드라이버(120)를 구성하는 하나 이상의 소스 드라이버 집적회로의 데이터 샘플링 시작 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SSC)은 소스 드라이버 집적회로 각각에서 데이터의 샘플링 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 드라이버(120)의 출력 타이밍을 제어한다.
한편, 본 실시예에 따른 타이밍 콘트롤러(140)는, 서브픽셀의 쇼트(short) 여부를 감지할 때, 데이터 드라이버(120)와 게이트 드라이버(130)에 제공되는 신호와 전압을 제어할 수 있다. 예를 들어, 타이밍 콘트롤러(140)는, 서브픽셀의 쇼트를 감지하고자 할 때, 해당 픽셀에 포함되는 각 서브픽셀 회로에 구동전압(EVDD), 기저전압(EVSS), 데이터 전압(Vdata)을 미리 설정된 전압값으로 제어하여 제공하고, 스캔신호(SCAN)와 센싱신호(SENSE)를 제공할 수 있다. 이때, 스캔신호(SCAN)는 각 서브픽셀에 대해 각각 순차적으로 인가되지만, 센싱신호(SENSE)는 하나의 센싱라인(RVL)에 연결된 모든 서브픽셀에 대해 동시에 제공된다.
이러한 타이밍 콘트롤러(140)는, 적어도 하나의 소스 드라이버 집적회로가 본딩된 소스 인쇄회로기판과 연성 플랫 케이블(FFC: Flexible Flat Cable) 또는 연성 인쇄 회로(FPC: Flexible Printed Circuit) 등의 연결 매체를 통해 연결된 컨트롤 인쇄회로기판(Control Printed Circuit Board)에 배치될 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(Organic Light Emitting Display Device)는, 각 서브픽셀(SP)이 유기발광다이오드(OLED: Organic Light Emitting Diode)와, 이를 구동하기 위한 트랜지스터(DRT: Driving Transistor) 등의 회로 소자로 구성되어 있다. 각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
유기발광표시장치에서, 유기발광다이오드를 구성하는 제1 전극과 제2 전극 사이에는 제품 출하 전 공정 과정에서 또는 제품 출하 후에 이물 또는 수분 등이 발생할 가능성이 있다.
이러한 경우, 유기발광다이오드는 제1 전극과 제2 전극이 전기적으로 쇼트(Short) 되어 다이오드 역할을 하지 못하게 되어, 유기발광다이오드(OLED)로 과전류가 흐르거나 비정상적인 전류가 흐를 수 있으며, 해당 서브픽셀이 정상적으로 동작하지 못한다. 이에 따라, 유기발광표시장치의 화상 품질이 크게 떨어질 수 있다.
본 실시예의 유기발광표시장치(100)는, 상술한 유기발광다이오드의 쇼트 여부를 센싱하기 위한 쇼트 감지회로를 포함할 수 있다.
도 2는 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치의 서브픽셀 회로 및 유기발광다이오드 쇼트 감지회로를 나타낸 도면이다.
도 2의 서브픽셀은 i번째 데이터라인(DLi, 1=i≤=m)으로부터 데이터전압(Vdata)을 공급받는 임의의 서브픽셀로서, 도 2에는 서브픽셀 회로(201)와, 유기발광다이오드의 쇼트를 감지하기 위한 쇼트 감지회로가 도시되어 있다.
도 2를 참조하면, 서브픽셀 회로는 구동 트랜지스터(DRT), 스위칭 트랜지스터(SWT: Switching Transistor), 센싱 트랜지스터(SENT: Sensing Transistor), 스토리지 캐패시터(Cst: Storage Capacitor), 지연회로부를 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)로 구동 전류를 공급해줌으로써 유기발광다이오드(OLED)를 구동하며, 구동 트랜지스터(DRT)는 유기발광다이오드(OLED)와 구동전압(EVDD)을 공급하는 구동전압 라인(DVL) 사이에 연결될 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)는 소스 노드 또는 드레인 노드에 해당하는 제1노드(N1), 게이트 노드에 해당하는 제2노드(N2), 드레인 노드 또는 소스 노드에 해당하는 제3노드(N3)를 갖는다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는 데이터라인(DLi)과 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2) 사이에 연결되고, 게이트 노드로 스캔 신호(SCAN)를 인가받아 턴온된다. 스위칭 트랜지스터(SWT)는 스캔 신호(SCAN)에 의해 턴온되어 데이터라인(DLi)으로부터 공급된 데이터전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제2노드(N2)로 전달해준다.
센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)와 기준전압(VREF)을 공급하는 기준전압 라인(RVL) 사이에 연결되고, 게이트 노드로 스캔 신호의 일종인 센싱 신호(SENSE)를 인가받아 턴온된다. 센싱 트랜지스터(SENT)는 센싱 신호(SENSE)에 의해 턴온되어 기준전압 라인(RVL)을 통해 공급되는 기준전압(VREF)을 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)에 인가해준다. 또한, 센싱 트랜지스터(SENT)는 센싱 구성이 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱할 수 있도록 센싱 경로로서의 역할도 해줄 수 있다.
지연회로부(250a)는 센싱 트랜지스터(SENT)와 기준전압 라인(RVL) 사이에 연결되며, 센싱 트랜지스터(SENT)의 턴온시 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 강하 및 지연시켜 센싱부(310)로 전달되도록 한다.
한편, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 다른 게이트라인을 통해 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드 및 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다.
경우에 따라서는, 스캔 신호(SCAN) 및 센싱 신호(SENSE)는 동일한 신호로서, 동일한 게이트라인을 통해 스위칭 트랜지스터(SWT)의 게이트 노드 및 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드로 각각 인가될 수도 있다.
한편 서브픽셀(210)의 쇼트 센싱을 위한 구성요소들을 살펴보면, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는 기준전압 라인(RVL)의 전압을 측정하는 센싱부(310)와, 전압 측정값을 토대로 유기발광다이오드(OLED)의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 검출부(330)를 포함할 수 있다. 전술한 검출부(330)를 이용하면, 유기발광다이오드 단락 검출을 위한 구동에 따라 얻어진 전압 측정값을 이용하여 유기발광다이오드(OLED)의 단락 여부를 정확하게 검출할 수 있다.
검출부(330)는 센싱부(310)에서의 전압 측정값이 기저 전압과 동일하거나 낮으면, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생한 것으로 판단하고, 센싱부(310)에서의 전압 측정값이 기저 전압을 기준으로 임계 범위를 벗어나면 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생하지 아니한 것으로 판단할 수 있다. 이와 같이, 검출부(330)에서는 명확한 기준을 가지고 유기발광다이오드의 단락여부를 결정함으로써, 보다 정확한 쇼트 여부의 판단이 가능하도록 한다.
한편, 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 검출부(330)의 검출 결과와 이와 관련된 정보를 저장하는 메모리(320)를 더 포함할 수 있다.
메모리(320)는 센싱부(310)에서 출력한 전압 출력값(디지털 값)을 더 저장할 수 있다.
본 실시예들에 따른 유기발광표시장치(100)는, 센싱 구동을 제어하기 위하여, 즉, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압 인가 상태를 제어하기 위하여, 샘플링 스위치(SW)를 더 포함할 수 있다. 이 샘플링 스위치(SW)를 통해, 기준전압 라인(RVL)의 일단(Nc)은 기준전압 공급노드(Na) 또는 센싱부(310)의 노드(Nb)와 연결될 수 있다.
기준전압 라인(RVL)은, 기본적으로는, 기준전압(VREF)을 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)로 공급해주는 라인이다. 한편, 기준전압 라인(RVL)에는 라인 캐패시터(Cline)가 형성되는데, 센싱부(310)는 필요한 시점에 기준전압 라인(RVL) 상의 라인 캐패시터(Cline)에 충전된 전압을 센싱한다. 따라서, 아래에서는, 기준전압 라인(RVL)을 센싱라인이라고도 기재한다.
이러한 기준전압 라인(RVL)은, 일 예로, 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있고, 둘 이상의 서브픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
예를 들어, 1개의 픽셀이 4개의 서브픽셀(적색 서브픽셀, 흰색 서브픽셀, 녹색 서브픽셀, 청색 서브픽셀)로 구성된 경우, 1개의 픽셀 열마다 1개씩 배치될 수도 있다.
센싱부(310)는 다수 서브픽셀 라인 중에서 센싱 구동이 이루어지는 서브픽셀의 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 감지하며, 제1노드(N1)의 전압은 제1노드(N1)에 전기적으로 연결된 센싱라인(RVL)의 전압을 감지하여 알아낼 수 있다. 이때, 센싱부(310)는, 센싱라인(RVL)으로 흐르는 전류를 이용하여 센싱라인(RVL) 상의 라인 캐패시터(Cline)에 충전된 전압을 센싱하게 되며, 여기서, 라인 캐패시터(Cline)에 충전된 전압은 센싱라인(RVL)의 전압이고, 이 전압은 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압과 동일하다.
센싱 구동시, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 라인 캐패시터(Cline)에 저장되고, 센싱부(310)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 직접 센싱하는 것이 아니라, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압이 저장되는 라인 캐패시터(Cline)의 충전 전압을 센싱하기 때문에, 센싱 트랜지스터(SENT)의 턴오프 시에도, 구동 트랜지스터(DRT)의 제1노드(N1)의 전압을 센싱할 수 있다.
센싱부(310)는 센싱 타이밍(샘플링 타이밍)이 되면, 라인 캐패시터(Cline)에 충전된 전압을 센싱한다.
도 3은 본 실시예들에 따른 유기발광표시장치에서 한 쌍의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 회로를 나타낸 도면이고, 도 4는 도 3의 지연회로부를 구체화한 일 실시예를 나타낸 서브픽셀 회로도이다.
도 3에는 유기발광표시장치에서 한 쌍의 서브픽셀에 대한 서브픽셀 회로를 나타내고 있으며, 한 쌍의 서브픽셀은 하나의 쇼트 감지회로를 공유할 수 있다. 이에 따라, 한 쌍의 서브픽셀은 상호 거울상으로 대칭되도록 배치되며, 한 쌍의 서브픽셀 사이에 센싱라인(RVL)이 배치되고, 기준전압(VREF)이 센싱라인(RVL)을 따라 한 쌍의 서브픽셀로 제공될 수 있다.
한편, 도 3에는 한 쌍의 서브픽셀이 하나의 센싱라인(RVL)과 기준전압(VREF)을 공유하는 구조를 도시하고 있으나, 하나의 픽셀을 구성하는 복수의 서브픽셀이 하나의 센싱라인(RVL)과 기준전압(VREF)을 공유할 수도 있음은 물론이다.
한 쌍의 서브픽셀을 각각 제1서브픽셀과 제2서브픽셀이라 하면, 제1서브픽셀은, 제1구동 트랜지스터(DRT1), 제1스위칭 트랜지스터(SWT1), 제1센싱 트랜지스터(SENT1), 제1스토리지 캐패시터(Cst1), 제1지연회로부(250a)를 포함할 수 있고, 제2서브픽셀은, 제2구동 트랜지스터(DRT2), 제2스위칭 트랜지스터(SWT2), 제2센싱 트랜지스터(SENT2), 제2스토리지 캐패시터(Cst2), 제2지연회로부(250b)를 포함할 수 있다.
기준전압 라인(VRL)은 제1지연회로부(250a)와 제2지연회로부(250b)의 사이에 연결되고, 센싱부(310)는 제1서브픽셀과 제2서브픽셀의 전압을 감지하고, 검출부(330)은 미리 설정된 전압 기준에 따라 제1유기발광다이오드(OLED1)와 제2유기발광다이오드(OLED2)의 쇼트 여부를 판단하게 된다.
제1지연회로부(250a)와 제2지연회로부(250b)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 각각 저항 R1 및 R2로 구성될 수 있으나, 제1지연회로부(250a)와 제2지연회로부(250b)의 구성은 저항에 한정되지 아니하며, 전압을 지연시키고 분배할 수 있는 여하한 소자로 구성될 수 있음은 물론이다.
여기서, 저항 R1과 R2는 제1 및 제2구동 트랜지스터(DRT1,DRT2)의 제1노드(N1)로부터의 전압을 지연 및 분배하고, 지연 및 분배된 전압은 센싱라인(RVL)을 통해 센싱부(310)로 전달된다. 이때, 저항 R1과 R2는 동일한 저항값을 가질 수도 있고, 상호 상이한 저항값을 가질 수도 있다. 저항 R1과 R2과 동일한 저항값을 가지는 경우, 제1 및 제2구동 트랜지스터(DRT1,DRT3)로부터의 전압은 반으로 분배될 수 있다. 이에 따라, 저항 R1과 R2의 저항값을 자유롭게 설계함으로써, 서브픽셀의 특성에 따라 저항값을 조절하여 보다 정확한 전압의 센싱이 가능하도록 할 수 있다.
이러한 유기발광표시장치에서 유기발광다이오드의 쇼트 여부를 감지하고자 할 때, 타이밍 콘트롤러(140)는 각 서브픽셀로 제공되는 전압들과 제어신호들을 발생시켜 쇼트여부의 감지가 가능하도록 한다. 타이밍 콘트롤러(140)는, 도 5에 도시된 그래프에서와 같이, 구동전압(EVDD), 기저전압(EVSS), 데이터 전압(Vdata)을 미리 설정된 전압값으로 제어하여 제공하고, 스캔신호(SCAN)와 센싱신호(SENSE)를 제어하여 서브픽셀 회로로 제공되도록 한다. 이때, 스캔신호(SCAN)는 각 서브픽셀에 대해 각각 순차적으로 인가되지만, 센싱신호(SENSE)는 하나의 센싱라인(RVL)에 연결된 모든 서브픽셀에 대해 동시에 제공된다. 따라서, 하나의 센싱라인(RVL)에 연결된 모든 서브픽셀의 센싱 트랜지스터(SENT)는 동시에 턴온된다.
유기발광다이오드의 쇼트여부를 감지하는 과정을 도 4 및 도 5를 참조하여 설명하면 다음과 같다.
유기발광다이오드의 쇼트를 감지하기 위해, 제1스위칭 트랜지스터(SWT1)는 오프 상태이고, 제1구동 트랜지스터(DRT1) 및 제1센싱 트랜지스터(SENT1)가 오프된 상태에서, 기준전압 라인(RVL)에 기준 전압을 인가하여 기준전압 라인(RVL)을 초기화 시킨다.
스캔신호(SCAN)와 데이터 전압(Vdata)이 제1서브픽셀 회로로 제공되면, 스캔신호(SCAN)에 의해 제1스위칭 트랜지스터(SWT1)가 턴온되고, 데이터 전압이 제1스토리지 캐패시터(Cst1)에 저장되는 한편, 제1구동 트랜지스터(DRT1)가 턴온된다. 그런 다음, 제1스위칭 트랜지스터(SWT1)를 턴오프시키고, 제1구동 트랜지스터(DRT1) 및 제1센싱 트랜지스터(SENT1)를 턴온시킨다. 그러면, 유기발광다이오드의 단락 검출 구간이 시작되며, 소정의 구동전압(EVDD)이 제1구동 트랜지스터(DRT1)로 제공되어 제1유기발광다이오드(OLED1)로 제공된다.
그리고, 일정 시간이 경과하면, 샘플링 스위치(SW)를 턴온시켜 센싱부(310)와 기준전압 라인(RVL)을 전기적으로 연결시킨다. 그런 다음, 센싱부(310)는 기준전압 라인(RVL)의 전압을 측정할 수 있다.
이러한 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안, 구동 전압은 이미지가 디스플레이되는 디스플레이 구간 동안의 구동 전압 값을 동일하며, 기저 전압(EVSS)은 디스플레이 구간 동안의 제1 기저 전압 값보다 낮은 제2 기저 전압 값을 갖는다. 본 실시예에서 기저 전압(EVSS)은 그라운드(GND), 0V로 설정되어 있다. 한편, 데이터 전압은 디스플레이 구간 동안과 동일한 데이터 전압을 갖는다. 이렇게 전압값들을 설정함에 따라, 유기발광다이오드가 쇼트된 경우에는 해당 서브픽셀에서는 기저 전압(EVSS)와 동일한 전압이 검출되고, 유기발광다이오드가 정상으로 작동하는 경우에는 기저 전압(EVSS)보다 임계전압 이상 높은 전압이 감지되므로, 유기발광다이오드가 쇼트되었는지 여부를 정확히 감지할 수 있다.
이때, 기저전압(EVSS)은. 제1센싱 트랜지스터(SENT1)는 센싱신호(SENSE)에 의해 턴온되고, 제1노드(N1)에서의 전압은 제1센싱 트랜지스터(SENT1)과 저항1(R1)을 통해 센싱라인(RVL)으로 제공된다.
한편, 제1유기발광다이오드(OLED1)가 정상적으로 작동하는 경우, 기생 캐패시터에 전압이 충전되고, 기생 캐패시터에 충전된 전압이 저항1(R1)과 저항2(R2)에서 분배되어 센싱부(310)에 감지될 수 있다. 그러나 제1유기발광다이오드(OLED1)에 쇼트가 발생한 경우, 제1유기발광다이오드(OLED1)의 양단이 통전되기 때문에 구동전압(EVDD)가 그라운드(EVSS)로 방전된다. 즉, 제1유기발광다이오드(OLED1)에 쇼트가 발생한 경우, 센싱부(310)에서는 제1서브픽셀로부터의 전압을 0V로 감지하게 된다. 이에 따라, 센싱부(310)에서 제1서브픽셀의 전압을 0V로 감지하면, 검출부(330)에서는 제1유기발광다이오드(OLED1)에 쇼트가 발생했다고 판단할 수 있다.
이렇게 제1유기발광다이오드(OLED1)가 쇼트가 발생한 상태에서 제2서브픽셀의 제2유기발광다이오드(OLED2)의 쇼트여부를 감지하기 위해, 스캔신호(SCAN)와 데이터 전압(Vdata)이 제2서브픽셀 회로로 제공되면, 스캔신호(SCAN)에 의해 제2스위칭 트랜지스터(SWT2)가 턴온되고, 제2유기발광다이오드(OLED2)의 단락 검출 구간이 시작된다. 그러면, 데이터 전압이 제2스토리지 캐패시터(CST2)에 저장되는 한편, 제2구동 트랜지스터(DRT2)가 턴온된다. 이에 의해, 소정의 구동전압(EVDD)이 제2구동 트랜지스터(DRT2)로 제공되어 제2유기발광다이오드(OLED2)로 제공된다. 이때, 기저전압(EVSS)은 그라운드(GND), 0V로 설정되어 있다. 그리고 제2센싱 트랜지스터(SENT2)는 센싱신호(SENSE)에 의해 제1센싱 트랜지스터(SENT1)의 턴온시 동시에 턴온되므로, 이미 턴온되어 있는 상태이다.
이에 따라, 단락 검출 구간이 시작되면, 제1노드(N1)에서의 전압은 제2센싱 트랜지스터(SENT2)과 저항2(R2)을 통해 센싱라인(RVL)으로 제공되고, 소정 시간 이후 샘플링 스위치(SW)가 센싱부(310) 측 단자로 연결되면, 센싱부(310)에서는 센싱라인(RVL)으로 전달된 전압을 감지하게 된다. 이때, 단락 검출 구간이 시작된 후, 샘플링 스위치(SW)가 센싱부(310) 측 단자로 접속하는데 소정 시간을 두는 이유는, 제1서브픽셀에 전류가 흐르고 있는 적시에 전압을 감지하도록 하기 위한 것이다.
따라서, 제2유기발광다이오드(OLED2)가 정상적으로 작동하는 경우에는 기생 커패시터에 전압이 충전되고, 기생 커패시터에 충전된 전압이 저항1(R1)과 저항2(R2)에서 분배되어 센싱부(310)에 감지되어야 한다. 그러나 제1유기발광다이오드(OLED1)에 쇼트가 발생한 경우, 제1유기발광다이오드(OLED1)의 양단이 통전되기 때문에 구동전압(EVDD)가 그라운드(EVSS)로 방전된다. 또한, 제1센싱 트랜지스터(SENT1)와 제2센싱 트랜지스터(SENT2)가 모두 턴온되어 있기 때문에, 제2유기발광다이오드(OLED2)의 기생 커패시터에 충전된 전압은 제2센싱 트랜지스터(SENT2) 및 제1센싱 트랜지스터(SENT1)를 통해 제1유기발광다이오드(OLED1)를 통해 그라운드로 방전된다.
그러나, 제1센싱 트랜지스터(SENT1)와 제2센싱 트랜지스터(SENT2) 사이에는 저항1(R1)과 저항2(R2)이 형성되어 있기 때문에, 제2유기발광다이오드(OLED2)의 기생 커패시터에 저장된 전압이 방전되는 시간을 지연시킨다. 이에 따라, 센싱부(310)에서는 제2유기발광다이오드(OLED2)의 기생 커패시터에 저장된 전압을 감지할 수 있으며, 이때, 전압의 최대값은 저항1(R1)과 저항2(R2)에서 분배된 전압이 될 수 있다. 이렇게 기생 커패시터에 저장된 전압은, 제1유기발광다이오드(OLED1)의 쇼트로 인해 급속히 방전되기 때문에, 도 5의 제2유기발광다이오드(OLED2)의 기준전압(VREF)를 나타난 그래프에서 보는 바와 같이, 피크를 가지는 형태로 전압 그래프가 생성된다. 이에 따라, 스캔신호가 인가된 후 소정 시간내에 샘플링 스위치(SW)를 온시켜 센싱부(310)에서 기준전압(VREF)를 감지하도록 설정해야 한다.
이와 같이, 쇼트가 발생된 서브픽셀의 경우에는, 도 5의 제1서브픽셀의 기준전압(VREF) 그래프에 도시된 바와 같이, 전압이 방전되어 기준전압(VREF)가 0V로 감지되지만, 쇼트가 발생되지 않은 서브픽셀의 경우에는, 도 5의 제2서브픽셀의 기준전압(VREF) 그래프에 도시된 바와 같이, 기생 커패시터에 전압이 저장되었다가 방전된다. 이에 따라, 검출부(330)는 센싱부(310)에서 감지된 전압값을 이용하여 쇼트가 발생된 서브픽셀과 정상인 서브픽셀을 정확히 감지할 수 있다.
이상에서 설명한 바와 같은 본 실시예들에 의하면, 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 구동 회로, 컨트롤러 및 구동방법을 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 실시예들에 의하면, 다른 회로 소자의 단락 여부와 관계 없이, 유기발광다이오드 단락 여부를 정확하게 구별하여 검출할 수 있는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 구동 회로, 컨트롤러 및 구동방법을 제공하는 효과가 있다.
또한, 본 실시예들에 의하면, 유기발광다이오드의 단락이 발생한 서브픽셀 정보(예: 서브픽셀 식별 정보 또는 서브픽셀 위치 정보)를 저장해두고 업데이트 함으로써, 유기발광표시패널에서 리페어 처리(수리 처리)를 수행할 위치를 정확하게 알아낼 수 있게 해주는 유기발광표시패널, 유기발광표시장치, 구동 회로, 컨트롤러 및 구동방법을 제공할 수 있다.
상술한 실시예에 설명된 특징, 구조, 효과 등은 본 발명의 적어도 하나의 실시예에 포함되며, 반드시 하나의 실시예에만 한정되는 것은 아니다. 나아가, 각 실시예에서 예시된 특징, 구조, 효과 등은 실시예들이 속하는 분야의 통상의 지식을 가지는 자에 의하여 다른 실시예들에 대해서도 조합 또는 변형되어 실시 가능하다. 따라서 이러한 조합과 변형에 관계된 내용들은 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
또한, 이상에서 실시예들을 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예들에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부한 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 유기발광표시장치
110: 유기발광표시패널
120: 데이터 드라이버
130: 게이트 드라이버
140: 컨트롤러
250a, 250b: 지연회로부
310: 센싱부
320: 메모리
330: 검출부

Claims (11)

  1. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치에 있어서,
    상기 각 서브픽셀에는,
    유기발광다이오드와,
    상기 유기발광다이오드를 구동하며, 상기 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터와,
    상기 센싱 트랜지스터와 상기 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 지연회로부가 배치되고,
    상기 기준전압 라인의 전압을 측정하여 전압 측정값을 출력하는 센싱부와,
    상기 기준전압 라인과 상기 센싱부 사이에 전기적으로 연결된 샘플링 스위치 및
    상기 전압 측정값이 기저 전압과 동일하거나 낮으면, 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생한 것으로 판단하고,
    상기 전압 측정값이 상기 기저 전압을 기준으로 임계 범위를 벗어나면 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생하지 아니한 것으로 판단하여 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 검출부를 더 포함하고,
    상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안,
    상기 스위칭 트랜지스터는 오프 상태이고,
    상기 구동 트랜지스터 및 상기 센싱 트랜지스터가 오프된 상태에서, 상기 기준전압 라인에 상기 기준 전압을 인가하여 상기 기준전압 라인을 초기화 시키고,
    상기 기준전압 라인을 초기화 시킨 이후, 상기 구동 트랜지스터 및 상기 센싱 트랜지스터를 턴-온 시켜 일정 시간이 경과하면,
    상기 샘플링 스위치를 턴-온 시켜 상기 센싱부와 상기 기준전압 라인을 전기적으로 연결시키고,
    상기 센싱부는 상기 기준전압 라인의 전압을 측정하는 유기발광표시장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 상기 구동 전압은 디스플레이 구간 동안의 구동 전압 값을 갖고,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 상기 기저 전압은 상기 디스플레이 구간 동안의 제1 기저 전압 값보다 낮은 제2 기저 전압 값을 가지며,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 상기 데이터 전압은 상기 디스플레이 구간 동안의 데이터 전압을 갖는 유기발광표시장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 스위칭 트랜지스터로 스캔신호가 인가되고, 상기 센싱 트랜지스터에 센싱신호가 인가되면, 상기 유기발광다이오드의 단락 검출 구간이 시작되며, 상기 센싱신호의 인가후 미리 설정된 소정 시간 이후에 상기 유기발광다이오드의 단락이 검출되는 유기발광표시장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 검출 구간 동안,
    스위치를 이용하여 상기 센싱부와 상기 기준전압 라인을 전기적으로 연결시키고,
    상기 센싱부는 상기 기준전압 라인의 전압을 측정하여 전압 측정값을 출력하는 유기발광표시장치.
  5. 삭제
  6. 제1항에 있어서,
    상기 지연회로부는 저항으로 구성되며, 상기 각 서브픽셀에 설치된 각 저항은 동일한 저항값을 갖는 유기발광표시장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 지연회로부는 저항으로 구성되며, 상기 각 서브픽셀에 설치된 각 저항은 상호 상이한 저항값을 갖는 유기발광표시장치.
  8. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널에 있어서,
    상기 각 서브픽셀에는,
    유기발광다이오드와,
    상기 유기발광다이오드를 구동하며, 상기 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터와,
    상기 센싱 트랜지스터와 상기 기준전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 지연회로부가 배치되고,
    상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안,
    상기 스위칭 트랜지스터는 오프 상태이고,
    상기 구동 트랜지스터 및 상기 센싱 트랜지스터가 오프된 상태에서, 상기 기준전압 라인에 상기 기준 전압이 인가되어 상기 기준전압 라인이 초기화되고,
    상기 기준전압 라인이 초기화된 이후, 상기 구동 트랜지스터 및 상기 센싱 트랜지스터가 턴온되는 유기발광표시패널.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 상기 구동 전압은 디스플레이 구간 동안의 구동 전압 값을 갖고,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 기저 전압은 상기 디스플레이 구간 동안의 제1 기저 전압 값보다 낮은 제2 기저 전압 값을 가지며,
    상기 유기발광다이오드 단락 검출 구간 동안의 상기 데이터 전압은 상기 디스플레이 구간 동안의 데이터 전압을 갖는 유기발광표시패널.
  10. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배열된 유기발광표시패널을 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법에 있어서,
    각 서브픽셀의 유기발광다이오드를 구동하는 구동 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와, 상기 구동 트랜지스터의 제1노드와 기준 전압이 인가되는 기준전압 라인에 연결된 지연회로부 사이에 전기적으로 연결되는 센싱 트랜지스터를 턴오프시키고, 상기 구동 트랜지스터와 상기 기준전압 라인을 인가하여 상기 기준전압 라인을 초기화시키는 단계;
    상기 기준전압 라인을 초기화시킨 후, 상기 구동 트랜지스터와 상기 스위칭 트랜지스터를 턴온시키는 단계;
    상기 스위칭 트랜지스터를 턴오프 하고, 상기 센싱 트랜지스터를 턴온시키는 단계;
    상기 센싱 트랜지스터가 턴-온 된 이후 일정 시간이 경과하면, 상기 기준전압 라인의 전압을 측정하는 단계; 및
    전압 측정값이 기저 전압과 동일하거나 낮으면, 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생한 것으로 판단하고,
    상기 전압 측정값이 상기 기저 전압을 기준으로 임계 범위를 벗어나면 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락이 발생하지 아니한 것으로 판단하여 상기 유기발광다이오드의 제1 전극 및 제2 전극 간의 단락 여부를 검출하는 단계;를 포함하는 유기발광표시장치의 구동 방법.
  11. 다수의 데이터 라인 및 다수의 게이트 라인에 의해 정의되는 다수의 서브픽셀이 배치된 유기발광표시패널과, 상기 다수의 데이터 라인을 구동하는 데이터 드라이버와, 상기 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 드라이버를 포함하는 유기발광표시장치에 있어서,
    상기 각 서브픽셀은,
    유기발광다이오드와,
    상기 유기발광다이오드를 구동하며, 상기 유기발광다이오드와 전기적으로 연결되는 제1노드, 데이터전압이 인가되는 제2노드, 구동 전압 라인으로부터 구동 전압이 인가되는 제3노드를 갖는 구동 트랜지스터와,
    상기 구동 트랜지스터의 제2노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결되는 스위칭 트랜지스터와,
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