KR102559370B1 - 크랙 검출 장치 및 크랙 검출 장치의 구동 방법 - Google Patents

크랙 검출 장치 및 크랙 검출 장치의 구동 방법 Download PDF

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Abstract

유기 발광 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치의 구동 방법은 동시 발광 방식으로 구동되는 발광 구간에서 영상 데이터에 기초하여 하나의 프레임에 대한 표시 패널 전체의 영상 로드를 분석하고, 발광 구간에서 전원 공급부에 흐르는 전원 전류인 제1 센싱 값을 산출하며, 영상 로드에 기초하여 제1 크랙 기준 값을 결정한 후, 제1 크랙 기준 값과 제1 센싱 값을 비교하여 표시 패널의 크랙(crack) 발생 여부를 판단한다.

Description

크랙 검출 장치 및 크랙 검출 장치의 구동 방법{CRACK DETECTOR AND METHOD FOR DRIVING CRACK DETECTOR}
본 발명은 표시 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 유기 발광 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치 및 이의 구동 방법에 관한 것이다.
유기 발광 표시(organic light emitting display: OLED) 장치는 애노드 전극과 캐소드 전극으로부터 각기 제공되는 정공들과 전자들이 상기 애노드 전극과 캐소드 전극 사이에 위치하는 발광층에서 결합하여 생성되는 광을 이용하여 영상, 문자 등의 정보를 나타낼 수 있는 표시 장치를 말한다. 이러한 유기 발광 표시 장치는 넓은 시야각, 빠른 응답 속도, 얇은 두께, 낮은 소비 전력 등의 여러 가지 장점들을 가지고 있다.
상기 유기 발광 표시 장치는 표시 패널의 크랙, 단락, 과전류 등을 검출하여 전원 공급을 차단하는 검출 회로를 포함한다. 상기 검출 회로는 하나의 프레임 내에서 제한적인 구간(예를 들어, 비발광 구간의 일부 또는 버티컬 블랭크(Vertical blank) 구간) 내에서만 상기 검출 및 샘플링을 수행한다. 상기 검출 구간은 약 50us 이내로 짧은 시간에 해당되고, 비발광 구간에서의 전원 전류 검출의 유무만을 판단하므로, 검출 감도가 다소 낮다. 특히, 50인치 이상의 대형 표시 패널에 있어서는 상기 검출 정확도가 현저히 떨어진다.
본 발명의 일 목적은 유기 발광 표시 장치의 발광 구간 및/또는 비발광 구간에서 영상 로드에 기초하여 전원 전류를 분석함으로써 표시 패널의 크랙 발생 여부를 판단하는 크랙 검출 장치의 구동 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 다른 목적은 유기 발광 표시 장치의 발광 구간 및/또는 비발광 구간에서 영상 로드에 기초하여 전원 전류를 분석함으로써 표시 패널의 크랙 발생 여부를 판단하는 크랙 검출 장치를 제공하는 것이다.
다만, 본 발명의 목적은 상술한 목적들로 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 패널의 크랙 검출 장치의 구동 방법은 동시 발광 방식으로 구동되는 발광 구간에서 영상 데이터에 기초하여 하나의 프레임에 대한 표시 패널 전체의 영상 로드를 분석하고, 상기 발광 구간에서 전원 공급부에 흐르는 전원 전류인 제1 센싱 값을 산출하며, 상기 영상 로드에 기초하여 제1 크랙 기준 값을 결정하고, 상기 제1 크랙 기준 값과 상기 제1 센싱 값을 비교하여 표시 패널의 크랙(crack) 발생 여부를 판단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 센싱 값을 산출하는 것은 상기 발광 구간 중 기 설정된 센싱 구간 동안 상기 전원 전류를 실시간으로 복수 회 검출하고, 상기 검출된 전원 전류들에 기초하여 상기 제1 센싱 값을 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 센싱 값은 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제1 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 발생 여부의 판단은 상기 제1 센싱 값과 상기 제1 크랙 기준 값을 비교한 후, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 전원 공급을 중단시킬 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 표시 패널의 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간에 포함되는 데이터 기입 구간에서 전원 공급부에 흐르는 전원 전류인 제2 센싱 값을 산출한 후, 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 크랙 기준 값은 0일 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 제2 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 상기 비교하는 과정은 상기 비발광 구간에서 상기 영상 데이터에 기초하여 상기 영상 로드를 분석하고, 상기 영상 로드에 기초하여 상기 제2 크랙 기준 값을 결정한 후, 상기 제2 센싱 값이 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 전원 공급을 차단할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 영상 로드 변화에 대한 상기 제2 크랙 기준 값의 변화량은 상기 영상 로드 변화에 대한 상기 제1 크랙 기준 값의 변화량보다 작을 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 휘도의 평균에 상응할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 계조의 평균에 상응할 수 있다.
본 발명의 일 목적을 달성하기 위하여 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치는 동시 발광 방식으로 구동되는 표시 패널의 외부 회로 보드에 배치되고, 발광 구간에서 전원 공급부로 흐르는 전원 전류의 센싱 값을 산출하는 전류 검출부, 하나의 프레임의 영상 데이터에 기초하여 표시 패널 전체의 영상 로드에 대응하는 크랙 기준 값을 결정하는 영상 로드 결정부 및 상기 크랙 기준 값과 상기 센싱 값을 비교하여 전원 공급을 제어하는 전원 제어부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전류 검출부는 상기 발광 구간 중 기 설정된 센싱 주기 동안 상기 전원 전류가 검출되는 센싱 저항 및 상기 센싱 저항으로부터 검출되는 복수의 전원 전류들을 디지털 신호로 변환하여 센싱 값을 산출하는 센싱 값 산출부를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값 산출부는 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나를 상기 센싱 값으로 산출할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 영상 로드 결정부는 상기 프레임의 영상 데이터의 계조에 기초하여 상기 영상 로드를 산출하고, 영상 로드에 상응하는 상기 크랙 기준 값을 결정할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 영상 로드 결정부는 상기 영상 로드의 레벨에 따라 기 설정된 복수의 크랙 기준 값들이 저장된 메모리를 포함할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 센싱 값이 상기 센싱 값이 상기 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 전원 제어부는 상기 전원 공급부를 셧다운하는 셧다운 신호를 출력할 수 있다.
일 실시예에 의하면, 상기 전류 검출부는 비발광 구간의 데이터 기입 구간에서 전원 공급부로 흐르는 전원 전류의 센싱 값을 더 산출하고, 상기 전원 제어부는 상기 크랙 기준 값과 상기 센싱 값을 비교하여 상기 전원 공급을 제어할 수 있다.
본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치의 구동 방법은 영상 로드에 따라 변화하는 제1 크랙 기준 값과 매 프레임의 발광 구간에서 검출된 전원 전류를 비교하여 표시 패널의 크랙 여부를 검출할 수 있다. 따라서, 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다. 또한, 하나의 프레임에서의 전류 검출 시간 및 전류 검출 횟수가 증가됨으로써 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
나아가, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 상기 제2 크랙 검출 값 및 비발광 구간의 데이터 기입 구간에서 검출된 상기 제2 센싱 값에 기초하여 비발광 구간 동안 상기 표시 패널의 크랙을 검출할 수 있다. 따라서, 하나의 프레임에서의 전류 검출 시간 및 전류 검출 횟수가 증가됨으로써 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
또한, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치는 외부 회로 보드의 하나의 전원 배선에 연결되는 하나의 전류 검출부만을 포함함으로써 크랙 검출 장치의 부피 및 표시 장치의 제조 비용을 줄일 수 있다. 또한, 영상 로드에 기초하여 발광 구간 및 비발광 구간 모두에서 표시 패널의 크랙 검출 동작이 수행되므로 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다
다만, 본 발명의 효과는 상술한 효과에 한정되는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위에서 다양하게 확장될 수 있을 것이다.
도 1a는 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 블록도이다.
도 1b는 도 1a의 유기 발광 표시 장치의 구동 방식의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 크랙 검출 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이다.
도 3은 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 4는 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법에서 전원 전류를 검출 구간의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 5는 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 6은 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 또 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 7은 도 6의 크랙 검출 장치의 구동 방법에서 전원 전류를 검출 구간의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 크랙 검출 장치를 나타내는 블록도이다.
도 9는 도 8의 크랙 검출 장치의 일 예를 나타내는 도면이다.
이하, 첨부한 도면들을 참조하여, 본 발명의 바람직한 실시예를 보다 상세하게 설명하고자 한다. 도면상의 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조부호를 사용하고 동일한 구성요소에 대해서 중복된 설명은 생략한다.
도 1a은 본 발명의 실시예들에 따른 유기 발광 표시 장치를 나타내는 블록도이고, 도 1b는 도 1a의 유기 발광 표시 장치의 구동 방식의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 1a 및 도 1b를 참조하면, 유기 발광 표시 장치(1000)는 크랙 검출부(100), 표시 패널(200), 전원 공급부(300), 스캔 구동부(400), 데이터 구동부(500) 및 타이밍 제어부(600)를 포함할 수 있다. 유기 발광 표시 장치(1000)는 동시 발광 방식(예를 들어, SEAV(simultaneous emission with active voltage) 구동)으로 구동될 수 있다.
일 실시예에서, 유기 발광 표시 장치(1000)는 투명 표시 장치, 플렉서블 표시 장치, 미러 표시 장치, 커브드 표시 장치 등으로 구현될 수 있다.
크랙 검출부(100)는 표시 패널(100)의 외부에 배치될 수 있다. 크랙 검출부(100)는 전원 공급부(300)로 흐르는 전원 전류를 검출하여 표시 패널(100)의 크랙 여부를 판단할 수 있다. 크랙 검출부(100)는 타이밍 제어부(600)로부터 수신한 제1 제어 신호(CON1) 및 입력 영상 데이터에 기초하여 상기 크랙 여부를 판단하고, 전원 공급부(200)의 동작을 제어할 수 있다. 일 실시예에서, 크랙 검출부(100)는 각각의 프레임의 발광 구간에서 전원 공급부(300)로 흐르는 전류를 검출하고, 상기 프레임의 영상 로드를 분석하여 크랙 기준 값을 산출하며, 상기 검출된 전류와 상기 크랙 기준 값을 비교할 수 있다. 상기 검출된 전류가 상기 크랙 기준 값에 의해 설정된 범위를 벗어나는 경우, 크랙 검출부(100)는 표시 패널(100)에 크랙이 발생된 것으로 판단하고, 전원 공급부(300)의 전원 공급을 중단시키기 위해 셧다운 신호를 전원 공급부(300)에 제공할 수 있다. 일 실시에에서, 크랙 검출부(100)는 제2 전원 전압(ELVSS)이 공급되는 전원 배선의 전류를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 크랙 검출부(100)는 표시 패널(100)에 전기적으로 연결된 외부의 회로 보드에 배치될 수 있다. 예를 들어, 크랙 검출부(100)는 타이밍 제어부(600) 내부에 포함될 수도 있다. 크랙 검출부(100)의 동작 및 구성에 대해서는 도 2 내지 도 9를 참조하여 자세하게 설명하기로 한다.
표시 패널(200)은 복수의 화소들(PX)을 포함할 수 있다. 표시 패널(200)은 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 스캔 구동부(400)와 연결될 수 있다. 표시 패널(200)은 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)을 통해 데이터 구동부(500)와 연결될 수 있다. 표시 패널(100)은 스캔 라인들(SL1 내지 SLn) 및 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)의 교차부마다 위치되는 n*m 개의 화소(PX)들을 포함할 수 있다. 표시 패널(200)은 전원 공급부(300)로부터 화소(PX) 발광에 사용되는 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 제공받을 수 있다.
스캔 구동부(400)는 타이밍 제어부(600)로부터 수신한 제2 제어 신호(CON2)에 기초하여 복수의 스캔 라인들(SL1 내지 SLn)을 통해 화소들(PX)에 스캔 신호를 제공할 수 있다.
데이터 구동부(500)는 타이밍 제어부(600)로부터 수신한 제3 제어 신호(CON3)에 기초하여 데이터 라인들(DL1 내지 DLm)을 통해 화소(PX)들에 데이터 신호를 공급할 수 있다.
전원 공급부(300)는 타이밍 제어부(600)로부터 수신한 제4 제어 신호(CON4)에 기초하여 화소들(PX)에 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)을 공급할 수 있다. 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)은 표시 패널(200)의 구동에 필요한 구동 전압들일 수 있다. 상기 동시 발광 방식에서 제1 전원 전압(ELVDD) 및 제2 전원 전압(ELVSS)의 전압 레벨들은 각각 발광 구간 및 비발광 구간에 따라 스윙할 수 있다. 일 실시예에서, 전원 공급부(300)는 크랙 검출부(100)로부터 상기 셧다운 신호를 수신하여 전원 공급을 중단할 수 있다.
타이밍 제어부(600)는 크랙 검출부(100), 전원 공급부(300), 스캔 구동부(400) 및 데이터 구동부(500) 각각에 제1 내지 제4 제어 신호들(CON1, CON2, CON3, CON4)을 제공하고, 감지부(100), 전원 공급부(300), 스캔 구동부(400) 및 데이터 구동부(500) 각각의 구동을 제어할 수 있다.
도 1b에 도시된 바와 같이, 상기 동시 발광 구동 방식에 따른 한 프레임은 비발광 구간(BP) 및 발광 구간(EP)을 포함할 수 있다. 비발광 구간(BP)에서는 전체 픽셀들(PX) 각각에 복수의 데이터 신호가 전달 및 기입(writing)될 수 있다. 발광 구간(EP)에서는 상기 데이터 기입 완료 후 픽셀들(PX) 각각이 상기 기입된 데이터 신호에 따라 동시에 발광할 수 있다. 즉, 상기 동시 발광 구동 방식에서는 한 프레임의 기간 중에 데이터가 순차적으로 입력되고, 상기 데이터 입력이 완료된 이후 한 프레임의 데이터가 표시 패널(200) 내의 모든 화소들(PX)을 통해 일괄적으로 점등이 수행될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 동시 발광 구동 방식의 한 프레임은 초기화 구간(P1), 리셋 구간(P2), 문턱 전압 보상 구간(P3), 주사 구간(데이터 기입 구간)(P4) 및 발광 구간(EP)으로 구분될 수 있다. 초기화 구간(P1), 리셋 구간(P2), 문턱 전압 보상 구간(P3) 및 주사 구간(데이터 기입 구간)(P4)은 비발광 구간(BP)에 포함될 수 있다. 일 실시예에서, 주사 구간(데이터 기입 구간)(P4)에서 상기 데이터 기입은 각 스캔 라인(SL1 내지 SLn) 별로 순차적으로 수행되나, 이를 제외한 나머지 초기화 구간(P1), 리셋 구간(P2), 문턱 전압 보상 구간(P3), 및 발광 구간(EP)에서의 동작은 화소들(PX) 전체에 동시에 수행될 수 있다.
여기서, 초기화 구간(P1)은 각 화소(PX)에 구비되는 화소 회로의 각 노드 전압을 구동 트랜지스터의 문턱 전압 입력 때와 동일하게 초기화하는 구간이고, 리셋 구간(P2)은 각 화소(PX)에 인가된 데이터 전압이 리셋되는 구간으로서 유기 발광 소자가 발광되지 않도록 유기 발광 소자의 애노드의 전압을 캐소드의 전압 이하로 떨어뜨리는 구간이다. 즉, 리셋 구간(P2)에서 전원 공급부(300)는 제1 전원 전압(ELVDD)을 소정의 전압 레벨로 떨어뜨릴 수 있다. 또한, 문턱 전압 보상 구간(P3)은 각 화소(PX)에 구비된 구동 트랜지스터의 문턱 전압을 보상하는 구간이다. 이에 따라, 비발광 구간(BP)에서 제2 전원 전압(ELVSS)은 발광 구간(EP)에서보다 낮은 전압 레벨로 표시 패널(200)에 인가될 수 있다.
도 2는 본 발명의 실시예들에 따른 크랙 검출 장치의 구동 방법을 나타내는 순서도이고, 도 3은 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 일 예를 나타내는 순서도이다.
도 1A 내지 도 3을 참조하면, 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치(100)의 구동 방법은 발광 구간에서 영상 로드를 분석(S100)하고, 제1 센싱 값을 산출(S200)하며, 제1 크랙 기준 값을 결정(S300)한 후 표시 패널의 크랙 발생 여부를 판단(S400)할 수 있다.
유기 발광 표시 장치(1000)는 동시 발광 방식으로 구동되므로, 하나의 프레임은 화소들에 순차적으로 데이터를 기입하는 비발광 구간(BP) 및 화소들 전체가 동시에 점등되는 발광 구간(EP)을 포함할 수 있다.
발광 구간(EP)에서 영상 데이터에 기초하여 상기 프레임에 대한 표시 패널(200) 전체의 영상 로드가 분석(S100)될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 영상 데이터는 상기 프레임에 대한 계조 및/또는 휘도 정보를 포함할 수 있다. 상기 영상 로드는 전체 계조 또는 휘도에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(200)이 풀화이트를 표시하는 경우, 상기 영상 로드는 최대값을 갖고, 표시 패널(200)이 블랙 영상을 표시하는 경우, 상기 영상 로드는 최소값을 가질 수 있다. 또한, 상기 전체 계조 또는 상기 전체 휘도에 따라 표시 패널(또는 화소)에 흐르는 구동 전류(즉, 전원 전류)의 크기가 변화한다.
일 실시예에서, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 휘도 평균에 상응할 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 계조 평균에 상응할 수 있다. 상기 영상 로드는 상기 영상 데이터의 평균 계조 또는 평균 휘도에 따라 복수의 레벨들로 구분될 수 있다. 다만, 이는 예시적인 것으로서 한 프레임의 영상 로드를 산출하는 방법이 이에 한정되는 것은 아니다.
발광 구간(EP)에서 전원 공급부(300)에 흐르는 전원 전류인 제1 센싱 값이 산출(S200)될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 전원 전류는 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 공통 전원 배선의 전류에 상응할 수 있다. 즉, 상기 크랙 검출 장치(100)는 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 표시 패널(100) 외부의 공통 전원 배선에 흐르는 상기 전원 전류를 검출할 수 있다.
일 실시예에서, 발광 구간(EP) 중 기 설정된 센싱 구간 동안 상기 전원 전류를 복수 회 검출(S220)할 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 구간은 약 2ms로 설정되고, 상기 전류 검출 동작은 100회 이상 수행될 수 있다. 즉, 상기 전원 전류 검출을 위한 충분한 시간이 확보될 수 있으며, 이로 인해 전원 전류의 감지 감도가 향상될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 검출된 전원 전류들에 기초하여 상기 제1 센싱 값이 산출(S240)될 수 있다. 상기 제1 센싱 값은 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나에 상응할 수 있다. 예를 들어, 상기 검출된 전원 전류들은 아날로그-디지털 컨버터에 제공되어 디지털 값으로 변환되고, 상기 변환된 값들의 평균값이 산출될 수 있다. 즉, 상기 전원 전류의 평균 값이 제1 센싱 값으로 결정될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 센싱 값은 복수의 프레임들에서 검출된 전원 전류들의 평균 값에 상응할 수도 있다. 예를 들어, 연속된 16 프레임들의 상기 제1 센싱 값들의 평균이 새로운 센싱 값으로 결정되고, 상기 센싱 값은 매 프레임 생성되는 제1 센싱 값에 의해 업데이트될 수 있다.
상기 크랙 검출 장치는 상기 영상 로드에 기초하여 상기 제1 크랙 기준 값을 결정(S300)할 수 있다. 상기 제1 크랙 기준 값은 상기 영상 로드에 따라 상기 발광 구간에서 상기 공통 전원 배선에 흘러야 하는 전류에 상응하는 값이다. 다시 말하면, 상기 표시 패널이 상기 영상 데이터에 기초하여 정상적으로 영상을 표시하는 경우, 발광 구간(EP) 동안 상기 전원 배선에는 제1 크랙 기준 값에 상응하는 전류가 흐를 수 있다. 상기 제1 크랙 기준 값은 상기 정상적인 전류를 디지털 형태로 변환한 값에 상응할 수 있다. 상기 제1 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 크기에 따라 변화할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 레벨에 따라 룩업 테이블로 저장될 수 있다. 또는, 다른 실시예에서, 상기 제1 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 레벨에 따라 레지스터 형태로 저장될 수 있다. 크랙 검출 장치(100)는 상기 분석된 영상 로드에 상응하는 상기 제1 크랙 기준 값을 상기 룩업 테이블 또는 상기 레지스터로부터 추출할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다. 상기 허용 오차 범위는 표시 패널(200)의 특성을 고려하여 설정될 수 있다. 예를 들어, 상기 허용 오차 범위는 상기 영상 로드의 크기에 따라 다르게 설정될 수 있다.
크랙 검출 장치(100)는 상기 제1 크랙 기준 값과 상기 제1 센싱 값을 비교하여 표시 패널(200)의 크랙 발생 여부를 판단(S400)할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 센싱 값과 상기 제1 크랙 기준 값이 비교(S420)될 수 있다.
상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위 내에 포함되는 경우, 크랙 검출 장치(100)는 표시 패널(200)이 정상적으로 구동되는 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 전원 공급부(300)가 정상적으로 동작(S440)할 수 있다. 일 실시예에서, 크랙 검출 장치(100)는 전원 공급부(300)의 동작을 제어하는 인에이블 신호를 전원 공급부(300)에 제공할 수 있다. 예를 들어, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위 내에 포함되는 경우, 상기 인에이블 신호는 활성화 레벨을 갖고, 전원 공급부(300)는 표시 패널(200)에 정상적으로 전원을 공급할 수 있다.
상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 크랙 검출 장치(100)는 표시 패널(200)에 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 예를 들어, 상기 크랙에 의해 표시 패널 내부의 회로에 단락이 생기고, 이에 따라 과전류가 발생될 수 있다. 따라서, 상기 제1 센싱 값이 기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 크랙 검출 장치(100)는 전원 공급부(300)를 셧다운(S460)할 수 있다. 이에 따라 표시 패널(200)에 대한 전원 공급이 중단될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 인에이블 신호가 비활설화 레벨을 갖고, 전원 공급부(300)가 셧다운될 수 있다. 다른 실시예에서, 상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 크랙 검출 장치(100)는 전원 공급부(300)의 동작을 중단시키는 셧다운 신호를 생성하여 전원 공급부(300)에 제공할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 크랙 검출 장치의 구동 방법은 영상 로드에 따라 변화하는 제1 크랙 기준 값과 매 프레임의 발광 구간(EP)에서 검출된 전원 전류를 비교하여 표시 패널의 크랙 여부를 검출할 수 있다. 즉, 영상 변화 및 패널 특성 변화에 따라 상기 제1 크랙 기준 값이 조절됨으로써 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다. 또한, 하나의 프레임에서의 전류 검출 시간 및 전류 검출 횟수가 증가됨으로써 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
도 4는 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법에서 전원 전류를 검출 구간의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 4를 참조하면, 크랙 검출 장치는 발광 구간(EP) 내에 설정된 센싱 구간(SP) 동안 전원 전류(IELVSS)를 검출할 수 있다.
동시 발광 방식으로 구동되는 표시 장치에 있어서, 제1 전원 전압(ELVDD)은 비발광 구간(BP)의 리셋 구간(P2)에서 로우 전압 레벨을 갖고, 발광 구간(EP)을 포함하는 나머지 프레임 구간에서 하이 전압 레벨을 갖는다. 제2 전원 전압(ELVSS)은 발광 구간(EP)에서 로우 전압 레벨을 갖고, 비발광 구간(BP)에서 하이 전압 레벨을 갖도록 설정된다. 제2 전원 전압(ELVSS)의 상기 하이 전압 레벨 및 제1 전원 전압(ELVDD)의 상기 로우 전압 레벨은 비발광 구간(BP)에서 화소가 발광하지 않도록 설정될 수 있다. 예를 들어, 제2 전원 전압(ELVSS)의 상기 하이 전압 레벨은 제1 전원 전압(ELVDD)의 상기 로우 전압 레벨과 실질적으로 동일할 수 있다. 이에 따라, 비발광 구간(BP)에서는 화소가 발광하지 않는다. 또한, 정상적인 경우, 비발광 구간(BP)에서 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 전원 배선에는 전원 전류(IELVSS)가 흐르지 않는다.
일 실시예에서, 크랙 검출 장치의 구동 방법은 발광 구간 내에 설정된 센싱 구간(SP) 동안 전원 전류(IELVSS)를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 전원 전류는 제2 전원 전압(ELVSS)이 인가되는 전원 배선의 전류에 상응할 수 있다. 상기 크랙 검출 장치는 표시 패널 외부의 상기 전원 배선의 전류를 검출할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱 구간(SP)은 약 2ms로 설정되고, 상기 전류 검출 동작은 센싱 구간(SP) 내에서 100회 이상 수행될 수 있다. 전류 검출 횟수는 검출 주파수를 조절함으로써 제어될 수 있다. 이에 따라, 비발광 구간이 아닌 발광 구간(EP)에서 충분한 시간 동안 전원 전류의 검출이 수행되고, 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
도 5는 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 2, 도 3 및 도 5를 참조하면, 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간(BP)의 센싱 구간 동안 전원 전류를 복수 회 검출(S520)하여 제2 센싱 값을 산출(S540)하고, 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교(S560)하여 표시 패널의 크랙 여부를 판단하는 과정을 더 포함할 수 있다.
일 실시예에서, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간(BP)에서도 상기 전원 전류를 검출하여 상기 표시 패널의 크랙 여부를 판단할 수 있다. 표시 패널이 정상적으로 구동된다면, 비발광 구간(BP), 특히, 데이터 기입 구간에서 전원 배선으로 전류가 흐르지 않아야 한다. 따라서, 상기 표시 패널이 정상적으로 구동되는 경우, 상기 크랙 검출 장치는 상기 전원 배선으로 흐르는 전류를 검출할 수 없다. 이 때, 상기 전원 배선에 전류가 검출된다면, 상기 표시 패널이 비정상적으로 동작하는 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 일 실시예에서, 상기 제2 크랙 기준 값은 0으로 설정될 수 있다. 다만, 상기 소정의 누설 전류가 발생될 수 있으므로, 상기 제2 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다.
비발광 구간(BP)의 상기 센싱 구간 동안 전원 전류를 복수 회 검출(S520)할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 센싱 구간은 비발광 구간(BP)의 데이터 기입 구간에 포함될 수 있다. 예를 들어, 상기 센싱 구간은 약 2ms로 설정되고, 상기 전류 검출 동작은 100회 이상 수행될 수 있다. 즉, 상기 전원 전류 검출을 위한 충분한 시간이 확보될 수 있으며, 이로 인해 전원 전류의 감지 감도가 향상될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 검출된 전원 전류들에 기초하여 상기 제2 센싱 값이 산출(S240)될 수 있다. 상기 제2 센싱 값은 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나에 상응할 수 있다. 예를 들어, 상기 검출된 전원 전류들은 아날로그-디지털 컨버터에 제공되어 디지털 값으로 변환되고, 상기 변환된 값들의 평균값이 산출될 수 있다. 즉, 상기 전원 전류의 평균 값이 제2 센싱 값으로 결정될 수 있다.
크랙 검출 장치는 상기 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교하여 표시 패널의 크랙 발생 여부를 판단(S560)할 수 있다. 표시 패널이 정상적으로 구동된다면, 상기 데이터 기입 구간에서 전원 배선으로 전원 전류가 흐르지 않아야 한다.
상기 제2 센싱 값이 상기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위 내에 포함되는 경우, 상기 크랙 검출 장치는 상기 표시 패널이 정상적으로 구동되는 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 상기 전원 공급부가 정상적으로 동작(S570)할 수 있다.
상기 제2 센싱 값이 상기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치는 상기 표시 패널에 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 상기 제2 센싱 값이 상기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 상기 전원 공급부를 셧다운(S580)할 수 있다. 이에 따라 상기 표시 패널에 대한 전원 공급이 중단될 수 있다.
이와 같이, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간(BP)의 데이터 기입 구간에서 전원 전류를 더 검출하고, 기 설정된 상기 제2 크랙 기준 값과 상기 검출된 전원 전류를 비교하여 표시 패널의 크랙 여부를 검출할 수 있다.
도 6은 도 2의 크랙 검출 장치의 구동 방법의 또 다른 예를 나타내는 순서도이다.
도 2, 도 3 및 도 6을 참조하면, 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간(BP)의 센싱 구간 동안 전원 전류를 복수 회 검출(S520)하여 제2 센싱 값을 산출(S540)하고, 상기 비발광 구간에서 영상 로드를 분석(S550)하여 제2 크랙 기준 값을 결정(S555)하며, 상기 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교(S565)하여 표시 패널의 크랙 여부를 판단하는 과정을 더 포함할 수 있다.
비발광 구간(BP)에서 전원 전류를 검출하여 제2 센싱 값을 산출하는 방법(S520, S540)은 도 5를 참조하여 설명하였으므로, 이에 중복되는 내용은 생략하기로 한다.
상기 크랙 검출 장치는 비발광 구간(BP)에서 해당 프레임의 영상 데이터에 기초하여 영상 로드를 분석(S550)할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 영상 데이터는 상기 프레임에 대한 계조 및/또는 휘도 정보를 포함할 수 있다. 비발광 구간(BP)에서 표시 패널에서의 누설 전류에 의해 표시 패널이 정상적으로 동작하는 경우에도 전원 배선에 미세 전류가 발생될 수 있다. 또한 상기 미세 전류는 상기 영상 로드의 크기에 의해 변화될 수 있다. 따라서, 발광 구간(EP)에서의 크랙 검출 방법과 마찬가지 방법으로 비발광 구간(BP)에서 표시 패널의 크랙을 검출할 수 있다.
상기 분석된 영상 로드에 기초하여 상기 제2 크랙 기준 값이 결정(S555)될 수 있다. 상기 제2 크랙 기준 값은 상기 영상 로드에 따라 상기 비발광 구간에서 상기 공통 전원 배선에 흐르는 미세 전류에 상응하는 값이다. 예를 들어, 상기 제2 크랙 기준 값은 0 (또는 0mA)에 가까울 수 있다. 이에 따라, 상기 영상 로드 변화에 대한 상기 제2 크랙 기준 값의 변화량은 상기 영상 로드 변화에 대한 상기 제1 크랙 기준 값의 변화량보다 작게 설정될 수 있다.
일 실시예에서, 상기 제2 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다. 상기 허용 오차 범위는 상기 표시 패널의 특성을 고려하여 설정될 수 있다. 일 실시예에서, 제2 크랙 기준 값은 상기 정상적인 미세 전류를 디지털 형태로 변환한 값에 상응할 수 있다. 상기 제2 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 크기에 따라 변화할 수 있다. 일 실시예에서, 상기 제2 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 레벨에 따라 룩업 테이블로 저장될 수 있다. 또는, 다른 실시예에서, 상기 제2 크랙 기준 값은 상기 영상 로드의 레벨에 따라 레지스터 형태로 저장될 수 있다.
상기 크랙 검출 장치는 상기 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교하여 표시 패널의 크랙 발생 여부를 판단(S565)할 수 있다. 상기 제2 센싱 값이 상기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위 내에 포함되는 경우, 상기 크랙 검출 장치는 상기 표시 패널이 정상적으로 구동되는 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 상기 전원 공급부가 정상적으로 동작(S575)할 수 있다.
상기 제2 센싱 값이 상기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치는 상기 표시 패널에 크랙이 발생한 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 상기 제2 센싱 값이 기 제2 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 상기 전원 공급부를 셧다운(S585)할 수 있다. 이에 따라 상기 표시 패널에 대한 전원 공급이 중단될 수 있다.
즉, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 상기 제1 크랙 기준 값 및 발광 구간(EP)에서 검출된 상기 제1 센싱 값에 기초하여 발광 구간 동안 표시 패널의 크랙을 검출하고, 상기 제2 크랙 검출 값 및 비발광 구간(BP)에서 검출된 상기 제2 센싱 값에 기초하여 비발광 구간 동안 상기 표시 패널의 크랙을 검출할 수 있다.
이와 같이, 상기 크랙 검출 장치의 구동 방법은 비발광 구간(BP)의 데이터 기입 구간에서 전원 전류를 더 검출하고, 영상 로드에 따라 변화하는 제2 크랙 기준 값을 반영하여 표시 패널의 크랙 여부를 검출할 수 있다. 따라서, 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다. 또한, 하나의 프레임에서의 전류 검출 시간 및 전류 검출 횟수가 증가됨으로써 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
도 7은 도 6의 크랙 검출 장치의 구동 방법에서 전원 전류를 검출 구간의 일 예를 나타내는 파형도이다.
도 7에서는 도 4을 참조하여 설명한 구성 요소들에 대해 동일한 참조 부호들을 사용하며, 이러한 구성 요소들에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 7을 참조하면, 크랙 검출 장치는 비발광 구간(BP) 내에 설정된 제1 센싱 구간(SP1) 및 발광 구간(EP) 내에 설정된 제2 센싱 구간(SP2) 동안 전원 전류(IELVSS)를 검출할 수 있다.
일 실시예에서, 제1 센싱 구간(SP1)은 도 1a의 데이터 기입 구간(P4)에 포함될 수 있다. 제1 센싱 구간(SP1) 및 제2 센싱 구간(SP2)은 약 2ms로 설정되고, 상기 전류 검출 동작은 제1 센싱 구간(SP1) 및 제2 센싱 구간(SP2) 각각에서 100회 이상 수행될 수 있다. 이에 따라, 하나의 프레임의 발광 구간(EP) 및 비발광 구간(BP)에서 충분한 시간 동안 전원 전류의 검출이 수행되고, 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
도 8은 본 발명의 실시예들에 따른 크랙 검출 장치를 나타내는 블록도이고, 도 9는 도 8의 크랙 검출 장치의 일 예를 나타내는 도면이다.
도 8을 참조하면, 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치(100)는 전류 검출부(120), 영상 로드 결정부(140) 및 전원 제어부(160)를 포함할 수 있다.
상기 표시 장치는 유기 발광 표시 장치이며, 상술한 동시 발광 방식으로 구동될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 유기 발광 표시 장치는 50인치 이상의 대형 표시 장치에 해당될 수 있다.
표시 패널(200)의 표시 영역(DA) 외측의 비표시 영역(AA)에는 스캔 구동부(400) 및 데이터 구동부(500)가 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 스캔 구동부(400)는 게이트인패널(Gate-In Panel) 방식으로 서브 픽셀의 트랜지스터 공정과 함께 패널(160)에 형성될 수 있다. 일 실시예에서, 데이터 구동부(520)는 복수의 Integrated Circuit(IC)(522) 형태로 구성되고 복수의 연성 기판들(520)에 실장되어 표시 패널(200)에 연결될 수 있다.
크랙 검출 장치(100)는 표시 패널(200)의 외부의 회로 보드에 배치될 수 있다. 일 실시예에서, 상기 회로 보드는 타이밍 제어부를 더 포함할 수 있다. 상기 회로 보드는 상기 연성 기판들(520)과 전기적으로 연결될 수 있다. 이 경우, 전원 공급부(300)로부터 출력된 제1 전원 전압(ELVDD)은 상기 회로 보드부터 표시 패널(200)까지 형성된 모든 제1 전원 배선(VDD)을 통해 공급되고, 전원 공급부(300)로부터 출력된 제2 전원 전압(ELVSS)은 상기 회로 보드부터 표시 패널(200)까지 형성된 모든 제2 전원 배선(VSS)을 통해 공급될 수 있다. 따라서, 제2 전원 배선(VSS)이 상기 회로 보드부터 표시 패널(200)까지 모두 공통으로 묶여 있으므로 하나의 전류 검출부(120)만을 연결하면 된다. 그리고 이 구조는 앞서 설명된 바와 같이, 제2 전원 배선(VSS)에 이상 전류(예를 들어, 과전류)가 발생하면 전원 공급부(300)를 턴 오프할 수 있다.
전류 검출부(120)는 상기 외부 회로 보드에 배치되고, 제2 전원 배선(VSS)에 연결될 수 있다. 전류 검출부(120)는 발광 구간에서 전원 공급부(300)로 흐르는 전원 전류(IELVSS)를 검출하고, 상기 전원 전류에 기초하여 센싱 값(SEN_V)(즉, 제1 센싱 값)을 산출할 수 있다. 일 실시예에서, 전류 검출부(120)는 상기 발광 구간 중 기 설정된 센싱 주기 동안 상기 전원 전류가 검출되는 센싱 저항(RS) 및 센싱 저항(RS)으로부터 검출되는 복수의 전원 전류들(IELVSS)을 디지털 신호로 변환하여 센싱 값을 산출하는 센싱 값 산출부(120)를 포함할 수 있다. 예를 들어, 전류 검출부(120)는 상기 발광 구간 동안 전원 전류(IELVSS)를 100회 이상 검출할 수 있다.
센싱 값 산출부(120)는 아날로그 형태의 전원 전류(IELVSS)를 디지털 신호로 변환하는 아날로그-디지털 컨버터를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱 값 산출부(120)는 검출된 전원 전류들(IELVSS)의 평균, 상기 검출된 전원 전류들(IELVSS)의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들(IELVSS)의 최소 값 중 하나를 센싱 값(SEN_V)으로 산출할 수 있다. 센싱 값(SEN_V)은 전원 제공부(162)에 제공될 수 있다.
일 실시예에서, 전류 검출부(120)는 비발광 구간의 데이터 기입 구간에서 전원 전류(IELVSS)의 센싱 값(즉, 제2 센싱 값)을 더 산출할 수 있다.
영상 로드 결정부(140)는 하나의 프레임 영상 데이터(IDATA)에 기초하여 표시 패널(200) 전체의 영상 로드에 대응하는 크랙 기준 값(REF_V)을 결정할 수 있다. 영상 로드 결정부(140)는 영상 데이터(IDATA)의 계조 또는 휘도에 기초하여 상기 영상 로드를 산출할 수 있다. 상기 영상 로드는 전체 계조 또는 휘도에 따라 달라질 수 있다. 예를 들어, 표시 패널(200)이 풀화이트를 표시하는 경우, 상기 영상 로드는 최대값을 갖고, 표시 패널(200)이 블랙 영상을 표시하는 경우, 상기 영상 로드는 최소값을 가질 수 있다. 일 실시예에서, 영상 로드 결정부(140)는 상기 영상 로드의 레벨에 따라 기 설정된 복수의 크랙 기준 값들이 저장된 메모리를 포함할 수 있다. 예를 들어, 상기 크랙 기준 값들은 상기 영상 로드의 레벨에 따라 룩업 테이블로 저장되거나 레지스터 형태로 저장될 수 있다. 영상 로드 결정부(140)는 상기 분석된 영상 로드에 상응하는 상기 크랙 기준 값을 상기 룩업 테이블 또는 상기 레지스터로부터 추출할 수 있다.
일 실시예에서, 산출된 크랙 기준 값(REF_V)은 기 설정된 허용 오차 범위를 가질 수 있다. 예를 들어, 상기 허용 오차 범위는 상기 영상 로드의 크기에 따라 다르게 설정될 수 있다. 예를 들어 상기 허용 오차 범위가 DELTA라면, 센싱 값(SEN_V)은 REF_V-DELTA 내지 REF_V+DELTA 범위 내에서 정상으로 판단될 수 있다. 일실시예에서, 전류 검출부(120)가 상기 비발광 구간의 데이터 기입 구간에서 센싱 값(SEN_V)을 산출하는 경우, 영상 로드 결정부(140)는 크랙 기준 값(REF_V)을 0으로 출력할 수 있다. 이 때, 표시 패널(200)이 정상적으로 구동되는 경우라면 전원 전류(IELVSS)가 검출되지 않아야 한다.
전원 제어부(160)는 크랙 기준 값(REF_V)과 센싱 값(SEN_V)을 비교하여 전원 공급을 제어할 수 있다. 일 실시예에서, 센싱 값(SEN_V)이 크랙 기준 값(REF_V)의 상기 허용 오차 범위(예를 들면, REF_V-DELTA 내지 REF_V+DELTA 범위)를 벗어나는 경우, 전원 제어부(160)는 표시 패널(200)에 크랙이 발생된 것으로 판단할 수 있다. 따라서, 전원 제어부(160)는 전원 공급부(300)를 셧다운하는 셧다운 신호(SD)를 출력할 수 있다. 일 실시예에서, 전원 제어부(160)는 크랙 기준 값(REF_V)과 센싱 값(SEN_V)을 비교하여 셧다운 신호(SD)의 로직 하이(high) 레벨 또는 로직 로우(low) 레벨을 출력하는 연산부(162) 및 연산부(162)의 출력의 논리곱을 수행하는 앤드 게이트(AND gate)(164)를 포함할 수 있다. 일 실시예에서, 앤드 게이트(164)의 연산에 의해 전원 제어부의 구동을 제어하는 인에이블 신호(SD_EN)의 로직 레벨이 제어될 수 있다. 전원 제어부(160)는 발광 구간 및 비발광 구간 중 적어도 하나의 구간에서 검출 및 산출된 센싱 값(SEN_V)과 크랙 기준 값(REF_V)에 기초하여 표시 패널의 크랙 여부를 검출하고, 전원 공급부(300)를 제어하는 인에이블 신호(SD_EN) (또는 셧다운 신호)를 출력할 수 있다.
상술한 바와 같이, 본 발명의 실시예들에 따른 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치(100)는 외부 회로 보드의 하나의 전원 배선(VSS)에 연결되는 하나의 전류 검출부(120)만을 포함함으로써 제조 비용 및 크랙 검출 장치(100)의 부피를 줄일 수 있다. 또한, 영상 로드에 기초하여 발광 구간 및 비발광 구간 모두에서 표시 패널(100)의 크랙 검출 동작이 수행되므로 표시 패널의 크랙 검출의 감도 및 검출 신뢰도가 향상될 수 있다.
본 발명은 크랙 검출 장치를 포함하는 표시 장치 및 이를 포함하는 시스템에 적용될 수 있다. 본 발명은 예를 들어, 50인치 이상의 대형 표시 장치에 적용될 수 있으며, 투명 표시 장치, 플렉서블 표시 장치, 미러 표시 장치 등에도 적용될 수 있다.
이상에서는 본 발명의 실시예들을 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허 청구의 범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
100: 크랙 검출 장치 120: 전류 검출부
140: 영상 로드 결정부 160: 전원 제어부
200: 표시 패널 300: 전원 제공부
1000: 유기 발광 표시 장치

Claims (20)

  1. 유기 발광 표시 장치에 포함되는 크랙 검출 장치의 구동 방법에 있어서,
    동시 발광 방식으로 구동되는 발광 구간에서 상기 크랙 검출 장치가 영상 데이터에 기초하여 하나의 프레임에 대한 표시 패널 전체의 영상 로드를 분석하는 단계;
    상기 발광 구간에서 상기 크랙 검출 장치가 전원 공급부에 흐르는 전원 전류인 제1 센싱 값을 산출하는 단계;
    상기 크랙 검출 장치가 상기 영상 로드에 기초하여 제1 크랙 기준 값을 결정하는 단계; 및
    상기 크랙 검출 장치가 상기 제1 크랙 기준 값과 상기 제1 센싱 값을 비교하여 표시 패널의 크랙(crack) 발생 여부를 판단하는 단계를 포함하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  2. 제 1 항에 있어서, 상기 제1 센싱 값을 산출하는 단계는
    상기 크랙 검출 장치가 상기 발광 구간 중 기 설정된 센싱 구간 동안 상기 전원 전류를 실시간으로 복수 회 검출하는 단계; 및
    상기 크랙 검출 장치가 상기 검출된 전원 전류들에 기초하여 상기 제1 센싱 값을 결정하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  3. 제 2 항에 있어서, 상기 제1 센싱 값은 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나에 상응하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  4. 제 2 항에 있어서, 상기 제1 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 갖는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  5. 제 4 항에 있어서, 상기 크랙 발생 여부를 판단하는 단계는
    상기 크랙 검출 장치가 상기 제1 센싱 값과 상기 제1 크랙 기준 값을 비교하는 단계; 및
    상기 제1 센싱 값이 상기 제1 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치가 전원 공급을 중단시키는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  6. 제 2 항에 있어서,
    상기 크랙 검출 장치가 상기 발광 구간 직전의 비발광 구간에 포함되는 데이터 기입 구간에서 전원 공급부에 흐르는 전원 전류인 제2 센싱 값을 산출하는 단계; 및
    상기 크랙 검출 장치가 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 비교하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  7. 제 6 항에 있어서, 상기 제2 크랙 기준 값은 0인 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  8. 제 6 항에 있어서, 상기 제2 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 갖는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  9. 제 8 항에 있어서, 제2 크랙 기준 값과 상기 제2 센싱 값을 상기 비교하는 단계는
    상기 비발광 구간에서 상기 크랙 검출 장치가 상기 영상 데이터에 기초하여 상기 영상 로드를 분석하는 단계;
    상기 크랙 검출 장치가 상기 영상 로드에 기초하여 상기 제2 크랙 기준 값을 결정하는 단계; 및
    상기 제2 센싱 값이 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 크랙 검출 장치가 전원 공급을 차단하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  10. 제 9 항에 있어서, 상기 영상 로드의 변화에 대한 상기 제2 크랙 기준 값의 변화량은 상기 영상 로드 변화에 대한 상기 제1 크랙 기준 값의 변화량보다 작은 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  11. 제 1 항에 있어서, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 휘도의 평균에 상응하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  12. 제 1 항에 있어서, 상기 영상 로드는 상기 프레임의 계조(gray-scale)의 평균에 상응하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치의 구동 방법.
  13. 유기 발광 표시 장치에 포함되는 크랙(crack) 검출 장치에 있어서,
    동시 발광 방식으로 구동되는 표시 패널의 외부 회로 보드에 배치되고, 발광 구간에서 전원 공급부로 흐르는 전원 전류의 센싱 값을 산출하는 전류 검출부;
    하나의 프레임의 영상 데이터에 기초하여 표시 패널 전체의 영상 로드에 대응하는 크랙 기준 값을 결정하는 영상 로드 결정부; 및
    상기 크랙 기준 값과 상기 센싱 값을 비교하여 전원 공급을 제어하는 전원 제어부를 포함하는 크랙 검출 장치.
  14. 제 13 항에 있어서, 상기 전류 검출부는
    상기 발광 구간 중 기 설정된 센싱 주기 동안 상기 전원 전류가 검출되는 센싱 저항; 및
    상기 센싱 저항으로부터 검출되는 복수의 전원 전류들을 디지털 신호로 변환하여 센싱 값을 산출하는 센싱 값 산출부를 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  15. 제 14 항에 있어서, 상기 센싱 값 산출부는 상기 검출된 전원 전류들의 평균, 상기 검출된 전원 전류들의 최대값 및 상기 검출된 전원 전류들의 최소 값 중 하나를 상기 센싱 값으로 산출하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  16. 제 14 항에 있어서, 상기 영상 로드 결정부는 상기 프레임의 영상 데이터의 계조(gray-scale)에 기초하여 상기 영상 로드를 산출하고, 영상 로드에 상응하는 상기 크랙 기준 값을 결정하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  17. 제 16 항에 있어서, 상기 영상 로드 결정부는
    상기 영상 로드의 레벨에 따라 기 설정된 복수의 크랙 기준 값들이 저장된 메모리를 포함하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  18. 제 16 항에 있어서, 상기 크랙 기준 값은 기 설정된 허용 오차 범위를 갖는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  19. 제 18 항에 있어서, 상기 센싱 값이 상기 크랙 기준 값의 상기 허용 오차 범위를 벗어나는 경우, 상기 전원 제어부는 상기 전원 공급부를 셧다운하는 셧다운 신호를 출력하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.
  20. 제 16 항에 있어서, 상기 전류 검출부는 비발광 구간의 데이터 기입 구간에서 전원 공급부로 흐르는 전원 전류의 센싱 값을 더 산출하고,
    상기 전원 제어부는 상기 크랙 기준 값과 상기 센싱 값을 비교하여 상기 전원 공급을 제어하는 것을 특징으로 하는 크랙 검출 장치.

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10643511B2 (en) * 2016-08-19 2020-05-05 Apple Inc. Electronic device display with monitoring circuitry
KR102367889B1 (ko) * 2017-08-10 2022-02-25 엘지전자 주식회사 이동 단말기
CN108492768B (zh) * 2018-03-23 2020-08-11 京东方科技集团股份有限公司 一种面板裂纹检测结构及检测方法
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CN110415631B (zh) * 2018-04-26 2021-01-15 京东方科技集团股份有限公司 显示面板、显示装置及检测方法
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CN109142453B (zh) * 2018-08-30 2021-01-01 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示面板检测方法
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CN110459181B (zh) * 2019-06-10 2021-08-06 重庆惠科金渝光电科技有限公司 一种显示面板的侦测电路、侦测方法和显示装置
KR20210086793A (ko) * 2019-12-30 2021-07-09 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치 및 표시 장치의 구동 방법
JP2021117303A (ja) * 2020-01-23 2021-08-10 シャープ株式会社 制御装置、制御方法、表示装置
KR20230029841A (ko) * 2020-07-28 2023-03-03 엘지전자 주식회사 디스플레이 장치 및 그에 대한 전원 제어 방법
KR20230102047A (ko) * 2021-12-29 2023-07-07 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101829398B1 (ko) * 2011-06-30 2018-02-20 삼성디스플레이 주식회사 유기전계발광 표시장치 및 그의 구동방법
KR102055591B1 (ko) * 2013-05-31 2019-12-16 삼성디스플레이 주식회사 과전류 제어 방법 및 이를 수행하는 유기 전계 발광 표시 장치
KR102174856B1 (ko) * 2014-02-13 2020-11-06 삼성디스플레이 주식회사 디스플레이 장치의 소손 방지 회로, 디스플레이 장치 및 디스플레이 장치의 소손 방지 방법

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