CN109142453B - 显示面板及显示面板检测方法 - Google Patents

显示面板及显示面板检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109142453B
CN109142453B CN201810999209.1A CN201810999209A CN109142453B CN 109142453 B CN109142453 B CN 109142453B CN 201810999209 A CN201810999209 A CN 201810999209A CN 109142453 B CN109142453 B CN 109142453B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
display panel
test point
display area
display
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810999209.1A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109142453A (zh
Inventor
黄耀立
贺兴龙
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Original Assignee
Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd filed Critical Wuhan China Star Optoelectronics Technology Co Ltd
Priority to CN201810999209.1A priority Critical patent/CN109142453B/zh
Publication of CN109142453A publication Critical patent/CN109142453A/zh
Priority to PCT/CN2019/071656 priority patent/WO2020042531A1/zh
Priority to US16/338,436 priority patent/US20200090564A1/en
Application granted granted Critical
Publication of CN109142453B publication Critical patent/CN109142453B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/041—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
    • G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
    • G01N27/20—Investigating the presence of flaws
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R27/00—Arrangements for measuring resistance, reactance, impedance, or electric characteristics derived therefrom
    • G01R27/02—Measuring real or complex resistance, reactance, impedance, or other two-pole characteristics derived therefrom, e.g. time constant
    • G01R27/14—Measuring resistance by measuring current or voltage obtained from a reference source
    • H—ELECTRICITY
    • H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N9/00—Details of colour television systems
    • H04N9/12—Picture reproducers
    • H04N9/31—Projection devices for colour picture display, e.g. using electronic spatial light modulators [ESLM]
    • H04N9/3191—Testing thereof
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2300/00—Aspects of the constitution of display devices
    • G09G2300/04—Structural and physical details of display devices
    • G09G2300/0421—Structural details of the set of electrodes
    • G09G2300/0426—Layout of electrodes and connections
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/12—Test circuits or failure detection circuits included in a display system, as permanent part thereof

Abstract

一种显示面板包括：玻璃基板，包括一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围；显示芯片，设于所述非显示区域上，所述显示芯片作为所述显示面板的驱动元件；及测试金属线路，设于所述非显示区，沿绕所述非显示区域设置。所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路。所述第一测试点及第二测试点用以和一外部电阻测试仪器电性接触，以检测所述测试金属线路的电阻值。

Description

显示面板及显示面板检测方法
【技术领域】
本发明涉及显示技术领域，特别是涉及一种针对显示面板玻璃是否有裂纹的显示面板检测方法及显示面板。
【背景技术】
显示面板由上下两块玻璃基板组成，为了检测产品各种组件的功能，确认各组件是否有损坏的失效现象，通常会让显示面板进行各机械测试。
显示面板在裂片、组装等制程工艺过程中，由于各种制程工艺可能造成玻璃基板产生裂纹的问题，且显示面板完成后仍需通过各种机械测试，而所述机械测试亦可能造成裂纹的产生，因此在显示面板提供至客户端前，必须先行检测是否具有瑕疵。显示面板在在进行4PB(four-point-bendingtest)、跌落、震动等机械测试时，传统方式是于机械测试完后，进行显示画面测试，显示画面无异常则判定测试通过。若显示画面异常，则说明线路被跌落损坏，判定测试不通过。但是，部分显示面板玻璃基板的边缘会产生轻微的裂纹，而轻微的裂纹并不会对电路造成大的损伤，也能正常显示。然而，在后续使用过程中，轻微的裂纹可能会慢慢扩大，以至于设置在玻璃基板上的部分线路彻底断裂，引起显示不良。
【发明内容】
本发明的目的在于提供一种可精细地，并可有效检测显示面板是否具有裂纹的显示面板检测方法及显示面板，用以实现不用拆机而可进行裂纹检测，提升检测效率，避免造成漏放不良品至客户端。
为达到前述目的，本发明的显示面板，包括玻璃基板，包括一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围；显示芯片，设于所述非显示区域上，所述显示芯片作为所述显示面板的驱动元件；及测试金属线路，设于所述非显示区，并沿绕所述非显示区域设置，所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路，且所述第一测试点及第二测试点用以和一外部电阻测试仪器电性接触，以检测所述测试金属线路的电阻值。
在一优选实施例中，所述玻璃基板包括上层的彩膜基板及下层的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包括一基底，所述基底上设有功能层，所述彩膜基板的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板的一边部之间具有一唇缘部，所述功能层对应所述唇缘部设有一开放于外的凹槽，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述凹槽的下方。
在另一优选实施例中，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点上设有一透明导电膜层，其延伸至所述凹槽的相对二侧。
在另一优选实施例中，所述功能层包括一下绝缘层、一栅极绝缘层、一中间介电层、一平坦层、一上绝缘层，及一钝化层，且所述钝化层上设有封恇胶，所述彩膜基板黏固于所述封恇胶的，其中所述凹槽穿透所述钝化层、所述上绝缘层、所述平坦层及所述中间介电层，而所述测试金属线路设于所述栅极绝缘层上。
在另一优选实施例中，所述测试金属线路位于并穿透所述显示芯片的正下方。
在另一优选实施例中，所述玻璃基板的非显示区域围绕所述显示区域，并包括上边部及下边部，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述上边部或下边部的位置。
在另一优选实施例中，所述测试金属线路的电阻值包括第一电阻值及第二电阻值，所述第二电阻值是所述显示面板经由机械测试后取得，而所述第一电阻值是所述显示面板经由机械测试前取得，其中所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，所述显示面板的玻璃基板经判定具有裂纹。
本发明另外提供一种显示面板检测方法，其特征在于，所述显示面板检测方法包括：
在玻璃基板上定义一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围；
在所述玻璃基板上设置显示芯片；
在所述非显示区域上沉积一测试金属线路，所述测试金属线路沿绕所述显示区域设置，其中所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路；及
将所述第一测试点及第二测试点和一外部电阻测试仪器电性接触而检测所述测试金属线路的电阻值。
在一优选实施例中，所述玻璃基板包括上层的彩膜基板及下层的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包括一基底，所述基底上设有功能层，所述彩膜基板的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板的一边部之间形成有一唇缘部，所述功能层对应所述唇缘部凹设有一开放于外的凹槽，其中所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述凹槽的下方。
在另一优选实施例中，将所述显示面板进行机械测试，并于进行所述机械测试前，透过所述外部电阻测试仪器电性接触所述第一测试点及第二测试点，用以检测所述测试金属线路的电阻值，并取得第一电阻值，而于所述机械测试后，再透过所述外部电阻测试仪器的检测取得所述测试金属线路的第二电阻值，其中当所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，所述显示面板的玻璃基板经判定具有裂纹。
在另一优选实施例中，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点上设有一透明导电膜层，其延伸至所述凹槽的相对二侧。
本发明利用测试金属线路的不闭合电路，并将测试金属线路设于玻璃基板的最外围，可以于显示面板的完成品进行机械测试后，藉由外部电阻测试仪器直接电性接触所述第一测试点及第二测试点，用以检测所述测试金属线路的电阻值的变化，可以无需拆机即可筛选出显示面板的玻璃基板是否有细微裂纹，有效地解决传统显示面板需要先行拆机检测的不便，且可避免因无法精确地检测玻璃裂纹，而导致不良品漏放至客户端的问题。
【附图说明】
图1为本发明一种实施例之显示面板的结构示意图。
图2为本发明一种实施例之显示面板的剖面示意图。
图3为本发明一种实施例之显示面板的结构示意图。
图4为本发明一种实施例之显示面板的结构示意图。
图5为本发明一种实施例之显示面板的局部剖面示意图。
图6为本发明显示面板检测方法的流程图。
【具体实施方式】
以下各实施例的说明是参考附加的图式，用以例示本发明可用以实施的特定实施例。本发明所提到的方向用语，例如「上」、「下」、「前」、「后」、「左」、「右」、「内」、「外」、「侧面」等，仅是参考附加图式的方向。因此，使用的方向用语是用以说明及理解本发明，而非用以限制本发明。
本发明揭露一种显示面板及显示面板检测方法，显示面板例如为具有内嵌式触控电路的显示面板，及可在无需拆机的情况下，即可精细地针对显示面板的完成品检测是否具有裂纹的检测方法。
图1为本发明一种实施例之显示面板的结构示意图。如图1所示，本发明的显示面板1包括玻璃基板2，包括一显示区域10及一非显示区域11。所述非显示区域11位于所述玻璃基板2的最外围，亦即，所述非显示区域11围绕所述显示区域10，并包括上边部111及下边部112。所述显示区域10即所述显示面板1上用以显示画面的区域。此外，所述玻璃基板2上设有一显示芯片24，其为所述显示面板1的驱动元件。
图2为本发明一种实施例之显示面板的剖面示意图。如图2所述，所述玻璃基板2包括上层的彩膜基板21及下层的薄膜晶体管阵列基板22，所述薄膜晶体管阵列基板22包括一基底230，所述基底230上设有功能层23。所述功能层23由往上依序包括有下绝缘层231、栅极绝缘层232、中间介电层233、平坦层234、上绝缘层235及钝化层236，且所述钝化层236上设有封恇胶4及黏固于所述封恇胶4的所述彩膜基板21。此外，所述彩膜基板21及所述薄膜晶体管阵列基板22分别包括所述显示区域10及所述非显示区域11。
特别说明的是，所述彩膜基板21的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板22的一边部之间具有一唇缘部221，所述功能层23对应所述唇缘部221设有一开放于外的凹槽20。具体而言，所述凹槽20通过蚀刻工艺穿透所述钝化层236、所述上绝缘层235、所述平坦层234及所述中间介电层233。换言之，所述凹槽20朝向所述彩膜基板21的方向穿透并开放于外部。
续请参阅图1，本发明的显示面板1包括测试金属线路3。所述测试金属线路3设于所述非显示区域11，并沿绕且对应所述非显示区域11设置。所述测试金属线路3的开始位置设有第一测试点31，所述测试金属线路3的结束位置设有第二测试点32，所述第一测试点31及第二测试点32互不连通，用以形成不闭合电路。于此较佳实施例中，所述第一测试点31及第二测试点32设于非显示区域11的下边部112的右侧。具体而言，本发明的测试金属线路3并不与显示面板1内其他构件电性连接，避免所述测试金属线路3接受外部电阻测试仪器(未图示)的电阻测试受到影响。
续请参阅图2，所述测试金属线路3设于所述栅极绝缘层232上，且所述第一测试点31及第二测试点32设于所述凹槽20的下方，并开放于所述唇缘部221。此外，为防止裸露的测试金属线路3被腐蚀风险，所述第一测试点31及第二测试点32上设有一透明导电膜层33，其延伸至所述凹槽20的相对二侧。所述透明导电膜层33的材料为铟锡氧化物。
图3及图4分别为本发明一种实施例之显示面板的结构示意图。如图3所示，所述测试金属线路3的第一测试点31及第二测试点32设于非显示区域11的上边部111的左侧。如图4所示，所述测试金属线路3的第一测试点31及第二测试点32设于非显示区域11的下边部112的左侧。所述第一测试点31及第二测试点32的设置位置是依据不同外部电阻测试仪器的类型而定。
图5为本发明一种实施例之显示面板的局部剖面示意图。由于显示芯片24是设于显示面板1的最外围，且显示芯片24的上下部分均有线路，只有显示芯片24底下有空间放置测试金属线，故所述测试金属线路3位于并穿透所述显示芯片24的正下方。藉此，所述测试金属线路3的佈设不会额外占用玻璃基板2的配置空间。
一般显示面板于制作完成后，完成品的显示面板提供至客户端之前，会先经过各种机械测试的检测，例如4PB、跌落、震动等机械测试，用以检测显示画面是否异常，但往往画面显示正常却不全然表示玻璃基板不具有裂纹。本发明显示面板1于完成品阶段，在接受机械测试前，先经由所述外部电阻测试仪器检测所述测试金属线路3的电阻值，将外部电阻测试仪器的两个表笔分别并直接电性接触所述测试金属线路3的第一测试点31及第二测试点32，并取得第一电阻值。所述第一电阻值即定义为一标准值。再于显示面板1接受机械测试后，经由外部电阻测试仪器检测所述测试金属线路3的电阻值，并取得第二电阻值。由于经过机械测试后，玻璃基板2最先可能产生裂纹的位置是在玻璃基板2的最外围，而裂纹会损坏测试金属线路3，造成测试金属线路3的电阻值的改变。当所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，例如超过所述第一电阻值的百分之十，则所述显示面板1的玻璃基板2经判定为具有裂纹。
于另一具体实施中，测试金属线的粗细不同亦会影响检测结果。较细微的裂纹能对细的金属线电阻造成大的影响，较细微的裂纹对粗的金属线电阻影响很小，因此在需要监测较细微裂纹时采用细金属线，需要监测较大裂纹时采用粗金属线，择优而用。
本发明利用测试金属线路的不闭合电路，并将测试金属线路设于玻璃基板的最外围，可以于显示面板的完成品进行机械测试后，藉由外部电阻测试仪器直接电性接触所述第一测试点31及第二测试点32，用以检测所述测试金属线路3的电阻值的变化，可以无需拆机即可筛选出显示面板的玻璃基板是否有细微裂纹，有效地解决传统显示面板需要先行拆机检测的不便，且可避免因无法精确地检测玻璃裂纹，而导致不良品漏放至客户端的问题。
本发明另外提供一种显示面板检测方法。图6为本发明显示面板检测方法的流程图。如图6所示，本发明显示面板检测方法包括如下步骤：步骤S1：在玻璃基板上定义一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围。
步骤S2：在所述玻璃基板上设置显示芯片。
步骤S3：在所述非显示区域上通过物理气相沉积形成一测试金属线路，所述测试金属线路沿绕所述非显示区域设置，其中所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路。
步骤S4：将所述第一测试点及第二测试点电性接触于一外部电阻测试仪器，以检测所述测试金属线路的电阻值。
于实际检测时，先将所述显示面板进行机械测试，并于进行所述机械测试前，透过所述外部电阻测试仪器电性接触所述第一测试点及第二测试点，用以检测所述测试金属线路的电阻值，并取得第一电阻值。而于所述机械测试后，再透过所述外部电阻测试仪器的检测取得所述测试金属线路的第二电阻值，其中当所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，所述显示面板的玻璃基板经判定具有裂纹。
具体而言，所述玻璃基板包括上层的彩膜基板及下层的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板上设有功能层，所述彩膜基板的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板的一边部之间形成有一唇缘部，所述功能层对应所述唇缘部凹设有一开放于外的凹槽，其中所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述凹槽的下方。换言之，所述外部电阻测试仪器的表笔直接由外进入所述凹槽而电性接触所述第一测试点及第二测试点，进而可以不用拆机而可直接检测所述测试金属线路的电阻值。
此外，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点上设有一透明导电膜层，其延伸至所述凹槽的相对二侧。
用於本發明面板检测方法的显示面板的结构，其相同于前述实施例的显示面板的结构，于此不再赘述。
综上所述，虽然本发明已以优选实施例揭露如上，但上述优选实施例并非用以限制本发明，本领域的普通技术人员，在不脱离本发明的精神和范围内，均可作各种更动与润饰，因此本发明的保护范围以权利要求界定的范围为准。

Claims (9)

1.一种显示面板，其特征在于，所述显示面板包括：
玻璃基板，包括一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围；
显示芯片，设于所述非显示区域上，所述显示芯片作为所述显示面板的驱动元件；及
测试金属线路，设于所述非显示区域上，并沿绕所述非显示区域设置，所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述测试金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路，且所述第一测试点及第二测试点用以和一外部电阻测试仪器电性接触，以检测所述测试金属线路的电阻值，其中所述玻璃基板包括上层的彩膜基板及下层的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包括一基底，所述基底上设有功能层，所述彩膜基板的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板的一边部之间具有一凸缘部，所述功能层对应所述凸缘部设有一凹槽，其中所述凹槽朝向所述彩膜基板的方向穿透并开放于外部，且所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述凹槽的下方，并开放于所述凸缘部。
2.如权利要求1的显示面板，其特征在于，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点上设有一透明导电膜层，其延伸至所述凹槽的相对二侧。
3.如权利要求1的显示面板，其特征在于，所述功能层包括一下绝缘层、一栅极绝缘层、一中间介电层、一平坦层、一上绝缘层，及一钝化层，且所述钝化层上设有封框胶，所述彩膜基板黏固于所述封框胶，其中所述凹槽穿透所述钝化层、所述上绝缘层、所述平坦层及所述中间介电层，而所述测试金属线路设于所述栅极绝缘层上。
4.如权利要求1的显示面板，其特征在于，所述测试金属线路位于并穿透所述显示芯片的正下方。
5.如权利要求1的显示面板，其特征在于，所述玻璃基板的非显示区域围绕所述显示区域，并包括上边部及下边部，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述上边部或下边部的位置。
6.如权利要求1的显示面板，其特征在于，所述测试金属线路的电阻值包括第一电阻值及第二电阻值，所述第二电阻值是所述显示面板经由机械测试后取得，而所述第一电阻值是所述显示面板经由机械测试前取得，其中所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，所述显示面板的玻璃基板经判定具有裂纹。
7.一种显示面板检测方法，其特征在于，所述显示面板检测方法包括：
在玻璃基板上定义一显示区域及一非显示区域，所述显示区域用于显示画面，所述非显示区域位于所述玻璃基板的最外围；
在所述非显示区域上设置显示芯片；
在所述非显示区域上沉积一测试金属线路，所述测试金属线路沿绕所述非显示区域设置，其中所述测试金属线路的开始位置设有第一测试点，所述测试金属线路的结束位置设有第二测试点，所述第一测试点及第二测试点互不连通，用以形成不闭合电路；及
将所述第一测试点及第二测试点和一外部电阻测试仪器电性接触而检测所述测试金属线路的电阻值，其中所述玻璃基板包括上层的彩膜基板及下层的薄膜晶体管阵列基板，所述薄膜晶体管阵列基板包括一基底，所述基底上设有功能层，所述彩膜基板的一边部和所述薄膜晶体管阵列基板的一边部之间形成有一凸缘部，所述功能层对应所述凸缘部凹设有一凹槽，其中所述凹槽朝向所述彩膜基板的方向穿透并开放于外部，且所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点设于所述凹槽的下方，并开放于所述凸缘部。
8.如权利要求7的显示面板检测方法，其特征在于，将所述显示面板进行机械测试，并于进行所述机械测试前，透过所述外部电阻测试仪器电性接触所述第一测试点及第二测试点，用以检测所述测试金属线路的电阻值，并取得第一电阻值，而于所述机械测试后，再透过所述外部电阻测试仪器的检测取得所述测试金属线路的第二电阻值，其中当所述第二电阻值超过所述第一电阻值的一预定范围时，所述显示面板的玻璃基板经判定具有裂纹。
9.如权利要求7的显示面板，其特征在于，所述测试金属线路的第一测试点及第二测试点上设有一透明导电膜层，其延伸至所述凹槽的相对二侧。
CN201810999209.1A 2018-08-30 2018-08-30 显示面板及显示面板检测方法 Active CN109142453B (zh)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810999209.1A CN109142453B (zh) 2018-08-30 2018-08-30 显示面板及显示面板检测方法
PCT/CN2019/071656 WO2020042531A1 (zh) 2018-08-30 2019-01-14 显示面板及显示面板检测方法
US16/338,436 US20200090564A1 (en) 2018-08-30 2019-01-14 Display panel and method for detecting display panel

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810999209.1A CN109142453B (zh) 2018-08-30 2018-08-30 显示面板及显示面板检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109142453A CN109142453A (zh) 2019-01-04
CN109142453B true CN109142453B (zh) 2021-01-01

Family

ID=64829049

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810999209.1A Active CN109142453B (zh) 2018-08-30 2018-08-30 显示面板及显示面板检测方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US20200090564A1 (zh)
CN (1) CN109142453B (zh)
WO (1) WO2020042531A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102601650B1 (ko) * 2016-07-26 2023-11-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN109142453B (zh) * 2018-08-30 2021-01-01 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示面板检测方法
CN112378960A (zh) * 2020-12-14 2021-02-19 霸州市云谷电子科技有限公司 显示基板、显示屏及裂纹探测方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN208737124U (zh) * 2018-08-30 2019-04-12 武汉华星光电技术有限公司 显示面板

Family Cites Families (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070111717A (ko) * 2006-05-18 2007-11-22 삼성전자주식회사 전도성 라인을 포함하는 평판 표시 장치 모기판 및 이의제조방법
JP5513262B2 (ja) * 2010-06-02 2014-06-04 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
JP5628410B2 (ja) * 2011-03-09 2014-11-19 シャープ株式会社 欠陥検査方法、欠陥検査装置、及び基板の製造方法
TWI480655B (zh) * 2011-04-14 2015-04-11 Au Optronics Corp 顯示面板及其測試方法
CN104571651A (zh) * 2013-10-09 2015-04-29 友达光电股份有限公司 触控显示装置及渗胶检测方法
US10324345B2 (en) * 2014-03-14 2019-06-18 Innolux Corporation Display device and display substrate
CN204116461U (zh) * 2014-07-31 2015-01-21 上海天马微电子有限公司 一种显示面板
CN105679215B (zh) * 2014-11-19 2018-12-11 昆山国显光电有限公司 显示屏及其裂纹检测方法
CN104535620B (zh) * 2015-01-16 2017-05-24 友达光电(厦门)有限公司 显示面板及其裂纹检测方法
CN205139262U (zh) * 2015-09-29 2016-04-06 赵跃 具有碎屏检测功能的电子设备
CN105372857B (zh) * 2015-12-16 2018-01-23 上海天马微电子有限公司 一种玻璃基板、液晶显示面板及液晶显示装置
KR102559370B1 (ko) * 2015-12-30 2023-07-26 삼성디스플레이 주식회사 크랙 검출 장치 및 크랙 검출 장치의 구동 방법
CN105976744B (zh) * 2016-06-24 2023-03-31 山东影响力智能科技有限公司 一种屏模组、电子设备及屏模组的微裂纹检测方法
US10643511B2 (en) * 2016-08-19 2020-05-05 Apple Inc. Electronic device display with monitoring circuitry
KR102553910B1 (ko) * 2016-08-31 2023-07-07 엘지디스플레이 주식회사 표시장치와 그의 검사방법
KR102555323B1 (ko) * 2016-09-28 2023-07-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
JP6815159B2 (ja) * 2016-10-14 2021-01-20 株式会社ジャパンディスプレイ 表示装置
CN106405962A (zh) * 2016-10-31 2017-02-15 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板及其走线和测试垫的制作方法、液晶面板
KR102397900B1 (ko) * 2016-12-08 2022-05-13 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
CN107121455B (zh) * 2017-04-28 2020-03-03 昆山国显光电有限公司 一种测量屏体边缘裂纹的方法和测量结构
KR102439673B1 (ko) * 2017-06-19 2022-09-05 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102432386B1 (ko) * 2017-07-12 2022-08-12 삼성디스플레이 주식회사 표시 장치
KR102056678B1 (ko) * 2017-11-23 2019-12-17 엘지디스플레이 주식회사 유기 발광 표시 장치
CN107861658B (zh) * 2017-11-29 2021-05-14 上海中航光电子有限公司 显示面板和显示装置
KR102485295B1 (ko) * 2017-11-30 2023-01-04 엘지디스플레이 주식회사 표시장치
CN109142453B (zh) * 2018-08-30 2021-01-01 武汉华星光电技术有限公司 显示面板及显示面板检测方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN208737124U (zh) * 2018-08-30 2019-04-12 武汉华星光电技术有限公司 显示面板

Also Published As

Publication number Publication date
CN109142453A (zh) 2019-01-04
WO2020042531A1 (zh) 2020-03-05
US20200090564A1 (en) 2020-03-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN109342513B (zh) 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN109142453B (zh) 显示面板及显示面板检测方法
CN105976744B (zh) 一种屏模组、电子设备及屏模组的微裂纹检测方法
JP6188953B2 (ja) 液晶ディスプレイ、液晶ディスプレイテスト方法及び電子装置
US20150332979A1 (en) Manufacturing method of array substrate
US6937004B2 (en) Test mark and electronic device incorporating the same
CN100498483C (zh) 一种有源矩阵基片以及一种包括该有源矩阵基片的液晶显示器
RU2738785C1 (ru) Панель отображения, устройство отображения, способ обнаружения трещины в герметизирующем слое панели отображения и способ изготовления панели отображения
US20060017448A1 (en) Bonding configuration structure for facilitating electrical testing in a bonding process and a testing method using the same
US7705353B2 (en) Bonding pad, active device array substrate and liquid crystal display panel
WO2020107797A1 (zh) 显示面板以及显示面板的裂纹检测方法
CN110957329A (zh) 显示模组及显示模组的制作方法
CN208737124U (zh) 显示面板
US20210091121A1 (en) Array substrate, method of manufacturing same, and display panel
KR20160110020A (ko) 인셀 타입 터치 센서의 오픈 불량 감지방법
US7402511B2 (en) Configuration for testing the bonding positions of conductive drops and test method for using the same
US20210027695A1 (en) Array substrate and display panel
CN113764436B (zh) 阵列基板的修补方法及修补装置
JPH11109887A (ja) 液晶表示パネル及びその製造方法
KR101449397B1 (ko) 임계 진동변형을 이용한 정전용량방식 터치스크린패널의 검사방법
JP4087289B2 (ja) 半導体装置およびその検査方法
US8164168B2 (en) Semiconductor package
JP2000250057A (ja) 液晶表示装置における透明電極パターンの検査方法
TW202103327A (zh) 薄膜電晶體結構及其製作方法
CN113358707A (zh) 基板的裂纹检测结构、显示面板的裂纹检测结构及裂纹检测方法

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant