CN115938256A - 显示装置和显示驱动方法 - Google Patents

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Abstract

本公开内容的实施方式涉及显示装置和显示驱动方法，并且更具体地，可以提供一种显示装置，包括：显示面板，在显示面板中设置有多个子像素和多个参考电压线，所述多个子像素包括通过供应至驱动电压线的高电位电压而发射光的发光元件，所述多个参考电压线连接至所述多个子像素以检测特征值；数据驱动电路，该数据驱动电路被配置成通过多个参考电压线向驱动电压线供应低电位电压；基础电压开关电路，被配置成控制连接至发光元件的阴极电极的基础电压节点；电流检测电路，被配置成检测在基础电压节点与接地之间流动的电流；以及时序控制器，被配置成控制基础电压开关电路并根据由电流检测电路检测到的电流生成针对驱动电压线的缺陷检测信号。

Description

显示装置和显示驱动方法
相关申请的交叉引用
本申请要求2021年8月18日提交的韩国专利申请第10-2021-0108560号的优先权，该申请出于所有目的通过引用并入于此，如同在本文中完全阐述的一样。
技术领域
本公开内容的实施方式涉及能够有效地检测电压线或显示面板中的缺陷的显示装置和显示驱动方法。
背景技术
随着信息社会的发展，针对各种类型的图像显示装置的需求日益增加。在这方面，诸如液晶显示装置和有机发光显示装置的一系列显示装置近来已经得到广泛使用。
在这样的显示装置中，由于使用了自发光有机发光二极管，因此有机发光显示装置具有优异的特性，诸如快速的响应速度、高对比度、高发光效率、高亮度和宽视角。
这样的有机发光显示装置可以包括显示面板中排列的多个子像素中设置的发光元件，并且可以通过控制流经发光元件的电流来对发光元件进行控制以发射光，以便在控制子像素的亮度的同时显示图像。
这样的显示装置包括用于向驱动电路和显示面板供应驱动显示面板所需的各种驱动电压的驱动电压供应源以及用于传输驱动电压的各种部件。
这样的显示装置包括其中多个子像素以矩阵形式被布置的显示面板。显示面板接收来自栅极驱动电路的扫描信号和来自数据驱动电路的数据电压以驱动子像素中的每个子像素。此外，显示面板从电力管理电路接收多个驱动电压。
此时，当由于从外部施加到显示面板的冲击而导致出现裂纹时，显示面板中的多个驱动电压线可能彼此短路或开路。
例如，从电力管理电路接收高电位电压的高电位电压线可能短接至接收低电位电压的低电位电压线，或者电压线可能短接至显示面板。
当由于这样的缺陷导致过电流在驱动电压线或显示面板中流动时，由于该过电流，导致电压线可能断开或者可能发生显示面板被燃烧的燃烧现象。
发明内容
因此，本公开内容的发明人发明了能够有效地检测电压线或显示面板中的缺陷的显示装置和显示驱动方法。
本公开内容的实施方式可以提供能够减少由于高电位电压导致的对显示面板的损坏并且通过使用显示驱动参考电压有效地检测显示面板中的缺陷的显示装置和显示驱动方法。
此外，本公开内容的实施方式可以提供能够通过在将高电位电压供应至子像素之前检测驱动电压线或显示面板中的缺陷来有效地减少由于高电位电压导致的对显示面板的损坏的显示装置和显示驱动方法。
本公开内容的实施方式可以提供一种显示装置，包括：显示面板，在显示面板中设置有多个子像素和多个参考电压线，所述多个子像素包括通过供应至驱动电压线的高电位电压而发射光的发光元件，所述多个参考电压线连接至所述多个子像素以检测特征值；数据驱动电路，该数据驱动电路被配置成通过多个参考电压线向驱动电压线供应低于高电位电压的低电位电压；基础电压开关电路，该基础电压开关电路被配置成控制连接至发光元件的阴极电极的基础电压节点；电流检测电路，该电流检测电路被配置成检测在基础电压节点与接地之间流动的电流；以及时序控制器，该时序控制器被配置成控制基础电压开关电路，并根据由电流检测电路检测到的电流生成针对驱动电压线的缺陷检测信号。
本公开内容的实施方式可以提供一种用于驱动显示装置的显示驱动方法，该显示装置包括显示面板，在该显示面板中设置有多个子像素和多个参考电压线，所述多个子像素具有通过供应至驱动电压线的高电位电压而发射光的发光元件，所述多个参考电压线被连接至所述多个子像素以检测特征值，该显示驱动方法包括：将高电位电压节点维持在比显示驱动参考电压低的水平；使基础电压节点浮置；向驱动电压线供应低于高电位电压的低电位电压；检测基础电压节点与接地之间的电流；将检测到的电流与参考值进行比较；并根据将检测到的电流与参考值进行比较的结果生成缺陷检测信号。
根据本公开内容的实施方式，可以提供能够有效地检测电压线或显示面板中的缺陷的显示装置和显示驱动方法。
根据本公开内容的实施方式，可以提供能够减少由于高电位电压导致的对显示面板的损坏并且通过使用显示驱动参考电压有效地检测显示面板中的缺陷的显示装置和显示驱动方法。
根据本公开内容的实施方式，可以提供能够通过在将高电位电压供应至子像素之前检测驱动电压线或显示面板中的缺陷来有效地减少由于高电位电压导致的对显示面板的损坏的显示装置和显示驱动方法。
附图说明
在附图中：
图1示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置的示意图。
图2示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置的系统图。
图3示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中的子像素的电路图。
图4示出了根据本公开内容的实施方式的用于感测显示装置中的驱动晶体管的特征值的示例性电路结构。
图5示出了根据本公开内容的实施方式的用于检测显示装置中驱动电压线的缺陷的示例性电路。
图6示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线正常时的信号流程图。
图7示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线正常时流经子像素的信号的示例性信号流程图。
图8示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线有缺陷时的示例性信号流程图。
图9示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线有缺陷时流经子像素的示例性信号图。
图10示出了根据本公开内容的实施方式的显示驱动方法的流程图。
具体实施方式
在下文中，将参照示例性附图详细描述本公开内容的一些实施方式。在本发明的示例或实施方式的以下描述中，将参照附图，在附图中借助于图示示出了可以被实现的具体示例或实施方式，并且在附图中，相同的附图标记可以用于指定相同或相似的部件，即使它们在彼此不同的附图中示出。此外，在本发明的示例或实施方式的以下描述中，当确定并入本文中的公知功能和部件的详细描述可能使本发明的一些实施方式中的主题相当不清楚时，将省略该描述。本文中使用的诸如“包括”、“具有”、“包含”、“构成”、“由……组成”和“由……形成”的术语除非与术语“仅”一起使用，否则这些术语通常旨在允许添加其他部件。如本文中所使用的，除非上下文另外明确指示，否则单数形式旨在包括复数形式。
本文中可以使用诸如“第一”、“第二”、“A”、“B”、“(A)”或“(B)”的术语来描述本发明的元件。这些术语中的每个术语都不用于限定元件的本质、次序、序列或数目等，而是仅用于将相应的元件与其他元件区分开。
当提到第一元件“连接或耦接至”第二元件、“接触或交叠”第二元件等时，应当解释为，第一元件不仅可以“直接连接或耦接至”第二元件或“直接接触或交叠”第二元件，而且也可以在第一元件与第二元件之间“插入”第三元件，或者第一元件和第二元件可以经由第四元件彼此“连接或耦接”、“接触或交叠”等。此处，第二元件可以包括在彼此“连接或耦接”、“接触或交叠”等的两个或更多个元件中的至少一个中。
当诸如“之后”、“随后”、“接下来”、“之前”等的时间相关的术语被用于描述元件或配置的过程或操作或操作、处理、制造方法中的流程或步骤时，这些术语可以用于描述非连续或非序列的过程或操作，除非与术语“直接”或“紧接”一起使用。
此外，当提及任何尺寸、相对大小等时，应当认为，即使当未指定相关描述时，元件或特征的数值或相应的信息(例如，水平、范围等)也包括可能由各种因素(例如，工艺因素、内部或外部影响、噪声等)引起的公差或误差范围。此外，术语“可以”完全涵盖术语“能够”的所有含义。
在下文中，将参照附图详细描述本公开内容的各种实施方式。
图1示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置的示意图。
参照图1，根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以包括：显示面板110，该显示面板110被连接至多个栅极线GL和多个数据线DL，在该显示面板110中，多个子像素SP以行和列布置；用于向多个栅极线GL供应扫描信号的栅极驱动电路120和用于向多个数据线DL供应数据电压的数据驱动电路130；时序控制器140，该时序控制器140用于控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130；以及电力管理电路150。
显示面板110基于通过多个栅极线GL从栅极驱动电路120供应的扫描信号和通过多个数据线DL从数据驱动电路130供应的数据电压来显示图像。
在液晶显示器的情况下，显示面板110包括形成在两个基板之间的液晶层，并且TN(扭曲向列)模式、VA(垂直对准)模式、IPS(面内切换)模式、FFS(边缘场切换)模式可以以任何已知的模式操作。在有机发光显示装置的情况下，显示面板110可以以顶部发光方法、底部发光方法或双发光方法实现。
在显示面板110中，多个像素可以以矩阵形式设置。每个像素可以由不同颜色的子像素SP——例如，白色子像素、红色子像素、绿色子像素和蓝色子像素——组成。每个子像素SP可以由多个数据线DL和多个栅极线GL限定。
子像素SP可以包括布置在数据线DL与栅极线GL相交的区域中的薄膜晶体管(TFT)、根据数据电压发光的诸如有机发光二极管的发光元件以及通过电连接至发光元件来保持数据电压的存储电容器。
例如，当具有2160×3840分辨率的显示装置100包括白色W、红色R、绿色G和蓝色B的四个子像素SP时，3840×4＝15360条数据线DL可以由分别连接至4个子像素WRGB的2160条栅极线GL和3840条数据线DL提供。多个子像素SP中的每一个可以设置在多个栅极线GL与多个数据线DL交叉的区域中。
栅极驱动电路120由时序控制器140进行控制，并且通过向设置在显示面板110中的多个栅极线GL顺序地供应扫描信号来控制多个子像素SP的驱动时序。
在具有2160×3840分辨率的显示装置100中，从第一栅极线GL1到第2160栅极线GL2160顺序地向2160条栅极线GL供应扫描信号的操作可以被称为2160相驱动操作。另外，将扫描信号顺序地供应至每四条栅极线GL的操作——如从第一栅极线GL1到第四栅极线GL4顺序地供应扫描信号，然后从第五栅极线GL5到第八栅极线GL8顺序地供应扫描信号的情况——可以被称为4相驱动操作。如上所述，将扫描信号顺序地供应至每N个数目的栅极线的操作可以被称为N相驱动操作。
栅极驱动电路120可以包括一个或更多个栅极驱动集成电路(GDIC)，栅极驱动电路120可以根据驱动方法设置在显示面板110的一侧或两侧。可替选地，可以以嵌入在显示面板110的边框区域中的面板内栅极(GIP)结构来实现栅极驱动电路120。
数据驱动电路130从时序控制器140接收图像数据DATA，并将所接收的图像数据DATA转换成模拟数据电压。然后，在通过栅极线GL供应扫描信号时，数据驱动电路130将模拟数据电压供应至数据线DL中的每条数据线，使得连接至数据线DL的子像素SP中的每个子像素响应于模拟数据电压而发射具有相应亮度的光。
同样，数据驱动电路130可以包括一个或更多个源极驱动集成电路(SDIC)。源极驱动集成电路SDIC中的每一个可以通过带式自动接合(TAB)或玻璃上芯片(COG)连接至显示面板110的接合焊盘，或者可以直接安装在显示面板110上。
在一些情况下，源极驱动集成电路(SDIC)中的每一个可以与显示面板110集成。此外，可以使用膜上芯片(COF)结构来实现源极驱动集成电路(SDIC)中的每一个。在这种情况下，源极驱动集成电路SDIC可以安装在电路膜上，以经由电路膜电连接至显示面板110中的数据线DL。
时序控制器140向栅极驱动电路120和数据驱动电路130供应各种控制信号，并控制栅极驱动电路120和数据驱动电路130的操作。也就是说，时序控制器140将栅极驱动电路120控制成响应于由各个帧实现的时间来供应扫描信号，并且另一方面，时序控制器140将来自外部源的数字图像数据DATA传输至数据驱动电路130。
此处，时序控制器140不仅从主机系统200接收图像数据DATA，而且还从主机系统200接收各种时序信号(包括垂直同步信号Vsync、水平同步信号Hsync、数据使能信号DE和主时钟MCLK)。
主机系统200可以是电视(TV)系统、机顶盒、导航系统、个人计算机(PC)、家庭影院系统、移动设备和可穿戴设备中的任何一种。
因此，时序控制器140使用从主机系统200接收的各种时序信号生成控制信号，并将控制信号供应至栅极驱动电路120和数据驱动电路130。
例如，时序控制器140生成各种栅极控制信号(包括栅极起始脉冲GSP、栅极时钟GCLK和栅极输出使能信号GOE)以控制栅极驱动电路120。此处，栅极起始脉冲GSP用于控制栅极驱动电路120的一个或更多个栅极驱动集成电路GDIC的起始时序。此外，栅极时钟GCLK是共同供应至一个或更多个栅极驱动集成电路GDIC以用于控制扫描信号的移位时序的时钟信号。栅极输出使能信号GOE指定一个或更多个栅极驱动集成电路GDIC的时序信息。
此外，时序控制器140生成各种数据控制信号(包括源极起始脉冲SSP、源极采样时钟SSC和源极输出使能信号SOE)以控制数据驱动电路130。此处，源极起始脉冲SSP用于控制数据驱动电路130的一个或更多个源极驱动集成电路SDIC的数据采样的起始时序。源极采样时钟SSC是用于控制源极驱动集成电路SDIC的每一个中的数据采样的时序的时钟信号。源极输出使能信号SOE控制数据驱动电路130的输出时序。
显示装置100可以包括电力管理电路150，该电力管理电路150用于供应或控制至显示面板110、栅极驱动电路120和数据驱动电路130的各种电压或电流。
电力管理电路150通过调节从主机系统200供应的DC输入电压Vin来生成用以驱动显示面板100、栅极驱动电路120和数据驱动电路130的电力。
同时，子像素SP可以被定位在栅极线GL与数据线DL相交的点处，并且发光元件可以设置在每个子像素SP中。例如，有机发光显示装置可以包括发光元件，诸如子像素SP中的每个子像素中的有机发光二极管，并且可以通过响应于数据电压对流过发光元件的电流进行控制来显示图像。
这样的显示装置100可以是各种类型的装置，诸如液晶显示器、有机发光显示器和等离子显示面板。
图2示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置的系统图。
参照图2，可以使用诸如TAB、COG和COF的各种结构中的COF类型来实现根据本公开内容的实施方式的显示装置100中的数据驱动电路130和栅极驱动电路120的源极驱动集成电路SDIC中的每一个。
栅极驱动电路120中包括的栅极驱动集成电路GDIC中的至少一个可以安装在每个栅极膜GF上，并且栅极膜GF的一侧可以电连接至显示面板110。此外，用于电连接栅极驱动集成电路GDIC和显示面板110的电线可以设置在栅极膜GF上。
同样，数据驱动电路130可以包括可以分别安装在源极膜SF上的一个或更多个源极驱动集成电路SDIC。源极膜SF的一部分可以电连接至显示面板110。此外，电线可以设置在源极膜SF上以将源极驱动集成电路SDIC与显示面板110电连接。
显示装置100可以包括至少一个源极印刷电路板SPCB，以便通过电路将多个源极驱动集成电路SDIC连接至其它装置，以及显示装置100可以包括控制印刷电路板CPCB，以便安装各种控制部件和电气元件。
其上安装有源极驱动集成电路SDIC的源极膜SF的其他部分可以连接至至少一个源极印刷电路板SPCB。也就是说，其上安装有源极驱动集成电路SDIC的源极膜SF的一部分可以电连接至显示面板110，以及源极膜SF的另一部分可以电连接至源极印刷电路板SPCB。
时序控制器140和电力管理电路150可以安装在控制印刷电路板CPCB上。时序控制器140可以控制数据驱动电路130和栅极驱动电路120的操作。电力管理电路150可以供应驱动电压和驱动电流，或者控制用于数据驱动电路130和栅极驱动电路120的电压和电流。
至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以通过至少一个连接构件具有电路系统连接。连接构件可以是例如柔性印刷电路FPC、柔性扁平线缆FFC等。在这种情况下，用于连接至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB的连接构件可以根据显示装置100的大小和类型而不同地改变。至少一个源极印刷电路板SPCB和控制印刷电路板CPCB可以集成到单个印刷电路板中。
在具有上述配置的显示装置100中，电力管理电路150通过柔性印刷电路FPC或柔性扁平线缆FFC向源极印刷电路板SPCB供应显示驱动操作或特征值的感测操作所需的驱动电压。供应至源极印刷电路板SPCB的驱动电压经由源极驱动集成电路SDIC被传输以使显示面板110中的特定子像素SP发光或对显示面板110中的特定子像素SP进行感测。
显示装置100的显示面板110中布置的子像素SP中的每个子像素可以包括作为发光元件的有机发光二极管以及用以驱动该有机发光二极管的诸如驱动晶体管的电路元件。
可以根据功能、设计等不同地确定构成每个子像素SP的电路元件的类型和数目。
图3示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中的子像素的电路图。
参照图3，根据本公开内容的实施方式的显示装置100中布置的子像素SP中的每个子像素可以包括一个或更多个晶体管、电容器和作为发光元件ED的有机发光二极管。
例如，子像素SP可以包括驱动晶体管DRT、开关晶体管SWT、感测晶体管SENT、存储电容器Cst和发光元件ED。
驱动晶体管DRT可以具有第一节点N1、第二节点N2和第三节点N3。驱动晶体管DRT的第一节点N1可以是栅极节点，数据电压Vdata在开关晶体管SWT导通时通过数据线DL供应至该栅极节点。驱动晶体管DRT的第二节点N2可以电连接至发光元件ED的阳极，以及可以是漏极节点或源极节点。驱动晶体管DRT的第三节点N3可以电连接至驱动电压线DVL以被供应驱动电压EVDD，以及可以是源极节点或漏极节点。
此处，用于显示图像的子像素驱动电压EVDD可以在显示驱动时段中被供应至驱动电压线DVL。例如，用于显示图像的子像素驱动电压EVDD可以是27V的高电位电压。
开关晶体管SWT被电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与数据线DL之间，并且响应于通过连接至栅极节点的栅极线GL向该开关晶体管SWT供应的扫描信号SCAN进行操作。此外，开关晶体管SWT通过在开关晶体管SWT导通时经由数据线DL将数据电压Vdata传输至驱动晶体管DRT的栅极节点来控制驱动晶体管DRT的操作。
感测晶体管SENT被电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与参考电压线RVL之间，并且响应于通过连接至栅极节点的栅极线GL供应的感测信号SENSE进行操作。当感测晶体管SENT导通时，从参考电压线RVL供应的参考电压Vref被传输至驱动晶体管DRT的第二节点N2。
也就是说，可以通过控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT来控制驱动晶体管DRT的第一节点N1的电压和第二节点N2的电压。因此，可以供应用于使发光元件ED发光的电流。
开关晶体管SWT和感测晶体管SENT的每个栅极节点可以连接至单个栅极线GL或不同的栅极线GL。此处，示出了开关晶体管SWT和感测晶体管SENT被连接至不同的栅极线GL的示例性结构。在这种情况下，由从不同的栅极线GL传输的扫描信号SCAN和感测信号SENSE来独立控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT。
另一方面，当开关晶体管SWT和感测晶体管SENT被连接至单个栅极线GL时，由从单个栅极线GL传输的扫描信号SCAN或感测信号SENSE同时控制开关晶体管SWT和感测晶体管SENT，因此可以改进子像素SP的孔径比率。
此外，设置在子像素SP中的晶体管不仅可以是n型晶体管，也可以是p型晶体管。此处，示出了n型晶体管的示例性结构。
存储电容器Cst被电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第二节点N2之间，并且用于在一帧期间维持数据电压Vdata。
这样的存储电容器Cst可以根据驱动晶体管DRT的类型连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第三节点N3之间。发光元件ED的阳极电极可以电连接至驱动晶体管DRT的第二节点N2，以及基础电压EVSS可以供应至发光二极管EL的阴极电极。
此处，基础电压EVSS可以是接地电压或者是高于或低于接地电压的电压。此外，基础电压EVSS可以根据驱动条件而变化。例如，显示驱动时段期间的基础电压EVSS可以不同于感测时段期间的基础电压EVSS。
上面作为示例描述的子像素SP的结构是3T1C(3个晶体管1个电容器)结构，这仅是用于解释的示例，以及还包括一个或更多个晶体管，或者在一些情况下，还包括一个或更多个电容器。可替选地，多个子像素SP中的每一个可以具有相同的结构，或者多个子像素SP中的一些可以具有不同的结构。
根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以使用如下方法：该方法用于在驱动晶体管DRT的特征值的感测时段期间测量通过存储电容器Cst中充入的电压而流动的电流，以便有效地感测驱动晶体管DRT的特征值，如阈值电压或迁移率。这样的方法可以被称为电流感测操作。
也就是说，可以通过在驱动晶体管DRT的特征值的感测时段期间测量通过存储电容器Cst中充入的电压而流动的电流来确定子像素SP中的驱动晶体管DRT的特征值或特征值的变化。
此时，由于参考电压线RVL不仅用于供应参考电压Vref，而且还用作用于感测子像素SP中的驱动晶体管DRT的特征值的感测线，因此参考电压线RVL可以被称为感测线。
图4示出了根据本公开内容的实施方式的用于感测显示装置中的驱动晶体管的特征值的示例性电路结构。
参照图4，根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以包括用于补偿驱动晶体管DRT的特征值的偏差的组件。
例如，驱动晶体管DRT的特征值或特征值的差异可以反映到驱动晶体管DRT的第二节点N2中的电压(例如，Vdata-Vth)。
当感测晶体管SENT导通时，驱动晶体管DRT的第二节点N2中的电压可以对应于参考电压线RVL中的电压。此外，通过驱动晶体管DRT的第二节点N2中的电压，可以对跨接参考电压线RVL的线电容器Cline进行充电，并且通过线电容器Cline中充入的感测电压Vsen而使参考电压线RVL具有与驱动晶体管DRT的第二节点N2中的电压对应的电压。
显示装置100可以包括：模数转换器ADC，该模数转换器ADC测量与驱动晶体管DRT的第二节点N2中的电压对应的参考电压线RVL中的电压，然后将测量的电压转换成数字数据；以及开关SAM、SPRE，所述开关SAM、SPRE用于感测驱动晶体管DRT的一个或更多个特征值。
用于控制特征值的感测操作的开关电路SAM、SPRE可以包括：感测参考开关SPRE，该感测参考开关SPRE用于控制参考电压线RVL与被供应参考电压Vref的感测参考电压节点Npres之间的连接；以及采样开关SAM，该采样开关SAM用于控制参考电压线RVL与模数转换器ADC之间的连接。
此处，感测参考开关SPRE是用于控制特征值的感测操作的开关，并且在感测操作期间通过感测参考开关SPRE供应至参考电压线RVL的参考电压Vref对应于感测参考电压VpreS。
此外，用于感测驱动晶体管DRT的特征值的开关电路可以包括显示驱动参考开关RPRE。显示驱动参考开关RPRE控制参考电压线RVL与被供应参考电压Vref的显示驱动参考电压节点Nprer之间的连接。
显示驱动参考开关RPRE是用于控制显示驱动操作的开关。在显示操作期间通过显示驱动参考开关RPRE供应至参考电压线RVL的参考电压Vref对应于显示驱动参考电压VpreR。
显示驱动参考开关RPRE和感测参考开关SPRE可以彼此分开设置，或者可以彼此集成，进而在单个主体中实现。显示驱动参考电压VpreR和感测参考电压VpreS可以具有相同的电压值或不同的电压值。
显示装置100的时序控制器140可以包括：存储器MEM，该存储器MEM存储从模数转换器ADC供应的数据或预先存储一个或更多个参考电压；以及补偿电路COMP，该补偿电路COMP用于通过对接收的数据和存储在存储器MEM中的参考电压进行比较来补偿一个或更多个特征值的差异。在这种情况下，由补偿电路COMP计算的补偿值可以存储在存储器MEM中。
时序控制器140可以使用由补偿电路COMP计算的补偿值来补偿要提供至数据驱动电路130的图像数据DATA，然后将经补偿的图像数据DATA_comp供应至数据驱动电路130。
据此，数据驱动电路130可以通过数模转换器DAC将经补偿的图像数据DATA_comp转换成模拟信号形式的经补偿的数据电压Vdata_comp，并通过输出缓冲器BUF将经补偿的数据电压Vdata_comp传输至相应的数据线DL。因此，可以补偿相应子像素SP中的驱动晶体管DRT的一个或更多个特征值的偏差(阈值电压的偏差或迁移率的偏差)。
同时，数据驱动电路130可以包括数据电压输出电路136，该数据电压输出电路136包括锁存电路、数模转换器DAC、输出缓冲器BUF等。在一些情况下，数据驱动电路130还可以包括模数转换器ADC和几种类型的开关SAM、SPRE、RPRE。在另一实施方式中，模数转换器ADC和几种类型的开关SAM、SPRE、RPRE可以位于数据驱动电路130的外部。
此外，补偿电路COMP可以位于时序控制器140的外部或者包含在时序控制器140的内部。存储器MEM可以位于时序控制器140的外部，或者以时序控制器140内部的寄存器的形式实现。
根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以通过在驱动电压线中出现缺陷的状态下供应高电位电压来减少驱动电压线断开或显示面板燃烧。特别地，根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以在高电位电压被供应至子像素SP之前检测驱动电压线中的缺陷，从而有效地减少由于高电位电压导致的对显示面板的损坏。
图5示出了根据本公开内容的实施方式的用于检测显示装置中的驱动电压线的缺陷的示例性电路。
参照图5，根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以包括：基础电压开关电路SW，该基础电压开关电路SW用于将基础电压EVSS转换成接地GND或浮置状态；电流检测电路310，该电流检测电路310用于检测基础电压开关电路SW与接地GND之间流动的电流；以及时序控制器140，该时序控制器140用于控制基础电压开关电路SW并用于根据电流检测电路310的检测结果确定驱动电压线DVL的缺陷。
基础电压开关电路SW可以电连接至通过驱动晶体管DRT接收子像素驱动电压EVDD的发光元件ED的阴极电极，并且可以通过时序控制器140将接收基础电压EVSS的基础电压节点N(EVSS)切换成电连接至接地GND或浮置状态。基础电压开关电路SW可以由多个晶体管组成，或者由晶体管和其他电路元件一起组成。
因此，基础电压开关电路SW与接地GND之间连接的电流检测电路310可以检测在基础电压节点N(EVSS)电连接至接地GND或者基础电压节点N(EVSS)电浮置的状态下通过基础电压节点N(EVSS)流到接地GND的电流。
因此，电流检测电路310检测通过基础电压节点N(EVSS)在子像素驱动电压EVDD与接地GND之间流动的电流。
时序控制器140控制显示驱动参考开关RPRE的操作，以确定何时通过参考电压线RVL供应显示驱动参考电压VpreR。
此外，时序控制器140控制参考电压开关电路SW，使得基础电压节点N(EVSS)电连接至接地GND或处于电浮置状态。
此外，时序控制器140根据从电流检测电路310提供的信号确定驱动电压线DVL是否有缺陷，并在确定驱动电压线DVL有缺陷时生成缺陷检测信号BDP。
电流检测电路310可以由用于感测电流的电阻器312、运算放大器314和用于确定感测电流的水平的水平检测电路318组成。
电阻器312可以具有用于感测电流的低电阻值，并且可以连接在基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间。
运算放大器314具有连接至电阻器312的两端的反相输入端子和非反相输入端子，使得其生成与通过电阻器312从基础电压节点N(EVSS)流到接地(GND)的电流成比例的电压。
平检测电路318在从运算放大器314传输的信号等于或大于预定参考值的情况下生成高水平信号，否则生成低水平信号。也就是说，水平检测电路318用于向时序控制器140传输如下信号：该信号指示等于或大于预定参考值的过电流流过电阻器312的状态。
因此，当时序控制器140在基础电压节点N(EVSS)浮置的情况下通过电流检测电路310检测到大于或等于参考值的过电流时，也就是，当电流检测电路310向时序控制器140传输高水平信号时，时序控制器140可以确定驱动电压线DVL中出现如短路的缺陷，并生成具有高水平的缺陷检测信号BDP。
当然，当通过电流检测电路310检测到的电流等于或大于参考值时将高水平信号传输至时序控制器140仅是一个示例。根据水平检测电路318或时序控制器140的配置，当通过电流检测电路310检测到大于或等于参考值的电流时，可以将低水平信号传输至时序控制器140，而当通过电流检测电路310检测到小于参考值的电流时，可以将高水平信号传输至时序控制器140。
因此，在装运显示装置100之前或之后，可以通过检查特定驱动电压线DVL的缺陷来更换或修复缺陷部件。
将根据基础电压节点N(EVSS)的连接状态通过使用供应至驱动电压线DVL的显示驱动参考电压VpreR来更详细地描述用于确定驱动电压线DVL的缺陷状态的具体过程。
图6示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线正常时的信号流程图，以及图7示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线正常时流经子像素的信号的示例性信号流程图。
当通过具有高电位电压的子像素驱动电压EVDD而使过电流在驱动电压线DVL或显示面板110中流动时，由于过电流，导致驱动电压线DVL可能断开或者显示面板110可能燃烧。
因此，为了防止这样的问题，根据本公开内容的实施方式的显示装置100通过在子像素驱动电压EVDD未被供应至驱动电压线DVL的状态下使用具有低电位电压的显示驱动参考电压VpreR来检测驱动电压线DVL是否有缺陷。
子像素驱动电压EVDD通常对应于20V或更高的高电位电压水平，而显示驱动参考电压VpreR对应于3V的低电位电压水平。
参照图6和图7，根据本公开内容的实施方式的显示装置100通过供应具有高水平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE来使开关晶体管SWT和感测晶体管SENT导通，以便在未供应子像素驱动电压EVDD或供应低水平子像素驱动电压EVDD(低)的状态下，基础电压节点N(EVSS)被电浮置并且通过驱动电压线DVL供应从参考电压线RVL传输的显示驱动参考电压VpreR。
此处，低水平子像素驱动电压EVDD(低)具有比显示驱动参考电压VpreR低的水平。
因此，通过显示驱动参考电压VpreR而流经参考电压线RVL的电流I(EVDD)通过导通的感测晶体管SENT传输至驱动晶体管DRT的第二节点N2。
同时，由于开关晶体管SWT由高水平扫描信号SCAN导通，所以可以供应能够通过数据线DL使驱动晶体管DRT导通的水平的数据电压Vdata。
在这种情况下，用于检测驱动电压线DVL的缺陷的时段对应于不供应子像素驱动电压EVDD的时段(例如，空白时段)或供应低水平子像素驱动电压EVDD(低)的时段。因此，优选地，供应至驱动晶体管DRT的数据电压Vdata被设置成能够使驱动晶体管DRT导通的水平，但处于指示黑色灰度或接近黑色灰度的亮度的黑数据电压Vdata(黑)。
此时，由于低水平子像素驱动电压EVDD(低)维持在比显示驱动参考电压VpreR低的水平，所以当通过黑数据电压Vdata(黑)使驱动晶体管DRT导通时，从参考电压线RVL流出的电流I(EVDD)从驱动晶体管DRT的第二节点N2流到第三节点N3。也就是说，在这种状态下，驱动晶体管DRT的第二节点N2操作为漏极节点，以及驱动晶体管DRT的第三节点N3操作为源极节点。
同时，由于基础电压开关电路SW通过时序控制器140的控制而处于浮置状态，所以当驱动电压线DVL处于正常状态时，从参考电压线RVL传输至驱动电压线DVL的电流不会流到基础电压节点N(EVSS)。
因此，由于在正常状态下没有电流流入电流检测电路310，所以电流检测电路310生成低水平信号，并且时序控制器140生成指示驱动电压线DVL处于正常状态的低水平缺陷检测信号BDP(低)。
因此，在具有高电位电压的子像素驱动电压EVDD没有被供应至驱动电压线DVL的情况下，可以使用具有低电位电压的显示驱动参考电压VpreR来检测驱动电压线DVL的正常状态。
图8示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线有缺陷时的示例性信号流程图，以及图9示出了根据本公开内容的实施方式的显示装置中驱动电压线有缺陷时流经子像素的示例性信号流程图。
参照图8和图9，根据本公开内容的实施方式的显示装置100通过供应具有高水平的扫描信号SCAN和感测信号SENSE来使开关晶体管SWT和感测晶体管SENT导通，以便在未供应子像素驱动电压EVDD或供应低水平子像素驱动电压EVDD(低)的状态下，基础电压节点N(EVSS)被电浮置，并且通过驱动电压线DVL供应从参考电压线RVL传输的显示驱动参考电压VpreR。
因此，由于显示驱动参考电压VpreR而流过参考电压线RVL的电流I(EVDD)通过导通的感测晶体管SENT传输至驱动晶体管DRT的第二节点N2。
同时，由于开关晶体管SWT由高水平扫描信号SCAN导通，所以可以供应能够通过数据线DL使驱动晶体管DRT导通的高水平的数据电压Vdata。
在这种情况下，用于检测驱动电压线DVL的缺陷的时段是不供应子像素驱动电压EVDD的时段(例如，空白时段)或供应低水平子像素驱动电压EVDD(低)的时段。因此，优选地，供应至驱动晶体管DRT的数据电压Vdata是能够使驱动晶体管DRT导通的水平，但是是代表黑色灰度或接近黑色灰度的亮度的黑数据电压Vdata(黑)。
由于子像素驱动电压节点维持在低水平，所以当驱动晶体管DRT由黑数据电压Vdata(黑)导通时，从参考电压线RVL传输的电流I(EVDD)从驱动晶体管DRT的第二节点N2流到第三节点N3。也就是说，在这种状态下，驱动晶体管DRT的第二节点N2操作为漏极节点，以及驱动晶体管DRT的第三节点N3操作为源极节点。
同时，基础电压开关电路SW通过时序控制器140的控制而处于浮置状态。然而，当驱动电压线DVL由于水分或外来物质而处于短路状态时，即使基础电压开关电路SW处于浮置状态，参考电压线RVL也可能电连接至接地GND。
因此，当驱动电压线DVL处于缺陷状态时，即使基础电压开关电路SW浮置，流入驱动电压线DVL的电流中的一部分电流I(EVSS)也通过基础电压节点N(EVSS)流至接地GND。
在这种情况下，由于通过数据线DL供应黑色灰度的数据电压Vdata(黑)，因此，即使通过驱动晶体管DRT使发光元件ED发射光，但该发光元件ED也显示黑色灰度。因此，用户不能识别由于用于检测流过驱动电压线DVL的电流的过程而导致的发光现象。
因此，当驱动电压线DVL处于缺陷状态时，由于即使基础电压开关电路SW浮置，流入电流检测电路310的电流I(EVSS)也存在，因此电流检测电路310可以检测流经基础电压节点N(EVSS)的电流I(EVSS)。
此时，当检测到的电流等于或大于参考值时，电流检测电路310生成高水平信号。因此，时序控制器140生成指示驱动电压线DVL处于缺陷状态的具有高水平的缺陷检测信号BDP(高)。
因此，可以使用具有低电位电压的显示驱动参考电压VpreR来检测驱动电压线DVL的缺陷状态，而无需向驱动电压线RVL供应具有高电位电压的子像素驱动电压EVDD。
图10示出了根据本公开内容的实施方式的显示驱动方法的流程图。
参照图10，根据本公开内容的实施方式的显示驱动方法可以包括：步骤S100，将高电位电压节点维持在低水平；步骤S200，使基础电压节点N(EVSS)浮置；步骤S300，向驱动电压线DVL供应显示驱动参考电压VpreR；步骤S400，检测基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间的电流；步骤S500，将检测到的电流与参考值进行比较；步骤S600，当检测到的电流等于或大于参考值时生成具有高水平的缺陷检测信号BDP(高)；以及步骤S700，当检测到的电流小于参考值时生成具有低水平的缺陷检测信号BDP(低)。
将高电位电压节点维持在低水平的步骤S100是如下过程：其中，驱动晶体管DRT的第三节点N3没有接收到具有高电位电压的子像素驱动电压EVDD并维持在低水平状态。
使基础电压节点N(EVSS)浮置的步骤S200是如下过程：通过控制基础电压开关电路SW，将基础电压节点N(EVSS)与接地GND阻断并浮置。
此时，将子像素驱动电压EVDD维持在低水平的步骤S100在时间上可以不同于使基础电压节点N(EVSS)浮置的步骤S200，并且顺序可以改变。
将显示驱动参考电压VpreR供应至驱动电压线DVL的步骤S300是如下过程：通过使显示驱动参考开关RPRE和感测晶体管SENT导通将显示驱动参考电压VpreR供应至参考电压线RVL，并通过使驱动晶体管DRT导通形成用以将流过驱动电压线DVL的电流I(EVDD)传输至子像素驱动电压节点的电流路径。
此时，可以通过经由数据线DL供应黑色灰度的数据电压Vdata(黑)来使驱动晶体管DRT导通。
检测基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间的电流的步骤S400是如下过程：通过连接在基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间的电流检测电路310来检测从基础电压节点N(EVSS)流向接地GND的电流I(EVSS)。
将检测到的电流与参考值进行比较的步骤S500是如下过程：将电流检测电路310中检测到的电流与参考值进行比较。
当检测到的电流等于或大于参考值时生成具有高水平的缺陷检测信号BDP(高)的步骤S600是如下过程：当在基础电压节点N(EVSS)浮置的情况下电流检测电路310中检测到的电流等于或大于参考值时，将驱动电压线DVL确定为缺陷状态，诸如短路。
当检测到的电流小于参考值时生成具有低水平的缺陷检测信号BDP(低)的步骤S700是如下过程：当在基础电压节点N(EVSS)浮置的情况下电流检测电路310中检测到的电流小于参考值时，将驱动电压线DVL确定为正常状态。
通过上述过程，根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以在供应诸如子像素驱动电压EVDD的高电位电压之前检测驱动电压线DVL或显示面板110的缺陷，并且可以通过使用显示驱动参考电压VpreR来减少由于高电位电压导致的对显示面板110的损坏。
上述本公开内容的实施方式的简要说明如下。
根据本公开内容的实施方式的显示装置100可以包括：显示面板110，在该显示面板110中设置有多个子像素SP和多个参考电压线RVL，所述多个子像素SP具有通过供应至驱动电压线DVL的高电位电压而发射光的发光元件ED，所述多个参考电压线RVL被连接至所述多个子像素SP以检测特征值；数据驱动电路130，该数据驱动电路130被配置成通过多个参考电压线RVL向驱动电压线DVL供应低电位电压；基础电压开关电路SW，该基础电压开关电路SW被配置成对连接至发光元件ED的阴极电极的基础电压节点N(EVSS)进行控制；电流检测电路310，该电流检测电路310被配置成检测基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间流动的电流；以及时序控制器140，该时序控制器140被配置成控制基础电压开关电路SW并根据由电流检测电路310检测到的电流来生成针对驱动电压线DVL的缺陷检测信号BDP。
在高电位电压未被供应至驱动电压线DVL的时段中供应低电位电压。
在基础电压节点N(EVSS)浮置的时段中将低电位电压供应至驱动电压线DVL。
低电位电压是在显示驱动时段中供应的显示驱动参考电压VpreR。
子像素SP包括：驱动晶体管DRT，该驱动晶体管DRT的第三节点N3接收高电位电压，以及该驱动晶体管DRT通过驱动电压线DVL向发光元件ED提供电流；开关晶体管SWT，该开关晶体管SWT电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与数据线DL之间；感测晶体管SENT，该感测晶体管SENT电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与参考电压线RVL之间；存储电容器Cst，该存储电容器Cst电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第二节点N2之间；以及发光元件ED，该发光元件ED电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与基础电压节点N(EVSS)之间。
在根据本公开内容的实施方式的显示装置100中，由低电位电压形成通过感测晶体管SENT和驱动晶体管DRT流向驱动晶体管DRT的第三节点N3的第一电流路径。
在根据本公开内容的实施方式的显示装置100中，当驱动电压线DVL有缺陷时，形成从基础电压节点N(EVSS)流至接地GND的第二电流路径。
电流检测电路310包括：电阻器312，该电阻器312电连接在基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间；运算放大器314，该运算放大器314具有连接至电阻器312的两端的反相输入端子和非反相输入端子以生成与流过电阻器312的电流成比例的电压；以及水平检测电路318，该水平检测电路318被配置成生成对来自运算放大器314的输出值与参考值进行比较的结果。
时序控制器140被配置成根据水平检测电路318的输出值生成针对驱动电压线DVL的缺陷检测信号BDP。
一种根据本公开内容的实施方式的用于驱动显示装置100的显示驱动方法，该显示装置100包括显示面板110，在该显示面板110中设置有多个子像素SP和多个参考电压线RVL，所述多个子像素SP具有通过供应至驱动电压线DVL的高电位电压而发射光的发光元件ED，所述多个参考电压线RVL被连接至所述多个子像素SP以检测特征值，所述显示驱动方法包括：将高电位电压节点维持在低水平；使基础电压节点N(EVSS)浮置；向驱动电压线DVL供应低电位电压；检测基础电压节点N(EVSS)与接地GND之间的电流；将检测到的电流与参考值进行比较；并根据将检测到的电流与参考值进行比较的结果生成缺陷检测信号BDP。
通过多个参考电压线RVL供应低电位电压。
在未供应高电位电压的时段中供应低电位电压。
低电位电压是在显示驱动时段中供应的显示驱动参考电压VpreR。
子像素SP包括：驱动晶体管DRT，该驱动晶体管DRT的第三节点N3接收高电位电压，以及该驱动晶体管DRT通过驱动电压线DVL向发光元件ED提供电流；开关晶体管SWT，该开关晶体管SWT电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与数据线DL之间；感测晶体管SENT，该感测晶体管SENT电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与参考电压线RVL之间；存储电容器Cst，该存储电容器Cst电连接在驱动晶体管DRT的第一节点N1与第二节点N2之间；以及发光元件ED，该发光元件ED电连接在驱动晶体管DRT的第二节点N2与基础电压节点N(EVSS)之间。
在根据本公开内容的实施方式的显示驱动方法中，由低电位电压形成通过感测晶体管SENT和驱动晶体管DRT流向驱动晶体管DRT的第三节点N3的第一电流路径。
在根据本公开内容的实施方式的显示驱动方法中，当驱动电压线DVL有缺陷时，形成从基础电压节点N(EVSS)流至接地GND的第二电流路径。
生成缺陷检测信号BDP包括：当检测到的电流等于或大于参考值时生成具有高电平的缺陷检测信号BDP(高)，以及当检测到的电流小于参考值时生成具有低电平的缺陷检测信号BDP(低)。
以上描述和附图仅出于说明的目的提供了本公开内容的技术思想的示例。本公开内容所属的技术领域的普通技术人员将理解，在不脱离本公开内容的基本特征的情况下，可以进行形式上的各种修改和改变，诸如配置的组合、分离、替换和改变。因此，本公开内容中公开的实施方式旨在说明本公开内容的技术思想的范围，并且本公开内容的范围不由实施方式限制。本公开内容的范围应基于所附权利要求以如下方式来解释：包括在与权利要求等同的范围内的所有技术构思属于本公开内容。

Claims (17)

1.一种显示装置，包括：
显示面板，在所述显示面板中设置有多个子像素和多个参考电压线，所述多个子像素包括通过供应至驱动电压线的高电位电压而发射光的发光元件，所述多个参考电压线连接至所述多个子像素以检测特征值；
数据驱动电路，所述数据驱动电路被配置成通过所述多个参考电压线向所述驱动电压线供应低于所述高电位电压的低电位电压；
基础电压开关电路，所述基础电压开关电路被配置成控制连接至所述发光元件的阴极电极的基础电压节点；
电流检测电路，所述电流检测电路被配置成检测在所述基础电压节点与接地之间流动的电流；以及
时序控制器，所述时序控制器被配置成控制所述基础电压开关电路，并根据由所述电流检测电路检测到的电流生成针对所述驱动电压线的缺陷检测信号。
2.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述数据驱动电路被配置成在所述高电位电压没有被供应至所述驱动电压线的时段中供应所述低电位电压。
3.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述数据驱动电路被配置成在所述基础电压节点被浮置的时段中向所述驱动电压线供应所述低电位电压。
4.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述低电位电压是在显示驱动时段中供应的显示驱动参考电压。
5.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述多个子像素中的子像素包括：
驱动晶体管，所述驱动晶体管的第三节点接收所述高电位电压，并且所述驱动晶体管通过所述驱动电压线向所述发光元件提供电流；
开关晶体管，所述开关晶体管电连接在所述驱动晶体管的第一节点与数据线之间；
感测晶体管，所述感测晶体管电连接在所述驱动晶体管的第二节点与所述多个参考电压线中的相应参考电压线之间；以及
存储电容器，所述存储电容器电连接在所述驱动晶体管的所述第一节点与所述第二节点之间；
其中，所述发光元件电连接在所述驱动晶体管的第二节点与所述基础电压节点之间。
6.根据权利要求5所述的显示装置，其中，所述子像素被配置成使得由所述低电位电压形成通过所述感测晶体管和所述驱动晶体管流至所述驱动晶体管的第三节点的第一电流路径。
7.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述子像素被配置成使得当所述驱动电压线有缺陷时，形成从所述基础电压节点流至所述接地的第二电流路径。
8.根据权利要求1所述的显示装置，其中，所述电流检测电路包括：
电连接在所述基础电压节点与所述接地之间的电阻器；
运算放大器，所述运算放大器具有连接至所述电阻器的两端的反相输入端子和非反相输入端子，以生成与流过所述电阻器的电流成比例的电压；以及
水平检测电路，所述水平检测电路被配置成生成将来自所述运算放大器的输出值与参考值进行比较的结果。
9.根据权利要求8所述的显示装置，其中，所述时序控制器被配置成根据所述水平检测电路的输出值生成针对所述驱动电压线的缺陷检测信号。
10.一种用于驱动显示装置的显示驱动方法，所述显示装置包括显示面板，在所述显示面板中设置有多个子像素和多个参考电压线，所述多个子像素具有通过供应至驱动电压线的高电位电压而发射光的发光元件，所述多个参考电压线连接至所述多个子像素以检测特征值，所述显示驱动方法包括：
将高电位电压节点维持在比显示驱动参考电压低的水平；
使基础电压节点浮置；
向驱动电压线供应低于所述高电位电压的低电位电压；
检测所述基础电压节点与接地之间的电流；
将检测的电流与参考值进行比较；以及
根据将所述检测的电流与所述参考值进行比较的结果生成缺陷检测信号。
11.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，通过所述多个参考电压线供应所述低电位电压。
12.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，在不供应所述高电位电压的时段中供应所述低电位电压。
13.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，所述低电位电压是在显示驱动时段中供应的显示驱动参考电压。
14.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，所述多个子像素中的子像素包括：
驱动晶体管，所述驱动晶体管的第三节点接收所述高电位电压，以及所述驱动晶体管通过所述驱动电压线向所述发光元件供应电流；
开关晶体管，所述开关晶体管电连接在所述驱动晶体管的第一节点与数据线之间；
感测晶体管，所述感测晶体管电连接在所述驱动晶体管的第二节点与所述多个参考电压线中的相应参考电压线之间；以及
存储电容器，所述存储电容器电连接在所述驱动晶体管的所述第一节点与所述第二节点之间；
其中，所述发光元件电连接在所述驱动晶体管的第二节点与所述基础电压节点之间。
15.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，由所述低电位电压形成通过所述感测晶体管和所述驱动晶体管流至所述驱动晶体管的第三节点的第一电流路径。
16.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，当所述驱动电压线有缺陷时，形成从所述基础电压节点流至所述接地的第二电流路径。
17.根据权利要求10所述的显示驱动方法，其中，所述生成缺陷检测信号包括：
当所述检测的电流等于或大于所述参考值时，生成具有高水平的缺陷检测信号；以及
当所述检测的电流小于所述参考值时，生成具有比所述高水平低的低水平的缺陷检测信号。
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