KR20230026673A - 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법 - Google Patents

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Abstract

본 개시의 실시예들은, 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는, 구동 전압 라인에 인가되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자를 포함하는 복수의 서브픽셀과, 상기 복수의 서브픽셀에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인이 배치된 디스플레이 패널; 상기 복수의 기준 전압 라인을 통하여, 상기 고전위 전압이 전달되는 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하는 데이터 구동 회로; 상기 발광 소자의 캐소드 전극에 연결된 기저 전압 노드를 제어하는 기저 전압 스위칭 회로; 상기 기저 전압 노드와 그라운드 사이에 흐르는 전류를 검출하는 전류 검출 회로; 및 상기 기저 전압 스위칭 회로를 제어하며, 상기 전류 검출 회로에서 검출된 전류에 따라 상기 구동 전압 라인에 대한 불량 검출 신호를 생성하는 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.

Description

디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법{DISPLAY DEVICE AND DISPLAY DRIVING METHOD}
본 개시의 실시예들은 전압 라인이나 디스플레이 패널의 불량을 효과적으로 검출할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법에 관한 것이다.
정보화 사회가 발전함에 따라 화상을 표시하는 디스플레이 장치에 대한 다양한 요구가 증가하고 있으며, 액정 디스플레이 장치 (Liquid Crystal Display; LCD), 유기 발광 디스플레이 장치 (Organic Light Emitting Display) 등과 같은 다양한 유형의 디스플레이 장치가 활용되고 있다.
이러한 디스플레이 장치 중 유기 발광 디스플레이 장치는, 스스로 발광하는 유기 발광 다이오드를 이용함으로써, 응답 속도가 빠르고 명암비, 발광 효율, 휘도 및 시야각 등에서 장점이 존재한다.
이러한 유기 발광 디스플레이 장치는, 디스플레이 패널에 배열된 다수의 서브픽셀(Sub-pixel) 각각에 배치된 유기 발광 다이오드를 포함하고, 유기 발광 다이오드에 흐르는 전류 제어를 통해 유기 발광 다이오드를 발광시킴으로써 각각의 서브픽셀이 나타내는 휘도를 제어하며 이미지를 표시할 수 있다.
이러한 디스플레이 장치는 디스플레이 패널 구동에 필요한 여러 가지 구동 전압을 구동 회로 및 디스플레이 패널로 공급하기 위한 구동 전압 공급원과, 구동 전압을 전달하기 위한 다양한 구성들을 포함한다.
이러한 디스플레이 장치는 다수의 서브픽셀들이 매트릭스(matrix) 형태로 배치된 디스플레이 패널을 포함한다. 디스플레이 패널은 서브픽셀들 각각을 구동하기 위해 게이트 구동 회로로부터 스캔 신호들을 공급받고, 데이터 구동 회로로부터 데이터 전압들을 공급받는다. 또한, 디스플레이 패널은 파워 관리 회로로부터 복수의 구동 전압들을 공급받는다.
이 때, 외부로부터 디스플레이 패널에 충격이 가해져서 크랙(Crack)이 발생하는 경우, 디스플레이 패널의 구동 전압 라인들은 서로 쇼트(short)되거나 단선(open)될 수 있다.
예를 들어, 파워 관리 회로로부터 고전위 전압을 공급받는 고전위 전압 라인과 저전위 전압을 공급받는 저전위 전압 라인이 서로 쇼트되거나, 전압 라인과 디스플레이 패널이 쇼트되는 경우가 발생한다.
이러한 불량으로 인해서 구동 전압 라인 또는 디스플레이 패널에 과전류가 흐르는 경우, 과전류로 인해 전압 라인이 단선되거나 디스플레이 패널에 타버리는 번트(burnt) 현상이 나타날 수 있다.
이에, 본 명세서의 발명자들은 전압 라인이나 디스플레이 패널의 불량을 효과적을 검출할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 발명하였다.
본 개시의 실시예들은 디스플레이 구동용 기준 전압을 이용함으로써, 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널의 손상을 방지하고 효과적으로 불량을 검출할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 서브픽셀에 고전위 전압을 인가하기 이전에 구동 전압 라인 또는 디스플레이 패널의 불량을 검출함으로써, 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널의 손상을 효과적으로 방지할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 구동 전압 라인에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자를 포함하는 복수의 서브픽셀과, 복수의 서브픽셀에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인이 배치된 디스플레이 패널; 복수의 기준 전압 라인을 통하여, 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하도록 구성된 데이터 구동 회로; 발광 소자의 캐소드 전극에 연결된 기저 전압 노드를 제어하도록 구성된 기저 전압 스위칭 회로; 기저 전압 노드와 그라운드 사이에 흐르는 전류를 검출하도록 구성된 전류 검출 회로; 및 기저 전압 스위칭 회로를 제어하며, 전류 검출 회로에서 검출된 전류에 따라 구동 전압 라인에 대한 불량 검출 신호를 생성하도록 구성된 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치를 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들은 구동 전압 라인에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자를 포함하는 복수의 서브픽셀과, 복수의 서브픽셀에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인이 배치된 디스플레이 패널을 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, 고전위 전압 노드를 로우 레벨로 유지하는 단계; 기저 전압 노드를 플로팅시키는 단계; 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하는 단계; 기저 전압 노드와 그라운드 사이의 전류를 검출하는 단계; 검출된 전류와 기준값을 비교하는 단계; 및 검출된 전류와 기준값의 비교 결과에 따라 불량 검출 신호를 출력하는 단계를 포함하는 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 구동 전압 라인이나 디스플레이 패널의 불량을 효과적을 검출할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 디스플레이 구동용 기준 전압을 이용함으로써, 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널의 손상을 방지하고 효과적으로 불량을 검출할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
본 개시의 실시예들에 의하면, 서브픽셀에 고전위 전압이 인가되기 이전에 구동 전압 라인 또는 디스플레이 패널의 불량을 검출함으로써, 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널의 손상을 효과적으로 방지할 수 있는 디스플레이 장치 및 디스플레이 구동 방법을 제공할 수 있다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 시스템 예시도이다.
도 3은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 서브픽셀을 구성하는 회로의 예시 도면이다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 예시적인 회로 구조를 나타낸 도면이다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인의 불량을 검출하기 위한 회로 구성의 예시를 나타낸 도면이다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 정상인 경우의 신호 흐름도를 예시로 나타낸 도면이다.
도 7은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 정상인 경우에 서브픽셀에 흐르는 신호의 흐름을 예시로 나타낸 도면이다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 불량인 경우의 신호 흐름도를 예시로 나타낸 도면이다.
도 9는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 불량인 경우에 서브픽셀에 흐르는 신호의 흐름을 예시로 나타낸 도면이다.
도 10은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법의 흐름도를 나타낸 도면이다.
이하, 본 개시의 일부 실시예들을 예시적인 도면을 참조하여 상세하게 설명한다. 각 도면의 구성 요소들에 참조부호를 부가함에 있어서, 동일한 구성 요소들에 대해서는 비록 다른 도면상에 표시되더라도 가능한 한 동일한 부호를 가질 수 있다. 또한, 본 개시를 설명함에 있어, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 개시의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략할 수 있다. 본 명세서 상에서 언급된 "포함한다", "갖는다", "이루어진다" 등이 사용되는 경우 "~만"이 사용되지 않는 이상 다른 부분이 추가될 수 있다. 구성 요소를 단수로 표현한 경우에 특별한 명시적인 기재 사항이 없는 한 복수를 포함하는 경우를 포함할 수 있다.
또한, 본 개시의 구성 요소를 설명하는 데 있어서, 제1, 제2, A, B, (a), (b) 등의 용어를 사용할 수 있다. 이러한 용어는 그 구성 요소를 다른 구성 요소와 구별하기 위한 것일 뿐, 그 용어에 의해 해당 구성 요소의 본질, 차례, 순서 또는 개수 등이 한정되지 않는다.
구성 요소들의 위치 관계에 대한 설명에 있어서, 둘 이상의 구성 요소가 "연결", "결합" 또는 "접속" 등이 된다고 기재된 경우, 둘 이상의 구성 요소가 직접적으로 "연결", "결합" 또는 "접속" 될 수 있지만, 둘 이상의 구성 요소와 다른 구성 요소가 더 "개재"되어 "연결", "결합" 또는 "접속"될 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 여기서, 다른 구성 요소는 서로 "연결", "결합" 또는 "접속" 되는 둘 이상의 구성 요소 중 하나 이상에 포함될 수도 있다.
구성 요소들이나, 동작 방법이나 제작 방법 등과 관련한 시간적 흐름 관계에 대한 설명에 있어서, 예를 들어, "~후에", "~에 이어서", "~다음에", "~전에" 등으로 시간적 선후 관계 또는 흐름적 선후 관계가 설명되는 경우, "바로" 또는 "직접"이 사용되지 않는 이상 연속적이지 않은 경우도 포함할 수 있다.
한편, 구성 요소에 대한 수치 또는 그 대응 정보(예: 레벨 등)가 언급된 경우, 별도의 명시적 기재가 없더라도, 수치 또는 그 대응 정보는 각종 요인(예: 공정상의 요인, 내부 또는 외부 충격, 노이즈 등)에 의해 발생할 수 있는 오차 범위를 포함하는 것으로 해석될 수 있다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 개시의 다양한 실시예들을 상세히 설명한다.
도 1은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 개략적인 구성을 나타낸 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 다수의 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 연결되고, 다수의 서브픽셀(SP)이 매트릭스 형태로 배열된 디스플레이 패널(110), 다수의 게이트 라인(GL)을 구동하는 게이트 구동 회로(120), 다수의 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 전압을 공급하는 데이터 구동 회로(130), 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)를 제어하는 타이밍 컨트롤러(140), 및 파워 관리 회로(150)를 포함할 수 있다.
디스플레이 패널(110)은 다수의 게이트 라인(GL)을 통해 게이트 구동 회로(120)에서 전달되는 스캔 신호와 다수의 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동 회로(130)에서 전달되는 데이터 전압을 기반으로 영상을 표시한다.
액정 디스플레이의 경우, 디스플레이 패널(110)은 두 장의 기판 사이에 형성된 액정층을 포함하며, TN(Twisted Nematic) 모드, VA(Vertical Alignment) 모드, IPS(In Plane Switching) 모드, FFS(Fringe Field Switching) 모드 등 공지된 어떠한 모드로도 동작될 수 있을 것이다. 반면, 유기 발광 디스플레이의 경우, 디스플레이 패널(110)은 전면 발광(Top Emission) 방식, 배면 발광(Bottom Emission) 방식 또는 양면 발광(Dual Emission) 방식 등으로 구현될 수 있을 것이다.
디스플레이 패널(110)은 다수의 픽셀이 매트릭스 형태로 배열될 수 있으며, 각 픽셀은 서로 다른 컬러의 서브픽셀(SP), 예를 들어 화이트 서브픽셀, 레드 서브픽셀, 그린 서브픽셀, 및 블루 서브픽셀로 이루어지며, 각 서브픽셀(SP)은 다수의 데이터 라인(DL)과 다수의 게이트 라인(GL)에 의해 정의될 수 있다.
하나의 서브픽셀(SP)은 하나의 데이터 라인(DL)과 하나의 게이트 라인(GL)이 교차하는 영역에 형성된 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor, TFT), 데이터 전압을 충전하는 유기 발광 다이오드와 같은 발광 소자, 발광 소자에 전기적으로 연결되어 전압을 유지시키기 위한 스토리지 커패시터(Storage Capacitor) 등을 포함할 수 있다.
예를 들어, 2,160 X 3,840 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)가 화이트(W), 레드(R), 그린(G), 블루(B)의 4개 서브픽셀(SP)로 이루어지는 경우, 2,160 개의 게이트 라인(GL)과 4개의 서브픽셀(WRGB)에 각각 연결되는 3,840 개의 데이터 라인(DL)에 의해, 모두 3,840 X 4 = 15,360 개의 데이터 라인(DL)이 구비될 수 있으며, 이들 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차되는 지점에 각각 서브픽셀(SP)이 배치될 것이다.
게이트 구동 회로(120)는 컨트롤러(140)에 의해 제어되는데, 디스플레이 패널(110)에 배치된 다수의 게이트 라인(GL)으로 스캔 신호를 순차적으로 출력함으로써 다수의 서브픽셀(SP)에 대한 구동 타이밍을 제어한다.
2,160 X 3,840 의 해상도를 가지는 디스플레이 장치(100)에서, 2,160 개의 게이트 라인(GL)에 대하여 제 1 게이트 라인으로부터 제 2,160 게이트 라인까지 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 2,160상(2,160 phase) 구동이라 할 수 있다. 또는, 제 1 게이트 라인으로부터 제 4 게이트 라인까지 순차적으로 스캔 신호를 출력한 다음, 제 5 게이트 라인으로부터 제 8 게이트 라인까지 스캔 신호를 순차적으로 출력하는 경우와 같이, 4개의 게이트 라인(GL)을 단위로 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 4상 구동이라고 한다. 즉, N개의 게이트 라인(GL) 마다 순차적으로 스캔 신호를 출력하는 경우를 N상 구동이라고 할 수 있다.
이 때, 게이트 구동 회로(120)는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(Gate Driving Integrated Circuit; GDIC)를 포함할 수 있으며, 구동 방식에 따라 디스플레이 패널(110)의 일 측에만 위치할 수도 있고 양 측에 위치할 수도 있다. 또는, 게이트 구동 회로(120)가 디스플레이 패널(110)의 베젤(Bezel) 영역에 내장되어 GIP(Gate In Panel) 형태로 구현될 수도 있다.
데이터 구동 회로(130)는 타이밍 컨트롤러(140)로부터 영상 데이터(DATA)를 수신하고, 수신된 영상 데이터(DATA)를 아날로그 형태의 데이터 전압으로 변환한다. 그런 다음, 게이트 라인(GL)을 통해 스캔 신호가 인가되는 타이밍에 맞춰 데이터 전압을 각각의 데이터 라인(DL)으로 출력함으로써, 데이터 라인(DL)에 연결된 각 서브픽셀(SP)은 데이터 전압에 해당하는 밝기의 발광 신호를 디스플레이 한다.
마찬가지로, 데이터 구동 회로(130)는 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(Source Driving Integrated Circuit; SDIC)를 포함할 수 있으며, 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 TAB (Tape Automated Bonding) 방식 또는 COG (Chip On Glass) 방식으로 디스플레이 패널(110)의 본딩 패드(Bonding Pad)에 연결되거나 디스플레이 패널(110) 상에 직접 배치될 수 있다.
경우에 따라서, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 디스플레이 패널(110)에 집적화되어 배치될 수도 있다. 또한, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 COF (Chip On Film) 방식으로 구현될 수 있으며, 이 경우에, 각 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 회로 필름 상에 실장 되어, 회로 필름을 통해 디스플레이 패널(110)의 데이터 라인(DL)과 전기적으로 연결될 수 있다.
타이밍 컨트롤러(140)는 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)에 여러 가지 제어 신호를 공급하며, 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 동작을 제어한다. 즉, 타이밍 컨트롤러(140)는 각 프레임에서 구현하는 타이밍에 따라 게이트 구동 회로(120)가 스캔 신호를 출력하도록 제어하고, 다른 한편으로는 외부에서 수신한 영상 데이터(DATA)를 데이터 구동 회로(130)에 전달한다.
이 때, 타이밍 컨트롤러(140)는 영상 데이터(DATA)와 함께 수직 동기 신호(Vsync), 수평 동기 신호(Hsync), 데이터 인에이블 신호(Data Enable; DE), 메인 클럭(MCLK) 등을 포함하는 여러 가지 타이밍 신호를 외부의 호스트 시스템(200)으로부터 수신한다.
호스트 시스템(200)은 TV(Television) 시스템, 셋톱박스, 네비게이션 시스템, 개인용 컴퓨터(PC), 홈 시어터 시스템, 모바일 기기, 웨어러블 기기 중 어느 하나일 수 있다.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 호스트 시스템(200)으로부터 수신한 여러 가지 타이밍 신호를 이용하여 제어 신호를 생성하고, 이를 게이트 구동 회로(120) 및 데이터 구동 회로(130)로 전달한다.
예를 들어, 타이밍 컨트롤러(140)는 게이트 구동 회로(120)를 제어하기 위해서, 게이트 스타트 펄스(Gate Start Pulse; GSP), 게이트 클럭(Gate Clock; GCLK), 게이트 출력 인에이블 신호(Gate Output Enable; GOE) 등을 포함하는 여러 가지 게이트 제어 신호를 출력한다. 여기에서, 게이트 스타트 펄스(GSP)는 게이트 구동 회로(120)를 구성하는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)가 동작을 시작하는 타이밍을 제어한다. 또한, 게이트 클럭(GCLK)은 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)에 공통으로 입력되는 클럭 신호로서, 스캔 신호의 시프트 타이밍을 제어한다. 또한, 게이트 출력 인에이블 신호(GOE)는 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)의 타이밍 정보를 지정한다.
또한, 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동 회로(130)를 제어하기 위하여, 소스 스타트 펄스(Source Start Pulse; SSP), 소스 샘플링 클럭(Source Sampling Clock; SCLK), 소스 출력 인에이블 신호(Source Output Enable; SOE) 등을 포함하는 각종 데이터 제어 신호를 출력한다. 여기에서, 소스 스타트 펄스(SSP)는 데이터 구동 회로(130)를 구성하는 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 데이터 샘플링을 시작하는 타이밍을 제어한다. 소스 샘플링 클럭(SCLK)은 소스 구동 집적 회로(SDIC)에서 데이터를 샘플링하는 타이밍을 제어하는 클럭 신호이다. 소스 출력 인에이블 신호(SOE)는 데이터 구동 회로(130)의 출력 타이밍을 제어한다.
이러한 디스플레이 장치(100)는 디스플레이 패널(110), 게이트 구동 회로(120), 데이터 구동 회로(130) 등으로 각종 전압 또는 전류를 공급해주거나, 공급할 각종 전압 또는 전류를 제어하는 파워 관리 회로(150)를 포함할 수 있다.
파워 관리 회로(150)는 호스트 시스템(200)으로부터 공급되는 직류 입력 전압(Vin)을 조정하여 디스플레이 패널(100), 및 게이트 구동 회로(120)와 데이터 구동 회로(130)의 구동에 필요한 전원을 발생한다.
한편, 서브픽셀(SP)은 게이트 라인(GL)과 데이터 라인(DL)이 교차되는 지점에 위치하며, 각각의 서브픽셀(SP)에는 발광 소자가 배치될 수 있다. 예를 들어, 유기 발광 디스플레이 장치는 각각의 서브픽셀(SP)에 유기 발광 다이오드와 같은 발광 소자를 포함하며, 데이터 전압에 따라 발광 소자에 흐르는 전류를 제어함으로써 영상을 표시할 수 있다.
이러한 디스플레이 장치(100)는 액정 디스플레이(Liquid Crystal Display), 유기 발광 디스플레이(Organic Light Emitting Display), 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel) 등 다양한 타입의 장치일 수 있다.
도 2는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치의 시스템 예시도이다.
도 2를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 데이터 구동 회로(130)에 포함된 소스 구동 집적 회로(SDIC)와 게이트 구동 회로(120)에 포함된 게이트 구동 집적 회로(GDIC)가 다양한 방식들(TAB, COG, COF 등) 중에서 COF (Chip On Film) 방식으로 구현된 경우를 예시로 나타낸 것이다.
게이트 구동 회로(120)에 포함된 하나 이상의 게이트 구동 집적 회로(GDIC)는 각각 게이트 필름(GF) 상에 실장될 수 있으며, 게이트 필름(GF)의 일측은 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 게이트 필름(GF)의 상부에는 게이트 구동 집적 회로(GDIC)와 디스플레이 패널(110)을 전기적으로 연결하기 위한 배선들이 배치될 수 있다.
마찬가지로, 데이터 구동 회로(130)에 포함된 하나 이상의 소스 구동 집적 회로(SDIC)는 각각 소스 필름(SF) 상에 실장될 수 있으며, 소스 필름(SF)의 일측은 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결될 수 있다. 또한, 소스 필름(SF)의 상부에는 소스 구동 집적 회로(SDIC)와 디스플레이 패널(110)을 전기적으로 연결하기 위한 배선들이 배치될 수 있다.
이러한 디스플레이 장치(100)는 다수의 소스 구동 집적 회로(SDIC)와 다른 장치들 간의 회로적인 연결을 위해서, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(Source Printed Circuit Board; SPCB)과, 제어 부품들 및 각종 전기 장치들을 실장하기 위한 컨트롤 인쇄 회로 기판(Control Printed Circuit Board; CPCB)을 포함할 수 있다.
이 때, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)에는 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 실장된 소스 필름(SF)의 타측이 연결될 수 있다. 즉, 소스 구동 집적 회로(SDIC)가 실장된 소스 필름(SF)은 일측이 디스플레이 패널(110)과 전기적으로 연결되고, 타측이 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 전기적으로 연결될 수 있다.
컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)에는 타이밍 컨트롤러(140)와 파워 관리 회로(Power Management IC, 150)가 실장될 수 있다. 타이밍 컨트롤러(140)는 데이터 구동 회로(130)와 게이트 구동 회로(120)의 동작을 제어할 수 있다. 파워 관리 회로(150)는 디스플레이 패널(110), 데이터 구동 회로(130) 및 게이트 구동 회로(120) 등으로 구동 전압이나 전류를 공급할 수도 있고, 공급되는 전압이나 전류를 제어할 수 있다.
적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)은 적어도 하나의 연결 부재를 통해 회로적으로 연결될 수 있으며, 연결 부재는 예를 들어, 플렉서블 인쇄 회로(Flexible Printed Circuit; FPC), 플렉서블 플랫 케이블(Flexible Flat Cable; FFC) 등으로 이루어질 수 있다. 이 때, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)을 연결하는 연결 부재는 디스플레이 장치(100)의 크기 및 종류에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 또한, 적어도 하나의 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)과 컨트롤 인쇄 회로 기판(CPCB)은 하나의 인쇄 회로 기판으로 통합되어 구현될 수도 있다.
위와 같은 구성으로 이루어진 디스플레이 장치(100)의 경우, 파워 관리 회로(150)는 디스플레이 구동 또는 특성값 센싱에 필요한 구동 전압을 플렉서블 인쇄 회로(FPC), 또는 플렉서블 플랫 케이블(FFC)을 통해 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)으로 전달한다. 소스 인쇄 회로 기판(SPCB)으로 전달된 구동 전압은 소스 구동 집적 회로(SDIC)를 통해 디스플레이 패널(110) 내의 특정 서브픽셀(SP)을 발광하거나 센싱하기 위해 공급된다.
이 때, 디스플레이 장치(100) 내의 디스플레이 패널(110)에 배열된 각 서브픽셀(SP)은 발광 소자인 유기 발광 다이오드와, 이를 구동하기 위한 구동 트랜지스터 등의 회로 소자로 구성될 수 있다.
각 서브픽셀(SP)을 구성하는 회로 소자의 종류 및 개수는, 제공 기능 및 설계 방식 등에 따라 다양하게 정해질 수 있다.
도 3은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 서브픽셀을 구성하는 회로의 예시 도면이다.
도 3을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)에서, 서브픽셀(SP)은 하나 이상의 트랜지스터와 커패시터를 포함할 수 있으며, 발광 소자(ED)로서 유기 발광 다이오드가 배치될 수 있다.
예를 들어, 서브픽셀(SP)은 구동 트랜지스터(DRT), 스위칭 트랜지스터(SWT), 센싱 트랜지스터(SENT), 스토리지 커패시터(Cst), 및 발광 소자(ED)를 포함할 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)는 제 1 노드(N1), 제 2 노드(N2), 및 제 3 노드(N3)를 가진다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)는 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온 되면, 데이터 라인(DL)을 통해 데이터 구동 회로(130)로부터 데이터 전압(Vdata)이 인가되는 게이트 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)는 발광 소자(ED)의 애노드(Anode) 전극과 전기적으로 연결될 수 있으며, 소스 노드 또는 드레인 노드일 수 있다. 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되는 구동 전압 라인(DVL)과 전기적으로 연결되며, 드레인 노드 또는 소스 노드일 수 있다.
이 때, 디스플레이 구동 기간에는 구동 전압 라인(DVL)으로 영상을 디스플레이 하는데 필요한 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 공급될 수 있는데, 예를 들어, 영상을 디스플레이 하는데 필요한 서브픽셀 구동 전압(EVDD)은 27V의 고전위 전압일 수 있다.
스위칭 트랜지스터(SWT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결되며, 게이트 라인(GL)이 게이트 노드에 연결되어 게이트 라인(GL)을 통해 공급되는 스캔 신호(SCAN)에 따라 동작한다. 또한, 스위칭 트랜지스터(SWT)가 턴-온되는 경우에는 데이터 라인(DL)을 통해 공급되는 데이터 전압(Vdata)을 구동 트랜지스터(DRT)의 게이트 노드에 전달함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 동작을 제어하게 된다.
센싱 트랜지스터(SENT)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결되며, 게이트 라인(GL)이 게이트 노드에 연결되어 게이트 라인(GL)을 통해 공급되는 센스 신호(SENSE)에 따라 동작한다. 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온되는 경우에는 기준 전압 라인(RVL)을 통해 공급되는 센싱용 기준 전압(Vref)이 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)에 전달된다.
즉, 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 제어함으로써, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1) 전압과 제 2 노드(N2) 전압을 제어하게 되고, 이로 인해 발광 소자(ED)를 구동하기 위한 전류가 공급될 수 있도록 한다.
이러한 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)의 게이트 노드는 하나의 게이트 라인(GL)에 함께 연결될 수도 있고, 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결될 수도 있다. 여기에서는 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 서로 다른 게이트 라인(GL)에 연결된 구조를 예시로 나타낸 것이며, 이 경우에는 서로 다른 게이트 라인(GL)을 통해 전달되는 스캔 신호(SCAN)와 센스 신호(SENSE)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 독립적으로 제어할 수 있다.
반면, 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)가 하나의 게이트 라인(GL)에 연결된 경우에는 하나의 게이트 라인(GL)을 통해 전달되는 스캔 신호(SCAN) 또는 센스 신호(SENSE)에 의해 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 동시에 제어할 수 있으며, 서브픽셀(SP)의 개구율(aperture ratio)이 증가할 수 있다.
한편, 서브픽셀(SP)에 배치된 트랜지스터는 n-타입 트랜지스터뿐만 아니라 p-타입 트랜지스터로 이루어질 수 있는데, 여기에서는 n-타입 트랜지스터로 구성된 경우를 예시로 나타내고 있다.
스토리지 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 제2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되며, 한 프레임 동안 데이터 전압(Vdata)을 유지시켜준다.
이러한 스토리지 커패시터(Cst)는 구동 트랜지스터(DRT)의 유형에 따라 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 제 3 노드(N3) 사이에 연결될 수도 있다. 발광 소자(ED)의 애노드 전극은 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 전기적으로 연결될 수 있으며, 발광 소자(ED)의 캐소드(Cathode) 전극으로 기저 전압(EVSS)이 인가될 수 있다.
여기에서, 기저 전압(EVSS)은 그라운드 전압이거나 그라운드 전압보다 높거나 낮은 전압일 수 있다. 또한, 기전 전압(EVSS)은 구동 상태에 따라 가변될 수 있으며, 예를 들어, 디스플레이 구동 시점의 기저 전압(EVSS)과 센싱 구동 시점의 기저 전압(EVSS)이 서로 다르게 설정될 수 있다.
위에서 예를 들어 설명한 서브픽셀(SP)의 구조는 3T(Transistor) 1C (Capacitor) 구조로서, 설명을 위한 예시일 뿐, 1개 이상의 트랜지스터를 더 포함하거나, 경우에 따라서는, 1개 이상의 커패시터를 더 포함할 수도 있다. 또는, 다수의 서브픽셀(SP) 각각이 동일한 구조로 되어 있을 수도 있고, 다수의 서브픽셀(SP) 중 일부는 다른 구조로 되어 있을 수도 있다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값, 예를 들어, 문턱 전압(threshold voltage)이나 이동도(mobility)를 효과적으로 센싱하기 위해서, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 기간에 스토리지 커패시터(Cst)에 충전되는 전압에 의해 흐르는 전류를 측정하는 방법을 사용할 수 있는데, 이를 전류 센싱이라고 한다.
즉, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱 기간에 스토리지 커패시터(Cst)에 충전된 전압에 의해 흐르는 전류를 측정함으로써, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값이나 특성값의 변화를 알아낼 수 있다.
이 때, 기준 전압 라인(RVL)은 기준 전압(Vref)을 전달해주는 역할 뿐만 아니라, 서브픽셀(SP) 내 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값을 센싱하기 위한 센싱 라인의 역할도 하기 때문에, 기준 전압 라인(RVL)을 센싱 라인이라고 할 수 있을 것이다.
도 4는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서 구동 트랜지스터의 특성값을 센싱하는 예시적인 회로 구조를 나타낸 도면이다.
도 4를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 편차를 보상하기 위한 구성들을 포함할 수 있다.
예를 들어, 디스플레이 장치(100)의 센싱 구간에서 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 또는 특성값의 변화는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압(예: Vdata - Vth)으로 반영될 수 있다.
구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압은 센싱 트랜지스터(SENT)가 턴-온 상태인 경우, 기준 전압 라인(RVL)의 전압에 대응될 수 있다. 또한, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압에 의해, 기준 전압 라인(RVL) 상의 라인 커패시터(Cline)가 충전될 수 있으며, 라인 커패시터(Cline)에 충전된 센싱 전압(Vsen)의해 기준 전압 라인(RVL)은 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압에 대응되는 전압을 가질 수 있다.
이러한 디스플레이 장치(100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)의 전압과 대응되는 기준 전압 라인(RVL)의 전압을 센싱하여 디지털 데이터로 변환하는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)와, 구동 트랜지스터(DRT)의 특성값 센싱을 위한 스위치 회로(SAM, SPRE)를 포함할 수 있다.
센싱 구동을 제어하는 스위치 회로(SAM, SPRE)는 각 기준 전압 라인(RVL)과 기준 전압(Vref)이 공급되는 센싱용 기준 전압 노드(Npres) 사이의 연결을 제어하는 센싱용 기준 스위치(SPRE)와, 각 기준 전압 라인(RVL)과 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 간의 연결을 제어하는 샘플링 스위치(SAM)를 포함할 수 있다.
여기에서, 센싱용 기준 스위치(SPRE)는 센싱 구동 동작을 제어하는 스위치이며, 센싱 구동 기간에 센싱용 기준 스위치(SPRE)에 의해 기준 전압 라인(RVL)으로 공급되는 기준 전압(Vref)은 센싱용 기준 전압(VpreS)이 된다.
또한, 스위치 회로는 디스플레이 구동 동작을 제어하는 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)를 포함할 수 있다. 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 각 기준 전압 라인(RVL)과 기준 전압(Vref)이 공급되는 디스플레이 구동용 기준 전압 노드(Nprer) 사이의 연결을 제어할 수 있다.
디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 디스플레이 구동 동작에 이용되는 스위치이다. 디스플레이 구동 기간에 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)에 의해 기준 전압 라인(RVL)에 공급되는 기준 전압(Vref)은 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)에 해당한다.
이 때, 센싱용 기준 스위치(SPRE)와 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)는 별도로 구비될 수도 있고, 하나로 통합되어 구현될 수도 있을 것이다. 센싱용 기준 전압(VpreS)은 센싱 구동 기간에 특성값 센싱을 위해서 인가되는 기준 전압으로서, 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)과 동일한 전압 값일 수도 있고, 다른 전압 값일 수도 있다.
디스플레이 장치(100)의 타이밍 컨트롤러(140)는 아날로그 디지털 컨버터(ADC)에서 전달되는 데이터를 저장하거나 기준값을 미리 저장하고 있는 메모리(MEM), 및 수신된 데이터와 메모리(MEM)에 저장된 기준값을 비교하여 특성값의 편차를 보상해주는 보상 회로(COMP)를 포함할 수 있다. 이 때, 보상 회로(COMP)에 의해 산출된 보상 값은 메모리(MEM)에 저장될 수 있다.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 보상 회로(COMP)에서 산출된 보상 값을 이용하여 데이터 구동 회로(130)에 공급할 디지털 영상 데이터(DATA)를 보상하고, 보상된 디지털 영상 데이터(DATA_comp)를 데이터 구동 회로(130)로 출력할 수 있다.
이에 따라, 데이터 구동 회로(130)는 디지털 아날로그 컨버터(DAC)를 통해 보상된 디지털 영상 데이터(DATA_comp)를 아날로그 신호 형태의 데이터 전압(Vdata)으로 변환하고, 변환된 데이터 전압(Vdata)을 출력 버퍼(BUF)를 통해 해당 데이터 라인(DL)으로 출력할 수 있다. 그 결과, 해당 서브픽셀(SP) 내의 구동 트랜지스터(DRT)에 대한 특성값 편차(문턱전압 편차, 또는 이동도 편차)가 보상될 수 있다.
한편, 데이터 구동 회로(130)는 래치 회로, 디지털 아날로그 컨버터(DAC), 및 출력 버퍼(BUF) 등을 포함하는 데이터 전압 출력 회로(136)를 포함할 수 있으며, 경우에 따라서는, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)을 더 포함할 수 있다. 반면, 아날로그 디지털 컨버터(ADC) 및 각종 스위치들(SAM, SPRE, RPRE)은 데이터 구동 회로(130)의 외부에 위치할 수도 있을 것이다.
또한, 보상 회로(COMP)는 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 존재할 수도 있지만, 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 포함될 수도 있으며, 메모리(MEM)는 타이밍 컨트롤러(140)의 외부에 위치할 수도 있고, 타이밍 컨트롤러(140)의 내부에 레지스터 형태로 구현될 수도 있을 것이다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 전압 라인에 불량이 발생한 상태에서 고전위 전압이 인가됨으로써, 구동 전압 라인이 단선되거나 디스플레이 패널이 번트(burnt)되는 현상을 방지하도록 한다. 특히, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 서브픽셀(SP)에 고전위 전압이 인가되기 이전에 구동 전압 라인의 불량을 검출함으로써, 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널의 손상을 효과적으로 방지할 수 있도록 한다.
도 5는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인의 불량을 검출하기 위한 회로 구성의 예시를 나타낸 도면이다.
도 5를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 기저 전압(EVSS)을 그라운드(GND) 또는 플로팅 상태로 전환하는 기저 전압 스위칭 회로(SW), 기저 전압 스위칭 회로(SW)와 그라운드(GND) 사이에 흐르는 전류를 검출하는 전류 검출 회로(310), 및 기저 전압 스위칭 회로(SW)를 제어하며, 전류 검출 회로(310)의 검출 결과에 따라 구동 전압 라인(DVL)의 불량을 판단하는 타이밍 컨트롤러(140)를 포함할 수 있다.
기저 전압 스위칭 회로(SW)는 구동 트랜지스터(DRT)를 통해 서브픽셀 구동 전압(EVDD)에 연결되는 발광 소자(ED)의 캐소드 전극에 전기적으로 연결되며, 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 따라 기저 전압(EVSS)이 인가되는 기저 전압 노드(N(EVSS))를 그라운드(GND)에 전기적으로 연결하거나 플로팅 상태로 전환할 수 있다. 기저 전압 스위칭 회로(SW)는 트랜지스터로 구성될 수도 있고, 트랜지스터와 다른 회로 소자가 함께 구성될 수도 있다.
이에 따라, 기저 전압 스위칭 회로(SW)와 그라운드(GND) 사이에 연결된 전류 검출 회로(310)는 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND)가 전기적으로 연결된 상태 또는 기저 전압 노드(N(EVSS))가 전기적으로 플로팅된 상태에서, 기저 전압 노드(N(EVSS))를 통해 그라운드(GND)에 흐르는 전류를 측정할 수 있다.
따라서, 전류 검출 회로(310)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)과 그라운드(GND) 사이에서, 기저 전압 노드(N(EVSS))에 흐르는 전류를 검출하게 된다.
타이밍 컨트롤러(140)는 기준 전압 라인(RVL)을 통해 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)이 공급되는 시점을 결정하기 위하여, 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE)의 동작을 제어한다.
또한, 타이밍 컨트롤러(140)는 기준 전압 스위칭 회로(SW)를 제어하여, 기저 전압 노드(N(EVSS))가 그라운드(GND)와 전기적으로 연결되거나 전기적인 플로팅 상태가 되도록 한다.
또한, 타이밍 컨트롤러(140)는 전류 검출 회로(310)에서 제공된 검출 신호에 따라 구동 전압 라인(DVL)의 불량 여부를 판단하고, 구동 전압 라인(DVL)이 불량으로 판단되는 경우 이를 나타내는 불량 검출 신호(BDP)를 출력한다.
전류 검출 회로(310)는 전류 센싱을 위한 저항(312), 연산 증폭기(Operational Amplifier, 314)와 센싱된 전류의 레벨을 판단하는 레벨 검출 회로(Level Detector; 318)로 구성될 수 있다.
저항(312)은 전류 센싱을 위하여 낮은 저항값을 가질 수 있으며, 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이에 연결될 수 있다.
연산 증폭기(314)는 반전 입력 단자와 비반전 입력 단자가 저항(312)의 양단에 연결되어, 기저 전압 노드(N(EVSS))로부터 저항(312)을 통해 그라운드(GND)로 전류가 흐르는 경우에, 흐르는 전류에 비례하는 전압을 출력한다.
레벨 검출 회로(318)는 연산 증폭기(314)로부터 출력되는 값이 일정한 기준값 이상이면 하이 레벨의 신호를 출력하고, 그렇지 않으면 로우 레벨의 신호를 출력한다. 즉, 레벨 검출 회로(318)는 일정한 기준값 이상의 전류가 저항(312)을 통해 흐르는 경우에, 이를 타이밍 컨트롤러(140)에 전달하는 역할을 한다.
이에 따라, 타이밍 컨트롤러(140)는 기저 전압 노드(N(EVSS))가 플로팅된 상태에서 전류 검출 회로(310)를 통하여 기준값 이상의 전류가 검출되는 경우, 즉 전류 검출 회로(310)에서 타이밍 컨트롤러(140)로 하이 레벨의 신호가 제공되는 경우에 구동 전압 라인(DVL)에 쇼트 등의 불량이 발생한 것으로 판단하여, 하이 레벨의 불량 검출 신호(BDP)를 출력할 수 있다.
물론, 전류 검출 회로(310)를 통하여 검출된 전류가 기준값 이상인 경우에 타이밍 컨트롤러(140)에 하이 레벨의 신호가 전달되는 것은 하나의 예시에 불과하며, 전류가 검출레벨 검출 회로(318) 또는 타이밍 컨트롤러(140)의 회로 구성에 따라, 전류 검출 회로(310)를 통하여 기준값 이상의 전류가 검출되는 경우에 로우 레벨의 신호가 타이밍 컨트롤러(140)에 전달되고, 전류 검출 회로(310)를 통하여 기준값 미만의 전류가 검출되는 경우에 하이 레벨의 신호가 타이밍 컨트롤러(140)에 전달될 수도 있을 것이다.
그 결과, 디스플레이 장치(100)의 출하 전 또는 출하 이후에, 특정 구동 전압 라인(DVL)의 불량을 확인함으로써, 불량이 발생한 부분을 교체하거나 수리할 수 있게 된다.
아래에서는 기저 전압 노드(N(EVSS))의 연결 상태에 따라, 구동 전압 라인(DVL)에 인가되는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 이용하여 구동 전압 라인(DVL)의 불량 상태를 판단하는 구체적인 과정을 보다 자세히 설명하기로 한다.
도 6은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 정상인 경우의 신호 흐름도를 예시로 나타낸 도면이고, 도 7은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 정상인 경우에 서브픽셀에 흐르는 신호의 흐름을 예시로 나타낸 도면이다.
고전위 전압에 해당하는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)에 의해서 구동 전압 라인(DVL) 또는 디스플레이 패널(110)에 과전류가 흐르는 경우, 과전류로 인해 구동 전압 라인(DVL)이 단선되거나 디스플레이 패널(110)이 타버리는 번트(burnt) 현상이 나타날 수 있다.
따라서, 이러한 문제를 방지하기 위하여, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되지 않은 상태에서 저전위 전압에 해당하는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 이용해서 구동 전압 라인(DVL)의 불량 여부를 검출한다.
서브픽셀 구동 전압(EVDD)는 일반적으로 20V 이상의 고전위 전압 레벨에 해당하는 반면, 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)은 3V 수준의 저전위 전압 레벨에 해당한다.
도 6 및 도 7을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되지 않거나 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))이 인가된 상태에서, 기저 전압 노드(N(EVSS))를 전기적으로 플로팅시키고 기준 전압 라인(RVL)을 통해 인가된 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)이 구동 전압 라인(DVL)을 통해 공급될 수 있도록 스캔 신호(SCAN)와 센스 신호(SENSE)를 하이 레벨로 인가하여 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 턴-온시킨다.
여기에서, 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))은 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)보다 낮은 레벨을 나타낸다.
이에 따라, 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)에 의해서 기준 전압 라인(RVL)을 흐르는 전류(I(EVDD))는 턴-온된 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해서 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)로 전달된다.
한편, 스위칭 트랜지스터(SWT)는 하이 레벨의 스캔 신호(SCAN) 신호에 의해서 턴-온된 상태이므로, 데이터 라인(DL)을 통해 구동 트랜지스터(DRT)를 턴-온시킬 수 있는 레벨의 데이터 전압(Vdata)을 인가할 수 있다.
이 때, 구동 전압 라인(DVL)의 불량을 검출하기 위한 구간은 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되지 않는 구간(예를 들어, 블랭크 구간) 또는 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))이 인가되는 구간에 해당한다. 따라서, 구동 트랜지스터(DRT)에 인가되는 데이터 전압(Vdata)은 구동 트랜지스터(DRT)를 턴-온시킬 수 있는 레벨을 가지되, 블랙 계조 또는 블랙 계조에 가까운 휘도를 나타내는 블랙 데이터 전압(Vdata(BLACK))으로 설정되는 것이 바람직하다.
이 때, 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))은 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)보다 낮은 레벨로 유지되고 있기 때문에, 블랙 데이터 전압(Vdata(BLACK))에 의해서 구동 트랜지스터(DRT)가 턴-온되면, 기준 전압 라인(RVL)으로부터 유입된 전류(I(EVDD))는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)에서 제 3 노드(N3) 방향으로 흐르게 된다. 즉, 이 상태에서 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)가 드레인 노드로 동작하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)가 소스 노드로 동작하게 된다.
한편, 기저 전압 스위칭 회로(SW)는 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 의해서 플로팅 상태로 되어있기 때문에, 구동 전압 라인(DVL)이 정상 상태인 경우에 기준 전압 라인(RVL)으로부터 구동 전압 라인(DVL)으로 유입된 전류는 기저 전압 노드(N(EVSS))로는 흐르지 않게 된다.
따라서, 정상 상태에서 전류 검출 회로(310)에 유입되는 전류가 존재하지 않기 때문에, 전류 검출 회로(310)는 로우 레벨의 신호를 출력하게 되고, 타이밍 컨트롤러(140)는 구동 전압 라인(DVL)이 정상 상태임을 나타내는 로우 레벨의 불량 검출 신호(BDP(Low))를 생성하게 된다.
그 결과, 구동 전압 라인(DVL)에 고전위 전압에 해당하는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 인가하지 않고, 저전위 전압에 해당하는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 이용해서 구동 전압 라인(DVL)의 정상 상태를 검출할 수 있게 된다.
도 8은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 불량인 경우의 신호 흐름도를 예시로 나타낸 도면이고, 도 9는 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치에서, 구동 전압 라인이 불량인 경우에 서브픽셀에 흐르는 신호의 흐름을 예시로 나타낸 도면이다.
도 8 및 도 9를 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되지 않거나 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))이 인가된 상태에서, 기저 전압 노드(N(EVSS))를 전기적으로 플로팅시켜고 기준 전압 라인(RVL)을 통해 인가된 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)이 구동 전압 라인(DVL)을 통해 공급될 수 있도록 스캔 신호(SCAN)와 센스 신호(SENSE)를 하이 레벨로 인가하여 스위칭 트랜지스터(SWT)와 센싱 트랜지스터(SENT)를 턴-온시킨다.
이에 따라, 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)에 의해서 기준 전압 라인(RVL)을 흐르는 전류(I(EVDD))는 턴-온된 센싱 트랜지스터(SENT)를 통해서 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)로 전달된다.
한편, 스위칭 트랜지스터(SWT)는 하이 레벨의 스캔 신호(SCAN)에 의해서 턴-온된 상태이므로, 데이터 라인(DL)을 통해 구동 트랜지스터(DRT)를 턴-온시킬 수 있는 레벨의 데이터 전압(Vdata)이 인가될 수 있다.
이 때, 구동 전압 라인(DVL)의 불량을 검출하기 위한 구간은 서브픽셀 구동 전압(EVDD)이 인가되지 않는 구간(예를 들어, 블랭크 구간) 또는 로우 레벨의 서브픽셀 구동 전압(EVDD(Low))이 인가되는 구간에 해당하므로, 구동 트랜지스터(DRT)에 인가되는 데이터 전압(Vdata)은 구동 트랜지스터(DRT)를 턴-온시킬 수 있는 레벨을 가지되, 블랙 계조 또는 블랙 계조에 가까운 휘도를 나타내는 블랙 데이터 전압(Vdata(BLACK))으로 설정되는 것이 바람직하다.
서브픽셀 구동 전압(EVDD)은 로우 레벨로 유지되고 있기 때문에, 블랙 데이터 전압(Vdata(BLACK))에 의해서 구동 트랜지스터(DRT)가 턴-온되면, 기준 전압 라인(RVL)으로부터 유입된 전류(I(EVDD))는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)에서 제 3 노드(N3) 방향으로 흐르게 된다. 즉, 이 상태에서 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)가 드레인 노드로 동작하고, 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)가 소스 노드로 동작하게 된다.
한편, 기저 전압 스위칭 회로(SW)는 타이밍 컨트롤러(140)의 제어에 의해서 플로팅 상태로 되어 있다. 그러나, 구동 전압 라인(DVL)이 수분이나 이물질 등으로 인해 쇼트 상태인 경우에는 기저 전압 스위칭 회로(SW)가 플로팅 되어 있더라도, 기준 전압 라인(RVL)이 그라운드(GND)에 전기적으로 연결될 수 있다.
따라서, 구동 전압 라인(DVL)이 불량 상태인 경우에는 기저 전압 스위칭 회로(SW)가 플로팅 되어 있더라도 구동 전압 라인(DVL)으로 유입된 전류 중 일부의 전류(I(EVSS))가 기저 전압 노드(N(EVSS))를 통해 그라운드(GND)로 흐르게 된다.
이 경우, 데이터 라인(DL)을 통해 블랙 계조의 데이터 전압(Vdata(BLACK))이 인가된다. 따라서, 구동 트랜지스터(DRT)에 의해서 발광 소자(ED)가 발광하더라도 블랙 계조를 나타내기 때문에, 사용자는 구동 전압 라인(DVL)에 흐르는 전류 검출 과정에 의한 발광 현상을 인식하지 못하게 된다.
그 결과, 구동 전압 라인(DVL)이 불량 상태인 경우에는 기저 전압 스위칭 회로(SW)가 플로팅 되어 있더라도 전류 검출 회로(310)에 유입되는 전류(I(EVSS))가 존재하기 때문에, 전류 검출 회로(310)는 기저 전압 노드(N(EVSS))를 통해 흐르는 전류(I(EVSS))를 검출할 수 있다.
이 때, 전류 검출 회로(310)에서 검출된 전류가 기준값 이상인 경우에는 하이 레벨의 신호를 출력하게 되므로, 타이밍 컨트롤러(140)는 구동 전압 라인(DVL)이 불량 상태임을 나타내는 하이 레벨의 불량 검출 신호(BDP(High))를 생성하게 된다.
그 결과, 구동 전압 라인(RVL)에 고전위 전압에 해당하는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 인가하지 않고도, 저전위 전압에 해당하는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 이용해서 구동 전압 라인(DVL)의 불량 상태를 검출할 수 있게 된다.
도 10은 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법의 흐름도를 나타낸 도면이다.
도 10을 참조하면, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법은 서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 로우 레벨로 유지하는 단계(S100), 기저 전압 노드(N(EVSS))를 플로팅시키는 단계(S200), 구동 전압 라인(DVL)에 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 인가하는 단계(S300), 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이의 전류를 검출하는 단계(S400), 검출된 전류와 기준값을 비교하는 단계(S500), 검출된 전류가 기준값 이상인 경우, 하이 레벨의 불량 검출 신호(BDP(High))를 출력하는 단계(S600), 및 검출된 전류가 기준값보다 작은 경우, 로우 레벨의 불량 검출 신호(BDP(Low))를 출력하는 단계(S700)를 포함할 수 있다.
서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 로우 레벨로 유지하는 단계(S100)는 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)를 통해 고전위 전압인 서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 인가하지 않고, 로우 레벨 상태로 유지하는 과정이다.
기저 전압 노드(N(EVSS))를 플로팅시키는 단계(S200)는 기저 전압 스위칭 회로(SW)를 제어함으로써, 기저 전압 노드(N(EVSS))를 그라운드(GND)와 차단함으로써 플로팅 시키는 과정이다.
이 때, 서브픽셀 구동 전압(EVDD)을 로우 레벨로 유지하는 단계(S100)와 기저 전압 노드(N(EVSS))를 플로팅시키는 단계(S200)는 시간적으로 서로 다를 수 있으며, 순서가 변경될 수도 있다.
구동 전압 라인(DVL)에 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 인가하는 단계(S300)는 디스플레이 구동용 기준 스위치(RPRE) 및 센싱 트랜지스터(SENT)를 턴-온시켜서 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 기준 전압 라인(RVL)에 인가하는 한편, 구동 트랜지스터(DRT)를 턴-온시켜서 구동 전압 라인(DVL)에 흐르는 전류(I(EVDD))가 서브픽셀 구동 전압 노드로 흐르도록 전류 경로를 형성하는 과정이다.
이 때, 구동 트랜지스터(DRT)는 데이터 라인(DL)을 통해 블랙 계조의 데이터 전압(Vdata(BLACK))을 인가함으로써, 턴-온될 수 있다.
기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이의 전류를 검출하는 단계(S400)는 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이에 연결된 전류 검출 회로(310)를 통해서 기저 전압 노드(N(EVSS))로부터 그라운드(GND)로 흐르는 전류(I(EVSS))를 검출하는 과정이다.
검출된 전류와 기준값을 비교하는 단계(S500)는 전류 검출 회로(310)에서 검출된 전류와 기준값을 비교하는 과정이다.
검출된 전류가 기준값 이상인 경우, 하이 레벨의 불량 검출 신호(BDP(High))를 출력하는 단계(S600)는 기저 전압 노드(N(EVSS))가 플로팅된 상태에서 전류 검출 회로(310)를 통해 검출된 전류가 기준값 이상인 경우에 구동 전압 라인(DVL)을 쇼트와 같은 불량 상태로 판단하는 과정이다.
반면에, 검출된 전류가 기준값보다 작은 경우, 로우 레벨의 불량 검출 신호(BDP(Low))를 출력하는 단계(S700)는 기저 전압 노드(N(EVSS))가 플로팅된 상태에서 전류 검출 회로(310)를 통해 검출된 전류가 기준값 이하인 경우에 구동 전압 라인(DVL)을 정상 상태로 판단하는 과정이다.
이러한 과정을 통해서, 본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 서브픽셀 구동 전압(EVDD)과 같은 고전위 전압이 인가되기 이전에 구동 전압 라인(DVL) 또는 디스플레이 패널(110)의 불량을 검출할 수 있으며, 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)을 이용함으로써 고전위 전압에 의한 디스플레이 패널(110)의 손상을 방지할 수 있다.
이상에서 설명한 본 개시의 실시예들을 간략하게 설명하면 아래와 같다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 구동 전압 라인(DVL)에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자(ED)를 포함하는 복수의 서브픽셀(SP)과, 상기 복수의 서브픽셀(SP)에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인(RVL)이 배치된 디스플레이 패널(110); 상기 복수의 기준 전압 라인(RVL)을 통하여, 상기 구동 전압 라인(DVL)에 저전위 전압을 인가하도록 구성된 데이터 구동 회로(130); 상기 발광 소자(ED)의 캐소드 전극에 연결된 기저 전압 노드(N(EVSS))를 제어하도록 구성된 기저 전압 스위칭 회로(SW); 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이에 흐르는 전류를 검출하도록 구성된 전류 검출 회로(310); 및 상기 기저 전압 스위칭 회로(SW)를 제어하며, 상기 전류 검출 회로(310)에서 검출된 전류에 따라 상기 구동 전압 라인(DVL)에 대한 불량 검출 신호(BDP)를 생성하도록 구성된 타이밍 컨트롤러(140)를 포함한다.
상기 저전위 전압은 상기 구동 전압 라인(DVL)에 고전위 전압이 인가되지 않는 구간에 인가된다.
상기 저전위 전압은 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))가 플로팅된 구간 동안 상기 구동 전압 라인(DVL)에 인가된다.
상기 저전위 전압은 디스플레이 구동 기간에 인가되는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)이다.
상기 서브픽셀은 제 3 노드(N3)에 상기 고전위 전압이 인가되고, 상기 구동 전압 라인(DVL)을 통해 상기 발광 소자(ED)에 전류를 제공하는 구동 트랜지스터(DRT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결된 스위칭 트랜지스터(SWT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 상기 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터(SENT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1) 및 제 2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 커패시터(Cst); 및 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 상기 기저 전압 노드(N(EVSS)) 사이에 연결되는 상기 발광 소자(ED)를 포함한다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 상기 저전위 전압에 의하여, 상기 센싱 트랜지스터(SENT) 및 상기 구동 트랜지스터(DRT)를 경유하여 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)로 흐르는 제 1 전류 경로가 형성된다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 장치(100)는 상기 구동 전압 라인(DVL)이 불량인 경우에, 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))로부터 상기 그라운드(GND)로 흐르는 제 2 전류 경로가 형성된다.
상기 전류 검출 회로(310)는 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))와 상기 그라운드(GND) 사이에 연결된 저항(312); 반전 입력 단자와 비반전 입력 단자가 상기 저항(312)의 양단에 연결되어, 상기 저항(312)을 통해 흐르는 전류에 비례하는 전압을 출력하는 연산 증폭기(314); 및 상기 연산 증폭기(314)로부터 출력되는 값과 기준값의 비교 결과를 출력하는 레벨 검출 회로(318)를 포함한다.
상기 타이밍 컨트롤러(140)는 상기 레벨 검출 회로(318)의 출력값에 따라, 상기 구동 전압 라인(DVL)에 대한 불량 검출 신호(BDP)를 생성한다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법은 구동 전압 라인(DVL)에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자(ED)를 포함하는 복수의 서브픽셀(SP)과, 상기 복수의 서브픽셀(SP)에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인(RVL)이 배치된 디스플레이 패널(110)을 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서, 고전위 전압 노드를 로우 레벨로 유지하는 단계; 기저 전압 노드(N(EVSS))를 플로팅시키는 단계; 상기 구동 전압 라인(DVL)에 저전위 전압을 인가하는 단계; 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))와 그라운드(GND) 사이의 전류를 검출하는 단계; 검출된 전류와 기준값을 비교하는 단계; 및 검출된 전류와 기준값의 비교 결과에 따라 불량 검출 신호(BDP)를 출력하는 단계를 포함한다.
상기 저전위 전압은 상기 복수의 기준 전압 라인(RVL)을 통하여, 상기 고전위 전압이 공급되는 구동 전압 라인(DVL)에 저전위 전압을 인가한다.
상기 저전위 전압은 상기 고전위 전압이 인가되지 않는 구간에 인가된다.
상기 저전위 전압은 디스플레이 구동 기간에 인가되는 디스플레이 구동용 기준 전압(VpreR)이다.
상기 서브픽셀(SP)은 제 3 노드(N3)에 상기 고전위 전압이 인가되고, 상기 구동 전압 라인(DVL)을 통해 상기 발광 소자(ED)에 전류를 제공하는 구동 트랜지스터(DRT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 데이터 라인(DL) 사이에 전기적으로 연결된 스위칭 트랜지스터(SWT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 상기 기준 전압 라인(RVL) 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터(SENT); 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 1 노드(N1)와 제 2 노드(N2) 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 커패시터(Cst); 및 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 2 노드(N2)와 상기 기저 전압 노드(N(EVSS)) 사이에 연결되는 상기 발광 소자(ED)를 포함한다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법은 상기 저전위 전압에 의하여, 상기 센싱 트랜지스터(SENT) 및 상기 구동 트랜지스터(DRT)를 경유하여 상기 구동 트랜지스터(DRT)의 제 3 노드(N3)로 흐르는 제 1 전류 경로가 형성된다.
본 개시의 실시예들에 따른 디스플레이 구동 방법은 상기 구동 전압 라인(DVL)이 불량인 경우에, 상기 기저 전압 노드(N(EVSS))로부터 상기 그라운드(GND)로 흐르는 제 2 전류 경로가 형성된다.
상기 불량 검출 신호(BDP)를 출력하는 단계는 검출된 전류가 기준값 이상인 경우, 하이 레벨의 불량 검출 신호(BDP(High))를 출력하는 단계; 및 검출된 전류가 기준값보다 작은 경우, 로우 레벨의 불량 검출 신호(BDP(Low))를 출력하는 단계를 포함한다.
이상의 설명은 본 개시의 기술 사상을 예시적으로 설명한 것에 불과한 것으로서, 본 개시가 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 개시의 본질적인 특성에서 벗어나지 않는 범위에서 다양한 수정 및 변형이 가능할 것이다. 또한, 본 개시에 개시된 실시예들은 본 개시의 기술 사상을 한정하기 위한 것이 아니라 설명하기 위한 것이므로 이러한 실시예에 의하여 본 개시의 기술 사상의 범위가 한정되는 것은 아니다. 본 개시의 보호 범위는 아래의 청구범위에 의하여 해석되어야 하며, 그와 동등한 범위 내에 있는 모든 기술 사상은 본 개시의 권리 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.
100: 디스플레이 장치
110: 디스플레이 패널
120: 게이트 구동 회로
130: 데이터 구동 회로
136: 데이터 전압 출력 회로
140: 타이밍 컨트롤러
150: 파워 관리 회로
200: 호스트 시스템
310: 전류 검출 회로
312: 저항
314: 연산 증폭기
318: 레벨 검출 회로

Claims (17)

  1. 구동 전압 라인에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자를 포함하는 복수의 서브픽셀과, 상기 복수의 서브픽셀에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인이 배치된 디스플레이 패널;
    상기 복수의 기준 전압 라인을 통하여, 상기 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하도록 구성된 데이터 구동 회로;
    상기 발광 소자의 캐소드 전극에 연결된 기저 전압 노드를 제어하도록 구성된 기저 전압 스위칭 회로;
    상기 기저 전압 노드와 그라운드 사이에 흐르는 전류를 검출하도록 구성된 전류 검출 회로; 및
    상기 기저 전압 스위칭 회로를 제어하며, 상기 전류 검출 회로에서 검출된 전류에 따라 상기 구동 전압 라인에 대한 불량 검출 신호를 생성하도록 구성된 타이밍 컨트롤러를 포함하는 디스플레이 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    상기 구동 전압 라인에 고전위 전압이 인가되지 않는 구간에 인가되는 디스플레이 장치.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    상기 기저 전압 노드가 플로팅된 구간 동안 상기 구동 전압 라인에 인가되는 디스플레이 장치.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    디스플레이 구동 기간에 인가되는 디스플레이 구동용 기준 전압인 디스플레이 장치.
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 서브픽셀은
    제 3 노드에 상기 고전위 전압이 인가되고, 상기 구동 전압 라인을 통해 상기 발광 소자에 전류를 제공하는 구동 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 1 노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결된 스위칭 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 2 노드와 상기 기준 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 1 노드 및 제 2 노드 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 커패시터; 및
    상기 구동 트랜지스터의 제 2 노드와 상기 기저 전압 노드 사이에 연결되는 상기 발광 소자를 포함하는 디스플레이 장치.
  6. 제 5 항에 있어서,
    상기 저전위 전압에 의하여, 상기 센싱 트랜지스터 및 상기 구동 트랜지스터를 경유하여 상기 구동 트랜지스터의 제 3 노드로 흐르는 제 1 전류 경로가 형성되는 디스플레이 장치.
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 구동 전압 라인이 불량인 경우에, 상기 기저 전압 노드로부터 상기 그라운드로 흐르는 제 2 전류 경로가 형성되는 디스플레이 장치.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 전류 검출 회로는
    상기 기저 전압 노드와 상기 그라운드 사이에 연결된 저항;
    반전 입력 단자와 비반전 입력 단자가 상기 저항의 양단에 연결되어, 상기 저항을 통해 흐르는 전류에 비례하는 전압을 출력하도록 구성된 연산 증폭기; 및
    상기 연산 증폭기로부터 출력되는 값과 기준값의 비교 결과를 출력하도록 구성된 레벨 검출 회로를 포함하는 디스플레이 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 타이밍 컨트롤러는
    상기 레벨 검출 회로의 출력값에 따라, 상기 구동 전압 라인에 대한 불량 검출 신호를 생성하도록 구성된 디스플레이 장치.
  10. 구동 전압 라인에 공급되는 고전위 전압에 의해 발광되는 발광 소자를 포함하는 복수의 서브픽셀과, 상기 복수의 서브픽셀에 연결되어 구동 특성값을 검출하기 위한 복수의 기준 전압 라인이 배치된 디스플레이 패널을 포함하는 디스플레이 장치의 구동 방법에 있어서,
    고전위 전압 노드를 로우 레벨로 유지하는 단계;
    기저 전압 노드를 플로팅시키는 단계;
    상기 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하는 단계;
    상기 기저 전압 노드와 그라운드 사이의 전류를 검출하는 단계;
    검출된 전류와 기준값을 비교하는 단계; 및
    검출된 전류와 기준값의 비교 결과에 따라 불량 검출 신호를 출력하는 단계를 포함하는 디스플레이 구동 방법.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    상기 복수의 기준 전압 라인을 통하여, 상기 고전위 전압이 공급되는 구동 전압 라인에 저전위 전압을 인가하는 디스플레이 구동 방법.
  12. 제 10 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    상기 고전위 전압이 인가되지 않는 구간에 인가되는 디스플레이 구동 방법.
  13. 제 10 항에 있어서,
    상기 저전위 전압은
    디스플레이 구동 기간에 인가되는 디스플레이 구동용 기준 전압인 디스플레이 구동 방법.
  14. 제 10 항에 있어서,
    상기 서브픽셀은
    제 3 노드에 상기 고전위 전압이 인가되고, 상기 구동 전압 라인을 통해 상기 발광 소자에 전류를 제공하는 구동 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 1 노드와 데이터 라인 사이에 전기적으로 연결된 스위칭 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 2 노드와 상기 기준 전압 라인 사이에 전기적으로 연결된 센싱 트랜지스터;
    상기 구동 트랜지스터의 제 1 노드 및 제 2 노드 사이에 전기적으로 연결되는 스토리지 커패시터; 및
    상기 구동 트랜지스터의 제 2 노드와 상기 기저 전압 노드 사이에 연결되는 상기 발광 소자를 포함하는 디스플레이 구동 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    상기 저전위 전압에 의하여, 상기 센싱 트랜지스터 및 상기 구동 트랜지스터를 경유하여 상기 구동 트랜지스터의 제 3 노드로 흐르는 제 1 전류 경로가 형성되는 디스플레이 구동 방법.
  16. 제 10 항에 있어서,
    상기 구동 전압 라인이 불량인 경우에, 상기 기저 전압 노드로부터 상기 그라운드로 흐르는 제 2 전류 경로가 형성되는 디스플레이 구동 방법.
  17. 제 10 항에 있어서,
    상기 불량 검출 신호를 출력하는 단계는
    검출된 전류가 기준값 이상인 경우, 하이 레벨의 불량 검출 신호를 출력하는 단계; 및
    검출된 전류가 기준값보다 작은 경우, 로우 레벨의 불량 검출 신호를 출력하는 단계를 포함하는 디스플레이 구동 방법.
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