KR20080000313A - 액정표시장치 및 그의 리페어 방법 - Google Patents

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류호진
이득수
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엘지.필립스 엘시디 주식회사
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Abstract

본 발명은 액정표시장치의 리페어 과정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 병렬 구조로 형성된 다수의 커패시터들 중에서 적어도 하나의 커패시터를 대칭되게 절연시킴으로써 한 픽셀용 데이터전압으로 2개의 픽셀을 완전히 충전시킬 수 있도록 하는 액정표시장치의 리페어 방법을 제공하는 것으로, 액정표시장치가 디스플레이된 상태에서, 상기 다수의 픽셀들의 휘점불량을 검출하는 단계; 검출된 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀의 위치정보를 산출하는 단계; 상기 산출한 위치정보를 갖는 상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀 간에 연결된 상기 보상라인의 절연막을 제거시키는 단계; 상기 휘점불량 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계; 및 상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계를 포함한다.
액정표시장치, 리페어, 커패시터, 픽셀, 보상라인, 절연막

Description

액정표시장치 및 그의 리페어 방법{LCD and repair method thereof}
도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성도.
도 2는 종래의 액정표시장치의 픽셀들의 등가 회로도.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 픽셀들의 등가 회로도.
도 4는 본 발명에 이용되는 리페어 시스템의 모식도.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 리페어 방법에 대한 흐름도.
도 6은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 리페어 방법을 설명하기 위한 예시도.
* 도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명 *
100, 200: 액정표시장치 110: 액정표시패널
120: 데이터 구동부 130: 게이트 구동부
140: 감마기준전압 발생부 150: 백라이트 어셈블리
160: 인버터 170: 공통전압 발생부
180: 게이트구동전압 발생부 190: 타이밍 컨트롤러
210: 제 1 픽셀 220: 제 2 픽셀
300: 리페어 시스템 310: 휘점 검출기
320: 컴퓨터 330: 광원
본 발명은 액정표시장치에 관한 것으로, 특히 병렬 연결된 다수의 커패시터들이 형성된 픽셀들을 갖는 액정표시장치 및 그 액정표시장치의 리페어 과정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 병렬 구조로 형성된 다수의 커패시터들 중에서 적어도 하나의 커패시터를 절연시키기 위한 액정표시장치의 리페어 방법에 관한 것이다.
액정표시장치는 비디오신호에 따라 액정셀들의 광투과율을 조절하여 화상을 표시하며, 그리고 액정셀마다 스위칭소자가 형성된 액티브 매트릭스(Active Matrix) 타입의 액정표시장치는 스위칭소자의 능동적인 제어가 가능하기 때문에 동영상 구현에 유리하다. 이러한 액티브 매트릭스 타입의 액정표시장치에 사용되는 스위칭소자로는 주로 박막트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 한다)가 이용되고 있다. 이러한 액정표시장치의 구성을 도 1을 참조하여 살펴본다.
도 1은 일반적인 액정표시장치의 구성도이다.
도 1을 참조하면, 액정표시장치(100)는, 다수의 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 과 다수의 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 대응되게 교차되며 그 교차부에 액정셀(Clc)을 구동하기 위한 박막트랜지스터(TFT : Thin Film Transistor)가 형성된 액정표시패널(110)과, 액정표시패널(110)의 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 데이터를 공급하기 위한 데이터 구동부(120)와, 액정표시패널(110)의 게이트라인들(GL1 내지 GLn)에 스캔펄스를 공급하기 위한 게이트 구동부(130)와, 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)에 공급하기 위한 감마기준전압 발생부(140)와, 액정표시패널(110)에 광을 조사하기 위한 백라이트 어셈블리(150)와, 백라이트 어셈블리(150)에 교류 전압 및 전류를 인가하기 위한 인버터(160)와, 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)의 공통전극에 공급하기 위한 공통전압 발생부(170)와, 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생하여 게이트 구동부(130)에 공급하기 위한 게이트구동전압 발생부(180)와, 데이터 구동부(120) 및 게이트 구동부(130)를 제어하기 위한 타이밍 컨트롤러(190)를 구비한다.
액정표시패널(110)은 두 장의 유리기판 사이에 액정이 주입된다. 액정표시패널(110)의 하부 유리기판 상에는 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)이 직교된다. 데이터라인들(DL1 내지 DLm)과 게이트라인들(GL1 내지 GLn)의 교차부에는 TFT가 형성된다. TFT는 스캔펄스에 응답하여 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 상의 데이터를 액정셀(Clc)에 공급하게 된다. TFT의 게이트전극은 게이트라인들(GL1 내지 GLn)에 접속되며, TFT의 소스전극은 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 접속된다. 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패시터(Cst)에 접속된다.
TFT는 게이트라인들(GL1 내지 GLn) 중에서 자신의 게이트단자에 접속된 게이트라인을 경유하여 게이트단자에 공급되는 스캔펄스에 응답하여 턴-온된다. TFT의 턴-온시 데이터라인들(DL1 내지 DLm) 중에서 TFT의 드레인단자에 접속된 데이터라인 상의 비디오 데이터는 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급된다.
데이터 구동부(120)는 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 데이터구동 제어신호(DDC)에 응답하여 데이터를 데이터라인들(DL1 내지 DLm)에 공급하며, 그리고 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 샘플링하여 래치한 다음 감마기준전압 발생부(140)로부터 공급되는 감마기준전압을 기준으로 액정표시패널(110)의 액정셀(Clc)에서 계조를 표현할 수 있는 아날로그 데이터 전압으로 변환시켜 데이터라인들(DL1 내지 DLm)들에 공급한다.
게이트 구동부(130)는 타이밍 컨트롤러(190)로부터 공급되는 게이트구동 제어신호(GDC)와 게이트쉬프트클럭(GSC)에 응답하여 스캔펄스 즉, 게이트펄스를 순차적으로 발생하여 게이트라인(GL1 내지 GLn)들에 공급한다. 이때, 게이트 구동부(130)는 게이트구동전압 발생부(180)로부터 공급되는 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)에 따라 각각 스캔펄스의 하이레벨전압과 로우레벨전압을 결정한다.
감마기준전압 발생부(140)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 정극성 감마기준전압과 부극성 감마기준전압을 발생하여 데이터 구동부(120)로 출력한다.
백라이트 어셈블리(150)는 액정표시패널(110)의 후면에 배치되며, 인버터(160)로부터 공급되는 교류 전압과 전류에 의해 발광되어 광을 액정표시패 널(110)의 각 픽셀로 조사한다.
인버터(160)는 내부에 발생되는 구형파신호를 삼각파신호로 변화시킨 후 삼각파신호와 상기 시스템으로부터 공급되는 직류 전원전압(VCC)을 비교하여 비교결과에 비례하는 버스트디밍(Burst Dimming)신호를 발생한다. 이렇게 내부의 구형파신호에 따라 결정되는 버스트디밍신호가 발생되면, 인버터(160) 내에서 교류 전압과 전류의 발생을 제어하는 구동 IC(미도시)는 버스트디밍신호에 따라 백라이트 어셈블리(150)에 공급되는 교류 전압과 전류의 발생을 제어한다.
공통전압 발생부(170)는 고전위 전원전압(VDD)을 공급받아 공통전압(Vcom)을 발생하여 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 액정셀(Clc)들의 공통전극에 공급한다.
게이트구동전압 발생부(180)는 고전위 전원전압(VDD)을 인가받아 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)을 발생시켜 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 게이트구동전압 발생부(180)는 액정표시패널(110)의 각 픽셀에 구비된 TFT의 문턱전압 이상이 되는 게이트 하이전압(VGH)을 발생하고 TFT의 문턱전압 미만이 되는 게이트 로우전압(VGL)을 발생한다. 이렇게 발생된 게이트 하이전압(VGH)과 게이트 로우전압(VGL)은 각각 게이트 구동부(130)에 의해 발생되는 스캔펄스의 하이레베전압과 로우레벨전압을 결정하는데 이용된다.
타이밍 컨트롤러(190)는 텔레비젼 수상기나 컴퓨터용 모니터 등의 시스템에 구비된 영상처리용 스케일러(미도시)로부터 공급되는 디지털 비디오 데이터(RGB)를 데이터 구동부(120)에 공급하고, 또한 클럭신호(CLK)에 따라 수평/수직 동기신 호(H,V)를 이용하여 데이터 구동 제어신호(DDC)와 게이트 구동 제어신호(GDC)를 발생하여 각각 데이터 구동부(120)와 게이트 구동부(130)에 공급한다. 여기서, 데이터 구동 제어신호(DDC)는 소스쉬프트클럭(SSC), 소스스타트펄스(SSP), 극성제어신호(POL) 및 소스출력인에이블신호(SOE) 등을 포함하고, 게이트구동 제어신호(GDC)는 게이트스타트펄스(GSP) 및 게이트출력인에이블(GOE) 등을 포함한다.
이와 같은 구성을 갖는 액정표시장치의 각 픽셀의 등가 회로에 대하여 살펴보면 도 2에 도시된 바와 같다.
도 2는 종래의 액정표시장치의 픽셀들의 등가 회로도이다.
도 2를 참조하면, 종래의 액정표시장치의 픽셀은, TFT의 게이트전극은 게이트라인(GL)에 접속되고, 소스전극은 데이터라인(DL)에 접속되며, 그리고 TFT의 드레인전극은 액정셀(Clc)의 화소전극과 스토리지 캐패시터(Cst)의 일측 전극에 접속된다.
액정셀(Clc)의 공통전극에는 공통전압(Vcom)이 공급된다.
스토리지 캐패시터(Cst)는 TFT가 턴-온될 때 데이터라인(DL)으로부터 인가되는 데이터전압을 충전하여 액정셀(Clc)의 전압을 일정하게 유지하는 역할을 한다.
스캔펄스가 게이트라인(GL)에 인가되면 TFT는 턴-온(Turn-on)되어 소스전극과 드레인전극 사이의 채널을 형성하여 데이터라인(DL) 상의 전압을 액정셀(Clc)의 화소전극에 공급한다. 이 때 액정셀(Clc)의 액정분자들은 화소전극과 공통전극 사이의 전계에 의하여 배열이 바뀌면서 입사광을 변조하게 된다.
이와 같은 픽셀 구조를 갖는 종래의 액정표시장치의 경우, 휘점 불량 테스트 과정에서 하나 이상의 픽셀에 휘점 불량이 검출되면, 휘점 불량이 검출된 픽셀에서 박막트랜지스터(TFT)의 드레인과 스토리지 커패시터(Cst) 사이를 절연시킴과 아울러 박막트랜지스터(TFT)의 드레인과 액정셀(Clc) 사이를 절연시키고, 이와 동시에 휘점 불량이 발생된 픽셀의 스토리지 커패시터(Cst)와 액정셀(Clc)을 이웃한 픽셀의 박막트랜지스터(TFT)의 드레인에 전기적으로 연결시킴으로써, 휘점 불량이 발생된 픽셀의 스토리지 커패시터(Cst)와 액정셀(Clc)이 이웃한 픽셀의 박막트랜지스터(TFT)를 통해 전압을 공급받도록 한다. 이러한 경우, 하나의 픽셀에 공급된 데이터전압을 분배하여 2개의 픽셀에 공급함으로써, 이웃한 픽셀들의 충전전압이 감소되어 계조 표현이 정확히 이루어지지 않는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 본 발명의 목적은 병렬 연결된 다수의 커패시터들이 형성된 픽셀들을 갖는 액정표시장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 다수의 픽셀들에 각각 병렬 연결된 다수의 커패시터들을 형성시킴으로써, 휘점불량 리페어 공정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 형성된 다수의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 대칭되게 절연시킬 수 있도록 하는 액정표시장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 액정표시장치의 리페어 과정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 병렬 구조로 형성된 다수의 커패시터들 중에서 적어도 하나의 커패시 터를 대칭되게 절연시킬 수 있는 액정표시장치의 리페어 방법을 제공하는 데 있다.
본 발명의 목적은 액정표시장치의 리페어 과정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 병렬 구조로 형성된 다수의 커패시터들 중에서 적어도 하나의 커패시터를 대칭되게 절연시킴으로써, 한 픽셀용 데이터전압으로 2개의 픽셀을 완전히 충전시킬 수 있도록 하는 액정표시장치의 리페어 방법을 제공하는 데 있다.
이와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 액정표시장치의 리페어 방법은, 게이트라인과 데이터라인에 접속된 박막트랜지스터와, 일측이 상기 박막트랜지스터의 소스에 공통 접속되고 타측이 접지에 공통 접속되어 병렬로 연결된 적어도 2개의 커패시터들을 갖는 다수의 픽셀들을 구비하고, 상기 다수의 픽셀들 중에서 이웃한 픽셀들 간에는 절연막이 형성된 보상라인이 연결된 액정표시장치의 리페어 방법에 있어서, 상기 액정표시장치가 디스플레이된 상태에서, 상기 다수의 픽셀들의 휘점불량을 검출하는 단계; 검출된 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀의 위치정보를 산출하는 단계; 상기 산출한 위치정보를 갖는 상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀 간에 연결된 상기 보상라인의 절연막을 제거시키는 단계; 상기 휘점불량 픽셀에 형성된 박막트랜지스터를 절연시킴과 아울러 상기 휘점불량 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계; 및 상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계를 포함한다.
본 발명의 액정표시장치는, 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되어 형성되고 그 교차영역들에 하나씩 대응되게 형성된 픽셀들을 갖는 액정표시패널을 구비하며, 상기 픽셀들은 각각, 게이트라인에 접속된 게이트, 데이터라인에 접속된 드레인 및 소스를 갖는 박막트랜지스터; 일측이 상기 박막트랜지스터의 소스에 공통 접속되고 타측이 접지에 공통 접속되어 병렬로 연결된 적어도 2개의 커패시터들; 및 상기 박막트랜지스터의 소스에 접속된 화소전극과 공통전극 사이에 형성된 액정셀을 구비하며, 상기 픽셀들 중에서 이웃한 픽셀들 간에는 절연막이 형성된 보상라인이 연결되는 것을 특징으로 한다.
상기 보상라인은 이웃한 픽셀들의 각 박막트랜지스터의 소스 측에 접속되는 것을 특징으로 한다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명한다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 픽셀들의 등가 회로도로서, 다수의 픽셀들 중에서 이웃한 2개의 픽셀의 등가회로를 나타낸 것이다. 단, 본 발명의 액정표시장치(200)는, 도 1에 도시된 일반적인 액정표시장치(100)와 동일하게, 액정표시패널(110), 데이터 구동부(120), 게이트 구동부(130), 감마기준전압 발생부(140), 백라이트 어셈블리(150), 인버터(160), 공통전압 발생부(170), 게이트구동전압 발생부(180) 및 타이밍 컨트롤러(190)를 구비하지만, 이러한 구성 요소들을 도 3에서는 생략한다.
본 발명에 따른 액정표시장치(200)의 픽셀들은 동일한 등가회로를 갖지만, 다수의 픽셀들 중에서 이웃한 제 1 및 제 2 픽셀(210, 220)의 등가회로와 전기적 접속 관계를 도 3을 참조하여 살펴본다.
도 3을 참조하면, 제 1 픽셀(210)은, 데이터라인(DL1)과 게이트라인(GL1)에 접속된 제 1 박막트랜지스터(TFT1)와, 제 1 박막트랜지스터(TFT1)와 접속된 제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3)와, 제 1 박막트랜지스터(TFT1)와 접속된 제 1 액정셀(Clc1)로 이루어진다.
제 1 박막트랜지스터(TFT1)는 게이트라인(GL1)에 접속된 게이트, 데이터라인(DL1)에 접속된 드레인, 그리고 제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3)와 제 1 액정셀(Clc1)에 공통접속된 소스를 갖는다.
제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3)는 병렬로 접속되어 일측이 제 1 박막트랜지스터(TFT1)의 소스에 공통접속되고 타측이 접지에 공통접속된다.
제 1 액정셀(Clc1)은 제 1 박막트랜지스터(TFT1)의 소스에 접속된 화소전극과 공통전극 사이에 형성된다.
제 2 픽셀(220)은, 데이터라인(DL1)과 게이트라인(GL2)에 접속된 제 2 박막트랜지스터(TFT2)와, 제 2 박막트랜지스터(TFT2)와 접속된 제 4 내지 제 6 스토리지 커패시터(C4 내지 C6)와, 제 2 박막트랜지스터(TFT2)와 접속된 제 2 액정셀(Clc2)로 이루어진다.
제 2 박막트랜지스터(TFT2)는 게이트라인(GL2)에 접속된 게이트, 데이터라인(DL1)에 접속된 드레인, 그리고 제 4 내지 제 6 스토리지 커패시터(C4 내지 C6) 와 제 2 액정셀(Clc2)에 공통접속된 소스를 갖는다.
제 4 내지 제 6 스토리지 커패시터(C4 내지 C6)는 병렬로 접속되어 일측이 제 2 박막트랜지스터(TFT2)의 소스에 공통접속되고 타측이 접지에 공통접속된다.
제 2 액정셀(Clc2)은 제 1 박막트랜지스터(TFT1)의 소스에 접속된 화소전극과 공통전극 사이에 형성된다.
그리고, 제 1 픽셀(210)의 제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3) 및 제 1 액정셀(Clc1)과 제 2 픽셀(220)의 제 2 박막트랜지스터(TFT2)의 소스는 보상라인(CL1)으로 연결된다. 이러한 보상라인은 도 3에 도시된 두 픽셀 간에만 연결되는 것은 아니고, 본 발명의 액정표시장치(200)에 형성된 모든 픽셀들 중에서 이웃한 픽셀들 간에 모두 연결되는 것을 특징으로 한다.
특히, 보상라인(CL1) 상에는 절연막(미도시)이 형성되어 있기 때문에, 이 보상라인(CL1)에 의해 연결된 제 1 픽셀(210)의 제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3) 및 제 1 액정셀(Clc1)과 제 2 픽셀(220)의 제 2 박막트랜지스터(TFT2)의 소스는 전기적으로 절연 상태를 유지한다. 여기서, 보상라인에 절연막을 형성하는 기술은 공지공용 기술에 해당된다.
제 1 내지 제 6 스토리지 커패시터(C1 내지 C6)는 동일한 용량을 갖는 것을 특징으로 하며, 이들 중에 병렬 연결된 3개의 스토리지 커패시터들의 총 용량은 도 2에 도시된 스토리지 커패시터(Cst)의 용량과 동일한 것을 특징으로 한다.
본 발명의 액정표시장치(200)의 모든 픽셀들은 제 1 및 제 2 픽셀(210, 220)과 동일한 등가 회로를 갖는 것을 특징으로 한다.
한편, 본 발명은 각 픽셀에 3개의 커패시터들이 형성되도록 구현하고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 구현하기 위해서는 각 픽셀에 적어도 2개 이상의 커패시터들를 형성하면 된다.
상기한 바와 같은 등가 회로를 갖는 픽셀들이 형성된 본 발명의 액정표시장치의 리페어 방법을 도 4 내지 도 6을 참조하여 상세히 설명한다.
도 4는 본 발명에 이용되는 리페어 시스템의 모식도이다.
도 4를 참조하면, 리페어 시스템(300)은, 액정표시장치(200)의 휘점불량을 검출하기 위한 휘점 검출기(310)와, 휘점 검출기(310)에 의해 검출된 휘점불량 픽셀의 보상을 제어하기 위한 컴퓨터(320)와, 컴퓨터(320)의 제어에 따라 액정표시장치(200)의 픽셀들 중에서 휘점불량 픽셀에 레이저를 조사하기 위한 광원(330)을 구비한다.
휘점 검출기(310)는 디스플레이된 액정표시장치(200)의 휘도를 촬영하여 각 픽셀의 휘도를 검출한 후, 픽셀들 간의 휘도를 비교한다. 비교결과 휘도가 낮은 픽셀이 검출되면, 휘점 검출기(310)는 검출된 픽셀이 휘점불량인 것으로 판단하고 이 휘점불량 픽셀의 위치정보와 이웃한 픽셀의 위치정보를 산출하여 컴퓨터(320)로 공급한다.
컴퓨터(320)는 휘점 검출기(310)로부터 휘점불량 픽셀의 위치정보와 이웃한 픽셀의 위치정보가 입력되면 이 위치정보들이 나타내는 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 레이저를 조사하도록 광원(330)을 제어한다.
광원(330)은 컴퓨터(320)가 지시하는 위치의 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀을 연결하는 보상라인에 레이저를 조사하여 보상라인에 형성된 상기 절연막을 제거하며, 그리고 컴퓨터(320)가 지시하는 위치의 휘점불량 픽셀에 레이저를 조사하여 휘점불량 픽셀에 형성된 박막트랜지스터와 3개 커패시터들을 부분적으로 절연시킨다. 또한, 광원(330)은 컴퓨터(320)의 지시에 따라 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 레이저를 조사하여 이웃한 픽셀에 형성된 3개의 커패시터들을 부분적으로 절연시킨다.
도 5는 본 발명의 실시예에 따른 액정표시장치의 리페어 방법에 대한 흐름도이다.
도 5를 참조하면, 먼저 휘점 검사 대상인 액정표시장치(200)를 디스플레이시킨 상태에서(S101), 휘점 검출기(310)는 디스플레이된 액정표시장치(200)의 휘도를 촬영하여 각 픽셀의 휘도를 검출한다(S102).
그리고, 휘점 검출기(310)는 검출한 픽셀들 간의 휘도를 비교하여 휘도가 낮은 픽셀이 검출되면, 이 픽셀이 휘점불량인 것으로 판단한다(S103). 이때, 휘점 검출기(310)는 검출된 휘점불량 픽셀의 위치정보와 이웃한 픽셀의 위치정보를 산출하여 컴퓨터(320)로 공급함과 동시에 휘점불량 픽셀정보를 공급한다(S104).
컴퓨터(320)는 휘점 검출기(310)로부터 휘점불량 픽셀의 위치정보와 이웃한 픽셀의 위치정보가 입력되면 이 위치의 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 레이저를 조사하도록 광원(330)을 제어한다(S105).
이렇게 컴퓨터(320)에 의해 휘점불량 픽셀의 리페어 조절이 이루어지고 있는 상태에서, 광원(330)은 컴퓨터(320)가 지시하는 위치의 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽 셀 사이에 접속된 보상라인에 레이저를 조사하여 상기 절연막을 제거시켜 보상라인을 전기적으로 도통시킨다(S106). 그리고, 광원(330)은 컴퓨터(320)가 지시하는 휘점불량 픽셀에 형성된 박막트래지스터 및 3개의 커패시터들에 선택적으로 레이저를 조사하여 박막트랜지스터와 커패시터들 사이를 절연시킴과 아울러 3개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터와 접지 사이를 절연시킨다(S107). 또한, 광원(330)은 컴퓨터(320)가 지시하는 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 형성된 3개의 커패시터들에 선택적으로 레이저를 조사하여 3개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터와 접지 사이를 절연시킨다(S108).
예를 들어 제 1 픽셀(210)이 휘점불량으로 검출되면, 보상라인 리페어 과정(S106)에서, 광원(330)은 이웃한 제 1 및 제 2 픽셀(210, 220)을 연결하는 보상라인(CL1)에 레이저를 조사하여 보상라인(CL1)에 형성된 상기 절연막을 제거시킴으로써, 제 1 픽셀(210)의 제 1 내지 제 3 스토리지 커패시터(C1 내지 C3) 및 제 1 액정셀(Clc1)과 제 2 픽셀(220)의 제 2 박막트랜지스터(TFT2)의 소스를 전기적으로 접속시킨다. 이렇게 보상라인이 리페어된 후 수행되는 휘점불량 픽셀의 리페어 과정(S107)에서, 도 6에 도시된 바와 같이 광원(330)은 제 1 픽셀(210)의 제 1 및 제 3 스토리지 커패시터(C1, C3)와 접지 사이에 레이저를 조사하여 전기적으로 절연시킨다. 휘점불량 픽셀이 리페어된 후 이웃한 픽셀을 리페어하는 과정(S108)에서, 도 6에 보여지는 바와 같이 광원(330)은 제 2 픽셀(220)의 제 4 및 제 6 스토리지 커패시터(C4, C6)와 접지 사이에 레이저를 조사하여 전기적으로 절연시킨다. 여기서, 본 발명은 리페어 대상인 픽셀에 형성된 3개의 커패시터들 중에서 2개의 커패시터 들을 전기적으로 절연시키고 있으나, 이에 한정되는 것은 아니고 3개의 커패시터들 중에 하나의 커패시터만을 절연시킬 수도 있다.
이와 같이 휘점불량 픽셀의 리페어 공정에서 3개의 커패시터들 중에 2개의 커패시터들을 절연시키게 되면, 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀의 커패시터들의 총용량이 도 2에 도시된 스토리지 커패시터(Cst)의 용량보다 적기 때문에, 본 발명은 한 픽셀용 데이터전압만으로도 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀의 커패시터들 중에 절연되지 않은 커패시터들을 완전히 충전시킬 수 있도록 한다.
이상에서 설명한 바와 같이 본 발명은, 액정표시장치의 리페어 과정에서 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 각각 병렬 구조로 형성된 다수의 커패시터들 중에서 적어도 하나의 커패시터를 대칭되게 절연시킴으로써, 한 픽셀용 데이터전압으로 2개의 픽셀을 완전히 충전시킬 수 있도록 한다.
본 발명의 기술사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며, 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술사상의 범위에서 다양한 실시예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.

Claims (9)

  1. 게이트라인과 데이터라인에 접속된 박막트랜지스터와, 일측이 상기 박막트랜지스터의 소스에 공통 접속되고 타측이 접지에 공통 접속되어 병렬로 연결된 적어도 2개의 커패시터들을 갖는 다수의 픽셀들을 구비하고, 상기 다수의 픽셀들 중에서 이웃한 픽셀들 간에는 절연막이 형성된 보상라인이 연결된 액정표시장치의 리페어 방법에 있어서,
    상기 액정표시장치가 디스플레이된 상태에서, 상기 다수의 픽셀들의 휘점불량을 검출하는 단계;
    검출된 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀의 위치정보를 산출하는 단계;
    상기 산출한 위치정보를 갖는 상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀 간에 연결된 상기 보상라인의 절연막을 제거시키는 단계;
    상기 휘점불량 픽셀에 형성된 박막트랜지스터를 절연시킴과 아울러 상기 휘점불량 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계; 및
    상기 휘점불량 픽셀과 이웃한 픽셀에 형성된 적어도 2개의 커패시터들 중에 적어도 하나의 커패시터를 절연시키는 단계
    를 포함하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 휘점불량 검출단계는,
    상기 액정표시장치의 휘도를 촬영하여 각 픽셀의 휘도를 검출하는 단계; 및
    검출한 픽셀들 간의 휘도를 비교하여 휘도가 낮은 픽셀을 휘점불량 픽셀로 판단하는 단계
    를 포함하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 절연막 제거단계에서, 레이저를 조사하여 상기 보상라인의 절연막을 제거하는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 휘점불량 픽셀의 커패시터를 절연시키는 단계에서, 레이저를 조사하여 커패시터를 절연시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    커패시터와 접지 사이를 절연시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 이웃한 픽셀의 커패시터를 절연시키는 단계에서, 레이저를 조사하여 커 패시터를 절연시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    커패시터와 접지 사이를 절연시키는 것을 특징으로 하는 액정표시장치의 리페어 방법.
  8. 다수의 데이터라인들과 다수의 게이트라인들이 교차되어 형성되고 그 교차영역들에 하나씩 대응되게 형성된 픽셀들을 갖는 액정표시패널을 구비하며,
    상기 픽셀들은 각각,
    게이트라인에 접속된 게이트, 데이터라인에 접속된 드레인 및 소스를 갖는 박막트랜지스터;
    일측이 상기 박막트랜지스터의 소스에 공통 접속되고 타측이 접지에 공통 접속되어 병렬로 연결된 적어도 2개의 커패시터들; 및
    상기 박막트랜지스터의 소스에 접속된 화소전극과 공통전극 사이에 형성된 액정셀을 구비하며,
    상기 픽셀들 중에서 이웃한 픽셀들 간에는 절연막이 형성된 보상라인이 연결되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 보상라인은 이웃한 픽셀들의 각 박막트랜지스터의 소스 측에 접속되는 것을 특징으로 하는 액정표시장치.
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