KR20040010160A - 디스플레이 패널용 표시 검사 방법 및 표시 검사 장치 - Google Patents
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Abstract
디스플레이 패널의 라인 결함을 검사하는 표시 검사 방법은 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 발광시키는 단계, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 CCD 카메라를 사용하여 검출하는 단계, 상기 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행에 대응하는 행 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 검출하는 단계, 및 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
Description
본 발명은 디스플레이 셀을 매트릭스 형태로 배열하여 형성된 디스플레이 패널 전극의 회로 개방 여부를 검사하는 표시 검사 방법, 및 전극 사이의 단락을 검사하는 표시 검사 방법에 관한 것이다.
디스플레이 셀을 매트릭스 형태로 배열하여 형성된 플라스마 디스플레이 패널의 전극 회로 개방 여부를 검사하는 종래의 방법에서는, 전체 표면 디스플레이 패턴을 사용하고, 디스플레이 패턴을 이미지 데이터로서 취하며, 이미지 분석을 통하여 결함을 검출하는 방법을 채택하였다. 도 1(A) 또는 도 2(A)에 도시된 바와 같이 플라스마 디스플레이 패널(30)의 전극에 회로가 개방된 경우, 발광하지 않는 부분이 디스플레이 라인에 발생한다. 따라서, 라인 결함은 개방 회로를 갖는 디스플레이 라인의 계조와 디스플레이 라인의 상하측에 각각 위치된 두 개의 인접하는 화소의 계조를 비교하고, 개방 회로를 갖는 디스플레이 라인의 계조와 디스플레이 라인의 좌우측에 각각 위치된 두 개의 인접하는 화소의 계조를 비교함으로써 용이하게 추출될 수 있다.
복수의 행 전극, 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 열 전극, 및 상기 행 전극과 열 전극의 교차점에 형성된 R(적색), G(녹색) 및 B(흑색)의 디스플레이 셀을 포함하는 디스플레이 패널이 공지되어 있다. 상기 디스플레이 패널에서는, 인접하는 전극 사이에 단락이 검출되었을 때 단색 패턴(R, G 또는 B 패턴)이 전체 디스플레이 패널 상에 표시된다. 이 경우, 인접하는 전극 사이가 단락된 경우, 다른 색의 디스플레이 셀이 발광한다. 따라서, 전극 사이의 단락이 검출될 수 있다.
도 1(B)에 도시된 바와 같이 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 개방 회로를 갖는 표시 라인이 있는 경우, 혹은 도 2(B)에 도시된 바와 같이 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 개방 회로를 갖는 표시 라인이 있는 경우, 개방 회로로 인한 라인 결함 부분의 계조는 표시 영역 외측의 계조와 거의 동일하므로 전술한 방법을 사용하여 개방 회로를 검출하는 것은 곤란하다. 한편, 라인 결함 부분의 계조와 표시 영역 내 하나의 인접하는 화소의 계조를 비교하려는 경우, 표시 영역 내의 수평 상태를 엄격하게 유지하는 것이 필요하여 표시 영역의 일그러짐이 허용되지 않는다. 따라서, 상기 방법을 채택하는 것이 또한 곤란하다.
본 발명의 목적은 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단 혹은 표시 영역내의 좌측 말단 또는 우측 말단의 라인 결함을 확실하게 검출할 수 있는, 디스플레이 패널용 표시 검사 방법 및 표시 검사 장치를 제공하는 것이다.
열 전극이 디스플레이 패널의 수직 방향으로 분할된 디스플레이 패널 유형이있다. 이러한 유형의 디스플레이 패널에 있어서, 도 3에 도시된 바와 같이 수직 방향으로 분할된 열 전극 그룹(101, 102) 내의 열 전극 사이의 단락으로 인하여 정상적인 표시를 방해하는 라인 결함이 생긴다. 그러나, 단색 패턴을 전체 디스플레이 패널 상에 표시하는 전술한 검출 방법을 채택한 경우, 상하측 열 전극 사이의 단락은 표시에 영향을 미치지 않는다. 따라서, 상하측 열 전극 사이의 단락이 검출될 수 없다.
본 발명의 다른 목적은 서로 분리되도록 제공된 상하측 열 전극 사이의 단락을 검출할 수 있는, 디스플레이 패널용 표시 검사 방법 및 표시 검사 장치를 제공하는 것이다.
또한, 플라스마 디스플레이 패널의 인접하는 행 전극 사이에 단락이 발생한 경우, 어두운 라인이 전체 표면 디스플레이 패널에 나타나지 않고 행 전극 사이의 단락이 검출될 수 없다는 문제가 있다.
본 발명의 다른 목적은 행 전극 사이의 단락을 확실하게 검출할 수 있는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법 및 표시 검사 장치를 제공하는 것이다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에는 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하고, 상기 표시 검사 방법은 상기 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 발광시키는 단계, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되며 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 상기 상측 말단 또는 상기 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행에 대응하는 행 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 방법은 상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 단계, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되며 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이고 서로 상이하며 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 디스플레이 패널은 상기 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 방법은 상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 단계, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되며 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며, 상기 디스플레이 패널은 분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 한 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되고, 상기 표시 검사 방법은 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 단계, 비발광 분할 화면으로 작용하는 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 밝은 선이 검출된 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이며 서로 상이하고 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며, 상기 디스플레이 패널은 분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되고, 상기 표시 검사 방법은 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 단계, 비발광 분할 화면으로 작용하는 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 밝은 선이 검출된 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 방법은 상기 표시 영역 내의 디스플레이 셀을 지그재그 그리드 형태로 발광시키는 단계, 상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계, 행 방향의 어두운 라인을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및 상기 어두운 라인이 검출된 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 장치는 상기 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 발광시키는 발광 소자, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되며 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 상기 상측 말단 또는 상기 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행에 대응하는 행 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 이미지 센서로부터 출력된 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 장치는 상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 발광 소자, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이고 서로 상이하며 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 디스플레이 패널은 상기 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 장치는 상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 발광 소자, 발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며, 상기 디스플레이 패널은 분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되고, 상기 표시 검사 장치는 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 발광 소자, 비발광 분할 화면으로 작용하는 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선이 검출된 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며,상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이며 서로 상이하고 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며, 상기 디스플레이 패널은 분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되고, 상기 표시 검사 장치는 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 발광 소자, 비발광 분할 화면으로 작용하는 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선이 검출된 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
본 발명의 상기 목적은 디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 의하여 달성될 수 있으며, 상기 디스플레이 패널은 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 패널은 표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하며, 상기 표시 검사 장치는 상기 표시 영역 내의 디스플레이 셀의 열을 지그재그 그리드 형태로 발광시키는 발광 소자, 상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및 행 방향의 어두운 라인을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 어두운 라인이 검출된 디스플레이 셀에 대응하는 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함한다.
도 1(A) 및 도 1(B)는 종래의 검사 방법의 도면으로서, 도 1(A)는 중간부의 개방 회로의 도면이고 도 1(B)는 말단부의 개방 회로의 도면이다.
도 2(A) 및 도 2(B)는 종래의 검사 방법의 도면으로서, 도 2(A)는 중간부의 개방 회로의 도면이고 도 2(B)는 말단부의 개방 회로의 도면이다.
도 3은 종래의 검사 방법의 도면이다.
도 4는 플라스마 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 사용된 검사 장치의 구성을 도시한 블록도이다.
도 5는 검사하려는 플라스마 디스플레이 패널의 전극 배열의 도면이다.
도 6은 필드 구성의 도면이다.
도 7은 구동 펄스를 도시한 타이밍 차트이다.
도 8은 플라스마 디스플레이 패널이 상단 영역 및 하단 영역으로 분할된 예를 도시하는 도면이다.
도 9(A), 도 9(B), 도 9(C) 및 도 9(D)는 회로 개방 여부에 따라 발광되는 여러 가지 발광 패턴을 도시하는 도면으로서, 도 9(A)는 개방되지 않은 경우의 도면이고, 도 9(B)는 하부 말단의 디스플레이 셀이 개방된 경우의 도면이며, 도 9(C)는 상측 말단 및 저면 말단의 각각의 디스플레이 셀의 행이 개방된 경우의 도면이고, 도 9(D)는 상측 말단 및 저면 말단의 각각의 디스플레이 셀의 행이 개방된 경우의 도면이다.
도 10은 검사 시의 실행 과정을 도시하는 흐름도이다.
도 11(A), 도 11(B), 도 11(C) 및 도 11(D)는 회로 개방 여부에 따라 발광되는 여러 가지 발광 패턴을 도시하는 도면으로서, 도 11(A)는 개방되지 않은 경우의 도면이고, 도 11(B), 도 11(C) 및 도 11(D)는 우측 말단의 디스플레이 셀의 행이 개방된 경우의 도면이다.
도 12는 검사 시의 실행 과정을 도시하는 흐름도이다.
도 13은 검사하려는 플라스마 디스플레이 패널의 전극 배열을 도시하는 도면이다.
도 14(A), 도 14(B) 및 도 14(C)는 열 전극 사이의 회로 단락 여부에 따라 발광하는 발광 패턴을 도시하는 도면으로서, 도 14(A)는 열 전극 사이가 단락되지 않은 경우의 도면이고, 도 14(B)는 열 전극 사이가 단락된 경우의 도면이며, 도 14(C)는 열 전극 사이의 단락부를 도시하는 도면이다.
도 15는 검사 시의 실행 과정을 도시하는 흐름도이다.
도 16(A) 및 도 16(B)는 행 전극 사이가 단락되지 않은 경우에 발광되는 발광 패턴을 도시하는 도면으로서, 도 16(A)는 각각의 셀이 발광하는 가의 여부를 도시하는 도면이고, 도 16(B)는 지그재그 그리드 패턴을 도시하는 도면이다.
도 17(A), 도 17(B) 및 도 17(C)는 행 전극 사이가 단락된 경우에 발광하는발광 패턴을 도시하는 도면으로서, 도 17(A)는 전체 표시 영역을 도시하는 도면이고, 도 17(B)는 도 17(A)의 일부분의 확대도이며, 도 17(C)는 행 전극 사이의 단락부를 도시하는 도면이다.
도 18은 검사 시의 실행 과정을 도시하는 흐름도이다.
(제1 실시예)
다음에, 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법의 실시예를 도 4 내지 도 10을 참조하여 설명한다.
도 4는 플라스마 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 사용된 검사 장치의 구성이 도시된 블록도이다. 도 5는 검사하려는 플라스마 디스플레이 패널(30)의 전극 배열이 도시된 도면이다.
도 4에 도시된 바와 같이, 검사 장치(100)는 검사 시 플라스마 디스플레이 패널을 조명하는 검사기 몸체(1), 플라스마 디스플레이 패널(30)의 표시면 화상을 픽업하는 CCD 카메라(2), CCD 카메라(2)로부터 비디오 신호를 수신하는 화상 처리 장치(3), 및 검사기 몸체(1), CCD 카메라(2) 및 화상 처리 장치(3)를 제어하는 제어 장치(4)를 포함한다. 화상 처리 장치(3)는 후술하는 발광 패턴을 분석하기 위하여 화상 처리를 실행하는 화상 처리부(3a), R, G 및 B 각각에 대하여 CCD 카메라(2)로부터 공급된 화상 데이터를 기억하는 화상 처리 메모리(3b), 및 화상 처리 대상의 데이터를 일시적으로 기억하는 화상 처리 대상 메모리(3c)를 포함한다.
도 5에 도시된 바와 같이, 검사기 몸체(1)에는 플라스마 디스플레이 패널(30)의 전극에 연결된 어드레스 드라이버(11), X 서스테인 드라이버(12), 및 Y 서스테인 드라이버(13)가 제공된다.
도 5에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(30)은 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r, D2g, D2b ... Dmr, Dmg 및 Dmb), 및 열 전극과 직각을 이루는 방향으로 제공된 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)을 포함한다. 도 5에 도시된 바와 같이, 열 전극은 전술한 순서대로 R 셀, G 셀 및 B 셀과 반복해서 결합되도록 할당된다. 표시 영역(30a)에 있어서, R 셀, G 셀 및 B 셀은 열 전극과 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)의 교차점에 각각 형성된다. 도 5에 도시된 바와 같이, 연속해서 배치된 R 셀, G 셀 및 B 셀은 하나의 세트로 취급되고, 하나의 화소는 이 세트로 형성된다. 표시 영역(30a) 외측에는 여분의 표시 영역(30b)이 제공된다.
도 5에 도시된 바와 같이, 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)은 서로 대향하여 연장되도록 빗 형태로 번갈아 배치된다. 행 전극(X1 내지 Xn) 중 하나 및 행 전극(Y1 내지 Yn) 중 하나는 하나의 디스플레이 셀의 행으로 할당된다. 하나의 셀 내에서, 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)은 서로 대향하도록 평행으로 배치된다.
도 5에 도시된 바와 같이, 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r ... Dmb)은 어드레스 드라이버(11)에 연결되고, 행 전극(X1 내지 Xn)은 X 서스테인 드라이버(12)에 연결되며 행 전극(Y1 내지 Yn)은 Y 서스테인 드라이버(13)에 연결된다.
다음에, 플라스마 디스플레이 패널(30)의 구동 방법에 대하여 설명한다.
플라스마 디스플레이 패널(30)을 구동하는 구간(interval)으로서 작용하는 하나의 필드가 복수의 서브필드(SF1 내지 SFN)로 형성된다. 도 6에 도시된 바와 같이, 셀이 켜지도록 선택하는 어드레스 구간 및 어드레스 구간에서 선택된 셀이 소정 시간 동안 켜진 상태가 계속되도록 하는 서스테인 구간이 각각의 서브필드에 제공된다. 이전의 필드에 켜진 상태를 리셋하는 리셋 구간이 제1 서브필드인 SF1의 헤드부에 추가로 제공된다. 상기 리셋 구간에서, 모든 셀은 셀(벽 전하가 내부에 형성된 셀)을 켜도록 리셋되거나 또는 셀(벽 전하가 내부에 형성되지 않은 셀)을 끄도록 리셋된다. 셀이 켜지도록 리셋되는 경우, 소정의 셀은 셀을 끄도록 전환된다. 셀이 꺼지도록 리셋되는 경우, 소정의 셀은 후속하는 어드레스 구간에서 셀을 끄도록 전환된다. 서스테인 구간은 서브필드(SF1, SF2, ... SFN) 순서대로 단계적으로 더 길어진다. 계속해서 켜진 상태로 있는 서브필드의 개수를 변경시킴으로써 소정의 계조 표시가 가능할 수 있다.
도 7에 도시된 각각의 서브필드 어드레스 구간에 있어서, 이 라인에서 저 라인으로 어드레스 주사된다. 즉, 주사 펄스가 제1 라인을 형성하는 행 전극(Y1)에 가해지는 동시에, 제1 라인 상의 셀에 대응하는 어드레스 데이터에 따른 데이터 펄스(DP1)가 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r ... Dmb)에 가해진다. 이어서, 주사 펄스가 제2 라인을 형성하는 행 전극(Y2)에 가해지는 동시에, 제2 라인 상의 셀에 대응하는 어드레스 데이터에 따른 데이터 펄스(DP2)가 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r ...Dmb)에 가해진다. 주사 펄스 및 데이터 펄스는 제3 라인 및 후속하는 라인 각각의 셀에 동일한 방식으로 동시에 가해진다. 최종적으로, 주사 펄스가 n번째 라인을 형성하는 행 전극(Yn)에 가해지는 동시에, n번째 라인의 셀에 대응하는 어드레스 데이터에 따른 데이터 펄스(DPn)가 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r ... Dmb)에 가해진다. 어드레스 구간에 있어서, 소정의 셀은 켜진 셀에서 끄진 셀로 전환되거나, 또는 끄진 셀에서 켜진 셀로 전환된다.
어드레스 주사가 이렇게 종료된 경우, 서브필드 내의 각각의 셀은 켜진 셀 또는 끄진 셀 중 어느 하나로 설정된다. 후속하는 서스테인 구간에 있어서, 서스테인 펄스가 가해질 때마다 단지 켜진 셀만 반복해서 발광한다. 서스테인 구간에 있어서, X 서스테인 펄스 및 Y 서스테인 펄스는 도 7에 도시된 소정의 타이밍으로 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)에 각각 반복해서 가해진다. 최종 서브필드(SFN)에는, 모든 셀을 끄진 셀로 설정하는 소거 구간이 제공된다.
전술한 필드를 반복함으로써, 동화상을 사용하여 플라스마 디스플레이 패널(30) 상에 계조 표시를 할 수 있다.
도 8은 플라스마 디스플레이 패널이 상단 영역 및 하단 영역으로 분할되고, 각 영역 내의 전극이 서로 분리되어 있는 예가 도시된 도면이다. 이 경우, 도 8에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(31)의 전극에 연결된 어드레스 드라이버(11a, 11b), X 서스테인 드라이버(12a, 12b), 및 Y 서스테인 드라이버(13a, 13b)가 검사기 몸체에 제공된다.
도 8에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(31)은 열 전극(D1r,D1g, D1b, D2r, D2g, D2b ... Dmr, Dmg 및 Dmb), 및 열 전극과 직각을 이루는 방향으로 제공된 행 전극(X1 내지 Xi)과 행 전극(Y1 내지 Yi), 열 전극(DA1r, DA1g, DA1b, DA2r, DA2g, DA2b ... DAmr, DAmg, DAmb), 및 열 전극과 직각을 이루는 방향으로 제공된 행 전극(Xi+1 내지 Xn)과 행 전극(Yi+1 내지 Yn)을 포함한다. 각각의 열 전극은 전술한 순서대로 R 셀, G 셀 및 B 셀과 반복해서 결합되도록 할당된다. R 셀, G 셀 및 B 셀은 열 전극, 및 행 전극(X1 내지 Xn)과 행 전극(Y1 내지 Yn)의 교차점에 각각 형성된다. 도 5에 도시된 경우와 동일한 방식으로, 연속해서 배치된 R 셀, G 셀 및 B 셀은 하나의 세트로 취급되고, 하나의 화소는 이 세트로 형성된다.
열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r, D2g, D2b ... Dmr, Dmg, Dmb)은 어드레스 드라이버(11a)에 연결된다. 열 전극(DA1r, DA1g, DA1b, DA2r, DA2g, DA2b ... DAmr, DAmg DAmb)은 어드레스 드라이버(11b)에 연결된다. 행 전극(X1 내지 Xi)은 X 서스테인 드라이버(12a)에 연결된다. 행 전극(Y1 내지 Yi)은 Y 서스테인 드라이버(13a)에 연결된다. 행 전극(Xi+1 내지 Xn)은 X 서스테인 드라이버(12b)에 연결된다. 행 전극(Yi+1 내지 Yn)은 Y 서스테인 드라이버(13b)에 연결된다.
플라스마 디스플레이 패널(31)의 구동 방법은 전술한 플라스마 디스플레이 패널의 구동 방법과 유사하다.
다음에, 플라스마 디스플레이 패널(30)의 상측 말단부 및 하측 말단부를 검사 장치(100)를 사용하여 검사하는 절차에 대하여 설명한다. 상측 영역 및 하측 영역으로 분할된 플라스마 디스플레이 패널(31)의 검사 또한 동일한 방식으로 실행될 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(30)은 검사기 몸체(1)에 세트된다. 상측 말단에 있는 하나의 디스플레이 셀의 행 및 하측 말단에 있는 하나의 디스플레이 셀의 행, 즉 플라스마 디스플레이 패널(30)의 표시 영역 내 총 두 개의 디스플레이 셀의 행을 발광시킨다. 상기 디스플레이 셀의 행 사이에 끼워진 중간 영역은 흑색을 표시하도록 한다(즉, 발광하지 않는다). 상기와 같은 패턴으로 표시된다. 도 9(A), 도 9(B), 도 9(C) 및 도 9(D)는 회로의 개방 여부에 따른 여러 가지 발광 패턴의 도면이다. 도 9(A)는 회로가 개방된 경우의 도면이며, 상측 말단 및 저면 말단의 두 개의 디스플레이 셀의 행에 대응하는 수평 스트라이프로 된 두 개의 밝은 라인이 있다. 도 9(A)에 도시된 패턴이 개방 회로를 검출하는 바로 그 검출 패턴이다. 도 9(B)는 저면 말단의 디스플레이 셀의 행에 회로가 개방된 경우의 도면이며, 저면 말단의 밝은 라인은 중간에서 끊어진다. 도 9(C)는 상측 말단 및 저면 말단의 각각의 디스플레이 셀의 행에 회로가 개방된 경우의 도면이며, 상측 말단 및 저면 말단의 각각의 밝은 라인은 중간에서 끊어진다. 도 9(D)는 상측 말단 및 저면 말단의 각각의 디스플레이 셀의 행에 회로가 개방된 경우의 도면이며, 상측 말단에는 밝은 라인이 없는 반면 저면 말단의 밝은 라인은 중간에서 끊어진다.
이러한 플라스마 디스플레이 패널(30)의 발광 패턴은 CCD 카메라(2)에 촬영된다. 화상 처리 장치(3)는 발광 패턴을 CCD 카메라(2)로부터 공급된 화상 데이터에 따라 분석한다.
도 10은 검사 시 실행되는 절차의 흐름도이다. 도 10에 도시된 절차는 제어 장치(4)에 의한 제어에 따라 실행된다.
도 10의 단계(S1)에서, 전술한 검출 패턴을 표시하도록 구동 펄스가 검사기 몸체(1)에 의하여 플라스마 디스플레이 패널(30)에 공급된다. 따라서, 플라스마 디스플레이 패널(30)은, 예를 들면, 도 9(A) 내지 도 9(D)에 도시된 바와 같이, 발광 패턴으로 켜진다. 또한, 개방 회로 개수의 값은 0으로 초기화된다. 이어서, 발광 패턴의 화상이 CCD 카메라(2)에 의하여 촬영된다(단계 S2). 촬영된 화상의 화상 데이터는 CCD 카메라(2)로부터 화상 처리 장치(3)의 화상 처리 메모리(3b)로 전달된다(단계 S3). 여기서, 3가지 색 R, G 및 B의 데이터는 별개로 전달된다.
이어서, 화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터 중에서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 상측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 포함하는 영역을 화상 처리 영역으로 설정한다(단계 S4). 상기 영역은 전술한 디스플레이 셀의 행에 근접하여 위치되고 표시 영역에 위치되며, 발광하지 않는 디스플레이 셀(즉, 흑색 표시 영역의 디스플레이 셀), 및 표시 영역 외측에 위치된 부분(즉, 디스플레이 셀의 행 상측에 위치된 부분)을 포함하도록 설정된다. 이어서, 미리 설정된 영역의 화상 데이터는 화상 처리 대상 메모리(3c) 내에 기억된다(단계 S5).
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c) 내에 기억된 화상 데이터에 따라 상측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행으로부터 발광 셀의 행의 추출 처리를 실행한다(단계 S6). 이어서, 상측 말단에 위치된 발광 셀의 행이 발광 셀의 행의 추출 처리 시에 추출되었는 가의 여부가 판정된다. 추출된 경우, 처리 과정은 단계(S8)로 진행된다. 추출되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S10)로 진행된다. 단계(S8)에서, 추출된 발광 셀의 행의 길이를 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이와 비교한다. 이어서, 수평 길이를 갖는 발광 셀의 행이 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 가의 여부가 판정된다. 이러한 발광 셀의 행이 있는 것으로 판정된 경우, 처리 과정은 단계(S10)로 진행된다. 이러한 발광 셀의 행이 없는 것으로 판정된 경우, 처리 과정은 단계(S9)로 진행된다. 단계(S10)에서, 행 전극의 개방 회로 개수에 1을 가산하고, 처리 과정은 단계(S11)로 진행된다.
화상 처리 메모리(3b)에 저장된 화상 데이터 중에서, 플라스마 디스플레이 패널(30)의 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 포함하는 영역을 단계(S11)에서 화상 처리 영역으로 설정한다. 상기 영역은 발광하지 않고 전술한 디스플레이 셀의 행에 근접하여 위치된 표시 영역 내의 디스플레이 셀(즉, 흑색 표시 영역 내의 디스플레이 셀) 및 표시 영역 외측에 위치된 부분(즉, 디스플레이 셀의 행 상측에 위치된 부분)을 포함하도록 설정된다. 이어서, 미리 설정된 영역의 화상 데이터는 화상 처리 대상 메모리(3c) 내에 기억된다(단계 S12).
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된 화상 데이터에 따라 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행으로부터 발광 셀의 행을 추출 처리한다(단계 S13). 이어서, 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행이 발광 셀의 행 추출 처리 중에 추출되었는 가의 여부를 판정한다. 추출된 경우, 처리 과정은 단계(S15)로 진행한다. 추출되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S17)로 진행한다(단계 S14). 단계(S15)에서, 추출된 발광 셀의 행을 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이와 비교한다. 이어서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 수평 길이를 갖는 발광 셀의 행이 있는 가의 여부를 판정한다. 그러한 발광 셀의 행이 있는 경우, 처리 과정은 단계(S17)로 진행한다. 그러한 발광 셀의 행이 없는 경우, 처리 과정은 종료된다. 단계(S17)에서, 행 전극의 개방 회로 개수에 1을 가산하고, 처리 과정은 종료된다.
이와 같은 방식으로, 상측 말단에 위치된 발광 셀의 행은 도 10에 도시된 처리 과정으로 추출된다(단계(S6)). 발광 셀의 행이 추출되지 않은 경우(단계(S7)에서 없음), 개방 회로 개수에 1을 가산한다(단계(S10)). 발광 셀의 행이 추출되지 않은 경우는 상측 말단의 디스플레이 셀의 행이 도 9(D)에 도시된 바와 같이 밝지 않은 경우에 해당한다. 이것은 상측 말단의 디스플레이 셀의 행이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다. 추출된 발광 셀의 행의 길이가 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 경우(단계(S9)에서 "있음") 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S10)). 추출된 발광 셀의 행의 길이가 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 경우는 상측 말단의 발광 셀의 행이 도 9(C)에 도시된 바와 같이 중간에서 끊어지는 경우에 해당한다. 이것은 상측 말단의 디스플레이 셀의 행이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다.
또한, 도 10에 도시된 처리에 있어서, 저면 말단의 발광 셀의 행이 추출된다(단계(S13)). 발광 셀의 행이 추출되지 않은 경우(단계(S14)에서 없음),개방 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S17)). 발광 셀의 행이 추출되지 않은 경우는 저면 말단의 디스플레이 셀의 행이 밝지 않은 경우에 해당한다. 이것은 저면 말단의 디스플레이 셀의 행이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개빙 회로의 개수에 1이 가산된다. 추출된 발광 셀의 행의 길이가 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 경우(단계(S16)에서 "있음"), 개빙 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S17)). 추출된 발광 셀의 행의 길이가 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 경우는 저면 말단의 발광 셀의 행이 도 9(B) 또는 도 9(D)에 도시된 바와 같이 중간에서 끊어지는 경우에 해당한다. 이것은 저면 말단의 디스플레이 셀의 행이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다.
예를 들면, 도 9(A)에 도시된 디스플레이 패턴의 경우, 상측 말단의 발광 셀의 행은 추출되고(단계(S7)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧지 않다(단계(S9)에서 "존재하지 않음"). 또한, 저면 말단의 발광 셀의 행은 추출되고(단계(S14)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧지 않다(단계(S16)에서 "존재하지 않음"). 따라서, 이 경우, 상측 말단 및 저면 말단의 디스플레이 셀의 행 양쪽 모두에 행 전극 개방 회로가 없는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 10에 도시된 처리에서 계산된 개방 회로의 개수는 0이 된다.
도 9(B)에 도시된 디스플레이 패턴의 경우, 상측 말단의 발광 셀의 행은 추출되고(단계(S7)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧지 않다(단계(S9)에서 "존재하지 않음"). 또한, 저면 말단의 발광 셀의 행은 추출되지만(단계(S14)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧다(단계(S16)에서 "존재함"). 따라서, 이 경우, 상측 말단의 디스플레이 셀의 행에는 개방 회로가 없지만, 저면 말단의 디스플레이 셀의 행에는 행 전극 개방 회로가 있다. 이 경우, 도 10에 도시된 처리에서 계산된 개방 회로의 개수는 1이 된다.
예를 들면, 도 9(C)에 도시된 디스플레이 패턴의 경우, 상측 말단의 발광 셀의 행은 추출되지만(단계(S7)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧다(단계(S9)에서 "존재함"). 또한, 저면 말단의 발광 셀의 행은 추출되지만(단계(S14)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧다(단계(S16)에서 "존재함"). 따라서, 이 경우, 상측 말단 및 저면 말단의 디스플레이 셀의 행 양자 모두에 행 전극 개방 회로가 있는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 10에 도시된 처리에서 계산된 개방 회로의 개수는 2로 된다.
도 9(D)에 도시된 디스플레이 패턴의 경우, 상측 말단의 발광 셀의 행은 추출되지 않는다(단계(S7)에서 아니오). 또한, 저면 말단의 발광 셀의 행은 추출되지만(단계(S14)에서 예), 발광 셀의 행의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧다(단계(S16)에서 "존재함"). 따라서, 이경우, 상측 말단 및 저면 말단의 디스플레이 셀의 행 양자 모두에 개방 회로가 있는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 10에 도시된 처리에서 계산된 개방 회로의 개수는 2로 된다.
본 발명에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서, 전술한 바와 같이 표시 영역 내의 상측 말단 및 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행만을 밝히는 검출 패턴을 사용한다. 따라서, 디스플레이 셀의 열 및 이들 디스플레이 셀의 열에 인접한 여분의 표시 영역 사이의 계조차를 확보할 수 있다. 따라서, 상측 말단 및 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행에 대하여 전극 개빙 회로가 있는 가의 여부를 확실하게 검출할 수 있다.
전술한 실시예에서, 상측 말단 및 저면 말단에 위치된 하나의 디스플레이 셀의 행을 검사하는 경우에 대하여 설명하였다. 그러나, 상기 실시예는 상측 말단 및 저면 말단에 위치된 복수의 디스플레이 셀의 행(예를 들면, 두 개의 디스플레이 셀의 행)을 동시에 검사하는 경우에도 적용될 수 있다. 이 경우, 발광하는 디스플레이 셀의 행 또는 개방 회로를 갖는 디스플레이 셀의 행의 개수는 밝은 라인의 두께에 따라 판정될 수 있다.
(제2 실시예)
도 4에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(30)을 검사기 몸체(1)에 세트한다. 좌측 말단의 하나의 디스플레이 셀의 열 및 우측 말단의 하나의 디스플레이 셀의 열, 즉 플라스마 디스플레이 패널(30)의 표시 영역 내의 총 두 개의 디스플레이 셀의 행을 발광시킨다. 이들 디스플레이 사이에 끼워진 중간 영역은흑색으로 표시되게 한다(즉, 발광하지 않도록 함). 이러한 패턴 디스플레이가 실행된다. 각각의 화소 열은 세 개의 인접하는 디스플레이 셀의 열, 즉 R, G 및 B 디스플레이 셀의 열을 포함한다.
도 11(A), 도 11(B), 도 11(C) 및 도 11(D)는 개방 회로가 있는 가의 여부에 따른 여러 가지 발광 패턴의 도면이다. 도 11(A)는 개빙 회로가 없는 경우의 도면이며, 좌측 말단 및 우측 말단 각각에 하나의 화소 열에 대응하는 세 개의 디스플레이 셀의 열(R, G 및 B)로 구성된 밝은 라인이 있다. 이 경우, 좌측 및 우측 말단의 총 6개의 디스플레이 셀의 열이 빠진 부분없이 발광한다. 도 11(A)에 도시된 패턴이 개빙 회로를 검출하는 바로 그 검출 패턴이다. 도 11(B)는 우측 말단의 디스플레이 열(R)에 개빙 회로가 있는 경우의 도면이며, 우측 말단의 밝은 라인에 포함된 디스플레이 셀의 열(R)은 중간에서 끊어진다. 도 11(C)는 우측 말단의 디스플레이 셀의 열(R)에 개방 회로가 있는 경우의 도면이며, 우측 말단의 밝은 라인에 포함된 디스플레이 셀의 열(R)은 전혀 발광하지 않는다. 도 11(D)는 우측 말단의 디스플레이 셀의 열에 개방 회로가 있는 경우의 도면이다. 도 11(D)의 경우, 우측 말단의 밝은 라인에 포함된 디스플레이 셀의 열(R)의 중간부는 발광하지 않고, 디스플레이 셀의 열(R)은 상단 및 하단으로 분할된다.
도 12는 검사 시 실행되는 처리 과정의 흐름도이다. 도 12의 처리 과정은 제어 장치(4)에 의한 제어에 따라 실행된다.
도 12의 단계(S21)에서, 전술한 검출 패턴이 표시되도록 구동 펄스가 검사기 몸체(1)에 의하여 플라스마 디스플레이 패널(30)에 공급된다. 따라서, 플라스마디스플레이 패널(30)은, 예를 들면, 도 11(A) 내지 도 11(D)에 도시된 바와 같이 발광 패턴으로 밝아진다. 또한, 개방 회로의 개수값은 0으로 초기화된다. 이어서, 발광 패턴의 화상이 CCD 카메라(2)에 의하여 촬영된다(단계(S22)). 촬영된 화상 데이터는 CCD 카메라(2)로부터 화상 처리 장치(3)의 화상 처리 메모리(3b)에 전달된다. 여기서, 3가지 색 R, G 및 B의 데이터는 별개로 전달된다.
이어서, 화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터 중에서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 좌측 말단의 화소 열을 포함하는 영역을 화상 처리 영역으로 설정한다(단계(S24)). 상기 영역은 전술한 디스플레이 화소 열에 근접하여 위치되고 표시 영역에 위치되며, 발광하지 않는 디스플레이 셀(즉, 흑색 표시 영역의 디스플레이 셀), 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분(즉, 디스플레이 셀의 열의 좌측에 위치된 부분)을 포함하도록 설정된다. 이어서, 미리 설정된 영역의 화상 데이터는 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된다(단계(S25)).
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된 화상 데이터에 따라 좌측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열로부터 발광 셀의 열(R)을 추출 처리한다(단계(S26)). 이어서, 좌측 말단에 위치된 발광 셀의 열(R)이 발광 셀의 열 추출 처리 중에 추출되었는 가의 여부를 판정한다. 추출된 경우, 처리 과정은 단계(S28)로 진행한다. 추출되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S30)로 진행한다(단계(S27)). 단계(S28)에서, 추출된 발광 셀의 열(R)을 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이와 비교한다. 이어서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 수평 길이를 갖는 발광셀의 열(R)이 있는 가의 여부를 판정한다. 그러한 발광 셀의 열(R)이 있는 경우, 처리 과정은 단계(S30)로 진행한다. 그러한 발광 셀의 열(R)이 없는 경우, 처리 과정은 단계(S31)로 진행된다(단계(S29)). 단계(S30)에서, 열 전극의 개방 회로 개수에 1을 가산하고, 처리 과정은 단계(S31)로 진행된다.
단계(S31)에서, 단계(S24 내지 S30)의 처리 과정이 좌측 말단에 위치된 화소 열을 형성하는 세 개의 디스플레이 셀의 열 모두에 대하여 완료되었는 가의 여부를 판정한다. 완료되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S24)로 진행하고, 여기에서 단계(S24) 및 후속 단계의 처리 과정이 다음 디스플레이 셀의 열(예를 들면, G)에 대하여 반복된다. 단계(S31)에서의 판정 결과가 완료된 경우, 처리 과정은 단계(S32)로 진행된다. 단계(S24 내지 S30)의 처리 과정은 각각의 컬러(R, G 및 B)의 디스플레이 셀의 열에 대하여 실행된 후, 처리 과정은 단계(S32)로 진행된다.
화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터 중에서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 우측 말단에 위치된 화소 열(세 개의 디스플레이 셀의 열)을 포함하는 영역을 화상 처리 영역으로 설정한다(단계(S32)). 상기 영역은 전술한 디스플레이 화소 열에 근접하여 위치되고 표시 영역에 위치되며, 발광하지 않는 디스플레이 셀(즉, 흑색 표시 영역의 디스플레이 셀), 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분(즉, 디스플레이 셀의 행의 우측에 위치된 부분)을 포함하도록 설정된다. 이어서, 미리 설정된 영역의 화상 데이터는 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된다(단계(S33)).
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된 화상 데이터에 따라 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열로부터 발광 셀의 열에 대한 추출 처리가 실행된다(단계(S34)). 이어서, 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열이 발광 셀의 열의 추출 처리 시에 추출되었는 가의 여부가 판정된다. 추출된 경우, 처리 과정은 단계(S38)로 진행된다(단계(S35)). 단계(S36)에서, 추출된 발광 셀의 열(R)의 길이를 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이와 비교한다. 이어서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수평 길이보다 더 짧은 발광 셀의 열(R)이 있는 가의 여부를 판정한다. 이러한 발광 셀의 열(R)이 있는 것으로 판정된 경우, 처리 과정은 단계(S38)로 진행된다. 이러한 발광 셀의 열(R)이 없는 것으로 판정된 경우, 처리 과정은 단계(S39)로 진행된다(단계(S37)). 단계(S38)에서, 열 전극의 개방 회로 개수에 1을 가산하고, 처리 과정은 단계(S39)로 진행된다.
단계(S39)에서, 단계(S32 내지 S38)에서의 처리 과정이 우측 말단에 위치된 화소 열을 형성하는 세 개의 디스플레이 셀의 열(R, G 및 B) 모두에 대하여 완료되었는 가의 여부를 판정한다. 완료되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S32)로 진행하고, 여기에서 단계(S32) 및 후속 단계의 처리 과정이 다음 디스플레이 셀의 열(예를 들면, G)에 대하여 반복된다. 단계(S39)에서의 판정 결과가 완료된 경우, 처리 과정은 완료된다. 단계(S24 내지 S30)의 처리 과정이 각각의 컬러(R, G 및 B)의 디스플레이 셀의 열에 대하여 실행된 후, 처리 과정은 완료된다.
전술한 바와 같이, 좌측 말단의 발광 셀의 열은 도 12에 도시된 처리 과정에서 추출된다(단계(S26)). 발광 셀의 열이 추출되지 않은 경우(단계(S27)에서 아니오), 개방 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S30)). 발광 셀의 열이 추출되지 않은 경우는 디스플레이 셀의 열(여기서는, 우측 말단의 디스플레이 셀의 열)이 도 11(C)에 도시된 바와 같이 밝지 않은 경우에 해당한다. 이것은 좌측 말단의 디스플레이 셀의 열이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다. 추출된 발광 셀의 열의 길이가 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧은 경우(단계(S29)에서 "존재함"), 개방 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S30)). 추출된 발광 셀의 열의 길이가 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧은 경우는 발광 셀의 열(여기서는, 우측 말단의 발광 셀의 열)이 도 11(B) 및 도 11(D)에 도시된 바와 같이 중간에서 끊어지는 경우에 해당한다. 이것은 좌측 말단의 디스플레이 셀의 열이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다.
또한, 도 12에 도시된 처리 과정에 있어서, 우측 말단의 발광 셀의 열이 추출된다(단계(S34)). 발광 셀의 열이 추출되지 않은 경우(단계(S35)에서 아니오), 개방 회로의 개수에 1이 가산된다(단계(S38)). 발광 셀의 열이 추출되지 않은 경우는 우측 말단의 디스플레이 셀의 열이 밝지 않은 경우에 해당한다. 이것은 우측 말단의 디스플레이 셀의 열이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개빙 회로의 개수에 1이 가산된다. 추출된 발광 셀의 열의 길이가 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧은 경우(단계(S37)에서 "존재함'), 개방 회로의 개수에 1이 가산된다. 추출된 발광 셀의 열의 길이가 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧은 경우는 우측 말단의 발광 셀의 열이 중간에서끊어지는 경우에 해당한다. 이것은 우측 말단의 디스플레이 셀의 열이 개방 회로를 갖는다는 의미이다. 따라서, 이 경우, 개방 회로의 개수에 1이 가산된다.
예를 들면, 도 11(A)에 도시된 발광 패턴의 경우, 좌측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두가 추출되고(단계(S27)에서 예), 발광 셀의 열의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧지 않다(단계(S29)에서 "존재하지 않음"). 또한, 우측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되고(단계(S35)에서 예), 발광 셀의 열의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧지 않다(단계(S37)에서 "존재하지 않음"). 따라서, 이 경우, 좌측 말단 및 우측 말단의 디스플레이 셀의 열에 열 전극 개방 회로가 없는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 12에 도시된 처리 과정에서 계산된 개방 회로의 개수는 0이 된다.
도 11(B)에 도시된 발광 패턴의 경우, 좌측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되고(단계(S27)에서 예), 발광 셀의 열의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧지 않다(단계(S29)에서 "존재하지 않음"). 또한, 우측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되지만(단계(S35)에서 예), 이들 중 발광 셀의 열(R)의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧다(단계(S37)에서 "존재함"). 따라서, 이 경우, 좌측 말단의 디스플레이 셀의 열에는 개방 회로가 없지만 우측 말단의 디스플레이 셀의 열(R)에는 열 전극 개방 회로가 있는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 12에 도시된 처리 과정에서 계산된 개방 회로의 개수는 1로 된다.
예를 들면, 도 11(C)에 도시된 발광 패턴의 경우, 좌측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되고(단계(S27)에서 예), 발광 셀의 열의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧지 않다(단계(S29)에서 "존재하지 않음"). 또한, 우측 말단의 발광 셀의 열 중 발광 셀의 열(R)은 추출되지 않는다(단계(S35)에서 아니오). 우측 말단에 위치된 두 개의 다른 발광 셀의 열(G 및 B)에 대하여, 단계(S35)에서의 판정은 "예"이고 단계(S37)에서의 판정은 "존재하지 않음"이다. 따라서, 이 경우, 좌측 말단의 디스플레이 셀의 열에는 개방 회로가 없지만 우측 말단의 디스플레이 셀의 열(R)에는 열 전극 개방 회로가 있는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 12에 도시된 처리 과정에서 계산된 개방 회로의 개수는 1로 된다.
도 11(D)에 도시된 발광 패턴의 경우, 좌측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되고(단계(S27)에서 예), 발광 셀의 열의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧지 않다(단계(S29)에서의 "존재하지 않음"). 또한, 우측 말단의 세 개의 발광 셀의 열 모두는 추출되지만(단계(S35)에서의 예), 발광 셀의 열(R)의 길이는 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 표시 영역 내의 수직 길이보다 더 짧다(단계(S37)에서의 "존재함"). 따라서, 이 경우, 좌측 말단의 디스플레이 셀의 열에는 개방 회로가 없지만 우측 말단의 디스플레이 셀의 열(R)에는 개방 회로가 있는 것으로 판명되었다. 이 경우, 도 12에 도시된 처리 과정에서 계산된 개방 회로의 개수는 1로 된다.
본 실시예에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서, 전술한 바와같이 표시 영역 내의 좌측 말단 및 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열만이 밝게 하는 검출 패턴을 사용하였다. 따라서, 이들 디스플레이 셀의 열과 이들 디스플레이 셀의 열에 인접하는 여분의 표시 영역 사이에 계조차를 확보할 수 있다. 따라서, 좌측 말단 및 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열에 대하여 전극 개방 회로가 있는 가의 여부에 대하여 확실하게 검출할 수 있다.
전술한 실시예에 있어서, 좌측 또는 우측 말단에 위치된 하나의 화소 열을 형성하는 복수의 디스플레이 셀의 열을 검사하는 경우에 대하여 설명하였다. 그러나, 상기 실시예는, 예를 들면, 모노코롬 디스플레이를 검사하고 좌측 또는 우측에 위치된 하나의 디스플레이 셀의 열을 검사하는 경우에도 또한 적용될 수 있다.
(제3 실시예)
도 13에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(31)의 전극에 연결된 어드레스 드라이버(11a, 11b), X 서스테인 드라이버(12a, 12b), 및 Y 서스테인 드라이버(13a, 13b)를 검사기 몸체(1)에 제공한다.
도 13에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(31)은 상단 영역 및 하단 영역으로 분할되고, 각 영역의 전극은 서로 분리된다. 도 13에 도시된 바와 같이, 열 전극(D1r, D1g, D1b, D2r, D2g, D2b ... Dmr, Dmg 및 Dmb), 행 전극(X1 내지 Xi), 및 행 전극(Y1 내지 Yi)이 플라스마 디스플레이 패널(31)의 상단 영역에 제공된다. 열 전극(D1r 내지 Dmb)은 어드레스 드라이버(11a)에 연결된다. 행 전극(X1 내지 Xi)은 X 서스테인 드라이버(12a)에 연결된다. 행 전극(Y1 내지 Yi)은 Y 서스테인 드라이버(13a)에 연결된다.
열 전극(DA1r, DA1g, DA1b, DA2r, DA2g, DA2b ... DAmr, DAmg 및 DAmb), 행 전극(Xi+1 내지 Xn), 및 행 전극(Yi+1 내지 Yn)은 플라스마 디스플레이 패널(31)의 하단 영역에 제공된다. 열 전극(DA1r 내지 DAmb)은 어드레스 드라이버(11b)에 연결된다. 행 전극(Xi+1 내지 Xn)은 X 서스테인 드라이버(12b)에 연결된다. 행 전극(Yi+1 내지 Yn)은 Y 서스테인 드라이버(13b)에 연결된다.
도 13에 도시된 바와 같이, 열 전극은 전술한 순서대로 R 셀, G 셀 및 B 셀과 반복해서 결합되도록 할당된다. 표시 영역(41)에 있어서, R 셀, G 셀 및 B 셀은 열 전극, 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)의 교차점에 각각 형성된다. 도 13에 도시된 바와 같이, 연속해서 배치된 R 셀, G 셀 및 B 셀은 하나의 세트로서 취급되고, 하나의 화소는 이 세트로 형성된다. 여분의 표시 영역(47)이 표시 영역(41) 외측에 제공된다.
도 13에 도시된 바와 같이, 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)은 상호 대향하는 쪽으로부터 연장되도록 빗 형태로 번갈아 배치된다. 행 전극(X1 내지 Xn) 중 하나 및 행 전극(Y1 내지 Yn) 중 하나가 하나의 디스플레이 셀의 행에 할당된다. 하나의 셀 내에서, 행 전극(X1 내지 Xn) 및 행 전극(Y1 내지 Yn)은 서로 대향하도록 평행으로 배치된다.
표시 영역(41)의 중간부에 있어서, 열 전극(D1r 내지 Dmb) 및 열 전극(DA1r 내지 DAmb)은 수직 방향으로 분리된다. 열 전극의 배열에 대하여 후술한다.
다음에, 플라스마 디스플레이 패널(31)의 열 전극 사이의 단락을 검사 장치(100)를 사용하여 검사하는 경우의 처리 과정에 대하여 설명한다.
도 4에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(31)을 검사 시 검사기 몸체(1)에 설정하고, 플라스마 디스플레이 패널(31)의 표시 영역(41)의 상단 영역 및 하단 영역 중 하나의 전체가 한 가지 색을 발광하도록 한다(예를 들면, R 컬러). 이 때, 다른 영역 전체는 흑색을 표시하도록 한다(즉, 발광시키지 않음).
도 14(A), 도 14(B) 및 도 14(C)는 열 전극 사이가 단락되었는 가의 여부에 따른 발광 패턴의 도면이다. 도 14(A)는 열 전극 사이가 단락되지 않은 경우의 도면이며, 표시 영역(41) 내의 상단 영역(42)이 한 가지 색을 전체로서 발광한다. 이 때, 하단 영역(43)에는 발광 셀이 없다. 도 14(A)에 도시된 패턴이 열 전극 사이의 단락을 검출하는 검출 패턴이다. 도 14(B)는 열 전극 사이가 단락된 경우의 발광 패턴의 도면이다. 도 14(C)는 열 전극 사이에 단락이 발생된 도면이다. 상단 영역에 제공된 열 전극 그룹(101)의 열 전극과 하단 영역에 제공된 열 전극 그룹(102)의 열 전극 사이의 단락(103)이 도 14(C)에 도시되어 있다. 열 전극 사이에 이러한 단락이 있는 경우, 상단 영역(42)에 제공된 열 전극 및 하단 영역(43)에 제공된 열 전극은 단락(103)을 거쳐 서로 연결된다. 열 전극 그룹(101)의 열 전극에 연결된 열 전극 그룹(102)의 열 전극을 따라 움직이는 라인(밝은 라인)(104) 상의 셀이 발광한다. 따라서, 열 전극 사이의 단락을 검출할 수 있다.
플라스마 디스플레이 패널(31)의 이러한 발광 패턴은 CCD 카메라(2)에 촬영된다. 화상 처리 장치(3)는 CCD 카메라(2)로부터 공급된 화상 데이터에 따라 발광 패턴을 분석한다.
도 15는 검사 시 실행된 처리 과정의 흐름도이다. 도 15에 도시된 처리 과정은 제어 장치(4)에 의한 제어에 따라 실행된다.
도 15의 단계(S41)에서, 전술한 검출 패턴이 표시되도록 구동 펄스가 검사기 몸체(1)에 의하여 플라스마 디스플레이 패널(31)에 공급된다. 따라서, 플라스마 디스플레이 패널은, 예를 들어 도 14(A) 또는 도 14(B)에 도시된 바와 같이 발광 패턴으로 밝아진다. 단락 위치가 있는 가의 여부를 나타내는 플래그값은 "단락 위치가 없음"을 나타내는 값으로 초기화된다. 이어서, 발광 패턴의 화상이 CCD 카메라(2)에 의하여 촬영된다(단계(S42)). 촬영된 화상의 화상 데이터는 CCD 카메라(2)로부터 화상 처리 장치(3)의 화상 처리 메모리(3b)로 전송된다(단계(S43)). 여기서, 3가지 색(R, G, B) 데이터는 별개의 메모리 영역에 전송된다.
이어서, 화상 처리의 대상이 되는 발광 컬러(R, G 또는 B), 즉 화상 처리의 대상이 되는 데이터를 기억하는 메모리 영역이 설정된다(단계(S44)). 이어서, 중앙 분할선에 근접하는 대략적인 직선이 화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터에 따라 계산된다(단계(S45)).
이어서, 화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터 중에서, 발광되지 않는 상단 및 하단 영역 전체가 화상 처리 영역으로 설정된다(단계(S46)). 여기서, 화상 처리 영역은 단계(S45)에서의 처리에 의하여 계산된 대략적인 직선이 기준으로 설정될 수 있다. 예를 들면, 검출 패턴이 도 14(A)에 도시된 패턴인 경우, 하단 영역(43) 및 중앙 분할선 전체를 포함하는 영역이 단계(S46)에서 화상 처리 영역으로 설정된다.
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된 화상 데이터에 따라 화상 처리 영역 내의 발광점 또는 발광선의 추출 처리가 실행된다(단계(S47)). 여기서, 발광점 또는 발광선은 단계(S44)에서 발광색 세트에 대하여 추출된다. 예를 들면, 도 14(B)에 도시된 발광 패턴의 경우, 발광점 또는 발광선은 밝은선(104) 상에 추출된다. 도 14(A)에 도시된 발광 패턴의 경우, 발광점 또는 발광선은 추출되지 않는다.
이어서, 발광점 또는 발광선이 단계(S47)의 처리에 의하여 추출되었는 가의 여부가 단계(S48)에서 판정된다. 추출된 경우, 처리 과정은 단계(S49)로 진행한다. 추출되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S50)로 진행한다. 단계(S49)에서, 열 전극 사이에 단락이 존재하는 것으로 판정되고, 단락 위치의 존재 여부를 나타내는 플래그값은 적절한 발광색에 대하여 "단락 위치가 없음"을 나타내는 값으로 설정된다. 다음에, 처리 과정은 단계(S49)로부터 단계(S51)로 진행한다. 한 편, 단계(S50)에서, 열 전극 사이에 단락이 존재하지 않는 것으로 판정된 경우, 단락 위치의 존재 여부를 나타내는 플래그값은 적절한 발광색에 대하여 변하지 않는다. 다음에, 처리 과정은 단계(S50)로부터 단계(S51)로 진행한다.
단계(S51)에서, 단계(S41) 및 후속 단계에서 실행될 처리가 R, G 및 B 발광 컬러 모두에 대하여 완료되었는 가의 여부가 판정된다. 완료되지 않은 경우, 처리 과정은 단계(S41)로 복귀하여 다음 발광 컬러(예를 들면, 컬러 G)를 처리한다. 완료된 경우, 도 15에 도시된 처리가 완료된다. 단계(S41) 내지 단계(S50)에서의 처리가 각각의 발광색(R, G 및 B)에 대하여 실행된 후, 모든 처리 과정이 완료된다.
R, G 및 B 색 각각에 대하여, 열 전극 사이에 단락이 존재하는 가의 여부에 대한 검출이 전술한 처리에 의하여 실행된다. 발광색(R, G 및 B) 각각에 대하여, 열 전극 사이에 단락이 존재하는 가의 여부가 플래그에 따라 판정될 수 있다.
본 실시예에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서, 디스플레이 패널을 수직 방향으로 분할하여 형성된 상단 및 하단 영역 중 단지 하나만 발광시키고, 상단 및 하단 영역 중 다른 하나의 발광 셀은 추출한다. 따라서, 열 전극 사이의 단락이 확실하게 검출될 수 있다.
전술한 실시예에 있어서, 3가지 발광색의 셀 배열을 갖는 컬러 디스플레이 패널을 검사하는 예가 도시되어 있다. 그러나, 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법은 한 가지 색 셀 배열을 갖는 단색 디스플레이 패널의 검사에도 또한 응용될 수 있다. 이 경우, 영역 중 하나의 셀을 발광시키고, 다른 영역에 발광 셀이 있는 가의 여부에 대하여 검출을 실행한다.
(제4 실시예)
다음에, 플라스마 디스플레이 패널(30)의 행 전극 사이가 단락 상태인 가의 여부에 대하여 검사 장치(100)를 사용하여 검사하는 경우의 처리 과정을 설명한다. 상단 영역 및 하단 영역으로 분할된 플라스마 디스플레이 패널(31)의 검사 또한 동일한 방식으로 실행될 수 있다.
도 4에 도시된 바와 같이, 플라스마 디스플레이 패널(30)을 검사기 몸체(1)에 설정한다. 지그재그 그리드 형태를 갖는 발광 패턴을 플라스마 디스플레이 패널(30)의 표시 영역에 표시한다. 도 16(A)는 행 전극 사이가 단락 상태가 아닌 경우의 발광 패턴 도면이다. 도 16(A)에서, "R", "G" 및 "B"로 표기된 영역은 적색, 녹색 및 청색의 발광 셀을 각각 나타낸다. 다른 영역은 발광하지 않는 셀을 나타낸다. 도 16(A)에 도시된 패턴이 행 전극 사이의 단락을 검출하는 바로 그 검출 패턴이다. 플라스마 디스플레이 패널(30)에 있어서, 행 방향으로 배열된 R, G 및 B 컬러의 디스플레이 셀이 전술한 바와 같이 하나의 화소를 형성한다. 따라서, 도 16(B)에 도시된 바와 같이, 백색-흑색의 지그재그 그리드 패턴이 전체 표시 영역(30a) 상에 표시된다.
도 17(A) 내지 도 17(C)는 행 전극 사이가 단락 상태인 경우의 발광 패턴 도면이다. 도 17(A)는 행 방향으로의 흑색 라인(111)(어두운 라인)이 표시 영역(30a)에 생기는 예의 도면이다. 도 17(B)에 도시된 바와 같이, 원래 발광해야 하는 디스플레이 셀을 포함하는 두 개의 표시 라인이 흑색 라인(111) 부분에서는 발광하지 않는다.
도 17(C)는 행 전극 사이의 단락을 도시하는 도면이다. 도 17(C)에 도시된 바와 같이, 단락(112)을 거쳐 인접하는 디스플레이 셀과 각각 결합되도록 제공된 행 전극(Yi)과 행 전극(Xi+1) 사이에 단락이 있다. 단락(112)에 의하여 이와 같은 단락이 생기는 경우, 서로 단락된 행 전극에 대응하는 두 개의 라인 상에 포함된 디스플레이 셀은 발광하지 않는다. 이로써 도 17(A) 및 도 17(B)에 도시된 바와 같은 흑색 라인을 갖는 발광 패턴이 생긴다.
도 18은 검사 시의 처리 과정이 도시된 흐름도이다. 도 18에 도시된 처리 과정은 제어 장치(4)에 의한 제어에 따라 실행된다.
도 18의 단계(S61)에서, 도 16에 도시된 검출 패턴이 표시되도록 구동 펄스가 검사기 몸체(1)에 의하여 플라스마 디스플레이 패널(30)에 공급된다. 따라서, 플라스마 디스플레이 패널(30)은, 예를 들면, 도 16(A) 및 도 16(B) 또는 도 17(A) 및 도 17(B)에 도시된 바와 같은 발광 패턴으로 밝아진다. 이어서, 발광 패턴의 화상이 CCD 카메라(2)에 의하여 촬영된다(단계(S62)). 촬영된 화상의 화상 데이터는 CCD 카메라(2)로부터 화상 처리 장치(3)의 화상 처리 메모리(3b)로 전송된다(단계(S63)). 여기서, 3가지 색 R, G 및 B의 데이터는 별개로 전송된다.
이어서, 화상 처리 메모리(3b)에 기억된 화상 데이터 중에서, 플라스마 디스플레이 패널(30) 상의 전체 표시 영역(30a)이 화상 처리 영역으로 설정되고, 이렇게 설정된 화상 데이터는 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된다(단계(S64)).
이어서, 화상 처리 대상 메모리(3c)에 기억된 화상 데이터에 따라 표시 영역(30a)의 흑색 라인을 추출하는 처리 과정이 실행된다(단계(S65)). 이어서, 단계(S65)에서 실행된 흑색 라인 추출 처리 과정에서 흑색 라인이 표시 영역(30a)으로부터 추출되었는 가의 여부에 대하여 판정된다. 추출된 경우, 행 전극 사이가 단락 상태임을 나타낸다(단계(S67)). 추출되지 않은 경우, 행 전극 사이가 단락되지 않은 상태임을 나타낸다(단계(S68)). 어느 경우이건, 도 18의 처리 과정이 완료된다.
단계(S65)에서 발광 패턴이 도 16(A) 및 도 16(B)에 도시된 바로 그 검출 패턴인 경우, 흑색 라인은 생기지 않는다. 이 경우 단계(S66)에서의 판정이 아니오로 되기 때문에, 행 전극 사이가 단락 상태가 아닌 것으로 판정된다. 도 17(A) 및도 17(B)에 도시된 바와 같은 발광 패턴의 경우, 흑색 라인은 추출된다. 이 경우 단계(S66)에서의 판정이 예로 되기 때문에, 행 전극 사이가 단락 상태인 것으로 판정된다.
따라서, 도 18에 도시된 처리 과정에서, 플라스마 디스플레이 패널(30)은 지그재그 그리드 형태의 검사 패턴을 표시하게 된다. 이 경우 행 전극 사이가 단락 된 경우, 대응하는 라인 상에 흑색 라인이 나타난다. 따라서, 본 실시예에 있어서, 흑색 라인 추출 처리 과정이 실행된다(단계(S65)). 흑색 라인이 추출된 경우, 행 전극 사이가 단락된 것으로 판정된다. 흑색 라인이 추출되지 않은 경우, 행 전극 사이가 단락되지 않은 것으로 판정된다(단계(S66, S68)). 따라서, 행 전극 사이의 단락 여부가 확실하게 검출될 수 있다.
전술한 실시예에서, 3가지 발광색 R, G 및 B를 갖는 컬러 디스플레이 패널을 설명하였다. 그러나, 단색 디스플레이 패널의 경우, 한 가지 컬러의 지그재그 그리드 패턴이 검출 패턴으로 사용될 수 있다.
제1 내지 제4 실시예에서, 플라스마 디스플레이 패널의 검사 방법을 예로 들었다. 본 발명에 따른 디스플레이 패널용 표시 검사 방법은 다른 디스플레이 패널에도 또한 광범위하게 응용될 수 있다.
본 발명은 플라스마 디스플레이 패널의 전극에 회로가 개방된 경우, 발광하지 않는 부분이 디스플레이 라인에 발생한다. 따라서, 라인 결함은 개방 회로를 갖는 디스플레이 라인의 계조와 디스플레이 라인의 상하측에 각각 위치된 두 개의인접하는 화소의 계조를 비교하고, 개방 회로를 갖는 디스플레이 라인의 계조와 디스플레이 라인의 좌우측에 각각 위치된 두 개의 인접하는 화소의 계조를 비교함으로써 용이하게 추출될 수 있다.
Claims (14)
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 발광시키는 단계,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,상기 상측 말단 또는 상기 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행에 대응하는 행 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 제1항에 있어서,상기 상측 말단에 위치된 상기 디스플레이 셀의 행 및 상기 저면 말단에 위치된 상기 디스플레이 셀의 행을 동시에 발광시키는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 단계,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계,및상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하되, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이고 서로 상이하며 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 단계,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열방향의 밝은 라인의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및상기 밝은 라인의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하되, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며,분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 한 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되는디스플레이 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 단계,비발광 분할 화면으로 작용하는 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및상기 밝은 선이 검출된 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하되, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이며 서로 상이하고 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며,분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 상기 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되는디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 단계,비발광 분할 화면으로 작용하는 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및상기 밝은 선이 검출된 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법에 있어서,상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀을 지그재그 그리드 형태로 발광시키는 단계,상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 단계,행 방향의 어두운 라인을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하는 단계, 및상기 어두운 라인이 검출된 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 단계를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 방법.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 표시 영역 내의 상측 말단 또는 저면 말단에 위치된 디스플레이 셀의 행을 발광시키는 발광 소자,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및상기 상측 말단 또는 상기 저면 말단에 위치된 발광 셀의 행에 대응하는 행 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 이미지 센서로부터 출력된 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 행에 대응하는 행 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 제8항에 있어서,상기 상측 말단에 위치된 상기 디스플레이 셀의 행 및 상기 저면 말단에 위치된 상기 디스플레이 셀의 행을 동시에 발광시키는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 발광 소자,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이고 서로 상이하며 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 표시 영역 내의 좌측 말단 또는 우측 말단에 위치된 디스플레이 셀의 열을 발광시키는 발광 소자,발광 디스플레이 셀, 상기 발광 디스플레이 셀에 근접하여 위치되고 상기 표시 영역 내에 위치되지만 발광하지 않는 디스플레이 셀, 및 상기 표시 영역 외측에 위치된 부분을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및상기 좌측 말단 또는 상기 우측 말단에 위치된 발광 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선의 개수 및 길이를 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선의 개수 및 길이가 소정값 이하일 때, 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 전극에 회로가 개방되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하되, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며,분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되는디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 발광 소자,비발광 분할 화면으로 작용하는 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선이 검출된 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고, 상기 디스플레이 셀은 발광색이 3가지 색이며 서로 상이하고 하나의 화소를 형성하도록 행 방향으로 배열되며, 발광색이 동일한 상기 디스플레이 셀은 열 방향으로 배열되고, 상기 열 전극은 열 방향으로 표시 영역 내에 분할되며,상기 분할에 의하여 얻어진 분할 화면 내에 디스플레이 셀을 하나의 행을 유닛으로 하여 동시에 선택할 수 있도록 형성되는디스플레이 패널 상의 분할된 열 전극 사이의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 분할에 의하여 얻어진 상단 및 하단 분할 화면 중 하나를 단색으로 발광시키는 발광 소자,비발광 분할 화면으로 작용하는 상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나를 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및상기 상단 및 하단 분할 화면 중 다른 하나의 디스플레이 셀의 열에 대응하는 열 방향의 밝은 선을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 밝은 선이 검출된 상기 디스플레이 셀의 열에 대응하는 분할된 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
- 복수의 행 전극 및 상기 행 전극과 직각을 이루는 방향으로 배열된 복수의 열 전극을 포함하여, 상기 행 전극과 상기 열 전극의 교차점에 디스플레이 셀을 형성하고,표시 영역 내에 매트릭스 형태로 배열된 상기 디스플레이 셀의 발광을 제어하여 화상을 표시하는디스플레이 패널 내의 라인 결함을 검사하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치에 있어서,상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀의 열을 지그재그 그리드 형태로 발광시키는 발광 소자,상기 표시 영역 내의 상기 디스플레이 셀을 이미지 센서를 사용하여 검출하고, 비디오 신호를 출력하는 이미지 센서, 및행 방향의 어두운 라인을 상기 출력 비디오 신호에 따라 검출하고, 상기 어두운 라인이 검출된 디스플레이 셀에 대응하는 행 전극 사이에 전극 회로가 단락되었음을 판정하는 판정 소자를 포함하는 디스플레이 패널용 표시 검사 장치.
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