CN101566739B - 阵列电路维修系统及维修方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种阵列电路维修系统以及维修方法,涉及电路故障检测与维修技术领域;为解决现有技术中对无法确定的不良放弃维修的问题而发明。所述系统包括:系统控制单元,所述系统控制单元连接有运动单元,所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元,所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元。所述方法包括:对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息;根据所述的不良信息进行不良的查找定位;对所述不良进行维修。本发明所述系统,可用于阵列电路的检测,通过对无法确定的不良进行线性扫描检测,得到不良的具体点坐标,并进行维修,可以提高良品率,节约成本。

Description

阵列电路维修系统及维修方法
技术领域
本发明涉及电路故障检测与维修技术领域,尤其涉及阵列电路维修系统及维修方法。
背景技术
在液晶显示器件的生产制造过程中,主要包括阵列基板的制作,彩色滤光片的制作,将两层基板对盒并注入液晶,形成主要的显示单元,然后经过模块工艺,增加外围驱动电路和背光系统,最终形成显示模块。
阵列基板上的阵列电路形成以后或形成过程中,需要对工艺结果进行检测,一方面是检测出产品中存在的不良,然后针对不同类型的不良进行维修或再加工,同时对工艺参数的效果进行监控。不良的位置是通过它在矩阵中的坐标来表示的,所述坐标包括数据坐标和门坐标;门坐标可以称为栅坐标,如图1所示,其中数据坐标位于数据线101上,门坐标位于栅线102上。数据线101与栅线102互相垂直,图中的q表示像素单位。
针对阵列基板上阵列电路的不良,现有的检测设备采用电学及光学检测单元;现有的维修设备包括:系统控制单元、运动单元、查找定位单元以及维修单元;其中,查找定位单元是CCD相机,用于进行不良的查找定位;维修单元是激光器,用于对不良进行定点维修。
具体的检测和维修过程如下:
所述检测过程包括:对阵列电路进行电学检测和光学检测;通常是通过两者配合实现原因是由于电学检测设备自身的缺陷以及检测条件设置的不够合理,电学检测仅仅可以检测到90%-95%的重要不良,另外约5%-10%的不良就要靠光学检测来实现检出;检测设备会将检测到的不良信息上传到数据服务器,这些不良信息主要包括不良的位置坐标,不良的粗略分类以及阵列基板可能的级别等。
所述的维修过程包括:维修设备根据检测设备上传的不良信息首先进行不良的查找定位,然后对不良进行维修。
但是,有时检测设备检测到的不良是不准确的不良,包括两种情形;第一,检测设备报告的不良是一个假不良,原因是设备条件设置偏差较大,准确的不良在假不良的周围区域内,在显微镜的狭小视场内不能找到不良;第二,检测设备报告的坐标远远偏离不良真实位置,检测设备上传的坐标是数据坐标准确、栅坐标错误,或栅坐标准确而数据坐标错误,同样在显微镜的狭小视场内不能找到不良。
在遭遇这样的不良时,现有技术中的处理原则是将这个信息跳过,造成的后果可能是本来应该维修的不良没有维修,产品降级,影响到良品率;或本来应该判断为低级别的产品判断成为高级别,导致不良的漏出和后工序材料的浪费。
发明内容
本发明所要解决的一个技术问题是提供一种阵列电路维修系统,在查找不到不良的准确坐标时,能够对阵列电路中发生不良的区域、数据线或栅线进行不良点坐标的检测,并对该不良进行维修。
为解决上述问题,本发明所述阵列电路维修系统采用如下的技术方案:
一种阵列电路维修系统,包括:系统控制单元,所述系统控制单元连接有运动单元,所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元,所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元,其中
线性扫描检测单元用于对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息,所述线性扫描检测单元包括:线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元。
所述系统控制单元包括程序控制微机,所述程序控制微机一端连接有人机交互子单元,另一端连接有维修控制子单元和运动控制子单元,其中,
所述维修控制子单元还与所述维修单元相连;
所述运动控制子单元还与所述运动单元相连。
所述运动单元包括电机及运动轴,所述运动控制子单元包括运动控制卡和电机驱动器。
所述线性照相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连。
所述查找定位单元包括CCD相机及安装在CCD相机上的光学系统单元;其中,所述CCD相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连,或
当所述线性照相机为可以实现静态彩色影像的线性照相机时,所述查找定位单元的功能由所述线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元实现,其中,所述线性照相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连。
所述维修单元为激光器以及安装在激光器上的光学系统单元,所述维修控制子单元为激光控制器。
所述光学系统单元包括反射镜、滤光片、遮光片、衰减器以及显微镜头。
所述线性照相机可以自由旋转。
所述运动轴数量为一根;所述查找定位单元、维修单元和线性扫描检测单元集成为一体,共同设置在所述的一根运动轴上。
所述运动轴数量可以为两根;所述查找定位单元与维修单元、线性扫描检测单元分别设置在所述的两根运动轴上。
本发明所述的阵列电路维修系统,能够对经过查找无法确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良点坐标,并对该不良进行维修,从而可以提高阵列基板的良品率,节约成本。
本发明所要解决的另一个技术问题是提供一种阵列电路维修方法,在查找不到不良的准确坐标时,能够对阵列电路中发生不良的区域、数据线或者栅线进行不良点坐标的检测,并对该不良进行维修。
为解决上述问题,本发明所述阵列电路维修方法采用如下的技术方案:
一种阵列电路维修方法,包括步骤:
包括线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元的线性扫描检测单元对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息;
包括CCD相机及安装在CCD相机上的光学系统单元的查找定位单元根据所述的不良信息进行不良的查找定位;
对所述不良进行维修。
所述对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息的步骤包括:
对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到扫描信息;
线性照相机的扫描结果传输到程序控制微机的影像采集卡,经过运算处理,得到准确的不良点坐标。
本发明所述的阵列电路维修方法,能够对经过查找无法确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良点坐标,并对该不良进行维修,从而可以提高效率,节约成本。
附图说明
图1为现有技术中阵列电路的矩阵结构示意图;
图2为本发明所述阵列电路维修系统的单元结构示意图;
图3为本发明所述阵列电路维修系统的部件结构示意图;
图4为本发明通过线性照相机对阵列电路进行线性扫描的示意图;
图5为本发明所述阵列电路维修系统中CCD相机、激光器和线性照相机集为一体的立体结构示意图;
图6为本发明所述阵列电路维修系统中集为一体的CCD相机与激光器和所述的线性照相机进行同轴分别控制的立体结构示意图;
图7为本发明所述阵列电路维修系统中集为一体的CCD相机与激光器和所述的线性照相机进行不同轴分别控制的立体结构示意图;
图8为本发明所述阵列电路维修方法的流程示意图;
图9为本发明所述阵列电路维修方法中,对无法精确确定的不良区域进行检测的方法流程示意图。
具体实施方式
本发明旨在提供一种阵列电路维修系统,在查找不到不良的准确坐标时,能够对阵列电路中特殊的不良区域、数据线或者栅线进行线性检测,并对该不良进行维修,从而提高阵列基板的良品率,节约成本。
下面结合附图和具体的实施例进行说明。
如图2所示,所述阵列电路维修系统包括:系统控制单元200,所述系统控制单元200连接有运动单元208,运动单元208上设置有查找定位单元206以及维修单元207,所述系统还包括一个线性扫描检测单元205。
其中,系统控制单元控制运动单元进行运动,控制查找定位单元对不良进行准确定位,并控制维修单元对不良进行定点维修;如果系统控制单元接收到的不良信息为不准确的不良信息,线性扫描检测单元对所述不良信息所在的区域或所在的数据线以及栅线进行扫描检测,得到不良的具体点坐标,然后进行查找定位和定点维修。
本发明所述系统中,系统控制单元200包括程序控制微机202,程序控制微机202一端连接有人机交互子单元201,另一端连接有维修控制子单元203和运动控制子单元204,其中所述维修控制子单元203与所述维修单元207相连,所述运动控制子单元204与所述运动单元208相连。
其中,程序控制微机负责检测数据的下载和本地维修数据的上传,并将整个系统进行整合形成一个操作界面,便于操作;人机交互子单元用于查看程序控制微机发送的不良信息,并向程序控制微机发送运动控制命令、扫描检测命令以及维修控制命令;运动控制子单元通过控制运动单元的运动,实现不良寻址、检测和打激光进行定点的维修;维修控制子单元,用于控制维修单元进行维修。
本发明一个较佳的实施例是线性扫描检测单元205、查找定位单元206以及维修单元207集为一体的情况,如图3、图4、图5所示,
其中,所述的运动控制子单元204包括运动控制卡(图中未示出)以及与之相连的电机驱动器309,其中运动控制卡安装在程序控制微机202中;所述的运动单元208包括电机及运动轴306;所述的人机交互子单元201称为人机交互设备301,包括显示器、鼠标、键盘等。
线性扫描检测单元205为线性照相机304;查找定位单元206为CCD相机303;维修单元207为激光器305。如图3、图5所示,线性照相机、CCD相机和激光器A1共用一个光学系统单元209和一个电机及运动轴306;线性照相机304、CCD相机303分别与设置在程序控制微机202上的影像采集卡310相连。
影像采集卡用于设定需要进行线性扫描的数据线或栅线,接收不良的准确信息并计算不良的具体点坐标;线性照相机用于对无法确定准确不良的区域、数据线或栅线进行扫描检测,得到不良的准确信息;CCD相机根据线性扫描检测结果,对不良进行详细定位;激光器对不良进行定点维修。
所述的光学系统单元209包括反射镜、滤光片、遮光片、衰减器、显微镜头等部件,用于协助系统中线性扫描检测单元进行线性检测,确定不良的具体点坐标,协助查找定位单元进行不良的查找定位,以及协助维修单元进行不良的定点维修。
除了上述部件,本发明所述系统还包括:数据服务器302、支撑系统(未示出)以及照明系统单元307。数据服务器用于向程序控制微机发送不良信息;支撑系统用于对系统中各个部件进行固定和支撑;照明系统单元与程序控制微机相连,用作整个系统的照明。
所述阵列电路维修系统进行维修的具体过程如下:
程序控制微机通过与数据服务器通讯来下载及上传产品的不良信息;操作人员通过人机交互设备查看这些信息;程序控制微机接收到维修指令后,会发出相应的维修命令给激光控制器及电机驱动器。电机驱动器控制各个运动轴运动至目标位置。这时CCD相机会将采集的图像传递给程序控制微机的影像采集卡,通过微机的处理将可以使用的图像传输至人机交互设备,进行不良的准确定位,然后通过激光器进行定点维修。
如图4所示,当发现某不良点不能正确查找时,通过程序控制微机上的影像采集卡,对存在不良的特殊区域设定需要进行线性扫描的数据线和栅线;如果数据线上存在无法确定坐标的不良,则将线性照相机304沿着对应的数据线101进行扫描,通过显微镜头的受控移动,沿着数据线101方向进行小区域内的光学检测;如果栅线102上存在无法确定坐标的不良,则将线性照相机304旋转90度,然后沿着栅线102进行扫描。
然后,扫描结果会自动的显示到主程序的相应界面处,经过运算处理得出不良的点坐标,操作者即可通过CCD相机对这个检测结果进行不良的详细定位。这时程序控制微机给电机驱动器发命令,后者控制各个轴运动到相应的位置,通过激光控制器控制激光器对不良进行维修。
有的线性照相机可以实现静态彩色影像的读取,因此可以同时将其作为CCD相机使用,从而为了节约制造成本,减少相机的使用个数,可以使用此种线性照相机作为查找与检测单元。
本发明所述系统中,线性照相机、CCD相机、激光器也可以分别有各自的光学系统单元,用来实现特殊位置的光学扫描检测,不良的准确定位和维修;也可以CCD相机、线性照相机共用一个光学系统单元,激光器有自己的光学系统单元;也可以CCD相机和激光器共用一个光学系统单元,线性照相机有自己的光学系统单元。
本发明所述系统中,CCD相机和激光器A2、线性照相机A3可以采用同轴进行控制,如图6所示;也可以CCD相机和激光器A2使用一个电机及运动轴,线性照相机A3有自己的运动轴,如图7所示;可以CCD相机和线性照相机采用同一个电机及运动轴,激光器有自己的电机及运动轴。(图中未示出)
综上所述,本发明所述系统,通过线性照相机对特定不良区域、数据线或者栅线进行光学检测,从而可以对前面查找出的坐标模糊甚至是不准确的不良点进行准确定位;并通过维修单元进行维修,从而提高维修效率,提高良品率,降低成本。
本发明同时提供了一种阵列电路维修方法,在查找不到不良的准确坐标时,能够对阵列电路不良区域、数据线或者栅线进行扫描检测,确定不良的具体点坐标,并对该不良进行定位与维修,从而可以提高良品率,降低成本。
如图8所示,本发明提供了一种阵列电路维修方法,所述方法的具体流程如下:
步骤801、对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息。如图9所示,具体包括以下步骤:
步骤8011、对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到扫描信息。
首先,在进行阵列电路检测与维修时,程序控制微机上的主程序和数据服务器通讯,将当前产品的不良信息下载到本地,操作员按顺序对各个不良点进行查看。当存在无法确定的不良点信息时,通过程序控制微机控制程序上的图像采集卡设定需要进行线性扫描的数据线或栅线;然后通过线性照相机对对应的数据线或栅线进行扫描。主要是通过显微镜头的受控移动,沿着数据线或栅线方向进行小区域内的光学检测。
步骤8012、对所述的扫描信息进行分析,得到准确的不良点坐标。
线性照相机的扫描结果传输到程序控制微机的影像采集卡,经过运算处理得出不良的具体点坐标。
步骤802、根据阵列电路的不良信息进行不良的查找定位。
操作者可通过CCD相机对这个线性扫描的检测结果进行不良的详细定位。
步骤803、对该不良进行维修。
查看某不良时,系统的运动控制单元会根据系统自身已经设置好的坐标系统,参照不良的具体点坐标,将显微镜头即激光头移动到此坐标上方,操作者在主机显示界面中观察当前点上的TFT阵列,发现不良并确定维修方法,然后在不良的特定位置用激光进行切割,实现维修。
本发明所述的阵列电路维修方法,通过对阵列电路存在不良的特殊区域、数据线或者栅线进行线性检测,确定存在不良的具体点坐标;并根据所述不良的具体点坐标对阵列电路进行激光维修,因此可以提高良品率,减少操作时的查找时间,降低不良的漏出,从而节约了成本,创造了效益。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求所界定的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种阵列电路维修系统,包括:系统控制单元,所述系统控制单元连接有运动单元,所述运动单元设置有查找定位单元以及维修单元,其特征在于,所述运动单元上还设置有线性扫描检测单元,其中
线性扫描检测单元用于对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息,所述线性扫描检测单元包括:线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元。
2.根据权利要求1所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述系统控制单元包括程序控制微机,所述程序控制微机一端连接有人机交互子单元,另一端连接有维修控制子单元和运动控制子单元,其中,
所述维修控制子单元还与所述维修单元相连;
所述运动控制子单元还与所述运动单元相连。
3.根据权利要求2所述的阵列电路维修系统,其特征在于,
所述运动单元包括电机及运动轴,所述运动控制子单元包括运动控制卡和电机驱动器。
4.根据权利要求2所述的阵列电路维修系统,其特征在于,
所述线性照相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连。
5.根据权利要求3所述的阵列电路维修系统,其特征在于,
所述查找定位单元包括CCD相机及安装在CCD相机上的光学系统单元,其中,所述CCD相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连,或
当所述线性照相机为可以实现静态彩色影像的线性照相机时,所述查找定位单元的功能由所述线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元实现,其中,所述线性照相机与设在所述程序控制微机上的影像采集卡相连。
6.根据权利要求3所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述维修单元为激光器以及安装在激光器上的光学系统单元,所述维修控制子单元为激光控制器。
7.根据权利要求4、5或6所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述光学系统单元包括反射镜、滤光片、遮光片、衰减器以及显微镜头。
8.根据权利要求4或5所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述线性照相机可以自由旋转。
9.根据权利要求3所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述运动轴数量为一根;
所述查找定位单元、维修单元和线性扫描检测单元集成为一体,共同设置在所述的一根运动轴上。
10.根据权利要求3所述的阵列电路维修系统,其特征在于,所述运动轴数量为两根;
所述查找定位单元与维修单元、线性扫描检测单元分别设置在所述的两根运动轴上。
11.一种阵列电路维修方法,其特征在于,包括步骤:
包括线性照相机及安装在线性照相机上的光学系统单元的线性扫描检测单元对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息;
包括CCD相机及安装在CCD相机上的光学系统单元的查找定位单元根据所述的不良信息进行不良的查找定位;
对所述不良进行维修。
12.根据权利要求11所述的阵列电路维修方法,其特征在于,所述对阵列电路坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到准确的不良信息的步骤包括:
对坐标不确定的不良进行线性扫描检测,得到扫描信息;
线性照相机的扫描结果传输到程序控制微机的影像采集卡,经过运算处理,得到准确的不良点坐标。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN103885231B (zh) * 2014-03-11 2016-04-20 京东方科技集团股份有限公司 显示面板标记装置和显示面板标记方法
CN105204195B (zh) * 2015-09-21 2018-05-25 京东方科技集团股份有限公司 一种液晶面板成盒检测集成系统
CN109634005A (zh) * 2018-11-30 2019-04-16 深圳市华星光电技术有限公司 阵列基板制作过程中的修补方法
CN110428764B (zh) * 2019-07-16 2022-10-04 Tcl华星光电技术有限公司 显示面板检测方法
CN110890043B (zh) * 2019-11-26 2023-06-02 深圳市华星光电半导体显示技术有限公司 一种十字线缺陷检测方法、系统、阵列基板及显示面板
CN111221157B (zh) * 2020-01-16 2023-03-07 深圳谦华益科技有限公司 一种带光学扫描的lcd显示检测系统

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1494047A (zh) * 2002-07-25 2004-05-05 日本先锋公司 用于显示板的显示检验方法和显示检验装置
CN1697995A (zh) * 2003-05-09 2005-11-16 奥林巴斯株式会社 缺陷修正装置及其缺陷修正方法
CN1755437A (zh) * 2004-09-27 2006-04-05 株式会社日立显示器 图形修正装置和显示装置的制造方法
WO2008015738A1 (fr) * 2006-08-01 2008-02-07 Shimadzu Corporation Dispositif d'inspection et de réparation de substrat et système d'évaluation de substrat

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1494047A (zh) * 2002-07-25 2004-05-05 日本先锋公司 用于显示板的显示检验方法和显示检验装置
CN1697995A (zh) * 2003-05-09 2005-11-16 奥林巴斯株式会社 缺陷修正装置及其缺陷修正方法
CN1755437A (zh) * 2004-09-27 2006-04-05 株式会社日立显示器 图形修正装置和显示装置的制造方法
WO2008015738A1 (fr) * 2006-08-01 2008-02-07 Shimadzu Corporation Dispositif d'inspection et de réparation de substrat et système d'évaluation de substrat

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