KR100650353B1

KR100650353B1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법

Info

Publication number: KR100650353B1
Application number: KR1020057015507A
Authority: KR
Inventors: 츠네오 아쿠라; 다카오 와키타니
Original assignee: 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤
Priority date: 2003-11-27
Filing date: 2004-11-22
Publication date: 2006-11-28
Also published as: JP2005183367A; JP4600008B2; US20060132049A1; WO2005052975A8; CN100477062C; US7525512B2; CN1757089A; KR20050121676A; WO2005052975A1

Abstract

행방향으로 형성된 전극과 열방향으로 형성된 전극의 입체 교차부에 복수의 셀이 형성되고, 1필드를 복수의 서브 필드로 구성하여 점등시키는 서브 필드의 조합에 의하여 계조 표시를 행하는 플라즈마 디스플레이의 점등 검사 방법에 있어서, 소정의 서브 필드에서 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하지 않고 검사 대상의 셀에 인접한 셀 중 적어도 1개의 셀인 특정 셀에 기입 펄스 전압을 인가하고, 다음 서브필드에 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가한다.

검사 대상의 셀의 격벽에 결함이 있으면, 인접 셀의 방전이 그 격벽을 통해서 그 검사 대상의 셀의 벽 전하량에 영향을 미치고, 다음 서브 필드에서 그 검사 대상의 셀이 점등하지 않기 때문에, 격벽의 결함에 기인하는 점등 불량을 검사할 수 있다.

Description

플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법{PLASMA DISPLAY PANEL LIGHTING INSPECTING METHOD}

본 발명은, 플라즈마 디스플레이 패널에 구동 회로를 설치하기 전에, 플라즈마 디스플레이 패널의 셀을 점등시키는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법에 관한 것이다.

최근, 얇고 대화면의 평면형 표시 디바이스로서 플라즈마 디스플레이 패널(이하, 「PDP」라고 약기한다)이 주목받고 있고, 3전극을 구비한 면방전 형식의 AC형 PDP가 그 대표적인 구조이다. AC형 PDP는, 행방향으로 늘어선 주사 전극 및 유지 전극이 복수쌍 배열된 전면판과, 열방향으로 늘어선 복수의 어드레스 전극이 배열된 배면판이 격벽을 사이에 두고 대향 배치되며, 그 사이에 방전 공간을 형성하도록 구성되어 있다. 그리고, 1쌍의 주사 전극 및 유지 전극과 1개의 어드레스 전극이 입체 교차한 부분에, 격벽으로 구분된 셀이 형성되어 있다.

PDP를 구동하는 방법으로서는 서브 필드법, 즉, 영상 신호의 l필드 기간을 휘도의 가중을 갖는 복수의 서브 필드로 분할하고, 방전을 일으키는 서브 필드를 조합시키는 것으로 영상 신호의 계조(階調)를 표시하는 방법이 일반적이다. 여기서, 서브 필드는, 셀 내에 소정의 벽 전하를 형성하기 위한 초기화 방전을 발생시 키는 초기화 기간, 점등시켜야 할 셀을 선택하는 어드레스 방전을 발생시키는 어드레스 기간 및 선택한 셀에서 유지 방전을 발생시키는 방전 유지 기간을 갖는다. 그리고 유지 방전에 따른 발광에 의해 화상을 표시한다. 또한, 초기화 방전에 의한 발광을 극력 감소시키는 것에 의해, 콘트라스트비를 향상시킨 PDP의 구동 방법도 제안되어 있다 (예를 들어 일본국 특개 2000-242224호 공보 참조).

그렇지만, 셀에 기입 펄스 전압을 인가하더라도, 어드레스 방전이 발생하지 않고, 또는 어드레스 방전이 발생하더라도 유지 방전이 발생하지 않는 문제점이 발생하는 PDP가 제조되는 경우가 있었다. 제조 공정에서는, PDP에 구동 회로를 설치하기 전에 PDP의 점등 검사를 행하고 있지만, 상기와 같은 문제점의 유무를 검사하는 효과적인 방법이 없었다.

본 발명은 이와 같은 과제를 해결하기 위하여 이루어진 것으로, 유지 방전시키지 않으면 안되는 서브 필드에서 유지 방전이 발생하지 않은 셀을 갖는 PDP의 검사를 효과적으로 행하는 것을 목적으로 한다.

상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명은, 행방향으로 형성된 전극과 열방향으로 형성된 전극의 입체 교차부에 복수의 셀이 형성되고, 초기화 방전을 발생시키는 초기화 기간, 기입 펄스 전압을 인가하여 어드레스 방전을 발생시키는 어드레스 기간 및 유지 방전을 발생시켜 셀을 점등시키는 방전 유지 기간을 갖는 서브 필드를 복수 사용하여 1필드를 구성하고, 셀을 점등시키는 서브 필드의 조합에 의하여 계조 표시를 행하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법에 있어서, 소정의 서브 필드에서 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 검사 대상의 셀에 인접한 셀 중 적어도 1개의 셀인 특정 셀에 기입 펄스 전압을 인가하고, 다음 서브 필드에서 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법이다.

도 l은 본 발명의 실시형태 1에서의 PDP의 셀 구조를 도시하는 단면도이다.

도 2는 PDP의 셀 배열을 모식적으로 도시하는 그림이다.

도 3은 PDP를 구동할 때의 서브 필드 구성을 도시하는 그림이다.

도 4는 PDP의 구동 방법을 도시하는 구동 파형도이다.

도 5는 PDP의 점등 검사 장치의 회로 블록도이다.

도 6은 본 발명의 실시형태 1에서의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다.

도 7은 본 발명의 실시형태 2에서의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다.

도 8은 본 발명의 실시형태 3에서의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다.

이하, 본 발명의 실시형태 1에 관하여, 도면을 참조하면서 설명한다.

(실시형태 1)

우선, 본 발명의 실시형태 1에서의 PDP의 구조에 관하여 설명한다. 도 1은 본 발명의 실시형태 1에 사용되는 PDP의 구조를 도시하는 단면도이고, 도 1A는 행방향으로 절단한 단면도이며, 도 lB는 열방향으로 절단한 단면도이다. 전면판(1)상에는, 스트라이프상의 주사 전극(2)및 유지 전극(3)으로 이루어지는 표시 전극(4)이 행방향으로 평행하게 복수 형성되어 있고, 표시 전극(4)을 덮도록 유전체층(5)이 형성되며, 유전체층(5)상에 보호층(6)이 형성되어 있다. 또한, 전면판(1)에 대향하여 배치된 배면판(7)상에는 스트라이프상의 어드레스 전극(8)이 열방향으로 평행하게 복수 형성되어 있고, 어드레스 전극(8)을 덮도록 기초 유전체층(9)이 형성되어 있다. 기초 유전체층(9)상에는 어드레스 전극(8)의 사이에 위치하며 어드레스 전극(8)에 평행한 열 격벽(10)이 형성되고, 또한 표시 전극(4)의 사이에 위치하며 표시 전극(4)에 평행한 행 격벽(11)이 형성되어 있다. 그리고, 열 격벽(10) 및 행격벽(11)으로 둘러싸인 공간에는 적색(R), 녹색(C), 청색(B)으로 발광하는 형광체층(12)이 형성되어 있다. 표시의 최소 단위인 셀은, 행방향으로 형성된 표시 전극(4)과 열방향으로 형성된 어드레스 전극(8)의 입체 교차부에 형성된다. 그리고 각 셀에서 방전에 의해 자외선을 발생시키고, 이 자외선으로 형광체층(12)을 발광시켜 화상 표시를 행한다.

도 2는 PDP의 셀 배열을 모식적으로 도시한 그림이고, 적색의 형광체층을 갖는 셀(이하, 「R셀」이라고 약기한다)(13)과 녹색의 형광체층을 갖는 셀(이하, 「G셀」이라고 약기한다)(14)와 청색의 형광체층을 갖는 셀(이하, 「B셀」이라고 약기한다)(15)로 이루어지는 화소가 m행 n열로 배열되어 있다. 도 2에서, 부호 X1 내지 Xm은 1행 내지 m행의 셀의 배열 부호를 도시하고, 부호 AR1 내지 ARn은 l열 내 지 n열의 R셀(13)의 배열 부호를 도시하며, 부호 AGl 내지 AGn은 1열 내지 n열의 G셀(14)의 배열 부호를 도시하고, 부호 AB1 내지 ABn은 l열 내지 n열의 B셀(15)의 배열 부호를 도시하고 있다.

도 3은, 본 발명의 실시형태 1에서의 서브 필드 구성을 도시하고 있고, 영상 신호의 l필드를 복수의 서브 필드로 구성하고, 점등시키는 서브 필드의 조합에 의하여 계조 표시를 행하고 있다. 1필드는, 예를 들어 8개의 서브 필드 1SF 내지 8SF에 의하여 구성되고, 각 서브 필드는 초기화 기간, 어드레스 기간 및 방전 유지 기간을 갖고 있다. 각 서브 필드의 방전 유지 기간은 각각의 서브 필드마다 설정된 휘도에 대응하여 가중되어 있고, 예를 들어, 1SF 내지 8SF의 각 서브 필드의 가중을 1 : 2 : 4 : 8 : 16 : 32 : 64 : 128로 하는 것에 의해, 점등시키는 서브 필드의 조합에 의하여 256계조를 표시할 수 있다.

도 4는, 본 발명의 실시형태 1에서의 PDP의 구동 방법을 설명하기 위한 구동 파형도이다. 제1 서브 필드의 초기화 기간에서는, 모든 어드레스 전극 및 모든 유지 전극을 0(V)로 유지하고, 모든 주사 전극에 방전 개시 전압 이하가 되는 전압 Vp(V)부터, 방전 개시 전압을 초과하는 전압 Vr(V)로 향하여 완만하게 상승하는 램프 전압를 인가하는 것에 의해, 모든 셀에서 미약 방전을 일으키며, 유지 전극상 및 어드레스 전극상에 양의 벽 전하를 비축하고, 주사 전극상에 음의 벽 전하를 비축한다. 그 후에, 모든 유지 전극을 정(正)전압 Vh(V)로 유지하고, 모든 주사전극에 Vg(V)부터 Va(V)로 향하여 완만하게 하강하는 램프 전압을 인가하는 것에 의해, 모든 셀에서 미약 방전을 일으키고, 각 전극상에 비축된 벽 전하를 약하게 한다. 이러한 초기화 방전을 일으키는 것에 의해, 셀 내의 전압은 방전 개시 전압에 가까운 전압이 된다.

제l 서브 필드의 어드레스 기간에서는, l행째부터 순차로 주사 전극에 주사 펄스 전압 Vb(V)를 인가하는 동시에, 영상 신호에 따라서 소망의 어드레스 전극에 기입 펄스 전압 Vw(V)를 인가하는 것에 의해, 점등시키고 싶은 셀에만 어드레스 방전을 일으킨다. 이것에 의해, 영상 신호에 대응한 벽 전하가 셀에 형성된다.

제1 서브 필드의 방전 유지 기간에서는, 모든 주사 전극 및 모든 유지 전극에 유지 펄스 전압 Vm(V)을 교대에 인가하는 것에 의해, 어드레스 방전을 일으킨 셀에서 유지 방전을 일으켜 점등시킨다. 이 유지 방전에 따른 발광에 의해 화상 표시가 행해진다.

제2 서브 필드의 초기화 기간이 시작되는 시점에서는, 제l 서브 필드에서 유지 방전을 행한 셀에서는 유지 전극상 및 어드레스 전극상에는 양의 벽 전하가 존재하고, 주사 전극상에는 음의 벽 전하가 존재하고 있다. 제2 서브 필드의 초기화기간에서, 모든 유지 전극을 Vh(V)로 유지하고, 모든 어드레스 전극을 0(V)로 유지하며, 모든 주사 전극에 Vm(V)부터 Va(V)로 향하여 완만하게 하강하는 램프 전압을 인가한다. 이 램프 전압이 하강하는 사이에, 직전의 서브 필드(제1 서브 필드)에서 유지 방전을 행한 셀에서는 미약 방전이 발생하고, 각 전극상에 형성된 벽 전하가 약해지며, 셀 내의 전압은 방전 개시 전압에 가까운 전압이 된다. 한편, 제1 서브 필드에서 어드레스 방전 및 유지 방전을 행하지 않은 셀에 관해서는, 제 2 서브 필드의 초기화 기간에서 미약 방전하는 경우는 없고, 제1 서브 필드의 초기화 기간 종료시에서의 벽 전하가 유지되고 있다.

제2 서브 필드의 어드레스 기간 및 방전 유지 기간에 관해서는, 제1 서브 필드의 경우와 동일한 파형을 인가하는 것에 의해, 영상 신호에 대응한 셀에서 유지 방전을 발생시킨다. 또한, 제3 서브 필드부터 제8 서브 필드에 관해서는, 제2 서브 필드와 동일한 구동 파형을 각 전극에 인가하는 것에 의해, 소망의 화상 표시가 행해진다.

이와 같이, 제l 서브 필드에서는 모든 셀에서 초기화 방전이 발생하는 완전 초기화 동작이 행해지고, 제2 서브 필드부터 제8 서브 필드에서는 직전의 서브 필드에서 유지 방전이 발생한 셀에서만 초기화 방전이 발생하는 선택 초기화 동작이 행해진다. 따라서, 표시 발광에 기여하지 않은 제1 서브 필드의 완전 초기화 동작에 따른 발광은 램프 전압에 의한 미약 발광이고, 제2 서브 필드부터 제8 서브 필드에서는 선택 초기화 동작을 행하기 때문에 콘트라스트가 높은 영상 표시가 가능하게 된다.

그렇지만, 격벽의 일부에 패임 또는 솟아오름 등의 미소 결함이 존재하는 경우, 이와 같은 결함이 존재하는 셀을 점등시키지 않고, 그 셀에 인접한 셀을 점등시키는 서브 필드에 있어서, 인접한 셀의 방전의 영향에 의하여 결함이 존재하는 셀의 벽 전하가 감소하는 경우가 있다. 그리고 이 경우, 그 후의 서브 필드에서 결함이 존재하는 셀에 기입 펄스 전압을 인가하더라도, 어드레스 방전이 발생하지 않으며, 또는 어드레스 방전이 발생하더라도 유지 방전에 필요한 벽 전하에 이르지 않고 유지 방전이 발생하지 않는 문제점이 발생하는 것을 알았다.

도 5는, 상술한 문제점이 발생하는 PDP를 검출하기 위한, 본 발명의 실시형태 1에서의 PDP의 점등 검사 장치의 회로 블록을 도시하는 그림이다. PDP의 점등 검사 장치는, PDP(16)의 주사 전극(2)을 구동시키기 위한 주사 전극 드라이버(17)와, 유지 전극(3)을 구동시키기 위한 유지 전극 드라이버(18)와, 어드레스 전극(8)을 구동시키기 위한 어드레스 전극 드라이버(l9)와, 서브 필드 제어 회로(20)와, 프로그래머블 메모리(21)와, 제어용 퍼스널 컴퓨터(22)를 구비하고 있다. 제어용 퍼스널 컴퓨터(22)는, 후술하는 서브 필드의 기입 패턴을 작성하고, 작성된 서브 필드의 기입 패턴은 프로그래머블 메모리(21)로 전송되어 격납된다. 그리고 프로그래머블 메모리(21)에 격납된 기입 패턴을 서브 필드 제어 회로(20)가 읽어 내고, 그 데이터에 기초하여 주사 전극 드라이버(l7), 유지 전극 드라이버(18) 및 어드레스 전극 드라이버(19)는 PDP(16)의 각 전극을 구동한다.

다음으로, 이 PDP의 점등 검사 장치를 사용하여 PDP(16)를 점등 검사하는 방법에 관하여 설명한다. 점등 검사시에 PDP(16)의 각 전극에 인가하는 구동 파형은 도 4에 도시한 것과 동일하다. 도 6은, 실시형태 1에서, PDP(l6)의 점등 검사를 행할 때의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다. 여기서, 기입 패턴이란 각 서브 필드의 어드레스 기간마다 어드레스 방전을 발생시키기 위한 기입 펄스 전압을 셀에 인가하는지 하지 않는지를 도시한 패턴이다. 도 6에 도시하는, 홀수행의 R셀 및 홀수행의 B셀에는 1SF 내지 3SF에서 연속하여 기입 펄스 전압을 인가하고, 4SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 또한, 홀수행의 G셀에는 4SF에서만 기입 펄스 전압을 인가하고, 1SF 내지 3SF 및 5SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 한편, 짝수행의 모든 셀에는 l필드에 걸쳐서 기입 펄스 전압을 인가하지 않는다.

이 때, 홀수행 G셀의 열 격벽(10) 또는 행 격벽(11)의 일부에 솟아오름이나 결손 등의 미소 결함이 존재하면, 그 G셀 내의 벽 전하는 인접한 R셀이나 B셀의 방전에 의하여 영향을 받기 쉽게 된다. 구체적으로는, 1SF 내지 3SF에서 R셀이나 B셀에서 발생한 하전(荷電)입자가 격벽의 결함을 빠져 나가, G셀의 벽 전하를 감소시키는 경우가 있다. 홀수행의 G셀은 1 SF 내지 3SF에서는 점등하지 않기 때문에, 선택 초기화 동작을 행하는 4SF의 초기화 기간에는 초기화 방전이 발생하지 않는다. 그리고, G셀 내의 벽 전하가 부족한 채로, 이어지는 어드레스 기간에서 기입 펄스 전압을 인가하더라도 충분한 벽 전하가 형성되지 않고, 이어지는 방전 유지 기간에서 유지 방전이 발생하지 않고 점등이 되지 않게 된다. 따라서, 도 6에 도시하는 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 검사 대상의 셀을 홀수행의 G셀로 하여, 행방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

다음 필드에서는, 도 6에 도시하는 기입 패턴의 짝수행과 홀수행을 교체한 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행한다. 즉, 홀수행의 모든 셀에는 1필드에 걸쳐서 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 짝수행의 R셀 및 짝수행의 B셀에는 1SF 내지 3SF에서 연속하여 기입 펄스 전압을 인가하며, 4SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 또한, 짝수행의 G셀에는 4SF만 기입 펄스 전압을 인가하고, 1SF 내지 3SF 및 5SF 내지 8SF에서 인가하지 않는다. 이와 같은 기입 패턴으로 점등 검사를 행하는 것에 의해, 검사 대상의 셀을 짝수행의 G셀로 하여, 행방향에 인접한 셀의 방 전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

또한, 다른 필드에서, 전술한 기입 패턴을 R셀, G셀, B셀 사이에서 교체하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 홀수행의 R셀, 짝수행의 R셀, 홀수행의 B셀, 짝수행의 B셀의 각각을 검사 대상의 셀로 하여, 행방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

상술한 점등 검사에서 이와 같은 불점등이 검출되면, 행방향에 인접한 셀의 방전에 의하여 표시 불량이 되는 셀을 가지는 PDP를 검출할 수 있다. 이와 같이 하여, 점등 검사의 정밀도를 향상시키는 것에 의해, 후의 제조 공정으로의 불량 패널의 유출을 방지할 수 있고, 제조 공정에서의 손실 비용을 대폭 저감할 수 있다.

(실시형태 2)

다음으로, 본 발명의 실시형태 2에서의 PDP의 점등 검사 방법에 관하여 설명한다. 실시형태 2에 있어서 실시형태 1과 상이한 점은, PDP(16)의 점등 검사를 행할 때의 서브 필드의 기입 패턴이다.

도 7은, 실시형태 2에서 PDP(16)의 점등 검사를 행할 때의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다. 이와 같이, 모든 R셀 및 B셀에는 1필드에 걸쳐서 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 홀수행의 G셀에는 1SF 내지 3SF에서 연속하여 기입 펄스 전압을 인가하며, 4SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 또한, 짝수행의 G셀에는 4SF에서만 기입 펄스 전압을 인가하고, 1SF 내지 3SF 및 5SF 내지 8SF에서 인가하지 않는다.

이 때, 짝수행의 G셀의 열 격벽(10) 또는 행 격벽(11)의 일부에 솟아오름이 나 결손 등의 미소 결함이 존재하면, 그 G셀 내의 벽 전하가, 인접한 G셀의 방전에 의하여 영향을 받아 감소하는 경우가 있다. 짝수행의 G셀에서는 1SF 내지 3SF에서 점등하지 않고 있기 때문에, 선택 초기화 동작을 행하는 4SF의 초기화 기간에서 초기화 방전이 발생하지 않는다. 그리고, 그 G셀 내의 벽 전하가 감소한 채로, 이어지는 어드레스 기간에서 짝수행의 G셀에 기입 펄스 전압을 인가하더라도 필요한 벽 전하가 형성되지 않고, 이어지는 방전 유지 기간에서 유지 방전이 발생하지 않고 점등이 되지 않게 된다. 따라서, 도 7에 도시하는 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 검사 대상의 셀을 짝수행의 G셀로 하여, 열방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

다음 필드에서는, 도 7에 도시한 기입 패턴의 짝수행과 홀수행을 교체한 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행한다. 즉, 모든 R셀 및 B셀에는 1필드에 걸쳐서 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 짝수행의 G셀에는 1SF 내지 3SF에서 기입 펄스 전압을 인가하며, 4SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 또한, 홀수행의 G셀에는 4SF에서만 기입 펄스 전압을 인가하고, 1SF 내지 3SF 및 5SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 이와 같은 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 검사 대상의 셀을 홀수행의 G셀로 하여, 열방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

또한, 다른 필드에서는, 전술한 기입 패턴을 R셀, G셀, B셀 사이에서 교체하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 홀수행의 R셀, 짝수행의 R셀, 홀수행의 B셀, 짝수행의 B셀 각각을 검사 대상의 셀로 하여, 열방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영 향에 관하여 검사할 수 있다.

상술한 점등 검사에서 불점등이 검출되면, 열방향에 인접한 셀의 방전에 의하여 영향을 받아 표시 불량을 발생시키는 셀을 가지는 PDP를 검출할 수 있다. 이와 같이 하여, 점등 검사의 정밀도를 향상하고, 후의 제조공정에 불량 패널이 이송되는 것을 막을 수 있으며, 제조 공정에서의 손실 비용을 대폭 저감할 수 있다.

(실시형태 3)

다음으로, 본 발명의 실시형태 3에서의 PDP의 점등 검사 방법에 관하여 설명한다. 실시형태 3에 있어서 실시형태 1, 2와 상이한 점은, PDP(16)의 점등 검사를 행할 때의 서브 필드의 기입 패턴이며, 다른 구성은 실시형태 1, 2와 동일하다.

도 8은, 실시형태 3에서 PDP(16)의 점등 검사를 행할 때의 서브 필드의 기입 패턴을 도시하는 그림이다. 이와 같이, 짝수행의 R셀, 짝수행의 B셀 및 홀수행의 G셀의 모든 셀에는 1필드에 걸쳐서 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 홀수행의 R셀 및 홀수행의 B셀에는 lSF 내지 3SF에서 기입 펄스 전압를 인가하며, 4SF 내지 8SF에서는 인가하지 않는다. 또한, 짝수행의 G셀에는 4SF에서만 기입 펄스 전압을 인가하고, 1SF 내지 3SF 및 5SF 내지 8SF에서 인가하지 않는다.

이 때에도, 열 격벽(l0) 또는 행 격벽(11)의 일부에 솟아오름이나 결손 등의 미소 결함이 존재하면, 대각 방향에 인접한 R셀, B셀의 방전에 의하여 영향을 받고, G셀 내의 벽 전하가 감소하는 경우가 있다. 그리고, G셀 내의 벽 전하가 부족한 채로, 이어지는 어드레스 기간에서 기입 펄스 전압을 인가하더라도 유지 방전하기 위하여 필요한 벽 전하가 형성되지 않고, 이어지는 방전 유지 기간에서 점등이 되지 않게 된다. 따라서, 도 8에 도시하는 기입 패턴을 사용하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 검사 대상의 셀을 짝수행의 G셀로 하여, 대각 방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

다음 필드에서는, 도 8에 도시한 기입 패턴의 짝수행과 홀수행을 교체한 기입 패턴으로 한다. 또한, 다른 필드에서는, 도 8에 도시한 기입 패턴을 R셀, G셀, B셀 사이에서 교체하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 홀수행의 R셀, 짝수행의 R셀, 홀수행의 B셀, 짝수행의 B셀의 각각을 검사 대상의 셀로 하여, 대각 방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

상술한 점등 검사에서 이와 같은 불점등이 검출되면, 대각 방향에 인접한 셀의 방전에 의하여 영향을 받아 표시 불량을 발생하는 셀을 가지는 PDP를 검출할 수 있다.

또, 상술한 실시형태 1 내지 3에서, 검사 시간을 단축하기 위하여, 짝수행과 홀수행의 교체, R셀, G셀, B셀 사이의 교체를 포함하는 각 기입 패턴의 점등 검사의 검사 기간을 각각 l필드로 설정하고, CCD 카메라를 사용한 화상 인식 시스템을 사용하여 점등이 되지 않는 셀의 유무를 검출하여도 된다. 물론, 점등이 되지 않는 셀의 유무를 검사원이 목시(目視)로 판단하는 것도 가능하고, 이 경우에는 사람이 목시로 판단할 수 있도록 검사 기간을 복수 필드 연속시켜도 된다.

또한, 검사 대상의 셀에 인접한 셀은 lSF 내지 3SF에서 점등시키고, 검사 대상의 셀은 4SF만 점등시키고 있다. 이 때, 4SF 내지 8SF의 각 서브 필드에서의 인접 셀을 점등 및 불점등의 어느 것으로 설정하더라도 검사하는 것은 가능하다. 그 러나, 인접 셀을 4SF 내지 8SF의 적어도 1개의 서브 필드에서 점등시키면, 검사 대상의 셀이 4SF에서 점등하고 있는지 아닌지 의 판정이 어렵게 되는 경향이 있다. 이 때문에, 상기 각 실시형태와 같이 인접 셀은 4SF 내지 8SF에서 점등시키지 않은 것이 바람직하다.

또한, 상기의 각 실시형태에서는, 검사 대상의 셀에는 lSF 내지 3SF에서 기입 펄스 전압을 인가하지 않고 4SF에서 인가하였지만, 기입 펄스 전압을 인가하는 서브 필드는 4SF에 한정되는 것이 아니라, 선택 초기화 동작이 행해지는 서브 필드이면 패널 특성에 맞추어 적절히 선택하여 설정하면 된다. 예를 들어, 1SF 내지 5SF에서 인가하지 않고, 6SF에서 인가하여도 된다.

또한, 실시형태 1에서는 검사 대상의 셀에 대하여 행방향에 인접한 셀의 영향에 관하여 검사하는 방법, 실시형태 2에서는 열방향에 인접한 셀의 영향에 관하여 검사하는 방법, 실시형태 3에서는 대각 방향에 인접한 셀의 영향에 관하여 검사하는 방법을 각각 설명하였지만, 행방향, 열방향 및 대각 방향 중 적어도 2개의 방향에 인접한 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사하도록 기입 패턴을 설정하여도 된다. 또한, 검사 대상의 셀에 인접한 셀 중, 어느 1개의 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사하는 것도 가능하다. 즉, 소정의 서브 필드에서, 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 검사 대상의 셀에 인접한 셀 중 적어도 1개의 셀인 특정 셀에 기입 펄스 전압을 인가하고, 다음 서브 필드에서, 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하여 점등 검사를 행하는 것에 의해, 인접 셀의 방전에 의한 영향에 관하여 검사할 수 있다.

또, 상기 각 실시형태에서는, 열 격벽(10) 및 행 격벽(11)을 구비한 PDP를 점등 검사하는 경우에 관하여 설명하였지만, 행 격벽(11)을 구비하고 있지 않은 PDP에 관해서도 본 발명을 적용할 수 있다.

본 발명의 PDP의 점등 검사 방법에 의하면, 유지 방전시키지 않으면 안되는 서브 필드에서 유지 방전이 발생하지 않는 셀을 갖는 PDP의 검사를 효과적으로 행할 수 있다.

이상과 같이 본 발명의 PDP의 점등 검사 방법에 의하면, 유지 방전시키지 않으면 안되는 서브 필드에서 유지 방전을 할 수 없는 셀을 갖는 PDP의 검사를 효과적으로 행할 수 있기 때문에, PDP에 구동 회로를 설치하기 전에 PDP의 셀을 점등하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법으로서 유용하다.

Claims

행방향으로 형성된 전극과 열방향으로 형성된 전극과의 입체 교차부에 복수의 셀이 형성되고, 초기화 방전을 발생시키는 초기화 기간, 기입 펄스 전압을 인가하여 어드레스 방전을 발생시키는 어드레스 기간 및 유지 방전을 발생시켜 셀을 점등시키는 방전 유지 기간을 갖는 서브 필드를 복수 사용하여 1필드를 구성하고, 셀을 점등시키는 서브 필드의 조합에 의하여 계조 표시를 행하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법에 있어서,

소정의 서브 필드에서, 검사 대상의 셀에 기입 펄스 전압을 인가하지 않고, 상기 검사 대상의 셀에 인접한 셀 중 적어도 1개의 셀인 특정 셀에 상기 기입 펄스 전압을 인가하고,

다음 서브 필드에서, 상기 검사 대상의 셀에 상기 기입 펄스 전압을 인가하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법.
제 1 항에 있어서,

특정 셀은, 검사 대상의 셀에 대하여 행방향에 인접한 셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법.
제 1 항에 있어서,

특정 셀은, 검사 대상의 셀에 대하여 열방향에 인접한 셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법.
제 1 항에 있어서,

특정 셀은, 검사 대상의 셀에 대하여 대각 방향에 인접한 셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법.
제 1 항에 있어서,

특정 셀은, 검사 대상의 셀에 대하여 행방향, 열방향 및 대각 방향 중 적어도 2개의 방향에 인접한 셀인 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 점등 검사 방법.