JP2006339027A - プラズマディスプレイパネル点灯検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】プラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際の検査精度を向上させる。
【解決手段】行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、書き込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間と、維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間とを有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、少なくとも１つのサブフィールドで、検査対象のセル（Ｇセル１４）に書き込みパルス電圧を印加するとともに、検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセル（Ｒセル１３、Ｂセル１５）に書き込みパルス電圧を印加しないようにする。
【選択図】図６

Description

本発明は、プラズマディスプレイパネル（ＰＤＰ）に駆動回路を実装する前に、信号を入力し点灯させて検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法に関するものである。

一般的なＡＣ型カラーＰＤＰにおいては、表示電極が形成された基板とアドレス電極が形成された基板とが、基板間に放電空間を形成するように対向して配置されて周囲が封着され、放電空間に放電ガスが封入されている。表示電極は誘電体層で覆われ、その誘電体層上には保護層が形成されている。また、アドレス電極は誘電体層で覆われ、その誘電体層上には隔壁と赤、緑、青の各色に発光する蛍光体層が形成されている。表示電極とアドレス電極の立体交差部にはセルが形成され、これらのセルは放電現象を利用して発光するために、放電時の“点灯状態”と非放電時の“消灯状態”の２つの状態しか取り得ない。よってＰＤＰはオンかオフの２値発光素子である。

そこでＰＤＰにおいて映像信号に対応した中間階調を表示させるためには、サブフィールド法を用いた駆動を行うことが一般的である。サブフィールド法では、１フィールドの表示期間を輝度の重み付けが異なる複数のサブフィールドに分割し、各サブフィールドにおいて、点灯させるセルを選択するためのアドレス放電を行い、その選択されたセルで維持放電を行うことにより、任意の階調を表示させることが可能になる。例えば、１フィールドを１ＳＦ〜８ＳＦまでの８つのサブフィールドに分割し、それぞれのサブフィールドの輝度の重み付けを１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８とすることにより、表示サブフィールドの組み合わせによって２５６階調の表示を実現させることができる。

また各階調におけるサブフィールドの選択は予めプログラムされていて、１つの階調には１つのサブフィールドの組み合わせが対応する。例えば１４６階調を表示させるためには２ＳＦ、５ＳＦ、８ＳＦを点灯させ、例えば２００階調を表示させるためには、４ＳＦ、７ＳＦ、８ＳＦを点灯させる。

このＰＤＰをテレビ受像機として使用する場合には、１秒間に６０枚の静止画像（１ＴＶフィールド）の連続として動画を表示することになり、１秒間に６０回ＴＶフィールドを表示させる必要がある。

通常、ＰＤＰの製造工程においては、信号伝達手段であるフレキシブルプリント配線板（ＦＰＣ）をＰＤＰの各電極の端子に圧着した後、そのＰＤＰを金属製のシャーシに熱伝導シートを介して接着し、続いて前記シャーシに信号処理回路基板、駆動回路基板、電圧供給基板、入力信号変換基板、チューナー回路基板等を実装する。この製造工程では、シャーシに信号処理回路基板等を実装する実装工程への不良パネルの流出を防ぐため、ＰＤＰの各電極の端子にＦＰＣを圧着する前にＰＤＰに点灯信号を入力し、輝度測定、不灯セル検出等の点灯検査を行っている（例えば特許文献１参照）。
特開２００４−１７０２４２号公報

ところで、ＰＤＰの製造工程のばらつき等により、保護層や誘電体層の膜質が不均一となることや隔壁に微小欠陥が存在することで、アドレス放電に放電遅れが生じ、アドレス時間内にアドレス放電が完全に終了しないために、その後の維持放電に必要な壁電荷が蓄積されず、本来点灯するべきサブフィールドが点灯できないセル（不良セル）が存在する場合がある。このような不良セルを点灯検査において検出する場合、検査対象のセル（対象セル）の周辺に位置するセル（周辺セル）の放電状態を考慮しなければ検査精度が低下することがわかった。すなわち、周辺セルが対象セルと同一のサブフィールドにおいて放電する場合には、周辺セルから対象セルへの電荷の移動により、対象セルの放電遅れが早まり、アドレス放電によって適切な壁電荷が蓄積されて、所望の維持放電が行われる可能性がある。一方、周辺セルが対象セルと同一のサブフィールドにおいて放電しない場合には、周辺セルから対象セルへの電荷の移動がないため、対象セルの放電遅れが大きくなり、アドレス放電による適切な壁電荷が蓄積されずに、維持放電が行われず、表示ちらつきや不灯となり、著しい画質劣化を招く可能性がある。このように、対象セルにおける動作は周辺セルの放電状態の影響を受けるため、対象セルが放電しにくい状態で前記不良セルの有無を検査する必要があるが、この影響を考慮した検査は行われていなかった。

本発明はこのような課題を解決するためになされたものであり、ＰＤＰの点灯検査を行う際の検査精度を向上させることを目的とする。

上記目的を達成するために、本発明は、行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、書き込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間と、維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間とを有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、少なくとも１つのサブフィールドで、検査対象のセルに前記書き込みパルス電圧を印加するとともに、前記検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルに前記書き込みパルス電圧を印加しないことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法である。

本発明によれば、検査対象のセルの周辺に位置するセルでの放電状態を考慮したＰＤＰの点灯検査を行うことができ、検査精度の向上を図ることができる。このため、後工程への不良パネルの流出が防止でき、製造工程でのロスコストを低減することができる。

以下、本発明の実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。

（実施の形態１）
本発明の実施の形態１におけるＰＤＰの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。

まず、ＰＤＰの構造について図１を用いて説明する。図１（ａ）は行方向に切断した断面図であり、同図（ｂ）は列方向（行方向に垂直な方向）に切断した断面図である。前面板１上には、ストライプ状の走査電極２および維持電極３からなる表示電極４が行方向に平行に複数形成されており、表示電極４を覆うように誘電体層５が形成され、誘電体層５上に保護層６が形成されている。また、前面板１に対向して配置された背面板７上にはストライプ状のアドレス電極８が列方向に平行に複数形成されており、アドレス電極８を覆うように下地誘電体層９が形成されている。下地誘電体層９上にはアドレス電極８の間に位置するようにアドレス電極８に平行な列隔壁１０が形成され、さらに表示電極４の間に位置し表示電極４に平行な行隔壁１１が形成されている。そして、列隔壁１０および行隔壁１１で囲まれた空間には赤（Ｒ）、緑（Ｇ）、青（Ｂ）に発光する蛍光体層１２が形成されている。前面板１と背面板７の周囲は封着され、前面板１と背面板７との間に形成される放電空間には放電ガス（例えばネオンとキセノン）が封入されている。表示を行う際の最小単位であるセルは、行方向に形成された表示電極４と列方向に形成されたアドレス電極８との立体交差部に形成される。

図２はＰＤＰのセル配列を模式的に示した図であり、赤に発光する蛍光体層を有するセル（Ｒセル）１３、緑に発光する蛍光体層を有するセル（Ｇセル）１４および青に発光する蛍光体層を有するセル（Ｂセル）１５からなる画素がｍ行ｎ列に配列されている。図２において、符号Ｘ１〜Ｘｍは１行〜ｍ行のセルの配列符号を示し、符号ＡＲ１〜ＡＲｎは１列〜ｎ列のＲセル１３の配列符号を示し、符号ＡＧ１〜ＡＧｎは１列〜ｎ列のＧセル１４の配列符号を示し、符号ＡＢ１〜ＡＢｎは１列〜ｎ列のＢセル１５の配列符号を示している。

図３は、本実施の形態におけるＰＤＰを駆動するときのサブフィールド構成を示しており、映像信号の１フィールドを複数のサブフィールドで構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行っている。１フィールドは例えば８つのサブフィールド（１ＳＦ〜８ＳＦ）によって構成され、各サブフィールドは初期化期間、アドレス期間および放電維持期間を有している。初期化期間では次のアドレス放電を容易にするための初期化放電を行う。アドレス期間ではオンさせる（点灯させる）セルとオフさせる（点灯させない）セルを選択するためのアドレス放電を行う。放電維持期間ではアドレス期間においてオンさせるように選択されたセルにおいて維持放電を発生させてセルを点灯させる。各サブフィールドの放電維持期間は、それぞれのサブフィールド毎に設定された輝度に対応して重み付けされており、各サブフィールドのオン、オフを制御することにより中間階調を表現する。例えば、１ＳＦ〜８ＳＦの各サブフィールドの重み付けを１：２：４：８：１６：３２：６４：１２８とすることにより、オンさせるサブフィールドの組み合わせによって２５６階調の表示を実現できる。

図４は、本実施の形態におけるＰＤＰの駆動方法を説明するための駆動波形図である。第１のサブフィールドの初期化期間では、全てのアドレス電極および全ての維持電極を０（Ｖ）に保持し、全ての走査電極に放電開始電圧以下となる電圧Ｖｐ（Ｖ）から、放電開始電圧を超える電圧Ｖｒ（Ｖ）に向かって緩やかに上昇するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、維持電極上およびアドレス電極上に正の壁電荷を蓄え、走査電極上に負の壁電荷を蓄える。その後、全ての維持電極を正電圧Ｖｈ（Ｖ）に保ち、全ての走査電極にＶｇ（Ｖ）からＶａ（Ｖ）に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、各電極上に蓄えられた壁電荷を弱める。このような初期化放電を起こすことにより、セル内の電圧は放電開始電圧に近い電圧となる。

第１のサブフィールドのアドレス期間では、１行目から順に走査電極に走査パルス電圧Ｖｂ（Ｖ）を印加すると同時に、映像信号にしたがって所望のアドレス電極に書き込みパルス電圧Ｖｗ（Ｖ）を印加することにより、点灯させたいセルにのみアドレス放電を起こす。これにより、映像信号に対応した壁電荷がセルに形成される。

第１のサブフィールドの放電維持期間では、全ての走査電極および全ての維持電極に維持パルス電圧Ｖｍ（Ｖ）を交互に印加することにより、アドレス放電を起こしたセルで維持放電を起こし点灯させる。この維持放電に伴う発光により画像表示が行われる。

第２のサブフィールドの初期化期間が始まる時点では、第１のサブフィールドで維持放電を行ったセルでは維持電極上およびアドレス電極上には正の壁電荷が存在し、走査電極上には負の壁電荷が存在している。第２のサブフィールドの初期化期間において、全ての維持電極をＶｈ（Ｖ）に保持し、全てのアドレス電極を０（Ｖ）に保持し、全ての走査電極にＶｍ（Ｖ）からＶａ（Ｖ）に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加する。このランプ電圧が下降する間に、直前のサブフィールド（第１のサブフィールド）で維持放電を行ったセルでは微弱放電が発生し、各電極上に形成された壁電荷が弱められ、セル内の電圧は放電開始電圧に近い電圧となる。一方、第１のサブフィールドでアドレス放電および維持放電を行わなかったセルについては、第２のサブフィールドの初期化期間において微弱放電することはなく、第１のサブフィールドの初期化期間終了時における壁電荷が保たれる。

第２のサブフィールドのアドレス期間および放電維持期間については、第１のサブフィールドの場合と同様の波形を印加することにより、映像信号に対応したセルにおいて維持放電を発生させる。また、第３のサブフィールドから第８のサブフィールドについては、第２のサブフィールドと同じ駆動波形を各電極に印加することにより、所望の画像表示が行われる。

このように、第１のサブフィールドでは全てのセルで初期化放電が発生する完全初期化動作が行われ、第２のサブフィールドから第８のサブフィールドでは直前のサブフィールドにおいて維持放電が発生したセルでのみ初期化放電が発生する選択初期化動作が行われる。したがって、表示発光に寄与しない発光である各サブフィールドの初期化期間での発光は、ランプ波形電圧に伴う微弱発光であり、第２〜第８のサブフィールドでは選択初期化動作を行うため全セルで発光するわけではないので、コントラストの高い映像表示が可能となる。

図５は、本実施の形態におけるＰＤＰの点灯検査装置のブロック構成を示す図である。ＰＤＰの点灯検査装置は、ＰＤＰ１６の走査電極２を駆動させるための走査電極ドライバ１７と、維持電極３を駆動させるための維持電極ドライバ１８と、アドレス電極８を駆動させるためのアドレス電極ドライバ１９と、点灯させるサブフィールドを制御するためのサブフィールド制御回路２０と、サブフィールドの点灯パターンを格納するためのプログラマブルメモリ２１と、制御用パソコン（制御用ＰＣ）２２とを備えている。制御用パソコン２２は、後述するセルの書き込みパターンを作成し、作成された書き込みパターンはプログラマブルメモリ２１に転送されて格納される。そしてプログラマブルメモリ２１に格納された書き込みパターンをサブフィールド制御回路２０が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ１７、維持電極ドライバ１８およびアドレス電極ドライバ１９がＰＤＰ１６の各電極を駆動する。

次に、このＰＤＰの点灯検査装置を用いてＰＤＰ１６を点灯検査する方法について説明する。点灯検査の際にＰＤＰ１６の各電極に印加する駆動波形は図４に示したものと同様である。図６は、実施の形態１において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンを示す図であり、検査対象のセルを全てのＧセルとしている。ここで、書き込みパターンとは、アドレス期間にアドレス放電を発生させるための書き込みパルス電圧をセルに印加するか印加しないかを示したパターンであり、図６では書き込みパルス電圧を印加するセルをハッチングして示している。任意の１つのサブフィールドにおいて、図６に示すように、全てのＧセルに書き込みパルス電圧を印加し、それらＧセルに対して行方向に隣接したセルであるＲセルおよびＢセルには書き込みパルス電圧を印加しない。この場合、ＲセルおよびＢセルは点灯しないために、ＲセルおよびＢセルからＧセルへの電荷の移動はなされず、Ｇセルにおけるアドレス放電がＲセルおよびＢセルの電荷によって影響を受けることなくＧセルの検査を行うことができる。すなわち、Ｇセルが放電しにくい状態でＧセルの検査を行うことができる。そして、Ｇセルに対して点灯しないセル（不灯セル）の有無や表示のちらつきの有無を調べることにより、ＰＤＰ１６におけるＧセルの特性の良否を検査することができる。

次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを全てのＲセルとして検査を行い、その次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを全てのＢセルとして検査を行う。これにより、ＲセルおよびＢセルの特性の良否を検査することができる。

（実施の形態２）
本発明の実施の形態２におけるＰＤＰの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。実施の形態２において実施の形態１と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンであり、他の構成は実施の形態１と同様である。

図７は、実施の形態２において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンを示す図であり、検査対象のセルを偶数行のセルとしている。ここで画素の行数であるｍは偶数とする。また、書き込みパルス電圧を印加するセルをハッチングして示している。

図７に示すように、任意の１つのサブフィールドにおいて、検査対象のセルである偶数行のＲセル、ＧセルおよびＢセルに書き込みパルス電圧を印加し、それら検査対象のセルに対して列方向に隣接したセルである、奇数行のＲセル、ＧセルおよびＢセルには書き込みパルス電圧を印加しない。この場合、奇数行のセルは点灯しないために、奇数行のセルから偶数行のセルへの電荷の移動はなされず、偶数行のセルにおけるアドレス放電が奇数行のセルの電荷によって影響を受けることなく偶数行のセルの検査を行うことができる。そして、偶数行のセルに対して不灯セルの有無や表示のちらつきの有無を調べることにより、ＰＤＰ１６における偶数行のセルの特性の良否を検査することができる。

次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを奇数行のセル（Ｒセル、ＧセルおよびＢセル）として検査を行う。これにより、奇数行のセルの特性の良否を検査することができる。

（実施の形態３）
本発明の実施の形態３におけるＰＤＰの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。実施の形態３において実施の形態１と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンであり、他の構成は実施の形態１と同様である。

図８は、実施の形態３において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンを示す図であり、検査対象のセルを奇数行のＧセルとしている。ここで画素の行数であるｍは偶数とする。また、書き込みパルス電圧を印加するセルをハッチングして示している。

図８に示すように、任意の１つのサブフィールドにおいて、検査対象のセルである奇数行のＧセルに書き込みパルス電圧を印加し、奇数行のＧセルに対して行方向、列方向および対角方向に隣接したセルである、偶数行のＧセルと全てのＲセルと全てのＢセルには書き込みパルス電圧を印加しない。ここで、偶数行のＧセルと全てのＲセルと全てのＢセルとをまとめて周辺セルとすると、図８の書き込みパターンの場合、周辺セルは点灯しないために、周辺セルから奇数行のＧセルへの電荷の移動はなされず、奇数行のＧセルにおけるアドレス放電が周辺セルの電荷によって影響を受けることなく奇数行のＧセルの検査を行うことができる。そして、奇数行のＧセルに対して不灯セルの有無や表示のちらつきの有無を調べることにより、ＰＤＰ１６における奇数行のＧセルの特性の良否を検査することができる。

次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを偶数行のＧセルとして検査を行う。その次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを奇数行のＲセルとして検査を行う。続いて同様にして、検査対象のセルを偶数行のＲセルとして検査を行い、さらに、検査対象のセルを奇数行のＢセル、偶数行のＢセルとして順次検査を行う。

（実施の形態４）
本発明の実施の形態４におけるＰＤＰの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。実施の形態４において実施の形態１と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンであり、他の構成は実施の形態１と同様である。

図９は、実施の形態４において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンを示す図であり、検査対象のセルを奇数行で奇数列のＧセルおよび偶数行で偶数列のＧセルとしている。ここで画素の行数であるｍは偶数とし、画素の列数であるｎは偶数とする。また、書き込みパルス電圧を印加するセルをハッチングして示している。

図９に示すように、任意の１つのサブフィールドにおいて、検査対象のセルである奇数行で奇数列のＧセルおよび偶数行で偶数列のＧセルに書き込みパルス電圧を印加し、その検査対象のセルに対して行方向、列方向および対角方向に隣接したセルである、偶数行で奇数列のＧセルと奇数行で偶数列のＧセルと全てのＲセルと全てのＢセルには書き込みパルス電圧を印加しない。ここで、偶数行で奇数列のＧセルと奇数行で偶数列のＧセルと全てのＲセルと全てのＢセルとをまとめて周辺セルとすると、図９の書き込みパターンの場合、周辺セルは点灯しないために、周辺セルから検査対象のセルへの電荷の移動はなされず、検査対象のセル（奇数行で奇数列のＧセルおよび偶数行で偶数列のＧセル）におけるアドレス放電が周辺セルの電荷によって影響を受けることなく検査対象のセルの検査を行うことができる。そして、奇数行で奇数列のＧセル、偶数行で偶数列のＧセルに対して不灯セルの有無や表示のちらつきの有無を調べることにより、ＰＤＰ１６における奇数行で奇数列のＧセル、偶数行で偶数列のＧセルの特性の良否を検査することができる。

次のフィールドにおいては同様にして、検査対象のセルを奇数行で偶数列のＧセル、偶数行で奇数列のＧセルとして検査を行う。続いて、ＲセルおよびＢセルについてもＧセルの場合と同様に検査を行う。

実施の形態１では検査対象のセルに対して行方向に隣接するセルからの電荷の移動がなされなくなることによる点灯不具合を検査する方法を説明し、実施の形態２では検査対象のセルに対して列方向に隣接するセルからの電荷の移動がなされなくなることによる点灯不具合を検査する方法を説明し、実施の形態３では検査対象のセルに対して行方向、列方向および対角方向に隣接するセルからの電荷の移動がなされなくなることによる点灯不具合を検査する方法を説明したが、一般に検査対象のセル間の行方向・列方向の間隔が広いほど、隣接するセル間での電荷の影響が少なくなり、表示ちらつきや不灯セルが発生しやすくなる。実施の形態４では図９に示すような書き込みパターンで隣接セル間での壁電荷移動による点灯不具合を検査することにより、全セルに対して検査するのに必要な書き込みパターン数は実施の形態３で示した図８の書き込みパターンと同じ６回であるが、検査対象のセル間の行方向の間隔は、図８に示す書き込みパターンでは２セルであるのに対し、図９に示す書き込み点灯パターンでは５セルと広くなっており、図８の場合に比べて表示のちらつきや不灯セルが発生しやすいパターンとなっている。したがって、検査タクトやパネル特性を考慮して、検査対象とするセルの間隔や書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドを選択すればよい。

上記の各実施の形態で示した検査において、表示ちらつきや不灯セルの有無は検査員が目視で判断することも可能であり、ＣＣＤカメラを使用した画像認識システムを使用することも可能である。また、検査を行うための期間は１フィールドに設定してもよく、複数フィールドが連続するように設定してもよい。

また上記の各実施の形態において、検査対象のセルに書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドを１フィールドのうちの任意の１つとしている。これは、複数のサブフィールドにおいて書き込みパルス電圧を印加することで点灯した場合、前記複数のサブフィールドのうち２番目以降のサブフィールドは前のサブフィールドの維持放電による壁電荷の影響により、アドレス放電しやすくなるので、アドレス放電しにくい状態で検査を行うためである。しかしながら、書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドはパネルの特性に合わせて選択すればよく、書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドを複数としてもよい。すなわち、少なくとも１つのサブフィールドで、検査対象のセルに書き込みパルス電圧を印加するとともに、検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルに書き込みパルス電圧を印加しないようにして検査を行えばよい。

（実施の形態５）
本発明の実施の形態５におけるＰＤＰの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。実施の形態５において実施の形態１と異なる点は、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンであり、他の構成は実施の形態１と同様である。

図１０は、実施の形態５において、ＰＤＰ１６の点灯検査を行うときのセルの書き込みパターンを示す図であり、数字が記載されているセルは書き込みパルス電圧を印加するセルであり、その数字は書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドを表している。検査対象のセルは全てのＧセルである。

図１０に示すように、例えば第１行第１列のＧセルには１ＳＦにおいて書き込みパルス電圧を印加し、第１行第２列と第２行第１列のＧセルには２ＳＦにおいて書き込みパルス電圧を印加し、第１行第３列と第２行第２列と第３行第１列のＧセルには３ＳＦにおいて書き込みパルス電圧を印加している。また、全てのＲセルと全てのＢセルには書き込みパルス電圧を印加しない。すなわち、検査対象のセル（例えば第２行第１列のＧセル）に対して行方向と対角方向に隣接したセル（ＲセルとＢセル）は非点灯となり、また検査対象のＧセルに書き込みパルス電圧が印加されるサブフィールドにおいては、列方向に隣接したセル（第１行第１列のＧセルおよび第３行第１列のＧセル）には書き込みパルス電圧が印加されず非点灯となる。このため、検査対象のセルの周辺に隣接して位置するセルを周辺セルとすると、周辺セルから検査対象のセルへの電荷の移動はなされず、検査対象のセルにおけるアドレス放電が周辺セルの電荷によって影響を受けることなく検査対象のセルの検査を行うことができる。そして、不灯セルの有無や表示のちらつきの有無を調べることにより、検査対象のＧセルの特性の良否を検査することができる。

次のフィールドにおいては、図１０の書き込みパターンをＧセルについて行方向または列方向に移動させることにより、異なるサブフィールド（異なる階調）でのＧセルの検査を行う。次のフィールドにおいてはさらに図１０の書き込みパターンをＧセルについて行方向または列方向に移動させて検査を続け、一巡させる。同様にしてＲセル、続いて同様にしてＢセルの検査を行う。この検査において、表示ちらつきや不灯セルの有無は検査員が目視で判断することも可能であり、ＣＣＤカメラを使用した画像認識システムを使用することも可能である。また、検査を行うための期間は１フィールドに設定してもよく、複数フィールドが連続するように設定してもよい。また、点灯させるサブフィールドはパネル特性に合わせて選択すればよく、複数のサブフィールドを点灯させてもよい。

また、実施の形態５において、１行目のセルには１ＳＦにおいてのみ書き込みパルス電圧を印加し、２行目のセルには２ＳＦにおいてのみ書き込みパルス電圧を印加し、３行目のセルには３ＳＦにおいてのみ書き込みパルス電圧を印加するように、隣接したセルとは同じサブフィールドが点灯しないような階調を同時に点灯させる書き込みパターンとすることにより、点灯させるサブフィールドによって表示のちらつきや不灯セルの発生が異なることを利用し、パネル特性の評価や検査タクトの短縮が可能となる。

本発明によれば、検査対象のセルの周辺に位置するセルでの放電状態を考慮したＰＤＰの点灯検査を行うことができ、検査精度の向上を図ることができる。このため、ＰＤＰの点灯検査を行う際に有用である。

（ａ）、（ｂ）は本発明の一実施の形態で用いるプラズマディスプレイパネルの構造を示す断面図 同プラズマディスプレイパネルのセル配列を模式的に示す図 同プラズマディスプレイパネルを駆動する際のサブフィールド構成を示す図 同プラズマディスプレイパネルの駆動方法を示す駆動波形図 同プラズマディスプレイパネルの点灯検査装置の回路ブロック図 本発明の実施形態１におけるセルの書き込みパターンを示す図 本発明の実施形態２におけるセルの書き込みパターンを示す図 本発明の実施形態３におけるセルの書き込みパターンを示す図 本発明の実施形態４におけるセルの書き込みパターンを示す図 本発明の実施形態５におけるセルの書き込みパターンを示す図

符号の説明

２ 走査電極
３ 維持電極
４ 表示電極
８ アドレス電極
１３ Ｒセル
１４ Ｇセル
１５ Ｂセル
１６ プラズマディスプレイパネル

Claims (5)

1. 行方向に形成された電極と列方向に形成された電極との立体交差部に複数のセルが形成され、書き込みパルス電圧を印加してアドレス放電を発生させるアドレス期間と、維持放電を発生させてセルを点灯させる放電維持期間とを有するサブフィールドを複数用いて１フィールドを構成し、セルを点灯させるサブフィールドの組み合わせによって階調表示を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法において、少なくとも１つのサブフィールドで、検査対象のセルに前記書き込みパルス電圧を印加するとともに、前記検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルに前記書き込みパルス電圧を印加しないことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
2. 検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルは、行方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
3. 検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルは、列方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
4. 検査対象のセルに対して所定の方向に隣接したセルは、行方向、列方向および対角方向に隣接したセルであることを特徴とする請求項１に記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
5. 検査対象のセルに書き込みパルス電圧を印加するサブフィールドは、１フィールドを構成する複数のサブフィールドのうち１つのサブフィールドとすることを特徴とする請求項１ないし請求項４のいずれかに記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。

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