JP4389617B2 - プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法およびプラズマディスプレイ装置の製造方法 - Google Patents

プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法およびプラズマディスプレイ装置の製造方法 Download PDF

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Description

本発明は、プラズマディスプレイパネルに回路基板を実装する前に、プラズマディスプレイパネルを点灯表示して画像品質検査を行うプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法およびプラズマディスプレイ装置の製造方法に関するものである。
現在、薄型、平面の表示デバイスとして大型パネルを製作することが容易なプラズマディスプレイパネル(PDP)が注目されており、AC型であって3電極を備えた面放電形式のPDPが代表的である。このPDPは、走査電極と維持電極とが対となった表示電極対が形成された前面基板と、その表示電極対に直交する方向にアドレス電極が形成された背面基板とを、間に放電空間を形成するように対向配置して周囲を封止し、放電空間に放電ガスを封入した構成であり、背面基板上には真空紫外線によって励起され赤、緑、青の各色に発光する蛍光体層が形成されている。表示電極対とアドレス電極とが立体交差した部分にはセルが形成される。
そして、走査電極に走査パルスを印加すると同時にアドレス電極にデータパルスを印加して書き込み放電を発生させることにより点灯させるセルを選択した後、走査電極と維持電極に交互に維持パルスを印加して、選択されたセルにおいて維持放電を発生させる。この維持放電によって各セルの蛍光体層が発光することによりパネル表示が行われる。
このようなPDPを駆動するための駆動回路では、維持放電に際して電力を回収して電力の有効活用を図るために、特許文献1に示すように、コイルとコンデンサーとからなるLC共振回路を設けており、このLC共振回路は、維持パルスをローレベルからハイレベルへ立ち上げるための手段となっている。
特開2001−331147号公報
ところで、プラズマディスプレイ装置は、信号処理回路や駆動回路などを設けた回路基板がパネルに実装され製品化される。製造工程では、実装工程への不良パネルの流出を防ぐため、回路基板を実装する前にパネルに点灯信号を入力し点灯検査を行っている。この点灯検査に使用する点灯検査装置には、実際の製品に実装されるものと同仕様の回路基板が備えられており、この回路基板に設けられた種々の回路によってパネルに点灯信号を入力し点灯検査を行う。
しかしながら、回路基板に設けられた部品には個々の品質ばらつきがあるために、実際の製品においてパネルに印加される駆動波形と、点灯検査時にパネルに印加される駆動波形とが全く同じものになるとは限らない。例えば、維持パルスの立ち上がり時間は、前述したLC共振回路によって決まるLC共振時間T=2π(LC)1/2によって変化する。Lの値は回路基板に実装されるコイルによって決まるが、そのコイルの品質ばらつきのために同じ値になるとは限らず、Cの値は回路基板に実装されるコンデンサーおよびパネルによって決まるが、そのコンデンサーおよびパネルそれぞれの品質ばらつきのために同じ値になるとは限らない。このため、維持パルスの立ち上がり時間は回路基板およびパネルの組合せによってばらつくことになる。また、維持パルスの立ち上がり時間はパネルの発光タイミングに大きく寄与しており、維持パルスの立ち上がり時間のばらつきに応じてパネルの表示品位が変化する。その結果、点灯検査装置によってパネルの点灯検査を行ったときのパネルの表示品位は、そのパネルに回路基板を実装して製品としたときの表示品位を反映するものになるとは限らない。
したがって、点灯検査において適合品と判断したパネルでも、実際に製品にしたときの表示品位が表示品位規格を満足しないといった問題が発生する場合があった。また、製品にしたときの表示品位が表示品位規格を満たすパネルを、点灯検査において不適合品と判断する可能性があった。
本発明はこのような現状に鑑みてなされたものであり、回路基板に実装される部品の品質ばらつきを考慮した上で、PDPの点灯検査を行うことができるようにすることを目的とする。
上記目的を達成するために、本発明のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法は、間に放電空間を形成するように対向配置した一対の基板のうち、一方の基板上に複数の表示電極対を形成したプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、前記表示電極対に印加する維持パルスとして立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行うことを特徴とする。
本発明によれば、回路基板のばらつきによる維持パルスの立ち上がり時間のばらつきを考慮した上で、PDPの表示品位を検査することができる。このため、製造工程でのロスコストを大幅に低減することが可能である。
請求項1に記載の発明は、間に放電空間を形成するように対向配置した一対の基板のうち、一方の基板上に複数の表示電極対を形成したプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、前記表示電極対に印加する維持パルスとして立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法である。
また、請求項2に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、点灯検査に用いる維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される前記立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定することを特徴とする。
また、請求項3に記載の発明は、請求項1に記載の発明において、表示電極対に印加する維持パルスの立ち上がりにはLC共振回路を用いており、前記LC共振回路のLC共振時間を、回路ばらつきから予測される前記LC共振時間のばらつきの範囲内に設定することにより、前記維持パルスの立ち上がり時間を設定することを特徴とする。
請求項4に記載の発明は、間に放電空間を形成するように対向配置した一対の基板のうち、一方の基板上に複数の表示電極対を形成したプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、前記表示電極対に印加する維持パルスとして立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行うことにより、表示品位規格を満たすときの前記維持パルスの立ち上がり時間を求め、その求めた立ち上がり時間を有する駆動回路を前記プラズマディスプレイパネルに実装することを特徴とするプラズマディスプレイ装置の製造方法である。
また、請求項5に記載の発明は、請求項4記載の発明において、点灯検査に用いる維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される前記立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定することを特徴とする。
また、請求項6に記載の発明は、請求項4記載の発明において、表示電極対に印加する維持パルスの立ち上がりにはLC共振回路を用いており、前記LC共振回路のLC共振時間を、回路ばらつきから予測される前記LC共振時間のばらつきの範囲内に設定することにより、前記維持パルスの立ち上がり時間を設定することを特徴とする。
以下、本発明の一実施の形態について、図面を参照しつつ説明する。
(実施の形態1)
本発明の実施の形態1においては、PDPの点灯検査方法について図面を参照しつつ説明する。
まず、PDPの構造について図1を用いて説明する。図1(a)はPDPの一部分を或る方向(行方向)に切った断面図であり、同図(b)は行方向に垂直な方向(列方向)に切った断面図である。
前面基板1上には、ストライプ状の走査電極2および維持電極3からなる表示電極対4が行方向に平行して複数形成されており、表示電極対4を覆うように誘電体層5が形成され、誘電体層5上に酸化マグネシウム(MgO)からなる保護層6が形成されている。また、背面基板7上にはストライプ状のアドレス電極8が列方向に平行して複数形成されており、アドレス電極8を覆うように誘電体層9が形成されている。さらに、誘電体層9上にはアドレス電極8の間に位置するようにアドレス電極8に平行な列隔壁10が形成され、列隔壁10間であって表示電極対4間に位置するように行隔壁11が形成されている。そして、列隔壁10および行隔壁11で囲まれた空間には赤(R)、緑(G)、青(B)に発光する蛍光体層12が形成されている。
そして、一対の基板である前面基板1と背面基板7とは、間に放電空間を形成するように対向配置されている。画像表示を行うときの最小単位であるセルは、行方向に形成された表示電極対4と列方向に形成されたアドレス電極8との立体交差部に形成される。走査電極2と維持電極3との間に交流電圧を印加して、各セルにおいて放電によって生じる真空紫外線により蛍光体層12を発光させ、前面基板1を透過する光で画像表示を行うものである。
図2はPDPのセル配列を模式的に示した図であり、赤の蛍光体層を有するセル(Rセル)13、緑の蛍光体層を有するセル(Gセル)14および青の蛍光体層を有するセル(Bセル)15からなる画素がm行n列の配列となっている。図2において、符号X1〜Xmは1行〜m行のセルの配列符号を示し、符号AR1〜ARnは1列〜n列のRセル13の配列符号を示し、符号AG1〜AGnは1列〜n列のGセル14の配列符号を示し、符号AB1〜ABnは1列〜n列のBセル15の配列符号を示している。
図3は、本実施の形態におけるPDPを駆動するときのサブフィールド構成を示している。1フィールドは例えば8つのサブフィールド(1SF〜8SF)によって構成され、各サブフィールドは初期化期間、アドレス期間および放電維持期間を有している。初期化期間では次のアドレス放電を容易にするための初期化放電を行う。アドレス期間ではオンさせる(点灯させる)セルとオフさせる(点灯させない)セルを選択するためのアドレス放電を行う。放電維持期間ではアドレス期間においてオンさせるように選択されたセルにおいて維持放電を所定の期間維持させる。各サブフィールドの放電維持期間は、それぞれのサブフィールド毎に設定された輝度に対応して重み付けされており、各サブフィールドのオン、オフを制御することにより中間階調を表現する。例えば、1SF〜8SFの各サブフィールドの重み付けを1:2:4:8:16:32:64:128とすることにより、オンさせるサブフィールドの組合せによって256階調の表示を実現できる。
図4は、本実施の形態におけるPDPの駆動方法を説明するための駆動波形図である。第1のサブフィールドの初期化期間では、全てのアドレス電極および全ての維持電極を0(V)に保持し、全ての走査電極に放電開始電圧以下となる電圧Vp(V)から、放電開始電圧を超える電圧Vr(V)に向かって緩やかに上昇するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、維持電極上およびアドレス電極上に正の壁電荷を蓄え、走査電極上に負の壁電荷を蓄える。その後、全ての維持電極を正電圧Vh(V)に保ち、全ての走査電極にVg(V)からVa(V)に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加することにより、全てのセルにおいて微弱放電を起こし、各電極上に蓄えられた壁電荷を弱める。このような初期化放電を起こすことにより、セル内の電圧は放電開始電圧に近い状態となる。
第1のサブフィールドのアドレス期間では、1行目から順に走査電極に走査パルス電圧Vb(V)を印加すると同時に、映像信号にしたがって所望のアドレス電極に書き込みパルス電圧Vw(V)を印加することにより、表示を行うべきセルにのみアドレス放電を起こす。これにより、映像信号に対応した壁電荷がセルに形成される。
第1のサブフィールドの放電維持期間では、全ての走査電極および全ての維持電極に維持パルス電圧Vm(V)を交互に印加することにより、アドレス放電を起こしたセルにおいて維持放電を起こす。この維持放電に伴う発光により画像表示が行われる。
第2のサブフィールドの初期化期間が始まる時点では、第1のサブフィールドで維持放電を行ったセルでは維持電極上ならびにアドレス電極上には正の壁電荷が存在し、走査電極上には負の壁電荷が存在している。第2のサブフィールドの初期化期間において、全ての維持電極をVh(V)に保持し、全てのアドレス電極を0(V)に保持し、全ての走査電極にVm(V)からVa(V)に向かって緩やかに下降するランプ電圧を印加する。このランプ電圧が下降する間に、直前のサブフィールド(第1のサブフィールド)で維持放電を行ったセルでは微弱放電が発生し、各電極上に形成された壁電荷が弱められ、セル内の電圧は放電開始電圧に近い状態となる。一方、第1のサブフィールドでアドレス放電および維持放電を行わなかったセルについては、第2のサブフィールドの初期化期間において微弱放電することはなく、第1のサブフィールドの初期化期間終了時における壁電荷状態が保たれている。
第2のサブフィールドのアドレス期間および放電維持期間については、第1のサブフィールドの場合と同様の波形を印加することにより、映像信号に対応したセルにおいて維持放電を発生させる。また、第3〜第8のサブフィールドについては、第2のサブフィールドと同じ駆動波形を各電極に印加することにより、所望の画像表示が行われる。
図5は、放電維持期間において走査電極に印加される1つの維持パルスの波形を示したものであり、パルス幅はT1である。図5(a)に示す維持パルスでは、ローレベルの0(V)からハイレベルのVm(V)に達するまでの時間(立ち上がり時間)は平均時間Tavgで表される。また、図5(b)に示す維持パルスの立ち上がり時間は最小時間Tminで表され、図5(c)に示す維持パルスの立ち上がり時間は最大時間Tmaxで表される。
図6は、本実施の形態におけるPDPの点灯検査装置のブロック構成を示す図である。PDPの点灯検査装置は、PDP16の走査電極2を駆動させるための走査電極ドライバ17、維持電極3を駆動させるための維持電極ドライバ18、アドレス電極8を駆動させるためのアドレス電極ドライバ19、これらの各電極ドライバを制御するための信号制御回路20、点灯検査パターンを格納するためのプログラマブルメモリ21、および、制御用PC(制御用パソコン)22により構成されている。
この走査電極ドライバ17および維持電極ドライバ18には、それぞれ、図7に示すような維持パルス発生回路23が設けられており、この維持パルス発生回路23によって走査電極2および維持電極3に維持パルスが印加される。図7において、容量CpはPDP16を表し、容量Crは電力回収用のコンデンサーを表し、インダクタンスLは電力回収用のコイルを表しており、これらによってLC共振回路が構成されている。そして、放電維持期間において走査電極2および維持電極3に印加される維持パルスの立ち上がりはLC共振回路を利用したものであり、維持パルスの立ち上がり時間は、このLC共振回路のLC共振時間によって変化する。
次に、このPDPの点灯検査装置を用いてPDP16を点灯検査する方法について説明する。
図4の駆動波形および図5(a)に示す維持パルスの波形を制御用PC22で予めプログラミングし、そのデータをプログラマブルメモリ21に転送する。そしてプログラマブルメモリ21に格納されたデータを信号制御回路20が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ17、維持電極ドライバ18およびアドレス電極ドライバ19がPDP16を駆動する。そして、その時のPDP16の点灯画質を評価する。
次に、図4の駆動波形および図5(b)に示す維持パルスの波形を制御用PC22で予めプログラミングし、そのデータをプログラマブルメモリ21に転送する。そしてプログラマブルメモリ21に格納されたデータを信号制御回路20が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ17、維持電極ドライバ18およびアドレス電極ドライバ19がPDP16を駆動する。そして、その時のPDP16の点灯画質を評価する。
次に、図4の駆動波形および図5(c)に示す維持パルスの波形を制御用PC22で予めプログラミングし、そのデータをプログラマブルメモリ21に転送する。そしてプログラマブルメモリ21に格納されたデータを信号制御回路20が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ17、維持電極ドライバ18およびアドレス電極ドライバ19がPDP16を駆動する。そして、その時のPDP16の点灯画質を評価する。
ここで、LC共振回路のL値およびC値のうち少なくとも一方を制御することにより、LC共振回路のLC共振時間を変化させており、これにより図5(a)〜(c)に示すような立ち上がり時間の異なる維持パルスの波形を実現させる。実際には図7におけるインダクタンスLおよび容量Crのうち少なくとも一方を制御する。ここで、LC共振時間を駆動回路の回路ばらつきから予測される変動範囲内の平均値に設定することにより、図5(a)に示すように平均時間Tavgを有する維持パルスを実現し、LC共振時間を駆動回路の回路ばらつきから予測される最小値に設定することにより、図5(b)に示すように最小時間Tminを有する維持パルスを実現し、LC共振時間を駆動回路の回路ばらつきから予測される最大値に設定することにより、図5(c)に示すように最大時間Tmaxを有する維持パルスを実現する。
したがって、実施の形態1では、LC共振回路のLC共振時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測されるLC共振時間のばらつきの範囲内に設定することにより、維持パルスの立ち上がり時間を複数個に設定してPDP16の点灯画質を評価している。すなわち、立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行っており、このときの維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定している。このため、PDP16の点灯検査において印加する維持パルスが1つの形状だけの場合に比べて、実際に製品として使用される駆動回路の回路ばらつきによる維持パルスの立ち上がり時間のばらつきを考慮に入れた点灯検査を行うことができるので、より適切な点灯検査を行うことができる。例えば、製品にしたときの表示品位が表示品位規格を満たすパネルを、点灯検査において不適合品と判断することを抑制することができる。
なお、各点灯条件における画質品位の検査は検査員が目視で判断してもよく、CCDカメラを使用した画像認識システムを使用してもよい。また実施の形態1においては、LC共振時間を、予測されるばらつきの最小値、平均値、最大値の3つの値に設定して点灯検査を実施しているが、平均値での検査を省略すること、あるいは前記の3つの値に加えてそれら以外の値に設定して点灯検査を実施してもよい。
さらに、実施の形態1においてLC共振時間の設定には、コイル、コンデンサーそれぞれ値が異なる素子を用いても良いし、それぞれ値が同じ素子を用い、それらの接続方法を変えることで制御しても良い。また、インダクタンス可変型のコイルまたは容量可変型のコンデンサーを用いて連続的に維持パルスの立ち上がり時間を変化させ、点灯検査を行っても良い。
また実施の形態1においては、走査電極2に印加する維持パルスの立ち上がり時間を変化させて点灯検査を行う場合について説明したが、維持電極3に印加する維持パルスの立ち上がり時間も変化させても良い。その際、走査電極2に印加する維持パルスの立ち上がり時間と同期させても良い。
(実施の形態2)
次に、本発明の実施の形態2においては、プラズマディスプレイ装置の製造方法について図面を参照しつつ説明する。PDPの構造およびセル配列は、実施の形態1において図1および図2を用いて説明したものと同じであり、PDPの駆動方法は、実施の形態1において図3および図4を用いて説明したものと同じである。また、点灯検査装置のブロック構成は、実施の形態1において図6を用いて説明したものと同じであり、走査電極ドライバおよび維持電極ドライバにそれぞれ設けられた維持パルス発生回路は、実施の形態1において図7を用いて説明した維持パルス発生回路23と同じである。このため、これらの説明を省略する。
図8は、実施の形態2においてPDP16の走査電極2に印加される1つの維持パルスの波形を示したものであり、パルス幅はT1である。実線で示す維持パルスP1では、ローレベルの0(V)からハイレベルのVm(V)に達するまでの時間(立ち上がり時間)は最小時間Tminで表され、破線で示す維持パルスP2の立ち上がり時間は最大時間Tmaxで表される。
次に、PDP16の点灯検査方法を説明する。図4の駆動波形および図8に示す維持パルスの波形を制御用PC22で予めプログラミングし、そのデータをプログラマブルメモリ21に転送する。そしてプログラマブルメモリ21に格納されたデータを信号制御回路20が読み出し、そのデータに基づいて走査電極ドライバ17、維持電極ドライバ18およびアドレス電極ドライバ19がPDP16を駆動する。このとき、維持パルスの立ち上がり時間を最小時間Tminから最大時間Tmaxまで連続的に変化させながら、その間の点灯画質を評価することにより、表示品位規格を満たす維持パルスの立ち上がり時間の範囲を求める。
ここで、最小時間Tminを有する維持パルスは、LC共振時間を駆動回路の回路ばらつきから予測される最小値に設定することにより得られ、最大時間Tmaxを有する維持パルスは、LC共振時間を駆動回路の回路ばらつきから予測される最大値に設定することにより得られる。なお、LC共振回路のL値およびC値のうち少なくとも一方を制御することにより、LC共振回路のLC共振時間を変化させており、これにより図8に示すような立ち上がり時間が連続的に変化する維持パルスの波形を実現させる。実際には図7におけるインダクタンスLおよび容量Crのうち少なくとも一方を制御する。上記のように維持パルスの立ち上がり時間を連続的に変化させるには、インダクタンス可変型のコイルまたは容量可変型のコンデンサーを用いればよい。
上記のようにPDP16の点灯検査を行った後の工程において、そのPDP16に駆動回路を実装する。このとき、点灯検査において求めた、表示品位規格を満たす維持パルスの立ち上がり時間の範囲内となる駆動回路を選択し、実装することにより、プラズマディスプレイ装置を製造する。このため、表示品位規格を満たすプラズマディスプレイ装置が得られる。
この方法によれば、実施の形態1と同様に、LC共振回路のLC共振時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測されるばらつきの範囲内に設定してPDP16の点灯画質を評価している。すなわち、立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行っており、このときの維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定している。このため、PDP16の点灯検査において印加する維持パルスが1つの形状だけの場合に比べて、実際に製品として使用される駆動回路の回路ばらつきによる維持パルスの立ち上がり時間のばらつきを考慮に入れた点灯検査を行うことができるので、より適切な点灯検査を行うことができる。このため、製造工程でのロスコストを大幅に低減することができる。
なお、実施の形態2においてはLC共振時間を、予測されるばらつきの最小値から最大値まで連続的に変化させて点灯検査を実施しているが、最小値から最大値までの間で複数の値を選択し、それらの値において検査を行うことにより、表示品位規格を満たす維持パルスの立ち上がり時間の範囲を求めるようにしても良い。また実施の形態2においては、走査電極に印加する維持パルスの立ち上がり時間を変化させて点灯検査を行うが、維持電極に印加する維持パルスの立ち上がり時間も変化させても良い。その際に走査電極に印加する維持パルスの立ち上がり時間と同期させても良い。
さらに、実施の形態2においてPDPに実装する駆動回路におけるLC共振時間の設定には、コイル、コンデンサーそれぞれ値が異なる素子を用いても良いし、それぞれ値が同じ素子を用い、それらの接続方法を変えることで制御しても良い。また、インダクタンス可変型のコイルまたは容量可変型のコンデンサーを用いて調整しても良い。
以上のように本発明によれば、回路基板のばらつきによる維持パルスの立ち上がり時間のばらつきを考慮した上で、PDPの表示品位を検査することができる。このため、製造工程でのロスコストを大幅に低減することが可能であり、プラズマディスプレイ装置を製造する上で有用である。
(a)、(b)は本発明の一実施の形態におけるプラズマディスプレイパネルのセル構造を示す断面図 同プラズマディスプレイパネルのセル配列を模式的に示す図 同プラズマディスプレイパネルを駆動する際のサブフィールド構成を示す図 同プラズマディスプレイパネルの駆動方法を示す波形図 (a)〜(c)は本発明の実施形態1における維持パルスを示す波形図 本発明の実施の形態1におけるプラズマディスプレイパネルの点灯検査装置のブロック構成図 走査電極ドライバおよび維持電極ドライバにそれぞれ設けられた維持パルス発生回路を示す図 本発明の実施形態2における維持パルスを示す波形図
符号の説明
1 前面基板
2 走査電極
3 維持電極
4 表示電極対
7 背面基板
8 アドレス電極
23 維持パルス発生回路

Claims (6)

  1. 間に放電空間を形成するように対向配置した一対の基板のうち、一方の基板上に複数の表示電極対を形成したプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、前記表示電極対に印加する維持パルスとして立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行うことを特徴とするプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
  2. 点灯検査に用いる維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される前記立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定することを特徴とする請求項1記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
  3. 表示電極対に印加する維持パルスの立ち上がりにはLC共振回路を用いており、前記LC共振回路のLC共振時間を、回路ばらつきから予測される前記LC共振時間のばらつきの範囲内に設定することにより、前記維持パルスの立ち上がり時間を設定することを特徴とする請求項1記載のプラズマディスプレイパネルの点灯検査方法。
  4. 間に放電空間を形成するように対向配置した一対の基板のうち、一方の基板上に複数の表示電極対を形成したプラズマディスプレイパネルの点灯検査を行う際に、前記表示電極対に印加する維持パルスとして立ち上がり時間の異なる複数種類の維持パルスを用意し、その各種類の維持パルスをそれぞれ用いた点灯検査を行うことにより、表示品位規格を満たすときの前記維持パルスの立ち上がり時間を求め、その求めた立ち上がり時間を有する駆動回路を前記プラズマディスプレイパネルに実装することを特徴とするプラズマディスプレイ装置の製造方法。
  5. 点灯検査に用いる維持パルスの立ち上がり時間を、駆動回路の回路ばらつきから予測される前記立ち上がり時間のばらつきの範囲内に設定することを特徴とする請求項4記載のプラズマディスプレイ装置の製造方法。
  6. 表示電極対に印加する維持パルスの立ち上がりにはLC共振回路を用いており、前記LC共振回路のLC共振時間を、回路ばらつきから予測される前記LC共振時間のばらつきの範囲内に設定することにより、前記維持パルスの立ち上がり時間を設定することを特徴とする請求項4記載のプラズマディスプレイ装置の製造方法。
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