JPH10302639A - 壁電荷の測定方法および装置 - Google Patents
壁電荷の測定方法および装置Info
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- JPH10302639A JPH10302639A JP9107607A JP10760797A JPH10302639A JP H10302639 A JPH10302639 A JP H10302639A JP 9107607 A JP9107607 A JP 9107607A JP 10760797 A JP10760797 A JP 10760797A JP H10302639 A JPH10302639 A JP H10302639A
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- Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
- Control Of Gas Discharge Display Tubes (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 壁電荷の測定方法および装置に関し、壁電荷
の測定を簡単化して迅速に測定し、さらに複雑な駆動波
形における壁電荷の挙動を測定可能とする。 【解決手段】 ＡＣ型ＰＤＰを放電させた時に生じる壁
電荷を測定するための測定方法であって、放電を発生し
た電極に流れる電流を計測し、その計測した電流の値か
ら壁電荷の形成に関与する電流成分を取り出して、その
電流成分を電荷量へ変換する。
の測定を簡単化して迅速に測定し、さらに複雑な駆動波
形における壁電荷の挙動を測定可能とする。 【解決手段】 ＡＣ型ＰＤＰを放電させた時に生じる壁
電荷を測定するための測定方法であって、放電を発生し
た電極に流れる電流を計測し、その計測した電流の値か
ら壁電荷の形成に関与する電流成分を取り出して、その
電流成分を電荷量へ変換する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、外部電極型放電
セルの放電現象（いわゆるSilent Discharge）によって
生ずる壁電荷の測定方法および装置に関し、さらに詳し
くは、ＡＣ型プラズマディスプレイパネル（ＡＣ型ＰＤ
Ｐ）のような電極が誘電体に覆われたいわゆる外部電極
型放電セルを有するＡＣ型ガス放電パネルの基本物理量
である壁電荷の測定に好適に用いられる壁電荷の測定方
法および装置に関する。
セルの放電現象（いわゆるSilent Discharge）によって
生ずる壁電荷の測定方法および装置に関し、さらに詳し
くは、ＡＣ型プラズマディスプレイパネル（ＡＣ型ＰＤ
Ｐ）のような電極が誘電体に覆われたいわゆる外部電極
型放電セルを有するＡＣ型ガス放電パネルの基本物理量
である壁電荷の測定に好適に用いられる壁電荷の測定方
法および装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ＡＣ型ガス放電表示パネルは、放電空間
に誘電体を介した電極構造を有し、放電に伴う発光を利
用する表示パネルである。参考のために、この表示パネ
ルの構造を、図１１に示すようなフルカラー表示用のＡ
Ｃ型３電極面放電形式のＰＤＰを例に挙げて説明する。
に誘電体を介した電極構造を有し、放電に伴う発光を利
用する表示パネルである。参考のために、この表示パネ
ルの構造を、図１１に示すようなフルカラー表示用のＡ
Ｃ型３電極面放電形式のＰＤＰを例に挙げて説明する。
【０００３】ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰでは、背
面側のガラス基板２１にソーダライムガラスを使用し、
その上に複数のアドレス電極Ａを平行に形成している。
アドレス電極間には隔壁（リブ）２３を設け、隔壁２３
と隔壁２３との間の溝には、その側面と底面にカラー表
示のための赤用（Ｒ）と緑用（Ｇ）と青用（Ｂ）の蛍光
体層２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを順次形成している。
面側のガラス基板２１にソーダライムガラスを使用し、
その上に複数のアドレス電極Ａを平行に形成している。
アドレス電極間には隔壁（リブ）２３を設け、隔壁２３
と隔壁２３との間の溝には、その側面と底面にカラー表
示のための赤用（Ｒ）と緑用（Ｇ）と青用（Ｂ）の蛍光
体層２４Ｒ，２４Ｇ，２４Ｂを順次形成している。
【０００４】前面側のガラス基板２５には、アドレス電
極Ａに対して垂直な方向に、表示の１ライン毎に一対の
サステイン電極Ｘ，Ｙを形成し、ガラス基板２５の全体
を誘電体層２６で覆い、誘電体層２６の表面にはＭｇＯ
からなる保護膜２７を蒸着している。
極Ａに対して垂直な方向に、表示の１ライン毎に一対の
サステイン電極Ｘ，Ｙを形成し、ガラス基板２５の全体
を誘電体層２６で覆い、誘電体層２６の表面にはＭｇＯ
からなる保護膜２７を蒸着している。
【０００５】背面側のガラス基板２１と前面側のガラス
基板２５は、張り合わせて周辺をシールし、内部にＸ
ｅ，Ｎｅ等のガスを混入している。表示の１画素はライ
ン方向に並ぶ３つのサブピクセルで構成する。
基板２５は、張り合わせて周辺をシールし、内部にＸ
ｅ，Ｎｅ等のガスを混入している。表示の１画素はライ
ン方向に並ぶ３つのサブピクセルで構成する。
【０００６】このようなＡＣ型ＰＤＰでは、画定された
各放電セルのサステイン電極Ｘ，Ｙ上の誘電体層表面の
帯電（壁電荷）状態を、一定の電圧（サステイン電圧）
を印加したときに放電する状態と放電しない状態に設定
するいわゆるアドレス操作を行い、その後サステイン電
圧をサステイン電極Ｘ，Ｙに交互に印加してアドレスさ
れた特定の放電セルだけを放電させるサステイン操作を
行うことにより画像を表示する。
各放電セルのサステイン電極Ｘ，Ｙ上の誘電体層表面の
帯電（壁電荷）状態を、一定の電圧（サステイン電圧）
を印加したときに放電する状態と放電しない状態に設定
するいわゆるアドレス操作を行い、その後サステイン電
圧をサステイン電極Ｘ，Ｙに交互に印加してアドレスさ
れた特定の放電セルだけを放電させるサステイン操作を
行うことにより画像を表示する。
【０００７】このサステイン放電の制御は、放電空間と
誘電体の間すなわち誘電体表面に蓄積される電荷（以下
壁電荷と称する）の量を調整することによって行われ
る。すなわち、放電ギャップ（放電セル）に加わる実効
電圧は、印加電圧成分に壁電荷による電圧成分が重畳さ
れたものであり、放電ギャップに加わる実効電圧が放電
開始電圧を超えたとき、放電が起る。
誘電体の間すなわち誘電体表面に蓄積される電荷（以下
壁電荷と称する）の量を調整することによって行われ
る。すなわち、放電ギャップ（放電セル）に加わる実効
電圧は、印加電圧成分に壁電荷による電圧成分が重畳さ
れたものであり、放電ギャップに加わる実効電圧が放電
開始電圧を超えたとき、放電が起る。
【０００８】このように、ギャップ間電圧や蓄積された
壁電荷は放電現象を決める直接的な物理量であり、この
物理量を知ることでどのような放電現象が生ずるのかを
知ることができる。なかでも壁電荷の量を知ることによ
り、電極がどのような放電特性を有しているのかを知る
ことができる。
壁電荷は放電現象を決める直接的な物理量であり、この
物理量を知ることでどのような放電現象が生ずるのかを
知ることができる。なかでも壁電荷の量を知ることによ
り、電極がどのような放電特性を有しているのかを知る
ことができる。
【０００９】しかしながら、ＡＣ型ＰＤＰでは、電極間
電圧を測定することは可能であるが、電極と放電空間が
誘電体によって絶縁されているため、壁電荷の量を直接
測定することは難しい。そのため、放電特性の評価のた
めには壁電荷の量を知ることが必要であるにもかかわら
ず、従来においては、放電特性は点火電圧や最小維持電
圧といった、壁電荷とは異なる量で評価されていた。
電圧を測定することは可能であるが、電極と放電空間が
誘電体によって絶縁されているため、壁電荷の量を直接
測定することは難しい。そのため、放電特性の評価のた
めには壁電荷の量を知ることが必要であるにもかかわら
ず、従来においては、放電特性は点火電圧や最小維持電
圧といった、壁電荷とは異なる量で評価されていた。
【００１０】また、これらの評価は単純な駆動波形の下
で評価されることが多かった。図１２は上述したフルカ
ラー表示用のＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰで実際に
用いられている駆動波形の一例であり、図１３は従来の
放電特性の評価に用いられる駆動波形の一例である。
で評価されることが多かった。図１２は上述したフルカ
ラー表示用のＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰで実際に
用いられている駆動波形の一例であり、図１３は従来の
放電特性の評価に用いられる駆動波形の一例である。
【００１１】図１２に示すように、実際のパネルの駆動
は、消去パルス、書込みパルス、サステインパルスのよ
うな全セルに同時に印加する電圧波形と、表示セルを選
択するためのアドレスパルス、スキャンパルスなどの電
圧波形を含む複数のステップからなる複雑な電圧波形を
印加することによって行われる。
は、消去パルス、書込みパルス、サステインパルスのよ
うな全セルに同時に印加する電圧波形と、表示セルを選
択するためのアドレスパルス、スキャンパルスなどの電
圧波形を含む複数のステップからなる複雑な電圧波形を
印加することによって行われる。
【００１２】しかしながら、従来においては、図１３の
（Ａ）〜（Ｄ）に示すような単純な電圧波形を放電セル
を画定する電極対に印加して、単純にその２電極間の特
性が評価されているのみであり、複数の電極間の特性に
ついての評価は行われていなかった。けれども、実際に
駆動する電圧波形下での壁電荷の挙動の調査は、ＰＤＰ
の特性を把握するためには重要な課題である。
（Ａ）〜（Ｄ）に示すような単純な電圧波形を放電セル
を画定する電極対に印加して、単純にその２電極間の特
性が評価されているのみであり、複数の電極間の特性に
ついての評価は行われていなかった。けれども、実際に
駆動する電圧波形下での壁電荷の挙動の調査は、ＰＤＰ
の特性を把握するためには重要な課題である。
【００１３】例えば、壁電荷の測定例として、１９９６
年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会
講演番号C-406「V-Q Lissajous図形を用いたac-PDPの放
電計測」で発表されているように、パネル容量に比して
十分大きなコンデンサをパネルと直列に挿入し、その両
端の電圧を測定することで壁電荷の挙動を観測している
例が報告されている。
年電子情報通信学会エレクトロニクスソサイエティ大会
講演番号C-406「V-Q Lissajous図形を用いたac-PDPの放
電計測」で発表されているように、パネル容量に比して
十分大きなコンデンサをパネルと直列に挿入し、その両
端の電圧を測定することで壁電荷の挙動を観測している
例が報告されている。
【００１４】しかし、このような壁電荷の測定例は、上
述した図１３のように、正弦波や矩形波のような簡単な
駆動波形を２電極間に印加した場合の測定例を示すもの
であり、３電極以上の複数の電極が関係する複雑な駆動
波形下で特定のセルを表示させた場合の測定例を示すも
のではない。
述した図１３のように、正弦波や矩形波のような簡単な
駆動波形を２電極間に印加した場合の測定例を示すもの
であり、３電極以上の複数の電極が関係する複雑な駆動
波形下で特定のセルを表示させた場合の測定例を示すも
のではない。
【００１５】
【発明が解決しようとする課題】以上述べたように、壁
電荷が、ＡＣ型ＰＤＰの基本的な物理量であるにもかか
わらず、測定そのものの困難さに加え、ＰＤＰが多くの
電極を有し、さらに駆動波形が非常に複雑であるという
理由から、従来では、実際の壁電荷の測定は行われおら
ず、この測定はＡＣ型ＰＤＰの開発上大きな課題となっ
ていた。
電荷が、ＡＣ型ＰＤＰの基本的な物理量であるにもかか
わらず、測定そのものの困難さに加え、ＰＤＰが多くの
電極を有し、さらに駆動波形が非常に複雑であるという
理由から、従来では、実際の壁電荷の測定は行われおら
ず、この測定はＡＣ型ＰＤＰの開発上大きな課題となっ
ていた。
【００１６】この発明は、このような事情を考慮してな
されたもので、壁電荷の測定を簡単化して迅速に測定
し、さらに複雑な駆動波形における壁電荷の挙動を測定
できるようにした壁電荷の測定方法および装置を提供す
るものである。
されたもので、壁電荷の測定を簡単化して迅速に測定
し、さらに複雑な駆動波形における壁電荷の挙動を測定
できるようにした壁電荷の測定方法および装置を提供す
るものである。
【００１７】
【課題を解決するための手段】この発明は、外部電極型
放電セルを放電させた時に生じる壁電荷を測定するため
の方法であって、その放電を発生した電極に流れる電流
を計測し、その計測した電流の値から壁電荷の形成に関
与する電流成分を取り出して、その電流成分を電荷量へ
変換することからなる壁電荷の測定方法である。
放電セルを放電させた時に生じる壁電荷を測定するため
の方法であって、その放電を発生した電極に流れる電流
を計測し、その計測した電流の値から壁電荷の形成に関
与する電流成分を取り出して、その電流成分を電荷量へ
変換することからなる壁電荷の測定方法である。
【００１８】この発明によれば、ガス放電パネルの電極
を覆う誘電体に形成される壁電荷を実測することがで
き、これによりガス放電パネルの放電特性を実際に形成
される壁電荷の量で評価することが可能となる。
を覆う誘電体に形成される壁電荷を実測することがで
き、これによりガス放電パネルの放電特性を実際に形成
される壁電荷の量で評価することが可能となる。
【００１９】
【発明の実施の形態】この発明において、ガス放電パネ
ルとしては、例えばＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰを
適用することができる。
ルとしては、例えばＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰを
適用することができる。
【００２０】ガス放電パネルの壁電荷測定に用いる一定
波形の電圧としては、例えば上記ＡＣ型３電極面放電形
式のＰＤＰを駆動するための駆動電圧波形を適用するこ
とができる。
波形の電圧としては、例えば上記ＡＣ型３電極面放電形
式のＰＤＰを駆動するための駆動電圧波形を適用するこ
とができる。
【００２１】本発明においては、壁電荷測定に用いる一
定波形の電圧は、ＡＣ型ＰＤＰの駆動電圧波形のような
パルス状の電圧とすることが望ましい。この場合、壁電
荷の形成に関与する電流成分の電荷量への変換は、放電
電極に流れる電流をパルス状の電圧の立ち上がりから立
ち下がりまでの期間積分することにより行うことができ
る。
定波形の電圧は、ＡＣ型ＰＤＰの駆動電圧波形のような
パルス状の電圧とすることが望ましい。この場合、壁電
荷の形成に関与する電流成分の電荷量への変換は、放電
電極に流れる電流をパルス状の電圧の立ち上がりから立
ち下がりまでの期間積分することにより行うことができ
る。
【００２２】また、壁電荷の形成に関与する電流成分の
電荷量への変換は、以下のようにして行ってもよい。す
なわち、放電セルが複数であれば、その複数の放電セル
を２つの群に分け、第１群の放電セルを所定の電圧の印
加によって放電が起こらない第１の壁電荷の状態とな
し、第２群の放電セルを所定の電圧の印加によって放電
が起こる第２の壁電荷の状態となす。そして、放電を発
生した第１群の放電セルから計測される電流と非放電発
生の第２群の放電セルから計測される電流に基づいて壁
電荷の形成に関与する電流成分を求め、求めた電流成分
を積分する。このようにして、壁電荷の形成に関与する
電流成分だけを求めて積分することにより壁電荷の量を
求めるようにしてもよい。
電荷量への変換は、以下のようにして行ってもよい。す
なわち、放電セルが複数であれば、その複数の放電セル
を２つの群に分け、第１群の放電セルを所定の電圧の印
加によって放電が起こらない第１の壁電荷の状態とな
し、第２群の放電セルを所定の電圧の印加によって放電
が起こる第２の壁電荷の状態となす。そして、放電を発
生した第１群の放電セルから計測される電流と非放電発
生の第２群の放電セルから計測される電流に基づいて壁
電荷の形成に関与する電流成分を求め、求めた電流成分
を積分する。このようにして、壁電荷の形成に関与する
電流成分だけを求めて積分することにより壁電荷の量を
求めるようにしてもよい。
【００２３】この発明は、また、外部電極型放電セルに
電圧を印加して放電を発生させることが可能な駆動回路
と、その放電した電極に流れる電流を計測する電流検出
部と、電流検出部によって測定された電流の値から壁電
荷の形成に関与する電流成分を取り出してその電流成分
を電荷量へ変換する壁電荷検出部とを備えてなる壁電荷
の測定装置である。
電圧を印加して放電を発生させることが可能な駆動回路
と、その放電した電極に流れる電流を計測する電流検出
部と、電流検出部によって測定された電流の値から壁電
荷の形成に関与する電流成分を取り出してその電流成分
を電荷量へ変換する壁電荷検出部とを備えてなる壁電荷
の測定装置である。
【００２４】この発明における駆動回路は、壁電荷の測
定装置内に設けられたものであってもよく、また、壁電
荷の測定装置外に設けられたものであってもよい。例え
ば壁電荷の測定装置外に設けられたものとしては、壁電
荷を測定しようとするガス放電パネルに駆動回路がすで
に一体で組込まれたもの等を挙げることができる。すな
わち、ガス放電パネルと駆動回路とを一体化したプラズ
マディスプレイ装置の壁電荷を測定するような場合に
は、その駆動回路を電荷測定に用いる。
定装置内に設けられたものであってもよく、また、壁電
荷の測定装置外に設けられたものであってもよい。例え
ば壁電荷の測定装置外に設けられたものとしては、壁電
荷を測定しようとするガス放電パネルに駆動回路がすで
に一体で組込まれたもの等を挙げることができる。すな
わち、ガス放電パネルと駆動回路とを一体化したプラズ
マディスプレイ装置の壁電荷を測定するような場合に
は、その駆動回路を電荷測定に用いる。
【００２５】以下、図面に示す実施の形態に基づいてこ
の発明を詳述する。なお、これによってこの発明が限定
されるものではない。図１はこの発明による壁電荷の測
定方法に用いる測定装置の構成を示す説明図である。図
において、１は電極２が形成された被試験用のガス放電
表示パネルであり、壁電荷を測定したいガス放電表示パ
ネルはここに配置される。３は電極２に接続された駆動
回路ユニットであり、ガス放電表示パネル１の電極２に
対して所定の駆動電圧波形を印加する。
の発明を詳述する。なお、これによってこの発明が限定
されるものではない。図１はこの発明による壁電荷の測
定方法に用いる測定装置の構成を示す説明図である。図
において、１は電極２が形成された被試験用のガス放電
表示パネルであり、壁電荷を測定したいガス放電表示パ
ネルはここに配置される。３は電極２に接続された駆動
回路ユニットであり、ガス放電表示パネル１の電極２に
対して所定の駆動電圧波形を印加する。
【００２６】駆動回路ユニット３には、被試験用のガス
放電表示パネル１の一方の電極２に電圧を印加する駆動
回路Ａと、他方の電極２の奇数ラインと偶数ラインにそ
れぞれ電圧を印加する駆動回路Ｂ，Ｃが設けられてい
る。このガス放電表示パネル１の場合、電極２の交点が
放電領域（放電セル）である。
放電表示パネル１の一方の電極２に電圧を印加する駆動
回路Ａと、他方の電極２の奇数ラインと偶数ラインにそ
れぞれ電圧を印加する駆動回路Ｂ，Ｃが設けられてい
る。このガス放電表示パネル１の場合、電極２の交点が
放電領域（放電セル）である。
【００２７】なお、駆動回路ユニット３は、駆動回路
Ａ，Ｂ，Ｃを設けて、全ての電極に電圧を印加できるよ
うにしているが、この駆動回路ユニット３は、このよう
に全ての電極に電圧を印加するタイプのものであっても
よいし、壁電荷を測定したい着目電極だけに電圧を印加
するタイプのものであってもよい。また、ガス放電表示
パネルがフルカラー表示用のＡＣ型３電極面放電形式の
ＰＤＰであるような場合には、実際の駆動電圧を印加で
きるタイプのものであってもよい。
Ａ，Ｂ，Ｃを設けて、全ての電極に電圧を印加できるよ
うにしているが、この駆動回路ユニット３は、このよう
に全ての電極に電圧を印加するタイプのものであっても
よいし、壁電荷を測定したい着目電極だけに電圧を印加
するタイプのものであってもよい。また、ガス放電表示
パネルがフルカラー表示用のＡＣ型３電極面放電形式の
ＰＤＰであるような場合には、実際の駆動電圧を印加で
きるタイプのものであってもよい。
【００２８】さらに、駆動回路ユニット３は、駆動回路
を制御する制御回路を備え、その制御回路によって任意
の駆動電圧波形を生成可能な試験専用のタイプのもので
あってもよいし、常に同じ駆動電圧波形だけを印加する
実使用タイプのものであってもよい。すなわち、この駆
動回路ユニット３は、電極２上の誘電体に壁電荷を形成
するための電圧を印加できるものであればどのようなタ
イプのものであってもよい。
を制御する制御回路を備え、その制御回路によって任意
の駆動電圧波形を生成可能な試験専用のタイプのもので
あってもよいし、常に同じ駆動電圧波形だけを印加する
実使用タイプのものであってもよい。すなわち、この駆
動回路ユニット３は、電極２上の誘電体に壁電荷を形成
するための電圧を印加できるものであればどのようなタ
イプのものであってもよい。
【００２９】壁電荷の測定装置は、この駆動回路ユニッ
ト３の他に、電流検出部４、積分器と変位電流キャンセ
ラとの２つの機能を有する壁電荷検出部５、およびデー
タ収集部６が備えられて構成される。
ト３の他に、電流検出部４、積分器と変位電流キャンセ
ラとの２つの機能を有する壁電荷検出部５、およびデー
タ収集部６が備えられて構成される。
【００３０】なお、前述したように、ガス放電表示パネ
ル１と駆動回路ユニット３とが一体で組込まれているプ
ラズマディスプレイ装置の壁電荷を測定する場合には、
駆動回路ユニット３は不要であるので、壁電荷の測定装
置は、電流検出部４、壁電荷検出部５、およびデータ収
集部６で構成する。
ル１と駆動回路ユニット３とが一体で組込まれているプ
ラズマディスプレイ装置の壁電荷を測定する場合には、
駆動回路ユニット３は不要であるので、壁電荷の測定装
置は、電流検出部４、壁電荷検出部５、およびデータ収
集部６で構成する。
【００３１】電流検出部４は、電極２と駆動回路ユニッ
ト３とを結ぶ接続ラインに配置されている。電流検出部
４は、ループ式の非接触型のカレントプローブであり、
接続ラインに電流が流れることによって生ずる電界ある
いは磁界の量をホール素子等により検出し、これにより
接続ラインに流れる電流値を測定するものである。電流
検出部４により検出された電流測定値は、壁電荷検出部
５を介し、データ収集部６によって獲得される。
ト３とを結ぶ接続ラインに配置されている。電流検出部
４は、ループ式の非接触型のカレントプローブであり、
接続ラインに電流が流れることによって生ずる電界ある
いは磁界の量をホール素子等により検出し、これにより
接続ラインに流れる電流値を測定するものである。電流
検出部４により検出された電流測定値は、壁電荷検出部
５を介し、データ収集部６によって獲得される。
【００３２】図２はガス放電表示パネル１を駆動中のあ
る期間の波形を示す説明図であり、これによりこの壁電
荷測定装置を用いた壁電荷測定方法を説明する。図２
（Ａ）は放電を発生させるべく選択された放電セルを画
定する２電極間における印加電圧と壁電圧の値を示し、
図２（Ｂ）は印加電圧と壁電圧によって流れた観測電流
を示している。電流検出部４において検出される電流
は、放電に関与する電流（放電電流）ｉg(t) と変位電
流ｉind(t) との和である。すなわち、観測電流ｉ
mes(t) は ｉmes(t) ＝ｉg(t) ＋ｉind(t) ……（式１） で表される。
る期間の波形を示す説明図であり、これによりこの壁電
荷測定装置を用いた壁電荷測定方法を説明する。図２
（Ａ）は放電を発生させるべく選択された放電セルを画
定する２電極間における印加電圧と壁電圧の値を示し、
図２（Ｂ）は印加電圧と壁電圧によって流れた観測電流
を示している。電流検出部４において検出される電流
は、放電に関与する電流（放電電流）ｉg(t) と変位電
流ｉind(t) との和である。すなわち、観測電流ｉ
mes(t) は ｉmes(t) ＝ｉg(t) ＋ｉind(t) ……（式１） で表される。
【００３３】放電電流ｉg(t) は、壁電荷を形成するた
めに外部回路から供給される電流であることから、上記
放電電流ｉg(t) と壁電荷の変化ΔＱw との間には、 ΔＱw ∝∫ｉg(t)ｄｔ ……（式２） の関係がある。
めに外部回路から供給される電流であることから、上記
放電電流ｉg(t) と壁電荷の変化ΔＱw との間には、 ΔＱw ∝∫ｉg(t)ｄｔ ……（式２） の関係がある。
【００３４】したがって、これに基づき、壁電荷検出部
５は、観測電流ｉmes(t) の中から放電電流ｉg(t) 分だ
けを求めるために、観測電流ｉmes(t) から変位電流ｉ
ind(t) 分を除去（キャンセル）した後、壁電荷変化量
ΔＱw を求める積分操作を行う。
５は、観測電流ｉmes(t) の中から放電電流ｉg(t) 分だ
けを求めるために、観測電流ｉmes(t) から変位電流ｉ
ind(t) 分を除去（キャンセル）した後、壁電荷変化量
ΔＱw を求める積分操作を行う。
【００３５】変位電流ｉind(t) 分のキャンセルは、同
じ電圧を印加した場合における発光セルに流れる電流と
非発光セルに流れる電流との差に着目し、これにより行
うことができる。すなわち、発光セルに流れる電流から
非発光セルに流れる電流を差引くことによって、変位電
流ｉind(t) 分をキャンセルすることができる。この変
位電流分のキャンセルについて図３および図４を用いて
説明する。
じ電圧を印加した場合における発光セルに流れる電流と
非発光セルに流れる電流との差に着目し、これにより行
うことができる。すなわち、発光セルに流れる電流から
非発光セルに流れる電流を差引くことによって、変位電
流ｉind(t) 分をキャンセルすることができる。この変
位電流分のキャンセルについて図３および図４を用いて
説明する。
【００３６】図３に示すように、例えば、壁電荷を測定
しようとするガス放電表示パネルが、ＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰである場合、通常、表示電極Ｘと表示電
極Ｙとの間に表示（サステイン）電圧が印加されて特定
セルの表示放電（維持放電）が生ずるのであるが、サス
テイン電圧の印加によって放電が生じる発光セルと、サ
ステイン電圧が印加されても放電が生じない非発光セル
との２つのセルに着目し、発光セル側の表示電極をＹ１
とし、非発光セル側の表示電極をＹ２とする。Ｘは共通
表示電極である。
しようとするガス放電表示パネルが、ＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰである場合、通常、表示電極Ｘと表示電
極Ｙとの間に表示（サステイン）電圧が印加されて特定
セルの表示放電（維持放電）が生ずるのであるが、サス
テイン電圧の印加によって放電が生じる発光セルと、サ
ステイン電圧が印加されても放電が生じない非発光セル
との２つのセルに着目し、発光セル側の表示電極をＹ１
とし、非発光セル側の表示電極をＹ２とする。Ｘは共通
表示電極である。
【００３７】図４（Ａ）はＸ電極に印加される駆動電圧
波形である。図４の（Ｂ）と（Ｄ）はそれぞれＹ１電極
とＹ２電極に印加される駆動電圧波形、図４の（Ｃ）と
（Ｅ）はそれぞれＹ１電極とＹ２電極に流れる電流を示
している。
波形である。図４の（Ｂ）と（Ｄ）はそれぞれＹ１電極
とＹ２電極に印加される駆動電圧波形、図４の（Ｃ）と
（Ｅ）はそれぞれＹ１電極とＹ２電極に流れる電流を示
している。
【００３８】図４（Ｃ）で示すＹ１電極で測定された電
流値は、発光セルのものであるため、放電電流と変位電
流の２つの電流成分が加えられた値のものが得られる。
一方、図４（Ｅ）で示すＹ２電極で測定された電流値
は、非発光セルのものであるため、変位電流成分のみの
値のものが得られる。
流値は、発光セルのものであるため、放電電流と変位電
流の２つの電流成分が加えられた値のものが得られる。
一方、図４（Ｅ）で示すＹ２電極で測定された電流値
は、非発光セルのものであるため、変位電流成分のみの
値のものが得られる。
【００３９】したがって、Ｙ１電極で測定された電流値
から、Ｙ２電極で測定された電流値を差引くことによっ
て、壁電荷形成に関与する電流成分だけを取り出すこと
ができる。
から、Ｙ２電極で測定された電流値を差引くことによっ
て、壁電荷形成に関与する電流成分だけを取り出すこと
ができる。
【００４０】この電流成分の取出しは、電流検出部４に
カレントプローブを用いているため、このカレントプロ
ーブの電流検出ループの中に、発光セルの接続ラインと
非発光セルの接続ラインを、電流の向きが逆になるよう
に挿入することでアナログ的に電流値を差し引いて、壁
電荷形成に関与する電流成分だけを取り出すようにする
ことができる。
カレントプローブを用いているため、このカレントプロ
ーブの電流検出ループの中に、発光セルの接続ラインと
非発光セルの接続ラインを、電流の向きが逆になるよう
に挿入することでアナログ的に電流値を差し引いて、壁
電荷形成に関与する電流成分だけを取り出すようにする
ことができる。
【００４１】あるいは、Ｙ１電極で測定された電流値と
Ｙ２電極で測定された電流値とをそれぞれディジタル値
で得ることができるような装置を設けた場合であれば、
算術的に電流値を差引くことにより壁電荷形成に関与す
る電流成分を求めるようにしてもよい。壁電荷の変化量
は、この得られた壁電荷形成に関与する電流成分を積分
することによって求めることができる。
Ｙ２電極で測定された電流値とをそれぞれディジタル値
で得ることができるような装置を設けた場合であれば、
算術的に電流値を差引くことにより壁電荷形成に関与す
る電流成分を求めるようにしてもよい。壁電荷の変化量
は、この得られた壁電荷形成に関与する電流成分を積分
することによって求めることができる。
【００４２】また、放電電流ｉg(t) による電荷と変位
電流ｉind(t) による電荷の分離は、上記の方法以外
に、観測電流ｉmes(t) を直接積分することによっても
達成することができる。この場合は、発光セルに結合し
た電極に流れる電流を測定するだけでよい。図２によ
り、この観測電流の直接積分によって変位電流をキャン
セルする方法を説明する。
電流ｉind(t) による電荷の分離は、上記の方法以外
に、観測電流ｉmes(t) を直接積分することによっても
達成することができる。この場合は、発光セルに結合し
た電極に流れる電流を測定するだけでよい。図２によ
り、この観測電流の直接積分によって変位電流をキャン
セルする方法を説明する。
【００４３】図２（Ａ）の印加電圧波形では、図２
（Ｂ）に示すように、電流は、正パルスが立ち上がった
時と正パルスが立ち下がった時、および負パルスが立ち
下がった時と負パルスが立ち上がった時に流れる。そし
て、その内、放電電流成分は、正パルスが立ち上がった
直後と、負パルスが立ち下がった直後にのみ存在する。
（Ｂ）に示すように、電流は、正パルスが立ち上がった
時と正パルスが立ち下がった時、および負パルスが立ち
下がった時と負パルスが立ち上がった時に流れる。そし
て、その内、放電電流成分は、正パルスが立ち上がった
直後と、負パルスが立ち下がった直後にのみ存在する。
【００４４】このように、放電は、正パルスが立ち上が
った直後か、負パルスが立ち下がった直後に起こり、正
パルスが立ち下がるとき、あるいは負パルスが立ち上る
ときには起らない。
った直後か、負パルスが立ち下がった直後に起こり、正
パルスが立ち下がるとき、あるいは負パルスが立ち上る
ときには起らない。
【００４５】本方法はこの点に着目し、正パルスが立ち
上がって立ち下がるまでの期間、あるいは負パルスが立
ち下がって立ち上がるまでの期間の電流値を積分するこ
とにより、変位電流成分をキャンセルするようにしたも
のである。
上がって立ち下がるまでの期間、あるいは負パルスが立
ち下がって立ち上がるまでの期間の電流値を積分するこ
とにより、変位電流成分をキャンセルするようにしたも
のである。
【００４６】したがって、図２（Ａ）の印加電圧波形の
ように、印加する電圧波形が、正パルスが立ち下がった
後、時間を置いて負パルスが立ち下がるような電圧波形
である場合に変位電流成分をキャンセルすることができ
る。
ように、印加する電圧波形が、正パルスが立ち下がった
後、時間を置いて負パルスが立ち下がるような電圧波形
である場合に変位電流成分をキャンセルすることができ
る。
【００４７】図２（Ｃ）は観測電流の積分値である。正
パルスあるいは負パルスの立ち上りと立ち下がり時に流
れる変位電流は大きさが同じで逆符号の電流である。一
方、この期間中放電は一回しか起らない。したがって、
この期間での積分値を求めることによって変位電流成分
をキャンセルすることができ、正パルスの立ち下がり前
後の量、あるいは負パルスの立ち上り前後の量を比較す
ることによって、壁電荷の変化量を求めることができ
る。
パルスあるいは負パルスの立ち上りと立ち下がり時に流
れる変位電流は大きさが同じで逆符号の電流である。一
方、この期間中放電は一回しか起らない。したがって、
この期間での積分値を求めることによって変位電流成分
をキャンセルすることができ、正パルスの立ち下がり前
後の量、あるいは負パルスの立ち上り前後の量を比較す
ることによって、壁電荷の変化量を求めることができ
る。
【００４８】データ収集部６は、駆動中の特定の期間の
データだけを表示できる機能を有しており、例えば電荷
の変化量Ｑを縦軸に、駆動電圧Ｖを横軸にとったものを
表示することが可能である。これにより、電荷の移動量
を直感的に観測することが可能となる。
データだけを表示できる機能を有しており、例えば電荷
の変化量Ｑを縦軸に、駆動電圧Ｖを横軸にとったものを
表示することが可能である。これにより、電荷の移動量
を直感的に観測することが可能となる。
【００４９】しかしながら、実際に駆動する時の複雑な
波形の下では不要なデータが存在するため、電荷の変化
量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフは、図５に示す
ようなグラフとなる。ところが、不要なデータが存在す
る期間を表示しないようにすることによって、電荷の変
化量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフを、図６に示
すような簡明なグラフとすることができる。
波形の下では不要なデータが存在するため、電荷の変化
量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフは、図５に示す
ようなグラフとなる。ところが、不要なデータが存在す
る期間を表示しないようにすることによって、電荷の変
化量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフを、図６に示
すような簡明なグラフとすることができる。
【００５０】これは、例えば、ガス放電表示パネルが、
ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰである場合には、アド
レス電極、Ｘ−サステイン電極、Ｙ１−サステイン電
極、Ｙ２−サステイン電極にそれぞれ印加する電圧波形
は、図７に示すようなものとなるが、この電圧印加の期
間に、測定値非表示期間と測定値表示期間とを設定する
ことにより、図６のような簡明なグラフを表示すること
が可能となる。
ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰである場合には、アド
レス電極、Ｘ−サステイン電極、Ｙ１−サステイン電
極、Ｙ２−サステイン電極にそれぞれ印加する電圧波形
は、図７に示すようなものとなるが、この電圧印加の期
間に、測定値非表示期間と測定値表示期間とを設定する
ことにより、図６のような簡明なグラフを表示すること
が可能となる。
【００５１】図８はＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰの
壁電荷を測定する壁電荷測定装置の構成を示すブロック
図である。この図において、１１はＡＣ型３電極面放電
形式のＰＤＰであり、この壁電荷測定装置においては、
被試験用のガス放電表示パネルとしてＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰ１１を適用する。このＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰ１１は、図１１で示したアドレス電極Ａ
とサステイン電極Ｘ，Ｙを有する公知のＰＤＰである。
そして、この装置においては、図１２で示した駆動波形
を用い、この駆動波形中のサステイン期間における壁電
荷の変化を測定する。
壁電荷を測定する壁電荷測定装置の構成を示すブロック
図である。この図において、１１はＡＣ型３電極面放電
形式のＰＤＰであり、この壁電荷測定装置においては、
被試験用のガス放電表示パネルとしてＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰ１１を適用する。このＡＣ型３電極面放
電形式のＰＤＰ１１は、図１１で示したアドレス電極Ａ
とサステイン電極Ｘ，Ｙを有する公知のＰＤＰである。
そして、この装置においては、図１２で示した駆動波形
を用い、この駆動波形中のサステイン期間における壁電
荷の変化を測定する。
【００５２】１３はドライバユニット、１４はカレント
プローブからなる電流センサ、１５はアンプ、１６は積
分器、１７はオシロスコープ、１８はコントローラであ
る。ドライバユニット１３は、リセットドライバ１３
ａ、アドレスドライバ１３ｂ、およびサステインドライ
バ１３ｃから構成されており、これらのドライバはコン
トローラ１８によって制御される。
プローブからなる電流センサ、１５はアンプ、１６は積
分器、１７はオシロスコープ、１８はコントローラであ
る。ドライバユニット１３は、リセットドライバ１３
ａ、アドレスドライバ１３ｂ、およびサステインドライ
バ１３ｃから構成されており、これらのドライバはコン
トローラ１８によって制御される。
【００５３】ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰ１１のア
ドレス電極Ａ、サステイン電極Ｘ、およびサステイン電
極Ｙ1 〜Ｙ480 には、それぞれ図１２で示したパルス状
の電圧を印加する。
ドレス電極Ａ、サステイン電極Ｘ、およびサステイン電
極Ｙ1 〜Ｙ480 には、それぞれ図１２で示したパルス状
の電圧を印加する。
【００５４】すなわち、リセット期間においては、リセ
ットドライバ１３ａから、サステイン電極Ｘに消去パル
スを印加するとともに、サステイン電極Ｙに書込みパル
スを印加し、アドレス期間においては、サステインドラ
イバ１３ｃから、サステイン電極Ｙにスキャンパルスを
印加するとともに、アドレスドライバ１３ｂから、アド
レス電極Ａにアドレスパルスを印加し、サステイン期間
においては、サステインドライバ１３ｃから、サステイ
ン電極Ｘとサステイン電極Ｙにサステインパルスを印加
する。変位電流成分のキャンセルは、発光セルと非発光
セルの電流差を求める方式、あるいは観測電流を直接積
分する方式のいずれを用いてもよい。
ットドライバ１３ａから、サステイン電極Ｘに消去パル
スを印加するとともに、サステイン電極Ｙに書込みパル
スを印加し、アドレス期間においては、サステインドラ
イバ１３ｃから、サステイン電極Ｙにスキャンパルスを
印加するとともに、アドレスドライバ１３ｂから、アド
レス電極Ａにアドレスパルスを印加し、サステイン期間
においては、サステインドライバ１３ｃから、サステイ
ン電極Ｘとサステイン電極Ｙにサステインパルスを印加
する。変位電流成分のキャンセルは、発光セルと非発光
セルの電流差を求める方式、あるいは観測電流を直接積
分する方式のいずれを用いてもよい。
【００５５】電流の観測は電流センサ１４を用い、アン
プ１５を通して増幅する。電流センサ１４は一部のサス
テイン電極Ｙだけに取り付けておいてもよいし、全ての
サステイン電極Ｙに取り付けておき、切換えにより所望
のサステイン電極Ｙのものだけをアンプ１５に入力する
ようにしてもよい。また、任意に取り外して所望のサス
テイン電極Ｙに取り付けるようにしておいてもよい。
プ１５を通して増幅する。電流センサ１４は一部のサス
テイン電極Ｙだけに取り付けておいてもよいし、全ての
サステイン電極Ｙに取り付けておき、切換えにより所望
のサステイン電極Ｙのものだけをアンプ１５に入力する
ようにしてもよい。また、任意に取り外して所望のサス
テイン電極Ｙに取り付けるようにしておいてもよい。
【００５６】増幅した電流信号は、図９に示すような積
分器１６を用いて積分することにより電荷量に変換し、
オシロスコープ１７のＹ軸入力端子に入力して観測す
る。オシロスコープ１７のＸ軸入力端子にはサステイン
ドライバ１３ｃからの出力を接続する。そして、オシロ
スコープ１７のＸ−Ｙ表示機能（リサージュ表示機能）
を用い、Ｘ軸に印加電圧波形、Ｙ軸に電荷量を表示させ
る。
分器１６を用いて積分することにより電荷量に変換し、
オシロスコープ１７のＹ軸入力端子に入力して観測す
る。オシロスコープ１７のＸ軸入力端子にはサステイン
ドライバ１３ｃからの出力を接続する。そして、オシロ
スコープ１７のＸ−Ｙ表示機能（リサージュ表示機能）
を用い、Ｘ軸に印加電圧波形、Ｙ軸に電荷量を表示させ
る。
【００５７】サステイン期間中の壁電荷の変化を選択的
に調べるためには、オシロスコープ１７のＺ軸入力端子
にコントローラ１８からの出力を接続し、コントローラ
１８で制御することにより、オシロスコープ１７の輝度
変調機構を用いて、必要な期間の測定値のみをオシロス
コープ１７の表示画面に表示する。
に調べるためには、オシロスコープ１７のＺ軸入力端子
にコントローラ１８からの出力を接続し、コントローラ
１８で制御することにより、オシロスコープ１７の輝度
変調機構を用いて、必要な期間の測定値のみをオシロス
コープ１７の表示画面に表示する。
【００５８】図１０はディジタルオシロスコープを用い
た壁電荷測定装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、２０はディジタルオシロスコープである。この
壁電荷測定装置では駆動波形期間中の任意の期間を選択
できる。
た壁電荷測定装置の構成を示すブロック図である。図に
おいて、２０はディジタルオシロスコープである。この
壁電荷測定装置では駆動波形期間中の任意の期間を選択
できる。
【００５９】被試験用のガス放電表示パネルとしては、
上記と同様に、ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰ１１を
適用している。また、ドライバユニット１３も上記通常
のオシロスコープ１７を用いた場合と同様の構成であ
り、リセットドライバ１３ａ、アドレスドライバ１３
ｂ、およびサステインドライバ１３ｃにより、サステイ
ン電極Ｘ，Ｙおよびアドレス電極Ａに、上記と同様、図
１２で示した駆動波形を印加する。電流センサ１４とア
ンプ１５も、上記通常のオシロスコープ１７を用いた場
合と同様の構成である。
上記と同様に、ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰ１１を
適用している。また、ドライバユニット１３も上記通常
のオシロスコープ１７を用いた場合と同様の構成であ
り、リセットドライバ１３ａ、アドレスドライバ１３
ｂ、およびサステインドライバ１３ｃにより、サステイ
ン電極Ｘ，Ｙおよびアドレス電極Ａに、上記と同様、図
１２で示した駆動波形を印加する。電流センサ１４とア
ンプ１５も、上記通常のオシロスコープ１７を用いた場
合と同様の構成である。
【００６０】アドレスドライバ１３ｂの出力電圧とサス
テインドライバ１３ｃの出力電圧は、印加電圧波形を観
測するために、ディジタルオシロスコープ２０の端子に
入力する。電流センサ１４で測定した電流値は、アンプ
１５を通して増幅し、ディジタルオシロスコープ２０の
観測端子に入力する。
テインドライバ１３ｃの出力電圧は、印加電圧波形を観
測するために、ディジタルオシロスコープ２０の端子に
入力する。電流センサ１４で測定した電流値は、アンプ
１５を通して増幅し、ディジタルオシロスコープ２０の
観測端子に入力する。
【００６１】このディジタルオシロスコープ２０を用い
た壁電荷測定装置では、積分器は設けておらず、変位電
流成分のキャンセルと積分操作は、ディジタルオシロス
コープ２０の演算機能によって計算する。
た壁電荷測定装置では、積分器は設けておらず、変位電
流成分のキャンセルと積分操作は、ディジタルオシロス
コープ２０の演算機能によって計算する。
【００６２】観測期間の選択はコントローラ１８によっ
て制御し、必要な期間の測定値をディジタルオシロスコ
ープ２０の表示画面に表示する。例えば、サステイン期
間中の壁電荷の変化を選択的に調べるには、コントロー
ラ１８からディジタルオシロスコープ２０に対して、例
えばサステイン期間の測定値だけを表示する旨の信号を
送出する。これにより、ディジタルオシロスコープ２０
で、サステイン期間の測定値のみをディジタルオシロス
コープ２０の表示画面に表示する。この観測期間の選択
は、ディジタルオシロスコープ２０のトリガ機能を用い
ることにより達成することもできる。
て制御し、必要な期間の測定値をディジタルオシロスコ
ープ２０の表示画面に表示する。例えば、サステイン期
間中の壁電荷の変化を選択的に調べるには、コントロー
ラ１８からディジタルオシロスコープ２０に対して、例
えばサステイン期間の測定値だけを表示する旨の信号を
送出する。これにより、ディジタルオシロスコープ２０
で、サステイン期間の測定値のみをディジタルオシロス
コープ２０の表示画面に表示する。この観測期間の選択
は、ディジタルオシロスコープ２０のトリガ機能を用い
ることにより達成することもできる。
【００６３】このようにして、壁電荷を測定することに
より、実際に駆動する電圧波形下での壁電荷を観測する
ことができる。したがって、ＡＣ型ＰＤＰの放電特性を
実際に放電に寄与する壁電荷の量で評価することが可能
となる。また、ＡＣ型ＰＤＰの放電性能試験を壁電荷の
量に基づいて行うことができ、これにより、ＡＣ型ＰＤ
Ｐが所定の壁電荷を形成することが可能かどうか等の表
示パネルの実性能を調べることも可能となる。
より、実際に駆動する電圧波形下での壁電荷を観測する
ことができる。したがって、ＡＣ型ＰＤＰの放電特性を
実際に放電に寄与する壁電荷の量で評価することが可能
となる。また、ＡＣ型ＰＤＰの放電性能試験を壁電荷の
量に基づいて行うことができ、これにより、ＡＣ型ＰＤ
Ｐが所定の壁電荷を形成することが可能かどうか等の表
示パネルの実性能を調べることも可能となる。
【００６４】
【発明の効果】この発明によれば、実際に駆動する電圧
波形下での壁電荷の挙動を知ることができる。そのた
め、これまで目視などの定性評価に頼っていた評価を定
量的かつ迅速に評価することができ、放電型表示パネル
の性能向上に寄与するところが大きい。
波形下での壁電荷の挙動を知ることができる。そのた
め、これまで目視などの定性評価に頼っていた評価を定
量的かつ迅速に評価することができ、放電型表示パネル
の性能向上に寄与するところが大きい。
【図１】この発明による壁電荷の測定方法に用いる測定
装置の構成を示す説明図である。
装置の構成を示す説明図である。
【図２】ガス放電表示パネルを駆動中のある期間の波形
を示す説明図である。
を示す説明図である。
【図３】発光セル側の表示電極と非発光セル側の表示電
極とを示す説明図である。
極とを示す説明図である。
【図４】表示電極Ｘの駆動波形と発光セル側と非発光セ
ル側の表示電極Ｙ１，Ｙ２の駆動波形と流れる電流を示
す説明図である。
ル側の表示電極Ｙ１，Ｙ２の駆動波形と流れる電流を示
す説明図である。
【図５】不要なデータが存在する場合の電荷の変化量Ｑ
と駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフである。
と駆動電圧Ｖとの関係を示すグラフである。
【図６】不要なデータが存在する期間を表示しないよう
にした場合の電荷の変化量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示
すグラフである。
にした場合の電荷の変化量Ｑと駆動電圧Ｖとの関係を示
すグラフである。
【図７】ＰＤＰに印加する駆動電圧波形の測定値非表示
期間と測定値表示期間とを示す説明図である。
期間と測定値表示期間とを示す説明図である。
【図８】ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰの壁電荷を測
定する壁電荷測定装置の構成を示すブロック図である。
定する壁電荷測定装置の構成を示すブロック図である。
【図９】積分器の構成を示す説明図である。
【図１０】ディジタルオシロスコープを用いた壁電荷測
定装置の構成を示すブロック図である。
定装置の構成を示すブロック図である。
【図１１】従来のＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰの構
成を示す説明図である。
成を示す説明図である。
【図１２】従来のＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰで実
際に用いられている駆動波形の一例を示す説明図であ
る。
際に用いられている駆動波形の一例を示す説明図であ
る。
【図１３】従来の放電特性の評価に用いられる駆動波形
の一例を示す説明図である。
の一例を示す説明図である。
１ 被試験用のガス放電表示パネル ２ 電極 ３ 駆動回路ユニット ４ 電流検出部 ５ 壁電荷検出部 ６ データ収集部 １１ ＡＣ型３電極面放電形式のＰＤＰ １３ ドライバユニット １３ａ リセットドライバ １３ｂ アドレスドライバ １３ｃ サステインドライバ １４ 電流センサ １５ アンプ １６ 積分器 １７ オシロスコープ １８ コントローラ ２０ ディジタルオシロスコープ
Claims (4)
- 【請求項１】 外部電極型放電セルを放電させた時に生
じる壁電荷を測定するための方法であって、その放電を
発生した電極に流れる電流を計測し、その計測した電流
の値から壁電荷の形成に関与する電流成分を取り出し
て、その電流成分を電荷量へ変換することからなる壁電
荷の測定方法。 - 【請求項２】 放電を発生させる電圧がパルス状の電圧
からなり、壁電荷の形成に関与する電流成分の電荷量へ
の変換が、放電を発生した電極に流れる電流を前記パル
ス状の電圧の立ち上がりから立ち下がりまでの期間積分
することにより行われることを特徴とする請求項１記載
の壁電荷の測定方法。 - 【請求項３】 前記放電セルが複数からなり、壁電荷の
形成に関与する電流成分の電荷量への変換が、前記複数
の放電セルを２つの群に分け、第１群の放電セルを所定
の電圧の印加によって放電が起こらない第１の壁電荷の
状態となし、第２群の放電セルを所定の電圧の印加によ
って放電が起こる第２の壁電荷の状態となし、放電を発
生した第１群の放電セルから計測される電流と非放電発
生の第２群の放電セルから計測される電流に基づいて壁
電荷の形成に関与する電流成分を求め、求めた電流成分
を積分することにより行われることを特徴とする請求項
１記載の壁電荷の測定方法。 - 【請求項４】 外部電極型放電セルに電圧を印加して放
電を発生させることが可能な駆動回路と、その放電した
電極に流れる電流を計測する電流検出部と、電流検出部
によって測定された電流の値から壁電荷の形成に関与す
る電流成分を取り出してその電流成分を電荷量へ変換す
る壁電荷検出部とを備えてなる壁電荷の測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9107607A JPH10302639A (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 壁電荷の測定方法および装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9107607A JPH10302639A (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 壁電荷の測定方法および装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH10302639A true JPH10302639A (ja) | 1998-11-13 |
Family
ID=14463467
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9107607A Withdrawn JPH10302639A (ja) | 1997-04-24 | 1997-04-24 | 壁電荷の測定方法および装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH10302639A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005052975A1 (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法 |
| CN110326080A (zh) * | 2017-02-20 | 2019-10-11 | 光学实验室公司（瑞典） | 一种芯片测试方法和一种用于测试多个场发射光源的仪器 |
-
1997
- 1997-04-24 JP JP9107607A patent/JPH10302639A/ja not_active Withdrawn
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005052975A1 (ja) * | 2003-11-27 | 2005-06-09 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法 |
| JP2005183367A (ja) * | 2003-11-27 | 2005-07-07 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法 |
| US7525512B2 (en) | 2003-11-27 | 2009-04-28 | Panasonic Corporation | Testing and inspecting method of a plasma display panel |
| JP4600008B2 (ja) * | 2003-11-27 | 2010-12-15 | パナソニック株式会社 | プラズマディスプレイパネルの点灯検査方法 |
| CN110326080A (zh) * | 2017-02-20 | 2019-10-11 | 光学实验室公司（瑞典） | 一种芯片测试方法和一种用于测试多个场发射光源的仪器 |
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