KR100395812B1 - 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치 - Google Patents
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Abstract
플라즈마 디스플레이 패널(PDP; Plasma Display Panel)의 검사장치가 개시된다. 개시된 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치는, 소정의 방전공간을 두고 대향되어 접합되는 전면기판 및 배면기판에 복수개가 형성된 스트라이프 형태의 전극 패턴에 대한 오픈 및 쇼트를 검사하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치에 있어서, 소정의 도전성 소재로 이루어지고, 상기 전극 패턴과 접촉하며 상기 전극 패턴의 저항값을 측정하는 한쌍의 롤러 프로브와; 상기 한쌍의 롤러 프로브와 통전 가능하게 연결되어 상기 롤러 프로브에 의해 측정된 저항치를 검출되도록 하는 저항기;를 포함하는 것을 그 특징으로 한다. 본 발명에 따르면, 간단하고 정확한 전극 패턴의 이상 유무를 검사할 수 있는 이점이 있다.
Description
본 발명은 플라즈마 디스플레이 패널(PDP; Plasma Display Panel)의 검사장치에 관한 것으로서, 보다 상세하게는 플라즈마 디스플레이 패널에 구비된 전극들의 이상 유무를 간단하게 검사할 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치에 관한 것이다.
플라즈마 디스플레이 패널은, 복수개의 전극이 코팅된 두 기판 상에 가스를 봉입한 후 방전 전압을 가하고, 이 방전 전압으로 인하여 발생되는 자외선에 의해 소정의 패턴으로 형성된 형광체를 여기시켜 소망하는 숫자, 문자, 또는 소정의 그래픽을 얻는 장치를 말한다. 현재 플라즈마 디스플레이 패널은 그 표시 용량, 휘도, 콘트라스트, 및 시야각 등의 표시 성능이 우수하여, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 성능에 근접되는 평판형 표시 패널로서 지목 받고 있다.
이러한 플라즈마 디스플레이 패널은 그 동작 원리에 따라 직류(Direct Current) 플라즈마 디스플레이 패널과, 교류(Alternative Current) 플라즈마 디스플레이 패널로 대별된다. 직류 플라즈마 디스플레이 패널은 모든 전극들이 방전 공간에 노출된 구조로서, 그 대응되는 전극들 사이에 전하(charges)들의 이동이 직접적으로 이루어진다. 이에 반하여, 교류 플라즈마 디스플레이 패널은 대응하는 전극들 중에서 적어도 한 전극이 유전체로 둘러싸인 구조로서, 그 대응되는 전극들 사이에 직접적인 전하들의 이동이 이루어지지 않고, 벽전하(wall-charge)의 전계에 의하여 방전이 수행된다. 상기 직류 플라즈마 디스플레이 패널은 구동 전압의 극성이 변화하지 않는 직류 구동 방식 및 극성이 변화하는 교류 구동 방식이 모두 적용될 수 있다. 그러나 상기 교류 플라즈마 디스플레이 패널은 교류 구동 방식만이적용된다.
그리고 플라즈마 디스플레이 패널은 그 전극들의 구성 형태에 따라 대향 방전형 및 면 방전형으로 대별될 수 있다. 대향 방전형 플라즈마 디스플레이 패널에서는 단위 화소마다 어드레싱용 전극 및 주사용 전극이 대향되게 마련되어, 원하는 화소를 선택하여 방전시키는 어드레싱 방전 및 상기 어드레싱 방전을 유지시키는 유지(Sustaining) 방전이 상기의 두 전극들 사이에서 일어난다. 면 방전형 플라즈마 디스플레이 패널에서는 단위 화소마다 상기 어드레싱용 전극에 대향되는 주사용 전극 및 공통(Common) 전극이 마련되어, 어드레싱 전극과 공통 전극 사이에서 상기 어드레싱 방전이 일어나고, 주사용 전극과 공통 전극 사이에서 상기 유지 방전이 일어난다.
이러한 플라즈마 디스플레이 패널중 면방전형 플라즈마 디스플레이 패널의 일 예를 도 1 및 도 2에 나타내 보였다.
도면을 참조하면, 플라즈마 디스플레이 패널은 배면기판(10)과, 상기 배면기판(10) 위에 소정의 패턴으로 어드레스전극(11)들이 형성되고, 이 어드레스전극(11)이 형성된 배면기판(10)위에 형성된 유전체층(12)이 형성된다. 상기 유전체층(12) 상에는 방전거리를 유지시키고 셀간의 전기적 광학적 크로스 토크(cross talk)를 방지하는 격벽(13)이 형성된다. 그리고 상기 격벽(13)이 형성된 배면기판(10)은 어드레스전극(11)과 직교하도록 소정의 패턴의 공통전극(14)들과 주사전극(15)들이 하면에 형성된 전면기판(16)과 결합된다. 상기 공통 및 주사전극(14, 15)은 투명한 ITO로 이루어진 투명전극(14a, 15a)과, 상기 투명전극(14a,15a)의 상면에는 이 투명전극(14a, 15a)의 라인 저항을 줄이기 위한 버스전극(14b, 15b)으로 이루어진다. 상기 투명전극(14a, 15a)은 버스전극(14b, 15b)의 폭보다 좁은 폭으로 형성된다. 상기 전면기판(16)의 하면에는 공통 및 주사전극(14, 15)들이 매립되는 유전체층(18)과 MgO로 이루어진 보호층(protective layer)(19)이 형성되고, 상기 격벽(13)에 의해 구획된 방전공간 내의 적어도 일측에는 형광체층(17)이 형성된다.
상기 유전체층(18)은 전극(14, 15)들을 보호하는 역할과 이차전자를 방출하므로 방전을 돕는 역할을 한다. 그리고 상기 전면기판(16)과 배면기판(10) 사이에 소정의 방전가스가 주입된다. 상기 전면기판(16)에 형성된 투명전극(14a, 15a)의 라인저항을 줄이기 위하여 형성된 버스전극(14b, 15b)은 소정의 금속으로 형성되어 있으므로 상기 형광체층(17)에 의해 발광하는 빛의 차단을 최소화하기 위하여 가능한 한 가늘게 투명전극(14a, 15a)의 가장자리에 형성된다.
그리고 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 각 전극들에 소정의 전압이 인가되면 유전체층(12)으로 방전가스의 이온이 집적되고, 이 이온을 경유해 상기 어드레스전극(11)과 공통전극(14) 사이에서 트리거 방전이 일어나 전면기판(16)의 유전체층(18) 하면에 하전입자가 형성된다. 이 상태에서, 화상신호에 따라서 주사전극(15)과 공통전극(14) 사이에 소정의 전압(V)이 인가되어 방전공간(S)에서 유지 방전이 일어난다. 이때, 방전 가스 내에서 플라즈마가 형성되고 그 자외선 방사에 의하여 형광체가 여기되어 빛이 발생된다.
그런데 이와 같이 작동되는 종래의 플라즈마 디스플레이 패널의 전면기판 및배면기판에 형성된 전극들의 이상 유무 예컨대 전극들의 패턴이 오픈(open), 쇼트(short) 등을 검사하는 데에 있어서, 종래에는 전극들의 패턴을 하나씩 프로브(probe)로 접촉시켜 그 저항값을 측정하여 오픈 및 쇼트 검사를 하는 방법과, 광학적으로 전극들의 패턴을 일일이 검사하는 방법이 각각 있었다. 전자의 방법은 전극들의 패턴이 변경될 때마다 프로브 카드(probe card)를 제작해야 하고, 가격 또한 고가인 문제점이 있으며, 후자의 방법은 약 10㎛ 정도의 오픈은 해상도 문제로 인하여 검출이 되지 않는 문제점이 있다.
본 발명은 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여 안출된 것으로서, 검사가 간단하고, 가격이 저렴하며, 검사가 오류 없이 확실하게 이루어질 수 있도록 한 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
도 1은 일반적인 플라즈마 디스플레이 패널의 구성을 개략적으로 나타내 보인 분리 사시도.
도 2는 도 1의 플라즈마 디스플레이 패널을 설명하기 위한 개략적인 단면도.
도 3은 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치의 구성을 나타낸 개략적인 도면.
도 4 내지 도 5는 도 3의 장치를 이용하여 전극 패턴의 검사방법을 설명하기 위해 개략적으로 도시한 도면.
<도면의 주요부분에 대한 부호의 설명>
30.기판 31, 41, 41', 51. 51'. 전극 패턴
40. 제1기판 50. 제2기판
110, 120. 롤러 프로브 111, 121. 롤러
112, 122. 브라켓 130. 저항기
140. 모니터장치
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치는, 소정의 방전공간을 두고 대향되어 접합되는 전면기판 및 배면기판에 복수개가 형성된 스트라이프 형태의 전극 패턴에 대한 오픈 및 쇼트를 검사하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치에 있어서, 소정의 도전성 소재로 이루어지고, 상기 전극 패턴과 접촉하며 상기 전극 패턴의 저항값을 측정하는 한쌍의 롤러 프로브와; 상기 한쌍의 롤러 프로브와 통전 가능하게 연결되어 상기 롤러 프로브에 의해 측정된 저항치를 검출되도록 하는 저항기;를 포함하는 것을 그 특징으로 한다. 본 발명에 있어서, 상기 전극 패턴들중 소망하는 전극 패턴이 상기 전면기판 및 상기 배면기판에서의 위치가 확인되도록 디스플레이되는 모니터장치를 더 포함하여 된다.
본 발명에 있어서, 상기 롤러 프로브는, 지지브라켓과; 상기 지지브라켓에 롤링 가능하게 지지되어 상기 전극 패턴과 직접 접촉되는 롤러;를 포함하여 된다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 3에는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치가 개략적으로 도시되어 있다.
우선, 플라즈마 디스플레이 패널은, 소정의 방전공간을 두고 대향되어 접합되는 전면기판과 배면기판을 포함하여 구성된다. 이들 전면기판 및 배면기판은 글라스 또는 세라믹 소재로 이루어지며, 상기 전면기판 및 배면기판 상에는 소정의 패턴으로 형성된, 보다 정확히 말해서 스트라이프 형태로 형성된 전극들 예컨대, 상기 배면기판에는 어드레스전극들이 형성되고, 상기 전면기판에는 배면기판의 어드레스전극과 직교하도록 공통전극들과 주사전극들이 형성된다. 상기 공통 및 주사전극은 투명한 ITO로 이루어진 투명전극과, 이 투명전극의 라인 저항을 줄이기 위한 소정 금속으로 이루어진 버스전극으로 각각 구성된다.
이와 같이 구성을 갖는 플라즈마 디스플레이 패널은, 상기 어드레스전극, 공통전극, 및 주사전극들이 코팅된 전면기판 및 배면기판 상에 방전 가스를 봉입한 후 방전 전압을 가하고, 이 방전 전압으로 인하여 발생되는 자외선에 의해 소정의 패턴으로 형성된 형광체를 여기시켜 소망하는 소정의 그래픽을 구현하는 것으로,본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치는 도 3에 도시된 바와 같이 상기 플라즈마 디스플레이 패널의 기판(30) 상에 형성된 어드레스전극, 공통전극, 및 주사전극들의 전극 패턴(31)의 오픈 및 쇼트 등을 검사하는 장치이다.
도 3을 참조하면, 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치는, 플라즈마 디스플레이 패널의 기판 상에 형성된 전극 패턴(31) 위를 지나며 상기 전극 패턴(31)과 접촉되면서 전극 패턴(31)의 저항값을 측정하고, 소정의 도전성 소재로 이루어진 한쌍의 롤러 프로브(110, 120)와, 상기 한쌍의 롤러 프로브(110, 120)와 통전 가능하게 연결되어 상기 전극 패턴(31)의 저항값을 읽는 일종의 디텍터(detector) 역할을 하는 저항기(130)를 포함하여 구성된다. 그리고 이와 같이 구성된 검사장치의 일측에 설치되어 이 검사장치로부터 검사되는 상기 전극 패턴(31)이 기판에서의 위치가 육안으로 확인될 수 있도록 디스플레이되는 모니터장치(140)가 설치된다. 그리고 상기 롤러 프로브(110, 120)는, 롤러(111, 121)와, 상기 롤러(111, 121)를 지지하는 동시에 롤러(111, 121)가 롤링될 수 있도록 롤러(111, 121)의 일측에 설치된 브라켓(112, 122)을 포함하여 이루어진다.
상술한 바와 같이 구성된 플라즈마 디스플레이 장치의 작용을 설명하면 다음과 같다.
도 4에는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치로 기판 상의 전극 패턴의 오픈 유무 상태를 검사하는 방법이 개략적으로 도시되어 있다.
도 4를 참조하면, 스트라이프 형태의 전극 패턴(41, 41')이 다수 형성된 제1기판(40)을 작업테이블(미도시) 위에 올려놓고 전극 패턴(41)의 양단에얼라인(align)된 롤러 프로브(110, 120)를 전극 패턴(41, 41')과 롤러 프로브(110, 120)의 롤러(111, 121)가 접촉되도록 위치시킨다. 이때, 상기 롤러 프로브(110, 120)는 각각 하나의 동일한 전극 패턴(41, 41') 상에 위치되도록 한다. 그리고 상기 롤러(111, 121)를 굴려가면서 롤러(111, 121)로 저항값을 측정한다. 그러면 상기 저항기(130)에 의해 저항값이 읽히게 된다. 상기 롤러(111, 121)가 이동되면서(화살표 방향) 오픈된 전극 패턴(41, 41')에는 저항값이 높아지므로 즉, 무한대 값으로 변화되므로 오픈된 전극 패턴(41, 41')을 검출한다. 오픈된 전극 패턴(41, 41')의 제1기판(40) 상에서의 위치를 정확히 알고자 할 때에는, 상기 모니터장치(140)의 스크린 상에 저항값을 측정한 순서대로 전극 패턴(41, 41')이 몇 번째 라인에 해당되는 지를 표시한다.
도 5에는 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치로 기판 상의 전극 패턴의 쇼트 유무 상태를 검사하는 방법이 개략적으로 도시되어 있다.
도 5를 참조하면, 스트라이프 형태의 전극 패턴(51, 51')이 다수 형성된 제2기판(50)을 작업테이블(미도시) 위에 올려놓고 전극 패턴(51, 51')의 양단에 얼라인(align)된 롤러 프로브(110, 120)를 전극 패턴(51, 51')과 롤러(111, 121)가 접촉되도록 위치시킨다. 이때, 상기 롤러 프로브(110, 120)의 롤러(111, 121)는 각각 다른 전극 패턴(51, 51') 상에 위치되도록 한다. 즉, 하나의 전극 패턴(51)에 일측의 롤러(111)가 접촉되도록 하고, 이 전극 패턴(51)에 이웃한 다른 전극 패턴(51')에 타측의 롤러(121)를 접촉시켜 롤러 프로브(110, 120)가 위치되도록 한다. 그러면 상기 각 롤러 프로브(110, 120)에 의해 저항값이 측정되고 저항기(130)에 의해 검출된다. 이때 쇼트된 전극 패턴(51, 51')은 저항값이 저항기에 낮게 검출된다. 그리고 쇼트된 전극 패턴(51, 51')을 정확히 나타내고자 할 때에는, 오픈된 전극 패턴(51, 51')을 나타낼 때와 마찬가지로 상기 모니터장치(140)의 스크린 상에 저항값을 측정한 순서대로 전극 패턴(51, 51')이 제2기판(50) 상에서 몇 번째 라인에 해당되는 지를 표시한다.
한편 도 4 및 도 5에 도시된 바와 같이, 상기 제1, 2기판(40, 50) 상의 전극 패턴(41, 41')(51, 51')의 오픈 및 쇼트 검사를 두 개의 롤러 프로브(110, 120)를 가진 하나의 검사장치를 일 실시예로 들었으나, 이는 하나의 예에 불과하며 다수개의 검사장치를 이용하여 다수의 전극 패턴의 오픈 및 쇼트 검사를 실시할 수도 있다. 그리고 도 4 및 도 5에 도시된 화살표는 롤러 프로브(110, 120)의 전극 패턴을 연속해서 검사하기 위해 롤링되는 이동 방향을 나타낸 것이다.
본 발명에 따르면, 상기와 같이 작용되는 검사장치는 플라즈마 디스플레이 패널에 적용하여 플라즈마 디스플레이 패널의 기판 상의 전극 패턴의 오픈 및 쇼트를 검사하였으나, 이는 하나의 실시예에 불과하며 스트라이프 형태의 전극 패턴이 형성된 어떠한 장치의 기판에도 적용 가능하다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치는 다음과 같은 효과를 갖는다.
전도성 소재로 이루어진 롤러가 전극 패턴을 직접 접촉하며 상기 전극 패턴의 오픈 및 쇼트를 검사하므로 이들 검사가 정확하게 실시할 수 있다. 따라서 전극 패턴의 오픈 및 쇼트 검사가 신뢰성이 확보될 수 있다.
그리고 검사장치가 롤러로 이루어져 있어서 모든 전극 패턴에 대하여 일일이 접촉시킬 필요 없이 상기 전극 패턴 위를 굴러가면서 선접촉만 시키면 되므로 검사가 간단할 뿐만 아니라, 검사에 따른 시간이 절약되어 경제적이다.
또한 검사장치가 롤러 프로브와 저항기로만 이루어져 있으므로 상기 검사장치의 구조가 단순하고, 검사장치의 제조비용이 저렴하다.
본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 설명되었으나 이는 예시적인 것에 불과하며, 당해 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 보호 범위는 첨부된 청구범위에 의해서만 정해져야 할 것이다.
Claims (3)
- 소정의 방전공간을 두고 대향되어 접합되는 전면기판 및 배면기판에 복수개가 형성된 스트라이프 형태의 전극 패턴에 대한 오픈 및 쇼트를 검사하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치에 있어서,소정의 도전성 소재로 이루어지고, 상기 전극 패턴과 접촉하며 상기 전극 패턴의 저항값을 측정하는 한쌍의 롤러 프로브와;상기 한쌍의 롤러 프로브와 통전 가능하게 연결되어 상기 롤러 프로브에 의해 측정된 저항치를 검출되도록 하는 저항기;를 포함하는 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 전극 패턴들중 소망하는 전극 패턴이 상기 전면기판 및 상기 배면기판에서의 위치가 확인되도록 디스플레이되는 모니터장치를 더 포함하여 된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치.
- 제1항에 있어서,상기 롤러 프로브는,지지브라켓과; 상기 지지브라켓에 롤링 가능하게 지지되어 상기 전극 패턴과 직접 접촉되는 롤러;를 포함하여 된 것을 특징으로 하는 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치.
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| KR10-1999-0030552A KR100395812B1 (ko) | 1999-07-27 | 1999-07-27 | 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치 |
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