KR100350513B1

KR100350513B1 - 피디피 전극 검사 프로브장치

Info

Publication number: KR100350513B1
Application number: KR1020000017397A
Authority: KR
Inventors: 박태욱
Original assignee: 박태욱
Priority date: 2000-04-03
Filing date: 2000-04-03
Publication date: 2002-08-28
Also published as: CN1353858A; JP2003531387A; KR20010094032A; WO2001080275A1; AU4783900A

Abstract

본 발명은 프라즈마 디스플레이 패널(PLASMA DISPLAY PANEL; 이하 "PDP"라 함)의 전극 단락과 전극 단선을 검사하는데 이용되는 프로브장치에 관한 것으로, 구동기구(1)에 의해 회동되는 프로브(3)의 접촉부(4)가 PDP 전극(2)에 구름접촉되면서 점접촉되는 구조로 되어, PDP 전극(2)과 프로브(3)의 손상이 크게 억제되고, PDP 전극(2)의 단락·단선 검사작업이 매우 단순하면서 편리하게 되도록 된 것이다.

Description

피디피 전극 검사 프로브장치{Probe apparatus testing an electrode of Plasma Display Panel}

본 발명은 프라즈마 디스플레이 패널(PLASMA DISPLAY PANEL; 이하 "PDP"라 함)의 전극 단락과 전극 단선을 검사하는데 이용되는 프로브장치에 관한 것으로, 피디피 전극과 프로브의 손상이 억제되고, 피디피 전극 검사작업을 편리하게 수행할 수 있도록 된 피디피 전극 검사 프로브장치에 관한 것이다.

주지하는 바와 같이 PDP에는 수평과 수직 주사를 위한 전극들이 구비되는데, 이들 수평과 수직 주사 전극의 단락·단선은 화소 불량의 주요 원인이 되므로, PDP를 제조함에 있어서 반드시 수평과 수직 주사 전극을 검사하여, 전극이 단락·단선되어진 PDP를 선별해 내야 한다.

피디피 전극의 단락·단선 검사가 정확하게 이루어지지 않으면, 처리비용이 상당히 비싼 후속 공정으로 불량 피디피가 공급되므로, 막대한 경제적 손실이 발생된다.

종래에는 한 쌍을 이루는 +극 프로브와 -극 프로브(probe; 探針)를 순차적으로 위치이동시키면서 전극들의 양쪽 선단부에 순차적으로 접촉시켜서, 전극들 간의 통전 유무나 전극들의 전기 저항값을 매개로 전극의 단락과 단선 여부를 검사하는 방식이 주로 이용되었다.한편, 피디피 전극의 폭이 80㎛정도이고, 전극들 간의 간격이 150㎛정도에 불과하다는 점을 고려해 볼 때, 프로브의 이동간격 오차가 약 ±10㎛이내이어야 하므로, 검사장비는 초고정밀도를 유지해야 하지만, 종래 방식에 따르면 검사장비의 구조가 복잡해질 수 밖에 없고, 이로 인해서 검사장비 비용이 크게 증가될 수 밖에 없어서, 결국 PDP의 생산 원가가 비싸게 되는 문제가 발생되었다.

또한, PDP 전극의 폭과 전극들 간의 간격을 고려해 볼 때, 프로브의 선단 폭도 이에 상응하게 매우 작을 수 밖에 없는데, 종래 방식에 따르면 프로브의 선단이 쉽게 마모되어 이를 빈번하게 교체해야 되므로, 유지 및 보수가 불리게 되고, 또한 PDP 전극도 마모되어진 프로브에 의해서 손상되는 문제가 발생된다.

이에 본 발명은 상기와 같은 문제를 해소하기 위해 발명된 것으로, 피디피 전극과 프로브의 손상이 억제되고, 피디피 전극 검사작업이 단순하면서 편리하게 되도록 하는 피디피 전극 검사 프로브장치를 제공함에 그 목적이 있다.

도 1은 본 발명에 따른 프로브장치를 도시한 사시도,

도 2는 본 발명에 따른 프로브장치의 작동상태를 설명하기 위한 부분 단면도,

도 3은 본 발명에 따른 프로브장치의 프로브 접촉부와 전극간의 접촉상태를 설명하기 위한 도면,

도 4는 본 발명에 따른 프로브장치를 이용하여 전극 저항값을 취하는 방법을 설명하기 위한 도면,

도 5는 도 3에 대한 대응도로서, 프로브 접촉부의 직경 제한조건을 설명하기 위한 도면이다.

< 첨부 도면의 주요 부분에 대한 용어 설명 >

1 : 구동기구, 2 : 전극,

3 : 프로브, 4 : 접촉부,

5 : 베어링, 6 : 본체,

7 : 커플러, 8 : 센싱휠,

8a : 통공, 9 : 회전감지기구,10 ; 단락바.

상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명은, 본체와 ; 본체에 회동가능하게 설치되어, 한쪽 선단이 PDP 전극에 접촉되는 원형 바아형태의 프로브 및; 본체에 설치되어, 프로브를 회동시키는 구동기구로 이루어지되 ; 프로브가 PDP 전극과 소정 각도를 이루면서 경사지게 배치되어, 프로브의 접촉부가 PDP 전극과 점접촉되는 것을 특징으로 하는 구조로 되어 있다.

이하 첨부도면에 의거하여 본 발명의 실시예를 상세히 설명한다.

도 1 및 도 2에 의하면, 본 발명에 따른 프로브장치는, 전체 형상이 "ㄷ"자 블록 형태를 이루는 본체(6)와 ; 본체(6)에 회동가능하게 설치되어, 한쪽 선단이 PDP 전극(2)에 접촉되는 원형 바아형태의 프로브(3) 및; 본체(6)에 설치되어, 프로브(3)를 회동시키는 구동기구(1)로 이루어지되 ; 프로브(3)가 PDP 전극(2)과 소정 각도를 이루면서 경사지게 배치되어, 프로브(3)의 접촉부(4)가 PDP 전극(2)과 점접촉되는 구조로 되어 있다.

본 발명에 따른 프로브장치를 이용한 PDP 전극 검사방법을 설명해 보면 다음과 같다.우선, +극 또는 -극을 이루는 단락바(10)를 PDP 전극(2)들의 한 쪽 선단에 얹어서 고정하여, 모든 PDP 전극(2)들의 한 쪽 선단이 단락바(10)에 접촉되도록 한 상태에서, 프로브장치의 구동기구(1)가 작동되면, 단락바(10)와 반대극을 이루는 프로브(3)가 구동기구(1)에 의해서 등속도로 회전하게 된다.

이러한 상태에서, PDP를 등속도로 전진(도 3 상에서 "b"방향)시키되, 프로브 접촉부(4)의 회전속도(a)와, PDP의 전진속도(b)가 일치되도록 하면, 프로브(3)의 접촉부(4)가 전극(2)의 다른 한 쪽 선단에 점접촉되면서 구름 접촉된다.본 발명에 따른 프로브장치는, 면접촉방식의 종래 기술에 비해서 접촉면이 크게 감소되므로, 전극(2)과 접촉부(4)의 손상이 상당히 억제되고, 전극(10)의 통전유무나 저항값을 검출하는 작업이 매우 편리하고 단순하게 된다.상기 프로브(3)의 접촉부(4)가 전극(2)에 접촉되면, 단락바(10)와 프로브(3)에 의해서 해당 전극(2)에 전류가 흐르게 되는데, 전압 값은 항상 일정하게 유지되므로, 전류의 변화값에 의하여 해당 전극(2)의 저항값의 계산이 가능하게 된다. 이러한 전류값의 변화는 A/D변환기를 거쳐서 디지털 값으로 변환되고, 마이크로프로세서(도시안됨)에서 이를 입력받아서 측정 저항값을 연산한 후에, 측정 저항값과, 미리 설정되어진 기준저항값을 비교하여, 전극(2)의 단선 및 단락을 판별한다.

상기 프로브(3)에 의하여 측정되는 저항값은, 도 4에 도시된 바와 같이, 전극(2)의 중심부분에 접촉부(4)가 위치되면 저항값이 비교적 일정하게 유지되고, 초기 접촉시나 접촉을 벗어나는 말기 접촉 순간에는 저항값이 증가되며, 전극(2)과 전극(2)에 모두 닿아 있는 순간에는 저항값이 감소된다. 상기 전극(2)의 저항값을 연속적으로 측정하면, 이러한 상태가 반복적으로 수행되므로, 전극(2)의 단선 및 단락 판별을 위해 취해지는 측정 저항값은, 접촉부(4)가 전극(2)의 중심부분에 위치되어지는 샘플링시간 동안의 저항값만을 측정 저항값으로 한다.

한편, 도 5에 도시된 바와 같이, 프로브(3)의 접촉부(4)가 3개의 전극(2)에 모두 접촉되면 전극(2)의 단락·단선 판별이 사실상 불가능하므로, 접촉부(4)의 직경은 이점을 고려해서 적절하게 취한다.

또한, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 상기 구동기구(1)의 구동축이나 프로브(3)에 센싱휠(8)을 설치하고, 본체(6)에 센싱휠(8)의 회전을 감지하는 회전감지기구(9)을 설치하면, PDP의 규격(전극의 폭과, 전극들 간의 간격)에 따라서 구동기구(1)의 작동을 제어하여, 프로브(3)의 회전속도를 적절하게 제어할 수 있는 잇점이 있다.

또한, 본 실시예의 경우, 구동기구(1)로는 구동모터를 이용하였지만, 이를 대신하여 에어의 분출압력에 의하여 회전되는 팬을 이용할수도 있는데, 이러한 경우, 팬의 회전속도를 제어하기 위해서는 에어의 분출압력을 제어하는 솔레노이드밸브가 구비되어야 한다.미 설명부호 "5"는 본체(6)와 프로브(3) 사이에 끼워지는 베어링(5)이고, 미 설명부호 "7"은 구동기구(1)의 구동축과 프로브(3)를 상호 연결하는 커플러이다.

이상 상기한 바와 같은 본 발명에 따르면, 구동기구에 의해 회동되는 프로브의 접촉부가 PDP 전극에 구름접촉되면서 점접촉되므로, PDP 전극과 프로브의 손상이 크게 억제되고, PDP 전극의 단락·단선 검사작업이 단순하면서 편리하게 되는 효과가 있다.또한, 그 구조가 단순하므로, 전체 PDP 전극의 단락·단선 검사장치의 구조가 상당히 단순화되어, 검사장치의 제품비용이 크게 절감되므로, 결국 PDP의 생산비가 대폭 감소되는 한편, 유지 및 보수도 유리하게 되는 효과가 있다.

Claims

본체(6)와 ; 본체(6)에 회동가능하게 설치되어, 한쪽 선단이 PDP 전극(2)에 접촉되는 원형 바아형태의 프로브(3) 및; 본체(6)에 설치되어 프로브(3)를 회동시키는 구동기구(1)로 이루어지되 ; 프로브(3)가 PDP 전극(2)과 소정 각도를 이루면서 경사지게 배치되어, 프로브(3)의 접촉부(4)가 PDP 전극(2)과 점접촉되는 것을 특징으로 하는 피디피 전극 검사 프로브장치.
제 1항에 있어서, 상기 구동기구(1)의 구동축이나 프로브(3)에 센싱휠(8)이 구비되고, 센싱휠(8)의 회전을 감지하는 회전감지기구(9)이 본체(6)에 설치되어진 것을 특징으로 하는 피디피 전극 검사 프로브장치.