CN1353858A - 测试等离子体显示板的短路和断路用的探头 - Google Patents

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Abstract

本发明揭示一种测试等离子体显示板的短路和断路用的探头装置。这种探头装置包括:探头(3),在因电机(1)而转动的同时,它与电极(2)接触;形成于探头(3)一端的尖端(4);支承框架(6)支承探头(3)的中心部分和电机(1),该支承框架(6)设有轴承,以使探头能够旋转。本探头装置还包括:耦接器(7),用于使电机(1)与探头(3)连接,所述耦接器(7)的一侧设有开孔(8);以及旋转检测装置,用于通过在所述开孔(8)的两侧发射及接收红外线检测转数。

Description

测试等离子体显示板的短路和断路用的探头
技术领域
一般地说，本发明涉及探头装置，用于等离子体显示板(下称“PDP”)电极短路及断路的测试，具体地说，涉及一种探头装置，用于测试多个用作PDP扫描线的微小电极的短路和断路。
背景技术
如本领域技术人员所周知者，PDP包括多个电极，用于水平扫描和垂直扫描。相应地，每个水平扫描电极或垂直扫描电极的短路或断路都是造成像点缺陷的原因，因此应该测试PDP的水平电极和垂直电极，而且只应将无瑕疵的PDP进入到随后的过程。
如果不进行各种电极的短路和断路的精确测试，要找出有瑕疵的PDP，就要执行后续的费用较高的过程，从而招致重大的经济损失。
每个电极的宽度仅为80μm，而相邻电极间的间隔是150μm，因此，普通测试各微小电极的短路和断路所用的探头装置应该具有超高的精度，其中它的探头(将会与每个电极的两侧接触)定位误差应在±10μm之内。相应地，会招致所述探头装置过高的制作成本。于是，这种探头装置的价格很高，而且这种探头装置的维修费用也高，所以，存在的问题是PDP的制造成本大大地增加了。
另外，PDP的每个电极仅为80μm，因此，应该使普通探头的尖端尖锐化。相应地，在重复测量的过程中，容易使普通探头的尖端磨损，于是就存在要不断更换新探头的麻烦，以及过高的更换费用的经济负担。此外，电极本身也会受到探头的尖锐尖端的损害，致使PDP的瑕疵率提高。
发明内容
因此，在注意到现有技术中存在的上述问题的同时作出本发明。本发明的目的在于提供一种测试等离子体显示板各电极的短路和断路所用的探头，它无需要用超高精度制作的测试设备，也无需频繁地重新更换探头，同时也没有损害电极的危险。
为实现上述目的，本发明提供一种探头装置，用于测试PDP各电极的短路和断路，它采用滚动探头代替具有尖锐尖端的普通探头。
按照本发明，用微信息处理器计算与探头滚动接触的每个电极的一侧与电极另一侧之间的电阻值，并根据计算的值确定电极是否短路或断路。于是，可以得到极为精确的测试结果，省除与探头或电极的磨损和损坏有关的问题，而且由于无需超高精度的技术，可以维持本探头装置的制作成本。
附图说明
从以下参照附图的详细描述，将更清除地理解本发明的上述目的、特点和其它优点，其中：
图1是表示本发明探头总体装置的透视图；
图2是表示本发明探头总体结构及工作情况的纵剖面图；
图3是表示本发明探头尖端的示意图；
图4是说明本发明取样过程的曲线；
图5是表示就探头尖端的技术要求方面限制的示意图。
<附图基本部件的说明>
1：电机                    2：电极
3：探头                    4：尖端
5：轴承                    6：支承框架
7：耦接器                  8：开孔
9：滚动检测装置
具体实施方式
以下将参照附图详细描述本发明的探头装置。
如图1和2所示，本发明的探头装置包括与电极2接触的探头3，并由电机1使其滚动；探头3的一端形成尖端4；支承框架6用以支承探头3的中心部分和电机1，该支承部分6设有轴承，以使探头能够滚动；耦接器7用于使电机1与探头3连接在一起，该耦接器7的一侧设有开孔8；滚动检测装置9通过在开孔8的两侧发射及接收红外线，用以检测转数。
在本发明的探头装置中，首先，将电源加给电机1，使探头3滚动。相应地，可将支承框架6本身看作一个电极。
另外，如图2所示，探头3的尖端4斜着与电极2接触。于是，通过探头3的尖端4与电极2的点接触，与上下探头都与电极2接触的普通探头装置相比，在探头3的尖端4以滚动速度“a”在电极2上滚动的条件下，同时与电极2的滚动接触与电极2的移动速度同步，明显地减少了对电极2造成的损伤程度。再如图3所示，当探头3的尖端4在多个电极2的一侧上面滚动时，电流流过探头3、每个电极2的一侧和该电极2的另一侧。在这种情况下，由于通过探头3加给电极2的电压值保持恒定，所以根据电流的变化进行所述电阻值的计算。电流的这种变化通过模/数转换器转换成数字值，再从所述电阻值的变化由微信息处理机计算并判断这种数字值。如果所述电阻值的变化偏离所能允许变化的预定范围，则确定电极2是短路或断路。也就是说，通过比较电极2的一端和另一端处电阻值与预定范围的值之间的变化，可以确定电极2是否短路或断路。
如图4所示，在尖端4处在电极2的中心并稳定地与电极2接触时，此刻，由探头3实际测得的电阻值保持中间值。在开始接触和最后接触的瞬间，电阻值是较大的。此后，尖端4与两个电极2接触，以致两个电极2像是其间被短路。这些过程被重复。结果，所述微信息处理器经历一个在开始接触的周期与最终接触周期之间的取样周期，并忽略不计开始接触周期与最终接触周期以及探头3的尖端4同时与两个电极接触的周期期间的输入值。
同时，对于本发明的探头装置而言，满足探头3的尖端4的直径大于电极2的高度的要求。另外，如图5所示，如果所述尖端4与三个电极2接触，使尖端4的直径应小于能使尖端4与三个电极2接触的最小直径，则不能测量。
按照本发明，可由旋转检测装置9检测探头3的转速。可由微信息处理器根据所测得的转速控制电机1。
此外，在本发明的探头装置中，可以采用转动空气的风扇代替电机1。在这种情况下，控制空气供给的电磁控制阀门应由旋转检测装置9控制。
产业上的利用
在本发明的探头装置中，通过探头3的尖端4的滚动测量所述电阻值，致使与普通探头装置相比，明显地使探头3的驱动机构得到简化，在所述普通探头装置中，关于各种形状的探头沿着电极2的两侧连续且垂直地滑动的同时，测试多个水平扫描线和垂直扫描线的短路和断路。相应地，可使本探头装置的制作成本大大降低。因此，可使PDP的整个制作成本明显下降。另外，按照本发明，通过探头3的尖端4在电极2上滚动测量电阻值，以致不再发生电极2和探头3的磨损，从而明显地减少破损的频率，并减少本探头装置的维修费用。

Claims (2)

1.一种探头装置，用于等离子体显示板的短路和断路测试，它包括：
探头(3)，在因电机(1)而转动的同时，它与电机(2)接触；
尖端(4)，形成于所述探头(3)的一端；
支承框架(6)，用于支承所述探头(3)的中心部分和电机(1)，该支承框架(6)设有轴承，以使所述探头能够旋转。
2.如权利要求1所述的探头装置，其特征在于，还包括：耦接器(7)，用于使电机(1)与探头(3)连接，所述耦接器(7)的一侧设有开孔(8)；旋转检测装置，用于通过在所述开孔(8)的两侧发射及接收红外线，检测转数。
CN00808390A 2000-04-03 2000-05-10 测试等离子体显示板的短路和断路用的探头 Pending CN1353858A (zh)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101266272A (zh) * 2007-03-13 2008-09-17 慧萌高新科技有限公司 旋转式电极头装置
CN101118271B (zh) * 2006-08-03 2010-09-01 微探测株式会社 使用球体的接触式探测器

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003302439A (ja) * 2002-04-09 2003-10-24 Tokyo Cathode Laboratory Co Ltd 表示パネル検査用プローブコンタクト装置
US7218127B2 (en) * 2004-02-18 2007-05-15 Formfactor, Inc. Method and apparatus for probing an electronic device in which movement of probes and/or the electronic device includes a lateral component

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2769015B2 (ja) * 1990-03-08 1998-06-25 株式会社神戸製鋼所 電子回路基板検査用プローバーピンヘッド及びその製造方法
JPH04242061A (ja) * 1991-01-11 1992-08-28 Hitachi Ltd 表面原子の加工方法及び装置及びこれを用いた原子メモリ装置
KR940005951Y1 (ko) * 1992-03-18 1994-08-31 이영서 식기세척기의 식기소독구조
KR100248571B1 (ko) * 1992-08-31 2000-03-15 히가시 데쓰로 프로우브 장치
US5773987A (en) * 1996-02-26 1998-06-30 Motorola, Inc. Method for probing a semiconductor wafer using a motor controlled scrub process
KR100395812B1 (ko) * 1999-07-27 2003-08-27 삼성에스디아이 주식회사 플라즈마 디스플레이 패널의 검사장치

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101118271B (zh) * 2006-08-03 2010-09-01 微探测株式会社 使用球体的接触式探测器
CN101266272A (zh) * 2007-03-13 2008-09-17 慧萌高新科技有限公司 旋转式电极头装置
CN101266272B (zh) * 2007-03-13 2012-11-07 慧萌高新科技有限公司 旋转式电极头装置

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