CN101266272B - 旋转式电极头装置 - Google Patents

Abstract

本发明提供一种旋转式电极头装置，其不会在芯片形电子零件的端面电极的表面上留下会造成外观不佳的痕迹。用来接触芯片形电子零件(40)的端面电极而检查电气特性的检查用电极头(4)为圆筒形，以圆筒的中心为旋转中心而旋转检查用电极头(4)，使芯片形电子零件(40)的端面电极接触旋转的检查用电极头(4)的圆筒的外周。检查用电极头(4)的旋转速度成为和通过检查装置依次送来的芯片形电子零件(40)的端面电极接触到检查用电极头(4)时的速度相同的速度。

Description

旋转式电极头装置

技术领域

本发明涉及旋转式电极头(電極子)装置，其在检查芯片形电子零件的电气特性的装置等中，对用来接触芯片形电子零件的端面电极而检查电气特性的电极头的形状等进行了改善。

背景技术

先前，在检查芯片形电子零件的电气特性的装置中，一般使用用来接触芯片形电子零件的端面电极而检查电气特性的电极头的形状为滚子(ロ—ラ)形的电极头。

专利文献1：特开2006-194831号公报

发明内容

发明所欲解决之课题

先前，在连续且大量地检查以陶瓷电容器为代表的芯片形电子零件的装置中，使用滚子形电极头。使用该种一般使用的滚子形电极头时，在由检查芯片形电子零件的电气特性的装置依次送来的芯片形电子零件的端面电极与滚子形电极头接触时或解除接触时，会在芯片形电子零件的端面电极的表面留下擦痕，造成外观不佳的问题。

参照图7、图8以及图9说明上述问题。图7是一般使用的滚子形电极头单元20的外形图，图8是从箭头方向看图7中所示的B-B剖面的装置的剖面图。通过图7和图8说明滚子形电极头单元20的构造。与芯片形电子零件的端面电极接触的检查用的电极头23的形状为圆筒形的滚子。在电极头23的中心部插入旋转用轴24，电极头23可以以旋转用轴24为旋转轴，以轻微的旋转力旋转。进而，电极头23通过旋转用轴24而安装在电极头支架25上，电极头支架25通过摇动支点26而装入绝缘材料制成的盒子21中。并且，电极头支架25成为能以摇动支点26为支点，通过弹簧27进行具有恢复力的摇动运动的构造。另外，不会影响上述摇动运动的柔软材料的连接电缆28的两端焊接于电极头支架25和连接端子22上，形成电接线。

将上述一般使用的滚子形电极头单元20设置在下述图1以及图2中所示的装置的方孔42的符号h～n的各位置。为了使电极头23确实地接触到芯片形电子零件40的电极，使收容在转子41的方孔42内的芯片形电子零件40(参照图9)从转子41的表面突出0.3mm～0.4mm。

即使为了在电极头23接触芯片形电子零件40的端面电极时减轻该接触，将滚子形电极头单元20设置在可维持上述接触的极限的位置上，仍会在电极头23接触到芯片形电子零件40的端面电极时或解除接触时，于芯片形电子零件40的端面电极的表面留下擦痕，从而产生外观不佳的问题。

通过图9说明发生该问题的情况。图9(a)表示收容在转子41的方孔42中的芯片形电子零件40通过转子41的间歇搬运而被送来，开始接触电极头23后稍微被送出的状态。电极头23在接触到芯片形电子零件40的端面电极之前是停止旋转的状态，接触后因为和端面电极产生摩擦抵抗，电极头23开始旋转。因为转子41的方孔42的尺寸加工成比芯片形电子零件40的外形尺寸大0.1mm～0.2mm的程度，所以芯片形电子零件40会因为上述摩擦，如图所示在方孔42中姿势倾斜。在此时的姿势变化过程中，会在芯片形电子零件40的端面电极的表面产生擦痕，造成外观不佳。

图9(b)是表示从同图9(a)的状态下，转子41进一步运动而停止间歇搬运动作的状态的图。如图所示，芯片形电子零件40停止在靠近方孔42的左端的位置。

图9(c)表示从同图9(b)的状态，到转子41的间歇搬运的动作开始，芯片形电子零件40解除与电极头23的接触的状态。在解除接触之前，电极头23随芯片形电子零件40的移动而使端面电极表面旋转，因此不会发生问题。但是，在即将解除接触时，因为电极头23的旋转，芯片形电子零件40成为被推开的状态，如(c)所示的姿势图所示，芯片形电子零件40在方孔42中姿势倾斜。因为这些接触或脱离的状态，所以在芯片形电子零件40的端面电极的表面会产生会导致外观不佳的擦痕。

本发明的目的在于，提供一种解决上述问题，形成更确实的接触状态，并且不会在芯片形电子零件的端面电极的表面留下会导致外观不佳的痕迹的旋转式电极头装置。

用以解决课题之方案

为解决上述问题，联系实施方式说明本发明的技术方案1至3中所记载的发明。

本发明的技术方案1中记载的旋转式电极头装置，具有在搬运体的孔中以使芯片形电子零件的端面电极突出的方式将其收容而搬运的过程中与上述端面电极接触的电极头，其特征是具有：圆筒形电极头

(4)；支持机构，它以把上述圆筒形电极头(4)的旋转中心轴置于与上述芯片形电子零件(40)的移动方向大致正交的方向，上述圆筒形电极头(4)在上述芯片形电子零件(40)的方向被赋能的方式进行支持；以及从动机构，它将上述圆筒形电极头(4)的旋转速度维持在和上述芯片形电子零件(40)的端面电极与上述滚子形电极头(4)接触时的速度相同的速度。另外，上述赋能力由弹簧(9)给予。

本发明的技术方案2中记载的旋转式电极头装置的特征是，在技术方案1中记载的旋转式电极头装置中，上述从动机构含有设在上述圆筒形电极头(4)的外周上，接触上述搬运体而从动旋转的弹性体环(6)。

本发明的技术方案3中记载的旋转式电极头装置的特征是，在技术方案1或2中记载的旋转式电极头装置中，上述搬运体是芯片形电子零件特性检查分类装置的皮带或旋转圆盘(转子41)，安装在上述圆筒形电极头(4)的外周上的弹性体的环(6)与用来收容、搬运上述芯片形电子零件(40)的皮带或旋转圆盘(转子41)接触而从动旋转。

发明效果

本发明的旋转式电极头装置，如上所述而构成，所以可以成为使电极的接触更加确实，不会在芯片形电子零件的端面电极的表面上留下会造成外观不佳的痕迹的电极头装置。

附图说明

图1是表示本发明的旋转式电极头装置的实施例中使用的检查电气特性的装置中的用来搬运作为检查对象的芯片形电子零件的圆盘状转子的图。

图2是从箭头方向看图1中的X—X剖面的装置剖面图。

图3是表示本发明的实施例1的旋转式电极头单元的整体图。

图4是图3的图中所示的A—A剖面图。

图5是表示详细扩大图3中所示的电极头4的部分的剖面图。

图6是芯片形电子零件接触本发明的旋转式电极头装置的状态的说明图。

图7是表示一般使用的滚子形电极头单元的整体图。

图8是图7的图中所示的B—B剖面图。

图9是芯片形电子零件接触一般使用的滚子形电极头的状态的说明图。

符号说明

1旋转式电极头单元(装置)

2，21盒子

3，22连接端子

4，23电极头

5，24旋转用轴

6弹性体环

7，25电极头支架

8，26摇动支点

9，27弹簧

10，28连接电缆

20滚子形电极头单元

40芯片形电子零件

41转子(搬运机构的一部分)

42方孔

50基准台

51下部电极头

52绝缘套管

53轴套

54马达

55基板

具体实施方式

以下参照图面等说明本发明的旋转式电极头装置的实施方式。

图1是表示本发明的旋转式电极头装置的实施例中使用的用来检查芯片形电子零件的电气特性的装置中的用来搬运芯片形电子零件的圆盘状转子的平面图，图2是从箭头方向看图1中所示的X—X剖面的装置剖面图。

使用转子41来搬运芯片形电子零件。在转子41上，在同一圆上将圆24等分了的位置上设有24个方孔42。图中为了说明功能而将方孔42的各个位置标记为符号a～x。在方孔42的符号a的位置上，芯片形电子零件通过提供机构(未图示)依次提供给方孔42。为了让上述提供动作顺利进行，方孔42的尺寸加工成比芯片形电子零件的外形尺寸大0.1mm～0.2mm的程度。在方孔42的符号h～n的各个位置上设置本发明的检查用电极头，检查芯片形电子零件的电气特性。再有，在方孔42的符号o～w的各位置上，设置根据上述电气特性的检查结果将芯片形电子零件分类到指定的收纳箱中的功能零件(图中省略)。转子41通过轴套固定在马达54上。马达54根据控制指令进行按一个方孔42的量送出转子41的间歇搬运。在转子41的下面上设置固定在基板55上的用来搬运零件的基准台50。装入转子41的方孔42的芯片形电子零件一边在用来搬运零件的基准台50的表面滑动，一边被转子41搬运过来。在表示用来搬运零件的基准台50的方孔42的位置的符号h～n的位置上通过绝缘套管52设置用来检查芯片形电子零件的电气特性的下部电极头51(参照图2)。

实施例1

参照图3、图4、图5以及图6说明对应本发明的技术方案1、2以及3的旋转式电极头装置的实施例。图3是旋转式电极头单元1的整体图，图4表示从箭头方向看图3中所示的A—A剖面的图。图5表示详细扩大电极头4的部分的剖面图，表示芯片形电子零件40接触电极头4的位置。通过图3、图4以及图5说明旋转式电极头单元1的机构。

如图3所示，电极头4为圆筒形，在该圆筒中心部插入了旋转用轴5，电极头4可以以旋转用轴5为旋转中心自由旋转。另外，该旋转中心轴方向是和芯片形电子零件40的移动方向正交的方向。进而，如图5所示，电极头4经过槽加工，在上述槽中安装有弹性体环6，弹性体环6的外径比电极头4的外径大1.4mm。另外，弹性体环6的材质最好是柔软的。成为对弹性体环6施加旋转力，电极头4就可以自由旋转的构造。旋转用轴5由螺丝固定在电极头支架7上。而且，图5中表示使电极头4的哪个部位与芯片形电子零件40接触。

进而，如图4所示，把电极头支架7通过摇动支点8装入绝缘材料制成的盒子2中。电极头支架7可以以摇动支点8为支点，借助于弹簧9进行具有恢复力的摇动运动。另外，不会影响上述摇动运动的柔软材料制成的连接电缆10的两端焊接于电极头支架7和连接端子3上，形成电接线。

接着，用图6说明芯片形电子零件40接触本发明的旋转式电极头单元1的电极头4的状态。旋转式电极头单元1以按压转子41的表面，使弹性体环6变形0.5mm～0.6mm的方式被设置。这样设置的话，如上所述因为弹性体环6的外径比电极头4的外径大1.4mm，所以电极头4和转子41的表面的间隙为0.1mm～0.2mm。另外，收容在转子41的方孔42内的芯片形电子零件40比转子41的表面突出0.3mm～0.4mm。因为有这样的尺寸关系，所以即使在收容在转子41的方孔42中的芯片形电子零件40通过转子41的间歇搬运而被送来，至电极头的正下方而向上推压电极头4的状态下，弹性体环6也会变形0.2mm～0.5mm而按压转子41的表面。为了实现以上状态，弹簧9必须具有比弹性体环6受到0.6mm变形时产生的回弹力大的弹簧压力。

通过以上说明可以知道，因为弹性体环6始终保持按压转子41的表面的状态，所以电极头4可以实现始终与转子41的间歇搬运的旋转同步的旋转。即，检查用电极头4的旋转速度是和通过检查装置依次送来的芯片形电子零件40的端面电极接触到检查用电极头4时的速度相同的速度。

图6(a)是表示收容在转子41的方孔42中的芯片形电子零件40通过转子41的间歇搬运而被送来，开始接触到电极头4的状态的图。图6(b)是表示转子41从图6(a)的状态进一步运动，间歇搬运的动作停止了的状态的图。图6(C)是处于从图6(b)的状态到转子41的间歇搬运的动作开始，芯片形电子零件40从与电极头4的接触松开为止的状态的图。在从(a)的状态到(b)的状态以及从(b)的状态到(c)的状态中，电极头4以和芯片形电子零件40通过转子41的间歇搬运而移动的速度相同的速度进行旋转，所以芯片形电子零件40的姿势是在转子41的方孔42中以稳定的状态与电极头4接触。所以，可以获得不会在芯片形电子零件40的端面电极的表面留下会导致外观不佳的擦痕的效果。

实施例2

在上述实施例1中，作为间歇搬运芯片形电子零件40的方法，使用了圆盘状的转子41，而在本实施例中使用皮带替代转子。与实施例1相同，将本发明的旋转式电极头单元1的弹性体环6按压在皮带的表面上，因为与实施例1中的说明相同的原因，就能获得不会在芯片形电子零件40的端面电极的表面上留下会导致外观不佳的擦痕的效果。

工业实用性

本发明的旋转式电极头装置可以广泛应用在芯片形电子零件的制造以及检查的领域。

Claims (2)

1.一种旋转式电极头装置，具有在搬运体的孔中以使芯片形电子零件的端面电极突出的方式将其收容而搬运的过程中与上述端面电极接触的电极头，其特征是具有：

圆筒形电极头；

支持机构，它以把上述圆筒形电极头的旋转中心轴置于与上述芯片形电子零件的移动方向大致正交的方向，上述圆筒形电极头在上述芯片形电子零件的方向被赋能的方式进行支持；以及

从动机构，它将上述圆筒形电极头的旋转速度维持在和上述芯片形电子零件的端面电极与上述圆筒形电极头接触时的速度相同的速度，

上述从动机构含有设在上述圆筒形电极头的外周上，接触上述搬运体而从动旋转的弹性体环。

2.权利要求1中记载的旋转式电极头装置，其特征是：

上述搬运体是芯片形电子零件特性检查分类装置的皮带或旋转圆盘，

安装在上述圆筒形电极头的外周上的弹性体的环与用来收容、搬运上述芯片形电子零件的皮带或旋转圆盘接触而从动旋转。

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