JP2008224418A - 回転式電極子装置 - Google Patents

Abstract

【課題】チップ形電子部品の端面電極の表面に外観不良となるような跡を残さない回転式電極子装置を提供する。
【解決手段】チップ形電子部品４０の端面電極に接触させて電気特性を検査するための検査用電極子４の形状を円筒形にし、円筒の中心を回転中心として検査用電極子４を回転させ、回転する検査用電極子４の円筒の外周にチップ形電子部品４０の端面電極を接触させる。検査用電極子４の回転速度は、検査装置によって次々に送られてくるチップ形電子部品４０の端面電極が検査用電極子４に接触する時の速度と同じ速度となる。
【選択図】図６

Description

本発明は、チップ形電子部品の電気特性を検査する装置等において、チップ形電子部品の端面電極に接触させて電気特性を検査するための電極子の形状等に改良を施した回転式電極子装置に関する。

従来、チップ形電子部品の電気特性を検査する装置において、チップ形電子部品の端面電極に接触させて電気特性を検査するための電極子の形状は、ローラ形の電極子が一般的に使用されている。
特開２００６−１９４８３１号公報

従来、セラミックコンデンサに代表されるチップ形電子部品を連続して大量に検査する装置ではローラ形電極子が用いられている。この一般的に使用されているローラ形電極子の使用にあたり、チップ形電子部品の電気特性を検査する装置によって次々に送られてくるチップ形電子部品の端面電極にローラ形の電極子が接触する時あるいは接触が解除される時に、チップ形電子部品の端面電極の表面に擦った跡が付いて外観不良となってしまうという問題があった。

前記の問題点を図７，８および９を参照して説明をする。
図７は、一般的に使用されているローラ形電極子ユニット２０の外形図であり、図８は、図７中に示すＢ−Ｂ断面を矢印方向に見た装置の断面図である。
図７および８により、ローラ形電極子ユニット２０の機構を説明する。
チップ形電子部品の端面電極と接触する検査用の電極子２３の形状は円筒形のローラとなっている。電極子２３の中心部には回転用軸２４が挿入されていて、電極子２３は回転用軸２４を回転軸として軽い回転力で回転できるようになっている。さらに、電極子２３は回転用軸２４を介して電極子ホルダ２５に取り付けられていて、電極子ホルダ２５は揺動支点２６を介して絶縁材製のケース２１に組み込まれている。そして、電極子ホルダ２５は揺動支点２６を支点としてばね２７によって復帰力を持った揺動運動ができる構造となっている。また、前記揺動運動を阻害しない柔らかな素材の接続ケーブル２８の両端は電極子ホルダ２５と接続端子２２に、半田付けされて電気的に結線されている。

前述の一般的に使用されているローラ形電極子ユニット２０を、後述の図１および２に示す装置の角穴４２の符号ｈ〜ｎの各位置に設置する。
ロータ４１の角穴４２内に収容されているチップ形電子部品４０（図９参照）は、電極子２３を確実にチップ形電子部品４０の電極に接触させるためにロータ４１の表面から０．３ｍｍ〜０．４ｍｍ突出するようにしてある。
ローラ形電極子ユニット２０を電極子２３がチップ形電子部品４０の端面電極に接触する時にその当たりを軽減させるために前記接触を維持できる限界の位置に設置したとしても、チップ形電子部品４０の端面電極に電極子２３が接触する時あるいは接触が解除される時に、チップ形電子部品４０の端面電極の表面に擦った跡が付いて外観不良となってしまうという問題がある。

この問題点発生の状況を図９により説明する。図９の（ａ）は、ロータ４１の角穴４２に収容されたチップ形電子部品４０がロータ４１の間欠搬送によって送られてきて、電極子２３に接触し始めから少し送られた状態を示している。電極子２３はチップ形電子部品４０の端面電極に接触する前では回転が止まっている状態であり、接触すると端面電極との摩擦抵抗により電極子２３は回転を始める。ロータ４１の角穴４２の寸法はチップ形電子部品４０の外形寸法よりも０．１ｍｍ〜０．２ｍｍ程度大きく加工されているので、前記の摩擦によりチップ形電子部品４０は図に示すように角穴４２の中で姿勢が傾いてしまう。この時の姿勢変化の過程でチップ形電子部品４０の端面電極の表面には外観不良となる擦り跡が発生する。

図９の（ｂ）は、同図（ａ）の状態からロータ４１がさらに動いて間欠搬送の動作が停止した状態を示す図である。図に示すようにチップ形電子部品４０は角穴４２の左端に寄った位置で停止している。
図９の（ｃ）は、同図（ｂ）の状態からロータ４１の間欠搬送の動作が開始してチップ形電子部品４０が電極子２３との接触から解放されるまでの状態を示している。接触が解放される直前までは、電極子２３はチップ形電子部品４０の移動に伴って端面電極表面を回転していくので問題は発生しない。しかし、接触が解放される直前には、電極子２３の回転によりチップ形電子部品４０は蹴られる形になるために（ｃ）に示されている姿勢図に示すようにチップ形電子部品４０は角穴４２の中で姿勢が傾いてしまう。
これらの接触または離脱の態様が原因でチップ形電子部品４０の端面電極の表面には外観不良となる擦り跡が発生してしまう。
本発明の目的は、前記の問題点を解決し、より確実な接触状態を形成するとともに、チップ形電子部品の端面電極の表面に外観不良となるような跡を残さない回転式電極子装置を提供することにある。

前記問題を解決するために、本発明による請求項１〜３記載の発明を実施の形態と関連して説明する。
本発明による請求項１記載の回転式電極子装置は、
搬送体の穴にチップ形電子部品の端面電極を突出するように収容して搬送中に、前記端面電極に接触させられる電極子をもつ回転式電極子装置であって、
円筒形電極子（４）と、
前記円筒形電極子（４）の回転中心軸を前記チップ形電子部品（４０）の移動方向に略直交する方向とし、前記円筒形電極子（４）が前記チップ形電子部品（４０）方向に付勢されるように支持する支持手段と、
前記円筒形電極子（４）の回転速度が前記チップ形電子部品（４０）の端面電極が前記円筒形電極子（４）に接触する時の速度と同じ速度に維持する従動手段と、
を具備することを特徴とする。なお前記付勢力は、ばね（９）で付与される。

本発明による請求項２記載の発明による回転電極子装置は、請求項１記載の回転式電極子装置において、
前記従動手段は、前記円筒形電極子（４）の外周に設けられ、前記搬送体に接触従動回転する弾性体のリング（６）を含むことを特徴とする。

本発明による請求項３記載の発明は回転電極子装置は、請求項１または２記載の回転式電極子装置において、
前記搬送体は、チップ形電子部品特性検査分類装置のベルトあるいは回転円盤（ロータ４１）であり、
前記円筒形電極子（４）の外周に装着された弾性体のリング（６）は、前記チップ形電子部品（４０）を収容して搬送するためのベルトあるいは回転円盤（ロータ４１）に接触従動回転することを特徴とする。

本発明による回転式電極子装置は、前述のように構成されているから、電極の接触をより確実にし、チップ形電子部品の端面電極の表面に外観不良となるような跡を残さない電極子装置とすることができる。

以下図面等を参照して本発明による回転式電極子装置の実施の形態を説明する。
図１は、本発明による回転式電極子装置の実施例で使用するチップ形電子部品の電気特性を検査する装置におけるチップ形電子部品搬送用の円盤状のロータを示す平面図、図２は図１中に示すＸ−Ｘ断面を矢印方向に見た装置の断面図である。

チップ形電子部品の搬送用として円盤状のロータ４１を用いている。ロータ４１には、同一円上に円を２４等分した位置に２４個の角穴４２を設けている。図中には、機能説明用として角穴４２の各位置に符号ａ〜ｘを付記してある。
角穴４２の符号ａの位置で、チップ形電子部品が一個づつ角穴４２に、供給手段（図示せず）によって供給される。この供給がスムーズに行われるように、角穴４２の寸法はチップ形電子部品の外形寸法よりも０．１ｍｍ〜０．２ｍｍ程度大きく加工されている。
角穴４２の符号ｈ〜ｎの各位置には、本発明の検査用電極子が設置されていて、チップ形電子部品の電気特性を検査する。さらに、角穴４２の符号ｏ〜ｗの各位置には、前記電気特性の検査結果に基づきチップ形電子部品を指定の収納箱に分類するための機能部品（図中では省略）が設置されている。ロータ４１は、ボス５３を介してモータ５４に固定されている。モータ５４は、制御指令によりロータ４１を角穴４２の一個分だけ送る間欠搬送を行う。ロータ４１の下面には、ベース板５５に固定された部品搬送用の基準台５０が設置されている。ロータ４１の角穴４２に入ったチップ形電子部品は、部品搬送用の基準台５０の表面を滑りながらロータ４１によって搬送されていく。部品搬送用の基準台５０の角穴４２の位置を示す符号ｈ〜ｎの位置には、チップ形電子部品の電気特性を検査するための下部電極子５１（図２参照）が絶縁ブッシュ５２を介して設置されている。

本発明の請求項１、２および３に対応した回転式電極子装置の実施例を図３，４，５および６を参照して説明する。
図３は、回転式電極子ユニット１の全体図であり、図中に示すＡ−Ａ断面を矢印方向に見た図を図４に示す。図５は、電極子４の部分を詳細に拡大した断面図を示し、電極子４にチップ形電子部品４０を接触させる位置を示している。図３，４および５により回転式電極子ユニット１の機構を説明する。

図３に示すように、電極子４は円筒形状となっており、該円筒中心部には回転用軸５が挿入されていて、電極子４は回転用軸５を回転中心として自由に回転できるようになっている。なおこの回転中心軸方向は、チップ形電子部品４０の移動方向に直交する方向である。さらに図５に示すように電極子４には溝加工がなされていて、前記溝には弾性体リング６が装着されていて、弾性体リング６の外径は電極子４の外径よりも１．４ｍｍ大きい。また、弾性体リング６の材質は柔らかいものが好ましい。弾性体リング６に回転力を加えることにより、電極子４は自由に回転することができる構造になっている。回転用軸５は電極子ホルダ７にねじ止め固定されている。また、図５では電極子４のどの箇所にチップ形電子部品４０を接触させるかを示している。

さらに、図４に示すように、電極子ホルダ７は揺動支点８を介して絶縁材製のケース２に組み込まれている。電極子ホルダ７は揺動支点８を支点としてばね９によって復元力を持った揺動運動ができる構造となっている。また、前記揺動運動を阻害しない柔らかな素材の接続ケーブル１０の両端は電極子ホルダ７と接続端子３に半田付けされていて電気的に結線された構造となっている。

次に、本発明の回転式電極子ユニット１の電極子４にチップ形電子部品４０が接触していく状態を図６で説明する。
回転式電極子ユニット１は弾性体リング６が０．５ｍｍ〜０．６ｍｍ変形するようにロータ４１の表面に押し当てられて設置されている。このように設置すると、前述のように弾性体リング６の外径は電極子４の外径よりも１．４ｍｍ大きいので、電極子４とロータ４１の表面との間隙は０．１ｍｍ〜０．２ｍｍである。また、ロータ４１の角穴４２に収容されているチップ形電子部品４０はロータ４１の表面より０．３ｍｍ〜０．４ｍｍ突出している。このような関係寸法にあるので、ロータ４１の角穴４２に収容されているチップ形電子部品４０がロータ４１の間欠搬送によって送られてきて電極子４の直下に来て電極子４を押し上げた状態であっても、弾性体リング６は０．２ｍｍ〜０．５ｍｍ変形してロータ４１の表面に押し当てられている。以上の状態を実現させるためには、ばね９は弾性体リング６が０．６ｍｍの変形を受けた時に発生する反発力よりも大きいばね圧を持ったものであることが必要である。
以上の説明で明らかなように、弾性体リング６はロータ４１の表面に押し当てられた状態を常に維持しているので、電極子４はロータ４１の間欠搬送の回転と常に同期した回転が実現される。すなわち、検査用の電極子４の回転速度は、検査装置によって次々に送られてくるチップ形電子部品４０の端面電極が検査用の電極子４に接触する時の速度と同じ速度である。

図６の（ａ）は、ロータ４１の角穴４２に収容されたチップ形電子部品４０がロータ４１の間欠搬送によって送られてきて、電極子４に接触し始めた状態を示す図である。
図６（ｂ）は、同図（ａ）の状態からロータ４１がさらに動いて間欠搬送の動作が停止した状態を示す図である。
図６（ｃ）は、同図（ｂ）の状態からロータ４１の間欠搬送の動作が開始してチップ形電子部品４０が電極子４との接触から解放されるまでの状態にある図である。
（ａ）の状態から（ｂ）の状態におよび（ｂ）の状態から（ｃ）の状態にチップ形電子部品４０がロータ４１の間欠搬送によって移動していく速度と同じ速度で電極子４は回転しているので、チップ形電子部品４０の姿勢はロータ４１の角穴４２内で安定した状態で電極子４に接触していく。従って、チップ形電子部品４０の端面電極の表面には外観不良となる擦り跡が残らない効果を発揮することができる。

前述の実施例１では、チップ形電子部品４０を間欠搬送する方法として円盤状のロータ４１を使用したが、本実施例ではロータに替えてベルトを使用する。
実施例１と同様に、本発明の回転式電極子ユニット１の弾性体リング６をベルトの表面に押し当てることにより、実施例１での説明と同じ理由によってチップ形電子部品４０の端面電極の表面には外観不良となる擦り跡が残らない効果を発揮することができる。

本発明による回転式電極子装置は、チップ形電子部品の製造および検査の分野で広く利用できる。

本発明による回転式電極子装置の実施例で使用する電気特性を検査する装置における検査の対象とするチップ形電子部品搬送用の円盤状のロータを示す図である。 図１の図中に示すＸ−Ｘ断面を矢印方向に見た装置の断面図である。 本発明の実施例１の回転式電極子ユニットを示す全体図である。 図３の図中に示すＡ−Ａ断面図である。 図３に示す電極子４の部分を詳細に拡大した断面図である。 本発明の回転式電極子装置にチップ形電子部品が接触していく状態の説明図である。 一般的に使用されているローラ形電極子ユニットを示す全体図である。 図７の図中に示すＢ−Ｂ断面図である。 一般的に使用されているローラ形電極子にチップ形電子部品が接触していく状態の説明図である。

符号の説明

１ 回転式電極子ユニット（装置）
２，２１ ケース
３，２２ 接続端子
４，２３ 電極子
５，２４ 回転用軸
６ 弾性体リング
７，２５ 電極子ホルダ
８，２６ 揺動支点
９，２７ ばね
１０，２８ 接続ケーブル
２０ ローラ形電極子ユニット
４０ チップ形電子部品
４１ ロータ（搬送手段の一部）
４２ 角穴
５０ 基準台
５１ 下部電極子
５２ 絶縁ブッシュ
５３ ボス
５４ モータ
５５ ベース板

Claims (3)

1. 搬送体の穴にチップ形電子部品の端面電極を突出するように収容して搬送中に、前記端面電極に接触させられる電極子をもつ回転式電極子装置であって、
   円筒形電極子と、
   前記円筒形電極子の回転中心軸を前記チップ形電子部品の移動方向に略直交する方向とし、前記円筒形電極子が前記チップ形電子部品方向に付勢されるように支持する支持手段と、
   前記円筒形電極子の回転速度が前記チップ形電子部品の端面電極が前記円筒形電極子に接触する時の速度と同じ速度に維持する従動手段と、
   を具備することを特徴とする回転式電極子装置。
2. 請求項１記載の回転式電極子装置において、
   前記従動手段は、前記円筒形電極子の外周に設けられ、前記搬送体に接触従動回転する弾性体のリングを含むことを特徴とする回転式電極子装置。
3. 請求項１または２記載の回転式電極子装置において、
   前記搬送体は、チップ形電子部品特性検査分類装置のベルトあるいは回転円盤であり、 前記円筒形電極子の外周に装着された弾性体のリングは、前記チップ形電子部品を収容して搬送するためのベルトあるいは回転円盤に接触従動回転することを特徴とする回転式電極子装置。

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