JP2013167601A - コンタクトプローブを用いた検査装置 - Google Patents
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Abstract
【解決手段】筒状体からなるバレル4、 バレル4内に摺動自在に嵌合するプランジャー1、及びバレル4内に配置されプランジャー1を軸方向に付勢するバネ8を有し、プランジャー1がバレル4内部を回転しながら摺動する構造を有するコンタクトプローブ10と、コンタクトプローブ10を収納する収納孔12を有するソケット11とを備えたコンタクトプローブを用いた検査装置20において、コンタクトプローブ10が回転することを防止する回転防止手段を有し、回転防止手段がバレル4の端部に設ける切り欠き6と、ソケット11の収納孔12に設ける切り欠き6と係止する係止凸部13aとを有する。
【選択図】図1
Description
ソケット106には、通常、複数のコンタクトプローブ110が配置されており、この複数のコンタクトプローブ110のプランジャー101が、それぞれ回転を伴って摺動して検査対象物としての半田端子108に接触する。この際プランジャー101の回転により半田端子108の酸化膜が破壊され導通を確保するようになっている。
本発明は上記問題を解決して、プランジャーの回転量を規定通り確実に回転させることができ、安定した導通が得られるコンタクトプローブを用いた検査装置を提供することを目的とする。
なお、配線基板15には基板側プランジャー9の突出部9aが当接されコンタクトプローブ10がソケット11に保持されている。
また、このマーク7は、印として機能するためペイント、刻印、切り欠きによって形成されていても良い。
これにより、プランジャー1が指定された回転量通り回転して、検査対象物としての半田端子14の酸化膜を破壊し導通を確保することができる。さらに、ソケット11に収納された複数のコンタクトプローブの回転量にバラつきが無くなり、回転動作が一定となる。これにより指定の回転動作を保証でき、安定した導通が得られるコンタクトプローブを用いた検査装置を実現することができる。
なお、コンタクトプローブ26のその他の基本的な構成は実施例1と同様であるため詳細な説明は省略する。
また、コンタクトプローブ50は、螺旋状の案内面2を設けたプランジャー41と、基板側プランジャー9と、プランジャー41及び基板側プランジャー9を摺動可能に保持し、内部に螺旋状の案内面2と接触する摺動凸部5が形成され、半田端子14側の端部の一部に切り欠き47を設けたバレル45と、プランジャー41、基板側プランジャー9を互いに逆の方向(バレル45の中心から離反する方向)へ付勢するバネ8とを備えている。なお、コンタクトプローブ50、51は、互いに同じ構成であるが、説明の都合で一部の構成要素に異なる番号を付与してある。コンタクトプローブ51においては、プランジャー42、切り欠き48を設けたバレル46である。
また、ソケット52の材料としては絶縁性材質のプラスチックを用い、コマ56の材料としてはシリコンを用いた。
また、コンタクトプローブ50、51とコマ56との導通を防ぐことができるため、コマ56の材料としては炭化シリコン、酸化シリコン、セラミック、ガラス、ゴム、樹脂を用いても良い。
また、コンタクトプローブ50、51のその他の基本的な構成は実施例2と同様であるため詳細な説明は省略する。
また、上ソケットと37と、下ソケット38とには、それぞれ貫通孔34a、34bが設けられている。この貫通孔34a、34bに固定用ピン35が圧入され、上ソケットと37下ソケット38とが位置決めされ、固定されている。
また、コマの形状を略円形や略俵型とし、嵌合部の形状を略円弧状、平面状の形としても良い。また、上記コマに対応するバレルに設けられた切り欠きの形は略円弧状の凹部や平面状とする。
また、上ソケット37、下ソケット38、インナーソケット39の材料としては絶縁性材質のプラスチックを用い、コマ88の材料としては炭化シリコンを用いた。
また、マーク77は印として機能するため印刷、ペイント、刻印によって形成されていても良い。なお、バレル70、71、72については、バレル69と同様であるため説明を省略する。
また、上ソケットと57と、下ソケット58とには、それぞれ貫通孔34a、34bが設けられている。この貫通孔34a、34bに固定用ピン35が圧入され、上ソケットと57下ソケット58とが位置決めされ、固定されている。
また、コマ95の材料としてはシリコン、炭化シリコン、セラミック、ガラス、ゴム、樹脂を用いても良い。
2 螺旋状の案内面
3、22、43、44、65、66、67、68 プランジャー先端部
4、23、45、46、69、70、71、72、89a、89b バレル
4a、4b、4c、69a、69b、69c カシメ突部
5 摺動凸部
6、24、47、48、73、74、75、76、98a、98b 切り欠き
7、25、49、77 マーク
8 バネ
9 基板側プランジャー
9a 突出部
10、26、50、51、78、79、80、81、96a、96b コンタクトプローブ
11、27、52、82、93 ソケット
11a 段部
11b 貫通孔
12、28a、28b、53、54、83a、83b、84b、85b、86a、86b、97a、97b、97c、97d 収納孔
13a、13b、13c 係止凸部
14 半田端子
15 配線基板
16 ストッパープレート
16a ストッパープレートの貫通孔
17、37、57 上ソケット
17a、37a、57a 上ソケットの段部
17b、37b、57b 上ソケットの貫通孔
18、38、58 下ソケット
18a、38a、58a 下ソケットの凹部
18b、38b、58b 下ソケットの底部
18c、38c、58c 底部の貫通孔
19、39、59 インナーソケット
20、40、60、90、100 コンタクトプローブを用いた測定装置
23a、45a 搾りカシメ縁部
29、55、87、94 嵌合凹部
30a、30b、30c、56、88、95 コマ
31a、31b、31c、56a、56b 嵌合部
34a、34b 固定用穴
35 固定用ピン
57c 上ソケットの凹部
59a インナーソケットの凹部
91、92 コンタクトプローブ群
A、B、C、D プランジャー
a、b、c、d プランジャーの先端部
Claims (6)
- 筒状体からなるバレル、 該バレル内に摺動自在に嵌合するプランジャー、及び前記バレル内に配置され前記プランジャーを軸方向に付勢するバネを有し、前記プランジャーが前記バレル内部を回転しながら摺動する構造を有するコンタクトプローブと、前記コンタクトプローブを収納する収納孔を有するソケットとを備えたコンタクトプローブを用いた検査装置において、前記コンタクトプローブが回転することを防止する回転防止手段を有することを特徴とするコンタクトプローブを用いた検査装置。
- 前記回転防止手段は、前記バレルの端部に設ける切り欠きと、前記ソケットの収納孔に設ける前記切り欠きと係合する係止凸部とを有することを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブを用いた検査装置。
- 前記回転防止手段は、前記バレルの端部に設ける切り欠きと、前記ソケットにおける前記バレルの切り欠けに対応する位置に設ける嵌合凹部と、前記切り欠き及び嵌合凹部に嵌合するコマとを有することを特徴とする請求項1に記載のコンタクトプローブを用いた検査装置。
- 前記ソケットには複数のコンタクトプローブが収納されており、一つのコマが前記複数のコンタクトプローブのそれぞれのバレルの切り欠きと嵌合することを特徴とする請求項3に記載のコンタクトプローブを用いた検査装置。
- 前記コマはシリコン、炭化シリコン、酸化シリコン、セラミック、ガラス、樹脂、ゴムのいずれかの絶縁体からなることを特徴とする請求項3または請求項4に記載のコンタクトプローブを用いた検査装置。
- 前記プランジャーの先端部は略平面状、略円筒状、略円錐形状、略半球状のいずれかの形状からなることを特徴とする請求項1から5のいずれか一項に記載のコンタクトプローブを用いた検査装置。
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