JP2018056483A - チップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法 - Google Patents

Abstract

【課題】搬送プレートの透孔に、チップ電子部品を、末端電極の一方が頂部に、他方が底部に位置するように仮収容し、搬送プレートをそのプレート平面に沿って電気特性測定位置に移動させ、チップ電子部品の両電極に、ローラ電極端子を含む電気特性測定用端子を接触させて電圧を印加して、チップ電子部品の電気特性を測定し、そして搬送プレートを更に移動させることにより、チップ電子部品を電気特性測定位置から離すこと含む複数の工程によりチップ電子部品の電気特性を測定する際に発生する電極表面の擦り傷を低減させ、同時に電気特性測定の信頼性を向上させる。【解決手段】チップ電子部品が移動してローラ電極端子と接触する際には、ローラ電極端子を、チップ電子部品の頂部電極の一方の隅部と接触するように位置させ、電気特性の測定後には、チップ電子部品の頂部電極の他方の隅部と接触しないように、ローラ電極端子を搬送プレートの表面から離れる方向に移動させる。【選択図】図５

Description

本発明は、自動化されたチップ電子部品検査選別装置を用いて大量のチップ電子部品の電気特性を高速で連続的に検査する方法に関する。

携帯電話、スマートフォン、液晶テレビジョン、電子ゲーム機などの小型電子機器の生産量の増加に伴い、このような電子機器に組み込まれる微小なチップ電子部品の生産量が著しく増加している。チップ電子部品の大部分は、本体部と、本体部の対向する両端面のそれぞれに備えられている電極から形成されている。このような構成のチップ電子部品の例としては、チップキャパシタ（チップコンデンサとも呼ばれる）、チップ抵抗器（チップバリスタを含む）、およびチップインダクタを挙げることができる。

近年、チップ電子部品が組み込まれる電子機器のさらなる小型化そして電子機器に組み込まれるチップ電子部品の数の増加に応じて、チップ電子部品は極度に小さくなってきている。例えば、チップキャパシタについては近年、極めて小さなサイズ（例、０４０２チップと呼ばれる、０．２ｍｍ×０．２ｍｍ×０．４ｍｍのサイズ）のチップキャパシタが用いられるようになっており、このような微小のチップ電子部品は、大量生産により、一ロットが数万〜数十万個という単位で生産されている。

チップ電子部品が組み込まれる電子機器では、組み込むチップ電子部品の欠陥に起因する電子機器の不良品率を下げるため、大量生産されるチップ電子部品について全数検査が行なわれるのが一般的である。例えば、製品として使用されるチップキャパシタについては、その全数について、静電容量や漏れ電流等の電気特性の検査が行われる。

大量のチップ電子部品の電気特性の検査は高速に行なう必要があり、その高速の検査を自動的に行なうための装置として、近年では、多数の透孔が形成されたチップ電子部品搬送円盤（円盤状チップ電子部品搬送プレート）を備えたチップ電子部品の電気特性の検査のための自動化装置（すなわち、チップ電子部品検査装置）が一般的に用いられている。チップ電子部品搬送円盤（以後、単に搬送円盤ということがある）には通常、検査対象のチップ電子部品を一時的に収容保持する多数の透孔が円周に沿って三列以上の複数列にて並べられた状態で形成されている。そして、このチップ電子部品検査選別装置の使用に際しては、間欠的な回転下にある搬送円盤の透孔にチップ電子部品を一時的に収容保持させた後、その搬送円盤に保持されているチップ電子部品に、搬送円盤の回転経路に沿って付設されている一対の電極端子（検査用接触子）をチップ電子部品の各電極に接触させて所定の電圧を印加し、そのチップ電子部品の電気特性を測定する作業が行われる。

例えば、チップキャパシタの静電容量の検査を行う場合には、電気特性検査部にて、チップ電子部品検査選別装置に備えられた検査器（電気特性測定装置）から検査用電極端子を介して、チップキャパシタに所定の周波数を持つ検査用電圧を印加する。そして、この検査用電圧の印加によりチップキャパシタにて発生する電流の電流値を検査器で検出し、この検出電流値と検査用電圧の電圧値とに基づき、検査対象のチップキャパシタの静電容量の測定が行なわれる。

すなわち、上記のチップ電子部品の電気特性の検査装置は、少なくとも三列の透孔の列が同心円状に表面に形成されたチップ電子部品搬送円盤、該搬送円盤をその間欠的な回転が可能なように同心円状の透孔の列の中心にて軸支する基台、そして該搬送円盤の表面に沿う位置にそれぞれ配置されたチップ電子部品供給収容部及びローラ電極端子と固定電極端子とを含む電極端子セットを備えた電気特性検査部を含むチップ電子部品電気特性検査装置と云うことができる。

搬送円盤に保持されているチップ電子部品の検査が終わると、その検査結果に基づき、チップ電子部品を搬送円盤の透孔から排出させて所定の容器に収容されるように選別（あるいは分類）する作業が実施される。このため、通常のチップ電子部品検査装置には、さらに検査後のチップ電子部品の選別（あるいは分類）を行うためのチップ電子部品分類部（分類域）が付設されていて、チップ電子部品電気特性検査選別装置として製品化されていることが多い。

上記のチップ電子部品検査選別装置の例としては、特許文献１に記載されている装置を挙げることができる。すなわち、特許文献１には、上述の構成のチップ電子部品検査選別装置を用いて、それぞれ所定の同一の電気特性を示すように同一の規格に基づいて製造された検査対象のチップ電子部品を互いに近接配置した状態で搬送円盤の透孔に収容保持（仮収容）させ、次いでチップ電子部品の電極に検査器を電気的に接続し、そして検査器からそれぞれのチップ電子部品に検査用電圧を印加して、各チップ電子部品にて発生する電流値を検査器により検出する工程を含むチップ電子部品の電気特性を連続的に検査する方法の改良方法が記載されている。

上記のチップ電子部品検査選別装置のチップ電子部品電気特性検査部には通常、搬送円盤の裏側（或いは下側）に配置されている固定プローブ電極（通常、単に固定電極と呼ばれる）と搬送円盤の表側（或いは上側）に配置されている可動プローブ電極（通常、単に可動電極と呼ばれる）とを組み合わせて構成した電気特性検査具が搬送円盤の半径方向に沿って複数組備えられている。

上記のチップ電子部品検査選別装置のチップ電子部品電気特性検査部に備えられる可動プローブとしては従来よりそのプローブ先端部（チップ電子部品の電極面に接触する部分）を棒状に加工したり、ブラシ状に加工したり、あるいはプローブ先端部に回転可能なローラを付設したりして、プローブ先端部とチップ電子部品の電極との確実な接触を実現するための工夫がなされてきたが、近年では、プローブ先端部の摩耗や欠損が少なく、また接触するチップ電子部品の電極の損傷が少ないローラ電極端子（即ち先端部にローラを付設した電極端子）の使用が一般的となっている。

チップ電子部品検査選別装置の電子部品電気特性検査部に備えられるローラ電極端子の例については、特許文献２〜６に構成図の例示と共に詳しい説明が記載されている。

上記の特許文献２〜６の内、特許文献２には、チップ電子部品検査選別装置に備えられている公知のローラ電極端子の構成例が開示されており、さらに両端部に電極を備えたチップ電子部品の電気特性の検査を、ローラ電極端子を利用して行う際に、チップ電子部品の電極の部分的な損傷（接触傷）が発生するとの問題点が記載されている。そして、特許文献２には、このチップ電子部品の電極の接触傷は、チップ電子部品の電極とのローラ電極端子との接触時および接触解除時に発生するとの説明がある。また、特許文献２には、このローラ電極端子との接触によりチップ電子部品の電極に発生する接触傷を抑制するための手段として、ローラ電極の先端ローラ部へのリング状の弾性体の付設が提案されている。

特許文献３および特許文献３の対応国際公開公報である特許文献４、また特許文献５および特許文献５の対応国際公開公報である特許文献６にも、チップ電子部品検査選別装置に備えられるローラ電極端子の別の構成例が開示されている。そして、前述したチップ電子部品の電気特性の検査時に発生する電極の損傷を防ぐための従来法が記載されている。この従来法では、搬送円盤の回転時には、ローラ電極端子を搬送円盤の表面から離れた位置に配置して、ローラ電極端子が搬送円盤の透孔に収容されて搬送されてくるチップ電子部品の電極と接触しないようにしておき、次いで搬送円盤の回転により透孔内のチップ電子部品が電気特性検査部に搬送されて回転が停止した際に、ローラ電極端子を移動（下降）させることによりチップ電子部品の電極に接触させて電気特性を検査し、その後の検査の終了後に、今度は、ローラ電極端子をチップ電子部品の電極から離れるように移動（上昇）させ、次いで、搬送円盤の回転を行う方法が説明されている。ただし、これらの特許文献には、この方法では、ローラ電極端子の昇降操作が加わることにより検査作業の生産性が低下する（検査作業に必要な時間が長くなる）という問題の発生が指摘されている。

特開２０１５−２１３１２１号公報 特開２００８−２２４４１８号公報 特表２０１０−５１１８６５号公報 ＷＯ２００８／０６７１２９ Ａ２ 特表２０１０−５１７０５８号公報 ＷＯ２００８／０９４８３１ Ａ１

本発明の発明者は、検査用接触子の可動プローブ電極として特許文献２に従来技術として例示されているローラ電極端子を備えたチップ電子部品検査選別装置を用いてチップ電子部品の連続的な電気特性の検査試験を行った。その結果、特許文献２にて従来技術として記載されている両端部に電極を備えたチップ電子部品の電気特性の検査を、ローラ電極端子を利用して行った場合に、引用文献２の記載通り、チップ電子部品の電極に接触傷が発生することが確認された。なお、このような電気特性の検査後に観察されるチップ電子部品の電極における接触傷の存在は、検査済みのチップ電子部品をはんだを用いてプリント配線板に組み込む（実装する）際に必要なチップ電子部品の電極へのはんだの濡れが不均一になりやすく、チップ電子部品の実装時のトラブルの原因となる。従って、電気特性の検査を経たチップ電子部品の電極面の接触傷は可能な限り小さくするが望ましい。

本発明の発明者は、さらに特許文献３〜６に記載の公知方法、すなわち、透孔にチップ電子部品が収容された搬送円盤の間欠的な回転に同期させてローラ電極端子の後退（搬送円盤表面から離れる移動）と前進（搬送円盤の透孔に収容されたチップ電子部品の電極面への接触のための移動）を繰り返す方法により、検査済みのチップ電子部品の電極への接触傷の発生が抑制できることも確認した。ただし、本発明の発明者の検討によると、上記方法によるチップ電子部品の電気特性の検査作業を実施した場合、チップ電子部品の電気特性の検査結果に再現性が欠ける傾向（即ち、全て良品（合格品）であるはずのチップ電子部品の電気特性を測定した場合には、本来は僅かな誤差範囲内で測定値が揃うはずであるにも拘わらず、その測定値に少なからずの誤差が発生する傾向）があることが判明した。本来一定の誤差範囲内で測定値が揃うはずである合格品のチップ電子部品の電気特性の測定結果にこのような誤差が発生すると、測定値の信頼性が保証されない結果となり、その誤差のレベルによっては、チップ電子部品の電気特性の測定方法としての適格性が問題となる。

すなわち、本発明の発明者のこれまでの検討により、搬送円盤を用いる公知のチップ電子部品検査装置では、検査済みのチップ電子部品の電極の接触傷の発生の抑制そして検査結果の判定に必要な電気特性の測定値の信頼性の維持という共に重要な要求の両立を満足できるレベルで実現することは困難であることが判明した。

なお、本明細書のこれまでの説明では、搬送円盤を用いるチップ電子部品検査装置を利用してのチップ電子部品の連続的な検査方法を説明してきたが、チップ電子部品の連続的な検査方法は、円盤形状ではない他の形状のチップ電子部品搬送プレート（以後、単に搬送プレートと云うことがある）を用いる様々な方法が知られている。

すなわち、一般的なチップ電子部品の連続的な検査方法は、それらの公知の検査方法を含む下記のチップ電子部品の電気特性の測定方法ということができる。

複数のチップ電子部品仮収容孔を備えた搬送プレートのチップ電子部品仮収容孔に、互いに対向する両末端のそれぞれに電極を備えたチップ電子部品を、一方の末端の電極が頂部に、そして他方の末端の電極が底部に位置するように仮収容する工程；搬送プレートをその表面の平面に沿って電気特性測定位置に移動させる工程；チップ電子部品の頂部の電極と底部の電極のそれぞれに電気特性測定用端子を接触させて電圧を印加することにより、チップ電子部品の電気特性を測定する工程；そしてチップ電子部品搬送プレートをその表面の平面に沿ってさらに移動させることにより、電気特性測定が終了したチップ電子部品を電気特性測定位置から離脱させる工程を含むチップ電子部品の電気特性の測定方法。

従って、本発明の課題は、複数のチップ電子部品仮収容孔を備えた搬送プレートを用い、かつ一方の電気特性測定用端子としてローラ電極端子を用いるチップ電子部品検査装置の使用に際して発生しやすい、検査済みのチップ電子部品の電極の接触傷の発生を抑制し、そして検査結果の判定に必要な電気特性の測定値の信頼性を維持するという重要な要求を共に実現することのできるチップ電子部品の検査方法を提供することにある。

本発明の発明者は、上記の課題を解決すべく検討を重ねた結果、搬送円盤を用い、チップ電子部品電気特性検査部に備えられる可動プローブとしてローラ電極端子を用いるチップ電子部品検査装置による検査方法において、搬送円盤の間欠的な回転に同期させて、該ローラ電極端子を、搬送円盤の回転時には、搬送円盤の表面に接触する位置もしくは搬送円盤の表面の近傍にある位置であって、搬送円盤の透孔に収容されたチップ電子部品が搬送円盤の回転により電気特性検査部に移動した際にチップ電子部品の電極とローラ電極端子とが接触する位置に配置し、搬送円盤に収容されたチップ電子部品が電気特性検査部に移動したのち搬送円盤の回転が停止し、チップ電子部品の電極にローラ電極端子が接触した状態にて電気特性の測定が行われた後であって、搬送円盤が停止状態にある間にローラ電極端子をチップ電子部品の電極から引き離し、次いで、搬送円盤の回転によりチップ電子部品が電気特性検査部の外に移動した後に、ローラ電極端子を再び搬送円盤との接触位置もしくは搬送円盤の表面の近傍位置に戻すように移動させることによって、上記の課題が実用レベルにおいて満足できる程度に解決できることを見出した。

従って、本発明は、下記のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法にある。

複数のチップ電子部品仮収容孔を備えた搬送プレートのチップ電子部品仮収容孔に、互いに対向する両末端のそれぞれに電極を備えたチップ電子部品を、一方の末端の電極が頂部に、そして他方の末端の電極が底部に位置するように仮収容する工程；
搬送プレートをその表面の平面に沿って電気特性測定位置に移動させる工程；
チップ電子部品の頂部電極と底部電極のそれぞれに、電気特性測定用端子を接触させて電圧を印加する（ただし頂部電極に接触させる電気特性測定用端子はローラ電極端子である）ことによりチップ電子部品の電気特性を測定する工程；
そして
搬送プレートをそのプレート平面に沿ってさらに移動させることにより、電気特性測定が終了したチップ電子部品を電気特性測定位置から離脱させる工程；
を含むチップ電子部品の電気特性の測定方法であって、
チップ電子部品が移動し、その頂部電極がローラ電極端子との接触を開始する迄は、ローラ電極端子を、頂部電極の一方の隅部と接触する位置に配置しておき、次いで電気特性測定後には、頂部電極の他方の隅部とは接触しないように、ローラ電極端子をチップ搬送プレートの表面から離れる方向に移動させることを特徴とするチップ電子部品の電気特性測定方法。

なお、本発明は、搬送プレートが中心を軸として間欠的な回転を行うチップ電子部品搬送円盤であるチップ電子部品の電気特性の測定に際して特に有利に利用することができる。

本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法を用いることにより、搬送円盤とローラ電極端子とを用いるチップ電子部品検査装置を用いて、検査済みのチップ電子部品の電極の接触傷の発生の抑制そして検査結果の判定に必要な電気特性の測定値の高い信頼性の維持という共に重要な要求の両立を実現することができる。

チップ電子部品検査選別装置の全体構成の例を示す正面図である。 搬送円盤の透孔に収容されたチップ電子部品の電気特性を検査部にて検査する状態を示す断面図である。 特許文献２に記載のローラ電極端子の構造を示す図である。 特許文献２に示されている搬送円盤に収容されたチップ電子部品とローラ電極端子のローラ部分との電気特性検査の前後における接触状態を示す図である。 本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法における搬送円盤に収容されたチップ電子部品とローラ電極端子のローラ部分との電気特性検査の前後における接触状態を示す図である。 本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法で使用するローラ電極端子の昇降機構（ローラが搬送円盤の表面に接触している状態から電気特性検査後にローラがチップ電子部品の電極面から離れるために移動する機構）の例を説明する図である。

最初に、本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法の実施に有利に用いられる搬送プレートとして搬送円盤を用いるチップ電子部品検査選別装置（すなわち、チップ電子部品選別手段が具えられたチップ電子部品検査装置）の構成例について、添付図面の図１と図２を参照しながら説明する。

検査対象のチップ電子部品の代表例のチップキャパシタは、誘電体からなるキャパシタ本体とその両端に対向して設けられた一対の電極（あるいは電極面）から構成されている。通常のチップキャパシタは、誘電体としてセラミックを用いたチップセラミックキャパシタである。なお、現在一般的に使用されているチップ電子部品の電極はスズから形成されており、その表面には、チップ電子部品の各種基板への実装のためのはんだ層が形成されている。

検査対象のチップ電子部品は、同一の製造ロットのものであることが多いが、このような同一の製造ロットのチップ電子部品に、別のロットのチップ電子部品が混合されたものであってもよい。但し、両者の製造ロットのチップ電子部品は、互いに同一の電気特性を示すように同一の規格に従って製造されたもの（通常は、互いに同一の製品として販売することを目的として製造されたもの）であることが一般的である。

図１は、搬送円盤を用いるチップ電子部品検査選別装置の構成例を示す正面図である。図１に示すチップ電子部品検査選別装置１０では、搬送円盤（円盤状搬送プレート）の表面上にチップ電子部品を一時的に収容することができる複数の透孔１１ａが円周に沿って並んだ配置にて形成されたチップ電子部品搬送円盤（以下、単に搬送円盤と云うことがある）１１が円盤の平面に沿った回転が可能なように、基台４１に軸支されている。搬送円盤１１の回転経路には、チップ電子部品の供給収容部（供給収容域）１０１、チップ電子部品電気特性の検査部（検査域）１０２、そしてチップ電子部品の分類部（分類域）１０３が設定されている。検査部１０２では、搬送円盤１１の各列の各透孔１１ａの両開口部に近接した位置に電気特性測定用の電極端子（電気特性測定用端子）が備えられている。電極端子には、検査器１４ａ、１４ｂが電気的に接続され、そして検査器に検査処理に関する信号を供給するように検査器に電気的に接続されている制御器１５が備えられている。なお、検査対象のチップ電子部品はホッパ４７に入れられ、チップ電子部品供給口３１からバケットを介して、搬送円盤１１の透孔に供給される。

搬送円盤１１の透孔１１ａは通常、搬送円盤の表面に、複数の同心円上で、この同心円を等分割した位置に配置される。

添付図面に示されているチップ電子部品検査選別装置１０では、搬送円盤１１の中心と周縁との間にて直径方向に並ぶ合計で６個の透孔が設けられていて、それぞれの透孔に収容された合計６個のチップ電子部品毎に、チップ電子部品の電気特性の検査が行なわれる。搬送円盤１１の中心と周縁との間にて直径方向に並ぶ透孔の数は、３〜２０個の範囲内にあることが好ましく、３〜１２個の範囲内にあることが更に好ましい。

搬送円盤１１は、基台４１に、例えばベース板（基準台）、そして中心軸４２を介して回転可能に設置（固定）されていて、その背面側に配設された回転駆動装置４３を作動させることにより、中心軸４２の周囲を間欠的に回転する。

搬送円盤１１の透孔１１ａには、チップ電子部品供給収容部１０１にて、検査対象のチップ電子部品が、その電気特性を検査するため、一時的に収容される。

図２に示すように、検査部（電気特性測定位置）１０２には、チップ電子部品１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄ、１９ｅ、１９ｆのそれぞれの両端の電極（２２ａ、２２ｂ）を、検査器に電気的に接続するため、搬送円盤１１の透孔１１ａの両開口部に近接した位置に、それぞれ対として構成された電極端子１２ａ、１３ａ、１２ｂ、１３ｂ、１２ｃ、１３ｃ、１２ｄ、１３ｄ、１２ｅ、１３ｅ、１２ｆ、１３ｆが配置されている。本発明で用いるローラ電極端子は、１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄ、１３ｅ、１３ｆで示された電極端子に相当する。

ローラ電極端子ではない方の電極端子（１２ａ、他）は、その周囲に配設された電気的に絶縁性の筒体を介して、ベース板４５に固定されている。

ローラ電極端子を支持する電極端子支持板を搬送円盤１１の側に移動させることにより、該電極端子支持板に支持されたローラ電極端子（１３ａ、他）もまた、搬送円盤１１の側に移動する。このローラ電極端子（１３ａ、他）の移動により、チップ電子部品は、対とされている電極端子（１２ａ、１３ａ、他）の間に挟まれて接触状態となる。このため、チップ電子部品の電極は固定電極端子（１２ａ、他）とローラ電極端子（１３ａ、他）とに電気的に接続される。

そして、検査部（電気特性測定位置）１０２では、搬送円盤１１の直径方向に一列に並ぶように収容配置された６個のチップ電子部品１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄ、１９ｅ、１９ｆのそれぞれについて、所定の電気特性が検査される。

電気特性が検査されたチップ電子部品は引き続き、搬送円盤１１の間欠的な回転移動により、図１に示すチップ電子部品の分類部１０３に送られ、検査結果に基づくチップ電子部品の分類（選別）が行われる。

次に、本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法における特徴的な操作であるローラ電極端子の移動について詳しく説明する。

まず、図３に示したローラ電極端子の構造を示す図を参照して公知のローラ電極端子の一例を説明する。なお、図３の（ａ）は、ローラ電極端子の正面図であり、（ｂ）はそのローラ電極端子の内部構造を示す側面図である。

図３の（ａ）と（ｂ）に図示されたローラ電極端子の例では、ローラ電極端子１３は、ケース１３１、検査器への接続端子１３２、ローラ電極１３３、ローラ電極回転軸１３４、ローラ電極ホルダ１３５、揺動支点１３６、コイルスプリング１３７、接続ケーブル１３８を含む。

図４の（ａ）、（ｂ）、（ｃ）は、従来技術を示す文献である特許文献２に図示された検査部（電気特性測定位置）におけるチップ電子部品１９とローラ電極１３３との接触状態の変化を示す図である。すなわち、ローラ電極１３３は、搬送円盤１１は（ａ）に示した矢印の方向への移動により、搬送円盤１１の透孔に収容（仮収容）されたチップ電子部品１９と、その頂部の電極の一方の隅部にて先ず接触し、次いで、頂部電極の表面に乗り上げた状態となる。この時点で搬送円盤１１は一時停止し、その停止の間に上側のローラ電極１３３と下側の固定電極端子との間に電圧が印加され、チップ電子部品１９の電気特性が測定される。そして、電気測定が終了した後、搬送円盤１１は、再び矢印の方向に移動し、その結果、ローラ電極１３３は、チップ電子部品の頂部の電極の他方の隅部にて接触しながら、頂部から降りていく。先に説明した、電気特性測定位置におけるチップ電子部品の頂部電極の損傷（接触傷）は主として、図４の（ａ）と（ｂ）に示した、ローラ電極との接触開始（頂部電極へのローラ電極の乗り上げ）と接触離脱の際に発生する。

図５は、本発明のチップ電子部品の電気特性測定方法における電気特性測定位置でのチップ電子部品１９とローラ電極１３３との接触状態の変化を示す図である。

図５の（１）は、搬送円盤１１に収容され、矢印方向に回転移動するチップ電子部品１９に固定電極端子１２とローラ電極端子のローラ電極１３３のいずれもが接触していない状態を示す。この状態では、ローラ電極１３３は、搬送円盤１１の表面に接触しているか、あるいは搬送円盤１１の表面に近接した位置にある。

図５の（２）は、チップ電子部品の頂部電極の一方の隅部にローラ電極が接触し、当該電極の表面に乗り上げようとしている状態を示す図である。

図５の（３）では、チップ電子部品の頂部電極の表面にローラ電極が乗り上げられており、この状態でチップ電子部品の電気特性の測定が行われる。なお、ローラ電極が図５の（２）の状態から（３）の状態に移動する過程で、チップ電子部品の頂部電極の表面の隅部（図の右側隅部）及びその周辺において損傷（摩擦傷）が発生する。同時に、チップ電子部品の頂部電極の表面に生成していた金属酸化膜（例、電極材料であるスズの酸化物である酸化錫膜）が部分的に剥離し、電極材料（通常は、スズ）が露出する。また、ローラ電極のチップ電子部品の頂部電極との繰り返しの接触によりローラ電極の表面に堆積したスズ酸化物などの金属酸化物などの非導電性汚染物も部分的に剥離する。このため、チップ電子部品の頂部電極とローラ電極との電気的接触がより円滑に行われる。

すなわち、図５の（２）の状態から（３）の状態となる過程において、チップ電子部品の頂部電極の一方の隅部とその周辺の領域で損傷（摩擦傷）が発生するが、同時にチップ電子部品の頂部電極に生成している非導電性汚染物及びローラ電極の表面に堆積していた非導電性汚染物が剥離除去されるため、チップ電子部品の頂部電極とローラ電極との円滑な電気的接触が高い信頼性で実現する。なお、この図５の（２）の状態から（３）の状態となる過程は、図４の（ａ）から（ｂ）への過程と実質的に同一である。

図５の（３）の状態でチップ電子部品の電気特性の測定が終わった後、ローラ電極は、図５の（４）に示されている様に、チップ電子部品の頂部電極及び搬送円盤から離れる方向（図では上方）に移動する。

ローラ電極がチップ電子部品の頂部電極から離れて、図５の（４）の状態となった後、図５の（５）に示されている様に、搬送円盤が再び回転移動し、チップ電子部品は電気特性測定位置から離れる。従って、本発明のチップ電子部品の電気特性測定方法を利用した場合には、図４の（ｂ）から（ｃ）の状態では観察されるチップ電子部品の電極表面の他方の側の隅部の損傷は発生しない。

チップ電子部品が電気特性測定位置から離れると、ローラ電極は下降し、図５の（６）に見られるように、再び搬送プレートに接触あるいは近接する位置に戻り、その後は、図５の（１）から（６）への行程が繰り返されることになる。

以上において記載したように、本発明の方法に従ってチップ電子部品の電気特性の測定を実施することにより、電気特性の測定操作の前後において発生するチップ電子部品の電極の損傷（接触傷）を低減することが可能となり、またチップ電子部品の電極の表面に生成していた金属酸化物などの非導電性汚染物やローラ電極端子のローラ電極に堆積していた非導電性汚染物の除去が可能となる。そして、電気特性の測定に要する時間についても実質的な延長はない。

図６は、本発明のチップ電子部品の電気特性の連続的な検査方法で使用するローラ電極端子の昇降機構（ローラが搬送円盤の表面に接触している状態から電気特性検査後にローラがチップ電子部品の電極面から離れるために移動する機構）の例を説明する図である。（ａ）は、ローラ電極が下降位置（搬送円盤１１に接触あるいは近接する位置）にある状態を示しており、（ｂ）はローラ電極が上昇位置（チップ電子部品の頂部電極から離れた位置）にある状態を示す。

図６に示したローラ電極端子の昇降機構は、ケース１３１、ローラ電極１３３、ローラ電極ホルダ１３５、コイルスプリング１３７、カム１３９を含む。なお、接続ケーブルや検査器への接続端子の図示は省略してある。図６のローラ電極端子の昇降機構を利用すれば、カム１３９を上下に揺動させることにより、ローラ電極１３３の上昇と下降とを制御することができる。

なお、本明細書では、チップ電子部品検査選別装置の構成の説明、そして本発明の作用効果をチップ電子部品搬送円盤が垂直方向に配置されて作動するチップ電子部品検査選別装置を例にして説明したが、本発明のチップ電子部品の電気特性測定方法で用いられるチップ電子部品検査選別装置は、チップ電子部品搬送円盤が基台に傾斜した状態で軸支されている装置であってもよい。また前述のように、回転移動する搬送円盤の代わりに、直進により移動する搬送プレートを用いたチップ電子部品検査選別装置であっても差し支えない。

１０ チップ電子部品検査選別装置
１１ チップ電子部品搬送円盤（搬送円盤）
１１ａ 透孔
１２、１２ａ、１２ｂ、１２ｃ、１２ｄ、１２ｅ、１２ｆ 固定電極端子
１３ ローラ電極端子
１３ａ、１３ｂ、１３ｃ、１３ｄ、１３ｅ、１３ｆ 可動電極端子
１４ａ、１４ｂ 検査器（容量計）
１５ 制御器
１９ チップ電子部品
１９ａ、１９ｂ、１９ｃ、１９ｄ、１９ｅ、１９ｆ チップ電子部品
２２ａ、２２ｂ 電極
３１ チップ電子部品供給口
４１ 基台
４２ 中心軸
４３ 回転駆動装置
４５ ベース板（基準台）
１３３ ローラ電極

Claims (2)

1. 複数のチップ電子部品仮収容孔を備えた搬送プレートのチップ電子部品仮収容孔に、互いに対向する両末端のそれぞれに電極を備えたチップ電子部品を、一方の末端の電極が頂部に、そして他方の末端の電極が底部に位置するように仮収容する工程；
   搬送プレートをその表面の平面に沿って電気特性測定位置に移動させる工程；
   チップ電子部品の頂部電極と底部電極のそれぞれに、電気特性測定用端子を接触させて電圧を印加する、ただし頂部電極に接触させる電気特性測定用端子はローラ電極端子である、ことによりチップ電子部品の電気特性を測定する工程；
   そして
   搬送プレートをそのプレート平面に沿ってさらに移動させることにより、電気特性測定が終了したチップ電子部品を電気特性測定位置から離脱させる工程；
   を含むチップ電子部品の電気特性の測定方法であって、
   チップ電子部品が移動し、その頂部電極がローラ電極端子との接触を開始する迄は、ローラ電極端子を、頂部電極の一方の隅部と接触する位置に配置しておき、次いで電気特性測定後には、頂部電極の他方の隅部とは接触しないように、ローラ電極端子をチップ搬送プレートの表面から離れる方向に移動させることを特徴とするチップ電子部品の電気特性測定方法。
2. 搬送プレートが中心を軸として間欠的な回転を行うチップ電子部品搬送円盤である請求項１に記載のチップ電子部品の電気特性測定方法。

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