JP2014153364A - 電子部品検査装置 - Google Patents

Abstract

【課題】検査工程を停止することなく測定端子の洗浄が実施でき、測定端子を常に清浄な状態で維持することができる電子部品検査装置を提供する。
【解決手段】この電子部品検査装置は、電子部品１６０が個別に挿入される複数のポケット１１１が設けられ、そのポケット間に複数の電極パターン１１２が設けられたプレート１１０と、プレート１１０の上部に設けられ、電子部品１６０と電極パターン１１２とに順次に接触される一対の測定端子１２０と、測定端子１２０に選択的に電気的に接続される測定器１３０と、測定端子１２０との電気的接続が選択的に行われる電圧印加手段１４０と、測定端子１２０と、測定器１３０または電圧印加手段１４０との回路接続が選択的に行われるように駆動されるスイッチ１５０とを含む。
【選択図】図１

Description

本発明は、電子部品検査装置に関し、特に、電子部品の電気的特性を検査するための電子部品検査装置に関する。

コンピュュータ、スマトホンを含めた多様な電子機器には、受動素子や能動素子を含めた多様な形態の複数の電子部品が実装されている。また、これらの電子部品は、電子機器実装前、不良品の選別のために全数検査が実施されており、電子部品別で電気的特性を測定して良品のみを選別し、出荷と共に電子機器実装が行われている。

このように、電子部品の電気的特性を測定、検査するためには、主に電子部品の外部電極に検査装備の測定端子を接触させ、該各電子部品の電気的特性を測定している。同じ測定端子を用いて繰返し測定が行われると、該測定端子に徐徐に異物が蓄積されることがある。

特開２００７−２１３６２６号公報

この異物は、電子部品の外部電極を構成しているスズ（Ｓｎ）などの残査が該測定端子に付着した後、酸化され、酸化スズ（ＳｎＯ_２）のような絶縁物として生成されるため、その蓄積量が増大するほど測定端子と電子部品の外部電極との間の接触抵抗が増加するようになる。これによって、最終的に、電子部品との接触不良が発生することによって、検査装備の測定値に誤差をもたらすという不都合がある。

そのため、汚染が進行した測定端子を掃除する作業が必要になり、定期的に検査装置を停止させ、作業者が該測定端子上の異物を研摩や洗浄液で除去しなければならない。また、そのような異物の掃除作業は、検査装置の電子部品の選別速度が早くなるほど異物の蓄積量が増えるようになり、掃除のための検査装置の停止も頻繁に発生する。また、検査装置のＭＴＴＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ ｔｏ Ｆａｉｌｕｒｅ）などの指標が悪くなり、生産性が低下するような要因になっている。

本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、電子部品の電気的特性を検査し、該電子部品の搬送中に測定端子上の異物を除去する電子部品検査装置を提供することに、その目的がある。

上記目的を解決するために、本発明の一実施形態によれば、電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、前記ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品及び前記電極パターンに順次に接触される一対の測定端子と、前記測定端子に電気的に接続される測定器とを含む電子部品検査装置が提供される。

一実施形態によれば、前記電子部品検査装置は、前記測定端子に電気的に接続され、前記測定器との電気的接続が選択的に行われる電圧印加手段と、前記測定端子に接続され、前記測定器と前記電圧印加手段との回路接続が選択的に可変されるように駆動されるスイッチとをさらに含む。

一実施形態によれば、前記プレートは、一方向に回転する円板状の回転体で構成され、縁部に前記電子部品が個別に挿入される前記ポケットが等間隔に形成され、前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、前記フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が水平方向に収納される。

一実施形態によれば、前記電子部品は、両側部に外部電極が形成されたＭＬＣＣ、キャパシター、インダクターを含む受動素子で構成される。

一実施形態によれば、前記測定端子は、前記プレートの回転によって前記電子部品の外部電極と前記電極パターンとに交互に接触され、前記電子部品の良否判定と前記測定端子の洗浄とが順次に行われる。前記スイッチは、前記測定端子の前記電子部品の外部電極への接触時、前記測定端子と前記測定器とが電気的に接続されるように可変駆動され、前記測定端子の前記電極パターンへの接触時、前記測定端子と電圧印加手段とが電気的に接続されるように可変駆動される。

また、上記の目的を解決するために、本発明の他の実施形態によれば、電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、前記ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される測定端子と、前記プレートの下部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される単一電極を有する固定体と、前記測定端子及び前記単一電極に電気的に接続される測定器とを含む電子部品検査装置が提供される。

一実施形態によれば、前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、前記フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が垂直方向に収納される。前記電極パターンは、前記プレートの上下面に対称を成してパターン連結具によって一体で連結される。

一実施形態によれば、前記固定体は、中央部に単一電極が設けられ、前記単一電極の両側で絶縁体が延設される。

一実施形態によれば、前記測定端子は、前記電子部品または前記電極パターンに電気的に接触される前方端部にローラーが結合される。

前述のように、本発明によれば、電子部品を検査する度に測定端子の洗浄が繰返して行われることによって該測定端子を常に清浄な状態で維持することができる。また、測定端子の洗浄がプレート上で電子部品の搬送時に行われるため、検査工程を停止することなく、洗浄が持続して行われ、検査工程の生産性が向上するという効果を奏する。

本発明による電子部品検査装置の構成図であって、電子部品の良否判定時の構成図である。 図１のＩ−Ｉ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の構成図であって、測定端子の洗浄時の構成図である。 図３のII−II'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、電子部品の良否判定時の構成図である。 図５のＩＩＩ−ＩＩＩ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、測定端子の洗浄時の構成図である。 図７のＩＶ−ＩＶ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置のさらに他の実施形態の構成図であがる。 図９のＶ−Ｖ'に沿う端面図である。

以下、本発明の好適な実施の形態は図面を参考にして詳細に説明する。次に示される各実施の形態は当業者にとって本発明の思想が十分に伝達されることができるようにするために例として挙げられるものである。従って、本発明は以下示している各実施の形態に限定されることなく他の形態で具体化されることができる。そして、図面において、装置の大きさ及び厚さなどは便宜上誇張して表現されることができる。明細書全体に渡って同一の参照符号は同一の構成要素を示している。

本明細書で使われた用語は、実施形態を説明するためのものであって、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数形は文句で特別に言及しない限り複数形も含む。明細書で使われる「含む」とは、言及された構成要素、ステップ、動作及び／又は素子は、一つ以上の他の構成要素、ステップ、動作及び／又は素子の存在または追加を排除しないことに理解されたい。

まず、図１は本発明による電子部品検査装置の構成図であって、電子部品の良否判定時の構成図であり、図２は図１のI−I'に沿う端面図である。

図３は本発明による電子部品検査装置の構成図であって、測定端子の洗浄時の構成図であり、図４は図３のII−II'に沿う端面図である。

同図のように、本発明による電子部品検査装置１００は、電子部品１６０の挿入されるポケット１１１が設けられた円板状プレート１１０と、この円板状プレート１１０の上部に設けられる測定端子１２０と、この測定端子１２０に電気的に接続される測定器１３０とを含んで構成される。また、前記電子部品検査装置は、測定端子１２０との選択的な電気的接続によって電圧を印加する電圧印加手段１４０と、測定端子１２０に印加される電圧が選択的に印加されるようなスイッチ１５０とをさらに含む。

前記プレート１１０は、一方へ回転する円板状の回転体で構成され、各電子部品１６０が個別に挿入される空間にポケット１１１が縁部に沿って形成される。前記ポケット１１１は、円板状プレートを貫いて形成されるか縁に一定な深みで形成されてもよい。前記ポケット１１１の内部に１個ずつの電子部品１６０が水平または垂直方向に挿入されてもよい。

また、プレート１１０の上面には、電極パターン１１２が一定な大きさに形成される。電極パターン１１２は、ポケット１１１と交互に形成され、ポケット１１１間に配置され、ポケット１１１と同じ大きさに形成されることが望ましい。この場合、電極パターン１１２の大きさは、測定端子１２０の配置によってポケット１１１の大きさより大きいか小さく形成されてもよいが、一対の測定端子１２０が同時に接触されることができる幅及び長さに形成されることが望ましい。この時、プレート１１０上でポケット１１１と電極パターン１１２とは交互に配置され、プレート１１０の中心から放射状に配置される。ポケット１１１内に装着された電子部品１６０の電極がプレート１１０の上面に露出して設けられる。そして、電極パターン１１２は、銅（Ｃｕ）などの導電性の良好な金属で形成され、必要によって、表面にニッケル（Ｎｉ）メッキ層や金（Ａｕ）メッキ層がさらに形成されてもよい。

一実施形態によれば、プレート１１０に挿入される電子部品１６０は、両側部に外部電極１６１が形成されたＭＬＣＣ（積層セラミックコンデンサ）、キャパシター、インダクターなどで構成される。

プレート１１０の一方にはフィーダー１７０が設けられ、このフィーダー１７０を通じてプレート１１０のポケット１１１内部への電子部品１６０の収納が行われる。すなわち、フィーダー１７０を通じて水平移送される電子部品１６０は、一方向に回転されるプレート１１０のフィーダー１７０と水平方向に整列して位置するポケット１１１内部に移送されて収納が行われるようにして、プレート１１０が回転されながら測定端子１２０によって電気的特性検査が完了した電子部品１６０は、フィーダー１７０とポケット１１１とが水平方向に整列して位置する前にポケット１１１内部で分離されて排出される。

プレート１１０は、時計方向に一ステップずつ回転して移動するが、図１及び図３に示すように、一ステップずつプレートが移動しながらフィーダー１７０と水平方向に整列する９時方向にて電子部品１６０が個別に収納され、該収納された電子部品１６０がプレート１１０の移動方向に沿って移動しながら１２時方向にて電気的特性の良否判定が行われた後、プレート１１０の５時〜１１時方向間で電子部品１６０の排出が行われる。

前記プレート１１０の上部には測定端子１２０が設けられる。測定端子１２０は、＋極及び−極を有する一対で構成され、一方が測定器１３０に電気的に接続され、測定端子１２０から測定された結果が電気的信号に変換されて転送されることによって電子部品１６０の良否判定が行われることになる。測定端子１２０は、プレート１１０のポケット１１１に内蔵された電子部品１６０の外部電極１６１にそれぞれ接触され、電気的特性、すなわちインピーダンスまたは絶縁抵抗などを測定して一定数値以上または以下の良品条件を満足する電子部品１６０を選別する役割をする。

このように、測定端子１２０を利用した電子部品１６０の良品及び不良品の選別作業が繰り返されるにつれて、電子部品１６０の外部電極１６１を形成する錫スズ（Ｓｎ）成分が測定端子１２０の接触箇所に蓄積されて酸化され、該蓄積された酸化スズ（ＳｎＯ_２）によって電子部品１６０の測定誤差が生じ、測定端子１２０の酸化物をクリーニングする過程が必要になる。この測定端子１２０の洗浄は、プレート１１０の上面に形成された電極パターン１１２との接触によって行われる。

すなわち、プレート１１０上に設けられた測定端子１２０がプレート１１０の回転によって電子部品１６０と電極パターン１１２とに交互に接触されながら、電子部品１６０の良否判定と電極パターン１１２を通じる測定端子１２０の洗浄とが順次に行われる。

一方、測定端子１２０を利用した電子部品１６０の良否判定と、測定端子１２０と電極パターン１１２との接触による洗浄とは、測定端子１２０の電気的接続が、測定器１３０または電圧印加手段１４０にスイッチ１５０によって選択的に行われてもよい。詳しくは、プレート１１０の回転時、測定端子１２０が電子部品１６０と電極パターン１１２とに順次に接触される時、スイッチ１５０の駆動によって測定端子１２０が測定器１３０と電圧印加手段１４０とにそれぞれ選択的に電気的接続が行われる。すなわち、電子部品１６０の外部電極１６１に測定端子１２０が接触する瞬間には、スイッチ１５０が可変駆動され、測定端子１２０に接続される回路が測定器１３０に接続されることによって電子部品１６０の良否判定が行われるようになり、プレート１１０が回転されて電極パターン１１２に測定端子１２０が接触する瞬間に、再度スイッチ１５０が可変駆動されて測定端子１２０に接続される回路が電圧印加手段１４０に接続されることによって測定端子１２０の洗浄が行われるようになる。

ここで、測定端子１２０の回路が測定器１３０に接続され、電子部品１６０の良否判定が行われる場合には、測定器１３０に接続される制御機器１８０に測定端子１２０で測定された情報が伝送され、該伝送された情報は、制御機器１８０にインストールされたプログラムや電子部品１６０の良否判定のためのアルゴリズムによって分析されることによって電子部品１６０の選別が行われることになる。前記制御機器１８０は、ディスプレイ部を備えるＰＣなどで構成されてもよい。

次に、測定端子１２０の回路が電圧印加手段１４０に接続され、測定端子１２０の洗浄が行われる場合には、電圧印加手段１４０の電圧が測定端子１２０に印加された時、電極パターン１１２上で一対の測定端子１２０間にショットが発生し、該ショットの発生によるジュール熱やアーク放電によって測定端子１２０の汚染物、すなわち酸化スズが除去されることができる。

このように、本発明の検査装置は、プレート１１０の回転によって電子部品１６０の良否判定時、測定端子１２０の電極パターン１１２との接触による洗浄過程が繰返して行われることによって、測定端子１２０が常に清浄な状態で維持されることができる。

図５は、本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、電子部品の良否判定時の構成図であり、図６は図５のIII−III'に沿う端面図である。

図７は、本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、測定端子の洗浄時の構成図であり、図８は図７のＩＶ−ＩＶ'に沿う端面図である。

同図のように、本実施形態の電子部品検査装置２００は、縁部にポケット２１１が形成された円板状プレート２１０と、このプレート２１０の上部に設けられる測定端子２２０と、この測定端子２２０に電気的に接続される測定器とを含んで構成される。また、測定端子２２０に電圧を印加する電圧印加手段２４０と、測定端子２２０に印加される電圧が選択的に印加されるようにするスイッチ２５０とをさらに含む。

本実施形態においては、図１〜図４の実施形態と同じ構成要素に対しては同じ符号を付して重複する説明は省略することにする。

本実施形態の電子部品検査装置は、ポケット２１１がプレート２１０を貫通するように形成され、ポケット２１１の内部に電子部品２６０が垂直方向、すなわち電子部品２６０に設けられた一対の外部電極２６１が上部及び下部に位するように配置される。この時、ポケット２１１の大きさは、電子部品２６０の幅と等しいか大きく形成されることが望ましい。

このように構成されたプレート２１０は、第１の実施形態と同様に、一方に電子部品２６０が供給されるフィーダー２７０が備えられ、フィーダー２７０とプレート２１０のポケットとが水平方向に整列する領域において電子部品１６０の供給が行われる。また、一方向に回転するプレート２１０に沿って移動しながら測定端子２２０によって電気的特性の検査が完了した電子部品２６０は、フィーダー２７０とポケット２１１とが水平方向に整列して位置する前にポケット２１１の内部で分離されて排出される。

また、ポケット２１１間には、交互に電極パターン２１２が形成されてもよく、プレート１１０上に露出した電極パターン２１２は、ポケット２１１の大きさと同じか小さく形成されてもよい。また、電極パターン２１２は、プレート２１０の上下面に対称を成すように形成される。プレート２１０上下面に形成された電極パターン２１２は、パターン連結具２１３を通じて一体で連結された電極パターンによって形成される。

一方、プレート２１０の上部には一つの測定端子２２０が設けられ、プレート２１０の下部には、単一電極２８０ａを有する固定体２８０が設けられる。これらの測定端子２２０と単一電極２８０ａとは、それぞれプレート２１０のポケット２１１に垂直方向に挿入された電子部品２６０の上下部の外部電極２６１にそれぞれ接触され、陽極及び陰極の回路接続が行われるようにする。この時、前記固定体２８０は、中央部に単一電極２８０ａが形成され、単一電極２８０ａの両側に絶縁体２８０ｂが延設されてもよい。

前記測定端子２２０と回定体２８０の単一電極２８０ａとは、それぞれ回路接続によって測定器２３０及び電圧印加手段２４０に電気的に接続される。測定端子２２０及び単一電極２８０ａに接続される測定器２３０と電圧印加手段２４０とは、スイッチ２５０の駆動によって電気的接続が可変される。スイッチ２５０の可変駆動によって、測定端子２２０と単一電極２８０ａとが測定器２３０に接続される時、電子部品２６０の良否判定が行われ、スイッチ２５０の可変駆動によって測定端子２２０と単一電極２８０ａとが電圧印加手段２４Oに接続される時、電極パターン２１２上でショットの発生によって測定端子２２０の洗浄が行われることになる。

以下、これについて図５〜図８を参照して詳記する。図５及び図６に示すように、プレート２１０が一方向に回転しながらポケット２１１に挿入された電子部品２６０の上下部の外部電極２６１に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが接触すると、スイッチ２５０が可変され、測定器２３０に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが回路接続され、測定端子２２０から測定された電子部品２６０のインピーダンスまたは絶縁抵抗が測定器２３０に伝送されることによって、電子部品２６０の良否判定が行われる。

また、プレート２１０は一方向に一ステップさらに回転し、プレート２１０の上下面の電極パターン２１２が測定端子２２０と単一電極２８０ａとに接触すると、スイッチ２５０が可変されて電圧印加手段２４０に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが回路接続されることによって、測定端子２２０と単一電極２８０ａとに電圧が印加されて測定端子２２０でショットが発生し、ジュール熱やアーク放電によって測定端子一２２０の洗浄が行われることになる。

この時、前記プレート２１０の下部に設けられる固定体２８０は、中央部の単一電極２８０ａが電子部品２６０または電極パターン２１２に電気的に接続される時、単一電極２８０ａの両側へ延在された絶縁体２８０ｂが隣接の電極パターン２１２と電子部品２６０とに接続されて絶縁が行われるようになる。

図９は、本発明による電子部品検査装置のさらに他の実施形態の構成図で、図１０は図９のＶ−Ｖ'に沿う端面図である。

同図のように、本実施形態による電子部品検査装置は、縁部にポケット２１１が形成された円板状プレート２１０と、このプレート２１０の上部に設けられる測定端子２２０と、この測定端子２２０に電気的に接続される測定器２３０とを含んで構成される。また、測定端子２２０に電圧を印加する電圧印加手段２４０と、測定端子２２０に印加される電圧が選択的に印加されるようなスイッチ２５０とをさらに含む。

本実施形態では、図５〜図８の実施形態の構成要素と同じ構成要素については同じ符号を付して、重複する説明は省略することにする。

本実施形態の電子部品検査装置に適用される測定端子２２０は、電子部品２６０または電極パターン２１２に電気的に接触される前方端部にローラー２２１が結合されてもよい。プレート２１０の回転によって、測定端子２２０上に結合されたローラー２２１が回転駆動され、プレート２１０が一ステップずつ移動する度にローラー２２１がスライド駆動されながら電子部品２６０の外部電極２６１と電極パターン２１２とを交互に接触することによって、電子部品２６０の良否判定とローラー２２１の表面の洗浄とが行われることになる。

このような構成において、電子部品１６０の良否判定過程とローラー２２１の洗浄過程は、図５〜図８に示す実施形態と同様で、重複する説明は省略することにする。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、前記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１１０ プレート
１１１ ポケット
１１２ 電極パターン
１２０ 測定端子
１３０ 測定器
１４０ 電圧印加手段
１５０ スイッチ
１６０ 電子部品
１６１ 外部電極
１７０ フィーダー
１８０ 制御機器

本発明は、電子部品検査装置に関し、特に、電子部品の電気的特性を検査するための電子部品検査装置に関する。

コンピュュータ、スマトホンを含めた多様な電子機器には、受動素子や能動素子を含めた多様な形態の複数の電子部品が実装されている。また、これらの電子部品は、電子機器実装前、不良品の選別のために全数検査が実施されており、電子部品別で電気的特性を測定して良品のみを選別し、出荷と共に電子機器実装が行われている。

このように、電子部品の電気的特性を測定、検査するためには、主に電子部品の外部電極に検査装備の測定端子を接触させ、該各電子部品の電気的特性を測定している。同じ測定端子を用いて繰返し測定が行われると、該測定端子に徐徐に異物が蓄積されることがある。

特開２００７−２１３６２６号公報

この異物は、電子部品の外部電極を構成しているスズ（Ｓｎ）などの残査が該測定端子に付着した後、酸化され、酸化スズ（ＳｎＯ_２）のような絶縁物として生成されるため、その蓄積量が増大するほど測定端子と電子部品の外部電極との間の接触抵抗が増加するようになる。これによって、最終的に、電子部品との接触不良が発生することによって、検査装備の測定値に誤差をもたらすという不都合がある。

そのため、汚染が進行した測定端子を掃除する作業が必要になり、定期的に検査装置を停止させ、作業者が該測定端子上の異物を研摩や洗浄液で除去しなければならない。また、そのような異物の掃除作業は、検査装置の電子部品の選別速度が早くなるほど異物の蓄積量が増えるようになり、掃除のための検査装置の停止も頻繁に発生することになる。また、検査装置のＭＴＴＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ ｔｏ Ｆａｉｌｕｒｅ）などの指標が悪くなり、生産性が低下するような要因になっている。

本発明は上記の問題点に鑑みて成されたものであって、電子部品の電気的特性を検査し、該電子部品の搬送中に測定端子上の異物を除去する電子部品検査装置を提供することに、その目的がある。

上記目的を解決するために、本発明の一実施形態によれば、電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、前記ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品及び前記電極パターンに順次に接触される一対の測定端子と、前記測定端子に電気的に接続される測定器とを含む電子部品検査装置が提供される。

一実施形態によれば、前記電子部品検査装置は、前記測定端子に電気的に接続され、前記測定器との電気的接続が選択的に行われる電圧印加手段と、前記測定端子に接続され、前記測定器と前記電圧印加手段との回路接続が選択的に可変されるように駆動されるスイッチとをさらに含む。

一実施形態によれば、前記プレートは、一方向に回転する円板状の回転体で構成され、縁部に前記電子部品が個別に挿入される前記ポケットが等間隔に形成され、前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、前記フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が水平方向に収納される。

一実施形態によれば、前記電子部品は、両側部に外部電極が形成されたＭＬＣＣ、キャパシター、インダクターを含む受動素子で構成される。

一実施形態によれば、前記測定端子は、前記プレートの回転によって前記電子部品の外部電極と前記電極パターンとに交互に接触され、前記電子部品の良否判定と前記測定端子の電気的クリーニングとが順次に行われる。前記スイッチは、前記測定端子の前記電子部品の外部電極への接触時、前記測定端子と前記測定器とが電気的に接続されるように可変駆動され、前記測定端子の前記電極パターンへの接触時、前記測定端子と電圧印加手段とが電気的に接続されるように可変駆動される。

また、上記の目的を解決するために、本発明の他の実施形態によれば、電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、前記ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される測定端子と、前記プレートの下部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される単一電極を有する固定体と、前記測定端子及び前記単一電極に電気的に接続される測定器とを含む電子部品検査装置が提供される。

一実施形態によれば、前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、前記フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が垂直方向に収納される。前記電極パターンは、前記プレートの上下面に対称を成してパターン連結具によって一体で連結される。

一実施形態によれば、前記固定体は、中央部に単一電極が設けられ、前記単一電極の両側で絶縁体が延設される。

一実施形態によれば、前記測定端子は、前記電子部品または前記電極パターンに電気的に接触される前方端部にローラーが結合される。

前述のように、本発明によれば、電子部品を検査する度に測定端子の電気的クリーニングが繰返して行われることによって該測定端子を常に清浄な状態で維持することができる。また、測定端子の電気的クリーニングがプレート上で電子部品の搬送時に行われるため、検査工程を停止することなく、電気的クリーニングが持続して行われ、検査工程の生産性が向上するという効果を奏する。

本発明による電子部品検査装置の構成図であって、電子部品の良否判定時の構成図である。 図１のＩ−Ｉ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の構成図であって、測定端子の電気的クリーニング時の構成図である。 図３のII−II'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、電子部品の良否判定時の構成図である。 図５のＩＩＩ−ＩＩＩ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、測定端子の電気的クリーニング時の構成図である。 図７のＩＶ−ＩＶ'に沿う端面図である。 本発明による電子部品検査装置のさらに他の実施形態の構成図であがる。 図９のＶ−Ｖ'に沿う端面図である。

以下、本発明の好適な実施の形態は図面を参考にして詳細に説明する。次に示される各実施の形態は当業者にとって本発明の思想が十分に伝達されることができるようにするために例として挙げられるものである。従って、本発明は以下示している各実施の形態に限定されることなく他の形態で具体化されることができる。そして、図面において、装置の大きさ及び厚さなどは便宜上誇張して表現されることができる。明細書全体に渡って同一の参照符号は同一の構成要素を示している。

本明細書で使われた用語は、実施形態を説明するためのものであって、本発明を制限しようとするものではない。本明細書において、単数形は文句で特別に言及しない限り複数形も含む。明細書で使われる「含む」とは、言及された構成要素、ステップ、動作及び／又は素子は、一つ以上の他の構成要素、ステップ、動作及び／又は素子の存在または追加を排除しないことに理解されたい。

まず、図１は本発明による電子部品検査装置の構成図であって、電子部品の良否判定時の構成図であり、図２は図１のI−I'に沿う端面図である。

図３は本発明による電子部品検査装置の構成図であって、測定端子の電気的クリーニング時の構成図であり、図４は図３のII−II'に沿う端面図である。

同図のように、本発明による電子部品検査装置１００は、電子部品１６０の挿入されるポケット１１１が設けられた円板状プレート１１０と、この円板状プレート１１０の上部に設けられる測定端子１２０と、この測定端子１２０に電気的に接続される測定器１３０とを含んで構成される。また、前記電子部品検査装置は、測定端子１２０との選択的な電気的接続によって電圧を印加する電圧印加手段１４０と、測定端子１２０に印加される電圧が選択的に印加されるようなスイッチ１５０とをさらに含む。

前記プレート１１０は、一方へ回転する円板状の回転体で構成され、各電子部品１６０が個別に挿入される空間にポケット１１１が縁部に沿って形成される。前記ポケット１１１は、円板状プレートを貫いて形成されるか縁に一定な深みで形成されてもよい。前記ポケット１１１の内部に１個ずつの電子部品１６０が水平または垂直方向に挿入されてもよい。

また、プレート１１０の上面には、電極パターン１１２が一定な大きさに形成される。電極パターン１１２は、ポケット１１１と交互に形成され、ポケット１１１間に配置され、ポケット１１１と同じ大きさに形成されることが望ましい。この場合、電極パターン１１２の大きさは、測定端子１２０の配置によってポケット１１１の大きさより大きいか小さく形成されてもよいが、一対の測定端子１２０が同時に接触されることができる幅及び長さに形成されることが望ましい。この時、プレート１１０上でポケット１１１と電極パターン１１２とは交互に配置され、プレート１１０の中心から放射状に配置される。ポケット１１１内に装着された電子部品１６０の電極がプレート１１０の上面に露出して設けられる。そして、電極パターン１１２は、銅（Ｃｕ）などの導電性の良好な金属で形成され、必要によって、表面にニッケル（Ｎｉ）メッキ層や金（Ａｕ）メッキ層がさらに形成されてもよい。

一実施形態によれば、プレート１１０に挿入される電子部品１６０は、両側部に外部電極１６１が形成されたＭＬＣＣ（積層セラミックコンデンサ）、キャパシター、インダクターなどで構成される。

プレート１１０の一方にはフィーダー１７０が設けられ、このフィーダー１７０を通じてプレート１１０のポケット１１１内部への電子部品１６０の収納が行われる。すなわち、フィーダー１７０を通じて水平移送される電子部品１６０は、一方向に回転されるプレート１１０のフィーダー１７０と水平方向に整列して位置するポケット１１１内部に移送されて収納が行われるようにして、プレート１１０が回転されながら測定端子１２０によって電気的特性検査が完了した電子部品１６０は、フィーダー１７０とポケット１１１とが水平方向に整列して位置する前にポケット１１１内部で分離されて排出される。

プレート１１０は、時計方向に一ステップずつ回転して移動するが、図１及び図３に示すように、１ステップずつプレートが移動しながらフィーダー１７０と水平方向に整列する９時方向にて電子部品１６０が個別に収納され、該収納された電子部品１６０がプレート１１０の移動方向に沿って移動しながら１２時方向にて電気的特性の良否判定が行われた後、プレート１１０の５時〜7時方向間で電子部品１６０の排出が行われる。

前記プレート１１０の上部には測定端子１２０が設けられる。測定端子１２０は、＋極及び−極を有する一対で構成され、一方が測定器１３０に電気的に接続され、測定端子１２０から測定された結果が電気的信号に変換されて転送されることによって電子部品１６０の良否判定が行われることになる。測定端子１２０は、プレート１１０のポケット１１１に内蔵された電子部品１６０の外部電極１６１にそれぞれ接触され、電気的特性、すなわちインピーダンスまたは絶縁抵抗などを測定して一定数値以上または以下の良品条件を満足する電子部品１６０を選別する役割をする。

このように、測定端子１２０を利用した電子部品１６０の良品及び不良品の選別作業が繰り返されるにつれて、電子部品１６０の外部電極１６１を形成する錫スズ（Ｓｎ）成分が測定端子１２０の接触箇所に蓄積されて酸化され、該蓄積された酸化スズ（ＳｎＯ_２）によって電子部品１６０の測定誤差が生じ、測定端子１２０の酸化物をクリーニングする過程が必要になる。この測定端子１２０の電気的クリーニングは、プレート１１０の上面に形成された電極パターン１１２との接触によって行われる。

すなわち、プレート１１０上に設けられた測定端子１２０がプレート１１０の回転によって電子部品１６０と電極パターン１１２とに交互に接触されながら、電子部品１６０の良否判定と電極パターン１１２を通じる測定端子１２０の電気的クリーニングとが順次に行われる。

一方、測定端子１２０を利用した電子部品１６０の良否判定と、測定端子１２０と電極パターン１１２との接触による電気的クリーニングとは、測定端子１２０の電気的接続が、測定器１３０または電圧印加手段１４０にスイッチ１５０によって選択的に行われてもよい。詳しくは、プレート１１０の回転時、測定端子１２０が電子部品１６０と電極パターン１１２とに順次に接触される時、スイッチ１５０の駆動によって測定端子１２０が測定器１３０と電圧印加手段１４０とにそれぞれ選択的に電気的接続が行われる。すなわち、電子部品１６０の外部電極１６１に測定端子１２０が接触する瞬間には、スイッチ１５０が可変駆動され、測定端子１２０に接続される回路が測定器１３０に接続されることによって電子部品１６０の良否判定が行われるようになり、プレート１１０が回転されて電極パターン１１２に測定端子１２０が接触する瞬間に、再度スイッチ１５０が可変駆動されて測定端子１２０に接続される回路が電圧印加手段１４０に接続されることによって測定端子１２０の電気的クリーニングが行われるようになる。

ここで、測定端子１２０の回路が測定器１３０に接続され、電子部品１６０の良否判定が行われる場合には、測定器１３０に接続される制御機器１８０に測定端子１２０で測定された情報が伝送され、該伝送された情報は、制御機器１８０にインストールされたプログラムや電子部品１６０の良否判定のためのアルゴリズムによって分析されることによって電子部品１６０の選別が行われることになる。前記制御機器１８０は、ディスプレイ部を備えるＰＣなどで構成されてもよい。

次に、測定端子１２０の回路が電圧印加手段１４０に接続され、測定端子１２０の電気的クリーニングが行われる場合には、電圧印加手段１４０の電圧が測定端子１２０に印加された時、電極パターン１１２上で一対の測定端子１２０間にショットが発生し、該ショットの発生によるジュール熱やアーク放電によって測定端子１２０の汚染物、すなわち酸化スズが除去されることができる。

このように、本発明の検査装置は、プレート１１０の回転によって電子部品１６０の良否判定時、測定端子１２０の電極パターン１１２との接触による電気的クリーニング過程が繰返して行われることによって、測定端子１２０が常に清浄な状態で維持されることができる。

図５は、本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、電子部品の良否判定時の構成図であり、図６は図５のIII−III'に沿う端面図である。

図７は、本発明による電子部品検査装置の他の実施形態であって、測定端子の電気的クリーニング時の構成図であり、図８は図７のＩＶ−ＩＶ'に沿う端面図である。

同図のように、本実施形態の電子部品検査装置２００は、縁部にポケット２１１が形成された円板状プレート２１０と、このプレート２１０の上部に設けられる測定端子２２０と、この測定端子２２０に電気的に接続される測定器とを含んで構成される。また、測定端子２２０に電圧を印加する電圧印加手段２４０と、測定端子２２０に印加される電圧が選択的に印加されるようにするスイッチ２５０とをさらに含む。

本実施形態においては、図１〜図４の実施形態と同じ構成要素に対しては同じ符号を付して重複する説明は省略することにする。

本実施形態の電子部品検査装置は、ポケット２１１がプレート２１０を貫通するように形成され、ポケット２１１の内部に電子部品２６０が垂直方向、すなわち電子部品２６０に設けられた一対の外部電極２６１が上部及び下部に位するように配置される。この時、ポケット２１１の大きさは、電子部品２６０の幅と等しいか大きく形成されることが望ましい。

このように構成されたプレート２１０は、第１の実施形態と同様に、一方に電子部品２６０が供給されるフィーダー２７０が備えられ、フィーダー２７０とプレート２１０のポケットとが水平方向に整列する領域において電子部品１６０の供給が行われる。また、一方向に回転するプレート２１０に沿って移動しながら測定端子２２０によって電気的特性の検査が完了した電子部品２６０は、フィーダー２７０とポケット２１１とが水平方向に整列して位置する前にポケット２１１の内部で分離されて排出される。

また、ポケット２１１間には、交互に電極パターン２１２が形成されてもよく、プレート１１０上に露出した電極パターン２１２は、ポケット２１１の大きさと同じか小さく形成されてもよい。また、電極パターン２１２は、プレート２１０の上下面に対称を成すように形成される。プレート２１０上下面に形成された電極パターン２１２は、パターン連結具２１３を通じて一体で連結された電極パターンによって形成される。

一方、プレート２１０の上部には一つの測定端子２２０が設けられ、プレート２１０の下部には、単一電極２８０ａを有する固定体２８０が設けられる。これらの測定端子２２０と単一電極２８０ａとは、それぞれプレート２１０のポケット２１１に垂直方向に挿入された電子部品２６０の上下部の外部電極２６１にそれぞれ接触され、陽極及び陰極の回路接続が行われるようにする。この時、前記固定体２８０は、中央部に単一電極２８０ａが形成され、単一電極２８０ａの両側に絶縁体２８０ｂが延設されてもよい。

前記測定端子２２０と回定体２８０の単一電極２８０ａとは、それぞれ回路接続によって測定器２３０及び電圧印加手段２４０に電気的に接続される。測定端子２２０及び単一電極２８０ａに接続される測定器２３０と電圧印加手段２４０とは、スイッチ２５０の駆動によって電気的接続が可変される。スイッチ２５０の可変駆動によって、測定端子２２０と単一電極２８０ａとが測定器２３０に接続される時、電子部品２６０の良否判定が行われ、スイッチ２５０の可変駆動によって測定端子２２０と単一電極２８０ａとが電圧印加手段２４Oに接続される時、電極パターン２１２上でショットの発生によって測定端子２２０の電気的クリーニングが行われることになる。

以下、これについて図５〜図８を参照して詳記する。図５及び図６に示すように、プレート２１０が一方向に回転しながらポケット２１１に挿入された電子部品２６０の上下部の外部電極２６１に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが接触すると、スイッチ２５０が可変され、測定器２３０に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが回路接続され、測定端子２２０から測定された電子部品２６０のインピーダンスまたは絶縁抵抗が測定器２３０に伝送されることによって、電子部品２６０の良否判定が行われる。

また、プレート２１０は一方向に一ステップさらに回転し、プレート２１０の上下面の電極パターン２１２が測定端子２２０と単一電極２８０ａとに接触すると、スイッチ２５０が可変されて電圧印加手段２４０に測定端子２２０と単一電極２８０ａとが回路接続されることによって、測定端子２２０と単一電極２８０ａとに電圧が印加されて測定端子２２０でショットが発生し、ジュール熱やアーク放電によって測定端子一２２０の電気的クリーニングが行われることになる。

この時、前記プレート２１０の下部に設けられる固定体２８０は、中央部の単一電極２８０ａが電子部品２６０または電極パターン２１２に電気的に接続される時、単一電極２８０ａの両側へ延在された絶縁体２８０ｂが隣接の電極パターン２１２と電子部品２６０とに接続されて絶縁が行われるようになる。

図９は、本発明による電子部品検査装置のさらに他の実施形態の構成図で、図１０は図９のＶ−Ｖ'に沿う端面図である。

同図のように、本実施形態による電子部品検査装置は、縁部にポケット２１１が形成された円板状プレート２１０と、このプレート２１０の上部に設けられる測定端子２２０と、この測定端子２２０に電気的に接続される測定器２３０とを含んで構成される。また、測定端子２２０に電圧を印加する電圧印加手段２４０と、測定端子２２０に印加される電圧が選択的に印加されるようなスイッチ２５０とをさらに含む。

本実施形態では、図５〜図８の実施形態の構成要素と同じ構成要素については同じ符号を付して、重複する説明は省略することにする。

本実施形態の電子部品検査装置に適用される測定端子２２０は、電子部品２６０または電極パターン２１２に電気的に接触される前方端部にローラー２２１が結合されてもよい。プレート２１０の回転によって、測定端子２２０上に結合されたローラー２２１が回転駆動され、プレート２１０が一ステップずつ移動する度にローラー２２１がスライド駆動されながら電子部品２６０の外部電極２６１と電極パターン２１２とを交互に接触することによって、電子部品２６０の良否判定とローラー２２１の表面の電気的クリーニングとが行われることになる。

このような構成において、電子部品１６０の良否判定過程とローラー２２１の電気的クリーニング過程は、図５〜図８に示す実施形態と同様で、重複する説明は省略することにする。

今回開示された実施の形態はすべての点で例示であって制限的なものではないと考えられるべきである。本発明の範囲は、前記した実施の形態の説明ではなくて特許請求の範囲によって示され、特許請求の範囲と均等の意味及び範囲内でのすべての変更が含まれることが意図される。

１１０ プレート
１１１ ポケット
１１２ 電極パターン
１２０ 測定端子
１３０ 測定器
１４０ 電圧印加手段
１５０ スイッチ
１６０ 電子部品
１６１ 外部電極
１７０ フィーダー
１８０ 制御機器

Claims (23)

1. 電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、該ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、
   前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される一対の測定端子と、
   前記測定端子に電気的に接続される測定器
   とを含む電子部品検査装置。
2. 前記電子部品検査装置は、
   前記測定端子との電気的接続が選択的に行われる電圧印加手段と、
   前記測定端子に接続され、前記測定器または前記電圧印加手段との回路接続が選択的に行われるように駆動されるスイッチとを、さらに含む請求項１に記載の電子部品検査装置。
3. 前記プレートは、一方向に回転する円板状の回転体で構成され、縁部に前記電子部品が個別に挿入される前記ポケットが等間隔に設けられる請求項２に記載の電子部品検査装置。
4. 前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、該フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が水平方向に収納される請求項１に記載の電子部品検査装置。
5. 前記電極パターンは、前記ポケットと交互に配置され、前記ポケットと同じ大きさに形成される請求項１に記載の電子部品検査装置。
6. 前記ポケットと前記電極パターンとは、前記プレートの中心に対して放射状に配置され、前記プレートの上面に前記電極パターンと前記ポケットに挿入された前記電子部品の外部電極とが露出する請求項５に記載の電子部品検査装置。
7. 前記電極パターンは、導電性の良い銅材質の金属で形成され、表面にニッケルメッキ層または金メッキ層がさらに形成される請求項１に記載の電子部品検査装置。
8. 前記電子部品は、両側部に外部電極が形成されたＭＬＣＣ、キャパシター、インダクターを含む受動素子である請求項１に記載の電子部品検査装置。
9. 前記測定端子は、前記プレートの回転によって前記電子部品の外部電極と前記電極パターンとに交互に接触され、前記電子部品の良否判定と前記測定端子の洗浄とが順次に行われる請求項３に記載の電子部品検査装置。
10. 前記スイッチは、前記測定端子の前記電子部品の外部電極への接触時、前記測定端子と前記測定器とが電気的に接続されるように駆動され、前記測定端子の前記電極パターンへの接触時、前記測定端子と電圧印加手段とが電気的に接続されるように駆動される請求項９に記載の電子部品検査装置。
11. 前記測定端子は前記電圧印加手段に電気的に接続され、印加された電圧によって前記電極パターン上で発生されたショットによるジュール熱及びアーク放電によって汚染物が洗浄される請求項１０に記載の電子部品検査装置。
12. 電子部品が個別に挿入される複数のポケットが設けられ、該ポケット間に複数の電極パターンが設けられたプレートと、
    前記プレートの上部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される測定端子と、
    前記プレートの下部に設けられ、前記電子部品と前記電極パターンとに順次に接触される単一電極を有する固定体と、
    前記測定端子及び前記単一電極に電気的に接続される測定器
    とを含む電子部品検査装置。
13. 前記電子部品検査装置は、前記測定端子及び前記単一電極に電気的に選択的に接続される電圧印加手段と、
    前記測定端子及び前記単一電極に接続され、前記測定器または前記電圧印加手段に選択的に接続されるように駆動されるスイッチとを、さらに含む請求項１２に記載の電子部品検査装置。
14. 前記プレートは、一方向に回転する円板状の回転体で構成され、縁部に前記電子部品が個別に挿入される前記ポケットが等間隔に設けられる請求項１３に記載の電子部品検査装置。
15. 前記プレートの一方には、フィーダーが設けられ、該フィーダーを通じて前記プレートのポケット内部に前記電子部品が垂直方向に収納される請求項１２に記載の電子部品検査装置。
16. 前記プレートは、前記電極パターンが上下面に露出し、前記ポケットに挿入された前記電子部品の外部電極が上面に露出する請求項１５に記載の電子部品検査装置。
17. 前記電極パターンは、前記プレートの上下面に対称を成してパターン連結具を通じて一体で接続される請求項１６に記載の電子部品検査装置。
18. 前記測定端子と前記単一電極とは、前記プレートの回転によって前記電子部品の外部電極と前記電極パターンとに交互に接触され、前記電子部品の良否判定と前記測定端子の洗浄とが順次に行われる請求項１４に記載の電子部品検査装置。
19. 前記スイッチは、前記測定端子及び前記単一電極の前記電子部品の外部電極への接触時、前記測定端子と前記測定器とが電気的に接続されるように駆動され、前記測定端子及び前記単一電極の前記電極パターンへの接触時、前記測定端子と前記電圧印加手段とが電気的に接続されるように駆動される請求項１８に記載の電子部品検査装置。
20. 前記測定端子は、前記電圧印加手段に電気的に接続され、印加された電圧によって前記電極パターン上で発生されたショットによるジュール熱及びアーク放電によって汚染物が洗浄される請求項１９に記載の電子部品検査装置。
21. 前記固定体は、中央部に前記単一電極が設けられ、前記単一電極の両側に絶縁体が延設される請求項１２に記載の電子部品検査装置。
22. 前記固定体は、前記単一電極が前記電子部品または電極パターンに電気的に接続される時、前記単一電極の両側に延設された前記絶縁体が隣接の電極パターン及び前記電子部品を絶縁する請求項２１に記載の電子部品検査装置。
23. 前記測定端子は、前記電子部品または前記電極パターンに電気的に接触される前方端部にローラーが結合される請求項１２に記載の電子部品検査装置。

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