KR100316103B1 - 전극의 개방/단락 검사방법 - Google Patents

Abstract

본 발명은 플라즈마 표시장치에서 방전전압이 인가되는 전극의 개방/단락 검사방법에 관한 것으로서, 표시장치의 제조공정중 인쇄된 전극의 불량 유무를 용이하게 확인할 수 있도록 하여 제품의 생산수율을 향상시킬 수 있도록 하는데 목적이 있다.

이를 실현하기 위하여 본 발명은 기판면에 배열되는 다수의 전극 일측을 공통으로 연결하여 전원을 인가하는 단계; 및 상기 전원인가에 의해 발생되는 열을 온도감지기로 감지하여 각 전극의 개방/단락상태를 판정하는 단계를 포함하여,

이에 따라 PDP의 제조공정중 발생되는 전극의 불량 유무를 조기에 파악할 수 있게되는 이점이 있다.

Description

전극의 개방/단락 검사방법{An examination methode of electrode open/short}

본 발명은 전극의 개방/단락검사 방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 플라즈마 표시장치의 제조공정중 방전전극의 개방(open)/단락(short) 여부를 용이하게 확인하여 제품의 불량유무를 파악할 수 있도록 하기 위한 검사방법에 관한 것이다.

일반적으로, 플라즈마 디스플레이 패널(Plasma Display Panel;이하 'PDP'라 칭함)은 내부의 기체 방전현상을 이용하여 화상을 표시하는 발광형 소자의 일종으로서, 각 셀마다 액티브 소자를 장착할 필요가 없어 제조 공정이 간단하고, 화면의 대형화가 용이하며, 응답속도가 빨라 대형 화면을 가지는 직시형 화상표시장치 특히, HDTV(High Definition TeleVision) 시대를 지향한 화상표시장치로 텔레비전, 모니터, 옥내외 광고용 표시소자 등의 용도에 사용되고 있다.

또한, PDP는 대형(40∼60인치)의 표시소자영역에서 각광을 받고 있는데, 2개의 유리기판이 프리트그라스에 의해 밀봉된 상태의 구조이며, 그 밀봉된 구조내부에는 가스가 100∼600 Torr의 압력으로 채워져 있는데 현재 주로 사용하는 가스는 헬륨(He)에 지논(Xe)을 포함한 가스(페닝가스)를 사용한다.

패널의 화상 표시부에서는 복수의 전극간의 교차부에서 격벽에 의해 구분되는 다수의 화소(셀)를 이루게 되는데, 구동시는 교차되는 전극간에 100볼트이상의 전압을 인가하고 가스를 글로우 방전시켜서 그 때의 발광을 이용하여 화상을 표시하게 된다. 이와 같이 구성되는 패널부가 구동부와 결합하여 하나의 표시소자로써 역할을 한다.

이와 같은 PDP는 각 셀에 할당된 전극의 수에 따라 2전극형, 3전극형, 4전극형 등으로 분류되는데, 그 중 2전극형은 2개의 전극으로 어드레싱(addressing) 및 유지(sustain)을 위한 전압이 함께 인가되는 것이고 3전극형은 일반적으로 면방전형이라고 불리는 것으로 방전셀의 측면에 위치하는 전극에 인가하는 전압에 의하여 스위칭 되거나 또는 유지되도록 한 것이다.

이하에서는, 도 1 및 도 2에 제시된 장치를 3전극 면방전형 PDP의 한 예로서설명한다.

도 1은 PDP의 상, 하기판 분리구조를 나타낸 것으로 구성을 살펴보면, 화상의 표시면인 전면기판(1)과 후면을 이루는 배면기판(2)이 일정거리를 사이에 두고 평행하게 결합되었다.

전면기판(1)에는 하나의 화소에서 상호간 방전에 의해 셀의 발광을 유지하기 위한 방전 유지전극으로, 커먼전극(C)과 스캔전극(S)이 방전쌍을 이루게 된다. 그리고 상기 2개 전극의 방전전류를 제한하고 전극쌍 간을 절연 시켜주는 유전층(5)이 형성되고, 유전층(5)위에는 보호층(6)이 형성된다.

배면기판(2)은 복수개의 방전공간 즉, 셀 사이를 구분하는 격벽(3)과, 격벽(3)과 평행한 방향으로 형성되며 스캔전극(S)과 교차되는 부위에서 어드레스 방전을 수행하여 진공자외선을 발생시키게 되는 다수의 어드레스 전극(A)과, 각 방전셀의 내부면 중 양측 격벽(3)면과 배면기판(2)면에 형성되어 어드레스 방전시 화상표시를 위한 가시광선을 방출하는 형광층(4)으로 이루어진다.

도 2는 PDP 특정셀의 단면구조를 도시한 것으로, 방전원리에 대한 이해를 돕기 위해 하부구조를 90도 회전하여 도시하였다.

상기와 같이 구성되는 PDP 셀의 화상표시과정은 다음과 같다.

먼저, 해당 유지전극(C,S)쌍 간에 150V∼300V의 방전개시전압이 공급되면 두 전극 간에 면방전이 일어나 해당 방전공간의 내부면에 벽전하가 형성된다.

그후, 해당 유지전극(C,S)과 해당 어드레스 전극(4)에 어드레스 방전전압이 공급되면 상기 전극간에 어드레스 방전이 일어나게 된다. 그후, 해당유지전극(C,S)에 150V 이상의 유지 방전 전압이 공급되면 어드레스전극(A)과 유지전극간의 어드레스 방전시 발생된 하전입자들로 인해 유지전극 쌍간에 유지방전이 일어나 셀의 발광이 일정 시간동안 유지된다.

즉, 셀 내부에서 전계가 발생하여 방전가스중의 미량전자들이 가속되고, 가속된 전자와 가스중의 중성입자가 충돌하여 전자와 이온으로 전리되며, 상기 전리된 전자와 중성입자와의 또 다른 충돌등으로 중성입자가 점차 빠른 속도로 전자와 이온으로 전리되어 방전가스가 플라즈마 상태로 되는 동시에 진공 자외선이 발생된다. 상기 발생된 자외선이 형광층(4)을 여기시켜 가시광선을 발생시키고 발생된 가시광선은 전면기판(1)을 통해서 외부로 출사되면 외부에서 임의의 셀의 발광 즉, 화상표시를 인식할 수 있게된다.

한편, 이러한 기능을 수행하는 각 전극라인은 제작 공정시 불순물등에 의해 쉽게 개방(open)되거나 인접한 전극간에 단락(short)됨으로 인하여 전극형성 후 불량여부를 검사하게 되는데, 종래에는 도 3에 도시된 바와 같이 도전성 고무판(10)을 이용해 전극의 일측을 기판 패드부에서 공통으로 연결시키고 다른쪽의 전극을 검사용 탐침으로 한 라인씩 접촉시킴으로 확인되는 저항을 통해 제품의 개방/단락 유무를 판정하게 된다.

그리고 상기 제1단계가 완료되면, 다시 도전성 고무판(10)을 전극의 타측을 공통으로 연결시키고 나머지 전극의 불량검사를 수행하게 된다.

그러나, 전술한 종래 기술에 따른 전극의 불량검사방법에 있어서, 탐침을 사용하여 작업자가 수작업으로 일일이 전극라인 하나 하나를 접촉시켜야 하므로 검사소요 시간이 상당히 소모되고 미세한 개방/단락을 찾아내지 못하는 경우가 발생하게 된다.

또한, 전면기판의 경우 유전층(5)을 형성하게 되면 기 형성된 전극의 산화에 의해 절연파괴의 원인인 기포가 발생하게 되는데, 이러한 기포발생 현상은 에이징(aging) 공정등에서 전극 단락 및 이로 인한 오방전의 원인이 되는 문제점이 있었다.

본 발명은 상기한 바와 같은 종래 기술의 문제점을 해결하기 위하여 발명된 것으로 기판상에 형성된 전극의 개방/단락 유무를 용이하게 확인하여 기판의 불량을 조기에 파악할 수 있도록 하는데 목적이 있다.

또한, 본 발명의 다른 목적은 유전층 형성 후 유전층의 절연파괴를 확인하는데 응용할 수 있도록 하는데 있다.

도 1은 일반적인 PDP의 상,하기판 분리 사시도.

도 2는 PDP의 셀 단면도.

도 3은 종래 기술에 따른 전극 단락검사 실시도.

도 4는 본 발명에 따른 전극 단락검사 실시도.도 5a 및 5b는 각각 모니터에 나타나는 전극의 개방 및 단락 상태를 나타내는 상태도.

상기와 같은 목적을 실현하기 위한 본 발명의 기술적 수단은 기판면에 배열되는 다수의 전극에 전원을 인가하는 단계; 및

상기 전원 인가에 의해 발생되는 열을 온도감지기로 감지하여 각 전극의 개방/단락상태를 판정하는 단계가 포함됨을 특징으로 한다.

바람직하기로, 상기 전극에 전원을 인가하는 것은 각 전극을 공통으로 연결하여 공통전류를 인가한다.

이와 같이 하면, 전극 형성 후 온도감지기를 이용하여 전극의 저항에 의해 발생되는 열을 이용하여 전극의 개방/단락 유무를 정확하고 용이하게 확인할 수 있게되어 작업효율을 향상시킬 수 있게됨을 알 수 있다.

그 결과, 완성된 후의 제품 불량률을 감소시키고 제품의 생산성을 향상시킬 수 있게 된다는 이점이 있다.

또한, 유전층 형성후 상기와 동일한 방법으로 전극 패드부에 강한 전류를 흘려줌으로 인해 유전층 내부에 존재하는 기포에 의한 절연파괴를 미리 확인할 수도 있게된다.

이러한 본 발명의 실시예로는 다수개가 존재할 수 있으며, 이하에서는 가장 바람직한 실시예에 대하여 상세히 설명하기로 한다.

이 바람직한 실시예를 통해 본 발명의 목적, 특징 및 효과들을 보다 잘 이해할 수 있게된다.

이하, 첨부한 도면을 참조하여 본 발명에 의한 전극 검사방법의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.

도 4는 본 발명의 실시예에 의한 전극의 개방/단락검사 상태를 도시한 것이다.

본 실시예에 따른 검사를 위해서는 먼저, 기판의 패드부에서 전극 양단에 도전성 고무판과 같은 도전성부재(10)을 설치하여 각 전극을 공통으로 연결하게 된다.

그리고 도전성 부재(10)에 약 200V의 전압을 걸어주면 전극의 저항에 의하여 열이 발생되는데, 이때 발생되는 열을 바이메탈형, 반도체형 정온식 온도감지기로 감지하고, 열감지기에 발생된 열을 모니터를 통하여 광신호로 변화시켜 전극의 개방/단락 여부를 검사하게 된다.

즉, 전원이 인가된 전극라인에서 열이 감지되지 않는 경우는 전극이 개방된 것으로 판단할 수 있고, 전원이 인가되지 않는 전극라인에서 열이 감지되는 경우는 전극이 인접된 다른 전극간에 단락된 것으로 판단할 수 있는 것이다. 도 5a에 나타낸 바와 같이, 전극의 끝단에서 개방이 발생한 지점까지 저항이 발생하지 않기 때문에 열의 발생이 없으며, 광신호의 발생도 없게 된다. 이를 통하여 전극의 개방을 쉽게 확인할 수 있다. 도 5b에 나타낸 바와 같이 전극의 끝단에서 발생된 저항은 반대쪽의 전극까지 전류가 흘러 마주하는 두 전극에 광신호가 발생되어 전극의 단락을 확인할 수 있다.

한편, 전면기판의 경우는 전극 인쇄후 유전층을 형성하게 되는데, 유전층 형성후 각 전극의 패드부위에서 강한 전류를 흘려주면 전극의 단락 발생을 확인할 수 있으며, 유전체의 기포 발생부분에서의 전극 절연파괴를 미리 확인하여 불량여부를 판단할 수 있게된다.

특히, 상기 유전층 형성후 인가되는 전류는 전극의 방전전압보다 높은 전류(약 300∼350V)를 흘려줌으로서, 기판 합착후의 에이징 공정이나 PDP의 구동시 발생할 수 있는 절연파괴 현상을 미연에 방지할 수 있게된다.

한편 비교 예로서, 즉 종래의 전극 개방/단락검사는 작업자가 일일이 각 전극을 탐침을 이용하여 접촉시키는 수작업 방식으로 이루어져 작업효율이 그만큼 저하되었던 것과는 달리, 본 발명은 전극에서 발생되는 열을 육안으로 확인하여 전극의 개방/단락 유무를 용이하게 판단할 수 있게됨을 알 수 있다.

이 결과에서, 본 발명에 의하면 전극의 개방/단락 유무를 용이하고 정확하게 확인하여 제품의 불량을 조기에 판정할 수 있게된다.

그리고, 상기에서 본 발명의 특정한 실시예가 설명 및 도시되었지만 본 발명이 당업자에 의해 다양하게 변형되어 실시될 가능성이 있는 것은 자명한 일이다.

이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 기술적 사상이나 전망으로부터 개별적으로 이해되어져서는 안되며, 이와 같은 변형된 실시예들은 본 발명의 첨부된 특허청구범위 안에 속한다 해야 할 것이다.

이상 설명한 바와 같이 본 발명의 전극 검사방법은 전극의 개방/단락을 용이하게 확인하여 PDP의 제조공정중 조기에 제품 불량 유무를 파악할 수 있는 효과가 있다.

또한, 이러한 방법을 응용하여 유전층의 절연파괴를 미리 측정할 수도 있게된다.

Claims (1)

1. 평면표시장치의 일부를 구성하는 기판면에 다수의 전극을 배열하는 단계;

   상기 기판면에 배열되는 다수의 전극들을 도전성부재(10)로 공통 접속하는 단계;

   상기 도전성부재(10)에 의해 공통 접속된 다수 전극들에 전원을 인가하는 단계;

   상기 전원인가에 의해 발생되는 열을 온도감지기로 감지하는 단계; 및

   상기 감지된 전극 저항에 의한 열을 모니터로 표시하여 열의 발생 유무에 따라 각 전극의 개방/단락상태를 판정하는 단계가 포함됨을 특징으로 하는 평면표시장치의 전극 개방/단락 검사방법.