KR100684842B1 - 플라즈마 표시 장치 및 그 검사 방법 - Google Patents

플라즈마 표시 장치 및 그 검사 방법 Download PDF

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Abstract

테이프 캐리어 패키지가 플라즈마 표시 패널의 전극과 구동 보드에 각각 접착되어 전극과 구동 보드를 전기적으로 연결한다. 그리고 테이프 캐리어 패키지에는 각 전극을 제어하는 구동 집적 회로가 장착된다. 이때, 구동 집적 회로에 소정의 구동 신호를 인가하고 구동 집적 회로에서 출력되는 전류 또는 전압을 측정하여, 테이프 캐리어 패키지의 리드선의 단락 또는 단선 여부, 그리고 구동 집적 회로의 트랜지스터의 불량 여부를 측정할 수 있다.
PDP, 검사, IC, TCP, 단락, 단선, 불량

Description

플라즈마 표시 장치 및 그 검사 방법{PLASMA DISPLAY DEVICE AND TESTING METHOD THEREOF}
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 분해 사시도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 일부 평면도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 샤시 베이스의 개략적인 평면도이다.
도 4는 Y 구동 집적 회로의 개략적인 도면이다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단락을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단선을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
도 7a 및 도 7b는 각각 본 발명의 제3 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단선을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
본 발명은 플라즈마 표시 패널의 검사 방법에 관한 것이다.
플라즈마 표시 패널은 기체 방전에 의해 생성된 플라즈마를 이용하여 문자 또는 영상을 표시하는 표시 장치이다. 이러한 플라즈마 표시 패널에는 그 크기에 따라 수백 만개 이상의 방전 셀(이하, "셀"이라 함)이 매트릭스 형태로 배열되어 있다. 즉, 복수의 행 전극과 복수의 열 전극에 의해 형성되는 공간에 방전 셀이 형성되며, 일반적으로 행 전극은 주사 전극과 유지 전극의 쌍으로 이루어진다.
플라즈마 표시 패널에서는 발광할 셀을 설정하기 위해 어드레스 기간이 필요하며, 어드레스 기간에서는 복수의 주사 전극에 순차적으로 주사 펄스가 인가된다. 그리고 주사 펄스가 인가된 주사 전극에 의해 형성되는 셀 중에서 발광할 셀을 통과하는 어드레스 전극에 어드레스 펄스가 인가되어 발광할 셀이 설정된다. 따라서 복수의 주사 전극과 복수의 어드레스 전극에는 선택적으로 펄스가 인가되어야 하므로, 이들로 인가되는 펄스를 개별적으로 제어하기 위한 구동 회로가 이들 전극에 개별적으로 연결되어 있다.
그리고 이들 구동 회로는 테이프 캐리어 패키지(tape carrier package), 가요성 인쇄 회로 기판(flexible printed circuit), 필름 등의 커넥터에 집적 회로(IC) 형태로 실장되고, 이러한 가용성 연결 수단이 플라즈마 표시 패널의 전극과 패널을 구동하기 위한 구동 보드에 열 압착 등의 방식으로 접착된다. 이러한 열 압착에 의해 커넥터가 손상을 입을 수 있으므로, 커넥터의 접착 후에 연결 부위의 단락 여부, 부품 불량 등의 기능 검사가 필요하다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 플라즈마 표시 패널에서 커넥터와 전극의 접착 부위를 검사하기 위한 검사 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 한 특징에 따르면, 플라즈마 표시 패널, 구동 보드, 커넥터 및 제어부를 포함하는 플라즈마 표시 장치가 제공된다. 플라즈마 표시 패널에는 복수의 제1 전극이 형성되어 있으며, 구동 보드는 상기 플라즈마 표시 패널의 상기 제1 전극에 구동 신호를 인가한다. 커넥터는 상기 구동 보드와 상기 플라즈마 표시 패널에 각각 접착되어 상기 구동 보드와 상기 제1 전극을 전기적으로 연결하며, 상기 커넥터에는 상기 복수의 제1 전극의 구동을 각각 제어하는 복수의 구동 집적 회로와 상기 구동 집적 회로를 상기 제1 전극과 연결하는 복수의 리드선이 형성되어 있다. 그리고 제어부는 상기 구동 보드를 제어하여 상기 구동 신호를 상기 구동 집적 회로에 인가하고 상기 구동 집적 회로에서 출력되는 전류 및 전압 중 적어도 하나를 측정하여 상기 커넥터를 검사한다.
본 발명의 다른 특징에 따르면, 복수의 제1 전극에 접착되어 있으며, 상기 복수의 제1 전극의 구동을 각각 제어하는 복수의 구동 집적 회로와 상기 구동 집적 회로를 상기 제1 전극과 연결하는 복수의 리드선이 형성되어 있는 커넥터를 가지는 플라즈마 표시 장치의 검사 방법이 제공된다. 이 검사 벙법에 의하면, 먼저 상기 구동 집적 회로에 구동 신호가 인가된다. 그리고 상기 구동 집적 회로에서 출력되는 전류 및 전압 중 적어도 하나가 측정되고, 상기 측정된 전류 및 전압 중 적어도 하나가 기준값과 비교되어 상기 커넥터가 검사된다.
아래에서는 첨부한 도면을 참고로 하여 본 발명의 실시예에 대하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 용이하게 실시할 수 있도록 상 세히 설명한다. 그러나 본 발명은 여러 가지 상이한 형태로 구현될 수 있으며 여기에서 설명하는 실시예에 한정되지 않는다.
도면에서 본 발명을 명확하게 설명하기 위해서 설명과 관계없는 부분은 생략하였다. 명세서 전체를 통하여 유사한 부분에 대해서는 유사한 도면 부호를 붙였다. 어떤 부분이 다른 부분과 연결되어 있다고 할 때, 이는 직접적으로 연결되어 있는 경우뿐 아니라 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 전기적으로 연결되어 있는 경우도 포함한다.
도 1은 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 분해 사시도이며, 도 2는 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치의 일부 평면도이다. 도 3은 본 발명의 실시예에 따른 샤시 베이스의 개략적인 평면도이다.
도 1에 나타낸 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 플라즈마 표시 장치는 플라즈마 표시 패널(10), 샤시 베이스(20), 전면 케이스(30) 및 후면 케이스(40)를 포함한다. 샤시 베이스(20)는 플라즈마 표시 패널(10)에서 영상이 표시되는 면의 반대측에 배치되어 플라즈마 표시 패널(10)과 결합된다. 전면 및 후면 케이스(30, 40)는 플라즈마 표시 패널(10)의 전면 및 샤시 베이스(20)의 후면에 각각 배치되어, 플라즈마 표시 패널(10) 및 샤시 베이스(20)와 결합되어 플라즈마 표시 장치를 형성한다.
도 2를 보면, 플라즈마 표시 패널(10)은 열 방향으로 뻗어 있는 복수의 어드레스 전극(이하, "A 전극"이라 함)(A1∼Am), 그리고 행 방향으로 뻗어 있는 복수의 주사 전극(이하, "Y 전극"이라 함)(Y1∼Yn)과 복수의 유지 전극(이하, "X 전극"이 라 함)(X1-Xn)을 포함한다. X 전극(X1∼Xn)은 각 Y 전극(Y1∼Yn)에 대응해서 형성되며, 일반적으로 그 일단이 서로 공통으로 연결될 수 있다. 그리고 플라즈마 표시 패널(10)은 X 전극과 Y 전극(X1∼Xn, Y1∼Yn)이 배열된 기판(11)과 A 전극(A1-Am)이 배열된 기판(12)을 포함할 수 있다. 그리고 두 기판(11, 12)은 Y 전극(Y1∼Yn)과 A 전극(A1∼Am) 및 X 전극(X1∼Xn)과 A 전극(A1∼Am)이 각각 직교하도록 방전 공간을 사이에 두고 대향하여 배치될 수 있다. 이때, A 전극(A1∼Am)과 X 및 Y 전극(X1∼Xn, Y1∼Yn)의 교차부에 있는 방전 공간이 방전 셀(11)을 형성한다.
도 3에 나타낸 바와 같이, 샤시 베이스(20)에는 플라즈마 표시 패널(10)의 구동에 필요한 구동 보드(100∼400), 각 구동 보드를 제어하는 제어부(500)가 형성된 제어부(500) 및 구동 보드(100∼400) 및 제어 보드(500)에 전원을 공급하는 전원 보드(600)가 형성되어 있다. A 버퍼 보드(100)는 샤시 베이스(20)의 상부 및 하부에 각각 형성되어 있으며, 단일 보드로 이루어질 수도 있으며 복수의 보드로 이루어질 수도 있다. 그리고 도 3과 달리 A 버퍼 보드(100)가 샤시 베이스(20)의 상부 및 하부 중 어느 한 곳에 배치될 수도 있다. 이러한 A 버퍼 보드(100)는 제어부(500)로부터 공급되는 제어 신호를 수신하여 발광할 셀을 선택하기 위한 전압을 각 A 전극(A1-Am)에 인가한다.
Y 및 X 구동 보드(200, 300)는 각각 샤시 베이스(20)의 좌측 및 우측에 배치되어 있으며, Y 구동 보드(200)는 Y 버퍼 보드(400)를 거쳐 Y 전극(Y1-Yn)에 전기적으로 연결되어 있다. Y 버퍼 보드(400)는 Y 전극(Y1-Yn)의 선택에 필요한 동작을 한다. Y 및 X 구동 보드(200, 300)는 제어부(500)로부터 제어 신호를 수신하여 Y 및 X 전극(Y1-Yn, X1-Xn)에 유지방전 펄스를 번갈아 입력한다. 그러면 입력된 유지방전 펄스에 의해 선택된 방전 셀에서 유지 방전이 일어난다. 그리고 도 3에서는 Y 및 X 구동 보드(200, 300)를 분리하여 설명하였지만, 두 보드(200, 300)는 하나의 보드로 형성될 수 있으며, 또한 Y 버퍼 보드(400)도 구동 보드(200)와 일체형으로 형성될 수도 있다.
제어부(500)는 외부로부터 영상 신호를 수신하여 어드레스 구동 제어 신호와 유지 방전 신호를 생성하여 각각 A 및 Y 버퍼 보드(100, 400)와 Y 및 X 구동 보드(200, 300)에 인가한다. 전원 보드(600)는 플라즈마 표시 장치의 구동에 필요한 전원을 공급한다. 제어 보드(500)와 전원 보드(600)는 샤시 베이스의 중앙에 배치될 수 있다.
다시 도 2를 보면, A 테이프 캐리어 패키지(110)가 기판(12)과 A 버퍼 보드(100)에 부착되고, Y 테이프 캐리어 패키지(410)가 기판(11)과 Y 버퍼 보드(400)에 부착되어 있다. 이들 테이프 캐리어 패키지(110, 410)에는 각각 A 구동 집적 회로(IC)(111) 및 Y 구동 집적 회로(411)가 칩 등의 형태로 장착되어 있다. A 테이프 캐리어 패키지(110)에는 A 구동 집적 회로(111)와 A 전극(A1∼Am)을 연결하는 복수의 리드선(도시하지 않음)이 형성되어 있으며, Y 테이프 캐리어 패키지(410)에도 또한 Y 구동 집적 회로(411)와 Y 전극(Y1∼Yn)을 연결하는 복수의 리드선(도시하지 않음)이 형성되어 있다.
그리고 A 테이프 캐리어 패키지(110)와 Y 테이프 캐리어 패키지(410)는 각각 A 버퍼 보드(100) 및 Y 버퍼 보드(400)에 접착되어 전기적으로 연결되어 있고, 또 한 기판(12, 11)에도 각각 접착되어 A 패드(112) 및 Y 패드(412)에 전기적으로 연결되어 있다. 또한 A 패드(112) 및 Y 패드(412)에는 각각 A 전극(A1∼Am) 및 Y 전극(Y1∼Yn)이 전기적으로 연결되어 있다.
다음, 도 4를 참조하여 Y 구동 집적 회로에 대해서 설명한다. 도 4는 Y 구동 집적 회로의 개략적인 도면이다. 도 4에서는 설명의 편의상 i번째와 (i+1)번째 Y 전극(Yi, Yi+1)만을 도시하고, 또한 Y 구동 집적 회로에서 두 Y 전극(Yi, Yi+1)에 연결된 트랜지스터만을 도시하였다.
도 4를 보면, Y 구동 집적 회로(411)에는 Y 전극 별로 각각 두 개의 트랜지스터(M1, M2)가 형성되어 있으며, 도 4에서는 트랜지스터(M1, M2)를 바디 다이오드를 가지는 NMOS 트랜지스터로 도시하였다. 트랜지스터(M1)의 드레인은 하이 레벨 전원(Vpp)에 연결되고, 트랜지스터(M2)의 소스는 로우 레벨 전원(Vssp)에 연결되어 있다. 그리고 트랜지스터(M1)의 소스와 트랜지스터(M2)의 드레인이 연결되고, 이 접점에 Y 전극(Yi)이 연결되어 있다.
이때, 구동 신호(in_i)에 의해 트랜지스터(M1)가 온되면 하이 레벨 전압이 Y 전극(Yi)에 인가되고, 구동 신호(in_i)에 의해 트랜지스터(M2)가 온되면 로우 레벨 전압이 Y 전극(Yi)에 인가된다. 그리고 이러한 구동 신호(in_i)는 제어부(500)가 Y 버퍼 보드(400)에 형성된 구동 회로(도시하지 않음)를 제어함으로써, 구동 회로에서 출력될 수 있다. 따라서 Y 버퍼 보드(400)에서 각 Y 전극(Yi)에 연결된 트랜지스터(M2)가 순차적으로 온되도록 구동 신호(in_i)를 Y 구동 집적 회로(411)에 인가하면, Y 전극(Yi)에 순차적으로 주사 펄스(Vssp)를 인가할 수 있다.
도시하지 않았지만, A 구동 집적 회로(111)에도 도 4에서 설명한 것처럼 각 A 전극 별로 두 개의 트랜지스터가 형성되어, A 전극에 선택적으로 어드레스 펄스가 인가될 수 있다.
그리고 도 1 내지 도 4에서 설명한 테이프 캐리어 패키지(110, 410)가 기판(12, 11)과 접착되는 중에 또는 접착된 후에 테이프 캐리어 패키지(110, 410)의 리드선이 단락(short) 또는 단선(open)될 수 있다. 아래에서는 이러한 리드선이 단락 또는 단선을 검사할 수 있는 방법에 대해서 도 5 내지 도 7b를 참조하여 설명한다. 도 5 내지 도 7b에서는 설명의 편의상 Y 전극(Y1∼Ym)과 Y 전극에 연결된 Y 테이프 캐리어 패키지(410)를 예로 들어 설명한다.
도 5는 본 발명의 제1 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단락을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
도 5에 도시한 바와 같이, 테이프 캐리어 패키지의 리드선이 단락이 되면 두 전극(Yi, Yi+1)이 전기적으로 연결되며, 단락 부위에는 기생 저항 성분이 존재한다. 이러한 단락 여부를 검사하기 위해 제어부(500)는 Y 구동 집적 회로(411)에서 Y 전극에 연결된 트랜지스터(M2)가 순차적으로 턴온되도록 구동 신호를 Y 구동 집적 회로(411)에 인가한다.
예를 들어, 제어부(500)는 구동 신호(in1, in2)를 Y 구동 집적 회로(411)에 인가하여, Y 전극(Yi)에 연결된 트랜지스터(M1)를 턴온시킨 상태에서 Y 전극(Yi+1)에 연결된 트랜지스터(M2)를 턴온시킨다. 이때, 테이프 캐리어 패키지(410)의 리드선에 의해 두 Y 전극(Yi, Yi+1)이 단락되어 있으면, Y 전극(Yi)에 연결된 트랜지스 터(M1)를 통하여 Y 전극(Yi+1)에 연결된 트랜지스터(M2)로 누설 전류(IL1)가 흐른다.
이러한 누설 전류(IL1)는 단락이 되지 않은 경우에는 흐르지 않으므로, 누설 전류(IL1)에 의해 하이 레벨 전원(Vpp)에서의 전류량이 단락되지 않은 경우의 전류량보다 증가한다.
따라서 본 발명의 제1 실시예에서 제어 보드에 형성된 제어부(500)가 복수의 Y 전극(Y1∼Yn)에 연결된 트랜지스터(M2)를 순차적으로 턴온시키면서 하이 레벨 전원(Vpp)에서의 전류량을 측정한다. 그리고 제어부(500)는 하이 레벨 전원(Vpp)에서의 전류량이 기준 전류량보다 커지는 경우를 판단하고, 이 경우의 턴온된 트랜지스터(M2)가 연결된 Y 전극(Yi+1)이 단락되었다고 판단한다.
도 6은 본 발명의 제2 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단선을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
도 6에 도시한 바와 같이, Y 전극(Yi)과 이에 인접한 A 전극 및 X 전극에 의해 용량성 성분(이하, "패널 커패시터"라 하고, Cp로 도시함)이 형성된다. 패널 커패시터(Cp)는 용량성 성분으로 작용하므로 패널 커패시터(Cp)에 인가되는 전압이 하이 레벨에 로우 레벨로 변경되거나 로우 레벨에서 하이 레벨로 변경되는 경우에는 변위 전류(Id)가 흐른다.
따라서 제어부(500)는 도 6과 같이 트랜지스터(M1, M2)를 교대로 턴온하면서 패널 커패시터(Cp)에 하이 레벨 전압(Vpp)과 로우 레벨 전압(Vssp)을 교대로 인가 한다. 그리고 제어부(500)는 이 경우에 Y 전극(Yi)에 흐르는 전류를 측정하고 이 전류를 정상적인 경우의 변위 전류(Id)와 비교한다. 비교 결과, Y 전극(Yi)에 흐르는 전류가 변위 전류(Id)보다 특정 범위 이상으로 작으면 제어부(500)는 Y 전극(Yi)에 연결된 리드선이 단선되었다고 판단한다.
도 7a 및 도 7b는 각각 본 발명의 제3 실시예에 따른 테이프 캐리어 패키지의 단선을 검사하는 방법을 나타내는 도면이다.
도 7a를 보면, Y 구동 집적 회로(411)에서 하이 레벨 전원(Vpp)에 연결된 트랜지스터(M1)에 불량이 있는 경우에 턴오프된 트랜지스터(M1)를 통하여 누설 전류(IL2)가 흐른다. 따라서 본 발명의 제3 실시예에서 제어부(500)는 트랜지스터(M1)가 턴오프된 경우에 하이 레벨 전원(Vpp)에 흐르는 전류를 측정하여 트랜지스터(M1)의 불량 여부를 판단한다. 또는 누설 전류에 의해 두 트랜지스터(M1, M2)의 접점의 전압이 Vssp 전압보다 높게 되므로, 제어부(500)는 Y 전극(Yi)에 공급되는 전압을 측정하여 트랜지스터(M1)의 불량 여부를 판단할 수도 있다.
도 7b를 보면, Y 구동 집적 회로(411)에서 로우 레벨 전원(Vpp)에 연결된 트랜지스터(M2)에 불량이 있는 경우에 턴오프된 트랜지스터(M2)를 통하여 누설 전류(IL3)가 흐른다. 따라서 제어부(500)는 트랜지스터(M2)가 턴오프된 경우에 로우 레벨 전원(Vssp)에 흐르는 전류를 측정하여 트랜지스터(M2)의 불량 여부를 판단한다. 또는 누설 전류에 의해 두 트랜지스터(M1, M2)의 접점의 전압이 Vss 전압보다 낮게 되므로, 제어부(500)는 Y 전극(Yi)에 공급되는 전압을 측정하여 트랜지스터(M2)의 불량 여부를 판단할 수도 있다.
이상, 본 발명의 실시예에서는 제어 보드에 형성된 제어부(500)에서 구동 신호를 Y 구동 집적 회로(411)에 인가하고 Y 구동 집적 회로(411)의 전류 및/또는 전압을 측정하였지만, 이와 달리 이러한 기능을 검사 장치를 별도로 형성할 수도 있다.
또한, 본 발명의 실시예에서는 Y 구동 집적 회로를 기준으로 설명하였지만, 이상에서 설명한 내용은 A 구동 집적 회로에도 적용할 수 있다. 그리고 본 발명의 실시예에서는 구동 집적 회로가 장착되어 전극과 보드를 연결하는 커넥터로서 테이프 캐리어 패키지를 예로 들어 설명하였지만, 가요성 인쇄 회로 기판(FPC) 또는 가요성 필름 등의 커넥터가 사용될 수도 있다.
이상에서 본 발명의 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.
이와 같이 본 발명에 의하면, 구동 집적 회로에 구동 신호를 인가하여 출력되는 전류 및/또는 전압을 측정함으로써 테이프 캐리어 패키지의 단락/단선 여부 또는 구동 집적 회로의 불량 여부를 검사할 수 있다.

Claims (10)

  1. 복수의 제1 전극이 형성되어 있는 플라즈마 표시 패널,
    상기 플라즈마 표시 패널의 상기 제1 전극에 구동 신호를 인가하는 구동 보드,
    상기 구동 보드와 상기 플라즈마 표시 패널에 각각 접착되어 상기 구동 보드와 상기 제1 전극을 전기적으로 연결하며, 상기 복수의 제1 전극의 구동을 각각 제어하는 복수의 구동 집적 회로와 상기 구동 집적 회로를 상기 제1 전극과 연결하는 복수의 리드선이 형성되어 있는 커넥터, 그리고
    상기 구동 보드를 제어하여 상기 구동 신호를 상기 구동 집적 회로에 인가하고 상기 구동 집적 회로에서 출력되는 전류 및 전압 중 적어도 하나를 측정하여 상기 커넥터를 검사하는 제어부
    를 포함하는 플라즈마 표시 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 구동 집적 회로는,
    제1 레벨의 전압을 공급하는 제1 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제1 트랜지스터, 그리고
    제2 레벨의 전압을 공급하는 제2 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제2 트랜지스터를 포함하는 플라즈마 표시 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 구동 신호는 상기 복수의 제1 전극에 각각 연결되는 복수의 구동 집적 회로에서 상기 제2 트랜지스터가 순차적으로 턴온되도록 하는 신호이며,
    상기 제어부는 상기 제1 전원에 흐르는 전류가 소정 전류보다 큰 경우에 상기 커넥터의 리드선의 단락을 판단하는 플라즈마 표시 장치.
  4. 제2항에 있어서,
    상기 구동 신호는 상기 구동 집적 회로의 상기 제1 및 제2 트랜지스터가 교대로 턴온되도록 하는 신호이며,
    상기 제어부는 상기 제1 전극으로 흐르는 전류가 소정 전류보다 작은 경우에 상기 커넥터의 리드선의 단선을 판단하는 플라즈마 표시 장치.
  5. 제2항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 제1 트랜지스터가 턴온되고 상기 제2 트랜지스터가 턴오프된 경우에 상기 제2 트랜지스터에 흐르는 전류를 판단하여 상기 제2 트랜지스터의 불량 여부를 검사하는 플라즈마 표시 장치.
  6. 제2항에 있어서,
    상기 제어부는 상기 제1 트랜지스터가 턴온되고 상기 제2 트랜지스터가 턴오 프된 경우에 상기 제1 및 제2 트랜지스터의 접점의 전압을 판단하여 상기 제2 트랜지스터의 불량 여부를 검사하는 플라즈마 표시 장치.
  7. 복수의 제1 전극에 접착되어 있으며, 상기 복수의 제1 전극의 구동을 각각 제어하는 복수의 구동 집적 회로와 상기 구동 집적 회로를 상기 제1 전극과 연결하는 복수의 리드선이 형성되어 있는 커넥터를 가지는 플라즈마 표시 장치의 검사 방법에 있어서,
    상기 구동 집적 회로에 구동 신호를 인가하는 단계,
    상기 구동 집적 회로에서 출력되는 전류 및 전압 중 적어도 하나를 측정하는 단계, 그리고
    상기 측정된 전류 및 전압 중 적어도 하나를 기준값과 비교하여 상기 커넥터를 검사하는 단계
    를 포함하는 플라즈마 표시 장치의 검사 방법.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 구동 집적 회로는 제1 레벨의 전압을 공급하는 제1 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제1 트랜지스터 및 제2 레벨의 전압을 공급하는 제2 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제2 트랜지스터를 포함하며,
    상기 구동 신호는 상기 복수의 구동 집적 회로에서 상기 제2 트랜지스터가 순차적으로 턴온되도록 하는 신호이며,
    상기 제1 전원에 흐르는 전류가 소정 전류보다 큰 경우에 상기 커넥터의 리드선이 단락되었다고 판단되는 플라즈마 표시 장치의 검사 방법.
  9. 제7항에 있어서,
    상기 구동 집적 회로는 제1 레벨의 전압을 공급하는 제1 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제1 트랜지스터 및 제2 레벨의 전압을 공급하는 제2 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제2 트랜지스터를 포함하며,
    상기 구동 신호는 상기 구동 집적 회로에서 상기 제1 및 제2 트랜지스터가 교대로 턴온되도록 하는 신호이며,
    상기 제1 전극에 흐르는 전류가 소정 전류보다 작은 경우에 상기 커넥터의 리드선이 단선되었다고 판단되는 플라즈마 표시 장치의 검사 방법.
  10. 제7항에 있어서,
    상기 구동 집적 회로는 제1 레벨의 전압을 공급하는 제1 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제1 트랜지스터 및 제2 레벨의 전압을 공급하는 제2 전원과 상기 제1 전극 사이에 연결되는 제2 트랜지스터를 포함하며,
    상기 구동 신호는 상기 제1 트랜지스터를 턴온시키고 상기 제2 트랜지스터를 턴오프시키는 신호이며,
    상기 제2 트랜지스터에 흐르는 전류 또는 상기 제1 및 제2 트랜지스터의 접점의 전압에 따라 상기 제2 트랜지스터의 불량 여부가 검사되는 플라즈마 표시 장 치의 검사 방법.
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