KR20070001583A - 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법 - Google Patents

원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판및 그 검사 방법 Download PDF

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Abstract

본 발명은 패널 내에 설치된 신호선들을 이용하여 원장단위로 검사를 수행할 수 있도록 한 유기 발광표시장치의 어레이 기판에 관한 것이다.
본 발명의 유기 발광표시장치의 어레이 기판은 동일한 기판 상에 형성되는 다수의 패널들과, 상기 패널들 상에 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹과, 상기 패널들 상에 형성되며, 상기 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹과 전기적으로 접속되는 패드부와, 상기 패널들 상에 상기 제1 방향으로 형성되며 제1 전원을 공급받는 제1 전원선 및 상기 패널들 상에 제2 방향으로 형성되는 제2 배선그룹을 구비하며, 상기 제1 배선그룹은 상기 패널들 각각에 형성된 주사 구동부와 전기적으로 접속된다.
이러한 구성에 의하여, 검사시간을 줄이면서 검사를 효율적으로 수행할 수 있다. 또한, 불필요한 배선을 줄여 전압 강하(IR drop) 및 신호지연(RC delay)을 줄일 수 있다.

Description

원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판 및 그 검사 방법{Organic Light Emitting Display Array Substrate for Performing Sheet Unit Test and Testing Method Using the Same}
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 유기 발광표시장치의 어레이 기판을 나타내는 도면이다.
도 2는 도 1에 도시된 유기 발광표시장치의 패널 및 배선 그룹들을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 검사부의 일례를 나타내는 회로도이다.
도 4는 기판상에서 원장단위의 검사를 수행하는 실시예를 나타내는 도면이다.
도 5는 기판상에서 원장단위의 검사를 수행하는 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 6은 스크라이빙이 완료된 유기 발광표시장치의 패널을 나타내는 도면이다.
<도면의 주요 부분에 대한 부호의 설명>
100: 기판 110: 패널
120: 화소부 130: 주사 구동부
140: 데이터 구동부 150: 검사부
160: 제1 배선그룹 161: 제1 전원선
170: 제2 배선그룹 180: 패드부
본 발명은 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판 및 그 검사 방법에 관한 것으로, 특히 패널 내에 설치된 신호선들을 이용하여 원장단위로 검사를 수행할 수 있도록 한 유기 발광표시장치의 어레이 기판 및 그 검사 방법에 관한 것이다.
일반적으로, 다수의 유기 발광표시장치(Organic Light Emitting Display)의 패널들은 하나의 기판 상에서 형성된 후 스크라이빙(scribing) 되어 개개의 패널들로 분리된다. 이와 같은 패널들의 불량 유무를 검사하는 방법은 크게 두 가지로 나뉘어진다.
첫 번째 방법은 기판을 각각의 패널들로 스크라이빙하여 따로 검사를 수행하는 것이다. 여기서, 패널들에 대한 검사는 패널 단위의 검사 장비에서 수행된다. 만일, 패널을 구성하는 회로 배선이 변경되거나 패널의 크기가 변경되는 경우, 검 사 장비를 변경해야하거나 검사를 위해 요구되는 지그(zig)가 변경되어야하는 문제점이 발생한다. 또한, 각각의 패널들을 따로 검사해야하기 때문에 검사의 효율성도 떨어지게 된다.
두 번째 방법은 기판을 하나의 행 또는 열 단위로 스크라이빙하여 스틱(stick) 단위의 검사를 수행하는 것이다. 대한민국 공개특허 제2002-41674호 및 대한민국 공개특허 제1999-3277호에는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display)에 대해 스틱 단위로 검사를 수행하는 방법이 개시된다. 이 공개특허들은 각각의 패널이 액정으로 구성된 것을 전제로 하고 있으며, 스틱 단위의 검사를 수행하기 위하여 스틱의 양측에 검사용 패드를 구비하는 것을 특징으로 하고 있다. 특히, 스틱 단위의 검사 공정은 육안 검사를 수행하기 위하여 구비되는 것으로 기술되어 있다.
액정 표시장치의 경우, 액정이 상부 기판과 하부 기판 사이에 주입되는 공정이 필수적으로 개재되고, 특성 검사의 항목이 육안 검사에 집중되므로 스틱 단위로 검사가 수행되어도 검사시간이 길어지는 문제는 발생하지 않는다. 그러나, 유기 발광표시장치의 경우, 유기 발광층이 이미 형성된 상태에서 육안 검사 외에 다수의 검사 항목이 요구된다. 따라서, 유기 발광표시장치의 패널 검사를 스틱 단위로 수행하게 되면 검사 시간이 길어지게 된다. 즉, 유기 발광표시장치의 패널 검사는 원장 단위(Sheet Unit)로 행해져야 할 필요가 있다.
또한, 유기 발광표시장치 패널의 불량 검사 중 점등검사, 누설전류 검사, 에이징 검사 등의 검사들을 수행할 경우에는 테스트용 전원들 및 신호들을 공급받아야 한다. 따라서, 이와 같은 검사들을 다수의 패널단위로 수행하기 위해서는 패널 들 상에 서로 연결되는 테스트용 전원선들 및 신호선들이 적절히 배치되어야 한다. 그러나, 전원선들 및 신호선들이 증가함에 따라 각각의 전원선들 및 신호선들은 넓게 설계되지 못한다. 이로 인하여, 전압강하(IR drop) 및 신호지연(RC delay)과 같은 문제점이 발생하게 된다.
따라서, 본 발명의 목적은 검사만을 위한 별도의 신호선들 및 전원선들을 구비하지 않고, 패널내에 설치되는 신호선들을 이용하여 원장 단위로 유기 발광표시장치의 패널들을 검사할 수 있는 다배열 유기 발광표시장치의 어레이 기판 및 그 검사 방법을 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위하여, 본 발명의 제1 측면은 동일한 기판 상에 형성되는 다수의 패널들과, 상기 패널들 상에 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹과, 상기 패널들 상에 형성되며, 상기 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹과 전기적으로 접속되는 패드부와, 상기 패널들 상에 상기 제1 방향으로 형성되며 제1 전원을 공급받는 제1 전원선 및 상기 패널들 상에 제2 방향으로 형성되는 제2 배선그룹을 구비하며, 상기 제1 배선그룹은 상기 패널들 각각에 형성된 주사 구동부와 전기적으로 접속되는 유기 발광표시장치의 어레이 기판을 제공한다.
바람직하게, 상기 패널 각각에 형성되며 데이터선들에 데이터 신호를 공급하 기 위한 데이터 구동부와, 상기 제1 전원, 제2 전원, 주사신호 및 상기 데이터 신호를 공급받아 영상을 표시하는 화소부 및 상기 패널 각각에 형성되며 상기 제2 배선그룹에 접속되어 상기 데이터선들로 점등 검사신호를 공급하기 위한 검사부를 더 구비한다. 상기 제1 배선그룹은 상기 주사 구동부에 주사 제어신호를 공급하는 제1 배선과, 상기 주사 구동부에 제3 전원을 공급하는 제2 배선 및 상기 주사 구동부에 제4 전원을 공급하는 제3 배선을 구비한다. 상기 주사 구동부는 상기 주사 제어신호, 상기 제3 전원 및 상기 제4 전원을 공급받아 주사선들로 주사신호를 공급한다. 상기 제2 배선그룹은 상기 화소부에 상기 제2 전원을 공급하는 제4 배선 및 상기 검사부에 점등신호를 공급하는 제5 배선을 구비한다. 상기 검사부는 상기 데이터선들 각각과 접속되는 복수의 트랜지스터들을 구비한다. 상기 점등신호는 점등 제어신호 및 상기 점등 검사신호를 포함하며, 상기 트랜지스터들은 상기 점등 제어신호에 의해 턴-온되어 상기 데이터선들로 상기 점등 검사신호를 공급한다. 상기 기판 상에 형성된 다수의 상기 패널들에 대한 검사가 완료되면 상기 제1 전원선의 단부, 상기 제1 배선그룹의 상부 및 상기 제2 배선그룹의 단부 중 적어도 한 부분이 절단되어 플로팅된다.
본 발명의 제2 측면은 패널들 각각에 제1 배선그룹 및 주사 구동부가 형성되며, 상기 제1 배선그룹은 상기 주사 구동부와 접속되는 패드들과 전기적으로 접속되는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법에 있어서, 동일한 기판 상에 형성되는 다수의 상기 패널들 각각에 제1 방향으로 형성되는 제1 전원선으로 제1 전원을 공급하는 단계와, 상기 패널들 각각에 상기 제1 방향으로 형성되는 상기 제1 배선그룹으로 제1 구동신호를 공급하는 단계와, 상기 제1 구동신호에 대응하여 상기 주사 구동부에서 주사신호를 생성하는 단계와, 상기 패널들 각각에 제2 방향으로 형성되는 제2 배선그룹으로 제2 구동신호를 공급하는 단계와, 상기 제2 구동신호에 대응하여 상기 패널들 각각에 형성된 검사부에서 데이터선들로 점등 검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법을 제공한다.
바람직하게, 상기 제1 구동신호는 주사 제어신호와 상기 주사 구동부를 구동하기 위한 제3 전원 및 제4 전원을 포함한다. 상기 제2 구동신호는 제2 전원 및 상기 검사부에 입력되는 점등신호를 포함한다. 상기 점등신호는 상기 검사부를 제어하기 위한 점등 제어신호 및 상기 점등 제어신호에 의해 상기 데이터선에 공급되는 상기 점등 검사신호를 포함한다. 상기 패널들의 점등 불량 여부를 판단하기 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급한다. 상기 패널들의 누설전류 검사를 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급한다. 상기 패널들의 에이징 검사를 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급한다. 상기 복수의 제1 배선그룹 및 제2 배선그룹 중 일부로만 상기 제1 구동신호 및 제2 구동신호를 공급하여 상기 기판 상에 형성된 패널 중 일부 패널에서만 상기 점등 검사, 상기 누설 전류검사 및 상기 에이징 검사 중 적어도 하나를 수행한다. 상기 복수의 패널들에 대한 검사가 완료되면 상기 제1 전원선의 단부, 상기 제1 배선그룹의 상부 및 상기 제2 배선그룹의 단부 중 적어도 한 부분을 절단한다.
이하, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예가 첨부된 도 1 내지 도 6을 참조하여 자세히 설명하면 다음과 같다.
도 1은 본 발명의 실시예에 의한 유기 발광표시장치의 어레이 기판을 나타내는 도면이다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 유기 발광표시장치의 어레이 기판(100)은 다수의 패널(110)들을 구비한다. 각각의 패널(110)들은 화소부(120), 주사 구동부(130), 데이터 구동부(140), 검사부(150), 제1 배선그룹(160), 제2 배선그룹(170) 및 제1 전원선(161)을 구비한다.
제1 배선그룹(160)은 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)을 구비한다. 이와 같은 제1 배선그룹(160)은 수직방향(제1 방향)으로 형성된다.
제1 배선(163)은 외부로부터 주사 제어신호를 공급받아 패널(110) 각각에 형성된 주사 구동부(130)로 공급한다. 제2 배선(165)은 외부로부터 제3 전원(VDD)을 공급받아 패널(110) 각각에 형성된 주사 구동부(130)로 공급한다. 제3 배선(167)은 외부로부터 제4 전원(VSS)을 공급받아 패널(110) 각각에 형성된 주사 구동부(130)로 공급한다. 이와 같은 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)은 패널(110) 각각에 형성된 패드들(미도시)과 전기적으로 접속된다. 즉, 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)은 패널(110) 내의 구동을 위한 신호선 및 전원선들로 형성될 수 있다. 이로 인하여, 본 발명에서는 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)을 형성하기 위한 추가적인 공간이 낭비되지 않는다.
제2 배선그룹(170)은 제4 배선(173) 및 제5 배선(175)을 구비한다. 이와 같은 제2 배선그룹(170)은 수평방향(제 2방향)으로 형성된다.
제4 배선(173)은 외부로부터 제2 전원(ELVSS)을 공급받아 화소부(120)에 포함된 화소들 각각으로 공급한다. 그리고, 제5 배선(175)은 점등신호를 공급받아 패널(110) 각각에 형성된 검사부(150)로 공급한다.
제1 전원선(161)은 제1 방향으로 형성되며 패널(110)들 각각에서 제1 배선그룹(160)과 대향되는 가장자리 영역에 형성된다. 이와 같은 제1 전원선(161)은 외부로부터 제1 전원(ELVDD)을 공급받아 화소부(120)에 포함된 화소들 각각으로 공급한다.
화소부(120)는 유기 발광다이오드(Organic Light Emitting Diode)를 구비한 복수의 화소(미도시)로 이루어져 있다. 이와 같은 화소부(120)는 자신에게 공급되는 제1 전원(ELVDD), 제2 전원(ELVSS), 주사신호 및 데이터신호를 공급받아 영상을 표시한다.
주사 구동부(130)는 주사선들로 주사신호를 순차적으로 공급한다. 여기서, 주사 구동부(130)는 원장 단위의 검사를 진행할 때에는 제1 배선그룹(160)으로부터 공급되는 주사 제어신호, 제3 전원(VDD) 및 제4 전원(VSS)을 공급받아 주사신호를 생성한다. 그리고, 주사 구동부(130)는 각각의 패널(110)들이 스크라이빙된 후에는 패드들로부터 공급되는 주사 제어신호, 제3 전원(VDD) 및 제4 전원(VSS)을 공급받아 주사신호를 생성한다.
데이터 구동부(140)는 외부로부터 데이터를 공급받아 데이터 신호를 생성한다. 데이터 구동부(140)에서 생성된 데이터 신호는 화소부(120)로 공급된다. 본 실시예에서는 데이터 구동부(140)를 패널(110) 상에 내장하였지만 데이터 구동부(140)는 패널(110) 상에 구비되지 않을 수도 있다.
검사부(150)는 제5 배선(175)으로부터 점등신호를 공급받는다. 점등신호를 공급받은 검사부(150)는 점등신호를 데이터선들로 공급한다. 이와 같은 점등신호에는 화소부(120)에 포함된 화소들의 점등 검사신호, 에이징 검사신호 및 누절전류 검사신호 등이 포함된다. 이를 위해, 제5 배선(175)은 도 2에 도시된 바와 같이 점등 제어신호선(176) 및 점등 검사신호선(177)을 구비한다.
점등 제어신호선(176)은 외부로부터 점등 제어신호(TEST_GATE)를 공급받아 검사부(150)로 공급한다. 그리고, 점등 검사신호선(177)은 외부로부터 점등 검사신호(TEST_DATA)를 공급받아 검사부(150)로 공급한다. 점등 제어신호(TEST_GATE) 및 점등 검사신호(TEST_DATA)를 공급받은 검사부(150)는 데이터선들(D1 내지 Dm)로 점등신호를 공급한다. 여기서, 점등신호는 화소들의 점등 검사신호(TEST_DATA) 외에, 에이징 검사신호 및 누절전류 검사신호 등으로 설정될 수 있다.
이와 같은 검사부(150)는 원장단위의 검사를 수행할 때에는 데이터선들(D1 내지 Dm)로 점등신호를 공급하고, 그 외의 경우에는 데이터선들(D1 내지 Dm)로 신호를 공급하지 않는다. 즉, 패널(110)들이 스크라이빙 된 후에는 데이터 구동부(140)에서 데이터선들(D1 내지 Dm)로 신호를 공급한다.
한편, 검사부(150)의 위치는 다양하게 설정될 수 있다. 도 1 및 도 2에서는 도시의 편의성을 위하여 검사부(150)가 데이터 구동부(140)의 일측에 형성된 것으로 도시하였지만, 실제로 검사부(150)는 데이터 구동부(140)와 중첩되게 위치될 수 있다.
도 3은 도 1 및 도 2에 도시된 검사부의 일례를 나타내는 회로도이다.
도 3을 참조하면, 본 발명의 실시예에 의한 검사부(150)는 복수의 트랜지스터들(M1 내지 Mm)을 구비한다. 도 3에서는 복수의 트랜지스터들(M1 내지 Mm)이 PMOS인 경우를 도시하였지만, 본 발명에 이에 한정되는 것은 아니다.
복수의 트랜지스터들(M1 내지 Mm)의 게이트 전극은 점등 제어신호선(176)과 접속된다. 그리고, 복수의 트랜지스터들(M1 내지 Mm)의 제2 전극은 점등 검사신호선(177)과 접속되고, 제1 전극은 데이터선들(D1 내지 Dm)과 접속된다.
검사의 수행과정을 상세히 설명하면, 먼저 제1 배선(163)으로부터 주사 제어신호, 제2 배선(165)으로부터 제3 전원(VDD) 및 제3 배선(167)으로부터 제4 전원(VSS)이 주사 구동부(130)로 공급된다. 그러면, 주사 구동부(130)에서 주사신호를 생성하여 주사선들로 공급한다.
그리고, 점등 제어신호선(176)으로부터 점등 제어신호(TEST_GATE)(로우레벨)가 트랜지스터들(M1 내지 Mm)로 공급되어 트랜지스터들(M1 내지 Mm)이 턴-온된다. 트랜지스터들(M1 내지 Mm)이 턴-온되면 점등 검사신호선(177)으로 공급되는 점등 검사신호(TEST_DATA)가 데이터선들(D1 내지 Dm)로 공급된다.
그러면, 각각의 패널(110)에 포함되어 주사신호 및 점등 검사신호 (TEST_DATA)를 공급받은 화소들이 점등 검사신호(TEST_DATA)에 대응하여 소정 형태로 발광하게 된다.
여기서, 화소들 중 일부화소가 원하는 형태로 발광되지 않을 수 있다. 이에 의하여, 본 발명에서는 불량화소의 여부를 판별할 수 있다. 또한, 화소들로 동일한 점등 검사신호(TEST_DATA)가 공급되기 때문에 화소들의 화이트 밸런스를 측정할 수 있고, 진행성 불량도 감지할 수 있다.
한편, 점등 검사신호(TEST_DATA)로써 에이징 검사신호가 인가될 수 있다. 에이징 검사신호는 데이터선들(D1 내지 Dm)로 높은 바이어스 전압 또는 바이어스 전류를 인가하여 유기 발광 다이오드가 가지는 진행성 불량을 검출하는 것이다. 또한, 기판(100)을 저온상태 또는 고온상태로 설정한 후 점등 검사신호(TEST_DATA)를 공급함으로써 온도에 대응되는 유기 발광 다이오드의 정상 동작여부를 판별할 수 있다.
그리고, 점등 검사신호(TEST_DATA)로써 누설전류 검사신호가 인가될 수도 있다. 누설전류 검사는 화소들에 제1 전원(ELVDD) 및 제2 전원(ELVSS)이 인가된 상태에서 제1 전원선(161) 및 제4 배선(173)으로 흐르는 전류를 측정하여 수행된다. 즉, 제1 전원(ELVDD) 및 제2 전원(ELVSS)이 인가된 상태에서 검사부(150)는 전체적으로 오프시킨 후, 제1 전원선(161) 및 제4 배선(173)에 흐르는 전류를 측정하면 누설 전류를 측정할 수 있다.
한편, 본 발명에서는 기판(100)상에 설치된 복수의 패널(110)들 중 일부 패널(110)에서만 검사를 수행할 수도 있다.
도 4는 기판상에서 원장단위의 검사를 수행하는 실시예를 나타내는 도면이다.
도 4를 참조하면, 먼저 기판(100) 상에 배치되는 특정패널(300)과 접속된 제1 배선그룹(160) 및 제2 배선그룹(170)으로만 신호가 공급된다. 그리고, 특정패널(300)과 접속된 제1 전원선(161)으로 제1 전원(ELVDD)이 공급된다. 그러면, 특정패널(300)에서만 검사가 수행되고, 특정패널(300)을 제외한 나머지 패널들(110)에서는 검사가 수행되지 않는다.
검사과정을 상세히 설명하면, 먼저, 특정패널(300)에 설치되는 주사 구동부(130)는 제1 배선그룹(160)으로부터 공급되는 신호에 의하여 주사신호를 생성한다. 그리고, 특정패널(300)에 설치되는 검사부(150)는 제 2배선그룹(170)으로부터 공급되는 신호에 의하여 데이터선들(D1 내지 Dm)로 점등 검사신호(TEST_DATA)를 공급한다. 그러면, 점등 검사신호(TEST_DATA)에 대응하여 특정패널(300)에서 에이징 검사, 누설전류 검사 및 점등 검사가 순차적으로 수행될 수 있다. 이외에도 선택된 패널에 대한 다양한 검사가 수행될 수 있고, 검사 순서는 변경될 수 있다.
또한, 본 발명에서는 기판상에 설치된 패널(110)들 중 적어도 두 개의 패널(110)들에서 검사를 수행할 수 있다. 이 경우, 적어도 두 개의 패널(110)들과 접속된 복수의 제1 배선그룹(160), 제2 배선그룹(170) 및 제1 전원선(161)에 신호가 공급된다.
도 5는 기판상에서 원장단위의 검사를 수행하는 다른 실시예를 나타내는 도면이다.
도 5를 참조하면, 기판(100) 상의 제1행 1열에 배치된 패널, 제2행 2열에 배치된 패널 및 제3행 3열에 배치된 패널과 접속된 복수의 제1 배선그룹(160), 제2 배선그룹(170) 및 제1 전원선(161)으로 전원들 및 신호들이 공급된다.
제1행 1열에 배치된 패널에는 점등 검사신호(TEST_DATA)로써 점등 검사를 위한 신호가 공급된다. 그러면 제1행 1열에 배치된 패널에서는 점등 검사가 수행된다.
제2행 2열에 배치된 패널에는 점등 검사신호(TEST_DATA)로써 누설 전류 검사를 위한 신호가 공급된다. 그러면 제2행 2열에 배치된 패널에서는 누설 전류 검사가 수행된다.
제3행 3열에 배치된 패널에는 점등 검사신호(TEST_DATA)로써 에이징검사를 위한 신호가 공급된다. 그러면 제3행 3열에 배치된 패널에서는 에이징 검사가 수행된다. 이와 같은 점등 검사, 누설 전류검사 및 에이징 검사는 동시에 수행될 수도 있고 순차적으로 수행될 수도 있다. 그리고, 선택된 패널들에 대한 검사가 완료되면, 도 6에 도시된 검사들이 하나의 열씩 또는 하나의 행씩 이동되어 수행된다. 이와 같은 검사는 모든 패널에 대한 검사가 완료될 때까지 진행된다.
도 6은 스크라이빙이 완료된 유기 발광표시장치의 패널을 나타내는 도면이다.
도 6을 참조하면, 스크라이빙이 완료된 유기 발광표시장치의 패널(110)은 화소부(120), 주사 구동부(130), 데이터 구동부(140), 검사부(150) 및 패드부(180)를 구비한다.
화소부(120)는 유기 발광다이오드를 구비한 복수의 화소(미도시)로 이루어져 있다. 이와 같은 화소부(120)는 제1 패드(PELVDD)로부터 공급되는 제1 전원(ELVDD), 제3 패드(PELVSS)로부터 공급되는 제2 전원(ELVSS), 주사 구동부(130)로부터 공급되는 주사신호 및 데이터 구동부(140)로부터 공급되는 데이터신호를 공급받아 영상을 표시한다.
주사 구동부(130)는 제4 패드(Psignal)로부터 공급되는 주사 제어신호, 제5 패드(PVDD)로부터 공급되는 제3 전원(VSS) 및 제6 패드(PVSS)로부터 공급되는 제4 전원(VSS)를 공급받아 주사신호를 생성한다. 생성된 주사신호는 화소부(120)로 공급된다.
데이터 구동부(140)는 제2 패드(PDATA)로부터 데이터를 공급받아 데이터신호를 생성한다. 데이터 구동부(140)에서 생성된 데이터 신호는 화소부(120)로 공급된다.
검사부(150)는 제4 패드(Psignal)로부터 점등신호를 공급받는다. 검사가 수행되지 않는 경우, 검사부(150)에는 검사부(150)가 동작되지 않도록 점등신호들이 공급된다. 예를 들어, 검사부(150)에 하이레벨의 점등 제어신호(TEST_GATE) 및 로우 레벨의 점등 검사신호(TEST_GATE)가 공급되면 검사부(150)는 동작되지 않는다.
한편, 검사부(150)의 위치는 다양하게 설정될 수 있다. 도 6에서는 도시의 편의성을 위하여 검사부(150)가 데이터 구동부(140)의 일측에 형성된 걸로 도시하였지만, 실제로 검사부(150)는 데이터 구동부(140)와 중첩되게 위치될 수 있다.
패드부(180)는 외부로부터 공급되는 전원들 및 신호들을 패널(110)에 공급한다. 제1 패드(PELVDD)는 화소부(120)에 제1 전원(ELVDD)을 공급한다. 제2 패드(PDATA)는 데이터 구동부(140)에 데이터들을 공급한다. 제3 패드(PELVSS)는 제2 전원(ELVSS)을 화소부(120)에 공급한다. 제4 패드(Psignal)는 검사부(150)에 점등신호들을 공급하고, 주사 구동부(130)에 주사 제어신호를 공급한다. 제5 패드(PVDD)는 주사 구동부(130)에 제3 전원(VDD)을 공급한다. 그리고, 제6패드(PVSS)는 주사 구동부(130)에 제4 전원(VSS)을 공급한다.
여기서, 패드부(180)의 제4 패드들(Psignal) 중 적어도 하나와 제5 패드(PVDD) 및 제6 패드(PVSS)는 도 1 및 도 2에서 원장단위의 패널(110) 검사에 사용되었던 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)과 전기적으로 접속된다. 즉, 제1 배선(163), 제2 배선(165) 및 제3 배선(167)은 패널을 구동하는 신호선으로도 사용된다. 따라서, 원장 검사를 위한 배선과 패널을 구동하기 위한 배선을 따로 하지 않아 추가적인 공간이 낭비되지 않는다. 또한, 각각의 배선을 보다 넓게 할 수 있어 전압강하(IR drop) 및 신호지연(RC delay)을 줄일 수 있다.
스크라이빙 이후 노출되는 선들은 정전기(ESD)에 취약하므로 절단하여 플로팅(floating)시켜준다. 예를 들어, 원장 검사시 제1 전원(ELVDD)을 공급하기 위하여 사용되었던 제1 전원선(161)은 A와 같이 그 단부를 절단한다. 또한, 제1 전원선(161)에 의한 정전기가 제1 패드(PELVDD)로부터 화소부(120)로 연결되는 전원선에 영향을 주지 못하도록 이들의 연결부분도 B와 같이 절단한다. 그리고, 제4 패드(Psignal)로부터 신호를 공급받는 신호선들의 상단부도 C와 같이 절단한다. 단, 외부로부터 패널(110)에 구동 신호를 인가하는 패드부분의 전원선 및 신호선들은 절단하지 않는다. 이때, 절단 공정은 원장단위의 검사가 끝난 후 스크라이빙 되기 이전에 수행될 수도 있고, 스크라이빙 된 상태에서 수행될 수도 있다.
본 발명의 기술 사상은 상기 바람직한 실시예에 따라 구체적으로 기술되었으나, 상기한 실시예는 그 설명을 위한 것이며 그 제한을 위한 것이 아님을 주의하여야 한다. 또한, 본 발명의 기술 분야의 통상의 전문가라면 본 발명의 기술 사상의 범위 내에서 다양한 변형예가 가능함을 이해할 수 있을 것이다.
상술한 바와 같이, 본 발명에 의한 원장단위 검사가 가능한 유기 발광표시장치의 어레이 기판 및 그 검사 방법에 따르면, 원장 단위로 유기 발광표시장치의 패널들을 검사함으로써, 검사시간을 줄이면서 검사를 효율적으로 수행할 수 있다. 또 한, 검사만을 위한 별도의 신호선들 및 전원선들을 구비하지 않고, 패널 내에 설치되는 신호선들을 이용하여 검사를 수행함으로써 불필요한 배선을 줄여 전압 강하(IR drop) 및 신호지연(RC delay)을 줄일 수 있다. 또한, 스크라이빙 후 노출되는 선들을 절단함으로써 정전기에 의한 영향을 줄일 수 있다.

Claims (17)

  1. 동일한 기판 상에 형성되는 다수의 패널들;
    상기 패널들 상에 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹;
    상기 패널들 상에 형성되며, 상기 제1 방향으로 형성되는 제1 배선그룹과 전기적으로 접속되는 패드부;
    상기 패널들 상에 상기 제1 방향으로 형성되며 제1 전원을 공급받는 제1 전원선; 및
    상기 패널들 상에 제2 방향으로 형성되는 제2 배선그룹을 구비하며,
    상기 제1 배선그룹은 상기 패널들 각각에 형성된 주사 구동부와 전기적으로 접속되는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 패널 각각에 형성되며 데이터선들에 데이터 신호를 공급하기 위한 데이터 구동부;
    상기 제1 전원, 제2 전원, 주사신호 및 상기 데이터 신호를 공급받아 영상을 표시하는 화소부; 및
    상기 패널 각각에 형성되며 상기 제2 배선그룹에 접속되어 상기 데이터선들로 점등 검사신호를 공급하기 위한 검사부를 더 구비하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 배선그룹은
    상기 주사 구동부에 주사 제어신호를 공급하는 제1 배선;
    상기 주사 구동부에 제3 전원을 공급하는 제2 배선; 및
    상기 주사 구동부에 제4 전원을 공급하는 제3 배선을 구비하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  4. 제3 항에 있어서,
    상기 주사 구동부는 상기 주사 제어신호, 상기 제3 전원 및 상기 제4 전원을 공급받아 주사선들로 주사신호를 공급하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  5. 제2 항에 있어서,
    상기 제2 배선그룹은
    상기 화소부에 상기 제2 전원을 공급하는 제4 배선; 및
    상기 검사부에 점등신호를 공급하는 제5 배선을 구비하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  6. 제5 항에 있어서,
    상기 검사부는 상기 데이터선들 각각과 접속되는 복수의 트랜지스터들을 구 비하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 점등신호는 점등 제어신호 및 상기 점등 검사신호를 포함하며,
    상기 트랜지스터들은 상기 점등 제어신호에 의해 턴-온되어 상기 데이터선들로 상기 점등 검사신호를 공급하는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  8. 제1 항에 있어서,
    상기 기판 상에 형성된 다수의 상기 패널들에 대한 검사가 완료되면 상기 제1 전원선의 단부, 상기 제1 배선그룹의 상부 및 상기 제2 배선그룹의 단부 중 적어도 한 부분이 절단되어 플로팅되는 유기 발광표시장치의 어레이 기판.
  9. 패널들 각각에 제1 배선그룹 및 주사 구동부가 형성되며, 상기 제1 배선그룹은 상기 주사 구동부와 접속되는 패드들과 전기적으로 접속되는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법에 있어서,
    동일한 기판 상에 형성되는 다수의 상기 패널들 각각에 제1 방향으로 형성되는 제1 전원선으로 제1 전원을 공급하는 단계와,
    상기 패널들 각각에 상기 제1 방향으로 형성되는 상기 제1 배선그룹으로 제1 구동신호를 공급하는 단계와,
    상기 제1 구동신호에 대응하여 상기 주사 구동부에서 주사신호를 생성하는 단계와,
    상기 패널들 각각에 제2 방향으로 형성되는 제2 배선그룹으로 제2 구동신호를 공급하는 단계와,
    상기 제2 구동신호에 대응하여 상기 패널들 각각에 형성된 검사부에서 데이터선들로 점등 검사신호를 공급하는 단계를 포함하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  10. 제9 항에 있어서,
    상기 제1 구동신호는 주사 제어신호와 상기 주사 구동부를 구동하기 위한 제3 전원 및 제4 전원을 포함하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  11. 제9 항에 있어서,
    상기 제2 구동신호는 제2 전원 및 상기 검사부에 입력되는 점등신호를 포함하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  12. 제11 항에 있어서,
    상기 점등신호는
    상기 검사부를 제어하기 위한 점등 제어신호; 및
    상기 점등 제어신호에 의해 상기 데이터선에 공급되는 상기 점등 검사신호를 포함하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  13. 제12 항에 있어서,
    상기 패널들의 점등 불량 여부를 판단하기 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  14. 제12 항에 있어서,
    상기 패널들의 누설전류 검사를 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  15. 제12 항에 있어서,
    상기 패널들의 에이징 검사를 위한 신호를 상기 점등 검사신호로써 공급하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  16. 제13 항, 제14 항 및 제15 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 복수의 제1 배선그룹 및 제2 배선그룹 중 일부로만 상기 제1 구동신호 및 제2 구동신호를 공급하여 상기 기판 상에 형성된 패널 중 일부 패널에서만 상기 점등 검사, 상기 누설 전류검사 및 상기 에이징 검사 중 적어도 하나를 수행하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
  17. 제9 항에 있어서,
    상기 복수의 패널들에 대한 검사가 완료되면 상기 제1 전원선의 단부, 상기 제1 배선그룹의 상부 및 상기 제2 배선그룹의 단부 중 적어도 한 부분을 절단하는 유기 발광표시장치 어레이 기판의 원장 단위 검사 방법.
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