CN114170937B - 一种显示面板及其测试方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种显示面板及其测试方法,该显示面板包括显示区域,包括若干个像素结构;接合区域,设置于显示区域的外围,用于引出每个像素结构中像素数据线和检测线;扩展区域,设置于接合区域的外围,用于设置像素数据线的延长线、检测线的延长线、若干条用于将相邻的同种像素数据线短接的短接线以及用于在测试阶段接收输入信号扎针子区域;本发明通过设置扩展区域将接合区域的像素数据线、检测线和电源线进行延长,并将相邻的同种像素数据线进行短接,省去了开关的设置,简化了基板的外围电路设置,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。

Description

一种显示面板及其测试方法
技术领域
本发明涉及显示技术领域,特别涉及一种显示面板及其测试方法。
背景技术
为了完成Array基板的检测,在产品设计阶段,需要设计专门用于检测设备检测使用的外围线路,例如通过大小开关的设计,使得每一根数据线的信号都可以单独发送和接收,设备检出率大大提升;但由于大小开关的存在,那么外围线路的设计需要占据一块很大的空间,大大降低了玻璃的利用率。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
本发明的目的在于提供一种显示面板及显示面板的测试方法,能够省去开关的设置,简化外围线路,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
本申请实施例提供一种显示面板,包括:
显示区域,包括若干个像素结构;
接合区域,设置于显示区域的外围,用于引出每个像素结构中像素数据线和检测线;
扩展区域,设置于接合区域的外围,用于设置像素数据线的延长线、检测线的延长线、若干条用于将相邻的同种像素数据线短接的短接线以及用于在测试阶段接收输入信号扎针子区域。
在一些实施例中,显示面板中,接合区域还用于引出多条电源线,且多条电源线之间等间距排布。
在一些实施例中,显示面板中,像素结构包括三个子像素单元,三个子像素单元分别与红色像素数据线、绿色像素数据线和蓝色像素数据线连接,且三个子像素单元均与检测线和电源线连接;每个子像素单元用于在写入阶段存储红色像素数据线、绿色像素数据线或蓝色像素数据线输入的数据信息,并在读取阶段根据电源线输入的电源电压以及数据信息经检测线输出测试电流。
在一些实施例中,显示面板中,每个子像素单元包括:
数据写入子单元,与红色像素数据线、绿色像素数据线或蓝色像素数据线连接,用于在数据写入阶段存储红色像素数据线、绿色像素数据线或蓝色像素数据线写入的数据信息;
电压输入子单元,与电源线和数据写入子单元连接,用于在读取阶段输入电源电压;
测试子单元,与检测线和电压输入子单元连接,用于在读取阶段根据电源电压和数据信息输出测试电流。
在一些实施例中,显示面板中,数据写入子单元包括第一开关管和电容,第一开关管的第一端与红色像素数据线、绿色像素数据线或蓝色像素数据线连接,第一开关管的第二端与电压输入子单元和电容的一端连接,第一开关管的第三端与第一控制端连接,电容的另一端与发光二极管的阳极、测试子单元和电压输入子单元连接。
在一些实施例中,显示面板中,电压输入子单元包括第二开关管,第二开关管的第一端与电源线连接,第二开关管的第二端与发光二极管的阳极、电容的另一端和测试子单元连接,第二开关管的第三端与第一开关管的第二端连接。
在一些实施例中,显示面板中,测试子单元包括第三开关管,第三开关管的第一端与检测线连接,第三开关管的第二端与电容的另一端和第一开关管的第二端连接,第三开关管的第三端与第二控制端连接。
在一些实施例中,显示面板中,第一开关管的第一端为源极或漏极,第一开关管的第二端为漏极或源极,第一开关管的第三端为栅极。
在一些实施例中,显示面板中,第二开关管的第一端为源极或漏极,第二开关管的第二端为漏极或源极,第二开关管的第三端为栅极。
本申请实施例还提供一种显示面板的测试方法,应用于上述的显示面板,测试方法包括如下步骤:
在写入阶段,像素结构根据扎针子区域输入的像素数据线输入的数据信息;
在读取阶段,像素结构根据数据信息通过扩展区域中的检测线输出测试电流。
相较于现有技术,本发明提供了一种显示面板及其显示方法,该显示面板通过设置扩展区域将接合区域的像素数据线、检测线和电源线进行延长,也即将bonding区域末端的bonding线延长,并将相邻的同种像素数据线进行短接,在延长线的末端设置扎针子区域,在进行测试时,通过扎针子区域提供检测所需要的输入信号,进而完成测试,省去了大量开关的设置,简化了基板的外围电路设置,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
附图说明
图1为本发明提供的显示面板的结构图。
图2为本发明提供的显示面板中像素结构的结构图。
图3为本发明提供的显示面板中子像素单元的电路图。
具体实施方式
本发明的目的在于提供一种显示面板及显示面板的测试方法,能够省去开关的设置,简化外围线路,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请参阅图1,本发明提供的一种显示面板,包括显示区域10、接合区域20和扩展区域30。其中,显示区域10包括若干个像素结构11,接合区域20设置于显示区域10的外围,用于引出每个像素结构11中像素数据线41和检测线42;扩展区域30,设置于接合区域20的外围,用于设置像素数据线41的延长线、检测线42的延长线、若干条用于将相邻的同种像素数据线41短接的短接线43以及用于在测试阶段接收输入信号扎针子区域31;通过设置扩展区域30将接合区域20的像素数据线41、检测线42和电源线44进行延长,也即将bonding区域末端将bonding线延长,并将相邻的同种像素数据线41进行短接,在延长线的末端设置扎针子区域31,在进行测试时,通过扎针子区域31提供检测所需要的输入信号,进而完成测试,省去了大量开关的设置,简化了基板的外围电路设置,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
进一步地,接合区域20还用于引出多条电源线44,且多条电源线44之间等间距排布,多条电源线44在进行显示面板的测试时提供电源电压,通过将多条电源线44进行等间距排布,能够有效确保输入信号的均一性。
进一步地,请参阅图2,本实施例中测试阶段包括写入阶段和读取阶段;具体实施时,像素结构11包括三个子像素单元111,三个子像素单元111分别与红色像素数据线411、绿色像素数据线412和蓝色像素数据线413连接,且三个子像素单元111均与检测线42和电源线44连接;本实施例中每个像素结构11包括三个子像素单元111,三个子像素单元111分别对应接入红色像素数据线411、绿色像素数据线412和蓝色像素数据线413,且三个子像素单元111通过一个检测线42控制,短接线43可以将两条相邻的同种像素数据线41进行短接,也即短接线43将相邻的两条红色像素数据线411短接,将相邻的两条绿色像素数据线412短接,以及将相邻的两条蓝色数据线短接,检测线42则单独引出;当然,也可以同时短接多条相同的像素数据线41,例如,可以将四个红色像素数据线411短接,四个蓝色像素数据线413短接,四个绿色像素数据线412短接,也可以考虑八个相同的像素数据线41短接,具体可以根据实际需要进行设置,本发明对此不作限定。
在进行测试时,每个子像素单元111用于在写入阶段存储红色像素数据线411、绿色像素数据线412或蓝色像素数据线413输入的数据信息,并在读取阶段根据电源线44输入的电源电压以及数据信息经检测线42输出测试电流。扎针子区域31设置在延长线的末端,每个针可独立发送及接收信号,在测试红色子像素时,在写入阶段,红色像素数据线411施加信号,在读取阶段,电源电压施加信号,并读取检测线42的输出信号得到测试电流;那么绿色子像素和蓝色子像素的测试过程与红色子像素的测试过程相同,当每一个像素结构11的测试电流明显大于所有像素结构11测量得到测试电流的平均值,那么则表明该像素结构11异常。
进一步地,每个像素子单元包括数据写入子单元1111,与红色像素数据线411、绿色像素数据线412或蓝色像素数据线413连接,用于在数据写入阶段存储红色像素数据线411、绿色像素数据线412或蓝色像素数据线413写入的数据信息;电压输入子单元1112,与电源线44和数据写入子单元1111连接,用于在读取阶段输入电源电压;测试子单元1113,与检测线42和电压输入子单元1112连接,用于在读取阶段根据电源电压和数据信息输出测试电流;在进行测试时,每个子像素单元111根据扩展区域30的扎针子区域31的输入信号,写入数据信息,之后再读取阶段通过检测扩展区域30中检测线42的电流,即可得到测试电流,进而完成测试,进而有效简化了基板的外围线路,减小了外围线路的占用空间。
进一步地,请一并参阅图3,数据写入子单元1111包括第一开关管T1和电容C1,第一开关管T1的第一端与红色像素数据线411、绿色像素数据线412或蓝色像素数据线413连接,第一开关管T1的第二端与电压输入子单元1112和电容C1的一端连接,第一开关管T1的第三端与第一控制端连接,电容C1的另一端与发光二极管的阳极、测试子单元1113和电压输入子单元1112连接,其中,第一开关管T1的第一端为源极或漏极,第一开关管T1的第二端为漏极或源极,第一开关管T1的第三端为栅极。本实施例中,第一开关管T1在写入阶段导通,那么此时对应的像素数据线41(本实施例中为Data线)输入相应的数据信息,电容C1进入充电状态存储该数据信息;第一开关管T1在读取阶段截止,此时电容C1会进入放电状态,以便于能够通过检测线42读取测试电流。
进一步地,电压输入子单元1112包括第二开关管T2,第二开关管T2的第一端与电源线44连接,第二开关管T2的第二端与发光二极管的阳极、电容C1的另一端和测试子单元1113连接,第二开关管T2的第三端与第一开关管T1的第二端连接。其中,第二开关管T2的第一端为源极或漏极,第一开关管T1的第二端为漏极或源极,第二开关管T2的第三端为栅极。在写入阶段,电源电压(本实施例为VDD)为0V;在读取阶段,对电源线44施加电压,此时的电容C1放电,以便于检测线42输出测试电流。
进一步地,测试子单元1113包括第三开关管T3,第三开关管T3的第一端与检测线42(本实施例为Sense线)连接,第三开关管T3的第二端与电容C1的另一端和第一开关管T1的第二端连接,第三开关管T3的第三端与第二控制端连接。其中,第三开关管T3的第一端为源极或漏极,第三开关管T3的第二端为漏极或源极,第三开关管T3的第三端为栅极。本实施例中第三开关管T3在写入阶段截止,在读取阶段导通,由此可通过读取检测线42的电流得到测试电流。
本发明通过设置扩展区域30将接合区域20的像素数据线41、检测线42和电源线44进行延长,并将相邻的同种像素数据线41进行短接,在延长线的末端设置扎针子区域31,在进行测试时,通过扎针子区域31提供检测所需要的输入信号,进而完成测试,省去了大量开关的设置,简化了基板的外围电路设置,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
本发明还相应提供了一种显示面板的测试方法,该方法应用于上述的显示面板,由于上文对该显示面板进行了详细描述,此处不再赘述;测试方法包括如下步骤:
在写入阶段,像素结构根据扎针子区域输入的像素数据线输入的数据信息;
在读取阶段,像素结构根据数据信息通过扩展区域中的检测线输出测试电流。
本发明通过在接合区域的外围设置扩展区域将接合区域的像素数据线、检测线和电源线44进行延长,也即将bonding区域末端将bonding线延长,并将相邻的同种像素数据线进行短接,在延长线的末端设置扎针子区域,在进行测试时,通过扎针子区域提供检测所需要的输入信号。那么在写入阶段,由像素结构写入数据信息,在读取阶段,则通过读取检测线的电流来得到测试电流,当某一个像素结构的测试电流明显大于显示区域中所有像素结构的测试电流的平均值,则判定该像素结构异常,由此通过设置简单的外围结构即可完成显示面板的测试。
综上,本发明提供的一种显示面板及其测试方法,该显示面板包括显示区域,包括若干个像素结构;接合区域,设置于显示区域的外围,用于引出每个像素结构中像素数据线和检测线;扩展区域,设置于接合区域的外围,用于设置像素数据线的延长线、检测线的延长线、若干条用于将相邻的同种像素数据线短接的短接线以及用于在测试阶段接收输入信号扎针子区域;本发明通过设置扩展区域将接合区域的像素数据线、检测线和电源线进行延长,也即将bonding区域末端将bonding线延长,并将相邻的同种像素数据线进行短接,在延长线的末端设置扎针子区域,在进行测试时,通过扎针子区域提供检测所需要的输入信号,进而完成测试,省去了大量开关的设置,简化了基板的外围电路设置,进而降低了开关异常引起的测试异常风险,并减小了外围线路的占用空间。
可以理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种显示面板,其特征在于,包括:
显示区域,包括若干个像素结构;
接合区域,设置于所述显示区域的外围,用于引出每个像素结构中像素数据线和检测线;
扩展区域,设置于所述接合区域的外围,用于设置所述像素数据线的延长线、所述检测线的延长线、若干条用于将相邻的同种所述像素数据线短接的短接线以及用于在测试阶段接收输入信号的扎针子区域;
其中,所述接合区域还用于引出多条电源线,且多条所述电源线之间等间距排布;位于所述接合区域中的所述像素数据线、所述检测线以及所述电源线之间均并排对齐设置;位于所述扎针子区域中的所述像素数据线的延长线、所述检测线的延长线以及所述电源线之间均并排对齐设置;位于所述扩展区域中的至少部分长度的所述像素数据线的延长线以及至少部分长度的所述检测线的延长线弯折设置;
所述短接线未弯折;所述像素数据线的延长线在竖直方向上的弯折角度以及所述检测线的延长线在竖直方向上的弯折角度均小于九十度,且位于所述扩展区域外侧的所述像素数据线的延长线向所述扩展区域内侧弯折;
位于所述电源线外侧的至少部分的所述像素数据线的延长线向外侧弯折,位于所述电源线内侧的至少部分的所述像素数据线的延长线向内侧弯折;
所述接合区域与所述扎针子区域对齐设置,且所述扎针子区域中的所述像素数据线的延长线、所述检测线的延长线及所述电源线的数量总和小于所述接合区域中的所述像素数据线、所述检测线及所述电源线的数量总和。
2.根据权利要求1所述的显示面板,其特征在于,所述像素结构包括三个子像素单元,三个所述子像素单元分别与红色像素数据线、绿色像素数据线和蓝色像素数据线连接,且三个所述子像素单元均与所述检测线和所述电源线连接;所述测试阶段包括写入阶段和读取阶段,每个所述子像素单元用于在写入阶段存储所述红色像素数据线、所述绿色像素数据线或所述蓝色像素数据线输入的数据信息,并在读取阶段根据所述电源线输入的电源电压以及所述数据信息经所述检测线输出测试电流。
3.根据权利要求2所述的显示面板,其特征在于,每个所述子像素单元包括:
数据写入子单元,与所述红色像素数据线、所述绿色像素数据线或所述蓝色像素数据线连接,用于在数据写入阶段存储所述红色像素数据线、所述绿色像素数据线或所述蓝色像素数据线写入的数据信息;
电压输入子单元,与所述电源线和所述数据写入子单元连接,用于在读取阶段输入电源电压;
测试子单元,与所述检测线和所述电压输入子单元连接,用于在读取阶段根据所述电源电压和所述数据信息输出测试电流。
4.根据权利要求3所述的显示面板,其特征在于,所述数据写入子单元包括第一开关管和电容,所述第一开关管的第一端与所述红色像素数据线、所述绿色像素数据线或所述蓝色像素数据线连接,所述第一开关管的第二端与所述电压输入子单元和所述电容的一端连接,所述第一开关管的第三端与第一控制端连接,所述电容的另一端与发光二极管的阳极、所述测试子单元和所述电压输入子单元连接。
5.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述电压输入子单元包括第二开关管,所述第二开关管的第一端与所述电源线连接,所述第二开关管的第二端与所述发光二极管的阳极、所述电容的另一端和所述测试子单元连接,所述第二开关管的第三端与所述第一开关管的第二端连接。
6.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述测试子单元包括第三开关管,所述第三开关管的第一端与所述检测线连接,所述第三开关管的第二端与所述电容的另一端和所述第二开关管的第二端连接,所述第三开关管的第三端与第二控制端连接。
7.根据权利要求4所述的显示面板,其特征在于,所述第一开关管的第一端为源极或漏极,所述第一开关管的第二端为漏极或源极,所述第一开关管的第三端为栅极。
8.根据权利要求5所述的显示面板,其特征在于,所述第二开关管的第一端为源极或漏极,所述第二开关管的第二端为漏极或源极,所述第二开关管的第三端为栅极。
9.一种显示面板的测试方法,其特征在于,应用于权利要求1-8任一项所述的显示面板,所述测试方法包括如下步骤:
在写入阶段,所述像素结构根据所述扎针子区域的所述像素数据线输入数据信息;
在读取阶段,所述像素结构根据所述数据信息通过所述扩展区域中的所述检测线输出测试电流。
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GR01 Patent grant
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