CN111833786A - 显示面板及其裂纹检测方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板及其裂纹检测方法和显示装置。该显示面板，具有显示区和非显示区；显示面板包括：虚设像素电路和连接虚设像素电路的发光器件；位于非显示区的裂纹检测线，裂纹检测线的一端连接测试端子，另一端连接驱动信号线，驱动信号线连接虚设像素电路，裂纹检测线传输至驱动信号线上的信号能够控制虚设像素电路驱动发光器件发光。本发明实施例的技术方案，利用测试端子连接的裂纹检测线和对应的驱动信号线及虚设像素电路，向虚设像素电路所连接的发光器件传输测试信号，实现了显示面板的裂纹检测，有利于窄边框设计的实现，降低了检测画面异常的风险，提高了显示面板失效分析的效率及不良品被检出的效率。

Description

显示面板及其裂纹检测方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其裂纹检测方法和显示装置。

背景技术

随着显示技术的快速发展，显示面板的边框设计不断变窄，显示面板的各个制作工艺段出现异常都会产生屏体裂纹，存在较高的黑斑或异显等不良风险，因此，通过面板裂纹检测(Panel Crack Detection，PCD)技术及时识别屏体裂纹至关重要。现有裂纹检测电路占用显示面板的空间过多，不利于窄边框的实现，并且现有裂纹检测电路自身容易出现问题，无法高效快速识别屏体裂纹。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其裂纹检测方法和显示装置，以实现显示面板的裂纹检测，提高显示面板失效分析效率，并实现窄边框设计。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，具有显示区和非显示区；

所述显示面板包括：

虚设像素电路和连接所述虚设像素电路的发光器件；

位于所述非显示区的裂纹检测线，所述裂纹检测线的一端连接测试端子，另一端连接驱动信号线，所述驱动信号线连接所述虚设像素电路，所述裂纹检测线传输至所述驱动信号线上的信号能够控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光。

可选地，所述非显示区包括弯折区，所述裂纹检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线和所述第二检测线经由所述弯折区围绕所述显示区延伸；

所述驱动信号线包括第一驱动信号线和第二驱动信号线，所述第一检测线的一端连接所述测试端子，所述第一检测线的另一端连接所述第一驱动信号线；所述第二检测线的一端连接所述测试端子，所述第二检测线的另一端连接所述第二驱动信号线，所述第一检测线和所述第二检测线连接同一对所述测试端子。

可选地，所述第一驱动信号线和所述第二驱动信号线连接的所述虚设像素电路位于同一行，并呈两段分布。

可选地，所述非显示区包括弯折区，所述虚设像素电路位于所述显示区远离所述弯折区的一侧，所述测试端子位于所述弯折区。

可选地，所述虚设像素电路包括第一初始化模块、驱动模块和发光控制模块；

所述第一初始化模块用于将初始化信号写入所述驱动模块的控制端；

所述发光控制模块、所述驱动模块和所述发光器件连接于第一电源线和第二电源线之间；所述发光控制模块用于根据其控制端的信号将第一电源线的电压和第二电源线的电压供给至所述驱动模块和发光控制模块；

所述驱动模块用于根据其控制端的信号驱动所述发光器件发光；

所述驱动信号线与所述发光控制模块的控制端连接。

可选地，所述虚设像素电路包括第二初始化模块，所述第二初始化模块连接所述发光器件的第一极，所述发光器件的第二极连接第二电源线；

所述驱动信号线与所述第二初始化模块连接。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的裂纹检测方法，所述显示面板具有显示区和非显示区；所述显示面板包括：虚设像素电路和连接所述虚设像素电路的发光器件；位于所述非显示区的裂纹检测线，所述裂纹检测线的一端连接测试端子，另一端连接驱动信号线，所述驱动信号线连接所述虚设像素电路，所述裂纹检测线传输至所述驱动信号线上的信号能够控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光；

所述显示面板的裂纹检测方法包括：

向所述测试端子施加测试信号，以通过所述测试信号控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光。

可选地，所述虚设像素电路包括第一初始化模块、驱动模块、和发光控制模块和发光模块；所述第一初始化模块用于将初始化信号写入所述驱动模块的控制端；所述发光控制模块、所述驱动模块和所述发光模块器件连接于第一电源线和第二电源线之间；所述发光控制模块用于根据其控制端的信号将第一电源线的电压和第二电源线的电压供给至所述驱动模块和发光控制模块；所述驱动模块用于根据其控制端的信号驱动所述发光模块器件发光；所述驱动信号线裂纹检测线与所述发光控制模块的控制端连接；

所述显示面板的裂纹检测方法还包括：

控制所述第一初始化模块导通，并通过所述测试信号控制所述发光控制模块导通。

可选地，所述虚设像素电路包括第二初始化模块，所述第二初始化模块连接所述发光器件的第一极，所述发光器件的第二极连接第二电源线；所述驱动信号线与所述第二初始化模块连接；

所述显示面板的裂纹检测方法还包括：

控制所述第二初始化模块导通，所述第二初始化模块连通所述驱动信号线与所述发光器件的第一极。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，包括如第一方面所述的显示面板。

本发明实施例的技术方案，利用测试端子连接的裂纹检测线和对应的驱动信号线及虚设像素电路，向虚设像素电路所连接的发光器件传输测试信号，实现了显示面板的裂纹检测。本发明实施例的技术方案，利用虚设像素电路实现裂纹检测，不会对正常像素电路造成影响，并且无需在显示面板的下边框区域设置用于裂纹检测的薄膜晶体管，避免了现有裂纹检测电路占用显示面板下边框区域，以及下边框区域的薄膜晶体管存在短路或开路，使检测画面出现异常亮线等问题。本发明实施例的技术方案，节约了显示面板下边框区域大约150um宽度的空间，有利于窄边框设计的实现，降低了检测画面异常的风险，提高了显示面板失效分析的效率及不良品被检出的效率，且本方案的结构及制作工艺简单，不仅节约了制作成本，还降低了工艺段的不良风险。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种虚设像素电路的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种虚设像素电路的驱动时序图；

图4是本发明实施例提供的另一种虚设像素电路的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种虚设像素电路的驱动时序图；

图6是本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的流程示意图；

图7是本发明实施例所提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术所述，显示面板的各个制作工艺段出现异常都会产生屏体裂纹，存在较高的黑斑或异显等不良风险，而现有裂纹检测电路不仅妨碍了显示装置窄边框的实现，其自身还容易出现问题，无法高效快速识别屏体裂纹。经发明人研究发现，出现上述问题的原因在于，现有技术中的屏体裂纹检测电路通常包括多个薄膜晶体管和裂纹检测线，多个薄膜晶体管设置于显示面板的下边框区域，每个薄膜晶体管分别连接对应的数据线，每条裂纹检测线围绕屏体设置，并连接对应的测试焊盘和薄膜晶体管，以通过裂纹检测线、薄膜晶体管和数据线向对应列的像素电路传输测试信号。薄膜晶体管的设置，一方面，占用了显示面板下边框区域的空间，妨碍了窄边框的实现，限制了显示面板的设计空间，另一方面，多个薄膜晶体管之间容易出现短路或开路等情况，导致检测画面出现异常亮线。裂纹检测线的设置，不但需要连接多个测试焊盘，占用了下边框区域的空间，其还在屏体左右两侧分别形成了至少两条检测走线，占用了左右边框区域的空间，而且裂纹检测线自身还容易出现问题，使得屏体裂纹无法快速高效被识别，导致失效分析困难和工艺排查效率低等问题。另外，现有技术中通常还利用屏体点灯检测电路和模组点灯检测电路来设置裂纹检测电路，但屏体点灯检测电路和模组点灯检测电路不是同一电路和排布，增加了在屏体点灯检测和模组点灯检测时进行裂纹检测的难度。

针对上述技术问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图1所示，该显示面板1具有显示区AA和非显示区NAA；该显示面板1包括虚设像素电路100、连接虚设像素电路100的发光器件(图1中未示出)以及位于非显示区NAA的裂纹检测线10；裂纹检测线10的一端连接测试端子12，另一端连接驱动信号线11，驱动信号线11连接虚设像素电路100，裂纹检测线10传输至驱动信号线11上的信号能够控制虚设像素电路100驱动发光器件发光。

参考图1，具体地，虚设像素(Dummy Pixel)可以是在显示面板的制作过程中，为提升良率而在显示区AA靠近非显示区NAA的位置制作的。虚设像素电路100与显示区AA中的正常像素电路结构一致，例如虚设像素电路100可以是由薄膜晶体管、电容和信号走线组成，以多种连接关系形成的像素驱动电路，例如2T(薄膜晶体管)1C(电容)像素电路和7T1C像素电路等。裂纹检测线10由连接测试端子12的一端在非显示区NAA内延伸，外绕显示区AA设置，并通过其另一端连接驱动信号线11。

示例性地，对显示面板进行裂纹检测时，通过显示装置中的驱动芯片20向测试端子12施加测试信号，使测试信号通过测试端子12、裂纹检测线10、驱动信号线11和虚设像素电路100传输至虚设像素电路100所连接的发光器件，以通过测试信号控制虚设像素电路100驱动发光器件发光。当显示面板中无裂纹时，裂纹检测线10完好，可以正常传输测试信号，以使虚设像素电路100所连接的发光器件能够发光。当显示面板中出现裂纹时，裂纹检测线10会发生断裂，裂纹检测线10无法传输测试信号，虚设像素电路100所连接的发光器件无法发光。因此，向测试端子12施加测试信号后，观察显示区AA中裂纹检测线10和虚设像素电路100所连接的对应的发光器件的发光情况，即可识别显示面板是否出现裂纹，实现了显示面板的裂纹检测。

本实施例的技术方案，利用测试端子连接的裂纹检测线和对应的驱动信号线及虚设像素电路，向虚设像素电路所连接的发光器件传输测试信号，实现了显示面板的裂纹检测。本实施例的技术方案，利用虚设像素电路实现裂纹检测，不会对正常像素电路造成影响，并且无需在显示面板的下边框区域设置用于裂纹检测的薄膜晶体管，避免了现有裂纹检测电路占用显示面板下边框区域，以及下边框区域的薄膜晶体管存在短路或开路，使检测画面出现异常亮线等问题。本发明的技术方案，节约了显示面板下边框区域大约150um宽度的空间，有利于窄边框设计的实现，降低了检测画面异常的风险，提高了显示面板失效分析的效率及不良品被检出的效率，且本方案的结构及制作工艺简单，不仅节约了制作成本，还降低了工艺段的不良风险。

继续参考图1，示例性地，非显示区NAA包括弯折区B，裂纹检测线10包括第一检测线10a和第二检测线10b，第一检测线10a和第二检测线10b经由弯折区B围绕显示区AA延伸；驱动信号线11包括第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b，第一检测线10a的一端连接测试端子12，第一检测线10a的另一端连接第一驱动信号线11a；第二检测线10b的一端连接测试端子12，第二检测线10b的另一端连接第二驱动信号线11b，第一检测线10a和第二检测线10b连接同一对测试端子12。

具体地，如图1所示，弯折区B可弯折至显示面板的非显示侧，以缩减显示面板的下边框。第一检测线10a和第二检测线10b分别设置在非显示区NAA的两侧，例如第一检测线10a设置在非显示区NAA靠近显示区AA左侧的一侧，第二检测线10b设置在非显示区NAA靠近显示区AA右侧的一侧。其中，显示区AA的左侧和右侧是相对于显示区AA的上侧和下侧而言的，显示区AA的下侧是指显示区AA靠近弯折区B的一侧，显示区AA的上侧是指下侧的对侧，显示区AA的左侧和右侧是除显示区AA的上侧和下侧之外相对的两侧。第一检测线10a连接测试端子12的一端走线自弯折区B延伸至非显示区NAA，并在非显示区NAA靠近显示区AA的一侧围绕显示区AA延伸，例如第一检测线10a连接测试端子12的一端走线自弯折区B经由非显示区NAA靠近显示区AA左侧的一侧向靠近显示区AA上侧的一侧延伸，延伸至靠近显示区AA上侧的中间部位后折回，并连接至第一驱动信号线11a。第二检测线10b连接测试端子12的一端走线自弯折区B延伸至非显示区NAA，并在非显示区NAA靠近显示区AA的另一侧围绕显示区AA延伸，例如第二检测线10b连接测试端子12的一端走线自弯折区B经由非显示区NAA靠近显示区AA右侧的一侧向靠近显示区AA上侧的一侧延伸，延伸至靠近显示区AA上侧的中间部位后折回，并连接至第二驱动信号线11b。

本实施例的方案，设置第一检测线10a和第二检测线10b自测试端子12起分别绕屏半圈后连接至对应的驱动信号线11，这样在进行屏体裂纹检测时，向测试端子12施加测试信号，使测试信号通过第一检测线10a、第一驱动信号线11a及其连接的虚设像素电路100传输至该部分虚设像素电路100所连接的发光器件，同时，测试信号通过第二检测线10b、第二驱动信号线11b及其连接的虚设像素电路100传输至该部分虚设像素电路100所连接的发光器件，第一检测线10a可识别显示面板左侧的裂纹情况，第二检测线10b可识别显示面板右侧的裂纹情况，根据第一检测线10a对应连接的发光器件和第二检测线10b对应连接的发光器件的发光情况，即可实现同时识别屏体两侧的裂纹情况。

参考图1，第一检测线10a和第二检测线10b通过一对测试端子12连接显示装置中的驱动芯片20的信号输出端，例如测试端子12为金属焊盘，第一检测线10a和第二检测线10b通过一对金属焊盘与驱动芯片20的信号输出端进行绑定，驱动芯片20的信号输出端通过一对测试端子12向第一检测线10a和第二检测线10b输出同样的测试信号。现有技术中，对显示面板进行裂纹检测时，通常设置多对连接驱动芯片20和裂纹检测线的测试端子，驱动芯片20通过不同的测试端子向裂纹检测线输出不同的测试信号以实现显示面板的裂纹检测。本实施例的方案，仅设置一对测试端子12，通过一对测试端子12向裂纹检测线输出同样的测试信号以实现裂纹检测，屏体左右两侧的各设置一条裂纹检测线，还节约了左右两侧边框的空间，有利于窄边框设计的实现。另外，屏体左右两侧各设置一条裂纹检测线，还减少了经过显示面板的弯折区的走线的数量，增加了弯折区布线的空间，降低了弯折区走线出现异常情况的概率，提升了显示面板的可靠性。

继续参考图1，示例性地，第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b连接的虚设像素电路100位于同一行，并呈两段分布。图1仅示意性地示出了第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b分别连接位于同一行的三个虚设像素电路100的情况，实际应用时，可将显示区AA的一行虚设像素电路100均分为左右两段，第一驱动信号线11a连接本行左段的多个虚设像素电路100，第二驱动信号线11b连接本行右段的多个虚设像素电路100。在进行显示面板的裂纹检测时，测试信号分别通过第一检测线10a和第二检测线10b传输至第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b。若显示面板中无裂纹，第一检测线10a和第二检测线10b正常传输测试信号，该测试信号可控制第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b所连接的整行虚设像素电路100驱动其对应连接的一行发光器件发光，显示区AA的黑色检测画面中呈现一行完整的亮线；若显示面板左侧存在裂纹，第一检测线10a无法传输测试信号，第一驱动信号线11a对应连接的虚设像素电路100无法驱动其所连接的发光器件发光，第二检测线10b正常传输测试信号，第二驱动信号线11b对应连接的虚设像素电路100可驱动其所连接的发光器件发光，检测画面呈现一条位于显示区AA右端的行向亮线；反之，若显示面板的右侧存在裂纹，则对应的显示画面呈现一条位于显示区AA左端的行向亮线；若显示面板左右两侧均存在裂纹，则检测画面无亮线。本实施例的技术方案，在进行裂纹检测时，仅通过位于同一行的两段虚设像素电路100即可呈现不同检测结果对应的检测画面，实现了屏体裂纹位置的识别，相对于现有技术中应用显示区的多列用于正常显示的像素电路呈现裂纹检测画面的方案，不仅结构简单，而且不会对正常像素电路产生影响。

参考图1，示例性地，非显示区NAA包括弯折区B，虚设像素电路100位于显示区AA远离弯折区B的一侧，测试端子12位于弯折区B。在显示面板的制作过程中，为提升像素的良率，通常在显示区AA远离弯折区B的一侧，即显示区AA的上侧设计两行虚设像素，本实施例可应用该区域的一行虚设像素电路100。测试端子12位于弯折区B，即靠近显示区AA下侧的位置。这样设置的好处在于，进行裂纹检测线10的布线时，可设计裂纹检测线10从屏体下侧绕屏体半周后与虚设像素电路100所连接的驱动信号线11连接，并且虚设像素电路100位于屏体上侧，减少了裂纹检测线10占用的显示面板下边框的空间，有利于窄边框设计的实现。

图2是本发明实施例提供的一种虚设像素电路的结构示意图，结合图1和图2，本实施例中，设置虚设像素电路100包括第一初始化模块110、驱动模块120和发光控制模块130；第一初始化模块110用于将初始化信号写入驱动模块120的控制端G1；发光控制模块130、驱动模块120和发光器件D1连接于第一电源线ELVDD和第二电源线之间线ELVSS之间；发光控制模块130用于根据其控制端G2/G3的信号将第一电源线ELVDD的电压和第二电源线ELVSS的电压供给至驱动模块120和发光控制模块130；驱动模块120用于根据其控制端G1的信号驱动发光器件D1发光；驱动信号线11与发光控制模块130的控制端G2/G3连接。

结合图1和图2，示例性地，虚设像素电路100中，发光控制信号线EM沿虚设像素电路100的行方向延伸，并与一行虚设像素电路100连接，可以将连接一行虚设像素电路100的发光控制信号线EM作为驱动信号线11，并设置该发光控制信号线EM在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线11分为呈两段分布的第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b。对显示面板进行裂纹检测时，控制第一初始化模块110导通，并向测试端子12施加测试信号，测试信号通过裂纹检测线10和驱动信号线11传输至虚设像素电路100中发光控制模块130的控制端G2和G3，以通过测试信号控制发光控制模块130导通。初始化信号通过第一初始化模块110写入驱动模块120的控制端G1，第一电源线ELVDD上的第一电源电压和第二电源线ELVSS上的第二电源电压作为驱动模块120产生驱动电流的电源，驱动模块120根据其控制端G1输入的初始化信号产生驱动电流，驱动发光器件D1发光。

结合图1和图2，示例性地，虚设像素电路100的电路结构与显示区AA中驱动发光器件正常显示的像素电路的结构相同，图2示意出了虚设像素电路100为7T1C结构的像素电路的情况，可选地，虚设像素电路100包括第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6、第七晶体管T7和存储电容C，其中，第三晶体管T3、第四晶体管T4为双栅晶体管。本实施例中，仅应用虚设像素电路100中的部分薄膜晶体管及信号走线，可选地，设置驱动模块120包括第二晶体管T2，第一初始化模块110包括第四晶体管T4，发光控制模块130包括第五晶体管T5和第六晶体管T6；第二晶体管T2的栅极连接第四晶体管T4的第二极，第二晶体管T2的第一极连接第五晶体管T5的第二极，第二晶体管T2的第二极连接第六晶体管T6的第一极；第四晶体管T4的栅极连接第一扫描线Scan1，第四晶体管T4的第一极连接初始化信号线Vref；第五晶体管T5的栅极连接驱动信号线11，第五晶体管T5的第一极连接第一电源线ELVDD；第六晶体管T6的栅极连接驱动信号线11，第六晶体管T6的第二极连接发光器件D1的第一极；发光器件D1的第二极连接第二电源线ELVSS。

图3是本发明实施例提供的一种虚设像素电路的驱动时序图，可以根据图3所示的驱动时序来控制图2所示的虚设像素电路工作。结合图2和图3，以第二晶体管T2、第四晶体管T4、第五晶体管T5和第六晶体管T6均为P沟道晶体管为例，对图2所示的虚设像素电路的工作原理进行说明。其中，图2所示的虚设像素电路的工作时序至少包括裂纹检测阶段t11和正常阶段t12。

在裂纹检测阶段t11，向测试端子12施加低电平的测试信号，测试信号通过裂纹检测线10传输至驱动信号线11，第五晶体管T5和第六晶体管T6导通，第一扫描线Scan1输入低电平信号，第四晶体管T4导通。初始化信号线Vref输入初始化信号，初始化信号通过第四晶体管T4写入第二晶体管T2的栅极，第一电源线ELVDD上的第一电源电压和第二电源线ELVSS上的第二电源电压之差作为第二晶体管T2产生驱动电流的电源电压，第二晶体管T2根据其栅极输入的初始化信号产生驱动电流，驱动发光器件D1发光。

在裂纹检测阶段t11中，若显示面板中无裂纹，第一检测线10a和第二检测线10b正常传输测试信号至第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b，第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b所连接的一行虚设像素电路100驱动其对应的一行发光器件发光，黑色检测画面中呈现一行亮线；若显示面板左侧存在裂纹，第一检测线10a无法传输测试信号至第一驱动信号线11a，第一驱动信号线11a对应连接的左侧的虚设像素电路100无法驱动对应的发光器件发光，第二检测线10b正常传输测试信号至第二驱动信号线11b，第二驱动信号线11b对应连接的右侧的虚设像素电路100可驱动对应的发光器件发光，检测画面呈现一条位于显示区AA右端的行向亮线；反之，若显示面板的右侧存在裂纹，则对应的检测画面呈现一条位于显示区AA左端的行向亮线；若显示面板左右两侧均存在裂纹，则检测画面无亮线。

正常阶段t12为虚设像素电路100在除裂纹检测阶段t11之外的其他阶段，在正常阶段t12，向测试端子12施加高电平的测试信号，测试信号通过裂纹检测线10传输至驱动信号线11，第五晶体管T5和第六晶体管T6关断，第一扫描线Scan1输入高电平信号，第四晶体管T4关断。或者不向测试端子12和第一扫描线Scan1输入控制信号，第四晶体管T4、第五晶体管T5和第六晶体管T6由于无控制信号而处于关断状态。第二晶体管T2无法产生驱动发光器件D1发光的电流，发光器件D1不发光。

本实施例的技术方案，利用现有虚设像素电路结构，采用虚设像素电路中的发光控制信号线作为连接一行虚设像素电路的驱动信号线，并设置发光控制信号线在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线分为呈两段分布的第一驱动信号线和第二驱动信号线。通过裂纹检测的测试信号控制第五晶体管和第六晶体管导通，并控制第四晶体管导通，通过第四晶体管将初始化信号传输至第二晶体管的栅极，第一电源电压和第二电源电压作为第二晶体管产生驱动电流的电源，第二晶体管根据其栅极输入的初始化信号产生驱动电流，驱动发光器件发光，根据一行虚设像素电路所连接的发光器件的发光情况，即可识别显示面板的裂纹情况，实现了显示面板不同位置的裂纹检测。

图4是本发明实施例提供的另一种虚设像素电路的结构示意图，结合图1和图4，本实施例中，设置虚设像素电路100包括第二初始化模块140，第二初始化模块140连接发光器件D1的第一极，发光器件D1的第二极连接第二电源线之间线ELVSS；驱动信号线11与第二初始化模块140连接。

结合图1和图4，示例性地，虚设像素电路100中通常包含初始化信号线Vref，初始化信号线Vref输入的初始化信号可通过第二初始化模块140对发光器件D1的第一极，如阳极的电位进行初始化。本实施例中，可以将连接一行虚设像素电路100的初始化信号线Vref作为驱动信号线11，并设置该初始化信号线Vref在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线11分为呈两段分布的第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b。对显示面板进行裂纹检测时，控制第二初始化模块140导通，使得第二初始化模块140连通驱动信号线11与发光器件D1的第一极。向测试端子12施加测试信号，测试信号通过裂纹检测线10和驱动信号线11传输至虚设像素电路100中的第二初始化模块140，第二初始化模块140将初始化信号写入发光器件D1的第一极，发光器件D1的第二极输入第二电源电压，发光器件D1的两级之间形成压差，使得发光器件D1发光。

结合图1和图4，示例性地，图4示意出了虚设像素电路100为7T1C结构的像素电路的情况，可选地，虚设像素电路100包括第一晶体管T1、第二晶体管T2、第三晶体管T3、第四晶体管T4、第五晶体管T5、第六晶体管T6、第七晶体管T7和存储电容C，其中，第三晶体管T3、第四晶体管T4为双栅晶体管。本实施例中，仅应用虚设像素电路100中的部分薄膜晶体管及信号走线，可选地，设置第二初始化模块140包括第七晶体管T7，第七晶体管T7的栅极连接第三扫描线Scan3，第七晶体管T7的第一极连接发光器件D1的第一极，第七晶体管T7的第二极连接驱动信号线11；发光器件D1的第二极连接第二电源线ELVSS。

图5是本发明实施例提供的另一种虚设像素电路的驱动时序图，可以根据图5所示的驱动时序来控制图4所示的虚设像素电路工作。结合图4和图5，以第七晶体管T7为P沟道晶体管为例，对图2所示的虚设像素电路的工作原理进行说明。其中，图4所示的虚设像素电路的工作时序至少包括裂纹检测阶段t21和正常阶段t22。

在裂纹检测阶段t21，第三扫描线Scan3输入低电平信号，第七晶体管T7导通。向测试端子12施加高电平的测试信号，该高电平的测试信号可为0-4V左右的测试信号，测试信号通过裂纹检测线10传输至驱动信号线11，0-4V左右的测试信号通过第七晶体管T7写入发光器件D1的第一极，例如阳极，第二电源线ELVSS输入第二电源电压，第二电源电压的大小为-3V左右，-3V左右的第二电源电压写入发光器件D1的第二极，例如阴极，发光器件D1的两级之间形成压差，使得发光器件D1发光。

在裂纹检测阶段t21中，若显示面板中无裂纹，第一检测线10a和第二检测线10b正常传输测试信号至第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b，第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b所连接的一行虚设像素电路100驱动其对应的一行发光器件发光，黑色检测画面中呈现一行亮线；若显示面板左侧存在裂纹，第一检测线10a无法传输测试信号至第一驱动信号线11a，第一驱动信号线11a对应连接的左侧的虚设像素电路100无法驱动对应的发光器件发光，第二检测线10b正常传输测试信号至第二驱动信号线11b，第二驱动信号线11b对应连接的右侧的虚设像素电路100可驱动对应的发光器件发光，检测画面呈现一条位于显示区AA右端的行向亮线；反之，若显示面板的右侧存在裂纹，则对应的检测画面呈现一条位于显示区AA左端的行向亮线；若显示面板左右两侧均存在裂纹，则检测画面无亮线。

正常阶段t22为虚设像素电路100在除裂纹检测阶段t21之外的其他阶段，在正常阶段t22，第三扫描线Scan3输入高电平信号，第七晶体管T7关断。向测试端子12施加低电平的信号，作为初始化信号，初始化信号的电压为-3V左右。发光器件D1的第一极无信号输入，发光器件D1不发光。

本实施例的技术方案，利用现有虚设像素电路结构，采用虚设像素电路中的初始化信号线作为连接一行虚设像素电路的驱动信号线，并设置初始化信号线在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线分为呈两段分布的第一驱动信号线和第二驱动信号线。通过对测试信号的时序控制，利用第七晶体管将0-4V左右的测试信号写入发光器件的第一极，将-3V左右的第二电源电压写入发光器件的第二极，发光器件的两级之间形成压差，使得发光器件发光。根据一行虚设像素电路所连接的发光器件的发光情况，即可识别显示面板的裂纹情况，实现了显示面板不同位置的裂纹检测。本实施例的技术方案，在进行裂纹检测时，测试端子仅输入0-4V左右的测试信号驱动发光器件发光，相对于现有裂纹检测电路输入的测试信号，本方案的测试信号较低，降低了裂纹检测线的换线孔，即裂纹检测线与测试端子连接的位置发生电化学腐蚀的风险，较低的测试信号，使得本检测方案在高温可靠行测试中不易出现不良现象。

本发明实施例还提供了一种显示面板的裂纹检测方法，图6是本发明实施例提供的一种显示面板的裂纹检测方法的流程示意图，本发明实施例所提供的裂纹检测方法可对本发明实施例所提供的显示面板进行裂纹检测。参考图1，显示面板1具有显示区AA和非显示区NAA；显示面板1包括：虚设像素电路100和连接虚设像素电路100的发光器件D1；位于非显示区NAA的裂纹检测线10，裂纹检测线10的一端连接测试端子12，另一端连接驱动信号线11，驱动信号线11连接虚设像素电路100，裂纹检测线10传输至驱动信号线11上的信号能够控制虚设像素电路100驱动发光器件D1发光。相应地，如图6所示，该裂纹检测方法具体包括：

S110、向测试端子施加测试信号。

S120、通过测试信号控制虚设像素电路驱动发光器件发光。

示例性地，对显示面板进行裂纹检测时，通过显示装置中的驱动芯片20向测试端子12施加测试信号，使测试信号通过测试端子12、裂纹检测线10、驱动信号线11和虚设像素电路100传输至虚设像素电路100所连接的发光器件，以通过测试信号控制虚设像素电路100驱动发光器件发光。当显示面板中无裂纹时，裂纹检测线10完好，可以正常传输测试信号，以使虚设像素电路100所连接的发光器件能够发光。当显示面板中出现裂纹时，裂纹检测线10会发生断裂，裂纹检测线10无法传输测试信号，虚设像素电路100所连接的发光器件无法发光。因此，向测试端子12施加测试信号后，观察显示区AA中裂纹检测线10和虚设像素电路100所连接的对应的发光器件的发光情况，即可识别显示面板是否出现裂纹，实现了显示面板的裂纹检测。

参考图2，虚设像素电路100包括第一初始化模块110、驱动模块120、和发光控制模块130和发光模块；第一初始化模块110用于将初始化信号写入驱动模块120的控制端；发光控制模块130、驱动模块120和发光模块器件连接于第一电源线ELVDD和第二电源线之间线ELVSS之间；发光控制模块130用于根据其控制端的信号将第一电源线ELVDD的电压和第二电源线之间线ELVSS的电压供给至驱动模块120和发光控制模块130；驱动模块120用于根据其控制端的信号驱动发光模块器件发光；驱动信号线11裂纹检测线10与发光控制模块130的控制端连接；相应地，该显示面板的裂纹检测方法还包括：控制第一初始化模块导通，并通过测试信号控制发光控制模块导通。

结合图1和图2，示例性地，虚设像素电路100中，发光控制信号线EM沿虚设像素电路100的行方向延伸，并与一行虚设像素电路100连接，可以将连接一行虚设像素电路100的发光控制信号线EM作为驱动信号线11，并设置该发光控制信号线EM在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线11分为呈两段分布的第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b。对显示面板进行裂纹检测时，控制第一初始化模块110导通，并向测试端子12施加测试信号，测试信号通过裂纹检测线10和驱动信号线11传输至虚设像素电路100中发光控制模块130的控制端G2和G3，以通过测试信号控制发光控制模块130导通。初始化信号通过第一初始化模块110写入驱动模块120的控制端G1，第一电源线ELVDD上的第一电源电压和第二电源线ELVSS上的第二电源电压作为驱动模块120产生驱动电流的电源，驱动模块120根据其控制端G1输入的初始化信号产生驱动电流，驱动发光器件D1发光。

参考图4，虚设像素电路100包括第二初始化模块140，第二初始化模块140连接发光器件D1的第一极，发光器件D1的第二极连接第二电源线之间线ELVSS；驱动信号线11与第二初始化模块140连接；相应地，该显示面板的裂纹检测方法还包括：控制第二初始化模块导通，第二初始化模块连通驱动信号线与发光器件的第一极。

结合图1和图4，示例性地，虚设像素电路100中通常包含初始化信号线Vref，初始化信号线Vref输入的初始化信号可通过第二初始化模块140对发光器件D1的第一极，如阳极的电位进行初始化。本实施例中，可以将连接一行虚设像素电路100的初始化信号线Vref作为驱动信号线11，并设置该初始化信号线Vref在显示面板的中央位置断开，使得驱动信号线11分为呈两段分布的第一驱动信号线11a和第二驱动信号线11b。对显示面板进行裂纹检测时，控制第二初始化模块140导通，使得第二初始化模块140连通驱动信号线11与发光器件D1的第一极。向测试端子12施加测试信号，测试信号通过裂纹检测线10和驱动信号线11传输至虚设像素电路100中的第二初始化模块140，第二初始化模块140将初始化信号写入发光器件D1的第一极，发光器件D1的第二极输入第二电源电压，发光器件D1的两级之间形成压差，使得发光器件D1发光。

本发明实施例还提供了一种显示装置，该显示装置可以是手机或电脑等具有显示功能的装置。图7是本发明实施例所提供的一种显示装置的结构示意图，图7示意性地示出了该显示装置2为手机的情况，结合图1和图7，本发明实施例所提供的显示装置2包括本发明任意实施例所提供的显示面板1，还包括驱动芯片20。可选地，驱动芯片20可采用覆晶薄膜(Chip On Film，COF)的封装工艺或者基板绑定(Chip On PI，COP)的封装工艺绑定在弯折区B，以实现驱动芯片20和测试端子12及弯折区B走线的电连接，进而通过驱动芯片20向测试端子12提供测试信号，并通过驱动芯片20及弯折区B的走线向显示装置中的像素电路提供信号。本发明实施例所提供的显示装置包括本发明任意实施例所提供的显示面板，具有显示面板相应的功能结构及有益效果，这里不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，具有显示区和非显示区，所述显示面板包括：

虚设像素电路和连接所述虚设像素电路的发光器件；

位于所述非显示区的裂纹检测线，所述裂纹检测线的一端连接测试端子，另一端连接驱动信号线，所述驱动信号线连接所述虚设像素电路，所述裂纹检测线传输至所述驱动信号线上的信号能够控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括弯折区，所述裂纹检测线包括第一检测线和第二检测线，所述第一检测线和所述第二检测线经由所述弯折区围绕所述显示区延伸；

所述驱动信号线包括第一驱动信号线和第二驱动信号线，所述第一检测线的一端连接所述测试端子，所述第一检测线的另一端连接所述第一驱动信号线；所述第二检测线的一端连接所述测试端子，所述第二检测线的另一端连接所述第二驱动信号线，所述第一检测线和所述第二检测线连接同一对所述测试端子。

3.根据权利要求2所述的显示面板，其特征在于，所述第一驱动信号线和所述第二驱动信号线连接的所述虚设像素电路位于同一行，并呈两段分布。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区包括弯折区，所述虚设像素电路位于所述显示区远离所述弯折区的一侧，所述测试端子位于所述弯折区。

5.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述虚设像素电路包括第一初始化模块、驱动模块和发光控制模块；

所述第一初始化模块用于将初始化信号写入所述驱动模块的控制端；

所述发光控制模块、所述驱动模块和所述发光器件连接于第一电源线和第二电源线之间；所述发光控制模块用于根据其控制端的信号将第一电源线的电压和第二电源线的电压供给至所述驱动模块和发光控制模块；

所述驱动模块用于根据其控制端的信号驱动所述发光器件发光；

所述驱动信号线与所述发光控制模块的控制端连接。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述虚设像素电路包括第二初始化模块，所述第二初始化模块连接所述发光器件的第一极，所述发光器件的第二极连接第二电源线；

所述驱动信号线与所述第二初始化模块连接。

7.一种显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，所述显示面板具有显示区和非显示区；所述显示面板包括：虚设像素电路和连接所述虚设像素电路的发光器件；位于所述非显示区的裂纹检测线，所述裂纹检测线的一端连接测试端子，另一端连接驱动信号线，所述驱动信号线连接所述虚设像素电路，所述裂纹检测线传输至所述驱动信号线上的信号能够控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光；

所述显示面板的裂纹检测方法包括：

向所述测试端子施加测试信号，以通过所述测试信号控制所述虚设像素电路驱动所述发光器件发光。

8.根据权利要求7所述的显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，所述虚设像素电路包括第一初始化模块、驱动模块、和发光控制模块和发光模块；所述第一初始化模块用于将初始化信号写入所述驱动模块的控制端；所述发光控制模块、所述驱动模块和所述发光模块器件连接于第一电源线和第二电源线之间；所述发光控制模块用于根据其控制端的信号将第一电源线的电压和第二电源线的电压供给至所述驱动模块和发光控制模块；所述驱动模块用于根据其控制端的信号驱动所述发光模块器件发光；所述驱动信号线裂纹检测线与所述发光控制模块的控制端连接；

所述显示面板的裂纹检测方法还包括：

控制所述第一初始化模块导通，并通过所述测试信号控制所述发光控制模块导通。

9.根据权利要求7所述的显示面板的裂纹检测方法，其特征在于，所述虚设像素电路包括第二初始化模块，所述第二初始化模块连接所述发光器件的第一极，所述发光器件的第二极连接第二电源线；所述驱动信号线与所述第二初始化模块连接；

所述显示面板的裂纹检测方法还包括：

控制所述第二初始化模块导通，所述第二初始化模块连通所述驱动信号线与所述发光器件的第一极。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-6中任一所述的显示面板。

Images