CN113284443A - 显示面板及其测试方法和显示装置 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种显示面板及其测试方法和显示装置。显示面板包括：多个像素单元、多条数据线、多条数据连接线、第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；测试信号线和裂纹检测线均连接第一焊盘；第一开关连接于测试信号线和数据连接线之间，第二开关连接于裂纹检测线和数据连接线之间；第一开关用于响应于第一控制信号线上的控制信号而导通或断开测试信号线和数据连接线，第二开关用于响应于第一控制信号线上的控制信号而导通或断开裂纹检测线和数据连接线。本发明实施例的技术方案，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

Description

显示面板及其测试方法和显示装置

技术领域

本发明实施例涉及显示技术领域，尤其涉及一种显示面板及其测试方法和显示装置。

背景技术

随着显示技术的快速发展，人们对于显示装置的性能要求越来越高。为提升产品良率，通常需要在显示装置的各制作工艺段对其进行测试。目前，现有技术中的测试电路存在占用布线空间过多的问题，不但降低了显示面板的布线空间的利用率，而且还不利于窄边框设计的实现。

发明内容

本发明实施例提供一种显示面板及其测试方法和显示装置，以减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率。

第一方面，本发明实施例提供了一种显示面板，包括：

多个像素单元、多条数据线和多条数据连接线，所述像素单元连接对应的所述数据线，所述数据连接线通过对应的所述数据线连接所述像素单元；

第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；所述第一焊盘位于所述显示面板的非显示区，所述测试信号线和所述裂纹检测线均连接所述第一焊盘；所述第一控制信号线连接所述第一开关和所述第二开关的控制端，所述第一开关连接于所述测试信号线和所述数据连接线之间，所述第二开关连接于所述裂纹检测线和所述数据连接线之间，不同所述第一开关和所述第二开关连接的所述数据连接线不同；所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述测试信号线和所述数据连接线，所述第二开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述裂纹检测线和所述数据连接线。

可选地，所述测试信号线和所述裂纹检测线均位于所述非显示区，所述显示面板包括两个所述第二开关，所述裂纹检测线包括第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；

所述第一裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接一个所述第二开关，且所述第一裂纹检测线围绕所述显示面板的显示区的一侧延伸；

所述第二裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接另一个所述第二开关，且所述第二裂纹检测线围绕所述显示区的另一侧延伸。

可选地，所述非显示区还设置有第二焊盘，所述第一控制信号线连接所述第二焊盘。

可选地，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述裂纹检测线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线。

可选地，还包括第三开关、第四开关、第二控制信号线和第三控制信号线，所述第二控制信号线连接所述第三开关的控制端，所述第三控制信号线连接所述第四开关的控制端；

每条所述数据连接线均通过一个所述第三开关连接一条所述数据线，并通过一个所述第四开关连接另一条所述数据线，不同所述数据连接线对应的所述第三开关、所述第四开关和所述数据线均不同；

所述第三开关用于响应于所述第二控制信号线上的控制信号而导通或断开对应的所述数据连接线和所述数据线；所述第四开关用于响应于所述第三控制信号线上的控制信号而导通或断开对应的所述数据连接线和所述数据线。

可选地，所述第三开关包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极连接所述第二控制信号线，所述第三晶体管的第一极连接对应的所述数据连接线，所述第三晶体管的第二极连接对应的所述数据线；

所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第三控制信号线，所述第四晶体管的第一极连接对应的所述数据连接线，所述第四晶体管的第二极连接对应的所述数据线。

第二方面，本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，所述显示面板包括：

多个像素单元、多条数据线和多条数据连接线，所述像素单元连接对应的所述数据线，所述数据连接线通过对应的所述数据线连接所述像素单元；

第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；所述第一焊盘位于所述显示面板的非显示区，所述测试信号线和所述裂纹检测线均连接所述第一焊盘；所述第一控制信号线连接所述第一开关和所述第二开关的控制端，所述第一开关连接于所述测试信号线和所述数据连接线之间，所述第二开关连接于所述裂纹检测线和所述数据连接线之间，不同所述第一开关和所述第二开关连接的所述数据连接线不同；所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述测试信号线和所述数据连接线，所述第二开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述裂纹检测线和所述数据连接线；

所述显示面板的测试方法包括：

在测试阶段，向所述第一控制信号线施加控制信号，以控制所述第一开关和所述第二开关导通，并向所述第一焊盘施加测试信号；

根据所述第一开关和所述第二开关对应的所述像素单元的发光情况，测试所述显示面板是否出现裂纹。

可选地，若所述第一开关和所述第二开关对应的所述像素单元同时被点亮或熄灭，则确定所述显示面板未出现裂纹；

若所述第一开关对应的所述像素单元被熄灭，所述第二开关对应的所述像素单元被点亮，或者所述第一开关对应的所述像素单元被点亮，所述第二开关对应的所述像素单元被熄灭，则确定所述显示面板出现裂纹。

可选地，还包括：

根据所述第一开关对应的各所述像素单元的发光情况，测试所述像素单元的电学性能。

第三方面，本发明实施例还提供了一种显示装置，所述显示装置包括第一方面所述的显示面板。

本发明实施例提供的显示面板及其测试方法和显示装置，通过第一开关和第二开关构成测试电路，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，通过第一控制信号线向第一开关和第二开关传输同一控制信号，并通过第一焊盘向第一开关和第二开关传输同一测试信号，既可实现显示面板的裂纹检测，同时还能实现像素单元的点亮测试，并且裂纹检测和点亮测试可共用相同的控制信号和测试信号。与现有技术相比，本方案无需在非显示区中单独设计PCD电路和CT电路，以及PCD电路和CT电路分别对应的传输控制信号和测试信号的焊盘以及ESD电路，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种信号波形图；

图4是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图；

图5是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

正如背景技术所述，现有技术中的测试电路存在占用布线空间过多的问题，不但降低了显示面板的布线空间的利用率，而且还不利于窄边框设计的实现。经发明人研究发现，出现上述问题的原因在于：现有显示面板的测试电路包括裂纹检测(Panel CrackDetection，PCD)电路和点灯测试(Cell Test，CT)电路，PCD电路用于识别屏体边缘裂纹，CT电路用于对显示面板中的像素单元进行点亮测试。PCD电路和CT电路均设置在显示面板的下边框区域，显示面板的下边框区域中还包括用于向PCD电路传输控制信号及测试信号的焊盘，用于向CT电路传输控制信号及测试信号的焊盘，以及PCD电路对应的静电释放(Electro-Static discharge，ESD)电路和CT电路对应的ESD电路，使得下边框区域的布线空间变少，降低了布线空间的利用率，不利于窄边框设计的实现。

针对上述问题，本发明实施例提供了一种显示面板。图1是本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图，如图1所示，该显示面板包括：

多个像素单元PX、多条数据线DL和多条数据连接线L1，像素单元PX连接对应的数据线DL，数据连接线L1通过对应的数据线DL连接像素单元PX；

第一开关10、第二开关20、第一控制信号线L2、测试信号线L3、裂纹检测线PCD和第一焊盘Data pad；第一焊盘Data pad位于显示面板的非显示区，例如位于下边框区，测试信号线L3和裂纹检测线PCD均连接第一焊盘Data pad。第一控制信号线L2连接第一开关10和第二开关20的控制端，第一开关10连接于测试信号线L3和数据连接线L1之间，第二开关20连接于裂纹检测线PCD和数据连接线L1之间，不同第一开关10和第二开关20连接的数据连接线L1不同；第一开关10和第二开关20均可以根据控制端的信号导通或者关断，第一开关10用于响应于第一控制信号线L2上的控制信号而导通或断开测试信号线L3和数据连接线L1，第二开关20用于响应于第一控制信号线L2上的控制信号而导通或断开裂纹检测线PCD和数据连接线L1。

具体地，每个像素单元PX可包括发光器件和用于驱动发光器件进行发光显示的像素电路。发光器件可以是有机发光二极管，像素电路可由薄膜晶体管和存储电容构成，例如像素电路可以由两个薄膜晶体管和一个存储电容构成，或者由七个薄膜晶体管和一个存储电容构成。薄膜晶体管包括驱动晶体管和开关晶体管，像素电路通过开关晶体管连接对应的数据线DL，开关晶体管在导通时，可以将数据线DL上的数据电压传输至存储电容，通过存储电容来存储数据电压，以使驱动晶体管能够根据存储电容存储的数据电压产生驱动电流，进而驱动有机发光二极管进行发光显示。

每一列像素单元PX中的像素电路连接同一条数据线DL，不同列像素单元PX中的像素电路连接不同的数据线DL。数据连接线L1连接对应的数据线DL，用于向对应的数据线DL传输信号，进而通过数据线DL向像素单元PX传输信号。图1示出了每条数据连接线L1连接两条数据线DL，不同数据连接线L1连接不同数据线DL的情况，在实际应用中，每条数据连接线L1可连接至少一条数据线DL，本实施例对此不进行限制。

第一控制信号线L2接收控制信号，第一开关10和第二开关20均可响应于第一控制信号线L2上的控制信号而导通或关断。第一焊盘Data pad接收测试信号，在第一开关10导通时，第一焊盘Data pad接收的测试信号通过测试信号线L3、第一开关10、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，以通过测试信号控制像素单元PX中的发光器件进行发光显示。显示面板包括显示区AA和围绕显示区AA的非显示区，裂纹检测线PCD位于非显示区，并围绕显示区AA设置，用于识别屏体是否出现裂纹，例如当显示面板对应于裂纹检测线PCD的设置区域中出现裂纹，则裂纹检测线PCD会发生断裂，当显示面板对应于裂纹检测线PCD的设置区域中未出现裂纹，则裂纹检测线PCD保持完整，未出现断裂。裂纹检测线PCD的一端连接第一焊盘Data pad，另一端连接第二开关20，在第二开关20导通，且屏体未出现裂纹时，裂纹检测线PCD保持完整，第一焊盘Data pad接收的测试信号通过裂纹检测线PCD、第二开关20、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，以通过测试信号控制像素单元PX中的发光器件进行发光显示；若屏体出现裂纹，裂纹检测线PCD出现断裂，第一焊盘Data pad接收的测试信号则无法通过裂纹检测线PCD向对应的像素单元PX传输，进而无法控制像素单元PX中的发光器件进行发光显示。

显示面板的制作工艺阶段包括屏体段和模组段，屏体段是指显示面板在邦定驱动芯片之前的阶段，模组段是指已完成显示面板及驱动芯片的邦定的阶段，应用本发明实施例提供的显示面板，可实现在屏体段和模组段对显示面板的测试。示例性地，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，均可向第一控制信号线L2施加控制信号，以控制第一开关10和第二开关20导通，并向第一焊盘Data pad施加测试信号，根据第一开关10和第二开关20对应的像素单元PX的发光情况，测试显示面板是否出现裂纹。

若显示面板未出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号可通过测试信号线L3、第一开关10、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，并通过裂纹检测线PCD、第二开关20、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，显示面板中的各列像素单元PX均可接收到测试信号，并根据该测试信号控制发光器件显示相应的画面，各列像素单元PX中的发光器件显示的画面一致。若显示面板出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号仍可通过测试信号线L3、第一开关10、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，但无法通过裂纹检测线PCD传输至对应的像素单元PX，第一开关10对应的各列像素单元PX(例如图1示出了10列像素单元PX，从左侧起的第3-8列像素单元PX为第一开关10对应的各列像素单元PX，其余列的像素单元PX为第二开关20对应的各列像素单元PX)可根据接收到的测试信号控制发光器件显示相应的画面，而第二开关20对应的各列像素单元PX无法显示测试信号对应的画面。根据第一开关10对应的各列像素单元PX和第二开关20对应的各列像素单元PX显示的画面是否相同，即可检测显示面板中是否出现裂纹。另外，在检测显示面板是否出现裂纹的同时，也可实现对显示面板中的像素单元的点亮测试(即点灯测试)，根据第一开关10对应的各列像素单元PX显示的画面是否相同，即可确定各像素单元PX是否能够被正常点亮，进而确定各像素单元PX的电学性能。

现有技术中，显示面板的下边框区域包括PCD电路、用于向PCD电路传输控制信号和测试信号的焊盘、PCD电路对应的ESD电路、CT电路、用于向CT电路传输控制信号和测试信号的焊盘以及CT电路对应的ESD电路。本发明实施例提供的显示面板，通过第一开关和第二开关构成测试电路，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，通过第一控制信号线向第一开关和第二开关传输同一控制信号，并通过第一焊盘向第一开关和第二开关传输同一测试信号，既可实现显示面板的裂纹检测，同时还能实现像素单元的点亮测试，并且裂纹检测和点亮测试可共用相同的控制信号和测试信号。与现有技术相比，本方案无需在非显示区中单独设计PCD电路和CT电路，以及PCD电路和CT电路分别对应的传输控制信号和测试信号的焊盘以及ESD电路，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

参见图1，在上述方案的基础上，可选地，测试信号线L3和裂纹检测线PCD均位于非显示区，显示面板包括两个第二开关20，裂纹检测线PCD包括第一裂纹检测线PCD1和第二裂纹检测线PCD2；第一裂纹检测线PCD1的一端连接第一焊盘Data pad，第一裂纹检测线PCD1的另一端连接一个第二开关20，且第一裂纹检测线PCD1围绕显示面板的显示区AA的一侧延伸；第二裂纹检测线PCD2的一端连接第一焊盘Data pad(图1示出了第二裂纹检测线PCD2通过测试信号线L3连接第一焊盘Data pad的情况)，第一裂纹检测线PCD1的另一端连接另一个第二开关20，且第二裂纹检测线PCD2围绕显示区AA的另一侧延伸。

具体地，第一裂纹检测线PCD1和第二裂纹检测线PCD2均位于非显示区，第一裂纹检测线PCD1围绕显示区AA的右半侧区域延伸，以识别显示面板的右半侧区域是否存在裂纹。第二裂纹检测线PCD2围绕显示区AA的左半侧区域延伸，以识别显示面板的左半侧区域是否存在裂纹。

示例性地，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，第一开关10在导通时可将测试信号线L3上的测试信号通过数据连接线L1和数据线DL传输至第3-8列像素单元PX，显示面板一侧的第二开关20在导通时可将第二裂纹检测线PCD2上的测试信号通过数据连接线L1和数据线DL传输至第1、2列像素单元PX，另一侧的第二开关20在导通时可将第一裂纹检测线PCD1上的测试信号通过数据连接线L1和数据线DL传输至第9、10列像素单元PX。若显示面板未出现裂纹，则各列像素单元PX均可根据接收到的测试信号控制发光器件显示相应的画面，各列像素单元PX显示相同的画面。若显示面板的左侧出现裂纹，则第二裂纹检测线PCD2发生断裂，第1、2列像素单元PX无法接收测试信号，因此第1、2列像素单元PX与第3-8列像素单元PX的显示画面不同；若显示面板的右侧出现裂纹，则第一裂纹检测线PCD1发生断裂，第9、10列像素单元PX无法接收测试信号，因此第9、10列像素单元PX与第3-8列像素单元PX的显示画面不同。根据第1、2列像素单元PX和第9、10列像素单元PX的固定位置处的像素单元与其他列的像素单元的显示画面是否相同，即可识别显示面板是否出现裂纹，以及裂纹位于显示面板的左侧或右侧。

参见图1，可选地，非显示区还设置有第二焊盘SW pad，第一控制信号线L2连接第二焊盘SW pad。第二焊盘SW pad用于接收控制信号，第一焊盘Data pad用于接收测试信号，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，向第一焊盘Data pad施加测试信号，向第二焊盘SW pad施加控制信号，即可通过同样的控制信号和测试信号显示面板的裂纹检测和像素单元的点亮测试，裂纹检测和点亮测试可共用相同的控制信号和测试信号。与现有技术相比，本方案无需在非显示区中单独设计用于向PCD电路传输控制信号和测试信号的焊盘，以及用于向CT电路传输控制信号和测试信号的焊盘，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

图2是本发明实施例提供的另一种显示面板的结构示意图，如图2所示，可选地，第一开关10包括第一晶体管T1，第一晶体管T1的栅极连接第一控制信号线L2，第一晶体管T1的第一极连接测试信号线L3，第一晶体管T1的第二极连接对应的数据连接线L1；第二开关20包括第二晶体管T2，第二晶体管T2的栅极连接第一控制信号线L2，第二晶体管T2的第一极连接裂纹检测线PCD，第二晶体管T2的第二极连接对应的数据连接线L1。

图3是本发明实施例提供的一种信号波形图，具体可对应于图2所示显示面板中的第一焊盘Data pad接收到的测试信号Data和第二焊盘SW pad接收到的控制信号SW的波形示意图。结合图2和图3，以第一晶体管T1和第二晶体管T2均是P沟道的薄膜晶体管为例进行说明：

示例性地，在显示面板的测试阶段t1(该测试阶段可为屏体段或模组段的测试阶段)之前，控制信号SW和测试信号Data均为高电平信号，第一晶体管T1和第二晶体管T2均关断。

在显示面板的测试阶段t1，控制信号SW为低电平信号，测试信号Data为高电平信号，第一晶体管T1和第二晶体管T2均导通。若显示面板中未出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号可通过测试信号线L3、第一晶体管T1、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，并通过裂纹检测线PCD、第二晶体管T2、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，显示面板中的各列像素单元PX均可接收到高电平的测试信号，并根据该测试信号控制发光器件显示相应的画面，以高电平的测试信号对应的显示画面是黑画面为例，则各列像素单元PX中的发光器件均显示黑画面。若显示面板中出现裂纹，则第3-8列像素单元PX仍可根据接收到的高电平的测试信号控制控制发光器件显示黑画面，裂纹区域对应的裂纹检测线PCD发生断裂，对应列的像素单元PX无法接收到高电平的测试信号，则相对于显示黑画面的第3-8列像素单元PX，发生断裂的裂纹检测线PCD对应的像素单元PX显示亮画面，例如发生断裂的裂纹检测线PCD对应的像素单元PX为绿色像素单元时，则显示画面中第1、2列像素单元PX和/或第9、10列像素单元PX的位置处显示绿色亮线。若绿色亮线位于第1、2列像素单元PX所在区域，则显示面板的左侧出现裂纹；若绿色亮线位于第9、10列像素单元PX所在区域，则显示面板的右侧出现裂纹。

在显示面板的测试阶段t1之后，控制信号SW和测试信号Data均为高电平信号，第一晶体管T1和第二晶体管T2均关断。

参见图1和图2，可选地，显示面板还包括第三开关30、第四开关40、第二控制信号线L4和第三控制信号线L5，第二控制信号线L4连接第三开关30的控制端，第三控制信号线L5连接第四开关40的控制端；每条数据连接线L1均通过一个第三开关30连接一条数据线DL，并通过一个第四开关40连接另一条数据线DL，不同数据连接线L1对应的第三开关30、第四开关40和数据线DL均不同；第三开关30用于响应于第二控制信号线L4上的控制信号而导通或断开对应的数据连接线L1和数据线DL；第四开关40用于响应于第三控制信号线L5上的控制信号而导通或断开对应的数据连接线L1和数据线DL。

具体地，第二控制信号线L4上的控制信号Demux1用于控制第三开关30导通或关断，以使第三开关30在导通时将数据连接线L1上的信号传输至相应的数据线DL。第三控制信号线L5上的控制信号Demux2用于控制第四开关40导通或关断，以使第四开关40在导通时将数据连接线L1上的信号传输至相应的数据线DL。第三开关30和第四开关40构成了多路选择器，使每条数据连接线L1上的信号均能够分时传输至对应的两条数据线DL。在实际应用中，每条数据连接线也可以直接连接对应的一条数据线，与该方案相比，本方案通过设置每条数据连接线L1通过第三开关30和第四开关40构成的多路选择器连接对应的两条数据线DL，能够将非显示区中的数据连接线的数量减半，有助于节约显示面板的布线空间。

继续参见图1和图2，在上述方案的基础上，可选地，第三开关30包括第三晶体管T3，第三晶体管T3的栅极连接第二控制信号线L4，第三晶体管T3的第一极连接对应的数据连接线L1，第三晶体管T3的第二极连接对应的数据线DL；第四开关40包括第四晶体管T4，第四晶体管T4的栅极连接第三控制信号线L5，第四晶体管T4的第一极连接对应的数据连接线L1，第四晶体管T4的第二极连接对应的数据线DL。

示例性地，以第三晶体管T3和第四晶体管T4均为P沟道的薄膜晶体管为例进行说明。在第二控制信号线L4接收的控制信号Demux1为低电平信号时，第三晶体管T3导通，数据连接线L1上的信号通过第三晶体管T3传输至对应的数据线DL，并通过该数据线DL传输至对应的像素单元PX，使像素单元PX根据接收到的信号驱动发光器件进行发光显示。在第三控制信号线L5接收的控制信号Demux2为低电平信号时，第四晶体管T4导通，数据连接线L1上的信号通过第四晶体管T4传输至对应的数据线DL，并通过该数据线DL传输至对应的像素单元PX，使像素单元PX根据接收到的信号驱动发光器件进行发光显示。

本发明实施例还提供了一种显示面板的测试方法，图4是本发明实施例提供的一种显示面板的测试方法的流程示意图。参见图1，该显示面板包括：

多个像素单元PX、多条数据线DL和多条数据连接线L1，像素单元PX连接对应的数据线DL，数据连接线L1通过对应的数据线DL连接像素单元PX；

第一开关10、第二开关20、第一控制信号线L2、测试信号线L3、裂纹检测线PCD和第一焊盘Data pad；第一焊盘Data pad位于显示面板的非显示区，测试信号线L3和裂纹检测线PCD均连接第一焊盘Data pad；第一控制信号线L2连接第一开关10和第二开关20的控制端，第一开关10连接于测试信号线L3和数据连接线L1之间，第二开关20连接于裂纹检测线PCD和数据连接线L1之间，不同第一开关10和第二开关20连接的数据连接线L1不同；第一开关10用于响应于第一控制信号线L2上的控制信号而导通或断开测试信号线L3和数据连接线L1，第二开关20用于响应于第一控制信号线L2上的控制信号而导通或断开裂纹检测线PCD和数据连接线L1；

相应地，如图4所示，显示面板的测试方法包括：

S110、在测试阶段，向第一控制信号线施加控制信号，以控制第一开关和第二开关导通，并向第一焊盘施加测试信号。

S120、根据第一开关和第二开关对应的像素单元的发光情况，测试显示面板是否出现裂纹。

参见图1，示例性地，若显示面板未出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号可通过测试信号线L3、第一开关10、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，并通过裂纹检测线PCD、第二开关20、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，显示面板中的各列像素单元PX均可接收到测试信号，并根据该测试信号控制发光器件显示相应的画面，各列像素单元PX中的发光器件显示的画面一致。若显示面板出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号仍可通过测试信号线L3、第一开关10、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，但无法通过裂纹检测线PCD传输至对应的像素单元PX，第一开关10对应的各列像素单元PX(例如图1示出了10列像素单元PX，从左侧起的第3-8列像素单元PX为第一开关10对应的各列像素单元PX，其余列的像素单元PX为第二开关20对应的各列像素单元PX)可根据接收到的测试信号控制发光器件显示相应的画面，而第二开关20对应的各列像素单元PX无法显示测试信号对应的画面。根据第一开关10对应的各列像素单元PX和第二开关20对应的各列像素单元PX显示的画面是否相同，即可检测显示面板中是否出现裂纹。另外，在检测显示面板是否出现裂纹的同时，也可实现对显示面板中的像素单元的点亮测试(即点灯测试)，根据第一开关10对应的各列像素单元PX显示的画面是否相同，即可确定各像素单元PX是否能够被正常点亮，进而确定各像素单元PX的电学性能。

本发明实施例提供的显示面板的测试方法，通过第一开关和第二开关构成测试电路，在显示面板的屏体段和模组段的测试阶段中，通过第一控制信号线向第一开关和第二开关传输同一控制信号，并通过第一焊盘向第一开关和第二开关传输同一测试信号，既可实现显示面板的裂纹检测，同时还能实现像素单元的点亮测试，裂纹检测和点亮测试可共用相同的控制信号和测试信号。与现有技术相比，本方案无需在非显示区中单独设计PCD电路和CT电路，以及PCD电路和CT电路分别对应的传输控制信号和测试信号的焊盘以及ESD电路，有助于减少测试电路占用的下边框面积，从而提升下边框区域的布线空间利用率，并提升显示装置的良率。

在上述方案的基础上，可选地，显示面板的测试方法还包括：若第一开关10和第二开关20对应的像素单元PX同时被点亮或熄灭，则确定显示面板未出现裂纹；若第一开关对应的像素单元被熄灭，第二开关对应的像素单元被点亮，或者第一开关对应的像素单元被点亮，第二开关对应的像素单元被熄灭，则确定显示面板出现裂纹。

示例性地，结合图2和图3，以第一开关10包括第一晶体管T1，第二开关20包括第二晶体管T2，第一晶体管T1和第二晶体管T2均是P沟道的薄膜晶体管为例进行说明。在显示面板的测试阶段t1，控制信号SW为低电平信号，测试信号Data为高电平信号，第一晶体管T1和第二晶体管T2均导通。若显示面板中未出现裂纹，则第一焊盘Data pad接收的测试信号可通过测试信号线L3、第一晶体管T1、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，并通过裂纹检测线PCD、第二晶体管T2、数据连接线L1和数据线DL传输至对应的像素单元PX，显示面板中的各列像素单元PX均可接收到高电平的测试信号，并根据该测试信号控制发光器件显示相应的画面，以高电平的测试信号对应的显示画面是黑画面为例，则各列像素单元PX中的发光器件均显示黑画面(相当于被熄灭)。若显示面板中出现裂纹，则第3-8列像素单元PX仍可根据接收到的高电平的测试信号控制控制发光器件显示黑画面，裂纹区域对应的裂纹检测线PCD发生断裂，对应列的像素单元PX无法接收到高电平的测试信号，则相对于显示黑画面的第3-8列像素单元PX，发生断裂的裂纹检测线PCD对应的像素单元PX显示亮画面(相当于被点亮)，例如发生断裂的裂纹检测线PCD对应的像素单元PX为绿色像素单元时，则显示画面中第1、2列像素单元PX和/或第9、10列像素单元PX的位置处显示绿色亮线。若绿色亮线位于第1、2列像素单元PX所在区域，则显示面板的左侧出现裂纹；若绿色亮线位于第9、10列像素单元PX所在区域，则显示面板的右侧出现裂纹。本发明实施例的技术方案，根据第一开关和第二开关对应的像素单元是否同时被点亮或熄灭，来确定显示面板是否出现裂纹，有利于简化显示面板的裂纹检测方法，并提升裂纹检测效率。

在上述方案的基础上，可选地，显示面板的测试方法还包括：根据第一开关对应的各像素单元的发光情况，测试像素单元的电学性能。示例性地，在检测显示面板是否出现裂纹的同时，也可实现对显示面板中的像素单元的点亮测试，例如根据第一开关10对应的各列像素单元PX是否同时被点亮或熄灭，或者根据第一开关10对应的各列像素单元PX显示的画面是否相同，即可确定第一开关10对应的各像素单元PX是否能够被正常点亮，进而确定各像素单元PX的电学性能。

本发明实施例还提供了一种显示装置，图5是本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。图5示意性地示出了显示装置100为手机的情况，实际应用中，该显示装置100还可以是电脑或平板电脑等具有显示功能的设备。本发明实施例所提供的显示装置，包括本发明上述任意实施例所提供的显示面板，因此，本发明实施例所提供的显示装置具有本发明上述任意实施例所提供的显示面板的功能结构及有益效果，这里不再赘述。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

多个像素单元、多条数据线和多条数据连接线，所述像素单元连接对应的所述数据线，所述数据连接线通过对应的所述数据线连接所述像素单元；

第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；所述第一焊盘位于所述显示面板的非显示区，所述测试信号线和所述裂纹检测线均连接所述第一焊盘；所述第一控制信号线连接所述第一开关和所述第二开关的控制端，所述第一开关连接于所述测试信号线和所述数据连接线之间，所述第二开关连接于所述裂纹检测线和所述数据连接线之间，不同所述第一开关和所述第二开关连接的所述数据连接线不同；所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述测试信号线和所述数据连接线，所述第二开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述裂纹检测线和所述数据连接线。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述测试信号线和所述裂纹检测线均位于所述非显示区，所述显示面板包括两个所述第二开关，所述裂纹检测线包括第一裂纹检测线和第二裂纹检测线；

所述第一裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接一个所述第二开关，且所述第一裂纹检测线围绕所述显示面板的显示区的一侧延伸；

所述第二裂纹检测线的一端连接所述第一焊盘，所述第一裂纹检测线的另一端连接另一个所述第二开关，且所述第二裂纹检测线围绕所述显示区的另一侧延伸。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述非显示区还设置有第二焊盘，所述第一控制信号线连接所述第二焊盘。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一开关包括第一晶体管，所述第一晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第一晶体管的第一极连接所述测试信号线，所述第一晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线；

所述第二开关包括第二晶体管，所述第二晶体管的栅极连接所述第一控制信号线，所述第二晶体管的第一极连接所述裂纹检测线，所述第二晶体管的第二极连接对应的所述数据连接线。

5.根据权利要求1-4中任一所述的显示面板，其特征在于，还包括第三开关、第四开关、第二控制信号线和第三控制信号线，所述第二控制信号线连接所述第三开关的控制端，所述第三控制信号线连接所述第四开关的控制端；

每条所述数据连接线均通过一个所述第三开关连接一条所述数据线，并通过一个所述第四开关连接另一条所述数据线，不同所述数据连接线对应的所述第三开关、所述第四开关和所述数据线均不同；

所述第三开关用于响应于所述第二控制信号线上的控制信号而导通或断开对应的所述数据连接线和所述数据线；所述第四开关用于响应于所述第三控制信号线上的控制信号而导通或断开对应的所述数据连接线和所述数据线。

6.根据权利要求5所述的显示面板，其特征在于，所述第三开关包括第三晶体管，所述第三晶体管的栅极连接所述第二控制信号线，所述第三晶体管的第一极连接对应的所述数据连接线，所述第三晶体管的第二极连接对应的所述数据线；

所述第四开关包括第四晶体管，所述第四晶体管的栅极连接所述第三控制信号线，所述第四晶体管的第一极连接对应的所述数据连接线，所述第四晶体管的第二极连接对应的所述数据线。

7.一种显示面板的测试方法，其特征在于，所述显示面板包括：

多个像素单元、多条数据线和多条数据连接线，所述像素单元连接对应的所述数据线，所述数据连接线通过对应的所述数据线连接所述像素单元；

第一开关、第二开关、第一控制信号线、测试信号线、裂纹检测线和第一焊盘；所述第一焊盘位于所述显示面板的非显示区，所述测试信号线和所述裂纹检测线均连接所述第一焊盘；所述第一控制信号线连接所述第一开关和所述第二开关的控制端，所述第一开关连接于所述测试信号线和所述数据连接线之间，所述第二开关连接于所述裂纹检测线和所述数据连接线之间，不同所述第一开关和所述第二开关连接的所述数据连接线不同；所述第一开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述测试信号线和所述数据连接线，所述第二开关用于响应于所述第一控制信号线上的控制信号而导通或断开所述裂纹检测线和所述数据连接线；

所述显示面板的测试方法包括：

在测试阶段，向所述第一控制信号线施加控制信号，以控制所述第一开关和所述第二开关导通，并向所述第一焊盘施加测试信号；

根据所述第一开关和所述第二开关对应的所述像素单元的发光情况，测试所述显示面板是否出现裂纹。

8.根据权利要求7所述的显示面板的测试方法，其特征在于，若所述第一开关和所述第二开关对应的所述像素单元同时被点亮或熄灭，则确定所述显示面板未出现裂纹；

若所述第一开关对应的所述像素单元被熄灭，所述第二开关对应的所述像素单元被点亮，或者所述第一开关对应的所述像素单元被点亮，所述第二开关对应的所述像素单元被熄灭，则确定所述显示面板出现裂纹。

9.根据权利要求8所述的显示面板的测试方法，其特征在于，还包括：

根据所述第一开关对应的各所述像素单元的发光情况，测试所述像素单元的电学性能。

10.一种显示装置，其特征在于，包括权利要求1-6中任一所述的显示面板。

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