CN116092425A - 一种像素电路、显示面板及显示装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种像素电路、显示面板及显示装置,像素电路包括:驱动电路与第一发光元件的阳极电连接;驱动电路用于向第一发光元件提供驱动信号,以控制第一发光元件进行发光;检测电路与第一发光元件的阴极电连接;检测电路用于根据第一发光元件的阴极电位,输出检测信号;修复电路分别与驱动电路和第二发光元件电连接;修复电路用于接收修复信号,并根据修复信号控制向第二发光元件提供的驱动信号,以控制第二发光元件进行发光;其中,修复信号与检测信号关联;第二发光元件与第一发光元件的发光时间不同。本发明提供的技术方案,以解决像素电路中发光元件出现破损而影响显示效果的问题,提升显示面板的良率。
Description
技术领域
本发明实施例涉及显示技术领域,尤其涉及一种像素电路、显示面板及显示装置。
背景技术
随着显示技术的快速发展,对显示品质的要求也越来越高。像素电路中的发光元件通常采用微发光二极管(Micro Light Emitting Diode,Micro LED),使得显示面板有着高对比度、快速响应、广视角、宽色域、高亮度、低功耗、寿命长,稳定性好等诸多优势优点,Micro LED显示技术有望成为下一代主流显示技术。
然而,由于Micro LED体积小,Micro LED在与驱动基板键合过程中,易出现破损而无法点亮,从而影响显示面板的显示效果。
发明内容
本发明提供一种像素电路、显示面板及显示装置,以解决像素电路中发光元件出现破损而影响显示效果的问题,提升显示面板的良率。
第一方面,本发明实施例提供了一种像素电路,包括:驱动电路、检测电路、修复电路、第一发光元件和第二发光元件;
所述驱动电路与所述第一发光元件的阳极电连接;所述驱动电路用于向所述第一发光元件提供驱动信号,以控制所述第一发光元件进行发光;
所述检测电路与所述第一发光元件的阴极电连接;所述检测电路用于根据所述第一发光元件的阴极电位,输出检测信号;
修复电路分别与所述驱动电路和所述第二发光元件电连接;所述修复电路用于接收修复信号,并根据所述修复信号控制向所述第二发光元件提供的驱动信号,以控制所述第二发光元件进行发光;
其中,所述修复信号与所述检测信号关联;所述第二发光元件与所述第一发光元件的发光时间不同。
第二方面,本发明实施例还提供了一种显示面板,包括:显示区;
所述显示区包括阵列排布的多个如第一方面所述的像素电路。
第三方面,本发明实施例还提供了一种显示装置,包括如第二方面所述的显示面板。
本发明的技术方案,通过设置驱动电路与第一发光元件的阳极电连接,以向第一发光元件提供驱动信号,控制第一发光元件进行发光。检测电路与第一发光元件的阴极电连接,可以根据第一发光元件的阴极电位输出检测信号,第一发光元件在正常工作时对应的阴极电位与异常时对应的阴极电位不同,使得检测电路根据阴极电位输出的检测信号也不同;修复电路分别与驱动电路和第二发光元件电连接,修复电路接收到的修复信号与检测信号相关联,即检测信号不同对应修复信号也会不同,如此,在第一发光元件正常工作时,检测电路输出的检测信号对应的修复信号,可以控制第二发光元件不发光,而当第一发光元件异常时,检测电路输出的检测信号对应的修复信号,可以使得修复电路控制向第二发光元件提供的驱动信号,以控制第二发光元件进行发光,保证像素电路的正常工作,以满足显示需求,提升显示效果,进而提高包含该像素电路的显示面板的良率。
应当理解,本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征,也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图做一简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图虽然是本发明的一些具体的实施例,对于本领域的技术人员来说,可以根据本发明的各种实施例所揭示和提示的器件结构,驱动方法和制造方法的基本概念,拓展和延伸到其它的结构和附图,毋庸置疑这些都应该是在本发明的权利要求范围之内。
图1为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图;
图2为本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图;
图3为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图4为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图5为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图6为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图7为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图8为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图9为图8中第一发光元件正常工作时的驱动时序图;
图10为图8中第一发光元件异常时的驱动时序图;
图11为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图12为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图;
图13为图12中第一发光元件正常工作时的驱动时序图;
图14为图12中第一发光元件异常时的驱动时序图;
图15为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图;
图16为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,以下将参照本发明实施例中的附图,通过实施方式清楚、完整地描述本发明的技术方案,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例所揭示和提示的基本概念,本领域的技术人员所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
图1为本发明实施例提供的一种像素电路的结构示意图,如图1所示,像素电路10包括:驱动电路11、检测电路12、修复电路13、第一发光元件14和第二发光元件15;驱动电路11与第一发光元件14的阳极电连接;驱动电路11用于向第一发光元件14提供驱动信号,以控制第一发光元件14进行发光;检测电路12与第一发光元件14的阴极电连接;检测电路12用于根据第一发光元件14的阴极电位,输出检测信号;修复电路13分别与驱动电路11和第二发光元件15电连接;修复电路13用于接收修复信号,并根据修复信号控制向第二发光元件15提供的驱动信号,以控制第二发光元件15进行发光;其中,修复信号与检测信号关联;第二发光元件15与第一发光元件14的发光时间不同。
其中,第一发光元件14和第二发光元件15可以是有机发光二极管(OLED)、次毫米发光二极管(Mini LED)或者微型发光二极管(Micro LED),本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。此外,第一发光元件14和第二发光元件15包括但不限于红色发光元件、绿色发光元件、蓝色发光元件、白色发光元件、黄色发光元件、青色发光元件或品红发光元件,本发明实施例对此不做具体限定。
可以理解的是,驱动电路11可以是现有的2T1C电路、7T1C电路或者其他任意一种能够驱动第一发光元件14发光的电路,本发明实施例对此不做具体限定。
具体的,在驱动电路11向第一发光元件14提供驱动信号,以控制第一发光元件14进行发光时,检测电路12实时检测第一发光元件14的阴极电位,可以理解的是,第一发光元件14是否正常发光对应其的阴极电位会不同,例如当第一发光元件14发光时,驱动电路11提供的驱动信号可以通过第一发光元件14传输至其阴极,使其阴极的电位为高电平,而当第一发光元件14未发光时,驱动电路11提供的驱动信号无法通过第一发光元件14传输至其阴极,此时,第一发光元件14的阴极电位为低电平。如此,检测电路12可以根据检测第一发光元件14的阴极电位确定第一发光元件14是否正常发光,并输出对应的检测信号,由于修复信号与检测信号关联,在检测信号对应第一发光元件14正常发光时,此时修复电路13在接收到修复信号后,可以根据修复信号控制第二发光元件15停止进行发光,而当检测检测信号对应第一发光元件14未正常发光或者不能发光时,此时修复电路13在接收到的修复信号后,可以根据修复信号控制第二发光元件15进行发光,保证像素电路的正常发光,以满足显示需求,提升包括该像素电路10的显示面板的良率。
本发明实施例中,通过设置驱动电路与第一发光元件的阳极电连接,以向第一发光元件提供驱动信号,控制第一发光元件进行发光。检测电路与第一发光元件的阴极电连接,可以根据第一发光元件的阴极电位输出检测信号,第一发光元件在正常工作时对应的阴极电位与异常时对应的阴极电位不同,使得检测电路根据阴极电位输出的检测信号也不同;修复电路分别与驱动电路和第二发光元件电连接,修复电路接收到的修复信号与检测信号相关联,即检测信号不同对应修复信号也会不同,如此,在第一发光元件正常工作时,检测电路输出的检测信号对应的修复信号,可以控制第二发光元件不发光,而当第一发光元件异常时,检测电路输出的检测信号对应的修复信号,可以使得修复电路控制向第二发光元件提供的驱动信号,以控制第二发光元件进行发光,保证像素电路的正常工作,以满足显示需求,提升显示效果,进而提高包含该像素电路的显示面板的良率。
可选的,图2为本发明实施例提供的另一种像素电路的结构示意图,如图2所示,检测电路12包括第一分压模块121、第二分压模块122和放大模块123;第一分压模块121分别与第一发光元件14的阴极和第一电源端PVEE电连接,且第一分压模块121与第一发光元件14的阴极电连接于第一节点N1;第一分压模块121用于对第一电源端PVEE的第一电源信号Pvee进行分压;第二分压模块122分别与第一节点N1和放大模块123电连接;第二分压模块122用于对第一节点N1的电位进行分压,输出分压信号至放大模块123;放大模块123用于对分压信号进行增益调节后,输出检测信号。
具体的,第一分压模块121和第二分压模块122可以具有相同或不同的结构,例如均为电阻或者晶体管,本发明实施例对此不做具体限定。在第一发光元件14正常工作时,驱动电路11向第一发光元件14提供驱动信号,即驱动电流,驱动第一发光元件14发光,此时对应第一节点N1的电位可以是高电平,第一节点N1的电位通过第二分压模块122传输至放大模块123,使得放大模块123输出的检测信号为第一检测信号。而当第一发光元件14工作异常时,第一节点N1的电位为第一分压模块121对第一电源端PVEE的第一电源信号Pvee分压后的电压值,例如为低电平,并通过第二分压模块122的分压后传输至放大模块123,使得放大模块123对分压信号进行增益调节,输出的检测信号为第二检测信号,可以理解的是,第一检测信号与第二检测信号的电压值不同,进而在检测信号与修复信号关联时,使得复位电路13在第一发光元件14工作正常和异常时对应接收到的修复信号也不会不同,当第一发光元件14异常时,可使得修复电路13能够根据修复信号控制向第二发光元件15提供的驱动信号,进而控制第二发光元件15进行发光,以满足显示需求,保证显示效果。
可以理解的是,放大模块123能够对分压信号进行增益调节,提升检测的准确性,放大模块123可以包括现有的任何放大电路,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。
可选的,图3为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图3所示,第一分压模块121包括第一晶体管T1,第一晶体管T1的第一极与第一发光元件14的阴极电连接,第一晶体管T1的第二极与第一电源端PVEE电连接,第一晶体管T1的栅极与第一扫描信号端S1电连接;在第一发光元件14或第二发光元件15进行发光的至少部分时间内,第一扫描信号端S1的第一扫描信号s1控制第一晶体管T1导通。
其中,第一晶体管T1可以是N沟道晶体管,也可以是P沟道晶体管,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。当第一晶体管T1为P沟道晶体管时,第一扫描信号端S1提供的第一扫描信号s1为低电平时,可控制第一晶体管T1导通,第一扫描信号端S1提供的第一扫描信号s1为高电平时,可控制第一晶体管T1关闭。当第一晶体管T1为N沟道晶体管时,第一扫描信号端S1提供的第一扫描信号s1为高电平时,可控制第一晶体管T1导通,第一扫描信号端S1提供的第一扫描信号s1为低电平时,可控制第一晶体管T1关闭。图3示例性的示出第一晶体管T1为P沟道晶体管,但不限于此。
具体的,在第一发光元件14或第二发光元件15的发光阶段,第一扫描信号端S1提供的第一扫描信号s1控制第一晶体管T1处于导通状态,可以理解的是,第一晶体管T1通常存在一定的内阻,可对第一电源端PVEE的第一电源信号Pvee进行分压,使得第一发光元件14在正常工作时和异常时对应的第一节点N1的电位不同,进而能够使得第一节点N1的电位在经过第二分压模块122的分压后,经过放大模块123的增益调节后,输出相应的检测信号,保证检测电路12对第一节点N1电位检测的准确性。
可选的,继续参考图3所示,第二分压模块122包括第二晶体管T2,第二晶体管T2的第一极与第一节点N1电连接,第二晶体管T2的第二极与放大模块123电连接,第二晶体管T2的栅极与第二扫描信号端S2电连接;在第一发光元件14或第二发光元件15进行发光的至少部分时间内,第二扫描信号端S1的第二扫描信号s2控制第二晶体管T1导通。
其中,第二晶体管T2可以是N沟道晶体管,也可以是P沟道晶体管,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。当第二晶体管T2为P沟道晶体管时,第二扫描信号端S2提供的第二扫描信号s2为低电平时,可控制第二晶体管T2导通,第二扫描信号端S2提供的第二扫描信号s2为高电平时,可控制第二晶体管T2关闭。当第二晶体管T2为N沟道晶体管时,第二扫描信号端S2提供的第二扫描信号s2为高电平时,可控制第二晶体管T2导通,第二扫描信号端S2提供的第二扫描信号s2为低电平时,可控制第二晶体管T2关闭。图3示例性的示出第二晶体管T2为P沟道晶体管,但不限于此。
具体的,在第一发光元件14或第二发光元件15发光阶段,第二扫描信号端S2提供的第二扫描信号s2控制第二晶体管T2处于导通状态,可以理解的是,第二晶体管T2通常存在一定的内阻,可对第一节点N1的电位进行分压,保证第一节点N1的电位经过第二晶体管T2的分压后能够可靠地传输至放大模块123,进而能够使得放大模块123能够根据分压信号输出检测信号,保证检测信号的准确性。
可选的,继续参考图3所示,第一扫描信号端S1复用为第二扫描信号端S2。
具体的,在第一发光元件14或第二发光元件15的发光阶段,第一晶体管T1和第二晶体管T2均处于导通状态,第一晶体管T1和第二晶体管T2可以均为P沟道晶体管或N沟道晶体管,此时,将第一扫描信号端S1复用为第二扫描信号端S2,可减少扫描信号端子的设置数量,以及减少扫描信号线的数量,简化线路布局,利于窄边框设计,同时有利于提高分辨率。
在其他实施例中,可选的,图4为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图4所示,第一分压模块121包括第一电阻R1,第一电阻R1的一端与第一发光元件14的阴极电连接于第一节点N1,第一电阻R1的另一端与第一电源端PVEE电连接。
其中,第一电阻R1的阻值可以是任意值,本发明实施对此不做具体限定,可根据实际需求设置。第一电阻R1可以对第一电源端PVEE提供的第一电源信号Pvee进行分压,在第一发光元件14正常工作时,对应第一节点N1的电位为UR+UPVEE,其中,UR为第一电阻R1的压降,UPVEE为第一电源端PVEE的电压值,而在第一发光元件14工作异常时,对应第一节点N1的电位为UPVEE-UR,如此,通过第一电阻R1可使得检测模块12能够通过检测第一节点N1的电位确定第一发光元件14是否正常工作,从而输出相应的检测信号,再由修复电路13根据修复信号控制第二发光元件15的工作状态,保证较好的显示效果。
需要说明的是,第一分压模块121和第二分压模块122包括但不限于图3和图4所示结构,在没有特殊说明的情况下,以下实施例均以第一分压模块121和第二分压模块122为晶体管为例进行说明。
可选的,图5为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图5所示,放大模块123包括运算放大器A、第一电容C1和第二电阻R2;运算放大器A的同相输入端与第二分压模块122的输出端电连接,运算放大器A的反相输入端与第一电源端PVEE电连接;第二电阻R2电连接在运算放大器A的同相输入端和运算放大器A的输出端OUT之间;第一电容C1与第二电阻R2并联连接。
具体的,运算放大器A对同相输入端输入的分压信号的增益调节放大倍数与第二电阻R2的阻值相关,由于运算放大器A的反相输入端与第一电源端PVEE电连接,运算放大器A可以是差分放大器,当第一发光元件14正常工作时,此时,运算放大器A的同相输入端输入的分压信号通常会大于第一电源端PVEE提供的第一电源信号Pvee的电压值,运算放大器A将会对同相输入端输入的分压信号进行放大增益调节,并输出经过运算放大器A放大增益后的检测信号,例如检测信号为高电平。而当第一发光元件14异常时,第一节点N1的电位为对第一电源端PVEE的第一电源信号Pvee进行分压后的电压值,即第一节点N1的电位的电压值小于第一电源信号Pvee的电压值,使得运算放大器A无法对同向输入端的分压信号进行增益调节,此时,输出端OUT输出的检测信号则为低电平。如此,通过放大模块123可以实现根据第一节点N1的不同电位输出不同的检测信号,以体现第一发光元件14的不同工作状态。可以理解的是,第一电容C1可起到滤波作用,避免噪声信号的影响,保证输出端OUT输出的检测信号的准确性和稳定性,提高检测精准性。
可选的,图6为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图6所示,驱动电路11包括驱动晶体管DT和数据写入模块111;数据写入模块111与驱动晶体管DT电连接;数据写入模块111用于控制数据信号写入驱动晶体管DT的栅极;驱动晶体管DT的第二极与第一发光元件14的阳极电连接于第二节点N2;驱动晶体管DT用于根据数据信号向第一发光元件14提供驱动信号。
示例性的,如图6所示,数据写入模块111可以与驱动晶体管DT的栅极直接电连接,以向驱动晶体管DT的栅极写入数据信号,数据写入模块111可以包括数据写入晶体管T0,数据写入晶体管T0的第一极与数据信号端DATA电连接,数据写入晶体管T0的第二极与驱动晶体管DT的栅极电连接,扫描信号Scan可控制数据写入晶体管T0处于导通状态时,将数据信号端DATA提供的数据信号Vdata写入到驱动晶体管DT的栅极,使得驱动晶体管DT能够根据数据信号Vdata向第一发光元件14提供驱动信号。存储电容Cst用于存储写入到驱动晶体管DT的栅极的数据信号Vdata,保证第一发光元件14的稳定发光。
在其他实施例中,图7为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图7所示,图7示例性的示出了像素电路为7TIC(即包括六个开关晶体管、一个驱动晶体管DT和一个存储电容Cst)电路的电路结构示意图,可以理解的,像素电路中的六个开关晶体管分别在相应的扫描信号(Scan1、Scan2、Emit)的控制下导通或断开,以控制数据信号Vdata、初始化信号和复位信号Vref的传输路径的通断,以及控制向发光元件14提供驱动电流的时间。数据写入模块111与驱动晶体管DT的第一极电连接,在驱动晶体管DT的第二极与栅极之间通常还设置有阈值补偿晶体管,以补偿驱动晶体管DT的阈值电压。如此,当第二电源端PVDD的正性电源信号Pvdd传输至驱动晶体管DT的第一极后,同时,第一发光元件14的阴极写入的第一电源信号Pvee为负性电源信号,从正性电源信号到负性电源信号形成电流通路,使得驱动晶体管DT根据写入其栅极的数据信号及其第一极的正性电源信号Pvdd之间的电压差产生驱动电流,驱动第一发光元件14进行发光。
需要说明的是,驱动晶体管DT可以是P沟道晶体管或N沟道晶体管,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。图6和图7示例性的示出驱动晶体管DT为P沟道晶体管,但不限于此。
值得注意的是,像素电路的结构包括但不限于图6和图7所示的结构,可根据实际需求进行设置,在没有特殊说明的情况下,以下实施例均以像素电路为图6所示的结构为例进行说明。
可选的,图8为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图8所示,修复电路13包括开关模块131和控制模块132;开关模块131分别与修复信号端V1和控制模块132电连接;开关模块131用于控制修复信号端V1的修复信号v1向控制模块132传输的传输路径;控制模块132用于根据修复信号v1,向第二发光元件15提供驱动信号,以控制第二发光元件15进行发光。
具体的,开关模块131可以是控制修复信号端V1的修复信号v1向控制模块132传输的传输路径一直导通,或者根据第二发光元件15的发光状态来调整的,即在第二发光元件15需要发光时,控制修复信号端V1的修复信号v1向控制模块132传输的传输路径一直导通,而在第二发光元件15无需发光时,控制修复信号端V1的修复信号v1向控制模块132传输的传输路径断开,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。当在修复信号端V1的修复信号v1向控制模块132传输的传输路径导通时,修复信号v1传输至控制模块132,控制模块132可以根据修复信号v1,向第二发光元件15提供驱动信号,以控制第二发光元件15进行发光,以在第一发光元件14异常时,能够通过控制第二发光元件15发光,保证像素电路10的正常工作,以满足显示需求,提升显示效果。
在一可选的实施例中,继续参考图8所示,开关模块131包括第三晶体管T3,控制模块132包括第四晶体管T4;第三晶体管T3的第一极与修复信号端V1电连接,第三晶体管T3的第二极与第四晶体管T4的栅极电连接,第三晶体管T3的栅极与第三扫描信号端S3电连接;第四晶体管T4的第一极与第二节点N2电连接,第四晶体管T4的第二极与第二发光元件15的阳极电连接。在第一发光元件14发光时,第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通,且修复信号端V1的修复信号v1控制第四晶体管T4断开;在第二发光元件15发光时,第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通,且修复信号端V1的修复信号v1控制第四晶体管T4导通。
其中,第三晶体管T3和第四晶体管T4可以是P沟道晶体管或者N沟道晶体管,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。图8示例性的示出第三晶体管T3和第四晶体管T4均为P沟道晶体管。
具体的,图9为图8中第一发光元件正常工作时的驱动时序图,图10为图8中第一发光元件异常时的驱动时序图,结合图8~图10所示,在发光阶段,当第一发光元件14正常工作时,检测电路12检测第一节点N1的电位,并输出检测信号Vout(例如Vout为高电平VGH),由于检测信号Vout与修复信号v1关联,此时修复信号v1也可以为高电平VGH,并在第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通时,将修复信号v1传输至第四晶体管T4,控制第四晶体管T4关闭,使得驱动晶体管DT无法向第二发光元件15提供驱动信号,从而使得第二发光元件15无法进行发光。然而,当第一发光元件14正常异常时,检测电路12检测第一节点N1的电位,并输出检测信号Vout(例如Vout为低电平VGL),此时修复信号v1也可以为低电平VGL,并在第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通时,将修复信号v1传输至第四晶体管T4,控制第四晶体管T4导通,使得驱动晶体管DT向第二发光元件15提供驱动信号,驱动第二发光元件15进行发光,以保证像素电路10的正常发光,满足显示需求,提升显示效果。
可以理解的是,参考图9所示,扫描信号Scan1在发光阶段的部分时间段向数据写入晶体管T0提供使能电平(即低电平VGL),控制数据写入晶体管T0导通,使得数据信号Vdata写入到驱动晶体管DT的栅极后,存储到存储电容Cst内,在后续发光阶段内,仍能保证第一发光元件14的正常发光。
可选的,继续参考图8所示,修复电路13还包括存储模块133;存储模块133用于存储修复信号v1。存储模块133可以是电容,在修复信号v1通过第三晶体管T3传输至第四晶体管T4的栅极后,能够存储在存储模块133中,如此,可使得第三扫描信号s3也可以在发光阶段的部分时间段向第三晶体管T3提供使能电平(即低电平VGL),控制第三晶体管T3导通,在后续发光阶段内,修复信号v1能够始终控制第四晶体管T4导通或关闭。
可选的,继续参考图8所示,存储模块133的一端耦接于开关模块131和控制模块132之间,存储模块133的另一端与第二节点N2电连接。可也理解的是,无论驱动电路11驱动第一发光元件14发光还是驱动第二发光元件15发光,存储模块133都能够存储写入到第四晶体管T4的栅极的修复信号v1,以保证在第三晶体管T3关闭的情况下,仍能持续、稳定地控制第四晶体管T4的导通或关闭。
在其他实施例中,可选的,图11为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图11所示,存储模块133的一端耦接于开关模块131和控制模块132之间,存储模块133的另一端与第三电源端VDD电连接。
具体的,第三电源端VDD可以是任意固定电源信号端,本发明实施例对此不做具体限定,图8所示的第二电源端PVDD可以复用为第三电源端VDD,如此可以减少电源信号线的数量,利于简化电路。
值得注意的是,在没有特殊说明的情况下,以下实施例均以存储模块133为图11所示的结构为例进行说明。
在另一可选的实施例中,图12为本发明实施例提供的又一种像素电路的结构示意图,如图12所示,开关模块131包括第三晶体管T3,控制模块132包括第五晶体管T5和第六晶体管T6;第三晶体管T3的第一极与修复信号端V1电连接,第三晶体管T3的第二极与第五晶体管T5的栅极电连接,第三晶体管T3的栅极与第三扫描信号端S3电连接。第五晶体管T5的第一极与数据信号端DATA电连接,第五晶体管T5的第二极与第六晶体T6的栅极电连接;第六晶体管T6的第一极与第二电源端PVDD电连接,第六晶体管T6的第二极与第二发光元件15的阳极电连接;第二发光元件15的阴极与第一电源端PVEE电连接;第一电源端PVEE的第一电源信号Pvee与第二电源端PVDD的第二电源信号Pvdd的极性不同。在第一发光元件14发光时,第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通,且修复信号端V1的修复信号v1控制第五晶体管T5断开;在第二发光元件15发光时,第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通,且修复信号端V1的修复信号v1控制第五晶体管T5导通。
其中,第五晶体管T5和第六晶体管T6可以是P沟道晶体管或N沟道晶体管,本发明实施例对此不做具体限定,可根据实际需求设置。图12示例性的示出第五晶体管T5和第六晶体管T6均为P沟道晶体管。
具体的,图13为图12中第一发光元件正常工作时的驱动时序图,图14为图12中第一发光元件异常时的驱动时序图,结合图12~图14所示,在发光阶段,当第一发光元件14正常工作时,检测电路12检测第一节点N1的电位,并输出检测信号Vout(例如Vout为高电平VGH),由于检测信号Vout与修复信号v1关联,此时修复信号v1也可以为高电平VGH,并在第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通时,将修复信号v1传输至第五晶体管T5,控制第五晶体管T5关闭,使得数据信号端DATA的数据信号Vdata无法写入到第六晶体管T6的栅极,从而使得第六晶体管T6处于关闭状态,无法驱动第二发光元件15发光。然而,当第一发光元件14正常异常时,检测电路12检测第一节点N1的电位,并输出检测信号Vout(例如Vout为低电平VGL),此时修复信号v1也可以为低电平VGL,并在第三扫描信号端S3的第三扫描信号s3控制第三晶体管T3导通时,将修复信号v1传输至第五晶体管T5,控制第五晶体管T5导通,使得数据信号端DATA的数据信号Vdata写入到第六晶体管T6的栅极,控制第六晶体管T6导通,此时,第二电源端PVDD提供的第二电源信号Pvdd可以是正性电源信号,第一电源端PVEE提供的第一电源信号Pvee可以是负性电源信号,从正性电源信号到负性电源信号形成电流通路,使得第六晶体管T6根据写入其栅极的数据信号Vdata及其第一极的正性电源信号Pvdd之间的电压差产生驱动电流,驱动第二发光元件15进行发光。如此,以保证像素电路10的正常发光,满足显示需求,提升显示效果。
可选的,继续参考图12所示,数据写入模块111包括数据写入晶体管T0,数据写入晶体管T0的第一极与数据信号端DATA电连接,数据写入晶体管T0的第二极与驱动晶体管DT的栅极电连接;数据写入晶体管T0的沟道类型与第五晶体管T5的沟道类型相反。
具体的,设置数据写入晶体管T0的沟道类型与第五晶体管T5的沟道类型相反,可以使得修复信号端V1的修复信号v1复用为控制数据写入晶体管T0导通或关闭的扫描信号,以减少扫描信号线的数量,简化电路结构。同时,可以保证第一发光元件14和第二发光元件15不会同时发光,避免影响显示效果。
可选的,继续参考图12所示,数据写入晶体管T0包括N沟道晶体管,第五晶体管T5包括P沟道晶体管。如此,在发光阶段,第一发光元件14正常工作时,可使得修复电路13接收修复信号v1为高电平VGH,控制数据写入晶体管T0导通,使得数据信号端DATA的数据信号Vdata写入到驱动晶体管DT的栅极,且修复信号v1可以通过第三晶体管T3传输至第五晶体管T5,控制第五晶体管T5关闭,避免数据信号Vdata写入到第六晶体管T6,进而避免驱动第二发光元件15发光。反之,在发光阶段,第一发光元件14异常时,修复信号v1为低电平VGL,控制数据写入晶体管T0关闭的同时,可以控制第六晶体管T6导通,从而驱动第二发光元件15发光。
基于同一发明构思,本发明实施例还提供了一种显示面板,图15为本发明实施例提供的一种显示面板的结构示意图,如图15所示,显示面板100包括显示区AA;显示区AA包括阵列排布的多个如上述任一实施例中的像素电路10。
可以理解的是,相邻像素电路10中的发光元件的发光颜色可以相同或不同,本发明实施对此不做具体限定,可根据实际需求设置。
可选的,继续参考图15所示,显示面板100还包括:围绕显示区AA的非显示区NA;非显示区NA包括驱动芯片设置区101;驱动芯片设置区101用于设置驱动芯片20;显示区AA还包括多条检测信号线L1和修复信号线L2;位于同一行或同一列的像素电路10的检测电路12与同一检测信号线L1,以及位于同一行或同一列的像素电路10的修复电路13与同一修复信号线L2电连接;驱动芯片20分别与各条检测信号线L1和各条修复信号线L2电连接;驱动芯片20用于根据各条检测信号线L1传输的检测信号一一对应地向各条修复信号线L2提供修复信号。
示例性的,图12示出位于同一行的像素电路10的检测电路12与同一检测信号线L1,以及位于同一行的像素电路10的检测电路12与同一修复信号线L2电连接,但不限于此。驱动芯片设置区101可以是位于显示面板100的任意非显示区NA内,图12示例性的示出驱动芯片设置区101位于显示面板100的下边框区域,驱动芯片20分别与各条检测信号线L1和各条修复信号线L2电连接,使得驱动芯片20能够根据各条检测信号线L1传输的检测信号一一对应地向各条修复信号线L2提供修复信号,以保证在像素电路10中第一发光元件14工作异常时,能够控制第二发光元件15发光,满足显示面板100的显示需求,提升显示面板100的良率。
本发明实施例还提供了一种显示装置,图16为本发明实施例提供的一种显示装置的结构示意图,如图16所示,本发明实施例提供的显示装置200包括本发明实施例提供的显示面板100的技术特征,能够达到本发明实施例提供的显示面板100的有益效果,在此不再赘述。本发明实施例提供的显示装置200可以为手机,也可以为任何具有显示功能的电子产品,包括但不限于以下类别:电视机、笔记本电脑、桌上型显示器、平板电脑、数码相机、智能手环、智能眼镜、车载显示器、医疗设备、工控设备、触摸交互终端等,本发明实施例对此不作特殊限定。
注意,上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解,本发明不限于这里的特定实施例,对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此,虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明,但是本发明不仅仅限于以上实施例,在不脱离本发明构思的情况下,还可以包括更多其他等效实施例,而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。
Claims (19)
1.一种像素电路,其特征在于,包括:驱动电路、检测电路、修复电路、第一发光元件和第二发光元件;
所述驱动电路与所述第一发光元件的阳极电连接;所述驱动电路用于向所述第一发光元件提供驱动信号,以控制所述第一发光元件进行发光;
所述检测电路与所述第一发光元件的阴极电连接;所述检测电路用于根据所述第一发光元件的阴极电位,输出检测信号;
修复电路分别与所述驱动电路和所述第二发光元件电连接;所述修复电路用于接收修复信号,并根据所述修复信号控制向所述第二发光元件提供的驱动信号,以控制所述第二发光元件进行发光;
其中,所述修复信号与所述检测信号关联;所述第二发光元件与所述第一发光元件的发光时间不同。
2.根据权利要求1所述的像素电路,其特征在于,所述检测电路包括第一分压模块、第二分压模块和放大模块;
所述第一分压模块分别与所述第一发光元件的阴极和第一电源端电连接,且所述第一分压模块与所述第一发光元件的阴极电连接于第一节点;所述第一分压模块用于对所述第一电源端的第一电源信号进行分压;
所述第二分压模块分别与所述第一节点和所述放大模块电连接;所述第二分压模块用于对所述第一节点的电位进行分压,输出分压信号至所述放大模块;
所述放大模块用于对所述分压信号进行增益调节后,输出所述检测信号。
3.根据权利要求2所述的像素电路,其特征在于,所述第一分压模块包括第一晶体管,所述第一晶体管的第一极与所述第一发光元件的阴极电连接,所述第一晶体管的第二极与所述第一电源端电连接,所述第一晶体管的栅极与第一扫描信号端电连接;
在所述第一发光元件或所述第二发光元件进行发光的至少部分时间内,所述第一扫描信号端的第一扫描信号控制所述第一晶体管导通。
4.根据权利要求3所述的像素电路,其特征在于,所述第二分压模块包括第二晶体管,所述第二晶体管的第一极与所述第一节点电连接,所述第二晶体管的第二极与所述放大模块电连接,所述第二晶体管的栅极与第二扫描信号端电连接;
在所述第一发光元件或所述第二发光元件进行发光的至少部分时间内,所述第二扫描信号端的第二扫描信号控制所述第二晶体管导通。
5.根据权利要求4所述的像素电路,其特征在于,所述第一扫描信号端复用为所述第二扫描信号端。
6.根据权利要求2所述的像素电路,其特征在于,所述第一分压模块包括第一电阻,所述第一电阻的一端与所述第一发光元件的阴极电连接于所述第一节点,所述第一电阻的另一端与所述第一电源端电连接。
7.根据权利要求2所述的像素电路,其特征在于,所述放大模块包括运算放大器、第一电容和第二电阻;
所述运算放大器的同相输入端与所述第二分压模块的输出端电连接,所述运算放大器的反相输入端与所述第一电源端电连接;
所述第二电阻电连接在所述运算放大器的同相输入端和所述运算放大器的输出端之间;所述第一电容与所述第二电阻并联连接。
8.根据权利要求1所述的像素电路,其特征在于,所述驱动电路包括驱动晶体管和数据写入模块;
所述数据写入模块与所述驱动晶体管电连接;所述数据写入模块用于控制数据信号写入所述驱动晶体管的栅极;
所述驱动晶体管的第二极与所述第一发光元件的阳极电连接于第二节点;所述驱动晶体管用于根据所述数据信号向所述第一发光元件提供驱动信号。
9.根据权利要求8所述的像素电路,其特征在于,所述修复电路包括开关模块和控制模块;
所述开关模块分别与修复信号端和所述控制模块电连接;所述开关模块用于控制所述修复信号端的所述修复信号向所述控制模块传输的传输路径;
所述控制模块用于根据所述修复信号,向所述第二发光元件提供驱动信号,以控制所述第二发光元件进行发光。
10.根据权利要求9所述的像素电路,其特征在于,所述开关模块包括第三晶体管,所述控制模块包括第四晶体管;
所述第三晶体管T2的第一极与所述修复信号端电连接,所述第三晶体管的第二极与所述第四晶体管T1的栅极电连接,所述第三晶体管的栅极与第三扫描信号端电连接;
所述第四晶体管的第一极与所述第二节点电连接,所述第四晶体管的第二极与所述第二发光元件的阳极电连接;
在所述第一发光元件发光时,所述第三扫描信号端的第三扫描信号控制所述第三晶体管导通,且所述修复信号端的所述修复信号控制所述第四晶体管断开;
在所述第二发光元件发光时,所述第三扫描信号端的第三扫描信号控制所述第三晶体管导通,且所述修复信号端的所述修复信号控制所述第四晶体管导通。
11.根据权利要求9所述的像素电路,其特征在于,所述开关模块包括第三晶体管T1,所述控制模块包括第五晶体管T2和第六晶体管T3;
所述第三晶体管的第一极与所述修复信号端电连接,所述第三晶体管的第二极与所述第五晶体管的栅极电连接,所述第三晶体管的栅极与第三扫描信号端电连接;
所述第五晶体管的第一极与所述数据信号端电连接,所述第五晶体管的第二极与所述第六晶体的栅极电连接;
所述第六晶体管的第一极与第二电源端电连接,所述第六晶体管的第二极与所述第二发光元件的阳极电连接;所述第二发光元件的阴极与第一电源端电连接;所述第一电源端的第一电源信号与所述第二电源端的第二电源信号的极性不同;
在所述第一发光元件发光时,所述第三扫描信号端的第三扫描信号控制所述第三晶体管导通,且所述修复信号端的所述修复信号控制所述第五晶体管断开;
在所述第二发光元件发光时,所述第三扫描信号端的第三扫描信号控制所述第三晶体管导通,且所述修复信号端的所述修复信号控制所述第五晶体管导通。
12.根据权利要求11所述的像素电路,其特征在于,所述数据写入模块包括数据写入晶体管,所述数据写入晶体管的第一极与所述数据信号端电连接,所述数据写入晶体管的第二极与所述驱动晶体管的栅极电连接;
所述数据写入晶体管的沟道类型与所述第五晶体管的沟道类型相反。
13.根据权利要求12所述的像素电路,其特征在于,所述数据写入晶体管包括N沟道晶体管,所述第五晶体管包括P沟道晶体管;
所述第三晶体管的第二极还与所述数据写入晶体管的栅极电连接。
14.根据权利要求9所述的像素电路,其特征在于,所述修复电路还包括存储模块;
所述存储模块用于存储所述修复信号。
15.根据权利要求14所述的像素电路,其特征在于,所述存储模块的一端耦接于所述开关模块和所述控制模块之间,所述存储模块的另一端与所述第二节点电连接。
16.根据权利要求14所述的像素电路,其特征在于,所述存储模块的一端耦接于所述开关模块和所述控制模块之间,所述存储模块的另一端与第三电源端电连接电连接。
17.一种显示面板,其特征在于,包括:显示区;
所述显示区包括阵列排布的多个如权利要求1-16任一项所述的像素电路。
18.根据权利要求17所述的显示面板,其特征在于,还包括:围绕所述显示区的非显示区;所述非显示区包括驱动芯片设置区;所述驱动芯片设置区用于设置驱动芯片;
所述显示区还包括多条检测信号线和修复信号线;位于同一行或同一列的所述像素电路的检测电路与同一所述检测信号线,以及位于同一行或同一列的所述像素电路的修复电路与同一修复信号线电连接;
所述驱动芯片分别与各条所述检测信号线和各条所述修复信号线电连接;所述驱动芯片用于根据各条所述检测信号线传输的检测信号一一对应地向各条所述修复信号线提供修复信号。
19.一种显示装置,其特征在于,包括如权利要求17-18任一项所述的显示面板。
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