KR101274656B1 - 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판 - Google Patents

표시장치용 트랜지스터 어레이 기판 Download PDF

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Abstract

본 발명은 검사용 게이트 패드의 개수를 최소화하여 표시장치를 검사할 수 있도록 한 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판에 관한 것이다.
본 발명에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차부마다 마련되는 트랜지스터를 포함하는 표시영역과 상기 표시영역의 외곽에 마련되는 비표시영역을 포함하는 기판과, 상기 비표시영역에 형성되어 상기 게이트 라인들에 게이트 신호를 공급하기 위한 게이트 구동회로와, 상기 게이트 구동회로와 상기 표시영역 사이의 상기 비표시영역에 형성되어 상기 트랜지스터의 검사공정시 상기 게이트 라인에 게이트 신호를 공급하는 검사용 스위칭부와, 상기 각 데이터 라인에 전기적으로 접속된 데이터 패드와, 상기 비표시영역에 형성되어 상기 검사용 스위칭부에 서로 다른 제어신호를 공급하며 상기 데이터 패드들에 검사신호를 공급하는 검사용 패드부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
어레이 기판, MPS, 검사패드, 제어신호, 내장, 게이트 구동회로

Description

표시장치용 트랜지스터 어레이 기판{TRANSISTOR ARRAY SUBSTRATE FOR DISPLAY DEVICE}
도 1은 관련기술에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 평면도.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 평면도.
도 3은 도 2에 도시된 제 1 실시 예에 따른 검사용 스위칭부를 나타내는 도면.
도 4는 도 3에 도시된 제 1 실시 예에 따른 검사용 스위칭부의 구동파형을 나타내는 파형도.
도 5는 도 3에 도시된 제 1 실시 예에 따른 검사용 스위칭부의 다른 구동파형을 나타내는 파형도.
도 6은 도 2에 도시된 제 2 실시 예에 따른 검사용 스위칭부를 나타내는 도면.
도 7은 도 6에 도시된 제 2 실시 예에 따른 검사용 스위칭부의 구동파형을 나타내는 파형도.
< 도면의 주요 부분에 대한 부호설명 >
10, 110 : 기판 20, 120 : 표시영역
21, 121 : 비표시영역 40, 140 : 게이트 구동회로
42, 142 : 쉬프트 레지스터 50, 150 : 검사용 데이터 패드부
60, 160 : 검사용 게이트 패드부 70, 170 : 검사용 패드부
180 : 검사용 스위칭부 182 : 검사용 게이트 신호 발생부
본 발명은 표시장치에 관한 것으로, 특히 검사용 게이트 패드의 개수를 최소화하여 표시장치를 검사할 수 있도록 한 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판에 관한 것이다.
최근, 음극선관(Cathode Ray Tube)의 단점인 무게와 부피를 줄일 수 있는 각종 평판 표시장치들이 대두되고 있다. 이러한 평판 표시장치로는 액정 표시장치(Liquid Crystal Display), 전계방출 표시장치(Field Emission Display), 플라즈마 표시 패널(Plasma Display Panel) 및 발광 표시장치(Light Emitting Display) 등이 있다.
액정 표시장치는 전계를 이용하여 액정의 광투과율을 조절함으로써 화상을 표시하게 된다. 이러한 액정 표시장치는 서로 대향하여 합착된 트랜지스터 어레이 기판 및 컬러필터 어레이 기판과, 두 어레이 기판 사이에서 셀갭을 일정하게 유지시키기 위한 스페이서와, 스페이서에 의해 마련된 액정공간에 채워진 액정을 구비 한다.
컬러필터 어레이 기판은 컬러를 구현하기 위하여 컬러필터 및 빛샘 방지를 위한 블랙 매트릭스와, 액정셀들에 공통적으로 기준전압을 공급하는 공통전극과, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 상부 배향막으로 구성된다. 여기서, 공통전극은 액정 모드에 따라 트랜지스터 어레이 기판에 형성될 수 있다.
트랜지스터 어레이 기판은 게이트 라인들 및 데이터 라인들과, 그 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차부마다 형성된 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 함)와, 액정셀 단위로 형성되어 TFT에 접속된 화소전극과, 그들 위에 액정 배향을 위해 도포된 하부 배향막 등으로 구성된다.
액정 표시패널은 하부 어레이 기판과 상부 어레이 기판을 별도로 제작하여 합착한 다음 액정을 주입하여 완성하게 된다.
이러한 액정 표시장치에 이용되는 TFT는 반도체층으로 아몰퍼스(Amorphous) 실리콘 또는 폴리(Poly) 실리콘을 이용한다. 아몰퍼스형 액정 표시장치는 아몰퍼스 실리콘층이 비교적 균일성이 좋고 특성이 안정된 장점을 가지고 있으나, 전하이동도가 작아 화소밀도를 향상시키기 어려운 단점을 가진다. 그러나, 최근에는 회로적 보완을 통해 아몰퍼스 실리콘을 이용한 구동회로를 어레이 기판 상에 내장할 수 있게 되었다.
이와 달리, 폴리 실리콘형 액정 표시장치는 폴리 실리콘층이 전하이동도가 높음에 따라 화소밀도를 증가시키는데 유리한 장점을 가진다. 또한 상대적으로 빠른 응답속도를 요하는 구동회로들을 어레이 기판 상에 내장하여 제조단가를 낮출 수 있는 장점을 가진다.
이러한, 폴리 실리콘 또는 아몰퍼스 실리콘 TFT를 이용한 트랜지스터 어레이 기판은 제조공정 후에 신호라인들의 쇼트, 오픈과 같은 신호 라인 불량과 TFT의 불량여부를 검출하기 위하여 MPS(Mass Production System) 검사공정을 거치게 된다.
도 1은 관련기술에 따라 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 평면도이다.
도 1을 참조하면, 관련기술에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 게이트 라인들(G)과 데이터 라인들(D)의 교차부에 액정셀이 형성된 표시영역(20)과 표시영역(20)의 외곽에 마련되는 비표시영역(21)을 포함하는 기판(10)과, 비표시영역(21)에 형성되어 게이트 라인들(G)에 게이트 신호를 공급하기 위한 게이트 구동회로(40)와, 각 데이터 라인(D)에 전기적으로 접속된 데이터 패드(30)와, 비표시영역(21)에 형성되어 게이트 구동회로(40)와 데이터 패드들(30)에 검사신호를 공급하는 검사용 패드부(70)를 구비한다.
표시영역(20)에 마련된 각 액정셀은 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차부에 각각 형성되는 TFT(22)와, TFT(22)와 접속된 화소전극(24)을 구비한다.
게이트 라인(G)은 게이트 구동회로(40)로부터의 게이트 신호를 TFT(22)에 공급한다.
데이터 라인(D)은 데이터 패드(30)로부터 TFT(22)를 통해 공급되는 화소신호를 화소전극(24)에 공급한다.
TFT(22)는 게이트 라인(G)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(D)으로부 터의 화소신호를 화소전극(24)에 공급한다.
화소전극(24)은 화소전압에 의해 공통전극(도시하지 않음)과 전위차를 발생시키게 된다. 이러한 전위차에 의해 액정분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정분자들의 회전 정도에 따라 액정셀의 광 투과율을 조절함으로써 화상을 구현하게 된다.
게이트 구동회로(40)는 각 게이트 라인(G)에 전기적으로 접속된 복수의 쉬프트 레지스터(42)를 구비한다.
각 쉬프트 레지스터(42)는 검사용 패드부(70)로부터의 게이트 구동신호에 응답하여 게이트 신호를 발생하여 게이트 라인들(G)에 순차적으로 공급한다.
검사용 패드부(70)는 데이터 패드들(30)에 검사신호를 공급하기 위한 검사용 데이터 패드부(50)와, 게이트 구동회로(40)의 구동에 필요한 게이트 구동신호를 공급하기 위한 검사용 게이트 패드부(60)를 구비한다.
검사용 데이터 패드부(50)는 홀수번째 데이터 패드들(30)에 공통적으로 접속된 제 1 검사용 데이터 패드(52)와, 짝수번째 데이터 패드들(30)에 공통적으로 접속된 제 2 검사용 데이터 패드(54)를 포함한다. 이러한, 제 1 및 제 2 검사용 데이터 패드(52, 54)는 도시하지 않은 검사장치로부터의 검사신호를 각 데이터 패드(30)에 공급한다.
검사용 게이트 패드부(60)는 게이트 구동회로(40)의 각 쉬프트 레지스터(62)에 접속된 복수의 검사용 게이트 패드(62)를 포함한다. 이러한, 복수의 검사용 게이트 패드(62)는 상기 검사장치로부터의 게이트 구동신호를 각 쉬프트 레지스터 (62)에 공급한다.
한편, 검사용 게이트 패드부(60) 및 검사용 데이터 패드부(50)는 MPS 검사공정 이후 스크라이빙 공정을 통해 제거된다.
상기 MPS 검사공정에서는 도시하지 않은 MPS 검사장치의 측정단자를 통해 검사용 게이트 패드부(60)에 게이트 구동신호를 공급함과 동시에 검사용 데이터 패드부(50)에 검사신호를 공급한다. 이에 따라, 게이트 구동회로(40)의 각 쉬프트 레지스터(42)는 검사용 게이트 패드(62)를 통해 공급되는 게이트 구동신호에 응답하여 게이트 신호를 발생하여 게이트 라인들(G)에 순차적으로 공급한다. 이와 동기되도록 데이터 라인(D)에는 검사용 데이터 패드(52, 54)로부터 검사신호가 공급된다.
따라서, MPS 검사공정에서는 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 각각 공급된 전기적 신호에 의해 각 라인들(G, D)과 TFT(22)의 불량 유무를 판별하게 된다.
결과적으로, 관련기술에 따른 액정 표시장치의 MPS 검사공정은 트랜지스터 어레이 기판에 내장된 게이트 구동회로(40)를 구동하여 각 라인들(G, D)과 TFT(22)의 불량 유무를 판별하게 된다.
그러나 관련기술에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 MPS 검사공정시 복수의 검사용 게이트 패드(62)를 통해 게이트 구동회로(40)의 구동에 필요한 복수의 게이트 구동신호를 공급하기 때문에 복수의 게이트 구동신호와 동일한 개수의 검사용 게이트 패드(62)가 필요하게 된다. 이에 따라, MPS 검사장치의 출력 채널도 검사용 게이트 패드(62)와 동일한 개수만큼 필요하게 된다.
따라서, 내장 게이트 구동회로(40)를 포함하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 MPS 검사하기 위해서는 기존의 MPS 검사장치를 개조하거나 별도의 MPS 검사장치를 제작하기 위하여 신규 투자를 해야만 한다.
따라서 상기와 같은 문제점을 해결하기 위하여, 본 발명은 검사용 게이트 패드의 개수를 최소화하여 표시장치를 검사할 수 있도록 한 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 제공하는데 있다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위한 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차부마다 마련되는 트랜지스터를 포함하는 표시영역과 상기 표시영역의 외곽에 마련되는 비표시영역을 포함하는 기판과, 상기 비표시영역에 형성되어 상기 게이트 라인들에 게이트 신호를 공급하기 위한 게이트 구동회로와, 상기 게이트 구동회로와 상기 표시영역 사이의 상기 비표시영역에 형성되어 상기 트랜지스터의 검사공정시 상기 게이트 라인에 게이트 신호를 공급하는 검사용 스위칭부와, 상기 각 데이터 라인에 전기적으로 접속된 데이터 패드와, 상기 비표시영역에 형성되어 상기 검사용 스위칭부에 서로 다른 제어신호를 공급하며 상기 데이터 패드들에 검사신호를 공급하는 검사용 패드부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 검사용 스위칭부는 상기 서로 다른 제어신호에 따라 게이트 신호를 발생하여 상기 게이트 라인들에 동시에 공급하는 것을 특징으로 한다.
상기 검사용 스위칭부는 상기 서로 다른 제어신호가 공급되는 제 1 및 제 2 제어신호 라인과, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 각 게이트 라인에 전기적으로 접속된 복수의 검사용 게이트 신호 발생부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 각 검사용 게이트 신호 발생부는 상기 제 1 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 다이오드 형태로 접속되어 상기 제 1 제어신호에 따라 상기 게이트 라인을 충전시키는 제 1 스위칭 소자와, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 접속되어 상기 제 2 제어신호에 따라 상기 게이트 라인에 충전된 전압을 방전시키는 제 2 스위칭 소자를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 검사용 스위칭부는 상기 서로 다른 제어신호에 따라 게이트 신호를 발생하여 상기 홀수번째 및 짝수번째 게이트 라인들에 교번적으로 공급하는 것을 특징으로 한다.
상기 검사용 스위칭부는 상기 서로 다른 제어신호가 공급되는 제 1 및 제 2 제어신호 라인과, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 홀수번째 게이트 라인에 전기적으로 접속된 복수의 제 1 검사용 게이트 신호 발생부와, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 짝수번째 게이트 라인에 전기적으로 접속된 복수의 제 2 검사용 게이트 신호 발생부를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 각 제 1 검사용 게이트 신호 발생부는 상기 제 1 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 다이오드 형태로 접속되어 상기 제 1 제어신호에 따라 상기 게이트 라인을 충전시키는 제 1 스위칭 소자와, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 접속되어 상기 제 2 제어신호에 따라 상기 게이트 라인에 충전된 전 압을 방전시키는 제 2 스위칭 소자를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 각 제 2 검사용 게이트 신호 발생부는 상기 제 1 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 다이오드 형태로 접속되어 상기 제 2 제어신호에 따라 상기 게이트 라인을 충전시키는 제 3 스위칭 소자와, 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 접속되어 상기 제 4 제어신호에 따라 상기 게이트 라인에 충전된 전압을 방전시키는 제 4 스위칭 소자를 구비하는 것을 특징으로 한다.
상기 검사용 패드부는 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인 각각에 접속된 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드와, 홀수번째 및 짝수번째 상기 데이터 패드에 상기 검사신호를 공급하는 제 1 및 제 2 검사용 데이터 패드를 구비하는 것을 특징으로 한다.
이하에서, 첨부된 도면 및 실시 예를 통해 본 발명의 실시 예를 구체적으로 살펴보면 다음과 같다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판을 나타내는 평면도이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 게이트 라인들(G)과 데이터 라인들(D)의 교차부마다 박막 트랜지스터(Thin Film Transistor; 이하 "TFT"라 함)(122)가 형성된 표시영역(120)과 표시영역(120)의 외곽에 마련되는 비표시영역(121)을 포함하는 기판(110)과, 비표시영역(121)에 형성되어 게이트 라인들(G)에 게이트 신호를 공급하기 위한 게이트 구동회로(140)와, 게이트 구동회로(140)와 표시영역(120) 사이의 비표시영역(121)에 형성되어 TFT(122)의 검사공정시 게이트 라인(G)에 게이트 신호를 공급하는 검사용 스위칭부(180)와, 각 데이터 라인(D)에 전기적으로 접속된 데이터 패드(130)와, 비표시영역(121)에 형성되어 검사용 스위칭부(180)와 데이터 패드들(130)에 검사신호를 공급하는 검사용 패드부(170)를 구비한다.
표시영역(120)에는 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)의 교차부에 각각 화소셀이 형성된다. 각 화소셀은 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 전기적으로 접속되는 TFT(122)와, TFT(122)와 접속된 화소전극(124)을 구비한다. 이러한, 화소셀은 액정 표시장치의 액정셀 및 발광 표시장치의 발광셀 중 어느 하나가 될 수 있으며, 이하 액정셀로 가정하여 설명하기로 한다.
게이트 라인(G)은 게이트 구동회로(140)로부터의 게이트 신호를 TFT(122)에 공급한다.
데이터 라인(D)은 데이터 패드(130)로부터 TFT(122)를 통해 공급되는 화소신호를 화소전극(124)에 공급한다.
TFT(122)는 게이트 라인(G)의 게이트 신호에 응답하여 데이터 라인(D)으로부터의 화소신호를 화소전극(124)에 공급한다.
화소전극(124)은 화소전압에 의해 공통전극(도시하지 않음)과 전위차를 발생시키게 된다. 이러한 전위차에 의해 액정분자들이 유전 이방성에 의해 회전하게 된다. 액정분자들의 회전 정도에 따라 액정셀의 광 투과율을 조절함으로써 화상을 구현하게 된다.
게이트 구동회로(140)는 각 게이트 라인(G)에 전기적으로 접속된 복수의 쉬 프트 레지스터(142)를 구비한다.
각 쉬프트 레지스터(142)는 비표시영역(121)에 형성된 도시하지 않은 소수의 게이트 패드를 통해 인가되는 게이트 구동신호에 응답하여 게이트 신호를 발생하여 게이트 라인들(G)에 순차적으로 공급한다. 여기서, 각 쉬프트 레지스터(142)의 구동불량은 별도의 회로패턴 검사공정시 검출하게 된다.
검사용 패드부(170)는 데이터 패드들(130)에 검사신호를 공급하기 위한 검사용 데이터 패드부(150)와, 검사용 스위칭부(180)의 구동에 필요한 서로 다른 제어신호를 공급하기 위한 검사용 게이트 패드부(160)를 구비한다.
검사용 데이터 패드부(150)는 홀수번째 데이터 패드들(130)에 공통적으로 접속된 제 1 검사용 데이터 패드(152)와, 짝수번째 데이터 패드들(130)에 공통적으로 접속된 제 2 검사용 데이터 패드(154)를 포함한다. 이러한, 제 1 및 제 2 검사용 데이터 패드(152, 154)는 도시하지 않은 검사장치로부터의 검사신호를 각 데이터 패드(130)에 공급한다.
검사용 게이트 패드부(160)는 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)을 통해 검사용 스위칭부(180)에 공통적으로 접속된 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드(162, 164)를 포함한다. 이러한, 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드(162, 164)는 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)을 통해 상기 검사장치로부터 공급되는 서로 다른 제 1 및 제 2 제어신호를 검사용 스위칭부(180)에 공급한다.
한편, 검사용 게이트 패드부(160) 및 검사용 데이터 패드부(150)는 MPS 검사공정 이후 스크라이빙 공정을 통해 제거된다.
검사용 스위칭부(180)는 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)에 접속됨과 아울러 각 게이트 라인(G)에 접속된 복수의 검사용 게이트 신호 발생부(182)를 구비한다.
각 검사용 게이트 신호 발생부(182)는 도 3에 도시된 바와 같이 제 1 제어신호 라인(CL1)과 게이트 라인(G)에 다이오드 형태로 접속된 제 1 스위칭 소자(T1)와, 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)과 게이트 라인(G)에 접속된 제 2 스위칭 소자(T2)를 구비한다.
제 1 스위칭 소자(T1)의 게이트 전극 및 소스 전극은 제 1 제어신호 라인(CL1)에 전기적으로 접속되며, 드레인 전극은 게이트 라인(G)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)으로부터의 제 1 제어신호를 게이트 라인(G)에 공급한다.
제 2 스위칭 소자(T2)의 게이트 전극은 제 2 제어신호 라인(CL2)에 전기적으로 접속되며, 소스 전극은 게이트 라인(G)에 전기적으로 접속된다. 또한, 제 2 스위칭 소자(T2)의 드레인 전극은 제 1 제어신호 라인(CL1)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 따라 게이트 라인(G)에 충전된 전압을 방전시킨다.
이와 같은, 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판의 MPS 검사공정에서는 도시하지 않은 MPS 검사장치의 측정단자를 통해 검사용 게이트 패드부(160)에 제 1 및 제 2 제어신호를 공급함과 동시에 검사용 데이터 패드부(150)에 검사신호를 공급한다. 이에 따라, 검사용 스위칭부(180)는 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드(162, 164)를 통해 제 1 및 제 2 제어신호에 응답하여 검사용 게이트 신호를 게이트 라인(G)에 동시에 공급한다. 이와 동기되도록 데이터 라인(D)에는 검사용 데이터 패드(152, 154)로부터 검사신호가 공급된다. 따라서, MPS 검사공정에서는 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 각각 공급된 전기적 신호에 의해 각 라인들(G, D)과 TFT(122)의 불량 유무를 판별하게 된다.
구체적으로 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판의 MPS 검사공정을 설명하면 다음과 같다.
먼저, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 검사용 게이트 패드부(160) 및 검사용 데이터 패드부(150)에 전기적으로 접속한다.
그런 다음, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 도 4에 도시된 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1) 및 로우 상태의 제 2 제어신호(CS2)를 검사용 게이트 패드부(160)에 공급한다. 이와 동시에 MPS 검사장치의 측정단자를 통해 도시하지 않은 검사신호를 검사용 데이터 패드부(150)에 공급한다.
이에 따라, 각 검사용 게이트 신호 발생부(182)의 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-온되고, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 로우 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-오프된다. 따라서, 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1)는 각 제 1 스위칭 소자(T1)를 통해 게이트 라인(G)에 공급된다. 이때, 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1), 즉 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 복수의 게이트 라인들(G)에 동시에 공급된다.
이어서, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 로우 상태의 제 1 제어신호(CS1) 및 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)를 검사용 게이트 패드부(160)에 공급한다.
이에 따라, 각 검사용 게이트 신호 발생부(182)의 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 로우 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-오프되고, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-온된다. 따라서, 각 게이트 라인(G)에 공급된 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 각 제 2 스위칭 소자(T2)를 통해 제 1 제어신호 라인(CL1)으로 방전된다.
따라서, MPS 검사공정에서는 제 1 및 제 2 제어신호(CS1, CS2)를 이용하여 각 검사용 게이트 신호 발생부(182)의 제 1 및 제 2 스위칭 소자(T1, T2)를 교번적으로 스위칭시킴으로써 각 라인들(G, D)과 TFT(122)의 불량 유무를 판별하게 된다.
이와 같이, MPS 검사공정이 완료되면 정상적인 구동을 위하여 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드(162, 164)에는 각 검사용 게이트 신호 발생부(182)의 제 1 및 제 2 스위칭 소자(T1, T2)가 동작하지 못하도록 플로팅 상태이거나 접지전압이 강제적으로 공급된다.
한편, 제 2 검사용 게이트 패드(164)에 공급되는 제 2 제어신호(CS2)는 도 5에 도시된 바와 같이 제 1 제어신호(CS1)의 하이 상태인 구간에 로우 상태를 유지하는 반면에 그 외의 구간에는 하이 상태를 유지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판에 있어서 검사용 스위칭부(180)를 나타내는 도면이다.
도 6을 도 2와 결부하면, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 검사용 스위칭부(180)는 홀수번째 게이트 라인(G1, G3, G5 내지 Gn-1) 각각에 접속됨과 아울러 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)에 접속된 복수의 제 1 검사용 게이트 신호 발생부(182o)와, 짝수번째 게이트 라인(G2, G4, G6 내지 Gn) 각각에 접속됨과 아울러 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)에 접속된 복수의 제 2 검사용 게이트 신호 발생부(182e)를 구비한다.
각 제 1 검사용 게이트 신호 발생부(182o)는 제 1 제어신호 라인(CL1)과 홀수번째 게이트 라인(Go)에 다이오드 형태로 접속된 제 1 스위칭 소자(T1)와, 제 2 제어신호 라인(CL2)과 홀수번째 게이트 라인(Go)에 다이오드 형태로 접속된 제 2 스위칭 소자(T2)를 구비한다.
제 1 스위칭 소자(T1)의 게이트 전극 및 소스 전극은 제 1 제어신호 라인(CL1)에 전기적으로 접속되며, 드레인 전극은 홀수번째 게이트 라인(Go)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)으로부터의 제 1 제어신호를 홀수번째 게이트 라인(Go)에 공급한다.
제 2 스위칭 소자(T2)의 게이트 전극은 제 2 제어신호 라인(CL2)에 전기적으로 접속되며, 소스 전극은 홀수번째 게이트 라인(Go)에 전기적으로 접속된다. 또한, 제 2 스위칭 소자(T2)의 드레인 전극은 제 1 제어신호 라인(CL1)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 따라 홀수번째 게이트 라인(Go)에 충전된 전압을 방전시킨다.
각 제 2 검사용 게이트 신호 발생부(182e)는 제 2 제어신호 라인(CL2)과 짝 수번째 게이트 라인(Ge)에 다이오드 형태로 접속된 제 3 스위칭 소자(T3)와, 제 1 및 제 2 제어신호 라인(CL1, CL2)과 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 제 4 스위칭 소자(T4)를 구비한다.
제 3 스위칭 소자(T3)의 게이트 전극 및 소스 전극은 제 2 제어신호 라인(CL2)에 전기적으로 접속되며, 드레인 전극은 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 3 스위칭 소자(T3)는 제 2 제어신호 라인(CL2)으로부터의 제 2 제어신호를 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 공급한다.
제 4 스위칭 소자(T4)의 게이트 전극은 제 1 제어신호 라인(CL1)에 전기적으로 접속되며, 소스 전극은 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 전기적으로 접속된다. 또한, 제 4 스위칭 소자(T4)의 드레인 전극은 제 2 제어신호 라인(CL2)에 전기적으로 접속된다. 이에 따라, 제 4 스위칭 소자(T4)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 따라 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 충전된 전압을 방전시킨다.
이와 같은, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 검사용 스위칭부(180)를 가지는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판의 MPS 검사공정에서는 도시하지 않은 MPS 검사장치의 측정단자를 통해 검사용 게이트 패드부(160)에 제 1 및 제 2 제어신호를 공급함과 동시에 검사용 데이터 패드부(150)에 검사신호를 공급한다. 이에 따라, 검사용 스위칭부(180)는 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드(162, 164)를 통해 제 1 및 제 2 제어신호에 응답하여 검사용 게이트 신호를 홀수번째 및 짝수번째 게이트 라인(Go, Ge)에 교번적으로 공급한다. 이와 동기되도록 데이터 라인(D)에는 검사용 데이터 패드(152, 154)로부터 검사신호가 공급된다. 따라서, MPS 검사공정에서는 게이트 라인(G)과 데이터 라인(D)에 각각 공급된 전기적 신호에 의해 각 라인들(G, D)과 TFT(122)의 불량 유무를 판별하게 된다.
구체적으로 본 발명의 다른 실시 예에 따른 검사용 스위칭부(180)를 가지는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판의 MPS 검사공정을 설명하면 다음과 같다.
먼저, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 검사용 게이트 패드부(160) 및 검사용 데이터 패드부(150)에 전기적으로 접속한다.
그런 다음, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 도 7에 도시된 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1) 및 로우 상태의 제 2 제어신호(CS2)를 검사용 게이트 패드부(160)에 공급한다. 이와 동시에 MPS 검사장치의 측정단자를 통해 도시하지 않은 검사신호를 검사용 데이터 패드부(150)에 공급한다.
이에 따라, 각 제 1 검사용 게이트 신호 발생부(182o)의 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-온되고, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 로우 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-오프된다. 따라서, 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1)는 각 제 1 스위칭 소자(T1)를 통해 홀수번째 게이트 라인(Go)에 공급된다. 이때, 하이 상태의 제 1 제어신호(CS1), 즉 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 홀수번째 게이트 라인들(Go)에 동시에 공급된다.
이와 동시에, 각 제 2 검사용 게이트 신호 발생부(182e)의 제 3 스위칭 소자(T3)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 로우 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-오프되고, 제 4 스위칭 소자(T4)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 하 이 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-온된다. 따라서, 각 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 공급된 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 각 제 4 스위칭 소자(T4)를 통해 제 2 제어신호 라인(CL2)으로 방전된다.
이어서, MPS 검사장치의 측정단자를 통해 로우 상태의 제 1 제어신호(CS1) 및 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)를 검사용 게이트 패드부(160)에 공급한다.
이에 따라, 각 제 1 검사용 게이트 신호 발생부(182o)의 제 1 스위칭 소자(T1)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 로우 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-오프되고, 제 2 스위칭 소자(T2)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-온된다. 따라서, 각 홀수번째 게이트 라인(Go)에 공급된 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 각 제 2 스위칭 소자(T2)를 통해 제 1 제어신호 라인(CL1)으로 방전된다.
이와 동시에, 각 제 2 검사용 게이트 신호 발생부(182e)의 제 3 스위칭 소자(T3)는 제 2 제어신호 라인(CL2)에 공급되는 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)에 의해 턴-온되고, 제 4 스위칭 소자(T4)는 제 1 제어신호 라인(CL1)에 공급되는 로우 상태의 제 1 제어신호(CS1)에 의해 턴-오프된다. 따라서, 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2)는 각 제 3 스위칭 소자(T3)를 통해 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 공급된다. 이때, 하이 상태의 제 2 제어신호(CS2), 즉 하이 상태의 검사용 게이트 신호(GS)는 짝수번째 게이트 라인들(Ge)에 동시에 공급된다.
따라서, MPS 검사공정에서는 제 1 및 제 2 제어신호(CS1, CS2)에 따라 복수의 제 1 및 제 2 검사용 게이트 신호 발생부(182o, 182e)를 교번적으로 제어함으로 써 홀수번째 게이트 라인(Go)과 짝수번째 게이트 라인(Ge)에 교번적으로 검사용 게이트 신호(GS)를 공급하여 각 라인들(G, D)과 TFT(122)의 불량 유무를 판별하게 된다.
결과적으로, 본 발명의 다른 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 2개의 검사용 게이트 패드(162, 164)를 이용하여 MPS 검사공정을 위한 검사용 게이트 신호를 홀수번째 게이트 라인(Go)과 짝수번째 게이트 라인(Ge)으로 구분하여 발생함으로써 검사용 게이트 패드의 개수를 최소화하여 표시장치를 검사할 수 있다.
한편, 상술한 본 발명의 실시 예들에 따른 검사용 스위칭부(182)는 도 2에서와 같이 게이트 라인(G)의 일측에 접속되었으나, 이에 한정되지 않고 표시영역(120)의 좌측 및 우측 중 적어도 하나의 비표시영역(121)에 내장되어 게이트 라인(G)에 접속될 수 있다.
한편, 이상에서 설명한 본 발명은 상술한 실시 예 및 첨부된 도면에 한정되는 것이 아니고, 본 발명의 기술적 사상을 벗어나지 않는 범위내에서 여러 가지 치환, 변형 및 변경이 가능하다는 것이 본 발명이 속하는 기술분야에서 종래의 지식을 가진 자에게 있어 명백할 것이다.
상기와 같은 본 발명의 실시 예에 따른 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판은 2개의 검사용 게이트 패드에 공급되는 2개의 제어신호를 이용하여 게이트 신호를 발생함으로써 검사용 게이트 패드의 개수를 최소화하여 표시장치를 검사할 수 있다.
또한, 본 발명은 내장 게이트 구동회로를 포함하는 표시장치를 MPS 검사하기 위해서는 기존의 MPS 검사장치를 개조 없이 MPS 검사공정을 실시할 수 있다.

Claims (9)

  1. 게이트 라인들과 데이터 라인들의 교차부마다 마련되는 트랜지스터를 포함하는 표시영역과 상기 표시영역의 외곽에 마련되는 비표시영역을 포함하는 기판과,
    상기 비표시영역에 형성되어 상기 게이트 라인들에 게이트 신호를 공급하기 위한 게이트 구동회로와,
    상기 게이트 구동회로와 상기 표시영역 사이의 상기 비표시영역에 형성되어 상기 트랜지스터의 검사공정시 상기 게이트 라인에 게이트 신호를 공급하는 검사용 스위칭부와,
    상기 각 데이터 라인에 전기적으로 접속된 데이터 패드와, 그리고
    상기 비표시영역에 형성되어 상기 검사용 스위칭부에 서로 다른 제어신호를 공급하며 상기 데이터 패드들에 검사신호를 공급하는 검사용 패드부를 구비하며,
    상기 검사용 스위칭부는
    상기 서로 다른 제어신호가 공급되는 제 1 및 제 2 제어신호 라인과,
    상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 홀수번째 게이트 라인에 전기적으로 접속된 복수의 제 1 검사용 게이트 신호 발생부와,
    상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 짝수번째 게이트 라인에 전기적으로 접속된 복수의 제 2 검사용 게이트 신호 발생부를 구비하고,
    상기 각 제 1 검사용 게이트 신호 발생부는
    상기 제 1 제어신호에 따라 상기 게이트 라인을 충전시키는 제 1 스위칭 소자와, 상기 제 2 제어신호에 따라 상기 게이트 라인에 충전된 전압을 방전시키는 제 2 스위칭 소자를 구비하며,
    상기 각 제 2 검사용 게이트 신호 발생부는
    상기 제 2 제어신호에 따라 상기 게이트 라인을 충전시키는 제 3 스위칭 소자와, 상기 제 1 제어신호에 따라 상기 게이트 라인에 충전된 전압을 방전시키는 제 4 스위칭 소자를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사용 스위칭부는 상기 서로 다른 제어신호에 따라 게이트 신호를 발생하여 상기 홀수번째 및 짝수번째 게이트 라인들에 교번적으로 공급하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판.
  6. 삭제
  7. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 1 스위칭 소자는 상기 제 1 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 다이오드 형태로 접속되며, 상기 제 2 스위칭 소자는 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 접속된 것을 특징으로 하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판.
  8. 제 1 항에 있어서,
    상기 제 3 스위칭 소자는
    상기 제 1 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 다이오드 형태로 접속되며, 상기 제 4 스위칭 소자는 상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인과 상기 게이트 라인에 접속된 것을 특징으로 하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 검사용 패드부는,
    상기 제 1 및 제 2 제어신호 라인 각각에 접속된 제 1 및 제 2 검사용 게이트 패드와,
    홀수번째 및 짝수번째 상기 데이터 패드에 상기 검사신호를 공급하는 제 1 및 제 2 검사용 데이터 패드를 구비하는 것을 특징으로 하는 표시장치용 트랜지스터 어레이 기판.
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Citations (1)

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