KR20070079181A - 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치 및 액정 표시장치의 테스트 시스템 - Google Patents

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KR20070079181A
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이세훈
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Abstract

정상 동작 여부를 쉽게 알 수 있는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치가 제공된다. 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치는, 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압을 생성하는 테스트용 데이터 구동 전압 생성부와, 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 온 전압을 생성하는 테스트용 게이트 온 전압 생성부와, 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 오프 전압을 생성하는 테스트용 게이트 오프 전압 생성부 및 테스트용 데이터 구동 전압과 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 출력 노드에 각각 연결되어 테스트용 데이터 구동 전압과 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨을 검사하는 전압 검사부를 포함한다.
액정 표시 장치, HVS, 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치, 액정 표시 장치의 테스트 시스템

Description

액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치 및 액정 표시 장치의 테스트 시스템{Test voltage generator and test system of liquid crystal display apparatus}
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치를 설명하기 위한 블록도이다.
도 2는 도 1의 제1 전압 검사부의 내부 회로도이다.
도 3은 도 1의 테스트용 데이터 구동 전압 발생부의 내부 회로도이다.
도 4는 도 1의 테스트용 게이트 온 전압 발생부의 내부 회로도이다.
도 5는 도 1의 테스트용 게이트 오프 전압 발생부의 내부 회로도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.
(도면의 주요부분에 대한 부호의 설명)
100: 피테스트 액정 표시 장치 200: 액정 패널 어셈블리
300: 게이트 구동부 400: 데이터 구동부
500: 신호 제어부 600: 계조 전압 발생부
700: 테스트용 전압 제공 장치
710: 테스트용 데이터 구동 전압 발생부
720: 테스트용 게이트 온 전압 발생부
730: 테스트용 게이트 오프 전압 발생부
740_1, 740_2, 740_3: 전압 검사부
800: 테스트용 영상 신호 제공 장치
본 발명은 액정 표시 장치의 테스트 전압 제공 장치 및 액정 표시 장치의 테스트 시스템에 관한 것으로, 보다 상세하게는 정상 동작 여부를 쉽게 알 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 전압 제공 장치 및 액정 표시 장치의 테스트 시스템에 관한 것이다.
액정 표시 장치는 화소 전극이 구비된 제1 표시판, 공통 전극이 구비된 제2 표시판, 제1 표시판과 제2 표시판 사이에 주입된 유전율 이방성(dielectric anisotropy)을 갖는 액정층, 다수의 게이트 라인을 구동하는 게이트 구동부, 데이터 신호를 출력하는 데이터 구동부, 그리고 기본 계조 전압과 게이트 턴 온 및 턴 오프 전압을 발생하여 출력하는 구동 장치를 포함한다.
이러한 액정 표시 장치는 제조된 후 별도의 검사 장치를 이용하여 불량 여부가 판정된다. 이러한 검사들 중 하나로, 제조된 액정 표시 장치에 인가되는 전압의 크기를 정격 전압 레벨보다 높게 인가하고 주변의 습도와 온드 등을 변화시키면서 액정 표시 장치의 동작을 검사하는 고전압 스트레스(High Voltage Stress, HVS) 검 사가 있다.
즉, 고전압 스트레스 검사시에는 다수 레벨의 계조 전압으로 분배되는 데이터 구동 전압(AVDD)과, 게이트 온 전압(Von)을 액정 표시 장치 구동시의 전압 레벨보다 높게 인가하고, 게이트 오프 전압(Voff)은 액정 표시 장치 구동시의 전압 레벨보다 낮게 인가한다. 예를 들어, 액정 표시 장치의 구동시, 데이터 구동 전압은 대략 12V 정도, 게이트 온 전압은 대략 25V 정도, 게이트 오프 전압은 대략 -5V 정도이지만, 고전압 스트레스 검사시에는 데이터 구동 전압을 대략 15V 정도, 게이트 온 전압은 대략 32V 정도, 게이트 오프 전압은 대략 -7V 정도로 하여 피테스트 액정 표시 장치에 인가한다.
이러한 고전압 스트레스 검사를 위한 테스트용 전압 제공 장치가 테스트용 데이터 구동 전압, 테스트용 게이트 온/오프 전압을 정상적으로 제공하고 있는지 여부를 검사하기 위해서, 전압 측정기(multi-meter)로 일일이 테스트용 전압 제공 장치의 출력을 측정한다.
이러한 종래 기술에 의하면, 매시간마다 테스트용 전압 제공 장치의 정상 동작 여부를 검사하는데 많은 불편함이 따른다. 또한 불량의 테스트용 전압 제공 장치로 검사시 액정 표시 장치에 손상을 줄 수도 있다. 따라서 별도의 검사를 거치지 않고 테스트용 전압 제공 장치의 정상 동작 여부를 검사할 수 있는 테스트용 전압 제공 장치가 필요하다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는, 정상 동작 여부를 쉽게 알 수 있는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치를 제공하고, 다른 기술적 과제는 정상 동작 여부를 쉽게 알 수 있는 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 제공하고자 하는 것이다.
본 발명의 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
상기 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치는, 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압을 생성하는 테스트용 데이터 구동 전압 생성부와, 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 온 전압을 생성하는 테스트용 게이트 온 전압 생성부와, 상기 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 오프 전압을 생성하는 테스트용 게이트 오프 전압 생성부 및 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 출력 노드에 각각 연결되어 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨을 검사하는 전압 검사부를 포함한다.
또한, 상기 다른 기술적 과제를 달성하기 위한 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템은, 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압을 생성하는 테스트용 데이터 구동 전압 생성부와 게이트 라인에 테스트용 온 전압을 제공하는 테스트용 게이트 온 전압 생성부와 상기 게이트 라인에 테스트용 게이트 오프 전압을 제공하는 테스트용 게이트 오프 전압 생성부와 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 출력 노드에 각각 연결되어 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨을 검사하는 전압 검사부를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치와, 테스트용 영상 신호를 제공하는 테스트용 영상 신호 제공 장치 및 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압과 상기 테스트용 영상 신호를 제공받아 소정의 테스트 영상을 표시하는 피테스트 액정 표시 장치를 포함한다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 방법은 첨부되는 도면과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있으며, 단지 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공되는 것이며, 본 발명은 청구항의 범주에 의해 정의될 뿐이다. 명세서 전체에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
먼저 도 1 및 도 2를 참조하여 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치에 대히 상세하게 설명한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치를 설명하기 위한 블록도이고, 도 2는 도 1의 전압 검사부의 내부 회로도이다.
도 1를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치(700)는, 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)와, 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)와, 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)와, 제1 내지 제3 전압 검사부(740_1, 740_2, 740_3)를 포함한다.
테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)와, 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)와, 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)는 고전압 스트레스 검사를 위해 액정 표시 장치의 정상 구동시 전압보다 더 높은 레벨 또는 더 낮은 레벨의 전압을 제공한다. 즉, 정상 구동시보다 더 높은 레벨의 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)과 테스트용 게이트 온 전압(TVon), 정상 구동시보다 더 낮은 레벨의 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)을 제공한다.
여기서 테스트용 게이트 온 및 오프 전압 발생부(720, 730)는 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)로부터 제공된 펄스 신호(PULSE)를 이용하여 테스트용 게이트 온 및 오프 전압(TVon, TVoff)를 생성할 수 있는데, 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)와, 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)와, 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)는 도 3 내지 도 5를 참조하여 후술한다.
제1 내지 제3 전압 검사부(740_1, 740_2, 740_3)는 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)와, 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)와, 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)로부터 각각 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)과, 테스트용 게이트 온 및 오프 전압(TVon, TVoff)을 제공받아 적정한 레벨의 전압인지 여부를 검사한다.
적정한 레벨의 전압이 출력되고 있는 경우에는 제1 내지 제3 전압 검사부 (740_1, 740_2, 740_3)가 광을 발산한다. 따라서 광의 발산 여부로 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치(700)의 정상 동작 여부를 쉽게 알 수 있다.
도 2는 도 1의 제1 전압 검사부의 내부 회로도이다.
도 2를 참조하면, 제1 전압 검사부(740_1)는 테스트용 데이터 구동 전압에 인에이블되는 제1 스위칭 소자(SW1)와 발광 소자(L)를 포함한다.
테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)이 소정 레벨인 경우에 제1 스위칭 소자(SW1)가 인에이블되어, 외부로부터 인가된 제1 입력 전압(Vin)에 의해 발광 소자(L)는 광을 발산한다.
도 1의 제2 및 제3 전압 검사부(740_2, 740_3)의 내부 회로도 도 2의 제1 전압 검사부(740_1) 내부 회로와 동일하다. 즉, 제2 전압 검사부(740_2)는 테스트용 게이트 온 전압(TVon)에 인에이블되는 스위칭 소자와, 외부 전원에 의해 광을 발산하는 발광 소자를 포함하고, 제3 전압 검사부(740_3)는 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)에 인에이블되는 스우칭 소자와, 외부 전원에 의해 광을 발산하는 발광 소자를 포함하는데, 이를 도시하지 않았다.
제1 스위칭 소자(SW1)는, 예를 들어 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)이 대략 32V인 경우가 바람직한 경우, 대략 32V에 인에이블될 수 있어야 하는데, 이는 하나의 수동 소자인 경우를 예로 들어 도시하였으나, 여러 수동/능동 소자를 포함하는 회로일 수 있다.
액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치(700)가, 고전압 스트레스 검사를 위한 레벨의 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)과, 테스트용 게이트 온 및 오프 전 압(TVon, TVoff)을 제공하는 경우 발광 소자가 광을 발산하고, 그렇지 아니한 경우에는 광을 발산하지 않으므로, 테스트용 전압 제공 장치(700)가 정상적으로 동작하는지 여부를 쉽게 알 수 있다.
도 3은 도 1의 테스트용 데이터 구동 전압 발생부의 내부 회로도이고, 도 4는 도 1의 테스트용 게이트 온 전압 발생부의 내부 회로도이고, 도 5는 테스트용 게이트 오프 전압 발생부의 내부 회로도이다.
도 3을 참조하면, 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)는 제2 입력 전압(Vin2)이 인가되는 인덕터(L)와, 인덕터(L)에 애노드가 연결되고 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)의 출력 단자에 캐소드가 연결된 제1 다이오드(D1)와, 제1 다이오드(D1)와 접지 사이에 연결된 제1 커패시터(C1)와, 제1 다이오드(D1)의 애노드 단자와 접지 사이에 연결되어 클럭 신호(CLK)에 따라 온/오프 되는 제2 스위칭 소자(SW2)를 포함한다.
동작을 설명하면, 클럭 신호(CLK)에 의해 제2 스위칭 소자(SW2)가 온(on)되는 경우, 인덕터(L)의 전류, 전압 특성에 따라 인덕터(L) 양단에 인가되는 제2 입력 전압(Vin2)에 비례하여 인덕터(L)을 흐르는 전류(IL)가 서서히 증가된다. 여기서 제2 스위칭 소자(SW2)가 온(on)되는 시간이 길수록 인덕터(L)를 흐르는 전류(IL)는 증가한다. 이때, 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)은 제1 커패시터(C1)에 충전되었던 전압이 출력된다.
제2 스위칭 소자(SW2)가 오프(off)되면 인덕터(L)를 흐르는 전류(IL)는 제1 다이오드(D1)를 통해 흐르고, 제1 커패시터(C1)의 전류, 전압 특성에 따라 제1 커패시터(C1)에 전압이 충전된다. 따라서 제2 입력 전압(Vin2)이 일정 전압으로 승압되어 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)로 출력된다.
여기서, 펄스 신호(PULSE)가 출력되는데, 제2 스위칭 소자(SW2)가 온인 경우에는 0볼트이고, 오프인 경우에는 대략 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)의 전압 레벨을 갖는 펄스 신호가 된다. 이러한 펄스 신호(PULSE)는 도 1의 테스트용 게이트 온 및 오프 전압 발생부(740_2, 740_3)에 각각 제공된다.
위에서 테스트용 데이터 구동 전압 발생부(710)의 내부 회로는 부스트(boost) 회로를 예로 들어 설명하였으나, 이에 한정되지 않고 다양하게 구성될 수 있다.
도 4를 참조하면, 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)는 제3 입력 전압 노드(N1)에 애노드가 연결되고 제1 펄스 입력 노드(N2)에 캐소드가 연결된 제2 다이오드(D2)와, 제1 펄스 입력 노드(N2)에 애노드가 연결되고 제1 출력 전압 노드(N3)에 캐소드가 연결된 제3 다이오드(D3)와, 제1 펄스 입력 노드(N2)에 펄스 신호(PULSE)를 제공하는 제3 커패시터(C3)를 포함한다.
여기서, 제1 입력 전압 노드(N1)는 제3 입력 전압(Vin3)이 인가되고 제1 출력 전압 노드(N3)는 테스트용 게이트 온 전압(TVon)을 출력한다.
제2 및 제3 다이오드(D2, D3)에 순방향 전압이 인가되는 경우의 전압 강하를 무시하고 동작을 설명하면, 펄스 신호(PULSE)의 전압 레벨이 제3 입력 전압(Vin3)의 전압 레벨보다 높은 시간, 즉 펄스 신호(PULSE)가 하이레벨인 시간 동안, 제2 다이오드(D2)는 역방향 전압이 인가되어 도통되지 않고 순방향 전압이 인가된 제3 다이오드(D3)는 도통되어 제3 입력 전압(Vin3)과 펄스 신호(PULSE)의 전위차에 해당하는 전압이 제2 커패시터(C2) 및 제3 커패시터(C3)에 충전된다.
다음으로 펄스 신호(PULSE)의 전압 레벨이 제3 입력 전압(Vin3)의 전압 레벨보다 낮은 시간, 즉 펄스 신호(PULSE)가 0볼트인 시간 동안, 제3 다이오드(D3)는 역방향 전압이 인가되어 도통되지 않고 순방향 전압이 인가된 제2 다이오드(D2)는 도통되어 제2 커패시터(C2)에 충전된 전압은 유지되고, 제3 입력 전압(Vin3)이 제3 커패시터(C3)에 충전된다.
다시 펄스 신호(PULSE)가 하이레벨이 되면, 제2 다이오드(D2)은 도통되지 않고 제3 다이오드(D3)는 도통되어 펄스 신호(PULSE)의 전압 레벨과 제3 커패시터(C3)에 충전되어 있던 제3 입력 전압(Vin3)의 전압 레벨이 합쳐진 전압이 제2 커패시터(C2)에 충전된다.
이러한 과정을 통해 제1 출력 전압 노드(N3)의 전압 레벨은 제3 입력 전압(Vin3)의 전압 레벨에서 펄스 신호(PULSE)의 전압 레벨만큼 쉬프트되어 테스트용 게이트 온 전압(TVon)이 출력된다.
위에서 테스트용 게이트 온 전압 발생부(720)의 내부 회로는 전하 펌프(charge pump) 방식을 예로 들어 설명하였으나, 이에 한정되지 않고 다양하게 구성될 수 있다.
도 5를 참조하면, 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)는 제4 입력 전압 노드(N4)에 캐소드가 연결되고 제2 펄스 입력 노드(N5)에 애노드가 연결된 제4 다 이오드(D4)와, 제2 펄스 입력 노드(N5)에 캐소드가 연결되고 제2 출력 전압 노드(N6)에 애노드가 연결된 제5 다이오드(D5)와, 제2 펄스 입력 노드(N5)에 펄스 신호(PULSE)를 제공하는 제5 커패시터(C5)를 포함한다.
여기서, 제2 입력 전압 노드(N2)는 제4 입력 전압(Vin4)이 인가되고 제2 출력 전압 노드(N6)는 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)을 출력한다.
제4 및 제5 다이오드(D4, D5)에 순방향 전압이 인가되는 경우의 전압 강하를 무시하고 제4 입력 전압(Vin4)의 전압이 0볼트인 경우를 예로 들어 동작을 설명하면, 펄스 신호(PULSE)가 하이레벨인 시간 동안, 제5 다이오드(D5)는 역방향 전압이 인가되어 도통되지 않고, 순방향 전압이 인가된 제4 다이오드(D4)는 도통되어 펄스 신호(PULSE)의 전압이 제4 커패시터(C4)에 충전된다.
다음으로 펄스 신호(PULSE)가 0볼트인 시간 동안, 제4 다이오드(D4)는 도통되지 않고 제4 커패시터(C4) 및 제5 커패시터(C5)에 펄스 신호(PULSE)의 전압이 충전된다.
다시 펄스 신호(PULSE)가 하이레벨이 되면, 제5 다이오드(D5)은 도통되지 않아 제4 커패시터(C4)에 충전된 전압은 유지되고, 제4 다이오드(D4)는 도통되어 펄스 신호(PULSE)의 전압이 제5 커패시터(C5)에 충전된다.
이러한 과정을 통해 제2 출력 전압 노드(N6)의 전압 레벨은 제4 입력 전압(Vin4)의 전압 레벨인 0V에서 펄스 신호(PULSE)의 전압 레벨만큼 쉬프트되어 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff)이 출력된다.
위에서 테스트용 게이트 오프 전압 발생부(730)의 내부 회로는 전하 펌프 (charge pump) 방식을 예로 들어 설명하였으나, 이에 한정되지 않고 다양하게 구성될 수 있다.
또한, 테스트용 전압 제공 장치(700)는 이에 한정되지 않고, 테스트용 데이터 구동 전압(TVADD), 테스트용 게이트 온 전압(TVon), 테스트용 게이트 오프 전압(TVoff) 중에서 적어도 하나 이상의 전압을 제공할 수 있으며, 그 밖에 액정 표시 장치의 구동시 필요한 디지털 구동 전압(DVDD)을 테스트하기 위해 테스트용 디지털 구동 전압을 제공할 수도 있다. 전압 검사부(740_1, 740_2, 740_3)는 테스트용 전압(TVADD, TVon, TVoff) 또는 테스트용 디지털 구동 전압 중에서 적어도 하나 이상의 전압을 검사하기 위해 사용될 수 있다.
이와 같은 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치(700)는, 고전압 스트레스 검사를 위한 적정 레벨의 전압이 제공되는지 여부를 테스트용 전압 제공 장치(700) 내부의 발광 소자가 광을 발산하는지 여부로 쉽게 알 수 있다. 또한, 테스트용 전압 제공 장치(700)가 불량인 경우 즉시 발견, 교체하여 고전압 스트레스 검사의 효율을 높이고, 액정 표시 장치의 손상을 방지할 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 액정 표시 장치의 테스트 시스템을 설명하기 위한 블록도이다.
도 6을 참조하면, 액정 표시 장치의 테스트 시스템(10)은 테스트용 전압 제공 장치(700)와, 테스트용 영상 신호 제공 장치(800)와, 피테스트 액정 표시 장치(100)를 포함한다.
테스트용 전압 제공 장치(700)는 위에서 설명한 것과 마찬가지로, 피테스트 액정 표시 장치(100)에 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)과, 테스트용 게이트 온 및 오프 전압(TVon, TVoff)을 제공한다.
테스트용 영상 신호 제공 장치(800)는 컴퓨터 등을 예로 들 수 있는데, 피테스트 액정 표시 장치(100)에 테스트를 위한 테스트용 영상 신호(R, G, B)와 및 이의 표시를 제어하는 제어 신호를 제공한다. 여기서 제어 신호의 예로는 수직 동기 신호(Vsinc)와 수직 동기 신호(Hsync), 메인 클럭(MCLK), 데이터 인에이블 신호(DE) 등이 있다.
피테스트 액정 표시 장치(100)는 액정 패널 어셈블리(liquid crystal panel assembly)(200), 이에 연결된 게이트 구동부(300) 및 데이터 구동부(400), 데이터 구동부(400)에 연결된 계조 전압 발생부(600), 그리고 이들을 제어하는 신호 제어부(500)를 포함한다.
액정 패널 어셈블리(200)는 등가 회로로 볼 때 다수의 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)과 이에 연결되어 있으며 행렬의 형태로 배열된 다수의 화소(PX)를 포함한다. 표시 신호선(G1-Gn, D1-Dm)은 게이트 신호를 전달하는 복수의 게이트선(G1-Gn)과 데이터 신호를 전달하는 복수의 데이터선(D1-Dm)을 포함한다. 게이트선(G1-Gn)은 대략 행 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하고, 데이터선(D1-Dm)은 대략 열 방향으로 연장되어 서로가 거의 평행하다.
게이트 구동부(300)는 테스트용 전압 제공 장치(700)로부터 고전압인 테스트용 게이트 온 및 오프 전압(TVon, TVoff)을 제공받아, 게이트 제어 신호(CONT1)에 제어되어 테스트용 게이트 온 또는 오프 전압(TVon, TVoff)을 게이트선(G1-Gn)에 인가한다.
데이터 구동부(400)는 액정 패널 어셈블리(200)의 데이터선(D1-Dm)에 연결되어 계조 전압 발생부(600)로부터의 데이터에 해당하는 계조 전압을 선택하고, 선택된 계조 전압을 데이터 전압으로서 화소에 인가한다. 여기서, 계조 전압 발생부(600)가 모든 계조에 대한 전압을 모두 제공하는 것이 아니라 기본 계조 전압만을 제공하는 경우에, 데이터 구동부(400)는 기본 계조 전압을 분배하여 전체 계조에 대한 계조 전압을 생성하고 이 중에서 데이터 전압을 선택할 수 있다.
신호 제어부(500)는 테스트용 영상 신호 제공 장치(800)로부터 테스트용 영상 신호(R, G, B) 및 이의 표시를 제어하는 제어 신호를 수신한다. 테스트용 영상 신호(R, G, B)와 제어 신호를 기초로 게이트 제어 신호(CONT1)와 데이터 제어 신호(CONT2)를 생성하고 게이트 제어 신호(CONT1)를 게이트 구동부(300)에, 데이터 제어 신호(CONT2)와 영상 신호(DAT)를 데이터 구동부(400)로 보낸다.
계조 전압 발생부(gray voltage generator)(600)는 테스트용 전압 제공 장치(700)로부터 고전압인 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)를 제공받아 계조 전압을 생성한다. 계조 전압 발생부(600)은 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)이 인가되는 노드와 그라운드 사이에 직렬로 연결된 복수의 저항을 포함하여, 상기 테스트용 데이터 구동 전압(TAVDD)의 전압 레벨을 분배하여 상기 계조 전압을 생성하지만 이를 도시하지 않았다. 계조 전압 발생부(600)의 내부 회로는 이에 한정되지 않고, 다양하게 구현될 수 있다.
피테스트 액정 표시 장치(100)는 구동시 필요한 데이터 구동 전압(AVDD), 게 이트 온 및 오프 전압(Von, Voff)을 제공하는 구동 장치를 포함하는데, 고전압 스트레스 검사시에는 상기 구동 장치를 동작시키지 않고 테스트용 전압 제공 장치(700)를 통해 필요한 전압을 제공 받으므로, 상기 구동 장치는 도시하지 않았다.
이와 같은 액정 표시 장치의 테스트 시스템(10)은 테스트용 전압 제공 장치(700)가 고전압 스트레스 검사를 위한 적정 레벨의 전압을 제공하는지 여부를 테스트용 전압 제공 장치(700) 내부의 발광 소자가 광을 발산하는지 여부를 통해 쉽게 알 수 있다. 또한, 테스트용 전압 제공 장치(700)가 불량인 경우 즉시 발견, 교체하여 고전압 스트레스 검사의 효율을 높이고, 액정 표시 장치의 손상을 방지할 수 있다.
이상 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 일 실시예를 설명하였지만, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자는 본 발명이 그 기술적 사상이나 필수적인 특징을 변경하지 않고서 다른 구체적인 형태로 실시될 수 있다는 것을 이해할 수 있을 것이다. 그러므로 이상에서 기술한 실시예는 모든 면에서 예시적인 것이며 한정적이 아닌 것으로 이해해야만 한다.
상술한 바와 같이 본 발명에 따른 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치 및 액정 표시 장치의 테스트 시스템에 의하면, 다음과 같은 효과를 얻을 수 있다.
첫째, 테스트용 전압 제공 장치가 고전압 스트레스 검사에 필요한 레벨의 전압을 제공하는, 테스트용 전압 제공 장치 내부의 발광 소자가 광을 발산하므로 정 상 동작 여부를 쉽게 알 수 있다.
둘째, 불량의 테스트용 전압 제공 장치를 즉시 발견, 교체함으로써 고전압 스트레스 검사의 효율을 높일 수 있다.
셋째, 불량의 테스트용 전압 제공 장치를 즉시 발견, 교체함으로써 불량의 테스트용 전압 제공 장치를 사용함으로 인한 피테스트 액정 표시 장치의 손상을 방지할 수 있다.

Claims (14)

  1. 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압을 생성하는 테스트용 데이터 구동 전압 생성부;
    피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 온 전압을 생성하는 테스트용 게이트 온 전압 생성부;
    상기 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 오프 전압을 생성하는 테스트용 게이트 오프 전압 생성부; 및
    상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 출력 노드에 각각 연결되어, 상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨을 검사하는 전압 검사부를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  2. 제 1항에 있어서,
    상기 전압 검사부는 상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨이 각각 소정 레벨인 경우에 광을 발산하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  3. 제 2항에 있어서,
    상기 전압 검사부는 상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압 각각에 인에이블되는 스위칭 소자와, 상기 스위칭 소자가 인에이블되면 상기 광을 발산하는 발광 소자를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  4. 제 3항에 있어서,
    상기 테스트용 데이터 구동 전압 생성부는 외부 클럭 신호에 따라 제1 입력 전압의 전압 레벨을 부스팅하여 상기 테스트용 데이터 구동 전압을 출력하고, 상기 외부 클럭 신호에 동기된 펄스 신호를 출력하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  5. 제 4항에 있어서,
    상기 테스트용 게이트 온 전압 생성부는 제2 입력 전압의 전압 레벨에서 상기 펄스 신호의 전압 레벨을 쉬프트하여 상기 테스트용 게이트 온 전압을 출력하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  6. 제 4항에 있어서,
    상기 테스트용 게이트 오프 전압 생성부는 제3 입력 전압의 전압 레벨에서 상기 펄스 신호의 전압 레벨을 쉬프트하여 상기 테스트용 게이트 오프 전압을 출력하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  7. 고전압 스트레스 상황에서 피테스트 액정 표시 장치에 적어도 하나 이상의 테스트용 구동 전압을 제공하는 테스트용 구동 전압 생성부; 및
    상기 적어도 하나 이상의 테스트용 구동 전압의 전압 레벨을 각각 검사하는 적어도 하나 이상의 전압 검사부를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  8. 제 7항에 있어서,
    상기 적어도 하나 이상의 테스트용 구동 전압 생성부는, 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 피테스트 액정 표시 장치의 게이트 라인에 제공되는 테스트용 게이트 온 전압 및 테스트용 게이트 오프 전압을 포함하는 그룹에서 적어도 하나를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치.
  9. 다수 레벨의 테스트용 계조 전압으로 전압 분배되는 테스트용 데이터 구동 전압을 생성하는 테스트용 데이터 구동 전압 생성부와, 게이트 라인에 테스트용 온 전압을 제공하는 테스트용 게이트 온 전압 생성부와, 상기 게이트 라인에 테스트용 게이트 오프 전압을 제공하는 테스트용 게이트 오프 전압 생성부와, 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 출력 노드에 각각 연결되어 상기 테스트용 데이터 구동 전압과 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨을 검사하는 전압 검사부를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트용 전압 제공 장치;
    테스트용 영상 신호를 제공하는 테스트용 영상 신호 제공 장치; 및
    상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압, 상기 테스트용 영상 신호를 제공받아 소정의 테스트 영상을 표시하는 피테스트 액정 표시 장치를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  10. 제 9항에 있어서,
    상기 전압 검사부는 상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압의 레벨이 각각 소정 레벨인 경우에 광을 발산하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  11. 제 10항에 있어서,
    상기 전압 검사부는 상기 테스트용 데이터 구동 전압, 상기 테스트용 게이트 온 및 오프 전압 각각에 인에이블되는 스위칭 소자와, 상기 스위칭 소자가 인에이블되면 상기 광을 발산하는 발광 소자를 포함하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  12. 제 11항에 있어서,
    상기 테스트용 데이터 구동 전압 생성부는 외부 클럭 신호에 따라 제1 입력 전압의 전압 레벨을 부스팅하여 상기 테스트용 데이터 구동 전압을 출력하고, 상기 외부 클럭 신호에 동기된 펄스 신호를 출력하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
  13. 제 12항에 있어서,
    상기 테스트용 게이트 온 전압 생성부는 제2 입력 전압의 전압 레벨에서 상기 펄스 신호의 전압 레벨을 쉬프트하여 상기 테스트용 게이트 온 전압을 출력하는 액정 표시 장치의 테스트 시트템.
  14. 제 12항에 있어서,
    상기 테스트용 게이트 오프 전압 생성부는 제3 입력 전압의 전압 레벨에서 상기 펄스 신호의 전압 레벨을 쉬프트하여 상기 테스트용 게이트 오프 전압을 출력하는 액정 표시 장치의 테스트 시스템.
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Cited By (4)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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