WO2017094555A1 - Ｌｅｄバックライトの検査方法 - Google Patents

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WO2017094555A1
WO2017094555A1 PCT/JP2016/084540 JP2016084540W WO2017094555A1 WO 2017094555 A1 WO2017094555 A1 WO 2017094555A1 JP 2016084540 W JP2016084540 W JP 2016084540W WO 2017094555 A1 WO2017094555 A1 WO 2017094555A1
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backlight
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led backlight
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三好　隆一
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シャープ株式会社
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Definitions

  • the present invention relates to an inspection method for a backlight provided in a display device, and more particularly to an inspection method for an LED backlight including a plurality of LEDs.
  • Non-light-emitting display devices such as liquid crystal display devices are provided with a backlight that irradiates light on the back of the display panel.
  • the backlight is configured using, for example, a plurality of LEDs (Light Emitting Diodes) and a light guide plate.
  • LEDs Light Emitting Diodes
  • a light guide plate an inspection method for an LED backlight including a plurality of LEDs will be examined.
  • the backlight is inspected.
  • the backlight is inspected by writing a video signal for white display on a liquid crystal panel, turning on the backlight with a predetermined luminance, and measuring the luminance of the display screen at that time.
  • Also known is a method of measuring the voltage and current in the backlight driving circuit when the backlight is turned on.
  • Patent Document 1 discloses a luminance level applied to a backlight of a liquid crystal display device in which a display failure has not occurred, and a luminance level applied to a backlight of a liquid crystal display device to be inspected. Describes a method for determining that a display failure has not occurred in the liquid crystal display device to be inspected when the difference between them is small.
  • Patent Document 2 discloses a method of generating an LED short signal by comparing a voltage of a certain node in an LED group and a voltage obtained by dividing a voltage across the LED group with respect to an LED group including a plurality of LEDs connected in series. Is described.
  • FIG. 14 is a diagram showing a lighting state of the LED backlight.
  • a plurality of LEDs (dot pattern portions) 91 are arranged along one side of the light guide plate 92.
  • the arrows shown in FIG. 14 indicate how the emitted light from the LED 91 propagates inside the light guide plate 92.
  • the abnormal backlight In the normal backlight (FIG. 14 (a)), all LEDs 91 are lit, whereas the abnormal backlight (FIG. 14 (b)) includes LEDs 93 (black areas) that are not lit. For this reason, a difference occurs in the brightness of the display screen between the normal backlight and the abnormal backlight.
  • the proportion of the luminance of the display screen occupied by lighting of one LED decreases. For this reason, even if there is an LED that is not lit, the luminance of the display screen may change only within the range of the variation in luminance when all the LEDs are lit. In this case, even if the brightness of the display screen is measured, the presence of an unlit LED cannot be detected.
  • the conventional inspection method for measuring the voltage and current in the backlight drive circuit requires the addition of an inspection terminal, so that there is a problem that it is difficult to implement or increases the cost when it is performed.
  • an object of the present invention is to provide a method for reliably and easily inspecting an LED backlight.
  • a first aspect of the present invention is a method for inspecting an LED backlight having a plurality of LED groups including a plurality of LEDs connected in series and provided in a display device, Each of the LED groups is driven at a constant current; Measuring an operating voltage of each of the LED groups; Determining that the LED backlight is normal if all of the operating voltage differences are less than a reference value, and otherwise determining that the LED backlight is abnormal.
  • the plurality of LEDs included in the LED group are connected in series so that the cathode terminal of the front-stage LED is connected to the anode terminal of the rear-stage LED.
  • the anode terminal of the first stage LED included in the LED group is connected to a first terminal common to all the LED groups,
  • the cathode terminal of the last-stage LED included in the LED group is connected to a second terminal provided for each LED group,
  • an inspection potential is applied to the first terminal, and a potential corresponding to a current flowing through the LED group is applied to the second terminal.
  • the determining step includes determining whether or not all the differences in the operating voltage are less than the reference value by determining whether or not a difference between the maximum value and the minimum value of the operating voltage is less than the reference value.
  • the display device is housed in a thermostatic chamber having a high temperature inside.
  • the method further includes the step of switching the amount of drive current used in the constant current driving step between a normal current and a minute current.
  • the display device includes the LED backlight and a liquid crystal panel.
  • the LED backlight has a configuration in which a plurality of LEDs are arranged along one or more sides of a light guide plate.
  • a ninth aspect of the present invention is an LED backlight inspection apparatus provided in a display device, having a plurality of LED groups including a plurality of LEDs connected in series.
  • a constant current controller for driving each LED group at a constant current;
  • a voltage measuring unit for measuring an operating voltage of each of the LED groups;
  • a determination unit that determines that the LED backlight is normal when all the operating voltage differences are less than a reference value; otherwise, the determination unit determines that the LED backlight is abnormal.
  • the first, second, or ninth aspect of the present invention by measuring the operating voltage of each LED group and determining whether the LED backlight is normal based on the difference in operating voltage of the LED group, Inspection of the LED backlight can be reliably performed. In addition, since the inspection is performed using the existing terminals provided for driving the LED group, it is possible to easily inspect the LED backlight without adding an inspection terminal to the LED group.
  • the LED backlight in which the anode side terminal of the LED group is connected to the same terminal can be reliably and easily inspected.
  • the fourth aspect of the present invention by comparing the difference between the maximum value and the minimum value of the operating voltage with the reference value, it is possible to easily determine whether or not all the operating voltage differences are less than the reference value. .
  • the fifth aspect of the present invention by inspecting the LED backlight in a high temperature state, it is possible to detect a loose contact failure of the wire bond wiring that is difficult to detect at room temperature.
  • the LED group is driven at a constant current using a minute current, thereby detecting an LED leakage failure that cannot be detected even when the LED group is driven at a constant current using a normal current. Can do.
  • the LED backlight provided in the liquid crystal display device can be reliably and easily inspected.
  • an LED backlight configured using a plurality of LEDs and a light guide plate.
  • the inspection method according to each embodiment of the present invention is a method for inspecting an LED backlight provided in a non-luminous display device.
  • the LED backlight has a plurality of LED groups including a plurality of LEDs connected in series.
  • an inspection method for the LED backlight provided in the liquid crystal display device will be described.
  • FIG. 1 is a block diagram showing a configuration of a liquid crystal display device to be inspected.
  • a liquid crystal display device 10 shown in FIG. 1 includes a liquid crystal panel 11, a display control circuit 12, a scanning line driving circuit 13, a data line driving circuit 14, an LED backlight 15, and a backlight driving circuit 16.
  • m, n, p, and q are integers of 2 or more.
  • the liquid crystal panel 11 includes m scanning lines G1 to Gm, n data lines S1 to Sn, and (m ⁇ n) pixel circuits P.
  • the scanning lines G1 to Gm are arranged in parallel to each other.
  • the data lines S1 to Sn are arranged in parallel to each other and orthogonal to the scanning lines G1 to Gm.
  • the scanning lines G1 to Gm and the data lines S1 to Sn intersect at (m ⁇ n) locations.
  • (M ⁇ n) pixel circuits P are arranged corresponding to (m ⁇ n) intersections.
  • the display control circuit 12 outputs a control signal C1 to the scanning line driving circuit 13, and outputs a control signal C2 and a video signal V1 to the data line driving circuit 14.
  • the scanning line driving circuit 13 sequentially selects one scanning line from the scanning lines G1 to Gm on the basis of the control signal C1, and supplies a write voltage (a write control transistor (see FIG. 5) in the pixel circuit P) to the selected scanning line. (Not shown) is applied).
  • n pixel circuits P connected to the selected scanning line are selected.
  • the data line driving circuit 14 applies n voltages corresponding to the video signal V1 to the data lines S1 to Sn based on the control signal C2. As a result, n voltages are respectively written in the selected n pixel circuits P.
  • the LED backlight 15 is disposed on the back side of the liquid crystal panel 11 and irradiates the back surface of the liquid crystal panel 11 with light.
  • the backlight drive circuit 16 drives the LED backlight 15. More specifically, the backlight drive circuit 16 drives the plurality of LEDs included in the LED backlight 15 at a constant current.
  • FIG. 2 is a diagram showing a physical configuration of the LED backlight 15.
  • the LED backlight 15 shown in FIG. 2 includes a plurality of LEDs 17 and a light guide plate 18.
  • the plurality of LEDs 17 are arranged along one side (the lower side in FIG. 2) of the light guide plate 18.
  • the plurality of LEDs 17 may be arranged along two opposing sides (for example, the upper side and the lower side) of the light guide plate 18, and the plurality of LEDs 17 are arranged two-dimensionally. Also good.
  • FIG. 3 is a diagram showing an electrical configuration of the LED backlight 15.
  • the plurality of LEDs 17 included in the LED backlight 15 are classified into a plurality of LED groups 19 each including a plurality of LEDs 17.
  • the plurality of LEDs 17 included in each LED group 19 are connected in series so that the cathode terminal of the preceding LED 17 is connected to the anode terminal of the next LED 17.
  • the LED backlight includes (p ⁇ q) LEDs
  • the (p ⁇ q) LEDs are classified into p LED groups q by q, and the q LEDs included in each LED group are Connected in series.
  • the 15 LEDs 17 are classified into 3 LED groups 19a to 19c, each having 5 LEDs.
  • the five LEDs 17 included in the LED group 19a are connected in series.
  • the LED backlight 15 has four terminals T0 to T4 for connection with the backlight driving circuit 16.
  • the anode terminals of the first-stage LEDs 17 included in the LED groups 19a to 19c are connected to a terminal T0 common to the LED groups 19a to 19c.
  • the cathode terminals of the last-stage LEDs 17 included in the LED groups 19a to 19c are connected to terminals T1 to T3 provided for the LED groups 19a to 19c, respectively.
  • the backlight drive circuit 16 drives the plurality of LEDs 17 included in the LED backlight 15 at a constant current. More specifically, the backlight drive circuit 16 applies a voltage between the terminals T0 and T1 for causing a drive current for light emission to flow through the LED group 19a. Therefore, the backlight driving circuit 16 applies a fixed potential to the terminal T0, and applies a potential corresponding to the current flowing from the terminal T1 (current flowing through the LED group 19a) to the terminal T1.
  • the backlight drive circuit 16 applies a potential corresponding to the current flowing from the terminal T2 (current flowing through the LED group 19b) to the terminal T2 in order to flow the same amount of drive current to the LED group 19b, and the LED group 19c. In order to cause the same amount of drive current to flow through, a potential corresponding to the current flowing from the terminal T3 (current flowing through the LED group 19c) is applied to the terminal T3.
  • FIG. 4 is a diagram for explaining the inspection method according to the first embodiment of the present invention.
  • the liquid crystal display device 10 is inspected using an inspection device 20 including a panel control unit 21, a constant current control unit 22, and a voltage measurement unit 23.
  • the panel control unit 21 is provided for inspecting the liquid crystal panel 11.
  • the panel control unit 21 writes an inspection video signal to the liquid crystal panel 11. The operator can check whether the liquid crystal panel 11 is normal or abnormal by visually confirming the display screen at that time (or by the inspection device 20 automatically acquiring and collating it with the correct screen).
  • FIG. 5 is a diagram for explaining the LED backlight inspection method according to the present embodiment.
  • FIG. 5 shows elements related to the inspection of the LED backlight 15 among the constituent elements of the inspection apparatus 20.
  • the inspection apparatus 20 includes a constant current control unit 22, a voltage measurement unit 23, a backlight inspection control unit 24, a power supply control unit 25, and a display unit 26.
  • the backlight inspection control unit 24 outputs to the power supply control unit 25 a control signal C3 indicating whether to supply a test voltage to the LED backlight 15.
  • the output terminal of the power supply control unit 25 is connected to the terminal T0 of the LED backlight 15.
  • the power supply control unit 25 switches whether or not to apply the inspection potential to the terminal T0 based on the control signal C3.
  • the constant current control unit 22 is connected to the terminals T1 to T3 of the LED backlight 15.
  • the constant current control unit 22 applies a potential corresponding to the current flowing from the terminal T1 to the terminal T1 in order to flow a normal current for inspection through the LED group 19a.
  • the constant current control unit 22 applies a potential corresponding to the current flowing from the terminal T2 to the terminal T2 in order to flow the same amount of normal current to the LED group 19b, and applies the same amount of normal current to the LED group 19c.
  • a potential corresponding to the current flowing from the terminal T3 is applied to the terminal T3.
  • FIG. 6 is a circuit diagram showing a part of the constant current control unit 22.
  • FIG. 6 shows a circuit corresponding to the LED group 19a.
  • the circuit shown in FIG. 6 includes a constant current source 31, an operational amplifier 32, an N-channel MOSFET (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor) 33, and resistors 34 and 35.
  • One end of the constant current source 31 and one end of the resistor 34 are connected to the non-inverting input terminal of the operational amplifier 32.
  • the drain terminal of the MOSFET 33 is connected to the terminal T 1 of the LED backlight 15.
  • the source terminal of the MOSFET 33 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 32 and one end of the resistor 35.
  • the output terminal of the operational amplifier 32 is connected to the gate terminal of the MOSFET 33.
  • the other end of the constant current source 31 and the other ends of the resistors 34 and 35 are grounded.
  • the constant current control unit 22 includes a circuit having the same configuration as the circuit shown in FIG. 6 corresponding to the LED groups 19b and 19c.
  • the gate potential of the MOSFET 33 changes according to the difference between the amount of current flowing from the constant current source 31 and the amount of current flowing through the MOSFET 33 (the amount of current flowing through the LED group 19a).
  • the amount of current flowing through the MOSFET 33 varies according to the gate-source voltage of the MOSFET 33. Therefore, the amount of current flowing through the LED group 19a can be made equal to the amount of current flowing from the constant current source 31 using the circuit shown in FIG.
  • the amount of current flowing through the LED group 19b and the amount of current flowing through the LED group 19c can be made equal to the amount of current flowing from the constant current source 31.
  • the voltage measuring unit 23 is connected to the terminals T0 to T3 of the LED backlight 15, and measures the operating voltages Vf1 to Vf3 of the LED groups 19a to 19c. More specifically, the voltage measurement unit 23 measures the voltage between the terminals T0 and T1 as the operating voltage Vf1 of the LED group 19a, measures the voltage between the terminals T0 and T2 as the operating voltage Vf2 of the LED group 19b, The voltage between the terminals T0 and T3 is measured as the operating voltage Vf3 of the group 19c. The voltage measurement unit 23 outputs measurement data D1 including the measured operating voltages Vf1 to Vf3 to the backlight inspection control unit 24.
  • a reference value Vdlim1 (limit value) of the difference in operating voltage of the LED group 19 is determined in advance. Based on the measurement data D1, the backlight inspection control unit 24 determines that the LED backlight 15 is normal when all the operating voltage differences are less than the reference value Vdlim1, and otherwise (the difference in operating voltage difference). If any of them is greater than or equal to the reference value Vdlim1, the LED backlight 15 is determined to be abnormal. More specifically, the backlight inspection control unit 24 obtains the maximum value and the minimum value of the operating voltage, and when the difference between the maximum value and the minimum value of the operating voltage is less than the reference value Vdlim1, the LED backlight 15 is normal. In other cases (when the difference between the maximum value and the minimum value of the operating voltage is greater than or equal to the reference value Vdlim1), it is determined that the LED backlight 15 is abnormal.
  • the backlight inspection control unit 24 obtains the maximum value Vfmax and the minimum value Vfmin of the operating voltages Vf1 to Vf3, and determines that the LED backlight 15 is normal when Vfmax ⁇ Vfmin ⁇ Vdlim1, and Vfmax ⁇ When Vfmin ⁇ Vdlim1, it is determined that the LED backlight 15 is abnormal. As described above, the backlight inspection control unit 24 determines whether or not the difference between the maximum value Vfmax and the minimum value Vfmin of the operating voltages Vf1 to Vf3 is less than the reference value Vdlim1, so that all the differences of the operating voltages Vf1 to Vf3 are the reference. It is determined whether or not the value is less than Vdlim1. Thereby, it is possible to easily determine whether or not all the operating voltage differences are less than the reference value Vdlim1.
  • the display unit 26 displays a screen showing the determination result by the backlight inspection control unit 24.
  • the display unit 26 may display only whether the LED backlight 15 is normal or abnormal, may indicate which LED group 19 includes the abnormal LED 17, and the type of abnormality that has occurred in the LED 17 (open Whether it is defective or short-circuited) may be displayed. The operator can know the inspection result of the LED backlight 15 by looking at the screen displayed on the display unit 26.
  • FIG. 7 is a flowchart showing the LED backlight inspection method described above.
  • the inspection apparatus 20 drives each LED group 19 with a constant current using a normal current for inspection (step S101).
  • the inspection device 20 measures the operating voltage of each LED group 19 (step S102).
  • the inspection apparatus 20 determines whether or not all the operating voltage differences are less than the reference value (step S103). If Yes, the process proceeds to step S104. If No, the process proceeds to step S105. In the former case, the inspection apparatus 20 determines that the LED backlight 15 is normal (step S104). In the latter case, the inspection apparatus 20 determines that the LED backlight 15 is abnormal (step S105). Next, the inspection apparatus 20 displays the determination result (step S106).
  • the inspection apparatus 20 may indicate the determination result by the backlight inspection control unit 24 by another method.
  • the inspection apparatus 20 may include a green lamp that lights when the LED backlight 15 is normal, and a red lamp that lights when the LED backlight 15 is abnormal.
  • LEDs are classified into a plurality of ranks according to various performances (chromaticity, luminous intensity, forward voltage, etc.).
  • the operating voltage of the LED group decreases by the forward voltage of the LED. For this reason, when a short circuit failure occurs in a certain LED, the operating voltage of the LED group including the LED decreases by 3V.
  • the operating voltage of the LED group is greatly reduced from the maximum value of the variation amount of the operating voltage of the normal LED group. Therefore, it is possible to detect LED short-circuit defects using the LED backlight inspection method according to the present embodiment.
  • FIG. 8 is a diagram showing a difference in operating voltage of the LED group.
  • FIG. 8 shows the operation voltage of the LED group when the LED group includes only normal LEDs, when the LED group includes an LED having a short circuit failure, and when the LED group includes an LED having an open defect. The difference from the operating voltage of the normal LED group is described. As shown in FIG. 8, when the LED group includes only normal LEDs, the difference in operating voltage is close to zero. On the other hand, when the LED group includes an LED having a short circuit failure or an open failure, the difference in operating voltage is sufficiently larger than zero. There is a difference Vd1 shown in FIG. 8 between the difference in operating voltage when the LED group includes only normal LEDs and the difference in operating voltage when the LED group includes an LED having an open failure. Therefore, the LED backlight can be reliably inspected using the difference Vd1.
  • the conventional LED backlight inspection method a plurality of LEDs included in the LED group are individually inspected. For this reason, in the conventional inspection method, it is necessary to provide an inspection terminal connected to each terminal of the LED.
  • a method of drawing a connection wiring from the flexible printed circuit board on which the LED is mounted, or a method of providing a contact probe insertion hole on the side surface of the liquid crystal display device Must be used.
  • both methods have a problem in that a circuit may be short-circuited by a conductive foreign substance (such as a metal burr) attached to the terminal because the terminal is provided on the flexible printed board on which the LED is mounted. As described above, it is not realistic to provide an inspection terminal connected to each terminal of the LED for the inspection of the LED backlight.
  • the LED backlight inspection method the voltage between the existing terminals provided for driving the LED backlight is measured, so there is no need to newly provide an inspection terminal. . Therefore, the LED backlight can be easily inspected.
  • the LED backlight inspection method includes a plurality of LED groups 19 including a plurality of LEDs 17 connected in series, and the LED backlight provided in the display device (liquid crystal display device 10).
  • This is a method for inspecting the light 15.
  • the difference between the step of driving the LED groups 19a to 19c at a constant current, the step of measuring the operating voltages Vf1 to Vf3 of the LED groups 19a to 19c, respectively, and the operating voltages Vf1 to Vf3 is all A step of determining that the LED backlight 15 is normal when it is less than the reference value Vdlim1, and otherwise determining that the LED backlight 15 is abnormal.
  • the LED backlight inspection apparatus 20 includes a constant current control unit 22 that drives the LED groups 19a to 19c at a constant current, and voltages that measure the operating voltages Vf1 to Vf3 of the LED groups 19a to 19c, respectively. If the difference between the measurement unit 23 and the operating voltages Vf1 to Vf3 is all less than the reference value Vdlim1, the LED backlight 15 is determined to be normal, and otherwise, the LED backlight 15 is determined to be abnormal. Determination unit (backlight inspection control unit 24).
  • the plurality of LEDs 17 included in the LED group 19 are connected in series so that the cathode terminal of the LED 17 in the front stage is connected to the anode terminal of the LED 17 in the rear stage.
  • the LED backlight inspection method and inspection apparatus According to the LED backlight inspection method and inspection apparatus according to this embodiment, the operating voltage of the LED group 19 is measured, and the LED backlight 15 is normal or abnormal based on the difference in operating voltage of the LED groups 19a to 19c. Therefore, the LED backlight 15 can be reliably inspected. Further, since the inspection is performed using the existing terminals T0 to T3 provided for driving the LED groups 19a to 19c, the inspection of the LED backlight 15 is performed without adding an inspection terminal to the LED groups 19a to 19c. Can be easily performed.
  • the anode terminal of the first stage LED 17 included in the LED groups 19a to 19c is connected to the first terminal (terminal T0) common to all the LED groups 19a to 19c, and the final stage included in the LED groups 19a to 19c.
  • the cathode terminal of the LED 17 is connected to a second terminal (terminals T1 to T3) provided for each of the LED groups 19a to 19c.
  • an inspection potential is applied to the first terminal, and a potential corresponding to the current flowing through the LED groups 19a to 19c is applied to the second terminal.
  • the determining step it is determined whether or not the difference between the maximum value Vfmax and the minimum value Vfmin of the operating voltages Vf1 to Vf3 is less than the reference value Vdlim1, so that all the differences between the operating voltages Vf1 to Vf3 are less than the reference value Vdlim1. It is determined whether or not.
  • the difference between the maximum value Vfmax and the minimum value Vfmin of the operating voltage with the reference value Vdlim1 it is possible to easily determine whether or not all the operating voltage differences are less than the reference value Vdlim1.
  • the display device includes an LED backlight 15 and a liquid crystal panel 11, and the LED backlight 15 has a configuration in which a plurality of LEDs 17 are arranged along one or more sides of the light guide plate 18. Have. Therefore, the LED backlight 15 configured by using the plurality of LEDs 17 and the light guide plate 18 and provided in the liquid crystal display device 10 can be reliably and easily inspected.
  • FIG. 9 is a diagram for explaining an inspection method according to the second embodiment of the present invention.
  • the inspection method according to the present embodiment is performed in a state where the liquid crystal display device 10 is placed in a constant temperature bath 40.
  • the inside of the thermostatic chamber 40 is kept at a high temperature higher than normal temperature.
  • the inspection device 20 inspects the liquid crystal panel 11 and the LED backlight 15 in the same manner as in the first embodiment with respect to the liquid crystal display device 10 placed in a high temperature state.
  • the display device (the liquid crystal display device 10) is housed in the constant temperature bath 40 having a high temperature inside.
  • the LED backlight 15 By inspecting the LED backlight 15 in a high temperature state, it is possible to easily detect a loose contact defect of the wire bond wiring that is difficult to detect at normal temperature.
  • FIG. 10 is a diagram for explaining an inspection method according to the third embodiment of the present invention.
  • an inspection device 50 is used instead of the inspection device 20 according to the first embodiment.
  • the inspection device 50 is obtained by adding a current switching unit 51 to the inspection device 20 shown in FIG.
  • FIG. 11 is a diagram for explaining an LED backlight inspection method according to this embodiment.
  • the inspection device 50 includes a constant current control unit 22, a voltage measurement unit 23, a power supply control unit 25, a display unit 26, a current switching unit 51, and a backlight inspection control unit 52.
  • the same elements as those of the first embodiment among the components of the present embodiment are denoted by the same reference numerals and description thereof is omitted.
  • the backlight inspection control unit 52 outputs a control signal C3 indicating whether or not to supply the inspection voltage to the LED backlight 15 to the power supply control unit 25, as in the first embodiment.
  • the backlight inspection control unit 52 outputs a control signal C4 indicating whether the current is a normal current or a minute current to the current switching unit 51. More specifically, the backlight inspection control unit 52 first outputs a control signal C4 indicating a minute current to the current switching unit 51, and then outputs a control signal C4 indicating a normal current.
  • the current switching unit 51 switches the amount of current used when the constant current control unit 22 drives the LED group 19 with constant current based on the control signal C4.
  • the constant current control unit 22 performs control so that a minute current flows through each LED group 19 when the control signal C4 indicates a minute current, and a normal current flows through each LED group 19 when the control signal C4 indicates a normal current. To control.
  • FIG. 12 is a circuit diagram showing a part of the constant current control unit 22 and the current switching unit 51.
  • FIG. 12 shows a circuit corresponding to the LED group 19a.
  • the broken line part is included in the current switching part 51, and the other part is included in the constant current control part 22.
  • the source terminal of the MOSFET 33 is connected to the inverting input terminal of the operational amplifier 32 and the first terminal of the switch 37.
  • a second terminal of the switch 37 is connected to one end of the resistor 35, and a third terminal of the switch 37 is connected to one end of the resistor 36.
  • the other end of the constant current source 31 and the other ends of the resistors 34 to 36 are grounded.
  • the resistance value of the resistor 35 is normally determined according to the amount of current, and the resistance value of the resistor 36 is determined according to the amount of minute current.
  • the resistance value of the resistor 36 is determined to be larger than the resistance value of the resistor 35. For example, when the amount of minute current is 1/60 of the normal current, the resistance value of the resistor 36 is determined to be 60 times the resistance value of the resistor 35.
  • the backlight inspection control unit 52 first outputs the control signal C4 indicating the minute current to the current switching unit 51. At this time, the first terminal and the third terminal of the switch 37 become conductive, the current passing through the MOSFET 33 flows through the resistor 36, and the LED backlight 15 is driven with a minute current.
  • the voltage measurement unit 23 measures the operating voltages Vfa to Vfc of the LED groups 19a to 19c driven using a minute current. In the inspection apparatus 50, a reference value Vdlim2 of a difference in operating voltage of the LED group 19 driven using a minute current is determined in advance.
  • the backlight inspection control unit 52 determines that the LED backlight 15 does not include the LED 17 having a leak failure when all the differences between the operating voltages Vfa to Vfc are less than the reference value Vdlim2, and otherwise, It is determined that the LED backlight 15 includes the LED 17 having a leak failure.
  • the backlight inspection control unit 52 outputs a control signal C4 indicating a normal current to the current switching unit 51.
  • the first terminal and the second terminal of the switch 37 become conductive, the current passing through the MOSFET 33 flows through the resistor 35, and the LED groups 19a to 19c are driven using the normal current.
  • the voltage measuring unit 23 measures the operating voltages Vf1 to Vf3 of the LED groups 19a to 19c driven using the normal current.
  • the backlight inspection control unit 52 determines that the LED backlight 15 does not include the LED 17 having the open defect or the short defect when the differences between the operating voltages Vf1 to Vf3 are all less than the reference value Vdlim1, and otherwise It is determined that the LED backlight 15 includes an LED 17 having an open failure or a short failure.
  • the backlight inspection control unit 52 determines that the LED backlight 15 is normal when it is determined that the LED backlight 15 does not include the defective LED 17 in the above two types of determinations, and otherwise.
  • the LED backlight 15 is determined to be abnormal.
  • the fluctuation of the operating voltage of the LED 17 due to the heat generated during the previous inspection is suppressed, and the influence of the previous inspection on the subsequent inspection is suppressed. Can be small.
  • the display unit 26 displays a screen showing the determination result by the backlight inspection control unit 52.
  • the display unit 26 may display only whether the LED backlight 15 is normal or abnormal, may indicate which LED group 19 includes the abnormal LED 17, and the type of abnormality that has occurred in the LED 17 (open Whether it is defective, shorted or leaked) may be displayed.
  • the operating voltage of the LED group decreases by 0.5V or more.
  • FIG. 13 is a diagram showing a difference in operating voltage of the LED group.
  • FIG. 13 is obtained by adding a difference between the operating voltage of the LED group including the LED having a leak failure and the operating voltage of the normal LED group to FIG.
  • the amount of driving current used in constant current driving is switched between a normal current and a minute current. Therefore, by driving the LED groups 19a to 19c at a constant current using a minute current, it is possible to detect a leakage failure of the LED 17 that cannot be detected even when the LED groups 19a to 19c are driven at a constant current using a normal current.
  • the LED backlight inspection method of the present invention the LED backlight can be reliably and easily inspected.
  • the LED backlight inspection method of the present invention has a feature that the LED backlight can be reliably and easily inspected, it can be used when inspecting various LED backlights.

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Abstract

直列接続された複数のＬＥＤ（１７）を含むＬＥＤ群（１９）を複数有するＬＥＤバックライト（１５）を検査する。ＬＥＤ群（１９ａ～１９ｃ）をそれぞれ定電流駆動し、ＬＥＤ群（１９ａ～１９ｃ）の動作電圧（Ｖｆ１～Ｖｆ３）をそれぞれ測定する。動作電圧（Ｖｆ１～Ｖｆ３）の差がすべて基準値未満の場合にはＬＥＤバックライト（１５）は正常であると判定し、それ以外の場合にはＬＥＤバックライト（１５）は異常であると判定する。これにより、ＬＥＤ（１７）のオープン不良とショート不良を検出する。定電流駆動で使用する駆動電流の量を微小電流に切り替えて、ＬＥＤ（１７）のリーク不良を検出してもよい。このようにしてＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査する。

Description

ＬＥＤバックライトの検査方法
　本発明は、表示装置に設けられるバックライトの検査方法に関し、特に、複数のＬＥＤを含むＬＥＤバックライトの検査方法に関する。
　液晶表示装置など非発光型の表示装置には、表示パネルの背面に光を照射するバックライトが設けられる。バックライトは、例えば、複数のＬＥＤ（Light Emitting Diode：発光ダイオード）と導光板を用いて構成される。以下、複数のＬＥＤを含むＬＥＤバックライトの検査方法について検討する。
　液晶表示装置の製造工程では、バックライトの検査が行われる。一般に、バックライトの検査は、液晶パネルに白表示用の映像信号を書き込み、バックライトを所定の輝度で点灯させて、そのときの表示画面の輝度を測定することにより行われる。また、バックライトを点灯させたときのバックライト駆動回路内の電圧や電流を測定する方法も知られている。
　本願発明に関連して、特許文献１には、表示障害が発生していない液晶表示装置のバックライトに適用される輝度レベルと、検査対象の液晶表示装置のバックライトに適用される輝度レベルとの差が小さい場合に、検査対象の液晶表示装置に表示障害が発生していないと判定する方法が記載されている。特許文献２には、直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群について、ＬＥＤ群内のあるノードの電圧とＬＥＤ群の両端電圧を分圧した電圧とを比較してＬＥＤショート信号を生成する方法が記載されている。
日本国特開２０１１－１５８６８４号公報 日本国特開２０１２－１６０４３６号公報
　ＬＥＤバックライトの検査では、オープン不良またはショート不良のために点灯しないＬＥＤや、リーク不良のためにごく低い輝度でしか点灯しないＬＥＤなどが検出される。しかしながら、表示画面の輝度を測定する従来の検査方法では、このような異常なＬＥＤを検出できず、液晶表示装置の出荷後にＬＥＤが所望の輝度で点灯しないことがある。
　図１４は、ＬＥＤバックライトの点灯状態を示す図である。図１４に示すＬＥＤバックライトでは、複数のＬＥＤ（点模様部）９１が、導光板９２の一辺に沿って配置されている。図１４に示す矢印は、ＬＥＤ９１からの出射光が導光板９２の内部を伝搬する様子を示す。正常なバックライト（図１４（ａ））ではすべてのＬＥＤ９１が点灯するのに対して、異常なバックライト（図１４（ｂ））には点灯しないＬＥＤ９３（黒塗り部）が含まれる。このため、正常なバックライトと異常なバックライトでは、表示画面の輝度に差が生じる。
　しかしながら、バックライトに含まれるＬＥＤの個数が多くなると、表示画面の輝度のうちで１個のＬＥＤの点灯による輝度が占める割合は小さくなる。このため、点灯しないＬＥＤが存在しても、表示画面の輝度がすべてのＬＥＤが点灯したときの輝度のばらつき量の範囲内でしか変化しないことがある。この場合、表示画面の輝度を測定しても、点灯しないＬＥＤの存在を検出することができない。
　また、バックライト駆動回路内の電圧や電流を測定する従来の検査方法には、検査用端子を追加する必要があるので、実施が困難であるか、実施するとコストが高くなるという問題がある。
　それ故に、本発明は、ＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査する方法を提供することを目的とする。
　本発明の第１の局面は、直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群を複数有し、表示装置に設けられたＬＥＤバックライトの検査方法であって、
　前記ＬＥＤ群をそれぞれ定電流駆動するステップと、
　前記ＬＥＤ群の動作電圧をそれぞれ測定するステップと、
　前記動作電圧の差がすべて基準値未満の場合には前記ＬＥＤバックライトは正常であると判定し、それ以外の場合には前記ＬＥＤバックライトは異常であると判定するステップとを備える。
　本発明の第２の局面は、本発明の第１の局面において、
　前記ＬＥＤ群に含まれる複数のＬＥＤは、前段のＬＥＤのカソード端子が後段のＬＥＤのアノード端子に接続されるように直列接続されることを特徴とする。
　本発明の第３の局面は、本発明の第２の局面において、
　前記ＬＥＤ群に含まれる初段のＬＥＤのアノード端子は、すべての前記ＬＥＤ群に共通する第１端子に接続され、
　前記ＬＥＤ群に含まれる最終段のＬＥＤのカソード端子は、前記ＬＥＤ群ごとに設けられた第２端子に接続され、
　前記定電流駆動するステップは、前記第１端子に検査用電位を印加し、前記第２端子に前記ＬＥＤ群を流れる電流に応じた電位を印加することを特徴とする。
　本発明の第４の局面は、本発明の第３の局面において、
　前記判定するステップは、前記動作電圧の最大値と最小値の差が前記基準値未満か否かを判定することにより、前記動作電圧の差がすべて前記基準値未満か否かを判定することを特徴とする。
　本発明の第５の局面は、本発明の第１の局面において、
　前記表示装置は内部を高温状態にした恒温槽に収納されていることを特徴とする。
　本発明の第６の局面は、本発明の第１の局面において、
　前記定電流駆動するステップで使用される駆動電流の量を通常電流と微小電流の間で切り替えるステップをさらに備える。
　本発明の第７の局面は、本発明の第１の局面において、
　前記表示装置は、前記ＬＥＤバックライトと液晶パネルとを有することを特徴とする。
　本発明の第８の局面は、本発明の第７の局面において、
　前記ＬＥＤバックライトは、導光板の１以上の辺に沿って複数のＬＥＤを配置した構成を有することを特徴とする。
　本発明の第９の局面は、直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群を複数有し、表示装置に設けられたＬＥＤバックライトの検査装置であって、
　前記ＬＥＤ群をそれぞれ定電流駆動する定電流制御部と、
　前記ＬＥＤ群の動作電圧をそれぞれ測定する電圧測定部と、
　前記動作電圧の差がすべて基準値未満の場合には前記ＬＥＤバックライトは正常であると判定し、それ以外の場合には前記ＬＥＤバックライトは異常であると判定する判定部とを備える。
　本発明の第１、第２または第９の局面によれば、ＬＥＤ群の動作電圧をそれぞれ測定し、ＬＥＤ群の動作電圧の差に基づきＬＥＤバックライトが正常か否かを判定することにより、ＬＥＤバックライトの検査を確実に行うことができる。また、ＬＥＤ群を駆動するために設けられた既存の端子を用いて検査を行うので、ＬＥＤ群に検査用端子を追加することなく、ＬＥＤバックライトの検査を容易に行うことができる。
　本発明の第３の局面によれば、ＬＥＤ群のアノード側端子を同じ端子に接続したＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査することができる。
　本発明の第４の局面によれば、動作電圧の最大値と最小値の差を基準値と比較することにより、動作電圧の差がすべて基準値未満か否かを容易に判定することができる。
　本発明の第５の局面によれば、ＬＥＤバックライトを高温状態で検査することにより、常温では検出しにくいワイヤボンド配線のルーズコンタクト不良を検出することができる。
　本発明の第６の局面によれば、微小電流を用いてＬＥＤ群を定電流駆動することにより、通常電流を用いてＬＥＤ群を定電流駆動しても検出できないＬＥＤのリーク不良を検出することができる。
　本発明の第７の局面によれば、液晶表示装置に設けられたＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査することができる。
　本発明の第８の局面によれば、複数のＬＥＤと導光板を用いて構成されたＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査することができる。
検査対象となる液晶表示装置の構成を示すブロック図である。 図１に示す液晶表示装置のＬＥＤバックライトの物理的構成を示す図である。 図１に示す液晶表示装置のＬＥＤバックライトの電気的構成を示す図である。 本発明の第１の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。 第１の実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を説明するための図である。 図５に示す検査装置の定電流制御部の一部を示す回路図である。 第１の実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を示すフローチャートである。 ＬＥＤ群の動作電圧の差を示す図である。 本発明の第２の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。 本発明の第３の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。 第３の実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を説明するための図である。 図１１に示す検査装置の定電流制御部と電流切替部の一部を示す回路図である。 ＬＥＤ群の動作電圧の差を示す図である。 ＬＥＤバックライトの点灯状態を示す図である。
　以下、図面を参照して、本発明の実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を説明する。本発明の各実施形態に係る検査方法は、非発光型の表示装置に設けられるＬＥＤバックライトを検査する方法である。ＬＥＤバックライトは、直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群を複数有する。以下、液晶表示装置に設けられるＬＥＤバックライトの検査方法について説明する。
　図１は、検査対象となる液晶表示装置の構成を示すブロック図である。図１に示す液晶表示装置１０は、液晶パネル１１、表示制御回路１２、走査線駆動回路１３、データ線駆動回路１４、ＬＥＤバックライト１５、および、バックライト駆動回路１６を備えている。以下、ｍ、ｎ、ｐおよびｑは２以上の整数であるとする。
　液晶パネル１１は、ｍ本の走査線Ｇ１～Ｇｍ、ｎ本のデータ線Ｓ１～Ｓｎ、および、（ｍ×ｎ）個の画素回路Ｐを含んでいる。走査線Ｇ１～Ｇｍは、互いに平行に配置される。データ線Ｓ１～Ｓｎは、互いに平行に、走査線Ｇ１～Ｇｍと直交するように配置される。走査線Ｇ１～Ｇｍとデータ線Ｓ１～Ｓｎは、（ｍ×ｎ）箇所で交差する。（ｍ×ｎ）個の画素回路Ｐは、（ｍ×ｎ）個の交差点に対応して配置される。
　表示制御回路１２は、走査線駆動回路１３に対して制御信号Ｃ１を出力し、データ線駆動回路１４に対して制御信号Ｃ２と映像信号Ｖ１を出力する。走査線駆動回路１３は、制御信号Ｃ１に基づき、走査線Ｇ１～Ｇｍの中から１本の走査線を順に選択し、選択した走査線に書き込み用電圧（画素回路Ｐ内の書き込み制御トランジスタ（図示せず）がオン状態になる電圧）を印加する。これにより、選択された走査線に接続されたｎ個の画素回路Ｐが選択される。データ線駆動回路１４は、制御信号Ｃ２に基づき、データ線Ｓ１～Ｓｎに対して映像信号Ｖ１に応じたｎ個の電圧を印加する。これにより、選択されたｎ個の画素回路Ｐにｎ個の電圧がそれぞれ書き込まれる。
　ＬＥＤバックライト１５は、液晶パネル１１の背面側に配置され、液晶パネル１１の背面に光を照射する。バックライト駆動回路１６は、ＬＥＤバックライト１５を駆動する。より詳細には、バックライト駆動回路１６は、ＬＥＤバックライト１５に含まれる複数のＬＥＤを定電流駆動する。
　図２は、ＬＥＤバックライト１５の物理的構成を示す図である。図２に示すＬＥＤバックライト１５は、複数のＬＥＤ１７と導光板１８とを含んでいる。複数のＬＥＤ１７は、導光板１８の一辺（図２では下辺）に沿って配置される。なお、図２に示す配置に代えて、複数のＬＥＤ１７を導光板１８の対向する２辺（例えば、上辺と下辺）に沿って配置してもよく、複数のＬＥＤ１７を２次元状に配置してもよい。
　図３は、ＬＥＤバックライト１５の電気的構成を示す図である。図３に示すように、ＬＥＤバックライト１５に含まれる複数のＬＥＤ１７は、それぞれが複数のＬＥＤ１７を含む複数のＬＥＤ群１９に分類される。各ＬＥＤ群１９に含まれる複数のＬＥＤ１７は、前段のＬＥＤ１７のカソード端子が次段のＬＥＤ１７のアノード端子に接続されるように直列接続される。一般に、ＬＥＤバックライトが（ｐ×ｑ）個のＬＥＤを含むとき、（ｐ×ｑ）個のＬＥＤはｑ個ずつｐ個のＬＥＤ群に分類され、各ＬＥＤ群に含まれるｑ個のＬＥＤは直列接続される。
　図３には、ｐ＝３、ｑ＝５の場合のＬＥＤバックライト１５が記載されている。図３に示すＬＥＤバックライト１５では、１５個のＬＥＤ１７は、５個ずつ３個のＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに分類される。ＬＥＤ群１９ａに含まれる５個のＬＥＤ１７は、直列接続される。ＬＥＤ群１９ｂ、１９ｃについても、これと同様である。ＬＥＤバックライト１５は、バックライト駆動回路１６と接続するために４個の端子Ｔ０～Ｔ４を有する。ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに含まれる初段のＬＥＤ１７のアノード端子は、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに共通する端子Ｔ０に接続される。ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに含まれる最終段のＬＥＤ１７のカソード端子は、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃごとに設けられた端子Ｔ１～Ｔ３にそれぞれ接続される。
　バックライト駆動回路１６は、ＬＥＤバックライト１５に含まれる複数のＬＥＤ１７を定電流駆動する。より詳細には、バックライト駆動回路１６は、ＬＥＤ群１９ａに発光用の駆動電流を流すための電圧を端子Ｔ０、Ｔ１間に印加する。このためバックライト駆動回路１６は、端子Ｔ０に固定電位を印加し、端子Ｔ１から流れる電流（ＬＥＤ群１９ａを流れる電流）に応じた電位を端子Ｔ１に印加する。また、バックライト駆動回路１６は、ＬＥＤ群１９ｂに同じ量の駆動電流を流すために、端子Ｔ２から流れる電流（ＬＥＤ群１９ｂを流れる電流）に応じた電位を端子Ｔ２に印加し、ＬＥＤ群１９ｃに同じ量の駆動電流を流すために、端子Ｔ３から流れる電流（ＬＥＤ群１９ｃを流れる電流）に応じた電位を端子Ｔ３に印加する。
　（第１の実施形態）
　図４は、本発明の第１の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。図４に示すように、液晶表示装置１０は、パネル制御部２１、定電流制御部２２、および、電圧測定部２３を含む検査装置２０を用いて検査される。パネル制御部２１は、液晶パネル１１の検査のために設けられる。パネル制御部２１は、液晶パネル１１に検査用の映像信号を書き込む。そのときの表示画面を作業者が目視で確認する（あるいは、検査装置２０が自動的に取得して正しい画面と照合する）ことにより、液晶パネル１１が正常か異常かを検査することができる。
　以下、定電流制御部２２と電圧測定部２３を用いて、ＬＥＤバックライト１５を検査する方法を説明する。図５は、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を説明するための図である。図５には、検査装置２０の構成要素のうち、ＬＥＤバックライト１５の検査に関する要素が記載されている。図５に示すように、検査装置２０は、定電流制御部２２、電圧測定部２３、バックライト検査制御部２４、電源制御部２５、および、表示部２６を備えている。
　バックライト検査制御部２４は、電源制御部２５に対して、ＬＥＤバックライト１５に検査用電圧を供給するか否かを示す制御信号Ｃ３を出力する。電源制御部２５の出力端子は、ＬＥＤバックライト１５の端子Ｔ０に接続される。電源制御部２５は、制御信号Ｃ３に基づき、端子Ｔ０に検査用電位を印加するか否かを切り替える。
　定電流制御部２２は、ＬＥＤバックライト１５の端子Ｔ１～Ｔ３に接続される。定電流制御部２２は、ＬＥＤ群１９ａに検査用の通常電流を流すために、端子Ｔ１から流れる電流に応じた電位を端子Ｔ１に印加する。同様に、定電流制御部２２は、ＬＥＤ群１９ｂに同じ量の通常電流を流すために、端子Ｔ２から流れる電流に応じた電位を端子Ｔ２に印加し、ＬＥＤ群１９ｃに同じ量の通常電流を流すために、端子Ｔ３から流れる電流に応じた電位を端子Ｔ３に印加する。
　図６は、定電流制御部２２の一部を示す回路図である。図６には、ＬＥＤ群１９ａに対応した回路が記載されている。図６に示す回路は、定電流源３１、オペアンプ３２、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ（Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor ：金属酸化物半導体電界効果トランジスタ）３３、および、抵抗３４、３５を含んでいる。定電流源３１の一端と抵抗３４の一端は、オペアンプ３２の非反転入力端子に接続される。ＭＯＳＦＥＴ３３のドレイン端子は、ＬＥＤバックライト１５の端子Ｔ１に接続される。ＭＯＳＦＥＴ３３のソース端子は、オペアンプ３２の反転入力端子と抵抗３５の一端に接続される。オペアンプ３２の出力端子は、ＭＯＳＦＥＴ３３のゲート端子に接続される。定電流源３１の他端と抵抗３４、３５の他端は、接地される。定電流制御部２２は、ＬＥＤ群１９ｂ、１９ｃに対応して、図６に示す回路と同じ構成の回路を含んでいる。
　図６に示す回路では、ＭＯＳＦＥＴ３３のゲート電位は、定電流源３１から流れる電流の量とＭＯＳＦＥＴ３３を流れる電流の量（ＬＥＤ群１９ａを流れる電流の量）との差に応じて変化する。ＭＯＳＦＥＴ３３を流れる電流の量は、ＭＯＳＦＥＴ３３のゲート－ソース間電圧に応じて変化する。したがって、図６に示す回路を用いて、ＬＥＤ群１９ａを流れる電流の量を定電流源３１から流れる電流の量に等しくすることができる。同様に、ＬＥＤ群１９ｂを流れる電流の量、および、ＬＥＤ群１９ｃを流れる電流の量を定電流源３１から流れる電流の量に等しくすることができる。
　電圧測定部２３は、ＬＥＤバックライト１５の端子Ｔ０～Ｔ３に接続され、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３を測定する。より詳細には、電圧測定部２３は、ＬＥＤ群１９ａの動作電圧Ｖｆ１として端子Ｔ０、Ｔ１間の電圧を測定し、ＬＥＤ群１９ｂの動作電圧Ｖｆ２として端子Ｔ０、Ｔ２間の電圧を測定し、ＬＥＤ群１９ｃの動作電圧Ｖｆ３として端子Ｔ０、Ｔ３間の電圧を測定する。電圧測定部２３は、測定した動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３を含む測定データＤ１をバックライト検査制御部２４に対して出力する。
　検査装置２０では、ＬＥＤ群１９の動作電圧の差の基準値Ｖｄｌｉｍ１（制限値）が予め決定されている。バックライト検査制御部２４は、測定データＤ１に基づき、動作電圧の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満の場合にはＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、それ以外の場合（動作電圧の差のいずれかが基準値Ｖｄｌｉｍ１以上の場合）にはＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する。より詳細には、バックライト検査制御部２４は、動作電圧の最大値と最小値を求め、動作電圧の最大値と最小値の差が基準値Ｖｄｌｉｍ１未満の場合にはＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、それ以外の場合（動作電圧の最大値と最小値の差が基準値Ｖｄｌｉｍ１以上の場合）にはＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する。
　ｐ＝３の場合、バックライト検査制御部２４には３個の動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３が入力される。この場合、バックライト検査制御部２４は、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の最大値Ｖｆｍａｘと最小値Ｖｆｍｉｎを求め、Ｖｆｍａｘ－Ｖｆｍｉｎ＜Ｖｄｌｉｍ１の場合にはＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、Ｖｆｍａｘ－Ｖｆｍｉｎ≧Ｖｄｌｉｍ１の場合にはＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する。このようにバックライト検査制御部２４は、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の最大値Ｖｆｍａｘと最小値Ｖｆｍｉｎの差が基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを判定することにより、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを判定する。これにより、動作電圧の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを容易に判定することができる。
　表示部２６は、バックライト検査制御部２４による判定結果を示す画面を表示する。表示部２６は、ＬＥＤバックライト１５は正常か異常かだけを表示してもよく、いずれのＬＥＤ群１９が異常なＬＥＤ１７を含むかを表示してもよく、ＬＥＤ１７に発生した異常の種類（オープン不良か、ショート不良か）を表示してもよい。作業者は、表示部２６に表示された画面を見ることにより、ＬＥＤバックライト１５の検査結果を知ることができる。
　以上に述べたＬＥＤバックライトの検査方法をフローチャートで示すと、図７に示すようになる。図７に示すように、検査装置２０は、検査用の通常電流を用いて、各ＬＥＤ群１９を定電流駆動する（ステップＳ１０１）。次に、検査装置２０は、各ＬＥＤ群１９の動作電圧を測定する（ステップＳ１０２）。次に、検査装置２０は、動作電圧の差がすべて基準値未満か否かを判定し（ステップＳ１０３）、Ｙｅｓの場合にはステップＳ１０４へ、Ｎｏの場合にはステップＳ１０５へ進む。前者の場合、検査装置２０は、ＬＥＤバックライト１５は正常であると判定する（ステップＳ１０４）。後者の場合、検査装置２０は、ＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する（ステップＳ１０５）。次に、検査装置２０は、判定結果を表示する（ステップＳ１０６）。
　なお、検査装置２０は、バックライト検査制御部２４による判定結果を他の方法で示してもよい。例えば、検査装置２０は、ＬＥＤバックライト１５が正常のときに点灯する緑色のランプと、ＬＥＤバックライト１５が異常のときに点灯する赤色のランプとを備えていてもよい。
　以下、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を用いて、ＬＥＤのオープン不良とショート不良を検出できることを説明する。ここでは、各ＬＥＤ群は直列接続された１０個のＬＥＤを含み（ｑ＝１０）、ＬＥＤの順方向電圧は３Ｖであるとする。
　ＬＥＤは、各種の性能（色度、光度、順方向電圧など）によって複数のランクに分類される。ＬＥＤ群は、同じランクに分類されたＬＥＤを用いて構成される。順方向電圧の１ランクの幅は０．１～０．２Ｖであるので、１個のＬＥＤ群に含まれるＬＥＤの順方向電圧の差は最大で０．２Ｖである。したがって、正常なＬＥＤ群の動作電圧の差は、ｑ＝１０の場合、最大で０．２×１０＝２Ｖである。
　ＬＥＤでショート不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧はＬＥＤの順方向電圧分だけ低下する。このため、あるＬＥＤでショート不良が発生した場合、そのＬＥＤを含むＬＥＤ群の動作電圧は３Ｖ低下する。一方、上述したように、正常なＬＥＤ群の動作電圧のばらつき量の最大値は２Ｖである（ｑ＝１０の場合）。ＬＥＤでショート不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧は正常なＬＥＤ群の動作電圧のばらつき量の最大値よりも大きく低下する。したがって、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を用いて、ＬＥＤのショート不良を検出することができる。
　ＬＥＤには、静電気対策用のツェナーダイオードを内蔵するものと、ツェナーダイオードを内蔵しないものとがある。ツェナーダイオードを内蔵しないＬＥＤでオープン不良が発生した場合、ＬＥＤ群に電流は流れない。このため、ＬＥＤ群の動作電圧は、理論上は無限大、実際には電圧の制限値になる。ツェナーダイオードを内蔵しないＬＥＤでオープン不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧は正常なＬＥＤ群の動作電圧のばらつき量の最大値よりも大きく上昇する。したがって、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を用いて、ツェナーダイオードを内蔵しないＬＥＤのオープン不良を検出することができる。
　ツェナーダイオードを内蔵するＬＥＤでオープン不良が発生した場合、ツェナーダイオードには逆電流が流れるので、ＬＥＤ群に電流が流れる。この場合、不良ＬＥＤの両端電圧は、ツェナーダイオードの降伏電圧（ここでは６Ｖとする）に等しくなる。このため、ＬＥＤ群の動作電圧は、ツェナーダイオードの降伏電圧と正常なＬＥＤの順方向電圧との差（３Ｖ）だけ高くなる。ツェナーダイオードを内蔵するＬＥＤでオープン不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧は正常なＬＥＤ群の動作電圧のばらつき量の最大値よりも大きく上昇する。したがって、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を用いて、ツェナーダイオードを内蔵するＬＥＤのオープン不良を検出することができる。
　図８は、ＬＥＤ群の動作電圧の差を示す図である。図８には、ＬＥＤ群が正常なＬＥＤだけを含む場合、ＬＥＤ群がショート不良を有するＬＥＤを含む場合、および、ＬＥＤ群がオープン不良を有するＬＥＤを含む場合について、当該ＬＥＤ群の動作電圧と正常なＬＥＤ群の動作電圧との差が記載されている。図８に示すように、ＬＥＤ群が正常なＬＥＤだけを含む場合、動作電圧の差は０に近い。これに対して、ＬＥＤ群がショート不良またはオープン不良を有するＬＥＤを含む場合、動作電圧の差は０よりも十分に大きい。ＬＥＤ群が正常なＬＥＤだけを含む場合の動作電圧の差と、ＬＥＤ群がオープン不良を有するＬＥＤを含む場合の動作電圧の差との間には、図８に示す差Ｖｄ１がある。したがって、差Ｖｄ１を用いて、ＬＥＤバックライトの検査を確実に行うことができる。
　また、従来のＬＥＤバックライトの検査方法では、ＬＥＤ群に含まれる複数のＬＥＤを個別に検査する。このため、従来の検査方法では、ＬＥＤの各端子に接続する検査用端子を設ける必要がある。液晶表示装置に組み込んだ後でＬＥＤバックライトを検査するためには、ＬＥＤを実装したフレキシブルプリント基板から接続用の配線を引き出す方法や、液晶表示装置の側面にコンタクトプローブ挿入用の穴を設ける方法を用いる必要がある。
　しかしながら、前者の方法には実施が困難であるという問題があり、後者の方法には設けられた穴から異物が侵入するという問題がある。また、どちらの方法にも、ＬＥＤを実装したフレキシブルプリント基板に端子を設けるので、端子に付随する導電性の異物（金属バリなど）によって回路が短絡する可能性があるという問題がある。このように、ＬＥＤバックライトの検査のために、ＬＥＤの各端子に接続する検査用端子を設けることは現実的ではない。
　これに対して、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法では、ＬＥＤバックライトを駆動するために設けられた既存の端子間の電圧を測定するので、検査用端子を新たに設ける必要がない。したがって、ＬＥＤバックライトを容易に検査することができる。
　以上に示すように、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法は、直列接続された複数のＬＥＤ１７を含むＬＥＤ群１９を複数有し、表示装置（液晶表示装置１０）に設けられたＬＥＤバックライト１５の検査方法であって、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃをそれぞれ定電流駆動するステップと、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３をそれぞれ測定するステップと、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満の場合にはＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、それ以外の場合にはＬＥＤバックライト１５は異常であると判定するステップとを備えている。
　また、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査装置２０は、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃをそれぞれ定電流駆動する定電流制御部２２と、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３をそれぞれ測定する電圧測定部２３と、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満の場合にはＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、それ以外の場合にはＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する判定部（バックライト検査制御部２４）とを備えている。また、ＬＥＤ群１９に含まれる複数のＬＥＤ１７は、前段のＬＥＤ１７のカソード端子が後段のＬＥＤ１７のアノード端子に接続されるように直列接続される。
　したがって、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法および検査装置によれば、ＬＥＤ群１９の動作電圧を測定し、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧の差に基づきＬＥＤバックライト１５が正常か異常かを判定することにより、ＬＥＤバックライト１５の検査を確実に行うことができる。また、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃを駆動するために設けられた既存の端子Ｔ０～Ｔ３を用いて検査を行うので、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに検査用端子を追加することなく、ＬＥＤバックライト１５の検査を容易に行うことができる。
　また、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに含まれる初段のＬＥＤ１７のアノード端子は、すべてのＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに共通する第１端子（端子Ｔ０）に接続され、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃに含まれる最終段のＬＥＤ１７のカソード端子は、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃごとに設けられた第２端子（端子Ｔ１～Ｔ３）に接続される。定電流駆動するステップは、第１端子に検査用電位を印加し、第２端子にＬＥＤ群１９ａ～１９ｃを流れる電流に応じた電位を印加する。これにより、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃのアノード側端子を同じ端子に接続したＬＥＤバックライト１５を確実かつ容易に検査することができる。
　また、判定するステップは、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の最大値Ｖｆｍａｘと最小値Ｖｆｍｉｎとの差が基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを判定することにより、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを判定する。このように動作電圧の最大値Ｖｆｍａｘと最小値Ｖｆｍｉｎの差を基準値Ｖｄｌｉｍ１と比較することにより、動作電圧の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満か否かを容易に判定することができる。
　また、表示装置（液晶表示装置１０）は、ＬＥＤバックライト１５と液晶パネル１１とを有し、ＬＥＤバックライト１５は、導光板１８の１以上の辺に沿って複数のＬＥＤ１７を配置した構成を有する。したがって、複数のＬＥＤ１７と導光板１８を用いて構成され、液晶表示装置１０に設けられたＬＥＤバックライト１５を確実かつ容易に検査することができる。
　（第２の実施形態）
　図９は、本発明の第２の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。図９に示すように、本実施形態に係る検査方法は、液晶表示装置１０を恒温槽４０に入れた状態で行われる。恒温槽４０の内部は、常温よりも高い高温状態に保たれる。検査装置２０は、高温状態に置かれた液晶表示装置１０に対して、第１の実施形態と同様に、液晶パネル１１の検査とＬＥＤバックライト１５の検査を行う。
　液晶表示装置１０を高温状態に置いたとき、液晶表示装置１０に含まれる各種の金属部分は膨張する。このときＬＥＤバックライト１５内のＬＥＤ１７を構成する樹脂部も膨張し、これに伴いワイヤボンド配線を剥がす方向に応力が発生するので、ワイヤボンド配線のルーズコンタクト不良が発生しやすくなる。したがって、常温では検出しにくいワイヤボンド配線のルーズコンタクト不良を容易に検出することができる。
　以上に示すように、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法では、表示装置（液晶表示装置１０）は内部を高温状態にした恒温槽４０に収納されている。ＬＥＤバックライト１５を高温状態で検査することにより、常温では検出しにくいワイヤボンド配線のルーズコンタクト不良を容易に検出することができる。
　（第３の実施形態）
　図１０は、本発明の第３の実施形態に係る検査方法を説明するための図である。図１０に示すように、本実施形態に係る検査方法では、第１の実施形態に係る検査装置２０に代えて、検査装置５０が用いられる。検査装置５０は、図５に示す検査装置２０に電流切替部５１を追加したものである。
　図１１は、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法を説明するための図である。図１１に示すように、検査装置５０は、定電流制御部２２、電圧測定部２３、電源制御部２５、表示部２６、電流切替部５１、および、バックライト検査制御部５２を備えている。以下、本実施形態の構成要素のうち第１の実施形態と同じ要素については、同じ参照符号を付して説明を省略する。
　バックライト検査制御部５２は、第１の実施形態と同様に、電源制御部２５に対して、ＬＥＤバックライト１５に検査用電圧を供給するか否かを示す制御信号Ｃ３を出力する。これに加えて、バックライト検査制御部５２は、電流切替部５１に対して、通常電流か微小電流かを示す制御信号Ｃ４を出力する。より詳細には、バックライト検査制御部５２は、電流切替部５１に対して、まず微小電流を示す制御信号Ｃ４を出力し、次に通常電流を示す制御信号Ｃ４を出力する。電流切替部５１は、制御信号Ｃ４に基づき、定電流制御部２２がＬＥＤ群１９を定電流駆動するときに使用する電流の量を切り替える。定電流制御部２２は、制御信号Ｃ４が微小電流を示すときには、各ＬＥＤ群１９に微小電流が流れるように制御し、制御信号Ｃ４が通常電流を示すときには、各ＬＥＤ群１９に通常電流が流れるように制御する。
　図１２は、定電流制御部２２と電流切替部５１の一部を示す回路図である。図１２には、ＬＥＤ群１９ａに対応した回路が記載されている。図１２に示す回路のうち、破線部は電流切替部５１に含まれ、それ以外の部分は定電流制御部２２に含まれる。図１２に示す回路では、ＭＯＳＦＥＴ３３のソース端子は、オペアンプ３２の反転入力端子とスイッチ３７の第１端子に接続される。スイッチ３７の第２端子は抵抗３５の一端に接続され、スイッチ３７の第３端子は抵抗３６の一端に接続される。定電流源３１の他端と抵抗３４～３６の他端は、接地される。
　抵抗３５の抵抗値は通常電流の量に応じて決定され、抵抗３６の抵抗値は微小電流の量に応じて決定される。抵抗３６の抵抗値は、抵抗３５の抵抗値よりも大きい値に決定される。例えば、微小電流の量が通常電流の１／６０である場合、抵抗３６の抵抗値は抵抗３５の抵抗値の６０倍に決定される。
　上述したように、バックライト検査制御部５２は、電流切替部５１に対して、まず微小電流を示す制御信号Ｃ４を出力する。このとき、スイッチ３７の第１端子と第３端子が導通し、ＭＯＳＦＥＴ３３を通過した電流は抵抗３６を流れ、ＬＥＤバックライト１５は微小電流で駆動される。電圧測定部２３は、微小電流を用いて駆動されたＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧Ｖｆａ～Ｖｆｃを測定する。検査装置５０では、微小電流を用いて駆動されたＬＥＤ群１９の動作電圧の差の基準値Ｖｄｌｉｍ２が予め決定されている。バックライト検査制御部５２は、動作電圧Ｖｆａ～Ｖｆｃの差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ２未満の場合には、ＬＥＤバックライト１５はリーク不良を有するＬＥＤ１７を含まないと判定し、それ以外の場合には、ＬＥＤバックライト１５はリーク不良を有するＬＥＤ１７を含むと判定する。
　次に、バックライト検査制御部５２は、電流切替部５１に対して、通常電流を示す制御信号Ｃ４を出力する。このとき、スイッチ３７の第１端子と第２端子が導通し、ＭＯＳＦＥＴ３３を通過した電流は抵抗３５を流れ、ＬＥＤ群１９ａ～１９ｃは通常電流を用いて駆動される。電圧測定部２３は、通常電流を用いて駆動されたＬＥＤ群１９ａ～１９ｃの動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３を測定する。バックライト検査制御部５２は、動作電圧Ｖｆ１～Ｖｆ３の差がすべて基準値Ｖｄｌｉｍ１未満の場合には、ＬＥＤバックライト１５はオープン不良またはショート不良を有するＬＥＤ１７を含まないと判定し、それ以外の場合には、ＬＥＤバックライト１５はオープン不良またはショート不良を有するＬＥＤ１７を含むと判定する。
　バックライト検査制御部５２は、上記２種類の判定でＬＥＤバックライト１５は不良のＬＥＤ１７を含まないと判定した場合には、ＬＥＤバックライト１５は正常であると判定し、それ以外の場合には、ＬＥＤバックライト１５は異常であると判定する。このように微小電流を用いた検査の後に通常電流を用いた検査を行うことにより、先の検査時の発熱によるＬＥＤ１７の動作電圧の変動を抑制し、先の検査が後の検査に及ぼす影響を小さくすることができる。
　表示部２６は、バックライト検査制御部５２による判定結果を示す画面を表示する。表示部２６は、ＬＥＤバックライト１５は正常か異常かだけを表示してもよく、いずれのＬＥＤ群１９が異常なＬＥＤ１７を含むかを表示してもよく、ＬＥＤ１７に発生した異常の種類（オープン不良か、ショート不良か、リーク不良か）を表示してもよい。
　以下、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法に含まれる微小電流を用いた検査によって、ＬＥＤのリーク不良を検出できることを説明する。ここでは、第１の実施形態と同様に、各ＬＥＤ群は直列接続された１０個のＬＥＤを含み（ｑ＝１０）、ＬＥＤの順方向電圧は３Ｖであるとする。また、微小電流は１ｍＡの電流であり、１ｍＡの電流が流れるときのＬＥＤの順方向電圧は２．５Ｖであり、この順方向電圧のばらつきの最大値は０．０３Ｖであるとする。さらに、ＬＥＤでリーク不良が発生した場合、１ｍＡの電流が流れるときのＬＥＤの順方向電圧は２Ｖ以下であるとする。
　ＬＥＤでリーク不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧は０．５Ｖ以上低下する。一方、１ｍＡの電流が流れるときの正常なＬＥＤ群の動作電圧の差は、ｑ＝１０の場合、最大で０．０３×１０＝０．３Ｖである。ＬＥＤでリーク不良が発生した場合、ＬＥＤ群の動作電圧は正常なＬＥＤ群の動作電圧のばらつき量の最大値よりも大きく低下する。したがって、微小電流を用いた検査によって、ＬＥＤのリーク不良を検出することができる。
　図１３は、ＬＥＤ群の動作電圧の差を示す図である。図１３は、図８に対して、リーク不良を有するＬＥＤを含むＬＥＤ群の動作電圧と正常なＬＥＤ群の動作電圧との差を追加したものである。ＬＥＤ群が正常なＬＥＤだけを含む場合の動作電圧の差と、ＬＥＤ群がリーク不良を有するＬＥＤを含む場合の動作電圧の差との間には、図１３に示す差Ｖｄ２がある。したがって、差Ｖｄ２を用いて、ＬＥＤバックライトのリーク不良の検査を確実に行うことができる。
　以上に示すように、本実施形態に係るＬＥＤバックライトの検査方法では、定電流駆動で使用する駆動電流の量を通常電流と微小電流の間で切り替える。したがって、微小電流を用いてＬＥＤ群１９ａ～１９ｃを定電流駆動することにより、通常電流を用いてＬＥＤ群１９ａ～１９ｃを定電流駆動しても検出できないＬＥＤ１７のリーク不良を検出することができる。
　以上に示すように、本発明のＬＥＤバックライトの検査方法によれば、ＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査することができる。
　なお、本願は、２０１５年１１月３０日に出願された「ＬＥＤバックライトの検査方法」という名称の日本国特願２０１５－２３２６８２号に基づく優先権を主張する出願であり、この出願の内容は引用することによって本願の中に含まれる。
　本発明のＬＥＤバックライトの検査方法は、ＬＥＤバックライトを確実かつ容易に検査できるという特徴を有するので、各種のＬＥＤバックライトを検査するときに利用することができる。
　１０…液晶表示装置
　１１…液晶パネル
　１５…ＬＥＤバックライト
　１７…ＬＥＤ
　１９…ＬＥＤ群
　２０、５０…検査装置
　２１…パネル制御部
　２２…定電流制御部
　２３…電圧測定部
　２４、５２…バックライト検査制御部
　４０…恒温槽
　５１…電流切替部

Claims (9)

  1. 　直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群を複数有し、表示装置に設けられたＬＥＤバックライトの検査方法であって、
    　前記ＬＥＤ群をそれぞれ定電流駆動するステップと、
    　前記ＬＥＤ群の動作電圧をそれぞれ測定するステップと、
    　前記動作電圧の差がすべて基準値未満の場合には前記ＬＥＤバックライトは正常であると判定し、それ以外の場合には前記ＬＥＤバックライトは異常であると判定するステップとを備えた、検査方法。
  2. 　前記ＬＥＤ群に含まれる複数のＬＥＤは、前段のＬＥＤのカソード端子が後段のＬＥＤのアノード端子に接続されるように直列接続されることを特徴とする、請求項１に記載の検査方法。
  3. 　前記ＬＥＤ群に含まれる初段のＬＥＤのアノード端子は、すべての前記ＬＥＤ群に共通する第１端子に接続され、
    　前記ＬＥＤ群に含まれる最終段のＬＥＤのカソード端子は、前記ＬＥＤ群ごとに設けられた第２端子に接続され、
    　前記定電流駆動するステップは、前記第１端子に検査用電位を印加し、前記第２端子に前記ＬＥＤ群を流れる電流に応じた電位を印加することを特徴とする、請求項２に記載の検査方法。
  4. 　前記判定するステップは、前記動作電圧の最大値と最小値の差が前記基準値未満か否かを判定することにより、前記動作電圧の差がすべて前記基準値未満か否かを判定することを特徴とする、請求項３に記載の検査方法。
  5. 　前記表示装置は内部を高温状態にした恒温槽に収納されていることを特徴とする、請求項１に記載の検査方法。
  6. 　前記定電流駆動するステップで使用される駆動電流の量を通常電流と微小電流の間で切り替えるステップをさらに備えた、請求項１に記載の検査方法。
  7. 　前記表示装置は、前記ＬＥＤバックライトと液晶パネルとを有することを特徴とする、請求項１に記載の検査方法。
  8. 　前記ＬＥＤバックライトは、導光板の１以上の辺に沿って複数のＬＥＤを配置した構成を有することを特徴とする、請求項７に記載の検査方法。
  9. 　直列接続された複数のＬＥＤを含むＬＥＤ群を複数有し、表示装置に設けられたＬＥＤバックライトの検査装置であって、
    　前記ＬＥＤ群をそれぞれ定電流駆動する定電流制御部と、
    　前記ＬＥＤ群の動作電圧をそれぞれ測定する電圧測定部と、
    　前記動作電圧の差がすべて基準値未満の場合には前記ＬＥＤバックライトは正常であると判定し、それ以外の場合には前記ＬＥＤバックライトは異常であると判定する判定部とを備えた、検査装置。
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