CN112881897A - 一种电子设备的背光测试方法及其系统 - Google Patents

一种电子设备的背光测试方法及其系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种电子设备的背光测试方法及其系统,背光测试方法包括:步骤A、控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;步骤B、光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;步骤C、所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。能根据屏幕的实际背光亮度输出对应的测试结果,测试结果更加准确,无需人工观测,解决了现有采用人工观测来进行背光测试导致测试结果不准确、效率较低的问题。

Description

一种电子设备的背光测试方法及其系统
技术领域
本发明涉及硬件测试技术领域,特别涉及一种电子设备的背光测试方法及其系统。
背景技术
目前,MTK(台湾联发科技多媒体芯片提供商)平台针对手机主板的屏幕背光电路没有开发ATA(Advanced Technology Attachment)自动测试方案。而大部分的SMT(surfacemounted technology)工厂,针对手机主板的背光测试,采用传统的人工观测,但是人工观测的主观性较大,长时间观测容易视觉疲劳,测试结果不准确,并且基于人的检查方式容易存在漏测的风险,且人工检测的效率低下。
因而现有技术还有待改进和提高。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足之处,本发明的目的在于提供一种电子设备的背光测试方法及其系统,以解决现有采用人工观测来进行背光测试导致测试结果不准确、效率较低的问题。
为了达到上述目的,本发明采取了以下技术方案:
一种电子设备的背光测试方法,其包括:
步骤A、控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;
步骤B、光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;
步骤C、所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
所述的电子设备的背光测试方法中,在所述步骤A之前,还包括:
控制端运行测试程序对待测的电子设备的主板进行各种功能测试,若检测勾选了背光测试项,则执行步骤A。
所述的电子设备的背光测试方法中,所述步骤A具体包括:控制端检测执行屏幕背光测试时,输出调光指令给电子设备的主板,主板根据调光指令将屏幕调成纯白色背景,并将屏幕的背光亮度调到第4级。
所述的电子设备的背光测试方法中,在所述步骤B中,所述光检测装置的阻值随着背光亮度对应变化,输出对应电平的检测信号。
所述的电子设备的背光测试方法中,在所述步骤C中,所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端的步骤具体包括:
所述测试盒判断检测信号的电压小于第一阈值时,识别当前为低电平,生成的测试结果为“0”;判断测信号的电压小于等于默认电压且大于等于第一阈值时,识别当前为高电平,生成的测试结果为“1”;所述测试结果传输给控制端。
所述的电子设备的背光测试方法中,在所述步骤C中,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格的步骤具体包括:
所述控制端检测测试结果是“0”时,判断主板的背光测试通过并提示测试合格;若测试结果是“1”,则判断背光测试失败并提示测试不合格。
一种实现所述的电子设备的背光测试方法的背光测试系统,其包括控制端、电子设备、光检测装置、测试盒和测试夹具;
所述测试夹具用于固定待测的电子设备;
所述控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;
所述光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;
所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
所述的背光测试系统中,所述电子设备的主板安装在测试台上,所述测试台位于测试夹具的底座的一侧,与测试台相邻的底座上设有第一接口,主板的输入信号线插入第一接口中,该第一接口还通过第一USB数据线与控制端连接;电子设备的屏幕通过底座上的定位夹竖直固定在所述底座上并与主板电连接,控制端通过第一USB数据线传输调光指令给主板,主板根据调光指令来控制屏幕的背光亮度。
所述的背光测试系统中,所述光检测装置固定在屏幕前面的左下角。
相较于现有技术,本发明提供的电子设备的背光测试方法及其系统,控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。能根据屏幕的实际背光亮度输出对应的测试结果,测试结果更加准确,无需人工观测,解决了现有采用人工观测来进行背光测试导致测试结果不准确、效率较低的问题。
附图说明
图1为本发明提供的电子设备的背光测试方法流程图。
图2为本发明提供的背光测试系统的结构框图。
具体实施方式
本发明提供一种电子设备的背光测试方法及其系统,能对各种电子设备的屏幕的背光亮度进行自动测试。为使本发明的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实施例对本发明进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
请同时参阅图1和图2,本发明提供的电子设备的背光测试方法包括:
S100、控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;
S200、光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;
S300、所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
本实施例中,所述控制端10即PC(personal computer)端或电脑端,此处采用MTK平台现有的ATA自动测试设备(一电脑),其内部已有由多个测试项(测试其他功能的子程序)组成的ATATOOL 测试程序;本实施例在现有测试程序的基础上增加背光测试项(Backlight,即开发定制了用于执行屏幕背光测试的子程序),参数配置部分共用现有的LED配置。在所述步骤S100之前,所述控制端10运行测试程序来对待测的电子设备的主板进行各种功能测试,当背光测试项的上一测试项结束后,若检测勾选了背光测试项,即表示当前需执行屏幕背光测试,执行步骤S100;若检测没有勾选背光测试项,则不进行屏幕背光测试,跳转至背光测试项的下一测试项,不再执行步骤S100~S300,退出所述背光测试方法。
所述电子设备20优选为手机,本实施例主要是对手机的主板上的屏幕背光电路进行屏幕背光测试;在具体实施时,还可对其他带有屏幕的电子设备的主板进行屏幕背光测试,如平板电脑、电子书阅读器等。
需要理解的是,由于需要测试的功能较多,若直接将控制端10和测试盒20连接电子设备的主板进行测试,可能出现接线移动、连接不稳影响测试结果,优选地,可将所述电子设备固定在测试夹具50上。以手机为例,在具体实施时,手机的主板21和屏幕22分离,所述主板21安装在测试台上,该测试台位于测试夹具50的底座的一侧,与测试台相邻的底座上设有第一接口,主板21的输入信号线插入第一接口中,该第一接口还通过第一USB数据线与控制端连接;通过该第一接口即可将主板21与控制端10连接。屏幕通过底座上的定位夹竖直固定在所述底座上并与主板电连接。这样控制端10运行ATATOOL 测试程序时,各种测试指令依次通过第一USB数据线、第一接口、输入信号线传输至主板中,实现各种功能测试。同时,在控制端检测执行屏幕背光测试时,通过第一USB数据线传输调光指令给主板,主板即可根据调光指令来控制屏幕的亮度。
所述主板的另输入信号线与测试夹具上的第二接口连接,测试盒(优选为ATA测试盒)通过40PIN的连接线与第二接口(即有40个引脚)连接,这样主板的各种测试数据即可通过第二接口传输给测试盒。
为了实现背光亮度检测,本实施例在测试夹具上增加了光检测装置30,。由于本实施例主要是对主板上的各个电路进行功能测试,主板可替换,屏幕无需替换,则所述光检测装置30可直接固定在屏幕的上,如螺接固定在屏幕前面的左下角。所述光检测装置可采用光敏耦合模块、感光模块等能采集背光亮度的感应模块。光检测装置的信号线通过第二接口与测试盒连接,具体可设置连接测试盒的第23脚(LED_IN2脚),将测试盒40的第23脚定义为屏背光信号测试脚。光检测装置30采集屏幕当前的背光亮度后输出的检测信号传输至测试盒的第23脚。
同理,若需要测试屏幕是否正常,则可以将一款电子设备的主板和屏幕一起安装至测试夹具上,光检测装置30可通过一支柱固定在屏幕前方。
所述测试盒还通过电源线与测试夹具连接,给测试夹具以及手机的主板供电,确保能正常测试。
所述光检测装置30的阻值会随着背光亮度的明暗程序对应变化,在所述步骤S100中,本实施例设置主板根据调光指令将屏幕调成纯白色背景(即屏幕显示纯白屏),并将屏幕的背光亮度调到第4级(一共有5级,此为现有技术)。正常情况下,光检测装置30的阻值会变小,从而拉低测试盒的第23脚的默认电压(默认为5V、高电平、对应数值为“1”),使默认电压低于第一阈值(如4V),此时检测信号是一个电压值小于4V的电平信号。若主板上的屏幕背光电路异常,则屏幕的背光亮度不能达到设置的需求,对应表现在默认电压可能小于5V且大于4V。
所述测试盒40判断检测信号的电压小于第一阈值(如4V)时,识别当前为低电平,生成对应的数值(即测试结果)为“0”;若判断测信号的电压小于等于5V且大于等于4V,识别当前为高电平,生成对应的数值为“1”;生成的数值通过第二USB数据线传输给控制端。
需要理解的是,在具体实施时,也可根据背光测试需求修改调光指令,将屏幕调成其他颜色背景,将屏幕的背光亮度调到其他等级,则默认电压和第一阈值对应改变,或“0”、“1”对应的电压范围对应调整;也可将测试盒40的其他引脚定义为屏背光信号测试脚,此处对其不做限定。
在所述步骤S300中,所述控制端检测测试结果是“0”时,判断主板的背光测试通过并提示测试合格;若测试结果是“1”,则背光测试失败并提示测试不合格。
基于上述的电子设备的背光测试方法,本发明实施例还提供一种电子设备的背光测试系统,如图2所示,所述背光测试系统包括控制端10、电子设备20、光检测装置30、测试盒40和测试夹具50;所述测试夹具50用于固定待测的电子设备20,所述控制端10检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备20对屏幕的背光亮度进行调整;光检测装置30采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒40;所述测试盒40根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端10根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
其中,所述电子设备固定在测试夹具50上,以手机为例,手机的主板21和屏幕22分离,所述主板21安装在测试夹具50的测试台上,该测试台位于测试夹具50的底座的一侧,与测试台相邻的底座上设有第一接口,主板21的输入信号线插入第一接口中,该第一接口还通过第一USB数据线与控制端连接;通过该第一接口即可将主板21与控制端10连接。屏幕通过底座上的定位夹竖直固定在所述底座上并与主板电连接。在控制端检测执行屏幕背光测试时,通过第一USB数据线传输调光指令给主板,主板即可根据调光指令来控制屏幕的亮度。
需要理解的是,所述控制端、测试盒中可设置对应的模块来执行相应步骤,此处对各模块划分不做限定。
综上所述,本发明利用现有MTK平台的ATA自动测试设备,在现有测试程序的基础上增加背光测试项来增加背光显示控制,测试夹具上增加光检测装置,将测试盒的LED_IN2脚定义为屏背光信号测试脚;控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整,即可实现背光测试的自动化操作;通过光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒,即可代替现有的人工检测,不会受到人为主观判断的影响,检测结果更加准确;测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格;通过控制端、光检测装置和测试盒的共同合作来实现主板的背光测试,有效提高了主板背光的测试效率。
上述功能模块的划分仅用以举例说明,在实际应用中,可以根据需要将上述功能分配由不同的功能模块来完成,即划分成不同的功能模块,来完成上述描述的全部或部分功能。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机(PC端)程序来指令相关的硬件完成,所述的计算机(PC端)程序可存储于一计算机(PC端)可读取存储介质中,程序在执行时,可包括上述各方法的实施例的流程。其中的存储介质可以为磁碟、光盘等。
可以理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,而所有这些改变或替换都应属于本发明所附的权利要求的保护范围。

Claims (9)

1.一种电子设备的背光测试方法,其特征在于,包括:
步骤A、控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;
步骤B、光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;
步骤C、所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
2.根据权利要求1所述的电子设备的背光测试方法,其特征在于,在所述步骤A之前,还包括:
控制端运行测试程序对待测的电子设备的主板进行各种功能测试,若检测勾选了背光测试项,则执行步骤A。
3.根据权利要求1所述的电子设备的背光测试方法,其特征在于,所述步骤A具体包括:控制端检测执行屏幕背光测试时,输出调光指令给电子设备的主板,主板根据调光指令将屏幕调成纯白色背景,并将屏幕的背光亮度调到第4级。
4.根据权利要求1所述的电子设备的背光测试方法,其特征在于,在所述步骤B中,所述光检测装置的阻值随着背光亮度对应变化,输出对应电平的检测信号。
5.根据权利要求4所述的电子设备的背光测试方法,其特征在于,在所述步骤C中,所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端的步骤具体包括:
所述测试盒判断检测信号的电压小于第一阈值时,识别当前为低电平,生成的测试结果为“0”;判断测信号的电压小于等于默认电压且大于等于第一阈值时,识别当前为高电平,生成的测试结果为“1”;所述测试结果传输给控制端。
6.根据权利要求5所述的电子设备的背光测试方法,其特征在于,在所述步骤C中,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格的步骤具体包括:
所述控制端检测测试结果是“0”时,判断主板的背光测试通过并提示测试合格;若测试结果是“1”,则判断背光测试失败并提示测试不合格。
7.一种实现权利要求1所述的电子设备的背光测试方法的背光测试系统,其特征在于,包括控制端、电子设备、光检测装置、测试盒和测试夹具;
所述测试夹具用于固定待测的电子设备;
所述控制端检测执行屏幕背光测试时,控制待测的电子设备对屏幕的背光亮度进行调整;
所述光检测装置采集屏幕当前的背光亮度并输出对应的检测信号给测试盒;
所述测试盒根据检测信号识别测试结果并输出给控制端,所述控制端根据所述测试结果判断屏幕背光测试是否合格。
8.根据权利要求7所述的背光测试系统,其特征在于,所述电子设备的主板安装在测试台上,所述测试台位于测试夹具的底座的一侧,与测试台相邻的底座上设有第一接口,主板的输入信号线插入第一接口中,该第一接口还通过第一USB数据线与控制端连接;电子设备的屏幕通过底座上的定位夹竖直固定在所述底座上并与主板电连接,控制端通过第一USB数据线传输调光指令给主板,主板根据调光指令来控制屏幕的背光亮度。
9.根据权利要求7所述的背光测试系统,其特征在于,所述光检测装置固定在屏幕前面的左下角。
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Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101995522A (zh) * 2009-08-18 2011-03-30 龙旗科技(上海)有限公司 一种对手机主板功能自动测试的方法及设备
CN203231885U (zh) * 2013-05-15 2013-10-09 京东方科技集团股份有限公司 面光源检测装置
CN203466874U (zh) * 2013-07-12 2014-03-05 辽宁泰蒙通讯技术有限公司 一种手机产线lcd自动测试装置
CN104066221A (zh) * 2013-03-21 2014-09-24 海洋王(东莞)照明科技有限公司 一种光检测电路及灯具
CN205487285U (zh) * 2016-01-25 2016-08-17 深圳市奥拓电子股份有限公司 一种用于led显示屏的亮度调节系统和led显示屏
CN206209223U (zh) * 2016-11-15 2017-05-31 广州视源电子科技股份有限公司 一种用于测试屏幕亮度的装置
CN107295139A (zh) * 2017-04-26 2017-10-24 上海闻泰电子科技有限公司 主板ata自动化测试系统
CN108630168A (zh) * 2017-03-24 2018-10-09 上海传英信息技术有限公司 屏幕最大亮度的调整方法和屏幕最大亮度的调整系统
US20190059145A1 (en) * 2015-11-30 2019-02-21 Sharp Kabushiki Kaisha Method for testing led backlight
CN109782107A (zh) * 2019-01-28 2019-05-21 程慧玲 一种手机主板与触摸屏导通测试治具
CN209640438U (zh) * 2018-12-29 2019-11-15 南京欧测电子科技有限公司 一种翻转式终端检测治具
CN211826341U (zh) * 2019-11-29 2020-10-30 深圳佰维存储科技股份有限公司 Ddr测试设备
CN112147451A (zh) * 2020-10-26 2020-12-29 深圳市海能达通信有限公司 一种多功能ui测试装置及设备

Patent Citations (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101995522A (zh) * 2009-08-18 2011-03-30 龙旗科技(上海)有限公司 一种对手机主板功能自动测试的方法及设备
CN104066221A (zh) * 2013-03-21 2014-09-24 海洋王(东莞)照明科技有限公司 一种光检测电路及灯具
CN203231885U (zh) * 2013-05-15 2013-10-09 京东方科技集团股份有限公司 面光源检测装置
CN203466874U (zh) * 2013-07-12 2014-03-05 辽宁泰蒙通讯技术有限公司 一种手机产线lcd自动测试装置
US20190059145A1 (en) * 2015-11-30 2019-02-21 Sharp Kabushiki Kaisha Method for testing led backlight
CN205487285U (zh) * 2016-01-25 2016-08-17 深圳市奥拓电子股份有限公司 一种用于led显示屏的亮度调节系统和led显示屏
CN206209223U (zh) * 2016-11-15 2017-05-31 广州视源电子科技股份有限公司 一种用于测试屏幕亮度的装置
CN108630168A (zh) * 2017-03-24 2018-10-09 上海传英信息技术有限公司 屏幕最大亮度的调整方法和屏幕最大亮度的调整系统
CN107295139A (zh) * 2017-04-26 2017-10-24 上海闻泰电子科技有限公司 主板ata自动化测试系统
CN209640438U (zh) * 2018-12-29 2019-11-15 南京欧测电子科技有限公司 一种翻转式终端检测治具
CN109782107A (zh) * 2019-01-28 2019-05-21 程慧玲 一种手机主板与触摸屏导通测试治具
CN211826341U (zh) * 2019-11-29 2020-10-30 深圳佰维存储科技股份有限公司 Ddr测试设备
CN112147451A (zh) * 2020-10-26 2020-12-29 深圳市海能达通信有限公司 一种多功能ui测试装置及设备

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